[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

JP7458337B2 - 対象物を加熱及び冷却するためのステージ - Google Patents

対象物を加熱及び冷却するためのステージ Download PDF

Info

Publication number
JP7458337B2
JP7458337B2 JP2021019397A JP2021019397A JP7458337B2 JP 7458337 B2 JP7458337 B2 JP 7458337B2 JP 2021019397 A JP2021019397 A JP 2021019397A JP 2021019397 A JP2021019397 A JP 2021019397A JP 7458337 B2 JP7458337 B2 JP 7458337B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
pair
tubular portion
notches
groove
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2021019397A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2022122208A (ja
JP2022122208A5 (ja
Inventor
裕二 増田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ADVANTEC CO.,LTD.
Original Assignee
ADVANTEC CO.,LTD.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP2021019397A priority Critical patent/JP7458337B2/ja
Application filed by ADVANTEC CO.,LTD. filed Critical ADVANTEC CO.,LTD.
Priority to EP22752675.3A priority patent/EP4293135A1/en
Priority to US18/276,620 priority patent/US20240200192A1/en
Priority to PCT/JP2022/004189 priority patent/WO2022172848A1/ja
Priority to CN202280008304.5A priority patent/CN116685713A/zh
Priority to TW111104610A priority patent/TW202232654A/zh
Publication of JP2022122208A publication Critical patent/JP2022122208A/ja
Publication of JP2022122208A5 publication Critical patent/JP2022122208A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP7458337B2 publication Critical patent/JP7458337B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67098Apparatus for thermal treatment
    • H01L21/67109Apparatus for thermal treatment mainly by convection
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate
    • C23C16/463Cooling of the substrate
    • C23C16/466Cooling of the substrate using thermal contact gas
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/50Substrate holders
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/541Heating or cooling of the substrates
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/458Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for supporting substrates in the reaction chamber
    • C23C16/4582Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs
    • C23C16/4583Rigid and flat substrates, e.g. plates or discs the substrate being supported substantially horizontally
    • C23C16/4586Elements in the interior of the support, e.g. electrodes, heating or cooling devices
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/46Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating characterised by the method used for heating the substrate

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Workshop Equipment, Work Benches, Supports, Or Storage Means (AREA)

