JP7370604B2 - 測温抵抗体素子、及び該測温抵抗体素子の製造方法 - Google Patents
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Description
(1) セラミックス碍子の碍子孔に螺旋状の抵抗線のコイルが挿着されるとともに、前記碍子孔と前記抵抗線との隙間に絶縁粉末が充填されることにより、前記抵抗線が前記碍子孔の内部に固定された測温抵抗体素子であって、前記絶縁粉末が、第1のガラス粉末と、該第1のガラス粉末よりも軟化点温度が低い第2のガラス粉末の2種の非晶質ガラス粉末を含む混合ガラス粉末からなり、前記第1のガラス粉末同士、前記第1のガラス粉末と抵抗線、又は前記第1のガラス粉末と碍子孔内面とが、軟化又は溶融して変形・固化した第2のガラス粉末を介して連結された連結構造を有することを特徴とする測温抵抗体素子。
以下、本明細書でいう第1のガラス粉末の平均粒径の値は、コールターカウンター法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒径の値とし、第2のガラス粉末の平均粒径の値は、レーザー回折・散乱法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒径の値とする。
図4に示した本発明に係る構造を備える測温抵抗体素子であり、同じものを100個用意した。各部は次のとおりである。
・リード線:外径が0.15mmの白金ロジウム合金製抵抗値計測用リード
・セラミックス碍子:外径がφ0.8mm、長さが10mm、穴径がφ0.27mmの軸方向に貫通した碍子孔を2個有する耐熱絶縁体(アルミナ2穴碍子)。
・抵抗線:白金抵抗線(Pt99.999+重量%)で、線径がφ0.0125mm(12.5μm)の螺旋状(コイル状)の抵抗線であり、コイル中心径がPCD 0.2mm+α、コイル外径がφ0.225mm+α、コイル長が6mm、コイル線間がおよそ50μm
・絶縁粉末:第1、第2のガラス粉末の混合ガラス粉末
・第1のガラス粉末:軟化点が730℃、平均粒径(コールターカウンター法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒径)が15.6μm、熱膨張係数が88×10-7/℃(白金抵抗線と同じ)のガラスビーズ
・第2のガラス粉末:軟化点が394℃、平均粒径(レーザー回折・散乱法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒径)が3.9μm、熱膨張係数が105×10-7/℃のガラスフリット
・ガラス粉末の混合比(質量比): 第1のガラス粉末/第2のガラス粉末=95/5
・混合機で均等に撹拌。
・延長用口出しリード線:白金ロジウム合金(Pt-Rh10重量%)、線径がφ0.15、長さが15mmのリード線
・リード線と抵抗線との接続部のロウ材:金ろう(K10ろう(金41.7重量%含有、作業(溶融)温度740℃))を使用
・碍子孔両端の封止材:SiO2・B2O3/PbOを主成分とする低温焼成シール用ペースト(AGC株式会社製シールガラス「AP4290D1」、軟化点405℃、平均粒径3.5μm、熱膨張係数78(×10-7/℃))
従来品のサンプル(比較例1)としては、TDI社製 測温抵抗体素子「P100/1008」(外径φ0.8mm、長さ10mm)を100個用意した。
熱サイクル処理は、各サンプルをポリイミドチューブの中に入れて、液体窒素が素子に直接かからないようにしながら、室温⇔液体窒素温度(-196℃)の熱サイクルを数回繰り返し与えた。具体的な熱サイクル回数は、実施例1のサンプルでは10回、比較例1のサンプルでは10回とした。そして当該熱サイクル処理の前後における0℃での抵抗値の変化を計測した。結果を図9のグラフ、及び表1に示す。
・振動試験機:IMV株式会社製 「i220/SA1M」
・振動条件:比較例1のサンプルは、AT試験(受入試験Acceptance Test)、振動レベル23.4Grms 1分間とし、実施例1のサンプルは、QT試験(認定試験Qualification Test)、振動レベル46.8Grms、2分間(振動レベル及び振動時間が、AT試験の2倍)とした。
・評価方法:各サンプルについて振動前後でX線撮影を行い、内部の抵抗線コイルの位置の状態を比較することで乱れ(コイル位置状態の変化)が生じているか否かを判定した。
表2から分かるように、コイルの乱れについては、実施例1のサンプルは、100個(熱サイクル試験の合格品100個)のうち98個(98%)が合格し、ほとんど乱れなかった。これに対し、比較例1のサンプルは、100個(熱サイクル試験の合格品100個)のうち54個(54%)が合格で、残り46個、約半数でコイルの乱れが生じた。本発明品は衝撃や振動に耐える優れた耐久性を備えることがわかる。なお、図10は、それぞれ実施例1のサンプルの合格品(乱れ無し)、比較例1のサンプルの非合格品(乱れ有り)のX線撮影例である。
また、振動試験前後の温度偏差の変化量は、表2及び図11に示すように、実施例1、比較例1ともに95個以上合格し、ほぼ同等であった。
・リード線:外径が0.15mmの白金ロジウム合金製抵抗値計測用リード
・抵抗線:白金抵抗線(Pt99.999+重量%)で、線径がφ0.0125mm(12.5μm)の螺旋状(コイル状)の抵抗線であり、コイル中心径がPCD 0.2mm+α、コイル外径がφ0.225mm+α、コイル長が6mm、コイル線間がおよそ50μm
同じ金ロウ材を用いた接続において、実施例2のサンプルは、図8で示したパルスレーザ溶接機7による所定回数のパルス加熱(160V)による処理(5パルスを1セットとし、1~3セット数)で接続したものとし、実施例3のサンプルは、酸素・アセチレン炎でフレームロウ付けによる処理で接続したものとした。
実施例2、3の各接続体サンプルの接続部の外表面の組織SEM写真を図12、図13に示す。実施例3では、図12から分かるように、ロウ付け部近傍の結晶組織で外表面にバンブー組織が現れている。ところがパルスレーザロウ付けした実施例2では、図13から分かるように、同じ液相温度のロウ材を使用しているにも関わらず多結晶組織にとどまっている。
実施例3の抵抗線の引張強度は1N/mm2で、パルスレーザロウ付けした実施例2の抵抗線の引張強度は4N/mm2となり、およそ4倍の強度を示した。
破断部の断線状態を実体顕微鏡で観察した結果、図14の写真に示すようにバンブー組織の場合脆性破断を示している。なお、以上の結果から、実体顕微鏡やSEMによりロウ付けの均質性や抵抗線表面組織のバンブー発生のない事を確認すれば、ロウ付けの健全性を確認できることが分かる。
2 碍子
3 抵抗線
4 絶縁粉末
5 リード線
20 碍子孔
40 第1のガラス粉末
41 第2のガラス粉末
60 封止材
61 封止材
Claims (10)
- セラミックス碍子の碍子孔に螺旋状の抵抗線のコイルが挿着されるとともに、前記碍子孔と前記抵抗線との隙間に絶縁粉末が充填されることにより、前記抵抗線が前記碍子孔の内部に固定された測温抵抗体素子であって、
前記絶縁粉末が、第1のガラス粉末と、該第1のガラス粉末よりも軟化点温度が低い第2のガラス粉末の2種の非晶質ガラス粉末を含む混合ガラス粉末からなり、
前記第1のガラス粉末同士、前記第1のガラス粉末と抵抗線、又は前記第1のガラス粉末と碍子孔内面とが、軟化又は溶融して変形・固化した第2のガラス粉末を介して連結された連結構造を有し、
前記混合ガラス粉末が、前記第1のガラス粉末を85重量パーセント以上含んでおり、且つ前記第1のガラス粉末が、第2のガラス粉末に比べて、前記抵抗線の熱膨張係数に近い熱膨張係数をもつことを特徴とする測温抵抗体素子。 - 前記第1のガラス粉末のコールターカウンター法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒径である平均粒径が、前記第2のガラス粉末のレーザー回折・散乱法によって求めた粒度分布における積算値50%での粒径である平均粒径よりも大きい、請求項1記載の測温抵抗体素子。
- 前記第1のガラス粉末が球形である、請求項2記載の測温抵抗体素子。
- 抵抗線が白金抵抗線であり、
前記第1のガラス粉末が軟化温度500℃以上のガラス粉末であり、
且つ、前記第2のガラス粉末が軟化温度500℃未満のガラス粉末であり、
前記連結構造が、前記第1のガラス粉末同士、前記第1のガラス粉末と抵抗線、又は前記第1のガラス粉末と碍子孔内面とが、500℃未満の加熱による軟化又は溶融で変形・固化した第2のガラス粉末を介して連結された構造である、請求項1~4の何れか1項に記載の測温抵抗体素子。 - セラミックス碍子の碍子孔に螺旋状の抵抗線のコイルが挿着されるとともに、前記碍子孔と前記抵抗線との隙間に絶縁粉末が充填されることにより、前記抵抗線が前記碍子孔の内部に固定される測温抵抗体素子の製造方法であって、
前記絶縁粉末を、第1のガラス粉末と、該第1のガラス粉末よりも軟化点温度が低い第2のガラス粉末の2種の非晶質ガラス粉末を含む混合ガラス粉末とし、
前記絶縁粉末を前記充填した状態で、第1のガラス粉末の軟化点温度よりも低く、且つ第2のガラス粉末の軟化点温度以上の温度で加熱処理することにより、前記第2のガラス粉末を軟化又は溶融させ、
その後、冷却固化させることにより、前記第1のガラス粉末同士、前記第1のガラス粉末と抵抗線、又は前記第1のガラス粉末と碍子孔内面とが、軟化又は溶融して変形・固化した第2のガラス粉末を介して連結された連結構造を形成してなり、
前記混合ガラス粉末が、前記第1のガラス粉末を85重量パーセント以上含んでおり、且つ前記第1のガラス粉末が、第2のガラス粉末に比べて、前記抵抗線の熱膨張係数に近い熱膨張係数をもつ、
測温抵抗体素子の製造方法。 - 前記抵抗線が白金抵抗線であり、
前記第1のガラス粉末が軟化温度500℃以上のガラス粉末であり、
前記第2のガラス粉末が軟化温度500℃未満のガラス粉末であり、
前記加熱処理が、500℃未満で且つ前記第2のガラス粉末の軟化点温度以上の温度による加熱処理である、請求項6記載の測温抵抗体素子の製造方法。 - 前記抵抗線とリード線とを、ロウ付け接続した、請求項6又は7記載の測温抵抗体素子の製造方法。
- 前記ロウ付け接続が、リード線の抵抗線側の接続端部に設けた置きロウと、抵抗線の接続端部とを接触または近接させた状態で、前記リード線の置きロウから離れた位置を加熱し、該加熱による伝熱により置きロウを溶解させ、抵抗線と接続させる処理である、請求項8記載の測温抵抗体素子の製造方法。
- 前記リード線の加熱が、パルスレーザ溶接機による所定回数のパルス加熱による処理である、請求項9記載の測温抵抗体素子の製造方法。
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