JP6413201B2 - シャント抵抗の実装構造及びシャント抵抗の実装構造の製造方法 - Google Patents
シャント抵抗の実装構造及びシャント抵抗の実装構造の製造方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP6413201B2 JP6413201B2 JP2016531727A JP2016531727A JP6413201B2 JP 6413201 B2 JP6413201 B2 JP 6413201B2 JP 2016531727 A JP2016531727 A JP 2016531727A JP 2016531727 A JP2016531727 A JP 2016531727A JP 6413201 B2 JP6413201 B2 JP 6413201B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- lead
- shunt resistor
- mounting structure
- conductive pattern
- joining member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 15
- 238000005304 joining Methods 0.000 claims description 168
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 83
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 63
- 238000009795 derivation Methods 0.000 claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 19
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 13
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 claims description 12
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 9
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 8
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 7
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000009751 slip forming Methods 0.000 claims description 3
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 22
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 20
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 20
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 13
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 11
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 10
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 10
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 10
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 7
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 6
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 4
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 4
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 4
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 4
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 4
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 4
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 4
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 4
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 229910017566 Cu-Mn Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910017871 Cu—Mn Inorganic materials 0.000 description 2
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 2
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 2
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 2
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 2
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 2
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 2
- 230000004043 responsiveness Effects 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000005507 spraying Methods 0.000 description 2
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 2
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 2
- 229910018651 Mn—Ni Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 239000004568 cement Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 230000001629 suppression Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C13/00—Resistors not provided for elsewhere
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C1/00—Details
- H01C1/14—Terminals or tapping points or electrodes specially adapted for resistors; Arrangements of terminals or tapping points or electrodes on resistors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/20—Modifications of basic electric elements for use in electric measuring instruments; Structural combinations of such elements with such instruments
- G01R1/203—Resistors used for electric measuring, e.g. decade resistors standards, resistors for comparators, series resistors, shunts
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R15/00—Details of measuring arrangements of the types provided for in groups G01R17/00 - G01R29/00, G01R33/00 - G01R33/26 or G01R35/00
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01C—RESISTORS
- H01C1/00—Details
- H01C1/01—Mounting; Supporting
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K1/00—Printed circuits
- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K2201/00—Indexing scheme relating to printed circuits covered by H05K1/00
- H05K2201/10—Details of components or other objects attached to or integrated in a printed circuit board
- H05K2201/10007—Types of components
- H05K2201/10022—Non-printed resistor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Details Of Resistors (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
- Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
- Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
- Measuring Instrument Details And Bridges, And Automatic Balancing Devices (AREA)
Description
シャント抵抗の構造としては、例えば、図14に示すように、Cu−Mn合金からなる導電板を、打ち抜き、曲げ加工をして、架橋部732、第1接続部734及び第2接続部736からなるブリッジ形としたシャント抵抗730が知られている(例えば、特許文献1参照。)。
したがって、従来のシャント抵抗の実装構造900によれば、第1導電パターン910は、+x方向に導出した第1導出部913と、導出した第1導出部913の先端部から架橋部932の領域の外に引き出された第1引出部915と、を有し、第2導電パターン920は、−x方向に導出し第1導出部913とは離間された第2導出部923と、導出した前記第2導出部923の先端部から架橋部932の領域の外に引き出された第2引出部925と、を有するため、抵抗値の検出に最も適したシャント抵抗の内側(架橋部の真下の領域)から外側に導電パターンを引き出すことができ、より精度の高いシャント抵抗の抵抗値の検出をすることができる。加えて、従来のシャント抵抗の実装構造900によれば、はんだ等の接合部材940のフィレットが広がることによりシャント抵抗930と導電パターン910,920とを強固に結合し固定することができる。
なお、図面に示すシャント抵抗、プリント回路基板、シャント抵抗の実装構造等は全て模式図であり、寸法や角度の表示は必ずしも現実に即したものとはなっていない。
1.シャント抵抗の実装構造100
実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100は、図1に示すように、基板107の少なくとも一方の面に第1導電パターン110及び第2導電パターン120が互いに離間されて形成されたプリント回路基板105と、該プリント回路基板105の一方の面に導電性材料からなる接合部材140を介して実装されたシャント抵抗130とを備えている。
シャント抵抗130としては、例えば、導電板を、打ち抜き、曲げ加工されたものを用いることができる。導電板は、Cu−Mn合金、Cu−Mn−Ni合金等、抵抗体として機能するものであればいかなるものであってもよい。
プリント回路基板105としては、例えば、DCB基板を用いることができる。DCB基板である場合、基板107はセラミック基板からなり、第1導電パターン110及び第2導電パターン120は銅からなっている。実施形態1では基板107の一方の面(上面)にのみ導電パターンが形成されているが、他方の面(下面)に導電パターンが形成されていてもよい。
また、第1導電パターン110及び第2導電パターン120は、導電性の材料であればいかなる材料のものであってもよい。
第1導出部113は、図1(a)で示すように、y軸方向の幅が、第1接続部134の幅に対応した第1の幅W1となっている部分を有し、更にそこから+x方向に進んで、第1の幅よりも狭い第2の幅W2となっている部分を有している。
さらに、第2導電パターン120は、第2ランドより−x方向に導出し第1導出部113とは離間された第2導出部123と、導出した第2導出部123の先端部から架橋部132の領域の外に引き出された第2引出部125と、を有している。
第2導出部123は、図1(a)で示すように、y軸方向の幅が、第2接続部136の幅に対応した第1の幅W1となっている部分を有し、更にそこから−x方向に進んで、第1の幅よりも狭い第2の幅W2となっている部分を有している。
ここで「ノード」とは、引出部の一部をなし、シャント抵抗の抵抗値を検出するための仮想的又は実際的なポイントである。例えば、図1においては第1引出部115及び第2引出部125のそれぞれの先端部に、それぞれノードN1及びノードN2を有している。
よって、実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100によれば、第1導出部113、第1引出部115、第2導出部123及び第2引出部125を有することから、抵抗値の検出に最も適したシャント抵抗130の内側(架橋部132の真下の領域)から外側に導電パターンを引き出すことができ、より精度の高いシャント抵抗の抵抗値の検出をすることができる。
接合部材流出防止用レジスト150は、熱硬化性エポキシ樹脂等からなるソルダーレジストを用いる。接合部材流出防止用レジスト150としては、プリント回路基板105の少なくとも導電パターンの表面に配置することができ、はんだ等の接合部材140との親和性が低く接合部材140が付着しづらい材料であれば、いかなる材料であってもよい。例えば、熱硬化性エポキシ樹脂等からなるソルダーレジストの他、めっき法によって形成されたレジスト等を用いることもできる。
接合部材流出防止用レジスト150のパターンとしては、図1に示すように、xy平面の平面視において、y軸方向に長く帯状に形成されたパターンとなっていることが好ましい(図1(a)参照。)。
ここで「フィレット140a」とは、はんだ等の接合部材140が溶融して導電パターンに濡れ広がり、裾広がりの形状となった部分をいうものとする(図1の符号140a、図16の符号940a等を参照。)。
次に、実施形態1に係るシャント抵抗の実装方法について説明する。
実施形態1に係るシャント抵抗の実装方法は、図2に示すように、実装前段取り工程S10、接合部材塗布工程S20、シャント抵抗アライメント工程S30及び接合工程S40を含む。
(ii)接合部材流出防止用レジスト塗布ステップは、プリント回路基板105の第1導出部113の表面の一部、及び、第2導出部123の表面の一部に接合部材流出防止用レジスト150を塗布するステップである(図3(b)参照。)。
ここで「塗布」とは、レジスト材料をプリント回路基板105に付着又は定着させること全般をいう。接合部材流出防止用レジスト150は、例えば、スキージ印刷法によって塗布してもよいし、微細ヘッドによってレジスト材料を吹き付けることによって塗布してもよい。めっき法によってレジスト材料をプリント回路基板105に形成してもよい。
(iii)シャント抵抗準備ステップは、上記したシャント抵抗130を準備するステップである(図3(c)参照。)。
ここでの「塗布」も(1)(ii)と同様に、接合部材140を第1導出部113及び第2導出部123に付着又は定着させること全般をいう。(1)(ii)と同様にスキージ印刷、吹き付け、塗布箇所に対し個別に塗る等、目的を達成できる方法であればいかなる方法であってもよい。
少なくともシャント抵抗130の第1接続部134及び第2接続部136、並びにプリント回路基板105の第1ランド、第2ランド、第1導出部113及び第2導出部123を加熱して接合部材140を溶融し、xz平面で切ったときの断面視において、接合部材140のフィレット140aの流動を、接合部材流出防止用レジスト150が設けられた位置に対応した位置で終端させて接合部材140による接合を行う工程である(図5(f)参照。)。
(1)実施形態1のシャント抵抗の実装構造100によれば、接合部材140のフィレット140aが第1導出部113及び第2導出部123にそれぞれ広がっているため、従来のシャント抵抗の実装構造と同様に、シャント抵抗130と導電パターン110,120とを強固に結合し固定することができる。
(2)また、実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100によれば、第1導出部113及び第2導出部123において、表面の一部に接合部材流出防止用レジスト150がそれぞれ配置され、接合部材140のフィレット140aは、接合部材流出防止用レジスト150が設けられた位置に対応した位置でそれぞれ終端しているため、第1導出部113における接合部材140のフィレット140aの広がり度合いが所定範囲内に制御されて、フィレット140aと第1導出部113との接触面積のばらつきを小さくすることができる。併せて、接合部材140の架橋部132の下側への這い上がりの度合いも制御されて、フィレット140aと架橋部132の下側との接触面積のばらつきも小さくすることができる。第2導出部123においても同様にかかる接触面積のばらつきを小さくすることができる。
その結果、例えば同じ仕様のシャント抵抗の実装構造を量産する場合においても、ノードN1、第1引出部、第1導出部、導電部材、シャント抵抗の第1接続部、架橋部、第2接続部、導電部材、第2導出部、第2引出部及びノードN2に至る経路を通じて検出されるシャント抵抗の抵抗値のばらつきを抑えることができる。
よって、実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100によれば、接合部材のフィレットの広がりによりシャント抵抗と導電パターンとを強固に結合し固定すること、並びに、導出部への接合部材によるフィレットの広がり度合いを制御し、接合部材によるフィレットの面積のばらつきを抑え、第1引出部及び第2引出部の間で検出される抵抗値のばらつきを抑えることを両立することが可能となる。
実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100によれば、表面の一部に接合部材流出防止用レジスト150が配置され、接合部材140のフィレット140aは、接合部材流出防止用レジスト150が設けられた位置に対応した位置で終端しているように構成されているため、プリント回路基板105、接合部材140(フィレット140aを含む)及びシャント抵抗130で囲まれる空間の断面積は十分に確保され、かつ、そのばらつきも少ない。したがって、トランスファー・モールドによる樹脂封止をする際にも、樹脂がかかる空間に流入し易くなり、従来のシャント抵抗の実装構造900のような隙間の発生を抑えることができる。
実施形態2に係るシャント抵抗の実装構造200は、基本的には実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100と同様の構成を有するが、フィレット240aを終端させるための構成が実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100とは異なる。すなわち、実施形態2に係るシャント抵抗の実装構造200は、図4(a)及び図4(b)で示すように、xz平面で切ったときの断面視において、第1導出部213及び第2導出部223のうち少なくともいずれかにおいて、z軸の方向における厚さが第1の厚さから第1の厚さより小さい第2の厚さとなる部位213b,223b(図4において点線の円で示す部位)を有し、接合部材240のフィレット240aは、第1導出部213又は/及び第2導出部223が第2の厚さとなる部位の位置に対応した位置で終端している構成となっている。
なお、第1導出部213又は/及び第2導出部223の第2の厚さとなる部位は、第1の厚さから第2の厚さとなる段差が構成されていればよく、例えば、図4で示すように溝状となっていてもよいし、段差の先における導出部及び引出部の厚さは第2の厚さのまま構成してもよい。
実施形態3に係るシャント抵抗の実装構造300は、基本的には実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100と同様の構成を有するが、フィレット340aを終端させるための構成が実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100とは異なる。すなわち、実施形態3に係るシャント抵抗の実装構造300は、図5(a)及び図5(b)で示すように、xy平面の平面視において、第1導出部313及び第2導出部323において、y軸の方向における幅が第1の幅W1から第1の幅より狭い第2の幅W2となる部位313a,323a(図5において点線の円で示す部位)を有し、接合部材340のフィレット340aは、xz平面で切ったときの断面視において第1導出部313又は/及び第2導出部323が第2の幅となる部位の位置に対応した位置で終端している構成となっている。
なお、第1導出部313又は/及び第2導出部323の第2の幅W2となる部位は、図5で示すようにボトルネック状に形成されたものでもよい。また、第2の幅W2が溶融した接合部材340自身の表面張力で濡れ広がらない程度の幅であれば、図1(a)で示した第1導出部113及び第2導出部123の如く、ボトルネック状ではなくストレート状として形成されたものであってもよい。
実施形態4に係るシャント抵抗の実装構造400は、基本的には実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100と同様の構成を有するが、第1導出部413及び第2導出部423以外の部位においても接合部材440の流出を制御できる構成を有する点が実施形態1に係るシャント抵抗の実装構造100とは異なる。すなわち、実施形態4に係るシャント抵抗の実装構造400は、図6(a)及び図6(b)で示すように、xy平面の平面視において、第1導電パターン410又は第2導電パターン420のうちシャント抵抗430が占める領域の外側において、接合部材流出防止用レジスト450Aが更に設けられている構成となっている。
なお、実施形態4に係るシャント抵抗の実装構造400として、図6において、実施形態1における帯状の接合部材流出防止用レジスト150(図1参照。)に対して適用した例を図示したが、この構造の他に実施形態2における段差の構造(図4参照。)、実施形態3におけるくびれの構造(図5参照。)等に対しても、外側に接合部材流出防止用レジスト450Aを更に設けることが可能である。
実施形態5に係るシャント抵抗の実装構造500は、基本的には実施形態4に係るシャント抵抗の実装構造400と同様の構成を有するが、接合部材流出防止用レジストが接続部(第1接続部534,第2接続部536)を連続的に取り囲んだ構成となっている点が実施形態4に係るシャント抵抗の実装構造400とは異なる。すなわち、実施形態5に係るシャント抵抗の実装構造500は、図7(a)及び図7(b)で示すように、xy平面の平面視において、第1導電パターン510又は/及び第2導電パターン520のうちシャント抵抗530が占める領域の外側において、接合部材流出防止用レジスト550Aが更に設けられており、シャント抵抗530が占める領域の内側に配置された接合部材流出防止用レジスト550と、シャント抵抗530が占める領域の外側に配置された接合部材流出防止用レジスト550Aと、が連続して形成されている構成となっている。
なお、実施形態5に係るシャント抵抗の実装構造500は、図7に示すように、シャント抵抗530が占める領域の内側に配置された接合部材流出防止用レジスト550と、シャント抵抗530が占める領域の外側に配置された接合部材流出防止用レジスト550Aとが、どの部位も途切れることなく閉じるように連続しており、接続部(第1接続部534又は第2接続部536)を完全に取り囲むように構成している。しかし、これに限られず、接合部材540の流出又は濡れ広がりが制御できるのであれば、一部において途切れており、完全に取り囲んでいない構成としてもよい。
実験による評価の結果、本発明に係るシャント抵抗の実装構造によれば、従来のシャント抵抗の実装構造による場合よりも、検出される抵抗値のばらつきを抑えることがきることが判明したので、以下説明する。
実施形態4に係るシャント抵抗の実装構造400と同等の構成を有するもの(図6参照。)を準備して試料1(実施例)とし、従来のシャント抵抗の実装構造900と同等の構成を有するもの(図16参照。)を準備して試料2(比較例)とした。
(1)試料1(実施例)を複数個製造し、母集団Aとした。同様に試料2(比較例)を複数個製造し、母集団Bとした。なお、シャント抵抗(抵抗体)は総て同じ抵抗値のものを用いて製造をした。
(2)母集団Aに属するそれぞれの試料1(実施例)について、同一の測定器を用いて、同一の測定方法により、第1引出部及び第2引出部の間で検出される抵抗値を取得した。母集団Bに属するそれぞれの試料2(比較例)についても同様に測定し検出される抵抗値を取得した。なお、測定器、測定方法等は機密情報であるため、ここでは具体的には開示しない。
実験結果を、図8に示す。図8は、横軸を抵抗値とし、縦軸を発生率として、上記に従って取得した試料1(実施例)及び試料2(比較例)のそれぞれ複数の抵抗値についてグラフに累積確率分布としてプロットしたものである。
図8をみると、比較例がプロットする横軸の範囲が広い(ばらつきが大きい)のに対し、実施例がプロットする横軸の範囲は比較例のそれよりも狭い(ばらつきが小さい)ことが分る。
本実験により、本発明のシャント抵抗の実装構造は、従来のシャント抵抗の実装構造よりも、第1引出部及び第2引出部の間で検出される抵抗値のばらつきを抑えることができることが確認された。
なお、図12においてはホームベース形(変形例(2))に適用した例を示したが、くの字形(変形例(1))、楕円形又は円形(変形例(3))に適用してもよい。
Claims (13)
- 基板の少なくとも一方の面に第1導電パターン及び第2導電パターンが互いに離間されて形成されたプリント回路基板と、該プリント回路基板の一方の面に導電性材料からなる接合部材を介して実装されたシャント抵抗と、を備え、
前記シャント抵抗は、前記基板に対して離間された架橋部と、該架橋部の一端に連成され前記接合部材を介して前記第1導電パターンに対して電気的に接続される第1接続部と、前記架橋部の他端に連成され前記接合部材を介して前記第2導電パターンに対して電気的に接続される第2接続部と、を有し、
x軸を前記架橋部の前記一端から前記他端に向かう所定の方向と平行な軸とし、xy平面を前記基板の前記一方の面と平行な面とし、y軸をx軸に垂直な軸とし、z軸を前記基板の他方の面から前記一方の面に向かう方向と平行な軸としたときに、xy平面の平面視において、前記第1導電パターンは、+x方向に導出した第1導出部と、導出した前記第1導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された第1引出部と、を有し、前記第2導電パターンは、−x方向に導出し前記第1導出部とは離間された第2導出部と、導出した前記第2導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された第2引出部と、を有し、
前記第1引出部と前記第2引出部との間で前記シャント抵抗の抵抗値を検出するシャント抵抗の実装構造であって、
前記第1導出部及び前記第2導出部のうち少なくともいずれかにおいて、表面の一部に接合部材流出防止用レジストが配置され、前記接合部材のフィレットは、xz平面で切ったときの断面視において、前記接合部材流出防止用レジストが設けられた位置に対応した位置で終端していることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1に記載のシャント抵抗の実装構造において、
xy平面の平面視において、前記接合部材流出防止用レジストは、y軸方向に長く帯状に形成されたパターンとなっていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1に記載のシャント抵抗の実装構造において、
xy平面の平面視において、前記接合部材流出防止用レジストは、くの字形のパターンとなっており、該くの字の屈曲部の頂点が前記接合部材と接するように前記接合部材流出防止用レジストが配置されていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1に記載のシャント抵抗の実装構造において、
xy平面の平面視において、前記接合部材流出防止用レジストは、ホームベース形のパターンとなっており、該ホームベースの鋭角の頂点が前記接合部材と接するように前記接合部材流出防止用レジストが配置されていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1に記載のシャント抵抗の実装構造において、
xy平面の平面視において、前記接合部材流出防止用レジストは、楕円形又は円形のパターンとなっていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項3〜5いずれかに記載のシャント抵抗の実装構造において、
前記接合部材流出防止用レジストの一部が、前記シャント抵抗の前記第1接続部の下面又は第2接続部の下面とオーバーラップするようにして接していることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 基板の少なくとも一方の面に第1導電パターン及び第2導電パターンが互いに離間されて形成されたプリント回路基板と、該プリント回路基板の一方の面に導電性材料からなる接合部材を介して実装されたシャント抵抗と、を備え、
前記シャント抵抗は、前記基板に対して離間された架橋部と、該架橋部の一端に連成され前記接合部材を介して前記第1導電パターンに対して電気的に接続される第1接続部と、前記架橋部の他端に連成され前記接合部材を介して前記第2導電パターンに対して電気的に接続される第2接続部と、を有し、
x軸を前記架橋部の前記一端から前記他端に向かう所定の方向と平行な軸とし、xy平面を前記基板の前記一方の面と平行な面とし、y軸をx軸に垂直な軸とし、z軸を前記基板の他方の面から前記一方の面に向かう方向と平行な軸としたときに、xy平面の平面視において、前記第1導電パターンは、+x方向に導出した第1導出部と、導出した前記第1導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された第1引出部と、を有し、前記第2導電パターンは、−x方向に導出し前記第1導出部とは離間された第2導出部と、導出した前記第2導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された第2引出部と、を有し、
前記第1引出部と前記第2引出部との間で前記シャント抵抗の抵抗値を検出するシャント抵抗の実装構造であって、
xz平面で切ったときの断面視において、前記第1導出部及び前記第2導出部のうち少なくともいずれかにおいて、z軸の方向における厚さが第1の厚さから前記第1の厚さより小さい第2の厚さとなる部位を有し、前記接合部材のフィレットは、前記第1導出部又は/及び第2導出部が前記第2の厚さとなる部位の位置に対応した位置で終端していることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 基板の少なくとも一方の面に第1導電パターン及び第2導電パターンが互いに離間されて形成されたプリント回路基板と、該プリント回路基板の一方の面に導電性材料からなる接合部材を介して実装されたシャント抵抗と、を備え、
前記シャント抵抗は、前記基板に対して離間された架橋部と、該架橋部の一端に連成され前記接合部材を介して前記第1導電パターンに対して電気的に接続される第1接続部と、前記架橋部の他端に連成され前記接合部材を介して前記第2導電パターンに対して電気的に接続される第2接続部と、を有し、
x軸を前記架橋部の前記一端から前記他端に向かう所定の方向と平行な軸とし、xy平面を前記基板の前記一方の面と平行な面とし、y軸をx軸に垂直な軸とし、z軸を前記基板の他方の面から前記一方の面に向かう方向と平行な軸としたときに、xy平面の平面視において、前記第1導電パターンは、+x方向に導出した第1導出部と、導出した前記第1導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された第1引出部と、を有し、前記第2導電パターンは、−x方向に導出し前記第1導出部とは離間された第2導出部と、導出した前記第2導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された第2引出部と、を有し、
前記第1引出部と前記第2引出部との間で前記シャント抵抗の抵抗値を検出するシャント抵抗の実装構造であって、
xy平面の平面視において、前記第1導出部及び前記第2導出部のうち少なくともいずれかにおいて、y軸の方向における幅が第1の幅から前記第1の幅より狭い第2の幅となる部位を有し、前記接合部材のフィレットは、xz平面で切ったときの断面視において前記第1導出部又は/及び前記第2導出部が前記第2の幅となる部位の位置に対応した位置で終端していることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1〜6のいずれかに記載のシャント抵抗の実装構造において、
xy平面の平面視において、前記第1導電パターン又は/及び前記第2導電パターンのうち前記シャント抵抗が占める領域の外側において、前記接合部材流出防止用レジストが更に設けられていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1〜6のいずれかに記載のシャント抵抗の実装構造において、
xy平面の平面視において、前記第1導電パターン又は/及び前記第2導電パターンのうち前記シャント抵抗が占める領域の外側において、前記接合部材流出防止用レジストが更に設けられており、
前記シャント抵抗が占める領域の内側に配置された前記接合部材流出防止用レジストと、前記シャント抵抗が占める領域の外側に配置された前記接合部材流出防止用レジストと、が連続して形成されていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1〜10のいずれかに記載のシャント抵抗の実装構造において、
前記シャント抵抗の前記第1接続部は、前記架橋部の前記一端に連成され、前記架橋部の前記他端側から前記一端側に向かう方向(−x方向)に延びるように形成されており、前記シャント抵抗の前記第2接続部は、前記架橋部の前記他端に連成され、前記架橋部の前記一端側から前記他端側に向かう方向(+x方向)に延びるように形成されていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 請求項1〜10のいずれかに記載のシャント抵抗の実装構造において、
前記シャント抵抗の前記第1接続部は、前記架橋部の前記一端に連成され、前記架橋部の前記一端側から前記他端側に向かう方向(+x方向)に延びるように形成されており、前記シャント抵抗の前記第2接続部は、前記架橋部の前記他端に連成され、前記架橋部の前記他端側から前記一端側に向かう方向(−x方向)に延びるように形成されていることを特徴とするシャント抵抗の実装構造。 - 「基板の少なくとも一方の面に第1導電パターン及び第2導電パターンが互いに離間されて形成されたプリント回路基板と、前記基板に対して離間される架橋部、該架橋部の一端に連成された第1接続部、及び、前記架橋部の他端に連成された第2接続部を有するシャント抵抗と、を備え、前記第1接続部は導電性部材からなる接合部材を介して前記第1導電パターンに対して電気的に接続され、前記第2接続部は前記接合部材を介して前記第2導電パターンに対して電気的に接続され、前記第1導電パターンが有する第1引出部と前記第2導電パターンが有する第2引出部との間でシャント抵抗の抵抗値を検出させるシャント抵抗の実装構造」を製造するシャント抵抗の実装構造の製造方法であって、
x軸を前記架橋部の前記一端から前記他端に向かう所定の方向と平行な軸とし、xy平面を前記基板の前記一方の面と平行な面とし、y軸をx軸に垂直な軸とし、z軸を前記基板の他方の面から前記一方の面に向かう方向と平行な軸としたときに、xy平面の平面視において、前記第1導電パターンは、+x方向に導出した第1導出部と、導出した前記第1導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された前記第1引出部と、を有し、前記第2導電パターンは、−x方向に導出し前記第1導出部とは離間された第2導出部と、導出した前記第2導出部の先端部から前記架橋部の領域の外に引き出された前記第2引出部と、を有するプリント回路基板を準備するプリント回路基板準備ステップと、前記プリント回路基板の前記第1導出部及び前記第2導出部のうち少なくともいずれかにおいて、表面の一部に接合部材流出防止用レジストを塗布する接合部材流出防止用レジスト塗布ステップと、前記シャント抵抗を準備するシャント抵抗準備ステップと、を有する実装前段取り工程と、
前記プリント回路基板の前記第1導出部及び前記第2導出部の表面であって、少なくとも前記シャント抵抗の第1接続部及び第2接続部がそれぞれオーバーラップされる位置に、導電性材料からなる接合部材を塗布する接合部材塗布工程と、
xy平面の平面視において、前記プリント回路基板に対して前記シャント抵抗を相対的に移動させ、前記第1接続部が接続されるべき前記第1導電パターン上の第1ランド及び前記シャント抵抗の前記第1接続部をオーバーラップさせつつ、前記第2接続部が接続されるべき前記第2導電パターン上の第2ランド及び前記シャント抵抗の前記第2接続部をオーバーラップさせて前記シャント抵抗をアライメントするシャント抵抗アライメント工程と、
少なくとも前記シャント抵抗の前記第1接続部及び前記第2接続部、並びに前記プリント回路基板の前記第1ランド、前記第2ランド、前記第1導出部及び前記第2導出部を加熱して前記接合部材を溶融し、xz平面で切ったときの断面視において、前記接合部材のフィレットの流動を、前記接合部材流出防止用レジストが設けられた位置に対応した位置で終端させて前記接合部材による接合を行う接合工程と、を含むことを特徴とするシャント抵抗の実装構造の製造方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2015/078032 WO2017056313A1 (ja) | 2015-10-02 | 2015-10-02 | シャント抵抗の実装構造及びシャント抵抗の実装構造の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2017056313A1 JPWO2017056313A1 (ja) | 2017-10-05 |
JP6413201B2 true JP6413201B2 (ja) | 2018-10-31 |
Family
ID=58423061
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016531727A Active JP6413201B2 (ja) | 2015-10-02 | 2015-10-02 | シャント抵抗の実装構造及びシャント抵抗の実装構造の製造方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10186354B2 (ja) |
JP (1) | JP6413201B2 (ja) |
CN (1) | CN107636777B (ja) |
DE (1) | DE112015005881B4 (ja) |
GB (1) | GB2557695A (ja) |
WO (1) | WO2017056313A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6730106B2 (ja) * | 2016-06-27 | 2020-07-29 | Koa株式会社 | シャント抵抗器の実装構造および実装基板 |
US10119869B1 (en) * | 2017-12-21 | 2018-11-06 | Tactotek Oy | Method for manufacturing a strain gauge device, a strain gauge device, and the use of the device |
US10340152B1 (en) * | 2017-12-29 | 2019-07-02 | Texas Instruments Incorporated | Mechanical couplings designed to resolve process constraints |
US11735506B2 (en) | 2018-05-15 | 2023-08-22 | Texas Instruments Incorporated | Packages with multiple exposed pads |
JP6504585B1 (ja) | 2018-06-04 | 2019-04-24 | 三菱電機株式会社 | 半導体モジュール |
US11596059B2 (en) | 2019-01-18 | 2023-02-28 | Samsung Sdi Co., Ltd. | Circuit carrier for a battery system and battery system |
JP7446798B2 (ja) * | 2019-12-05 | 2024-03-11 | Koa株式会社 | シャント抵抗モジュール |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4029049B2 (ja) * | 2003-01-10 | 2008-01-09 | 三菱電機株式会社 | 電流検出用抵抗器 |
JP2005164469A (ja) * | 2003-12-04 | 2005-06-23 | Koa Corp | 電流検出用抵抗装置およびその製造方法 |
JP2008275418A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Omron Corp | 配線基板、電流検出装置 |
JP5970695B2 (ja) * | 2012-03-26 | 2016-08-17 | Koa株式会社 | 電流検出用抵抗器およびその実装構造 |
JP5545334B2 (ja) * | 2012-09-13 | 2014-07-09 | ダイキン工業株式会社 | 電子回路装置 |
JP6131018B2 (ja) * | 2012-10-08 | 2017-05-17 | 株式会社デンソー | シャント抵抗器およびその実装方法 |
EP3223307A4 (en) * | 2014-11-20 | 2018-08-29 | NSK Ltd. | Heat dissipation substrate for mounting electric component |
-
2015
- 2015-10-02 JP JP2016531727A patent/JP6413201B2/ja active Active
- 2015-10-02 WO PCT/JP2015/078032 patent/WO2017056313A1/ja active Application Filing
- 2015-10-02 CN CN201580080795.4A patent/CN107636777B/zh active Active
- 2015-10-02 GB GB1708291.8A patent/GB2557695A/en not_active Withdrawn
- 2015-10-02 DE DE112015005881.8T patent/DE112015005881B4/de active Active
-
2017
- 2017-09-14 US US15/705,243 patent/US10186354B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2017056313A1 (ja) | 2017-10-05 |
GB201708291D0 (en) | 2017-07-05 |
US20180005733A1 (en) | 2018-01-04 |
DE112015005881B4 (de) | 2024-09-12 |
CN107636777B (zh) | 2019-09-13 |
WO2017056313A1 (ja) | 2017-04-06 |
CN107636777A (zh) | 2018-01-26 |
US10186354B2 (en) | 2019-01-22 |
GB2557695A (en) | 2018-06-27 |
DE112015005881T5 (de) | 2017-10-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6413201B2 (ja) | シャント抵抗の実装構造及びシャント抵抗の実装構造の製造方法 | |
JP5183642B2 (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
WO2006132130A1 (ja) | 半導体装置、基板および半導体装置の製造方法 | |
TWI400013B (zh) | 具可撓性引線之表面安裝晶片電阻及其製法 | |
JP5733401B2 (ja) | 半導体装置および半導体装置の製造方法 | |
JP2017224736A (ja) | 半導体装置、製造方法、及び導電性ポスト | |
JP5353153B2 (ja) | 実装構造体 | |
JP2002124548A (ja) | テープキャリア及びそれを用いた半導体装置 | |
JP6523482B2 (ja) | 電力用半導体装置 | |
WO2019012849A1 (ja) | 電子回路基板 | |
JP2018157023A (ja) | 半導体装置およびその製造方法 | |
JP2003152131A (ja) | 中空封着パッケージおよびその製造方法 | |
US20190112185A1 (en) | Reducing vibration of a mems installation on a printed circuit board | |
JP2005123463A (ja) | 半導体装置及びその製造方法、半導体装置モジュール、回路基板並びに電子機器 | |
JP2020009939A (ja) | 回路基板装置 | |
JP2013038359A (ja) | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 | |
JP6570728B2 (ja) | 電子装置およびその製造方法 | |
JP2016181575A (ja) | 放熱基板及び半導体装置 | |
JP4833421B2 (ja) | 発光素子および実装基板 | |
WO2022208603A1 (ja) | 半導体装置 | |
JP2008277594A (ja) | 半導体装置、およびその製造方法、並びにその製造方法に用いるリードフレーム | |
TWM632649U (zh) | 過電流保護元件 | |
KR100818095B1 (ko) | 플립 칩 패키지 및 그의 형성방법 | |
JP2010135518A (ja) | 端子接合構造体、シャント抵抗器の実装構造体および車載用電子機器 | |
WO2017122674A1 (ja) | 実装基板、および、実装基板の製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20180116 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20180207 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20180207 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
RD13 | Notification of appointment of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7433 Effective date: 20180719 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20180719 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20180828 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20180914 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6413201 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |