JPH04125409A - 位置検出誤差補正装置 - Google Patents
位置検出誤差補正装置Info
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- JPH04125409A JPH04125409A JP2246834A JP24683490A JPH04125409A JP H04125409 A JPH04125409 A JP H04125409A JP 2246834 A JP2246834 A JP 2246834A JP 24683490 A JP24683490 A JP 24683490A JP H04125409 A JPH04125409 A JP H04125409A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、回転位置や直線位置を検出する位置検出器に
おける位置検出誤差を補正する位置検出誤差補正装置に
関する。
おける位置検出誤差を補正する位置検出誤差補正装置に
関する。
（従来の技術）
第９図は、従来の位置検出器と位置検出誤差補正装置を
示すブロック図である。第１０図は、第９図の位置検出
器の位置検出誤差を示すグラフである。
示すブロック図である。第１０図は、第９図の位置検出
器の位置検出誤差を示すグラフである。
第９図において、人力＠１．４Ｎレゾルバ２１×レゾル
バ３及び数値化回路４は、１回転アブソリュート位置検
出器を構成している。この位置検出器は、入力軸１のｌ
／４回転までを、４ｘレゾルバ２で高分解能に絶対位置
検出している。また、この位置検出器は、１ｘレゾルバ
３によって４×レゾルバ２による位置検出データを、入
力軸１の１回転内を絶対位置で示すデータに修正してい
る。これにより、第９図に示す位置検出器は、入力軸１
の１回転内の回転位置を１７６５５３６回転の分解能で
絶対位置検出する。
バ３及び数値化回路４は、１回転アブソリュート位置検
出器を構成している。この位置検出器は、入力軸１のｌ
／４回転までを、４ｘレゾルバ２で高分解能に絶対位置
検出している。また、この位置検出器は、１ｘレゾルバ
３によって４×レゾルバ２による位置検出データを、入
力軸１の１回転内を絶対位置で示すデータに修正してい
る。これにより、第９図に示す位置検出器は、入力軸１
の１回転内の回転位置を１７６５５３６回転の分解能で
絶対位置検出する。
ところて、ＰＲＯＭ５には、第１１図に示すように予め
位置検出器の１回転内の位置検出誤差（第１Ｏ図のグラ
フ）を１７２５６回転毎に測定したデータが書き込まれ
ている。検出された回転位置データは数値化回路４によ
り数値データθｅとしてマイクロコンピュータ６へ出力
される。マイクロコンビコータ６は、数値化回路４から
の検出値θｅの値に基づいてＰＲＯＭ ５から検出値前
後の位置検出誤差データを読出し、（１）式に示す補間
演算を行なって検出値θｅでの測定誤差ｅを求める。次
に、（２）式を計算し、誤差を取り除いた回転位置デー
タθを出力する。
位置検出器の１回転内の位置検出誤差（第１Ｏ図のグラ
フ）を１７２５６回転毎に測定したデータが書き込まれ
ている。検出された回転位置データは数値化回路４によ
り数値データθｅとしてマイクロコンピュータ６へ出力
される。マイクロコンビコータ６は、数値化回路４から
の検出値θｅの値に基づいてＰＲＯＭ ５から検出値前
後の位置検出誤差データを読出し、（１）式に示す補間
演算を行なって検出値θｅでの測定誤差ｅを求める。次
に、（２）式を計算し、誤差を取り除いた回転位置デー
タθを出力する。
ｅ＝Ｅ［θｅ ／２５６］＋（Ｅ［θｅ ／２５［
ｉ＋１］−Ｅ［θｅ ／２５６］）＊（θｅ ＭＯＤ
２５６）／２５６ −・・・（１）θ
＝ θｅ −ｅ ・・・・・・（２） （発明か解決しようとする課題） ところで、上述した従来の位置検出誤差補正装置では、
高分解能な位置検出器を使用して高精度が要求される場
合、補間演算による誤差を少なくしようとすると位置検
出誤差データが増加する。
ｉ＋１］−Ｅ［θｅ ／２５６］）＊（θｅ ＭＯＤ
２５６）／２５６ −・・・（１）θ
＝ θｅ −ｅ ・・・・・・（２） （発明か解決しようとする課題） ところで、上述した従来の位置検出誤差補正装置では、
高分解能な位置検出器を使用して高精度が要求される場
合、補間演算による誤差を少なくしようとすると位置検
出誤差データが増加する。
したがって、そのような場合には位置検出誤差データを
格納するための不揮発性メモリを大容量化する必要があ
った。ところか、そのためには書き込み後の修正ができ
ないＦＲＯＭや高価な大容量ＥＥＦＲＯＭが必要となる
上に、検出器に内蔵するには素子か大きすきるという問
題点かあった。また、測定した位置検出誤差データには
、測定時のノイズが混入することが多く、このデータを
もとに補正を行なうと、補正後の位置検出値に混入ノイ
ズ相当の誤差が生じるという問題点があった。
格納するための不揮発性メモリを大容量化する必要があ
った。ところか、そのためには書き込み後の修正ができ
ないＦＲＯＭや高価な大容量ＥＥＦＲＯＭが必要となる
上に、検出器に内蔵するには素子か大きすきるという問
題点かあった。また、測定した位置検出誤差データには
、測定時のノイズが混入することが多く、このデータを
もとに補正を行なうと、補正後の位置検出値に混入ノイ
ズ相当の誤差が生じるという問題点があった。
本発明は上述のような事情から成されたものであり、本
発明の目的は、低コストで小型かつ高精度な位置検出誤
差補正装置を提供することにある。
発明の目的は、低コストで小型かつ高精度な位置検出誤
差補正装置を提供することにある。
（課題を解決するための手段）
本発明は、回転位置や直線位置を検出する位置検出器の
位置検出誤差を補正する位置検出誤差補正装置に関する
ものであり、本発明の上記目的は、位置検出器の絶対位
置検出範囲の整数倍を基本周期として位置検出誤差をフ
ーリエ級数展開して得られた位置検出誤差の各周期の成
分を予め記憶する不揮発性メモリと、起動時に不揮発性
メモリから位置検出誤差の各周期の成分を読出して逆フ
ーリエ変換する変換手段と、変換手段により変換された
位置検出誤差を記憶するランダムアクセスメモリと、位
置検出器からの位置検出値に対応する位置検出誤差をラ
ンダムアクセスメモリから読出して位置検出値を補正す
る補正手段とを具備することにより達成される。
位置検出誤差を補正する位置検出誤差補正装置に関する
ものであり、本発明の上記目的は、位置検出器の絶対位
置検出範囲の整数倍を基本周期として位置検出誤差をフ
ーリエ級数展開して得られた位置検出誤差の各周期の成
分を予め記憶する不揮発性メモリと、起動時に不揮発性
メモリから位置検出誤差の各周期の成分を読出して逆フ
ーリエ変換する変換手段と、変換手段により変換された
位置検出誤差を記憶するランダムアクセスメモリと、位
置検出器からの位置検出値に対応する位置検出誤差をラ
ンダムアクセスメモリから読出して位置検出値を補正す
る補正手段とを具備することにより達成される。
（作用）
本発明にあっては、データ量の大きい位置検出誤差デー
タをフーリエ級数展開によっていくつかの周期成分に変
換しデータ量を小さくしている。
タをフーリエ級数展開によっていくつかの周期成分に変
換しデータ量を小さくしている。
このため、位置検出器の分解能に関係なく小容量かつ小
型の不揮発性メモリで位置検出誤差データを記憶できる
。また、測定によるノイズ成分は周期性がないため、フ
ーリエ級数展開時にフィルタ効果によって除去できる。
型の不揮発性メモリで位置検出誤差データを記憶できる
。また、測定によるノイズ成分は周期性がないため、フ
