JPH0410157B2 - - Google Patents
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- JPH0410157B2 JPH0410157B2 JP58146796A JP14679683A JPH0410157B2 JP H0410157 B2 JPH0410157 B2 JP H0410157B2 JP 58146796 A JP58146796 A JP 58146796A JP 14679683 A JP14679683 A JP 14679683A JP H0410157 B2 JPH0410157 B2 JP H0410157B2
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- JP
- Japan
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- circuit
- mos
- pair
- logic
- complementary
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- 230000000295 complement effect Effects 0.000 claims description 16
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K19/00—Logic circuits, i.e. having at least two inputs acting on one output; Inverting circuits
- H03K19/0175—Coupling arrangements; Interface arrangements
- H03K19/0185—Coupling arrangements; Interface arrangements using field effect transistors only
- H03K19/018507—Interface arrangements
- H03K19/01855—Interface arrangements synchronous, i.e. using clock signals
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356104—Bistable circuits using complementary field-effect transistors
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computing Systems (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
〔本発明の分野〕
本発明は、MOS半導体技術に関するものであ
り、特に、TTL論理の信号レベルをMOS論理の
信号レベルに変換する緩衝回路即ちバツフア回路
に関するものである。 〔背景技術〕 半導体技術の分野では、LSI回路がMOS半導
体技術によつて製造されている。このような半導
体装置の中には、複数のアドレス信号とこれらの
信号の論理補数信号とによつてアドレス指定され
るMOS記憶装置即ちMOSメモリが、含まれる。 MOS半導体技術によつて、メモリその他のタ
イプの回路装置を製造する多くの場合には、
TTLのような別のタイプの半導体論理回路によ
つて、回路装置を駆動する必要がある。TTL回
路は、異なる電圧レベル即ち、2.2Vよりも大き
な電圧レベルである2進の1と、0.6Vよりも小
さな電圧レベルである2進の0とを、発生する。
これらの論理レベルは、十分ではなく、幾つかの
適用例においては、MOS論理レベルに適合でき
なくなつている。 TTL論理レベルをMOS論理回路に適合可能な
レベルに変換するために、バツフア回路を設ける
ことが考え出された。このようなバツフア回路
は、例えば、TTL論理で直接駆動できる、モス
テツク社製造の16KダイナミツクRAM、No.、
MK4116(商品名)に設けられている。この装置
は、電力効率は良いが、しかし、動作させるため
には、3つのクロツク信号が必要である。多数の
クロツク信号は、バツフア装置の動作速度を制限
するという望ましくない事態を生じて、バツフア
装置に接続された残りの回路にその影響を及ぼし
てしまう。 TTL論理回路とインターフエイスをなしてい
る、日立製作所(株)製造の16K高速度スタテイツク
RAM、HM6147(商品名)のような、他のタイプ
のRAMでは、装置の適切な動作速度を達成して
いる。しかしながら、TTL論理回路からの駆動
信号を受取る装置中のインバータを流れるd.c.電
流のために、電力効率は、悪い。 〔本発明の概要〕 本発明の目的は、MOS論理回路とTTL論理回
路との間のインターフエイス回路を提供すること
である。 本発明の実施により、動作速度が速くて電力効
率が良い、MOSメモリ用のアドレス・バツフア