Description

この発明は,対象物を加熱及び冷却するためのステージに関する。
特許第5427367号公報には,矩形サセプタが記載されている。サセプタは,例えば,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,及び太陽光発電用パネルを製造する際にステージとして用いられる。サセプタは,製造工程において例えば基板を加熱する。その際に,基板を迅速かつ均一に加熱することが求められる。また,基板を冷却することができるようにすることも望ましい。このため,冷却管や加熱管を用いてステージの温度を制御することが考えられる。この場合,ステージに管を単に接触した場合,管が外れて温度制御効率が下がるという問題がある。また,ステージ内部に管を挿入する場合,加工が大変であり,修正ができないという問題もある。
特許第5427367号公報
この発明は,ステージに設けられた管を簡易な方法で永続的にステージに接触させつつ,修正も容易となるステージを提供することを目的とする。
上記の課題は,ステージの搭載表面を加熱する加熱部のみならず冷却部を備えるステージにより解決できる。また,上記の課題は,加熱部や冷却部を収容する溝の隙間に熱伝導媒体を充填させることにより,解決できる。
最初の発明は,チャンバ内に設置され,対象物を加熱及び冷却するためのステージ1に関する。このステージ1は,
対象物を搭載する搭載表面を有するステージ本体5と,
搭載表面の温度を調整するための第1の流体を流すための第1の管状部7と,
第1の管状部7を支持するための第1の管支持部9と,を有する。
そして,ステージ本体5は,
第1の管状部7を収容するための第1の溝部11と,
第1の溝部11を介して対向する切欠きペア13a,13bを有する。
そして,第1の管支持部9は,
切欠きペア13a,13bを連結する連結部15を有する。
このステージの好ましいものは,第1の管状部7と第1の溝部11との隙間に,熱伝導媒体を有する。熱伝導媒体の好ましい例は,銀,グリース,金属繊維,又はガスである。
このステージの好ましいものは,請求項1に記載のステージであって,
第1の流体は,搭載表面の温度を高めるための流体であり,
搭載表面の温度を下げるための第2の流体を流すための第2の管状部21と,
第2の管状部21を収容するための第2の溝部23と,
第2の管状部23を支持するための第2の管支持部25と,をさらに有する。
第2の発明は,上記したステージをサセプタとして有する真空装置に関する。
この真空装置は,例えば,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造するために用いられる。
第3の発明は,上記した真空装置を用いる,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造する方法に関する。
この発明は,管状部を収容する溝部と,溝部を介して対向する切欠きペアと,切欠きペアを連結する連結部を有する管支持部を有するので,ステージに設けられた管を簡易な方法で永続的にステージに接触させつつ,修正も容易となるステージを提供できる。
図1は,ステージの設置の状況を示す概念図である。 図2は,ステージの概略図である。 図3は,ステージの部分断面図である。 図4は連結部を説明するための概念図である。 図5は,製造途中のステージを説明するための参考図である。 図6は,熱伝導媒体の使用例を示す概念図である。 図7は,溝及び切欠きを形成したステージの裏面を示す図面に代わる写真である。 図8は,管支持部を溶接した様子を示す図面に代わる写真である。
以下,図面を用いて本発明を実施するための形態について説明する。本発明は,以下に説明する形態に限定されるものではなく,以下の形態から当業者が自明な範囲で適宜修正したものも含む。
図1は,ステージの設置の状況を示す概念図である。ステージ1は通常プロセスチャンバ2の内部に設置され,基板3の温度管理をおこなう。プロセスチャンバ2は外気と遮断されており,所望の真空度に保たれている。プロセスチャンバ2はプロセスガス4でみたされて,圧力を保っていてもよい。異なるタイプのプロセスチャンバ,例えば,物理気相堆積(PVD)チャンバやスパッタリングチャンバ,イオン金属注入(IMP)チャンバ,化学気相堆積(CVD)チャンバ,原子層堆積(ALD)チャンバ,プラズマエッチングチャンバ,アニーリングチャンバ,他の他のチャンバによって,プロセスガス4の圧力は異なる。
図2は,ステージの概略図である。図3は,ステージの部分断面図である。ステージは,チャンバ内に設置され,対象物を加熱及び冷却するための搭載台である。チャンバの例は,真空チャンバである。対象物の例は,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,及び太陽光発電用パネルであるか,又はそれらを製造する途中の基板である。
図1~図3に示される通り,ステージ1は,ステージ本体5と,第1の管状部7と,第1の管支持部9と,を有する。ステージ本体5は,第1の溝部11と,切欠きペア13a,13bを有する。そして,第1の管支持部9は,連結部15を有する。また,ステージ1の好ましい例は,第2の管状部21と第2の溝部23と,第2の管支持部25とをさらに有する。図1~図3の例では,管状部がテーブルサポート6の内部を通じてチャンバ2の外部と通じている。このため外部から,流体を管状部に流入できる。
ステージ本体5
ステージ本体5は,対象物を搭載する搭載表面を有する部位を意味する。
第1の管状部7
第1の管状部7は,搭載表面の温度を調整するための第1の流体を流すための管である。 管状部は,ステージ1が加熱される際に溶解しない材質を有するものであることが好ましい。この管に温度調節用の液体を適宜流すことで,ステージ1の温度を調整できる。第1の管状部7は,例えば,ステージ1を冷却するための液体を流す円柱形の管からなる部位であってよい。第1の管状部7の管の形状は,例えば,半径5mmの円を底面とする筒状のものであってもよい。上記半径は3mm以上9mm以下であってもよいし,4mm以上8mm以下でもよい。管の大きさや長さは,ステージ1のサイズに合わせて適宜調整すればよい。第1の管状部7の半径は,一律でもよいし,上流から下流へ進むにつれて大きくなっていてもよい。第1の管状部7の管の断面形状は,円形でもよいし,楕円形でもよいし,矩形(四角,五角,六角,又は八角)でもよい。第1の流体は,搭載表面の温度を高めるための流体であっても,温度を下げるための流体であってもよい。ひとつの管に異なる目的の流体が注入されてもよい。
第1の管支持部9
第1の管支持部9は,第1の管状部7を支持するための要素である。
第1の溝部11
第1の溝部11は,ステージ本体5に設けられ第1の管状部7を収容するための要素である。第1の溝部11は,ステージ本体5の搭載表面側に設けられてもよいし,裏面(搭載表面と反対の面)側に設けられてもよい。溝部11は,周囲に比べて高さが低くなっている部位である。
切欠きペア13a,13b
切欠きペア13a,13bは,第1の溝部11を介して対向する位置に設けられた窪みである。切欠きペア13a,13bは,管状部11を介して対向し,管状部11の両脇に設けられている差込用の穴ともいえる。この窪みには,後述する第1の管支持部9の連結部15が挿入されることとなる。すると,連結部15を介して,第1の管支持部9が固定される。それに伴い,第1の管状部7が,第1の溝部11内で固定されることとなる。切欠きペア13a,13bの穴は,例えば管状部の管が伸びる方向に30mm程細長く伸びた穴であって良い。切欠きペア13a,13bの穴は深さが20mm以上30mmであってよいし,21mm以上35mm以下でもよい。切欠きペア13a,13bはステージの裏面に複数設けられていることが好ましい。切欠きペア13a,13bの数は,例えば,1つのステージ1に対して3個であってよいし,4個でもよいし,5個でもよい。ステージ1に設けられる切欠きペア13a,13bの数が,多ければ,より多くの連結部15を取り付けることができるため,より安定して管状部11を固定することができる。
ある溝部9を介して対向する一組の切り欠ペア13a,13bの一つの穴から,管状部11の管が伸びる方向にある隣の切り欠ペア13a,13bの一つの穴までの間隔は,例えば70mm以上100mm以下で良いし,70mm以上110mm以下でもよいし,80mm以上100mm以下でも良いし,80mm以上110mm以下でもよい。一組の切り欠ペア13a,13bの,溝部9を挟んで対向する穴の間隔は,例えば10mm以上15mm以下でよいし,12mm以上15mm以下でもよいし,15mm以上20mm以下でもよい。
図4は連結部を説明するための概念図である。連結部15は,管状部7及び溝部11を覆うようにステージ1の切欠きペア13a,13bに取り付けることができる。連結部15の形状は,例えば四角柱の形状に対して,そのいずれか一つの底面の中央部分が凹んだ形状となる加工をしたものであって良い。また,上記中央部分は周りの底面よりも高さが低くなっており,その凹み部分の両脇には壁が形成され,その壁が突起状となっていてよい。その突起(壁)の高さは切欠きペア13a,13bの穴の深さに応じた高さとなっており,例えば10mm以上13mm以下であって良いし,13mm以上16mm以下であっても良い。
上記の壁は,該底面の中央領域を向く面が上記底面に対して垂直である必要はなく,その壁の上記部分が該四角柱の底面の中央領域から該底面の対辺の方向に開く方向に伸びていてもよい。例えば,上記一方の突起(壁)と対向する突起(壁)の間の角度は30度以上40度以下であってよいし,40度以上50度以下であってもよいし,50度以上60度以下であってもよい。
図5は,製造途中のステージを説明するための参考図である。
このステージの好ましいものは,第1の管状部7と第1の溝部11との隙間に,熱伝導媒体を有する。熱伝導媒体の好ましい例は,銀,グリース,金属繊維,又はガスである。
図6は,熱伝導媒体の使用例を示す概念図である。ミクロにみれば第1の管状部7と第1の溝部11との隙間に微小な隙間が空いる。そのため熱伝導媒体を使用することが効果的である。熱伝導媒体は炭素繊維などの固体,グリース状のもの,銀のような液体,水素,ヘリウムのような気体が考えられる。グリース状のもの,液体,気体の場合は流出を防ぐためシールすることもできる。
熱伝導媒体が,グリース状のもの,液体,気体といった流体である場合,熱伝導媒体が隙間に充填され,漏れないように密閉することが望ましい。簡単のため,テーブルサポート6の端部にシール板31が取り付けられており,第1の管状部11と第2の管状部21は,シール部33で完全に密封されている。熱伝導媒体をシールすることにより大気から遮断されており,流出防止になっている。熱伝導媒体が気体の場合,隙間に気体を圧入することにより,熱伝導効率を飛躍的に上げることができる。
このステージの好ましいものは,
第1の流体は,搭載表面の温度を高めるための流体であり,
搭載表面の温度を下げるための第1の流体を流すための第2の管状部21と,
第2の管状部21を収容するための第2の溝部23と,
第2の管状部23を支持するための第2の管支持部25と,をさらに有する。この場合,第1の管状部が加熱部として機能する。また,第2の管状部が冷却部として機能することとなる。
本発明の第2の側面は,上記したいずれかのステージをサセプタとして有する真空装置に関する。この真空装置は,例えば,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造するために用いられる真空装置である。真空装置は,通常チャンバと,チャンバを真空にするための真空ポンプとを有する。また,真空装置は,各種の試料をチャンバ内に導入するための導入部を有していてもよい。また,真空装置は,各種測定を行うためのセンサや測定機器を適宜有していてもよい。チャンバの例は,目的物を製造するためのプロセスチャンバである。フラットディスプレイパネルの例は,有機ELディスプレイ,プラズマディスプレイ及び液晶ディスプレイである。
本発明の第3の側面は,上記した真空装置を用いる,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造する方法に関する。半導体集積回路の製造方法は,例えば特許3956697号公報,特許3519589号公報,及び特許3064993号公報に記載されているとおり公知である。フラットディスプレイパネルの製造方法は,例えば特許5173757号公報,特許5169757号公報,及び特許4604752号公報に記載されているとおり公知である。太陽電池パネルの製造方法は,例えば特許6555964号公報,特許6498053号公報,及び特許5386044号公報に記載されているとおり公知である。
ステージは,例えば,以下のように製造できる。厚み30~100mmのアルミの板,1辺の長さが1500~4000ミリメートルの矩形(例えば正方形)の板に溝(流路)を機械加工する。また,溝の両脇に適宜切欠きペアを形成する。ステージ本体の材質は,アルミニウムに限定されず金属であればよい。そのようにして得られた溝(流路),に外形φ5~φ20のステンレス製のパイプを挿入する。溝にパイプを挿入した後,切欠きペアに管支持部を挿入する。管支持部を適宜溶接してもよい。このようにしてステージを製造できる。
サセプタを以下のように製造した。
材質A6061のアルミの板に流路を加工し,そこにヒーターや熱伝導媒体を流すことで温度制御を行うこととした。ステージ(サセプタ)は,本来真空装置に内において用いられるものの,ここでは温度変化を測定するため,大気中にて温度変化を測定した。
図7は,溝及び切欠きを形成したステージの裏面を示す図面に代わる写真である。図8は,管支持部を溶接した様子を示す図面に代わる写真である。

Claims (6)

  1. チャンバ内に設置され,対象物を加熱及び冷却するためのステージ(1)であって,
    前記ステージ(1)は,
    対象物を搭載する搭載表面を有するステージ本体(5)と,
    前記搭載表面の温度を調整するための第1の流体を流すための第1の管状部(7)と,
    第1の管状部(7)を支持するための第1の管支持部(9)と,
    を有し,
    前記ステージ本体(5)は,
    第1の前記管状部(7)を収容するための第1の溝部(11)と,
    第1の溝部(11)を介して対向する切欠きペア(13a,13b)を有し,
    第1の管支持部(9)は,
    前記切欠きペア(13a,13b)を連結する連結部(15)を有し,
    第1の流体は,前記搭載表面の温度を高めるための流体であり,
    前記ステージ本体(5)は,
    前記搭載表面の温度を下げるための第2の流体を流すための第2の管状部(21)と,
    第2の管状部(21)を収容するための第2の溝部(23)と,
    第2の管状部(21)を支持するための第2の管支持部であって第1の管支持部(9)と別のものと,をさらに有し,
    前記ステージ本体(5)は,
    第2の溝部(23)を介して対向する第2の切欠きペアを有し,
    第2の管支持部は,
    第2の切欠きペアを連結する第2の連結部(25)を有する,
    ステージあって、
    前記連結部(15)は,
    四角柱状の本体部と,
    前記本体部の上面中央にある平面部と,
    前記平面部の両脇に存在する2つの壁とを有し,
    前記2つの壁は,前記切欠きペア(13a,13b)に対応し,
    第2の連結部(25)は,
    四角柱状の第2の本体部と,
    第2の本体部の上面中央にある第2の平面部と,
    第2の平面部の両脇に存在する2つの第2の壁とを有し,
    前記2つの第2の壁は,第2の切欠きペアに対応する
    ステージ。
  2. 請求項1に記載のステージであって,
    第1の管状部(7)と第1の溝部(11)との隙間に,熱伝導媒体を有する,
    ステージ。
  3. 請求項2に記載のステージであって,
    前記熱伝導媒体は,銀,グリース,金属繊維,又はガスである,ステージ。
  4. 請求項1~3のいずれかに記載のステージをサセプタとして有する真空装置。
  5. 請求項4に記載の真空装置であって,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造するために用いられる真空装置。
  6. 請求項4に記載の真空装置を用いる,半導体集積回路,フラットディスプレイパネル,又は太陽電池パネルを製造する方法。
JP2021019397A 2021-02-09 2021-02-09 対象物を加熱及び冷却するためのステージ Active JP7458337B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021019397A JP7458337B2 (ja) 2021-02-09 2021-02-09 対象物を加熱及び冷却するためのステージ
US18/276,620 US20240200192A1 (en) 2021-02-09 2022-02-03 Stage for heating and cooling object
PCT/JP2022/004189 WO2022172848A1 (ja) 2021-02-09 2022-02-03 対象物を加熱及び冷却するためのステージ
CN202280008304.5A CN116685713A (zh) 2021-02-09 2022-02-03 用来加热以及冷却对象物的工作台
EP22752675.3A EP4293135A1 (en) 2021-02-09 2022-02-03 Stage for heating and cooling object
TW111104610A TW202232654A (zh) 2021-02-09 2022-02-08 用來加熱以及冷卻對象物之工作台

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2021019397A JP7458337B2 (ja) 2021-02-09 2021-02-09 対象物を加熱及び冷却するためのステージ

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2022122208A JP2022122208A (ja) 2022-08-22
JP2022122208A5 JP2022122208A5 (ja) 2023-12-15
JP7458337B2 true JP7458337B2 (ja) 2024-03-29

Family

ID=82837813

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2021019397A Active JP7458337B2 (ja) 2021-02-09 2021-02-09 対象物を加熱及び冷却するためのステージ

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20240200192A1 (ja)
EP (1) EP4293135A1 (ja)
JP (1) JP7458337B2 (ja)
CN (1) CN116685713A (ja)
TW (1) TW202232654A (ja)
WO (1) WO2022172848A1 (ja)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004108614A (ja) 2002-09-13 2004-04-08 Daikin Ind Ltd 熱交換器
JP2007180091A (ja) 2005-12-27 2007-07-12 Sumitomo Light Metal Ind Ltd 液冷式ヒートシンク
JP6285411B2 (ja) 2015-12-25 2018-02-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS519589B1 (ja) 1970-12-28 1976-03-27
JPS6285411A (ja) * 1985-10-11 1987-04-18 Hitachi Ltd Nmrイメ−ジング装置用常電導磁石の冷却構造
JPH0737862A (ja) * 1991-07-08 1995-02-07 Fujitsu Ltd 低温処理装置
JP3064993B2 (ja) 1997-10-30 2000-07-12 日本電気株式会社 半導体集積回路の製造方法
JP3956697B2 (ja) 2001-12-28 2007-08-08 セイコーエプソン株式会社 半導体集積回路の製造方法
JP4604752B2 (ja) 2005-02-14 2011-01-05 パナソニック株式会社 フラットディスプレイパネルの製造に用いるフォトマスクおよびフラットディスプレイパネルの製造方法
US7972470B2 (en) 2007-05-03 2011-07-05 Applied Materials, Inc. Asymmetric grounding of rectangular susceptor
JP5173757B2 (ja) 2008-11-14 2013-04-03 株式会社ジャパンディスプレイセントラル フラットディスプレイパネル及びフラットディスプレイパネルの製造方法
JP5169757B2 (ja) 2008-11-14 2013-03-27 Jsr株式会社 感光性組成物および焼成体の形成方法並びにフラットディスプレイパネルの製造方法
WO2011048797A1 (ja) 2009-10-23 2011-04-28 パナソニック株式会社 シリコン粉末の製造方法、および多結晶型太陽電池パネルならびにその製造方法
JP6498053B2 (ja) 2015-06-22 2019-04-10 株式会社豊田自動織機 ソーラーパネルの製造方法
JP6555964B2 (ja) 2015-07-29 2019-08-07 三菱電機株式会社 太陽電池パネル、太陽電池モジュール、太陽電池パネルの製造方法および太陽電池モジュールの製造方法

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004108614A (ja) 2002-09-13 2004-04-08 Daikin Ind Ltd 熱交換器
JP2007180091A (ja) 2005-12-27 2007-07-12 Sumitomo Light Metal Ind Ltd 液冷式ヒートシンク
JP6285411B2 (ja) 2015-12-25 2018-02-28 株式会社日立国際電気 基板処理装置、半導体装置の製造方法及びプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
EP4293135A1 (en) 2023-12-20
JP2022122208A (ja) 2022-08-22
WO2022172848A1 (ja) 2022-08-18
TW202232654A (zh) 2022-08-16
CN116685713A (zh) 2023-09-01
US20240200192A1 (en) 2024-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI836726B (zh) 高壓及高溫退火腔室
KR101645262B1 (ko) 가스 분산 장치
TW202140135A (zh) 氣體供應總成以及閥板總成
JP4536662B2 (ja) ガス処理装置および放熱方法
US6949722B2 (en) Method and apparatus for active temperature control of susceptors
KR102709765B1 (ko) 서셉터 지지부
TW201537672A (zh) 具有用於改善溫度分布之外部流量調整的靜電吸座
US20140311411A1 (en) Showerhead having cooling system and substrate processing apparatus including the showerhead
WO1996041109A1 (en) Passive gas substrate thermal conditioning apparatus and method
TW201528425A (zh) 具有用於改善溫度分布的內部流量調整的靜電吸座
TWI697037B (zh) 處理裝置
TW201406989A (zh) 用於遞送製程氣體至基板的方法及設備
JP7458337B2 (ja) 対象物を加熱及び冷却するためのステージ
KR20110124935A (ko) 샤워헤드 및 이를 포함하는 반도체 기판 가공 장치
KR102313969B1 (ko) 기판처리 장치
US20120325149A1 (en) Gas distribution system
KR101509632B1 (ko) 기판 처리 장치 및 방법
JP7401279B2 (ja) 対象物を加熱及び冷却するためのステージ
US20240042462A1 (en) Showerhead assembly and substrate processing apparatus
TW200406826A (en) Vapor-phase growth apparatus
TWI841636B (zh) 用於基板處理系統之包含蒸氣腔室的台座
KR102109435B1 (ko) 기판 온도조절이 가능한 기판 캐리어 모듈
TW202331826A (zh) 具快速排熱能力之高溫基座
KR100571309B1 (ko) 플라즈마 처리장치

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20231206

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20231206

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20231206

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20240227

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20240318

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 7458337

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150