ーリエ級数展開時にフィルタ効果によって除去できる。
（実施例）
以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。
明する。
第１図は、本発明の位置検出誤差補正装置の１実施例を
第９図と同一の位置検出器と共に示すブロック図である
。
第９図と同一の位置検出器と共に示すブロック図である
。
第１図において、入力軸１．４×レゾルバ２１×レゾル
バ３及び数値化回路４は、従来と同一でありその説明を
省略する。
バ３及び数値化回路４は、従来と同一でありその説明を
省略する。
ところで、第２図（八）及び（Ｂ）は、第１０図に示し
た位置検出誤差を、４×レゾルバの絶対位置検出範囲の
４倍である１回転を基本周期として、（３）式によりフ
ーリエ級数展開した場合のフーリエ余弦級数とフーリエ
正弦級数の各周期ごとの係数を示す図である。
た位置検出誤差を、４×レゾルバの絶対位置検出範囲の
４倍である１回転を基本周期として、（３）式によりフ
ーリエ級数展開した場合のフーリエ余弦級数とフーリエ
正弦級数の各周期ごとの係数を示す図である。
第２図（八）及びＣＢ＞から理解できるように、位置検
出器の位置検出誤差はフーリエ級数展開した場合に限ら
れた誤差の周期成分しか持たない。
出器の位置検出誤差はフーリエ級数展開した場合に限ら
れた誤差の周期成分しか持たない。
般的に軸倍角Ｎのレゾルバ（ＮＸレゾルバ）が有する位
置検出誤差は１回転を１周期とすると、４Ｎ〜８Ｎ周期
以下の成分かほど／、とてあり、これ以上の周期成分は
ほとんど無視できるほどで小さい。したがって、第１図
に示す位置検出器の位置検出誤差は、第３図のように２
１個のデータで表現することができ、それらのデータは
予めＥＥＰＩＩＯＭ８に書き込まれている。
置検出誤差は１回転を１周期とすると、４Ｎ〜８Ｎ周期
以下の成分かほど／、とてあり、これ以上の周期成分は
ほとんど無視できるほどで小さい。したがって、第１図
に示す位置検出器の位置検出誤差は、第３図のように２
１個のデータで表現することができ、それらのデータは
予めＥＥＰＩＩＯＭ８に書き込まれている。
そこで、マイクロコンピュータ６は、電源のオン時やリ
セット時に、ＥＥＰＲＯＭ８に予め書き込まれているデ
ータを読み出し、フーリエ逆変換してランダムアクセス
メモリ７に補正データとして格納する。第４図に基づい
てそのときのマイクロコンピュータ６の動作を詳細に説
明する。そこで、先ず位置検出誤差補正装置起動時にラ
ンダムアクセスメモリ７内の変数Ｅ［０］からＥ［２５
５］まてを０クリアする（ステップ５１）。吹に、ＥＥ
ＰＩＩＯＭ８からのデータを引き出すためのポインタ■
を初期化する（ステップＳ２）。位置検出誤差の周期（
Ｔ［Ｉ］）をＥＥＰＲＯＭ８から読み出す（ステップＳ
３）。このとき、読み出した周期ＴがＯであれば、この
処理を終了する（ステップＳ４）。一方、０でない場合
には、次にランダムアクセスメモリ７ヘデータを書き込
むためのポインタＪを初期化する（ステップ５５）。Ｅ
ＥＰＲＯＭ８からフーリエ余弦級数及びフーリエ正弦級
数の係数Ｃ［■］及びＳ［Ｔ］を読出し、それぞれにＣ
Ｏ５［Ｊ−Ｔ・に］及びＳＩＮ［Ｊ−Ｔ・に］（に−２
π／２５０）を乗算した値Ｃ及びＳをランダムアクセス
メモリ７内の変数Ｅ［Ｊ］へ加算する（ステップ５６．
Ｓ７，５８）。ポインタＪに１を加算する（ステップＳ
９）。ステップＳ６からステップＳ９までをポインタＪ
が２５６になるまで繰り返して行ない、ランダムアクセ
スメモリ７へ１つの周期の位置検出誤差データを書き込
む（ステップ５１０）。Ｊが２５６に達したらポインタ
Ｉに１を加算し、次の周期の位置検出誤差について同様
の処理を行なう（ステップ５１１）。以上の処理により
ランダムアクセスメモリ７に第１１図に示す表とほぼ同