を提供することができる。 このような低消費電力で高速動作するアドレ
ス・バツフアは、TTL論理のレベル信号をMOS
論理のレベル信号及びそれと相補関係をなす補信
号に変換する。 本発明による回路には、チツプを使用可能にす
るクロツク信号CSI及びそれと相補関係をなす補
信号によつて制御される交差結合ラツチ回路
が、設けられる。CSI信号および信号の第1
の状態の間に、このラツチ回路は、使用禁止状態
にされ、電力を節約することになる。そして、交
差結合ラツチ回路は、入力として、基準のレベル
信号とTTL論理のレベル信号とを受取る。この
ラツチ回路の論理状態は、クロツク信号のCSI及
びの第2の状態の間に受取つたTTL論理のレ
ベルに対応することになる。電気信号通路回路に
よつて、ラツチ回路の第1及び第2のノードと第
1インバータ及び第2インバータとが、各々接続
される。その第2の状態の間に、ラツチは、基準
のレベルとTTL論理のレベルとによつて定まる
適切な論理状態になり、その通路回路により、ラ
ツチのノードとインバータとの間に接続が生じ
て、MOS論理レベル信号及びそれと相補関係を
なす補信号が発生される。CSI信号及び信号
の第1の状態の間に、交差結合ラツチは、通路回
路の中断機能により、インバータから分離され
る。 〔本発明の実施例〕 第1図に、A0からAoまでの補数のアドレスが
入力されるMOS RAM11を示す。実施例では、
記憶装置即ちメモリに対してアドレス緩衝装置即
ちアドレス・バツフアという用語を用いている
が、TTL論理レベルをMOS論理レベルへ変換す
るようにアドレス・バツフアを用いることは、他
の回路装置にも適用できる。アドレス・ラインに
は、A0からAoまでの補入力が含まれる。TTL論
理回路5によつて、MOS RAM11のアドレス
指定を行う。入力するTTL論理レベルについて
は、0.6Vより小さい方が2進の0に対応し、
2.2Vより大きい方が2進の1に対応する。出力
する論理レベルは、MOS RAM11についての
アドレス入力を駆動するために、各々0Vと5Vの
間になる。アドレス・バツフア7に必要なのは、
CSI及びそれと相補関係をなすにより示され
ている単一のクロツク信号である。 第2図に、MOS半導体技術で実現されるアド
レス・バツフアの1例を示す。アドレス・バツフ
アの素子は、Nチヤンネル型又はPチヤンネル型
の電界効果トランジスタである。これらは、以後
NFET又はPFETとする。回路15によつて、入
力交差結合ラツチが、提供される。この交差結合
ラツチ15は、NFET34から成る第1スイツ
チとPFET28から成る第2スイツチとを含む。
これらのスイツチの間には、直列接続のトランジ
スタの組25,30と26,32とが並列に接続
されている。FET25及び26は、Pチヤンネ
ルであり、FET30及び32は、Nチヤンネル
である。トランジスタの組25,30と26,3
2とのゲートは、各々、対するトランジスタの組
の接合に接続されて、第1ノードN1及び第2ノ
ードN2を形成している。 交差結合ラツチ15は、NFET23を介して
第1ノードN1にTTL論理レベルを、そして
NFET22を介して第2ノードN2に基準電圧を、
各々受取る。交差結合ラツチ15は、=1の
間に、各ノードに入力電圧を受取る。CSIによる
チツプの選択は、MOS RAM11のアドレス・
ラインによつてアドレス指定すべきときに、起き
る。CSIパルス信号とその補信号とが、アド
レス・バツフアを動作させるのに必要なクロツ
ク・パルスである。 交差結合ラツチ15のノードは、ともに電流通
路回路16に接続される。電流通路回路16もま
た、CSI及びの制御で動作する。CSI=1の
間に、交差結合ラツチ15のノードは、電流通路
回路16を介して、インバータ18の入力N3及
びインバータ19の入力N4に、接続される。
=1でCSI=0の間に、インバータ18とノード
N1との間の接続並びにインバータ19とノード
N2との間の接続は、中断され、こうして、交差
結合ラツチ15とインバータとは分離される。電
流通路回路は、CSI=1、=0に応答して、
NFET39及び43とPFET38及び41とを導
電状態にし、そしてNFET45及び47をオフ
状態に保つことにより、パス・モードで動作す
る。そして、NFET39,43とPFET38,4
1とが、オフにゲートされると、交差結合ラツチ
15のノードN1及びN2とインバータ18及び1
9とを分離することになり、そして、NFET4
5及び47がオンにゲートされると、インバータ
18,19のノードN3,N4を接地することにな
る。 インバータ18及び19は、それらの入力接続
を除いて、同じである。インバータ18は、
VDDにドレインを接続した3つのPFET49,
52及び54と、これらに直列に接続された3つ
のNFET50,53及び55であつてソースを
接地しているものと、を含む。同様に、インバー
タ19は、VDDにドレインを接続した3つの
PFET56,58及び60と、これらに直列に接
続された3つのNFET57,59及び61であ
つてソースを接地しているものと、を含む。1対
の直列に接続されたトランジスタのゲートは、入
力接続を形成するために、一緒に接続され、
NFETとPFETの共通接続が、出力接続を形成す
る。 回路全体は、単一のクロツク・パルスCSIとそ
の補信号のみを用いて、電力消費を最小にし
て、動作速度を最高にするように、働く。=
1の間に、ノードN1は、TTL論理レベルA0に、
そしてノードN2は、REFと示された基準電圧
1.5Vになる。CSI=1の開始時に、NFET34及
びPFET28から成る、交差結合ラツチ15のス
イツチが、付勢される。交差結合ラツチ15の状
態がTTL論理レベル0により決定されると、仮
定する。インバータ18は、ノードN1に接続さ
れてMOS出力レベルA0を提供し、インバータ1
9は、ノードN2に接続されてMOS出力レベル0
を提供する。CSI=1の終了時に、交差結合ラツ
チ15は、インバータ18及び19から減結合さ
れる。インバータ18及び19への入力は、
NFET45及び47により接地に保たれ、イン
バータ18及び19からの出力は、VDDに保た
れる。CSI=1の前に、交差結合ラツチ15をオ
フに保つておくことにより、全ての電力消費が低
減される。 第2図のアドレス・バツフアは、CMOS技術
によつて実現できる。第2図の各FETを以下の
ようにすることにより、本発明の1つの実施例を
達成することができる。即ち、
り、特に、TTL論理の信号レベルをMOS論理の
信号レベルに変換する緩衝回路即ちバツフア回路
に関するものである。 〔背景技術〕 半導体技術の分野では、LSI回路がMOS半導
体技術によつて製造されている。このような半導
体装置の中には、複数のアドレス信号とこれらの
信号の論理補数信号とによつてアドレス指定され
るMOS記憶装置即ちMOSメモリが、含まれる。 MOS半導体技術によつて、メモリその他のタ
イプの回路装置を製造する多くの場合には、
TTLのような別のタイプの半導体論理回路によ
つて、回路装置を駆動する必要がある。TTL回
路は、異なる電圧レベル即ち、2.2Vよりも大き
な電圧レベルである2進の1と、0.6Vよりも小
さな電圧レベルである2進の0とを、発生する。
これらの論理レベルは、十分ではなく、幾つかの
適用例においては、MOS論理レベルに適合でき
なくなつている。 TTL論理レベルをMOS論理回路に適合可能な
レベルに変換するために、バツフア回路を設ける
ことが考え出された。このようなバツフア回路
は、例えば、TTL論理で直接駆動できる、モス
テツク社製造の16KダイナミツクRAM、No.、
MK4116(商品名)に設けられている。この装置
は、電力効率は良いが、しかし、動作させるため
には、3つのクロツク信号が必要である。多数の
クロツク信号は、バツフア装置の動作速度を制限
するという望ましくない事態を生じて、バツフア
装置に接続された残りの回路にその影響を及ぼし
てしまう。 TTL論理回路とインターフエイスをなしてい
る、日立製作所(株)製造の16K高速度スタテイツク
RAM、HM6147(商品名)のような、他のタイプ
のRAMでは、装置の適切な動作速度を達成して
いる。しかしながら、TTL論理回路からの駆動
信号を受取る装置中のインバータを流れるd.c.電
流のために、電力効率は、悪い。 〔本発明の概要〕 本発明の目的は、MOS論理回路とTTL論理回
路との間のインターフエイス回路を提供すること
である。 本発明の実施により、動作速度が速くて電力効
率が良い、MOSメモリ用のアドレス・バツフア
を提供することができる。 このような低消費電力で高速動作するアドレ
ス・バツフアは、TTL論理のレベル信号をMOS
論理のレベル信号及びそれと相補関係をなす補信
号に変換する。 本発明による回路には、チツプを使用可能にす
るクロツク信号CSI及びそれと相補関係をなす補
信号によつて制御される交差結合ラツチ回路
が、設けられる。CSI信号および信号の第1
の状態の間に、このラツチ回路は、使用禁止状態
にされ、電力を節約することになる。そして、交
差結合ラツチ回路は、入力として、基準のレベル
信号とTTL論理のレベル信号とを受取る。この
ラツチ回路の論理状態は、クロツク信号のCSI及
びの第2の状態の間に受取つたTTL論理のレ
ベルに対応することになる。電気信号通路回路に
よつて、ラツチ回路の第1及び第2のノードと第
1インバータ及び第2インバータとが、各々接続
される。その第2の状態の間に、ラツチは、基準
のレベルとTTL論理のレベルとによつて定まる
適切な論理状態になり、その通路回路により、ラ
ツチのノードとインバータとの間に接続が生じ
て、MOS論理レベル信号及びそれと相補関係を
なす補信号が発生される。CSI信号及び信号
の第1の状態の間に、交差結合ラツチは、通路回
路の中断機能により、インバータから分離され
る。 〔本発明の実施例〕 第1図に、A0からAoまでの補数のアドレスが
入力されるMOS RAM11を示す。実施例では、
記憶装置即ちメモリに対してアドレス緩衝装置即
ちアドレス・バツフアという用語を用いている
が、TTL論理レベルをMOS論理レベルへ変換す
るようにアドレス・バツフアを用いることは、他
の回路装置にも適用できる。アドレス・ラインに
は、A0からAoまでの補入力が含まれる。TTL論
理回路5によつて、MOS RAM11のアドレス
指定を行う。入力するTTL論理レベルについて
は、0.6Vより小さい方が2進の0に対応し、
2.2Vより大きい方が2進の1に対応する。出力
する論理レベルは、MOS RAM11についての
アドレス入力を駆動するために、各々0Vと5Vの
間になる。アドレス・バツフア7に必要なのは、
CSI及びそれと相補関係をなすにより示され
ている単一のクロツク信号である。 第2図に、MOS半導体技術で実現されるアド
レス・バツフアの1例を示す。アドレス・バツフ
アの素子は、Nチヤンネル型又はPチヤンネル型
の電界効果トランジスタである。これらは、以後
NFET又はPFETとする。回路15によつて、入
力交差結合ラツチが、提供される。この交差結合
ラツチ15は、NFET34から成る第1スイツ
チとPFET28から成る第2スイツチとを含む。
これらのスイツチの間には、直列接続のトランジ
スタの組25,30と26,32とが並列に接続
されている。FET25及び26は、Pチヤンネ
ルであり、FET30及び32は、Nチヤンネル
である。トランジスタの組25,30と26,3
2とのゲートは、各々、対するトランジスタの組
の接合に接続されて、第1ノードN1及び第2ノ
ードN2を形成している。 交差結合ラツチ15は、NFET23を介して
第1ノードN1にTTL論理レベルを、そして
NFET22を介して第2ノードN2に基準電圧を、
各々受取る。交差結合ラツチ15は、=1の
間に、各ノードに入力電圧を受取る。CSIによる
チツプの選択は、MOS RAM11のアドレス・
ラインによつてアドレス指定すべきときに、起き
る。CSIパルス信号とその補信号とが、アド
レス・バツフアを動作させるのに必要なクロツ
ク・パルスである。 交差結合ラツチ15のノードは、ともに電流通
路回路16に接続される。電流通路回路16もま
た、CSI及びの制御で動作する。CSI=1の
間に、交差結合ラツチ15のノードは、電流通路
回路16を介して、インバータ18の入力N3及
びインバータ19の入力N4に、接続される。
=1でCSI=0の間に、インバータ18とノード
N1との間の接続並びにインバータ19とノード
N2との間の接続は、中断され、こうして、交差
結合ラツチ15とインバータとは分離される。電
流通路回路は、CSI=1、=0に応答して、
NFET39及び43とPFET38及び41とを導
電状態にし、そしてNFET45及び47をオフ
状態に保つことにより、パス・モードで動作す
る。そして、NFET39,43とPFET38,4
1とが、オフにゲートされると、交差結合ラツチ
15のノードN1及びN2とインバータ18及び1
9とを分離することになり、そして、NFET4
5及び47がオンにゲートされると、インバータ
18,19のノードN3,N4を接地することにな
る。 インバータ18及び19は、それらの入力接続
を除いて、同じである。インバータ18は、
VDDにドレインを接続した3つのPFET49,
52及び54と、これらに直列に接続された3つ
のNFET50,53及び55であつてソースを
接地しているものと、を含む。同様に、インバー
タ19は、VDDにドレインを接続した3つの
PFET56,58及び60と、これらに直列に接
続された3つのNFET57,59及び61であ
つてソースを接地しているものと、を含む。1対
の直列に接続されたトランジスタのゲートは、入
力接続を形成するために、一緒に接続され、
NFETとPFETの共通接続が、出力接続を形成す
る。 回路全体は、単一のクロツク・パルスCSIとそ
の補信号のみを用いて、電力消費を最小にし
て、動作速度を最高にするように、働く。=
1の間に、ノードN1は、TTL論理レベルA0に、
そしてノードN2は、REFと示された基準電圧
1.5Vになる。CSI=1の開始時に、NFET34及
びPFET28から成る、交差結合ラツチ15のス
イツチが、付勢される。交差結合ラツチ15の状
態がTTL論理レベル0により決定されると、仮
定する。インバータ18は、ノードN1に接続さ
れてMOS出力レベルA0を提供し、インバータ1
9は、ノードN2に接続されてMOS出力レベル0
を提供する。CSI=1の終了時に、交差結合ラツ
チ15は、インバータ18及び19から減結合さ
れる。インバータ18及び19への入力は、
NFET45及び47により接地に保たれ、イン
バータ18及び19からの出力は、VDDに保た
れる。CSI=1の前に、交差結合ラツチ15をオ
フに保つておくことにより、全ての電力消費が低
減される。 第2図のアドレス・バツフアは、CMOS技術
によつて実現できる。第2図の各FETを以下の
ようにすることにより、本発明の1つの実施例を
達成することができる。即ち、
【表】
本発明の1実施例を述べたが、本発明は、この
実施例に限定されるものではない。
実施例に限定されるものではない。
第1図は、本発明の実施例のアドレス・バツフ
アを示すブロツク図であり、第2図は、その回路
図である。 5……TTL論理回路、7……アドレス・バツ
フア、11……MOS RAM、15……交差結合
ラツチ、16……電流通路回路、18,19……
インバータ。
アを示すブロツク図であり、第2図は、その回路
図である。 5……TTL論理回路、7……アドレス・バツ
フア、11……MOS RAM、15……交差結合
ラツチ、16……電流通路回路、18,19……
インバータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 相補関係にある1対のクロツク信号に応答し
て、TTL論理のレベル信号及び基準のレベル信
号を受取り、前記TTL論理のレベル信号により
定まる論理状態に対応した相補関係にある1対の
出力信号を出力する交差結合ラツチ回路と、 前記相補関係にある1対の出力信号に応答し
て、MOS論理の相補関係にある1対のレベル信
号を出力するインバータ回路と、 前記相補関係にある1対のクロツク信号に応答
して、前記相補関係にある1対の出力信号を前記
インバータ回路に提供する回路と、 を備えた、MOS論理レベルを規定するバツフ
ア回路。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US06/437,991 US4496857A (en) | 1982-11-01 | 1982-11-01 | High speed low power MOS buffer circuit for converting TTL logic signal levels to MOS logic signal levels |
US437991 | 1982-11-01 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5984397A JPS5984397A (ja) | 1984-05-16 |
JPH0410157B2 true JPH0410157B2 (ja) | 1992-02-24 |
Family
ID=23738772
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58146796A Granted JPS5984397A (ja) | 1982-11-01 | 1983-08-12 | Mos論理レベルを規定するバツフア回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4496857A (ja) |
EP (1) | EP0110060B1 (ja) |
JP (1) | JPS5984397A (ja) |
DE (1) | DE3369042D1 (ja) |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JPS59201460A (ja) * | 1983-04-30 | 1984-11-15 | Sharp Corp | Cmos△fet集積回路の製造方法 |
NL8303835A (nl) * | 1983-11-08 | 1985-06-03 | Philips Nv | Digitale signaalomkeerschakeling. |
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DE3672049D1 (de) * | 1985-08-13 | 1990-07-19 | Siemens Ag | Signalumsetzschaltung. |
US4645954A (en) * | 1985-10-21 | 1987-02-24 | International Business Machines Corp. | ECL to FET interface circuit for field effect transistor arrays |
US4697108A (en) * | 1986-05-09 | 1987-09-29 | International Business Machines Corp. | Complementary input circuit with nonlinear front end and partially coupled latch |
JPS62272722A (ja) * | 1986-05-21 | 1987-11-26 | Clarion Co Ltd | Ttl論理レベルcmos入力バツフア |
EP0265572A1 (en) * | 1986-10-29 | 1988-05-04 | International Business Machines Corporation | High signal sensitivity high speed receiver in CMOS technology |
IT1201860B (it) * | 1986-12-10 | 1989-02-02 | Sgs Microelettronica Spa | Circuito logico cmos |
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