JP7063239B2 - 感光性樹脂組成物及び感光性ドライフィルム - Google Patents
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Description
1.(A)フェノール性ヒドロキシ基を有する樹脂、及び
(B)分子中にエポキシ基を1~8個含み、かつ窒素、硫黄及びリンから選ばれる少なくとも1つの元素を含む、分子量が50~6,000の化合物であるエポキシ添加剤
を含む感光性樹脂組成物であって、
(B)成分が、(A)樹脂100質量部に対し、0.1~18質量部含まれる感光性樹脂組成物。
2.(A)成分の樹脂が、ポリベンゾオキサゾール、ポリイミド、エポキシ樹脂、及びこれらのシリコーン変性樹脂から選ばれる少なくとも1種である1の感光性樹脂組成物。
3.更に、(C)架橋剤を含む1又は2の感光性樹脂組成物。
4.更に、(D)光酸発生剤を含む1~3のいずれかの感光性樹脂組成物。
5.更に、(E)有機溶剤を含む1~4のいずれかの感光性樹脂組成物。
6.1~5のいずれかの感光性樹脂組成物から得られる感光性樹脂皮膜。
7.6の感光性樹脂皮膜を備える感光性ドライフィルム。
8.(i)1~5のいずれかの感光性樹脂組成物を用いて、感光性樹脂皮膜を基板上に形成する工程、
(ii)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(iii)前記露光した感光性樹脂皮膜を現像液を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。
9.(i)7の感光性ドライフィルムを用いて、感光性樹脂皮膜を基板上に形成する工程、
(ii)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(iii)前記露光した感光性樹脂皮膜を現像液を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。
本発明の感光性樹脂組成物に含まれる(A)成分の樹脂は、フェノール性ヒドロキシ基を有するものであれば特に限定されないが、ポリベンゾオキサゾール、ポリイミド、エポキシ樹脂、又はこれらのシリコーン変性樹脂を用いると、後述する(B)エポキシ添加剤の効果がより発揮されるため好ましい。
(B)成分のエポキシ添加剤は、分子中にエポキシ基を1~8個有し、窒素、硫黄及びリンから選ばれる少なくとも1つの元素を含む、分子量が50~6,000の化合物である。エポキシ添加剤はエポキシ基を有するため、組成物中に含まれるフェノール性ヒドロキシ基と反応して硬化物として固定化され、かつ、窒素原子、硫黄原子、リン原子が銅と相互作用をするため、銅界面との接着力を向上させることができる。
XA m-XB (9)
(式中、mは、1~3の整数である。)
本発明の組成物には、更に必要に応じて(C)架橋剤、(D)光酸発生剤、(E)有機溶剤、(F)多官能エポキシ化合物(ただし、(B)成分の化合物を含まない。)等を添加することができる。
架橋剤は、(A)成分と架橋反応を起こし、パターンの形成を容易になし得るための成分であるとともに、膜の強度を更に上げるものである。
光酸発生剤は、光照射によって分解し、酸を発生するものであれば特に限定されないが、波長240~500nmの光を照射することによって酸を発生するものが好ましい。前記光酸発生剤は、硬化触媒として機能する。前記光酸発生剤としては、例えばオニウム塩、ジアゾメタン誘導体、グリオキシム誘導体、β-ケトスルホン誘導体、ジスルホン誘導体、ニトロベンジルスルホネート誘導体、スルホン酸エステル誘導体、イミド-イル-スルホネート誘導体、オキシムスルホネート誘導体、イミノスルホネート誘導体、トリアジン誘導体等が挙げられる。
有機溶剤としては、添加した化合物を溶解又は分散できるものが好ましい。前記有機溶剤としては、例えば、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、メチル-2-n-ペンチルケトン等のケトン類;3-メトキシブタノール、3-メチル-3-メトキシブタノール、1-メトキシ-2-プロパノール、1-エトキシ-2-プロパノール等のアルコール類;プロピレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールジメチルエーテル、ジエチレングリコールジメチルエーテル等のエーテル類;プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、プロピレングリコールモノエチルエーテル、乳酸エチル、ピルビン酸エチル、酢酸ブチル、3-メトキシプロピオン酸メチル、3-エトキシプロピオン酸エチル、酢酸tert-ブチル、プロピオン酸tert-ブチル、プロピレングリコール-モノ-tert-ブチルエーテルアセテート、γ-ブチロラクトン等のエステル類;N-メチル-2-ピロリドン、N,N-ジメチルアセトアミド等のアミド類等が挙げられる。
多官能エポキシ化合物(ただし、(B)成分の化合物を含まない。)は、パターニング後の加熱硬化時に(A)成分と架橋反応を行い、皮膜の信頼性や基板との密着性に寄与する。
本発明の感光性ドライフィルムは、前記感光性樹脂組成物をフィルム状に加工して得られる感光性樹脂皮膜を備えるものである。フィルム状に形成されたものを用いることで、溶剤を使用せずにパターンを得られることから、作業環境の面で優れる。前記感光性ドライフィルムを用いた場合でも、溶液状の感光性樹脂組成物を使用した場合と同等のパターンを与える。
本発明のパターン形成方法は、前記感光性樹脂組成物から得られる感光性樹脂皮膜を基板上に形成する工程、前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び前記露光した感光性樹脂皮膜を現像液を用いて現像する工程を含むものである。
還流冷却器、温度計及び滴下漏斗を具備した5Lセパラブルフラスコに、トルエンを2,000g、及び原料である化合物(S-1)~(S-6)をそれぞれ表1に記載した量で加えた。そこへ、硝酸、硫酸又はリン酸を滴下漏斗で2時間かけて、表1に記載した量を滴下した。滴下後、80℃まで加熱し、そのまま2時間加熱した。反応溶液中の溶剤や未反応物を減圧蒸留により除去し、エポキシ添加剤である化合物(G-1)~(G-6)を得た。
攪拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコに、化合物R-1 271.1g(0.50モル)、及び化合物R-3 215.1g(0.50モル)を加えた後、トルエン1,500gを加え、70℃に加温した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5質量%)1.0gを投入し、及び化合物R-2 194.1g(1.00モル)を1時間かけて滴下した。滴下終了後、100℃まで加温し6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去し、樹脂1 590gを得た。樹脂1のMwは、38,800であった。
攪拌機、温度計、窒素置換装置及び還流冷却器を具備した3Lフラスコに、化合物R-1 81.3g(0.15モル)、及び化合物R-3 64.5g(0.15モル)を加えた後、トルエン1,500gを加え、70℃に加温した。その後、塩化白金酸トルエン溶液(白金濃度0.5質量%)1.0gを投入し、及び化合物R-2 29.1g(0.15モル)と化合物R-4 442.0g(0.15モル)を各々1時間かけて滴下した。滴下終了後、100℃まで加温し6時間熟成した後、反応溶液からトルエンを減圧留去し、樹脂2 570gを得た。樹脂2のMwは、40,400であった。
攪拌機、温度計及び窒素置換装置を具備したフラスコに、化合物R-5 264.0g(0.25モル)、化合物R-6 183.1g(0.50モル)、及びγ-ブチロラクトン1,400gを仕込んだ。次いで、化合物R-7 111.1g(0.25モル)を反応系の温度が50℃を超えないように調節しながら、前記フラスコ内に加えた。その後、p-アミノフェノール2.2g(0.02モル)を加え、更に室温で10時間攪拌した。次に、該フラスコに水分受容器付き還流冷却器を取り付けた後、キシレン250gを加え、170℃に昇温してその温度を6時間保持したところ、褐色の溶液が得られた。この溶液にグリシドール60.2g(0.80モル)を加え、110℃で3時間加熱した。反応終了後、室温まで冷却し、反応溶液をメタノール中に投入後、析出した沈殿を濾過し、乾燥後、目的とする樹脂3を得た。樹脂3のMwは、36,700であった。
表1に記載した組成で各成分を配合して、攪拌、混合した後、得られた溶液をシリコンウエハに各々スピンコートし、膜厚10μmの樹脂層を形成した。
実施例1~9、13~20及び比較例1~11では、ホットプレートを用いて90℃で2分間加熱して溶剤を飛ばし、20μmのビアパターンをもつマスクを用いて、波長365nmの光で露光し、ホットプレートを用いて90℃で4分間加熱してPEBを行い、その後現像液として2.38質量%TMAH水溶液を用いて60秒間で4回現像を行い、その後200℃で2時間加熱して硬化させた。
PIMELを使用した実施例10~12では、樹脂層を形成した後、波長365nmの光で露光し、20μmのビアパターンをもつマスクを用いて、2.38質量%TMAH水溶液を用いて60秒間で4回現像し、350℃で2時間加熱して硬化させた。
断面をSEMで観察し、底部まで樹脂がなくなっていれば〇、底部に樹脂残渣が少しでも残っていたら×とした。
表1に記載した組成で各成分を配合して、攪拌、混合した後、得られた溶液を銅を蒸着したシリコンウエハに各々スピンコートし、膜厚10μmの樹脂層を形成した。
実施例1~9、13~20及び比較例1~11では、ホットプレートを用いて90℃で2分間加熱して溶剤を飛ばし、100μm角のポストパターンをもつマスクを用いて波長365nmの光で露光し、ホットプレートを用いて90℃で4分間加熱してPEBを行い、現像液として2.38質量%TMAH水溶液を用いて60秒間で4回現像を行い、200℃で2時間加熱して硬化させた。
PIMELを使用した実施例10~12では、樹脂層を形成した後、100μm角のポストパターンをもつマスクを用いて、波長365nmの光で露光し、2.38質量%TMAH水溶液を用いて60秒間で4回現像し、350℃で2時間加熱して硬化させた。
形成された100μm角のポストパターンについて、ダイシェア試験を行った。ダイシェア試験は、接着力測定装置(ノードソン・アドバンスト・テクノロジー社製万能型ボンドテスターシリーズ4000(DS-100))を用いて、ポストパターンを真横からはじいた際の接着力を測定した。
表1に記載した組成で各成分を配合して、攪拌、混合した後、得られた溶液を櫛歯型の銅配線が形成されたSiNウエハに各々スピンコートし、膜厚10μmの樹脂層を形成した。
実施例1~9、13~20及び比較例1~11では、ホットプレートを用いて90℃で2分間加熱して溶剤を飛ばし、マスクを用いずに波長365nmの光で全面を露光し、ホットプレートを用いて90℃で4分間加熱してPEBを行い、現像液として2.38質量%TMAH水溶液を用いて60秒間で4回現像を行い、200℃で2時間加熱して硬化させた。
PIMELを使用した実施例10~12では、樹脂層を形成した後、波長365nmの光でマスクを用いずに露光し、2.38質量%TMAH水溶液を用いて60秒間で4回現像し、350℃で2時間加熱して硬化させた。
得られた硬化物に対し、85℃、湿度85%の環境下において、電圧20Vを印加し、1,000時間のマイグレーション試験を行った。試験後までに通電が発生しなかった場合は〇、試験中に通電した場合は×とした。
・PIMEL:PIMEL I8320(感光性ポリイミド、旭化成エレクトロニクス(株)製)
・架橋剤:テトラキス(メトキシメチル)グリコールウリル(ニカラックMX-270、(株)三和ケミカル製)
Claims (10)
- (A)フェノール性ヒドロキシ基を有する樹脂、及び
(B)分子中にエポキシ基を1~8個含み、かつ窒素、硫黄及びリンから選ばれる少なくとも1つの元素を含む、分子量が50~6,000の化合物であるエポキシ添加剤
を含む感光性樹脂組成物であって、
(B)成分が、(A)樹脂100質量部に対し、0.1~18質量部含まれ、
(B)成分が、下記式
XA m-XB (9)
[式中、mは、1~3の整数である。XAは、エポキシ基を1つ以上有する1価の有機基である。XBは、下記式のいずれかで表される、窒素、硫黄及びリンから選ばれる元素を少なくとも1種含む基である。
で表される化合物である感光性樹脂組成物。 - (A)成分の樹脂が、ポリベンゾオキサゾール、ポリイミド、エポキシ樹脂、及びこれらのシリコーン変性樹脂から選ばれる少なくとも1種である請求項1又は2記載の感光性樹脂組成物。
- 更に、(C)架橋剤を含む請求項1~3のいずれか1項記載の感光性樹脂組成物。
- 更に、(D)光酸発生剤を含む請求項1~4のいずれか1項記載の感光性樹脂組成物。
- 更に、(E)有機溶剤を含む請求項1~5のいずれか1項記載の感光性樹脂組成物。
- 請求項1~6のいずれか1項記載の感光性樹脂組成物から得られる感光性樹脂皮膜。
- 請求項7記載の感光性樹脂皮膜を備える感光性ドライフィルム。
- (i)請求項1~6のいずれか1項記載の感光性樹脂組成物を用いて、感光性樹脂皮膜を基板上に形成する工程、
(ii)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(iii)前記露光した感光性樹脂皮膜を現像液を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。 - (i)請求項8記載の感光性ドライフィルムを用いて、感光性樹脂皮膜を基板上に形成する工程、
(ii)前記感光性樹脂皮膜を露光する工程、及び
(iii)前記露光した感光性樹脂皮膜を現像液を用いて現像する工程
を含むパターン形成方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018206503A JP7063239B2 (ja) | 2018-11-01 | 2018-11-01 | 感光性樹脂組成物及び感光性ドライフィルム |
EP19203164.9A EP3647870A1 (en) | 2018-11-01 | 2019-10-15 | Photosensitive resin composition and photosensitive dry film |
US16/666,757 US11518876B2 (en) | 2018-11-01 | 2019-10-29 | Photosensitive resin composition and photosensitive dry film |
KR1020190135334A KR20200050395A (ko) | 2018-11-01 | 2019-10-29 | 감광성 수지 조성물 및 감광성 드라이 필름 |
CN201911050756.6A CN111142332B (zh) | 2018-11-01 | 2019-10-31 | 感光性树脂组合物和感光性干膜 |
TW108139482A TWI814933B (zh) | 2018-11-01 | 2019-10-31 | 感光性樹脂組成物及感光性乾薄膜 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2018206503A JP7063239B2 (ja) | 2018-11-01 | 2018-11-01 | 感光性樹脂組成物及び感光性ドライフィルム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2020071420A JP2020071420A (ja) | 2020-05-07 |
JP7063239B2 true JP7063239B2 (ja) | 2022-05-09 |
Family
ID=68289868
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2018206503A Active JP7063239B2 (ja) | 2018-11-01 | 2018-11-01 | 感光性樹脂組成物及び感光性ドライフィルム |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US11518876B2 (ja) |
EP (1) | EP3647870A1 (ja) |
JP (1) | JP7063239B2 (ja) |
KR (1) | KR20200050395A (ja) |
CN (1) | CN111142332B (ja) |
TW (1) | TWI814933B (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN114230792B (zh) * | 2022-01-05 | 2023-10-03 | 明士(北京)新材料开发有限公司 | 一种正性光敏聚酰亚胺树脂、树脂组合物及其制备方法与应用 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013140338A (ja) | 2011-12-09 | 2013-07-18 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 化学増幅ネガ型レジスト組成物、光硬化性ドライフィルム、その製造方法、パターン形成方法、及び電気・電子部品保護用皮膜 |
JP2017156685A (ja) | 2016-03-04 | 2017-09-07 | 信越化学工業株式会社 | ポジ型感光性樹脂組成物、光硬化性ドライフィルム及びその製造方法、パターン形成方法、及び積層体 |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS4918313B1 (ja) | 1970-10-29 | 1974-05-09 | ||
JP3832572B2 (ja) * | 2001-10-09 | 2006-10-11 | 信越化学工業株式会社 | 光硬化性樹脂組成物、パターン形成方法及び基板保護用フィルム |
JP4183459B2 (ja) | 2002-08-30 | 2008-11-19 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | ポリアミド酸エステル組成物 |
TW589516B (en) * | 2003-07-22 | 2004-06-01 | Ind Tech Res Inst | Positive photo resist with uniform reactivity and patterning process using the same |
JP4918313B2 (ja) | 2006-09-01 | 2012-04-18 | 旭化成イーマテリアルズ株式会社 | 感光性樹脂組成物 |
TWI516527B (zh) * | 2009-12-10 | 2016-01-11 | 信越化學工業股份有限公司 | 光固化性樹脂組成物,圖案形成法和基板保護膜,以及使用該組成物之膜狀黏著劑及黏著片 |
US9063421B2 (en) * | 2011-11-17 | 2015-06-23 | Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. | Chemically amplified positive resist composition and pattern forming process |
KR101976890B1 (ko) * | 2011-12-20 | 2019-05-09 | 다우 글로벌 테크놀로지스 엘엘씨 | 경화된 에폭시 수지 복합체의 제조 방법 |
JP6886865B2 (ja) | 2017-05-31 | 2021-06-16 | 株式会社ユーシン | 照明構造 |
-
2018
- 2018-11-01 JP JP2018206503A patent/JP7063239B2/ja active Active
-
2019
- 2019-10-15 EP EP19203164.9A patent/EP3647870A1/en active Pending
- 2019-10-29 US US16/666,757 patent/US11518876B2/en active Active
- 2019-10-29 KR KR1020190135334A patent/KR20200050395A/ko not_active Application Discontinuation
- 2019-10-31 CN CN201911050756.6A patent/CN111142332B/zh active Active
- 2019-10-31 TW TW108139482A patent/TWI814933B/zh active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013140338A (ja) | 2011-12-09 | 2013-07-18 | Shin Etsu Chem Co Ltd | 化学増幅ネガ型レジスト組成物、光硬化性ドライフィルム、その製造方法、パターン形成方法、及び電気・電子部品保護用皮膜 |
JP2017156685A (ja) | 2016-03-04 | 2017-09-07 | 信越化学工業株式会社 | ポジ型感光性樹脂組成物、光硬化性ドライフィルム及びその製造方法、パターン形成方法、及び積層体 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI814933B (zh) | 2023-09-11 |
EP3647870A1 (en) | 2020-05-06 |
US20200140678A1 (en) | 2020-05-07 |
CN111142332A (zh) | 2020-05-12 |
TW202028308A (zh) | 2020-08-01 |
CN111142332B (zh) | 2024-10-29 |
JP2020071420A (ja) | 2020-05-07 |
US11518876B2 (en) | 2022-12-06 |
KR20200050395A (ko) | 2020-05-11 |
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