等の位置検出誤差データが得られる。以後、従来の第９
図に示した位置検出誤差補正装置と同様に、（１）式及
び（２）式を計算し補正処理を行なう。
セット時に、ＥＥＰＲＯＭ８に予め書き込まれているデ
ータを読み出し、フーリエ逆変換してランダムアクセス
メモリ７に補正データとして格納する。第４図に基づい
てそのときのマイクロコンピュータ６の動作を詳細に説
明する。そこで、先ず位置検出誤差補正装置起動時にラ
ンダムアクセスメモリ７内の変数Ｅ［０］からＥ［２５
５］まてを０クリアする（ステップ５１）。吹に、ＥＥ
ＰＩＩＯＭ８からのデータを引き出すためのポインタ■
を初期化する（ステップＳ２）。位置検出誤差の周期（
Ｔ［Ｉ］）をＥＥＰＲＯＭ８から読み出す（ステップＳ
３）。このとき、読み出した周期ＴがＯであれば、この
処理を終了する（ステップＳ４）。一方、０でない場合
には、次にランダムアクセスメモリ７ヘデータを書き込
むためのポインタＪを初期化する（ステップ５５）。Ｅ
ＥＰＲＯＭ８からフーリエ余弦級数及びフーリエ正弦級
数の係数Ｃ［■］及びＳ［Ｔ］を読出し、それぞれにＣ
Ｏ５［Ｊ−Ｔ・に］及びＳＩＮ［Ｊ−Ｔ・に］（に−２
π／２５０）を乗算した値Ｃ及びＳをランダムアクセス
メモリ７内の変数Ｅ［Ｊ］へ加算する（ステップ５６．
Ｓ７，５８）。ポインタＪに１を加算する（ステップＳ
９）。ステップＳ６からステップＳ９までをポインタＪ
が２５６になるまで繰り返して行ない、ランダムアクセ
スメモリ７へ１つの周期の位置検出誤差データを書き込
む（ステップ５１０）。Ｊが２５６に達したらポインタ
Ｉに１を加算し、次の周期の位置検出誤差について同様
の処理を行なう（ステップ５１１）。以上の処理により
ランダムアクセスメモリ７に第１１図に示す表とほぼ同
等の位置検出誤差データが得られる。以後、従来の第９
図に示した位置検出誤差補正装置と同様に、（１）式及
び（２）式を計算し補正処理を行なう。
次に、本発明の位置検出誤差補正装置を実際に採用した
具体的な実施例を説明する。第５図は、光学式リニアエ
ンコーダ、その信号を検出する検出回路及び本発明の位
置検出誤差補正装置を示す図である。
具体的な実施例を説明する。第５図は、光学式リニアエ
ンコーダ、その信号を検出する検出回路及び本発明の位
置検出誤差補正装置を示す図である。
第５図において、可動体にピッチＰ （０，１ｍｍ）の
第１の格子１４を設けたメインスケール１３（長さ１０
０ｍｍ）が固定されている。また、固定部材（図示せず
）に第２の格子１５を設けたインデックススケール１６
と、光源１１及びコリメータレンズ１２から構成される
発光手段と、受光素子１７から構成された光電変換手段
とを有するスライダ（図示せず）が固定されている。そ
こで、第１の格子１４と第２の格子１５との相対移動に
よって生ずる光量変化か光電変換手段により光電変換さ
れる。光電変換された信号は、増幅回路１８Ａ、１８Ｂ
、内挿回路９及び計数回路ｌＯによって、メインスケー
ル１３とスライダの相対移動の変化量Ｚをデジタル値に
変換する。
第１の格子１４を設けたメインスケール１３（長さ１０
０ｍｍ）が固定されている。また、固定部材（図示せず
）に第２の格子１５を設けたインデックススケール１６
と、光源１１及びコリメータレンズ１２から構成される
発光手段と、受光素子１７から構成された光電変換手段
とを有するスライダ（図示せず）が固定されている。そ
こで、第１の格子１４と第２の格子１５との相対移動に
よって生ずる光量変化か光電変換手段により光電変換さ
れる。光電変換された信号は、増幅回路１８Ａ、１８Ｂ
、内挿回路９及び計数回路ｌＯによって、メインスケー
ル１３とスライダの相対移動の変化量Ｚをデジタル値に
変換する。
ここで、第５図に示したような位置検出器では、一般に
メインスケール１３に設けられた第１の格子１４に対し
て、インデックススケール１６に設けられた第２の格子
１５の位相は、第１の格子１４のピッチＰを３６０°と
するとＯ” 、９０” 、＋８０” 、２７０’ （７
）区分けが施されている。増幅回路１８八、１８Ｂはメ
インスケール１３の変位量Ｚに対応して、はぼ正弦値Ｓ
ＴＮ （２ｙｒ Ｚ／Ｐ） 、余弦値ＣＯ３（２ｒｔ
Ｚ／Ｐ）に近似した２相の信号を出力する。内挿回路９
は、増幅回路１８Ａ、１８Ｂからの２相の信号を基にア
ークタンジェント計算をし、ピッチＰ （０，１ｍｍ１
の範囲内をＯ〜２５５の数値の絶対位置で表す位置デー
タＰＬを出力する。内挿回路９は、（４）式の判定処理
を行ない、アップカウントパルスＵ２、またはダウンカ
ウントパルスＤ、を出力する。
メインスケール１３に設けられた第１の格子１４に対し
て、インデックススケール１６に設けられた第２の格子
１５の位相は、第１の格子１４のピッチＰを３６０°と
するとＯ” 、９０” 、＋８０” 、２７０’ （７
）区分けが施されている。増幅回路１８八、１８Ｂはメ
インスケール１３の変位量Ｚに対応して、はぼ正弦値Ｓ
ＴＮ （２ｙｒ Ｚ／Ｐ） 、余弦値ＣＯ３（２ｒｔ
Ｚ／Ｐ）に近似した２相の信号を出力する。内挿回路９
は、増幅回路１８Ａ、１８Ｂからの２相の信号を基にア
ークタンジェント計算をし、ピッチＰ （０，１ｍｍ１
の範囲内をＯ〜２５５の数値の絶対位置で表す位置デー
タＰＬを出力する。内挿回路９は、（４）式の判定処理
を行ない、アップカウントパルスＵ２、またはダウンカ
ウントパルスＤ、を出力する。
・・・・・・（４）
（ただしＰ。は前回検出したＰＬ）
計数回路１０は、内挿回路９からのアップカウントパル
スＵ、またはダウンカウントパルスＯ２によりアップカ
ウントまたはダウンカウントした計数値Ｐｕ、すなわち
移動変位が第１の格子１４のピッチＰＬの何倍に相当す
るかの値を出力する。
スＵ、またはダウンカウントパルスＯ２によりアップカ
ウントまたはダウンカウントした計数値Ｐｕ、すなわち
移動変位が第１の格子１４のピッチＰＬの何倍に相当す
るかの値を出力する。
以上のような位置検出器の位置検出誤差に対して絶対値
検出範囲であるＯ、１ｍｍの１０００倍の１００ｍｍを
基本周期として（３）式にしたがってフーリエ級数展開
を行ない、次の（５）式により各周期の振幅を求め、ざ
らに八［ｎ］及びＢ［ｎ］を基にアークタンジェント計
算をし、位相成分をＯ〜２πの範囲で求めると第６図（
八）及び（ロ）のグラフのようになる。
検出範囲であるＯ、１ｍｍの１０００倍の１００ｍｍを
基本周期として（３）式にしたがってフーリエ級数展開
を行ない、次の（５）式により各周期の振幅を求め、ざ
らに八［ｎ］及びＢ［ｎ］を基にアークタンジェント計
算をし、位相成分をＯ〜２πの範囲で求めると第６図（
八）及び（ロ）のグラフのようになる。
Ｇ［ｎ］＝ ｎ ＊八 ｑ −−（
５）第６図（八）及び（１１）から理解てきるように、
第５図に示す位置検出器の位置検出誤差は格子ピッチＰ
の整数分の１の周期成分となる。前述のように、このよ
うな位置検出器では全ストロークの範囲で完全な位置検
出誤差補正を行なう場合、非常に大きなメモリが必要で
ある。また、このままでは絶対位置検出範囲か位置検出
ストロークに比べ１／１０００と小さいため、通常の誤
差補正はできない。
５）第６図（八）及び（１１）から理解てきるように、
第５図に示す位置検出器の位置検出誤差は格子ピッチＰ
の整数分の１の周期成分となる。前述のように、このよ
うな位置検出器では全ストロークの範囲で完全な位置検
出誤差補正を行なう場合、非常に大きなメモリが必要で
ある。また、このままでは絶対位置検出範囲か位置検出
ストロークに比べ１／１０００と小さいため、通常の誤
差補正はできない。
■
そこで、第５図の位置検出誤差補正装置では、第７図の
ような絶対位置検出範囲（格子ピッチＰ）以下でかつ絶
対位置検出範囲の整数分の１の周期の振幅と位相成分を
、予めＥＥＰＲＯＭ８に書き込んでおく。この状態でマ
イクロコンピュータ６が、装置の起動時にＥＥＰＲＯＭ
Ｂ内の各位置検出誤差の周期成分を読出して位置検出誤
差に変換し、ランダムアクセスメモリ７へ書き込む。第
８図は、その処理手順の詳細を示すフローヂャートであ
る。以下、同図に基づいて説明する。マイクロコンピュ
ータ６は、ランダムアクセスメモリ７内の変数Ｅ［０］
からＥ［２５５］までをＯクリアする（ステップ５２１
）。ＥＥＰＲＯＭ８からのデータを書き込むためのポイ
ンタＩを初期化する。（ステップ５２２）。ランダムア
クセスメモリ７ヘデータを書き込むためのポインタＪを
初期化する（ステップ５２３）。ＥＥＰＩＩＯＭ８から
振幅値Ｇ ［＋］及び位相値ＰＨ［Ｉ］ を読出し、Ｚ
を計算してランダムアクセスメモリ７内の変数Ｅ［Ｊ］
へ加算する（ステップＳ２４．５２５）。ポインタＪに
１を加算する。ステップＳ２４からステップ５２６まで
をポインタＪが２５６になるまで繰り返して行ない（ス
テップ５２７）、ランダムアクセスメモリ７へ１つの周
期における位置検出誤差データを書き込む。Ｊが２５６
になると、ポインタＩに１を加算して次の周期における
位置検出誤差について同様の処理を行なう（ステップ５
２８）。このステップ５２３から５２８までの処理を１
が８を越えるまで行なうことにより、ランダムアクセス
メモリ７に絶対位置検出周期以下の短い周期の位置検出
誤差データを再現する。
ような絶対位置検出範囲（格子ピッチＰ）以下でかつ絶
対位置検出範囲の整数分の１の周期の振幅と位相成分を
、予めＥＥＰＲＯＭ８に書き込んでおく。この状態でマ
イクロコンピュータ６が、装置の起動時にＥＥＰＲＯＭ
Ｂ内の各位置検出誤差の周期成分を読出して位置検出誤
差に変換し、ランダムアクセスメモリ７へ書き込む。第
８図は、その処理手順の詳細を示すフローヂャートであ
る。以下、同図に基づいて説明する。マイクロコンピュ
ータ６は、ランダムアクセスメモリ７内の変数Ｅ［０］
からＥ［２５５］までをＯクリアする（ステップ５２１
）。ＥＥＰＲＯＭ８からのデータを書き込むためのポイ
ンタＩを初期化する。（ステップ５２２）。ランダムア
クセスメモリ７ヘデータを書き込むためのポインタＪを
初期化する（ステップ５２３）。ＥＥＰＩＩＯＭ８から
振幅値Ｇ ［＋］及び位相値ＰＨ［Ｉ］ を読出し、Ｚ
を計算してランダムアクセスメモリ７内の変数Ｅ［Ｊ］
へ加算する（ステップＳ２４．５２５）。ポインタＪに
１を加算する。ステップＳ２４からステップ５２６まで
をポインタＪが２５６になるまで繰り返して行ない（ス
テップ５２７）、ランダムアクセスメモリ７へ１つの周
期における位置検出誤差データを書き込む。Ｊが２５６
になると、ポインタＩに１を加算して次の周期における
位置検出誤差について同様の処理を行なう（ステップ５
２８）。このステップ５２３から５２８までの処理を１
が８を越えるまで行なうことにより、ランダムアクセス
メモリ７に絶対位置検出周期以下の短い周期の位置検出
誤差データを再現する。
以上で説明した処理を終了した後、マイクロコンピュー
タ６は、ランダムアクセスメモリ７内の位置検出誤差デ
ータを使用して次の（６）式の計算を行なうことにより
補正処理を行なう。
タ６は、ランダムアクセスメモリ７内の位置検出誤差デ
ータを使用して次の（６）式の計算を行なうことにより
補正処理を行なう。
Ｐ、＝ Ｐｅ −Ｅ［ＰＬコ
・・・・（ｌｉ）（発明の効果） 以上のように本発明の位置検出誤差補正装置によれば、
補正に必要なデータ量を減らすことがてきるため、少な
い容量の不揮発性メモリでデータの記憶が可能になり、
位置検出誤差補正装置を、小型かつ低価格化することが
できる。また、位置検出誤差の各周期成分を振幅と位相
の形式でメモリに記憶した場合、位相値が常に正の数と
なるため、符号付きの乗算命令を持たないマイクロコン
ピュータでも処理が行ない易い。さらに、測定によるノ
イズ成分は周期性がないため、フーリエ級数展開時にフ
ィルタ効果によって除去できる。
・・・・（ｌｉ）（発明の効果） 以上のように本発明の位置検出誤差補正装置によれば、
補正に必要なデータ量を減らすことがてきるため、少な
い容量の不揮発性メモリでデータの記憶が可能になり、
位置検出誤差補正装置を、小型かつ低価格化することが
できる。また、位置検出誤差の各周期成分を振幅と位相
の形式でメモリに記憶した場合、位相値が常に正の数と
なるため、符号付きの乗算命令を持たないマイクロコン
ピュータでも処理が行ない易い。さらに、測定によるノ
イズ成分は周期性がないため、フーリエ級数展開時にフ
ィルタ効果によって除去できる。
第１図は本発明の位置検出誤差補正装置の一実施例を位
置検出器と共に示すブロック図、第２図（Ａ）及びＣＢ
）は位置検出器の位置検出誤差をフリエ級数展開したと
きの各周期成分（フーリエ係数）を示す図、第３図は第
１図に示すＥＥｐＨＯＭ８に記憶されている位置検出誤
差の各周期成分を表として示す図、第４図は第１図に示
すマイクロコンピュータ６が起動時に行なう処理を示す
フローチャート、第５図は本発明の位置検出誤差補正装
置 置の一実施例をリニアエンコーダ及び検出回路と共に示
す図、第６図（Ａ）及びＣＢ）は第５図に示す光学式リ
ニアエンコーダの位置検出誤差をフーリエ級数展開する
ことにより求めた各周期の振幅及び位相成分を示す図、
第７図は第５図に示すＥＥＰＲＯＭ８に記憶されている
位置検出誤差の各周期の振幅及び位相を表として示す図
、第８図は第５図に示すマイクロコンピュータ６が起動
時に行なう処理を示すフローチャート、第９図は従来の
位置検出誤差補正装置を位置検出器と共に示すブロック
図、第１０図は第９図に示す位置検出器の位置検出誤差
を示す図、第１１図はＰＲＯＭ５に記憶されている第９
図に示す位置検出器の位置検出誤差データを表として示
す図である。
置検出器と共に示すブロック図、第２図（Ａ）及びＣＢ
）は位置検出器の位置検出誤差をフリエ級数展開したと
きの各周期成分（フーリエ係数）を示す図、第３図は第
１図に示すＥＥｐＨＯＭ８に記憶されている位置検出誤
差の各周期成分を表として示す図、第４図は第１図に示
すマイクロコンピュータ６が起動時に行なう処理を示す
フローチャート、第５図は本発明の位置検出誤差補正装
置 置の一実施例をリニアエンコーダ及び検出回路と共に示
す図、第６図（Ａ）及びＣＢ）は第５図に示す光学式リ
ニアエンコーダの位置検出誤差をフーリエ級数展開する
ことにより求めた各周期の振幅及び位相成分を示す図、
第７図は第５図に示すＥＥＰＲＯＭ８に記憶されている
位置検出誤差の各周期の振幅及び位相を表として示す図
、第８図は第５図に示すマイクロコンピュータ６が起動
時に行なう処理を示すフローチャート、第９図は従来の
位置検出誤差補正装置を位置検出器と共に示すブロック
図、第１０図は第９図に示す位置検出器の位置検出誤差
を示す図、第１１図はＰＲＯＭ５に記憶されている第９
図に示す位置検出器の位置検出誤差データを表として示
す図である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、位置検出器の位置検出誤差を補正する位置検出誤差
補正装置において、前記位置検出器の絶対位置検出範囲
の整数倍を基本周期として前記位置検出誤差をフーリエ
級数展開して得られた前記位置検出誤差の各周期の成分
を予め記憶する不揮発性メモリと、起動時に前記不揮発
性メモリから前記位置検出誤差の各周期の成分を読出し
て逆フーリエ変換する変換手段と、前記変換手段により
変換された位置検出誤差を記憶するランダムアクセスメ
モリと、前記位置検出器からの位置検出値に対応する前
記位置検出誤差を前記ランダムアクセスメモリから読出
して前記位置検出値を補正する補正手段とを具備するこ
とを特徴とする位置検出誤差補正装置。 ２、前記位置検出誤差の各周期の成分は振幅値及び位相
値で表現されている請求項１に記載の位置検出誤差補正
装置。 ３、前記位置検出誤差の各周期の成分は、フーリエ余弦
級数の係数値及びフーリエ正弦級数の係数値で表現され
ている請求項１に記載の位置検出誤差補正装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2246834A JP2543245B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | 位置検出誤差補正装置 |
| US07/757,462 US5305241A (en) | 1990-09-17 | 1991-09-10 | Error correcting apparatus in position detection |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2246834A JP2543245B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | 位置検出誤差補正装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04125409A true JPH04125409A (ja) | 1992-04-24 |
| JP2543245B2 JP2543245B2 (ja) | 1996-10-16 |
Family
ID=17154389
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2246834A Expired - Fee Related JP2543245B2 (ja) | 1990-09-17 | 1990-09-17 | 位置検出誤差補正装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5305241A (ja) |
| JP (1) | JP2543245B2 (ja) |
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| US9297676B2 (en) | 2011-09-08 | 2016-03-29 | Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. | Error frequency component acquisition device, angle of rotation acquisition device, motor control device, and angle of rotation acquisition method |
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1990
- 1990-09-17 JP JP2246834A patent/JP2543245B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-09-10 US US07/757,462 patent/US5305241A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2543245B2 (ja) | 1996-10-16 |
| US5305241A (en) | 1994-04-19 |
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |