JP6520102B2 - 半導体装置および電流制限方法 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 12
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 11
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 7
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 6
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 3
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 3
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000013021 overheating Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
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- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H9/00—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection
- H02H9/02—Emergency protective circuit arrangements for limiting excess current or voltage without disconnection responsive to excess current
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- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05F—SYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
- G05F1/00—Automatic systems in which deviations of an electric quantity from one or more predetermined values are detected at the output of the system and fed back to a device within the system to restore the detected quantity to its predetermined value or values, i.e. retroactive systems
- G05F1/10—Regulating voltage or current
- G05F1/46—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc
- G05F1/56—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices
- G05F1/565—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor
- G05F1/569—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection
- G05F1/573—Regulating voltage or current wherein the variable actually regulated by the final control device is dc using semiconductor devices in series with the load as final control devices sensing a condition of the system or its load in addition to means responsive to deviations in the output of the system, e.g. current, voltage, power factor for protection with overcurrent detector
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
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Description
図1は半導体装置の構成例を示す図である。第1の実施の形態の半導体装置1は、メイントランジスタm0および電流制限部1aを備え、半導体装置1は、メイントランジスタm0を介して、負荷3に接続している。
さらに、電流制限部1aは、メイントランジスタm0を流れる電流iが電流制限値Ith以上であり、かつ制御トランジスタm2の動作電圧が電流制限駆動電圧V1以上になった場合に、メイントランジスタm0から過電流が流れていることを検出して、電流制限機能を駆動する。
また、この電流制限機能は、メイントランジスタm0を流れる電流iが電流制限値Ith以上であり、かつ制御トランジスタm2の動作電圧が電流制限駆動電圧V1以上になるという2つの条件が満たされた場合に駆動される。このような半導体装置1の構成により、負荷3の安定起動および過電流の検出精度の向上を図ることが可能になる。
(IPSの構成・動作)
まず、電源側に半導体デバイスを配置し、GND側に負荷を配置したハイサイド型のIPSの構成・動作について説明する。
チャージポンプ11bの出力端は、トランジスタM0のゲート、トランジスタM1のゲートおよびトランジスタM2のドレインに接続する。トランジスタM0、M1のドレインは、IPS100の電源電圧端子VCCに接続する。
例えば、双方共にオンした場合、センストランジスタM1に流れる電流(IM1とする)を1とした場合、メイントランジスタM0に流れる電流(IM0とする)は、10000程度であり、センス比は、IM1:IM0=1:10000としている。
ここで、例えば、トランジスタM11のゲートに、HレベルとLレベルとが繰り返すパルス信号が印加されるとする。パルス信号がHレベルのとき、トランジスタM11はオンする。
一方、パルス信号がLレベルになると、トランジスタM11がオフするので、ポイントP1の電位は、トランジスタM11がオンのときの電位よりも上昇する。すると、コンデンサC1に充電されていた電荷が、ダイオードD2を介して、コンデンサC2へ流れることになる。
最初に通常動作モードについて説明する。上述のように、センストランジスタM1に流れる電流量は、メイントランジスタM0から流れる電流量に比べて非常に小さい。
ポイントCSは、制御トランジスタM2のゲートに接続しているので、CS電圧VCSが制御トランジスタM2の閾値電圧Vthを超えない場合、制御トランジスタM2はオフ状態となる。
この場合、センストランジスタM1のソースに接続しているポイントCSのCS電圧VCSが、通常動作モードのときの電位よりも上昇するが、制御トランジスタM2の閾値電圧Vthを超えるほど上昇すると、制御トランジスタM2は、オン状態になる。
1つ目の条件は、メイントランジスタM0から流れる電流が、あらかじめ設定した過電流制限値を超えることである。過電流制限値は、メイントランジスタM0から流れる電流に対して、過電流とみなせる閾値であって、過電流の最小の値である。
ここで、ポイントCSのCS電圧VCS、センス抵抗R1の抵抗値R1、センストランジスタM1を流れる電流IM1の関係は、オームの法則から以下の式(1)となる。
電流制限動作モードにおいて、CS電圧VCSが、制御トランジスタM2の閾値電圧Vth以上(VCS≧Vth)になると、制御トランジスタM2はオンする。
次に過電流制限値と突入電流との関係について説明する。図4は過電流制限値と突入電流を示す図である。縦軸は電流、横軸は時間である。
ここで、IPS100が動作させる負荷3をモータとする。IPS100から、モータを動作させるための電流を時間T1から流すと、時間T1〜T2の区間において、突入電流(始動電流)が発生し、時間T2以降では、定常状態で電流が流れる。
(第2の実施の形態)
次に本技術の半導体装置をIPSに適用した場合について以降詳しく説明する。図5はIPSの構成例を示す図である。第2の実施の形態のIPS10は、負荷動作回路11、電流制限回路12−1、定電流制御回路13およびメイントランジスタM0を備える。
ラッチ回路13aの端子a3は、クランプ回路13bの端子b3に接続し、ラッチ回路13aのセット端子STは、トランジスタM2のゲート、トランジスタM1のソースおよび抵抗R1の一端と接続する。
図7は負荷短絡が生じていないモータ起動時の動作波形を示す図である。縦軸は電流または電圧、横軸は時間tである。グラフk1は、メイントランジスタM0のドレインソース間電圧VDSの遷移である。グラフk2は、メイントランジスタM0を流れる電流の遷移である。
〔t5<t〕ドレインソース間電圧VDSは、閾値電圧Vthの値を維持する。突入電流が流れる状態が終わって定常状態に移行し、メイントランジスタM0からは所定の電流が流れる。
このとき、ドレインソース間電圧VDSは、電流制限駆動電圧V1以上で、さらに定電流生成電圧V2以上であり(VDS≧V1、VDS≧V2)、かつ過電流は、電流制限値IOC1以上となっている。
〔t12<t≦t13〕負荷短絡状態であり、ドレインソース間電圧VDSは、電源電圧VCCの値を略維持する。電流制限回路12−1は、電流制限動作モードになって、制御トランジスタM2がオンし、メイントランジスタM0のゲート電圧を低下させるので、メイントランジスタM0を流れる電流が減少していく。
これにより、メイントランジスタM0のゲート電圧を設定電圧に急激にクランプするので、メイントランジスタM0から設定電圧にもとづく定電流を出力させることができ、所望の値まで安定的に低くした電流に制限することができる。
1a 電流制限部
m0 メイントランジスタ
m2 制御トランジスタ
3 負荷
i 電流
g1 動作電圧のグラフ
g2 電流のグラフ
Ith 電流制限値
V1 電流制限駆動電圧
Ta 電流制限機能が駆動する時間帯
Claims (8)
- 電源から負荷への電力供給を行うメイントランジスタと、
前記メイントランジスタのゲート電圧を制御する制御トランジスタを含み、前記メイントランジスタに流れる電流を制限する電流制限機能を有する電流制限部と、
を備え、
前記電流制限部は、
前記制御トランジスタをオンさせるときの動作電圧が、前記電流が電流制限値まで上昇したときの前記制御トランジスタのゲートに生じる電流制限駆動電圧以上になった場合に、前記電流が前記電流制限値以上であり、かつ前記メイントランジスタから過電流が流れていることを検出して、前記電流制限機能を駆動し、
前記電流制限駆動電圧は、前記制御トランジスタの閾値電圧に補正電圧を加えた電圧であり、
前記負荷の起動時に発生する突入電流の最大瞬時値よりも前記電流制限値を低く設定し、前記突入電流が前記電流制限値以上になっても、前記動作電圧が前記電流制限駆動電圧未満の場合には、前記電流制限機能を非駆動とする、
ことを特徴とする半導体装置。 - 前記メイントランジスタがNMOSトランジスタであり、前記メイントランジスタのドレインが前記電源に接続し、ソースが前記負荷に接続する場合、
前記電流制限駆動電圧は、
前記負荷の起動時に突入電流が発生した場合に前記メイントランジスタに生じる第1ドレインソース間電圧よりも高く設定され、
前記負荷が短絡した場合に前記メイントランジスタに生じる第2ドレインソース間電圧よりも低く設定される、
ことを特徴とする請求項1記載の半導体装置。 - 前記電流制限部は、電流検出用のセンストランジスタ、前記制御トランジスタ、抵抗およびダイオードを含み、前記センストランジスタと前記制御トランジスタとが、NMOSトランジスタの場合に、
前記センストランジスタのゲートは、前記メイントランジスタのゲートおよび前記制御トランジスタのドレインに接続し、前記センストランジスタのドレインは、前記電源に接続し、前記センストランジスタのソースは、前記制御トランジスタのゲートおよび前記抵抗の一端に接続し、前記制御トランジスタのソースは前記抵抗の他端と、前記ダイオードのアノードと接続し、前記ダイオードのカソードは、前記メイントランジスタのソースと、前記負荷の一端に接続する、ことを特徴とする請求項2記載の半導体装置。 - 前記電流制限部は、単一または2つ以上直列接続した前記ダイオードの順方向電圧を前記補正電圧として加えて、前記電流制限駆動電圧とすることを特徴とする請求項3記載の半導体装置。
- 前記過電流が検出された場合に、前記メイントランジスタのゲート電圧を、あらかじめ設定した電圧でクランプし、クランプした設定電圧にもとづいて、前記過電流よりも低い定電流を前記メイントランジスタから出力させる定電流制御部をさらに備えることを特徴とする請求項1記載の半導体装置。
- 前記定電流制御部は、前記メイントランジスタに流れる前記電流が前記電流制限値以上であり、かつ自己の動作電圧が、前記電流制限駆動電圧よりも高く設定された定常電流生成電圧以上になった場合に前記定電流を前記メイントランジスタから出力させることを特徴とする請求項5記載の半導体装置。
- 電源から負荷への電力供給を行うメイントランジスタに流れる電流の制限を行う電流制限方法において、
前記メイントランジスタのゲート電圧を制御する制御トランジスタを含み、前記メイントランジスタに流れる電流を制限する電流制限機能であって、
前記制御トランジスタをオンさせるときの動作電圧が、前記電流が電流制限値まで上昇したときの前記制御トランジスタのゲートに生じる電流制限駆動電圧以上になった場合に、前記電流が前記電流制限値以上であり、かつ前記メイントランジスタから過電流が流れていることを検出して、前記電流制限機能を駆動し、
前記電流制限駆動電圧は、前記制御トランジスタの閾値電圧に補正電圧を加えた電圧であり、
前記負荷の起動時に発生する突入電流の最大瞬時値よりも前記電流制限値を低く設定し、前記突入電流が前記電流制限値以上になっても、前記動作電圧が前記電流制限駆動電圧未満の場合には、前記電流制限機能を非駆動とする、
ことを特徴とする電流制限方法。 - 電源から負荷への電力供給を行うメイントランジスタと、
前記メイントランジスタのゲート電圧を制御する制御トランジスタを含み、前記メイントランジスタに流れる電流を制限する電流制限機能を有する電流制限部と、
を備え、
前記電流制限部は、
前記制御トランジスタをオンさせるときの動作電圧が、前記電流が電流制限値まで上昇したときの前記制御トランジスタのゲートに生じる電流制限駆動電圧以上になった場合に、前記電流が前記電流制限値以上であり、かつ前記メイントランジスタから過電流が流れていることを検出して、前記電流制限機能を駆動し、
前記電流制限駆動電圧は、前記制御トランジスタの閾値電圧に補正電圧を加えた電圧であり、
前記メイントランジスタがNMOSトランジスタであり、前記メイントランジスタのドレインが前記電源に接続し、ソースが前記負荷に接続する場合、
前記電流制限駆動電圧は、
前記負荷の起動時に突入電流が発生した場合に前記メイントランジスタに生じる第1ドレインソース間電圧よりも高く設定され、
前記負荷が短絡した場合に前記メイントランジスタに生じる第2ドレインソース間電圧よりも低く設定される、
ことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014254868A JP6520102B2 (ja) | 2014-12-17 | 2014-12-17 | 半導体装置および電流制限方法 |
CN201510749485.9A CN105717972B (zh) | 2014-12-17 | 2015-11-05 | 半导体器件以及电流限制方法 |
US14/934,744 US10103539B2 (en) | 2014-12-17 | 2015-11-06 | Semiconductor device and current limiting method |
EP15193747.1A EP3035531B1 (en) | 2014-12-17 | 2015-11-09 | Semiconductor device and current limiting method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014254868A JP6520102B2 (ja) | 2014-12-17 | 2014-12-17 | 半導体装置および電流制限方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016116151A JP2016116151A (ja) | 2016-06-23 |
JP6520102B2 true JP6520102B2 (ja) | 2019-05-29 |
Family
ID=54539893
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014254868A Active JP6520102B2 (ja) | 2014-12-17 | 2014-12-17 | 半導体装置および電流制限方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10103539B2 (ja) |
EP (1) | EP3035531B1 (ja) |
JP (1) | JP6520102B2 (ja) |
CN (1) | CN105717972B (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6520102B2 (ja) * | 2014-12-17 | 2019-05-29 | 富士電機株式会社 | 半導体装置および電流制限方法 |
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JP7168071B2 (ja) * | 2019-04-01 | 2022-11-09 | 富士電機株式会社 | 半導体モジュール |
CN110098648B (zh) * | 2019-04-24 | 2023-07-07 | 青岛海洋科技中心 | 用于海洋观探测浮标的能源管理系统 |
JP7199325B2 (ja) | 2019-09-02 | 2023-01-05 | 株式会社東芝 | スイッチ回路 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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-
2014
- 2014-12-17 JP JP2014254868A patent/JP6520102B2/ja active Active
-
2015
- 2015-11-05 CN CN201510749485.9A patent/CN105717972B/zh active Active
- 2015-11-06 US US14/934,744 patent/US10103539B2/en active Active
- 2015-11-09 EP EP15193747.1A patent/EP3035531B1/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3035531B1 (en) | 2022-06-29 |
US20160181792A1 (en) | 2016-06-23 |
CN105717972A (zh) | 2016-06-29 |
CN105717972B (zh) | 2019-04-30 |
JP2016116151A (ja) | 2016-06-23 |
US10103539B2 (en) | 2018-10-16 |
EP3035531A1 (en) | 2016-06-22 |
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Legal Events
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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