JP5284445B2 - Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame - Google Patents
Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame Download PDFInfo
- Publication number
- JP5284445B2 JP5284445B2 JP2011248866A JP2011248866A JP5284445B2 JP 5284445 B2 JP5284445 B2 JP 5284445B2 JP 2011248866 A JP2011248866 A JP 2011248866A JP 2011248866 A JP2011248866 A JP 2011248866A JP 5284445 B2 JP5284445 B2 JP 5284445B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pellicle
- pellicle frame
- frame
- film
- long side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 64
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 35
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims description 9
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 6
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical group [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 5
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 238000003892 spreading Methods 0.000 claims description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 113
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 44
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 40
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 20
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 18
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 16
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 15
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 12
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 12
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 9
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 9
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000002585 base Substances 0.000 description 8
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 229910000838 Al alloy Inorganic materials 0.000 description 7
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 7
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 7
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 description 6
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 description 5
- 239000004831 Hot glue Substances 0.000 description 4
- 229910001315 Tool steel Inorganic materials 0.000 description 4
- 229920002678 cellulose Chemical class 0.000 description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 4
- 229920002313 fluoropolymer Polymers 0.000 description 4
- 239000006260 foam Substances 0.000 description 4
- 229920006357 Algoflon Polymers 0.000 description 3
- 229920008347 Cellulose acetate propionate Polymers 0.000 description 3
- 229910000861 Mg alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 3
- 239000004809 Teflon Substances 0.000 description 3
- 229920006362 Teflon® Polymers 0.000 description 3
- 229920006217 cellulose acetate butyrate Polymers 0.000 description 3
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 3
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 3
- 238000004043 dyeing Methods 0.000 description 3
- -1 etc. Substances 0.000 description 3
- 239000004811 fluoropolymer Substances 0.000 description 3
- 238000000206 photolithography Methods 0.000 description 3
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 3
- 239000005361 soda-lime glass Substances 0.000 description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000020 Nitrocellulose Substances 0.000 description 2
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N Sulfuric acid Chemical compound OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N Vinyl acetate Chemical compound CC(=O)OC=C XTXRWKRVRITETP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000001913 cellulose Chemical class 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 2
- 238000004040 coloring Methods 0.000 description 2
- 229910052593 corundum Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 2
- 150000002148 esters Chemical class 0.000 description 2
- LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N ethyl 2-hydroxypropanoate Chemical compound CCOC(=O)C(C)O LZCLXQDLBQLTDK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000012943 hotmelt Substances 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 2
- 229920001220 nitrocellulos Polymers 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000008961 swelling Effects 0.000 description 2
- 238000004506 ultrasonic cleaning Methods 0.000 description 2
- 229910001845 yogo sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- RLLPVAHGXHCWKJ-IEBWSBKVSA-N (3-phenoxyphenyl)methyl (1s,3s)-3-(2,2-dichloroethenyl)-2,2-dimethylcyclopropane-1-carboxylate Chemical compound CC1(C)[C@H](C=C(Cl)Cl)[C@@H]1C(=O)OCC1=CC=CC(OC=2C=CC=CC=2)=C1 RLLPVAHGXHCWKJ-IEBWSBKVSA-N 0.000 description 1
- 229910000975 Carbon steel Inorganic materials 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000676 Si alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001297 Zn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 1
- OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L barium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ba+2] OYLGJCQECKOTOL-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001632 barium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009835 boiling Methods 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001634 calcium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010962 carbon steel Substances 0.000 description 1
- 238000005266 casting Methods 0.000 description 1
- 229920002301 cellulose acetate Polymers 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 239000003792 electrolyte Substances 0.000 description 1
- 238000000635 electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 229940116333 ethyl lactate Drugs 0.000 description 1
- 238000007667 floating Methods 0.000 description 1
- 239000005350 fused silica glass Substances 0.000 description 1
- 238000007429 general method Methods 0.000 description 1
- 239000004519 grease Substances 0.000 description 1
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 1
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 1
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 229910001105 martensitic stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N mercury Chemical compound [Hg] QSHDDOUJBYECFT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052753 mercury Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002905 metal composite material Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 1
- 238000012858 packaging process Methods 0.000 description 1
- 238000000016 photochemical curing Methods 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 description 1
- 229920006254 polymer film Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 1
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 239000010935 stainless steel Substances 0.000 description 1
- 229910001220 stainless steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
- 238000010345 tape casting Methods 0.000 description 1
- 229920001897 terpolymer Polymers 0.000 description 1
- 238000001029 thermal curing Methods 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F1/00—Originals for photomechanical production of textured or patterned surfaces, e.g., masks, photo-masks, reticles; Mask blanks or pellicles therefor; Containers specially adapted therefor; Preparation thereof
- G03F1/62—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof
- G03F1/64—Pellicles, e.g. pellicle assemblies, e.g. having membrane on support frame; Preparation thereof characterised by the frames, e.g. structure or material, including bonding means therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
Description
本発明は、LSI、液晶ディスプレイ(LCD)を構成する薄膜トランジスタ(TFT)やカラーフィルター(CF)等を製造する際のリソグラフィー工程で使用されるフォトマスクやレティクルに異物が付着することを防止するために用いられるペリクルの構成部材である枠体であって、特に長辺長さが1400mmを超える超大型ペリクルの構成部材であるペリクル枠体と、ペリクル枠体を用いたペリクル及びペリクル枠体の使用方法に関する。 The present invention prevents foreign matter from adhering to a photomask or a reticle used in a lithography process when manufacturing a thin film transistor (TFT), a color filter (CF), or the like constituting an LSI or a liquid crystal display (LCD). Frame, which is a constituent member of a pellicle used in a pellicle, in particular, a pellicle frame that is a constituent member of a super-large pellicle having a long side length exceeding 1400 mm, a pellicle using the pellicle frame, and use of the pellicle frame Regarding the method.
本発明はペリクルの構成部材である枠体およびペリクルに関する技術であるが、先ず、ペリクルについて説明する。
従来、半導体回路パターン等の製造に於いては、一般にペリクルと呼ばれる防塵手段を用いて、フォトマスクやレティクルへの異物の付着を防止することが行われている。ペリクルは、例えばフォトマスク或いはレティクルの形状に合わせた形状を有する厚さ数ミリ程度の枠体の上面に、厚さ10μm以下のニトロセルロース或いはセルロース誘導体或いはフッ素ポリマーなどの透明な高分子膜(以下、ペリクル膜という)を展張して接着し、かつ該枠体の下面に粘着材を塗着すると共に、この粘着材上に所定の接着力で保護フィルムを粘着させたものである。
The present invention relates to a frame and a pellicle that are constituent members of the pellicle. First, the pellicle will be described.
2. Description of the Related Art Conventionally, in the manufacture of semiconductor circuit patterns and the like, it has been practiced to prevent foreign matter from adhering to a photomask or a reticle using a dustproof means generally called a pellicle. The pellicle is a transparent polymer film (hereinafter referred to as nitrocellulose, cellulose derivative, or fluoropolymer) having a thickness of 10 μm or less on the upper surface of a frame having a shape matching the shape of a photomask or reticle, for example. The pellicle film is spread and adhered, and an adhesive material is applied to the lower surface of the frame body, and a protective film is adhered to the adhesive material with a predetermined adhesive force.
前記粘着材は、ペリクルをフォトマスク或いはレティクルに固着するためのものであり、また、保護フィルムは該粘着材がその用に供するまで該粘着材の接着力を維持するために、該粘着材の接着面を保護するものである。
このようなペリクルは、一般的には、ペリクルを製造するメーカーから、フォトマスク或いはレティクルを製造するメーカーに供給され、そこで、ペリクルをフォトマスク或いはレティクルに貼付の後、半導体メーカー、パネルメーカー、等のリソグラフィーを行うメーカーに供給される。
近年では各種のマルチメディアの普及により高画質、高精細表示が可能な大型のカラーTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)が求められている。それに伴い、フォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る大型のペリクルが要望されている。
The pressure-sensitive adhesive is for fixing the pellicle to a photomask or reticle, and the protective film is used to maintain the adhesive strength of the pressure-sensitive adhesive until the pressure-sensitive adhesive is used for that purpose. It protects the adhesive surface.
Such a pellicle is generally supplied from the manufacturer that manufactures the pellicle to the manufacturer that manufactures the photomask or reticle, where the pellicle is attached to the photomask or reticle, and then the semiconductor manufacturer, the panel manufacturer, etc. Supplied to manufacturers who perform lithography.
In recent years, a large color TFT LCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display) capable of high-quality and high-definition display has been demanded due to the widespread use of various multimedia. Accordingly, there is a demand for a large pellicle applicable to a large photomask and reticle used in the photolithography process.
大型のTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)等のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来るペリクルの枠体としては、長辺と短辺を有する矩形状のものが一般である。この枠体にペリクル膜を貼り付けると、該ペリクル膜の張力により枠体の辺が内側に向かって歪みが生じ、この歪みによってフォトマスクやレティクルの有効露光領域が小さくなってしまう場合があり、ペリクル膜の展張面積が大きくなる(ペクリル膜が大きくなる)につれてその現象は顕著になる。このような現象に対してはペリクルの枠体の内側の面積(以下、有効面積と称する)を極力維持した状態で、ペリクル枠体の剛性を高めることで解決してきた(例えば、特許文献1参照)。 As a pellicle frame applicable to a large photomask or reticle used in a photolithography process such as a large TFTLCD (Thin Film Transistor Liquid Crystal Display), a rectangular shape having a long side and a short side is generally used. When a pellicle film is attached to this frame, the side of the frame is distorted inward due to the tension of the pellicle film, and the effective exposure area of the photomask or reticle may be reduced due to this distortion. The phenomenon becomes more prominent as the stretched area of the pellicle film increases (the pecryl film increases). Such a phenomenon has been solved by increasing the rigidity of the pellicle frame while maintaining the area inside the pellicle frame (hereinafter referred to as an effective area) as much as possible (see, for example, Patent Document 1). ).
しかしながら、近年の更なる大型化に伴って新たなる問題が生じている。
それは、近年の更なる大型化はフォトマスクやレティクル(以下、単にマスクと称する)自体にも大型化が要求されていることとなり、これまでのマスクの大型化では問題となっていなかったマスク自体の更なる大型化によるマスク自身の自重による撓みの問題である。
即ち、ペリクルはマスクに密着した状態で使用されるため、マスクの撓みにペリクルが追従できない場合には、マスクとペリクルとの貼り付け面が剥離してその間にエアパスが生じてしまい、ペリクルの使用による効果が得られないことが問題となっている。特に、マスク等に粘着後のペリクルは、作業工程上、マスクの短辺側を把持してペリクルごとハンドリングする場合が多いため、長辺側のマスク等の撓みにペリクルの枠体が追従することが求められている。
However, new problems have arisen with the further increase in size in recent years.
This is because further enlargement in recent years requires that photomasks and reticles (hereinafter simply referred to as “masks”) themselves be increased in size, and the mask itself has not been a problem with the upscaling of masks so far. This is a problem of bending due to the weight of the mask itself due to further increase in size.
In other words, since the pellicle is used in close contact with the mask, if the pellicle cannot follow the bending of the mask, the attachment surface of the mask and the pellicle peels off and an air path is generated between them. It is a problem that the effect by cannot be obtained. In particular, since the pellicle after sticking to a mask or the like is often handled with the pellicle by gripping the short side of the mask in the work process, the frame of the pellicle should follow the bending of the mask or the like on the long side. Is required.
以上のように、これまでのペリクルの大型化においては、ペリクル自身が撓まないようにとの課題に対してペリクルの剛性を向上することを解決策としてきたが、更なるペリクルの大型化(超大型化)は、ペリクルの剛性向上だけでなく、そのペリクルを貼り付けるマスク自体の大型化によるマスク自身の撓み、特に作業工程上長辺側の撓みに追従することが要求されているものである。換言すれば、超大型化のペリクルには剛性と柔軟性の双方の特性が要求されているといえる。
このようにマスクの超大型化は、それに用いる超大型ペリクルに対して新たなる課題を生じさせているのである。
本発明は、ペリクルの超大型化によって生じた新たなる課題を解決せんとするものであって、第1の発明は、ペリクル枠体が、ペリクル膜を展張して接着する時に枠体が歪むことなく、さらに、ペリクルをマスクに貼着後もマスク自身の自重による撓みに対してペリクル枠体自身が追従することを解決課題とするものである。
更に、超大型ペリクルには、ペリクル枠体にペリクル膜を展張して接着した後、マスクに貼着けるまでのハンドリングの際にも枠体が歪むことがないという特性も同時に求められる。第2の発明は、ペリクル枠体が、ペリクル膜を展張して接着する時に枠体が歪むことなく、且つ、ペリクル枠体にペリクル膜を展張して接着した後、マスクに貼着けるまでのハンドリングの際にも枠体が歪むことなく、さらに、ペリクルをマスクに貼着後もマスク自身の自重による撓みに対してペリクル枠体自身が追従することを解決課題とするものである。
As described above, in the conventional pellicle size increase, the solution has been to improve the rigidity of the pellicle in response to the problem of preventing the pellicle itself from flexing. (Super large size) is required not only to improve the rigidity of the pellicle, but also to follow the deflection of the mask itself due to the enlargement of the mask itself to which the pellicle is attached, especially the long side deflection in the work process. is there. In other words, it can be said that an ultra-large pellicle is required to have both rigidity and flexibility.
Thus, the increase in the size of the mask creates a new problem for the ultra-large pellicle used in the mask.
The present invention is intended to solve a new problem caused by the enlargement of the pellicle, and the first invention is that the pellicle frame is distorted when the pellicle film is stretched and bonded. Furthermore, the problem to be solved is that the pellicle frame itself follows the bending due to its own weight even after the pellicle is attached to the mask.
Furthermore, the ultra-large pellicle is also required to have a characteristic that the frame body is not distorted during handling until the pellicle film is spread and bonded to the pellicle frame body and then attached to the mask. In the second invention, the pellicle frame is not distorted when the pellicle film is stretched and bonded, and handling is performed until the pellicle frame is bonded to the mask after the pellicle film is stretched and bonded to the pellicle frame. In this case, the frame body is not distorted, and the pellicle frame body itself follows the bending due to its own weight even after the pellicle is stuck to the mask.
上記の課題を解決するために本発明者らは、鋭意検討した結果、超大型ペリクルの枠体の歪み性α、追従性βを特定することで上記課題を解決できることを見出し本発明の第1の発明を完成するに至った。
また、本発明者らは、ペリクル枠体の短辺1bの幅Wbを長辺1aの幅Waに対して特定の割合で広くすることで上記課題を解決できることを見出し参考例としての第2の発明を完成するに至った。
即ち、本発明は、以下の通りである。
(1) 矩形のペリクル枠体であって、該ペリクル枠体の歪み性αが0.06%以下、下記、一般式(1)で表される該ペリクル枠体各辺の追従性βが3mm以上、該ペリクル枠体長辺の追従性βが32mm以下であり、且つ、枠体の長辺の長さが1400mm以上、2100mm以下、そして、該ペリクル枠体の内側の面積が15000cm2以上、であるペリクル枠体。
β=(1/ペリクルの撓み量)×厚み×幅 (1)
(2) 該ペリクル枠体の短辺の長さが1200mm以上、1800mm以下である、(1)に記載のペリクル枠体。
(3) 該ペリクル枠体の短辺の幅が長辺の幅の1.05倍以上、1.50倍以下であることを特徴とする(2)に記載のペリクル枠体。
(4) 該ペリクル枠体を構成する材料がアルミニウム或いはその合金である(1)〜(3)のいずれかに記載のペリクル枠体。
(5) ペリクル枠体の表面がアルマイト処理、黒色化処理及びアルマイト処理で形成されたミクロな孔の開口部の封孔処理が施されており、実質的にマイクロクラックがない(1)〜(4)のいずれかに記載のペリクル枠体。
(6) (1)〜(5)のいずれかに記載のペリクル枠体にペリクル膜を展張して得られたペリクル。
(7) (6)に記載のペリクルのペリクル枠体の対向する一組の短辺の、各々の短辺の少なくとも一箇所ずつを把持してペリクルをマスクに貼着し、その後、該ペリクルが貼着されたマスクを露光処理に使用するペリクル枠体の使用方法。
なお、参考例として、矩形のペリクル枠体であって、該ペリクル枠体の長辺の幅Waが13.0mm以上、30.0mm以下、短辺の幅Wbが、長辺の幅Waに対してWb/Waが1.05以上、1.50以下であり、長辺の長さが、1400mm以上、2100mm以下、枠体の内側の面積が16000cm2以上であるペリクル枠体を提案できる。
In order to solve the above-mentioned problems, the present inventors have intensively studied and found that the above-mentioned problems can be solved by specifying the distortion α and followability β of the frame of the super-large pellicle. The present invention has been completed.
Further, the present inventors have found that the above problem can be solved by widening the width Wb of the short side 1b of the pellicle frame body at a specific ratio with respect to the width Wa of the long side 1a. The invention has been completed.
That is, the present invention is as follows.
(1) A rectangular pellicle frame, wherein the pellicle frame has a distortion α of 0.06% or less, and the following β of each side of the pellicle frame represented by the following general formula (1) is 3 mm. As described above, the followability β of the long side of the pellicle frame is 32 mm or less, the length of the long side of the frame is 1400 mm or more and 2100 mm or less, and the area inside the pellicle frame is 15000 cm 2 or more. A pellicle frame.
β = (1 / pellicle deflection) × thickness × width (1)
(2) The pellicle frame according to (1), wherein the length of the short side of the pellicle frame is 1200 mm or more and 1800 mm or less.
(3) The pellicle frame according to (2), wherein the width of the short side of the pellicle frame is 1.05 to 1.50 times the width of the long side.
(4) The pellicle frame according to any one of (1) to (3), wherein the material constituting the pellicle frame is aluminum or an alloy thereof.
(5) The surface of the pellicle frame is subjected to sealing treatment of the opening of micro holes formed by alumite treatment, blackening treatment and alumite treatment, and there is substantially no microcrack (1) to ( 4) A pellicle frame according to any one of the above.
(6) A pellicle obtained by spreading a pellicle film on the pellicle frame according to any one of (1) to (5).
(7) The pellicle frame of the pellicle according to (6) is attached to a mask by gripping at least one part of each of the short sides of the pair of short sides facing each other. A method of using a pellicle frame that uses an attached mask for exposure processing.
As a reference example, a rectangular pellicle frame has a long side width Wa of 13.0 mm or more and 30.0 mm or less, and a short side width Wb of the long side width Wa. Thus, a pellicle frame having Wb / Wa of 1.05 or more and 1.50 or less, a long side length of 1400 mm or more and 2100 mm or less, and an area inside the frame of 16000 cm 2 or more can be proposed.
本発明のペリクル枠体は適度な剛性と柔軟性を有するため、ペリクル膜をペリクル枠体に展張して接着する時に枠体が歪むことなく、又、ペリクルの内側の面積で表される有効露光領域を低下させることもない。さらに、ペリクルをマスクに貼着後もマスクの撓みにも追従できるので、マスクとペリクルとの接着面にエアパスが生じることもない。
更に第2の発明はペリクル枠体にペリクル膜を展張して接着した後、マスクに貼着けるまでのハンドリングの際にも枠体が歪むことがない。
尚、本発明のペリクル枠体は、超大型ペリクルの場合に効果が顕著となり、具体的には、有効面積15000cm2以上の超大型ペリクルの場合に、顕著な効果を奏する。
Since the pellicle frame body of the present invention has appropriate rigidity and flexibility, the frame body is not distorted when the pellicle film is spread and bonded to the pellicle frame body, and the effective exposure expressed by the area inside the pellicle It does not reduce the area. In addition, since the pellicle can follow the bending of the mask even after the pellicle is attached to the mask, an air path does not occur on the bonding surface between the mask and the pellicle.
Further, in the second invention, the frame body is not distorted during handling until the pellicle film is spread and bonded to the pellicle frame body and then adhered to the mask.
The pellicle frame of the present invention has a remarkable effect in the case of an ultra-large pellicle. Specifically, the pellicle frame has a remarkable effect in the case of an ultra-large pellicle having an effective area of 15000 cm 2 or more.
以下、本発明を実施するための形態について説明する。以下の実施形態は、本発明を説明するための例示であり、以下の内容に限定する趣旨ではない。
本発明のペリクル枠体の形状は、マスク形状と相似の矩形である。ペリクル枠体の長辺とは、枠体の最も長い辺のことを指し、ペリクル枠体の短辺とは、枠体の最も短い辺のことを指す。より具体的に説明すると、長方形の場合は、直交する2辺のうち長いほうが長辺、短いほうが短辺であり、正方形の場合は、4辺とも同じ長さである。正方形の場合は、任意の辺を長辺、短辺と定義してもよい。
Hereinafter, modes for carrying out the present invention will be described. The following embodiment is an example for explaining the present invention, and is not intended to be limited to the following contents.
The shape of the pellicle frame of the present invention is a rectangle similar to the mask shape. The long side of the pellicle frame refers to the longest side of the frame, and the short side of the pellicle frame refers to the shortest side of the frame. More specifically, in the case of a rectangle, the longer side of the two orthogonal sides is the longer side and the shorter side is the shorter side, and in the case of a square, all four sides have the same length. In the case of a square, any side may be defined as a long side and a short side.
歪み性αは下記一般式(2)で表される。この歪み性αは次のようにして測定する。以下、歪み性αの測定方法を図4A、図4B、図4C、図5を用いて説明する。 The distortion α is represented by the following general formula (2). This distortion α is measured as follows. Hereinafter, the measuring method of distortion property (alpha) is demonstrated using FIG. 4A, FIG. 4B, FIG. 4C, and FIG.
先ず、歪み性αを測定しようとするペリクル枠体1の一辺の長さ(初期状態の長さ)L1(図4Aに示す)を測定する。その後、図5に示すようにペリクル枠体1における歪み性αを測定しない対向する2辺の下面(上面を触らない)を台20により支持する。このとき、歪み性αを測定しない方の辺全域を下から支持し、ペリクル枠体1の端から15mmの箇所まで支持する。例えば、ペリクル枠体1の短辺を測定するときは、長辺が撓まないように、長辺全域を下から台20で支持する。ペリクル枠体1の長辺を測定するときは、短辺全域を下から台20で支持する。この状態で、10分間保持する(図4Bに示す。)その後支持を止め、平坦な台にペリクル枠体が真っ直ぐになるよう静置し、10分後に測定しようとする一辺の長さ(支持後(自重による力を加えた後)の長さ)L2(図4Cに示す)を再度測定し、支持後の長さL2の初期状態の長さL2に対する伸び率を以下の式から算出し歪み性αとする。測定時の温度は23.8℃、相対湿度は74%RHとする。
[(支持後の長さL2/初期状態の長さL1)−1]×100 (%) (2)
尚、矩形のペリクル枠体には4辺が存在するため、各辺について同様の測定をし、最も歪み性αが大きい数値をもってペリクル枠体の歪み性αとすることとする。また、辺の幅が上面と底面で異なる場合は、より辺の幅が広い方の面を下にして歪み性αを測定するものとする。ペリクル枠体の歪み性αは下限が0%以上であれば構わないが、上限は0.06%以下であり、好ましくは0.02%以下、最も好ましくは0.01%以下である。
First, the length of one side (length in the initial state) L1 (shown in FIG. 4A) of the
[(Length L2 after support / Length L1 in the initial state) -1] × 100 (%) (2)
Since there are four sides in the rectangular pellicle frame, the same measurement is performed for each side, and the distortion value α of the pellicle frame is defined as the value having the largest distortion factor α. When the width of the side is different between the upper surface and the bottom surface, the distortion α is measured with the surface having the wider side being down. The lower limit of distortion property α of the pellicle frame may be 0% or more, but the upper limit is 0.06% or less, preferably 0.02% or less, and most preferably 0.01% or less.
また、ペリクル枠体のマスクへの追従性を示す追従性βは下記一般式(1)で表され、ペリクル枠体各辺のβの下限は3mm以上であり、より好ましくは4mm以上であり、該ペリクル枠体の長辺の追従性の上限は32mm以下、好ましくは25mm以下である。ペリクル枠体の短辺の追従性は100mm以下が好ましく、より好ましくは80mm以下、特に好ましくは50mm以下である。
β=(1/ペリクルの撓み量)×厚み×幅 (1)
Further, the followability β indicating the followability to the mask of the pellicle frame is represented by the following general formula (1), and the lower limit of β on each side of the pellicle frame is 3 mm or more, more preferably 4 mm or more, The upper limit of the followability of the long side of the pellicle frame is 32 mm or less, preferably 25 mm or less. The followability of the short side of the pellicle frame is preferably 100 mm or less, more preferably 80 mm or less, and particularly preferably 50 mm or less.
β = (1 / pellicle deflection) × thickness × width (1)
追従性βの測定方法については以下のとおりである。
先ず、図5に示すようにペリクル枠体1における追従性βを測定しない対向する2辺の下面を台20により支持する。このとき、追従性βを測定しない方の辺全域を下から支持し、ペリクル枠体1の端から15mmの箇所まで支持する。例えば、ペリクル枠体1の短辺を測定するときは、長辺が撓まないように、長辺全域を下から台20で支持する。ペリクル枠体1の長辺を測定するときは、短辺全域を下から台20で支持する。この状態で、10分間保持した後、図4Bに示すように、測定しようとする辺の最も撓んだ部分の初期状態の位置からの変化量を測定して、その変化量をペリクルの撓み量ΔTとする。そして、その撓み量ΔTの逆数に、測定しようとする辺の厚みと幅を乗じて追従性βとする。この追従性βの測定は、ペリクル枠体1のすべての辺について行われる。また、辺の幅が上面と底面で異なる場合は、より辺の幅が広い方の面を下にして追従性βを測定するものとする。
追従性βの測定は、上記歪み性αの測定と同時に行われる。
この追従性βは、ペリクル枠体の撓みがマスクの撓みにどのくらい追従できるかを示す柔軟性を表す指標である。従って、数値が小さいほど追従性が高いといえるのであるが、追従性が高すぎると、ペリクル膜展張時やハンドリング時にシワが発生してしまうこととなるので、上記範囲にあることが必要とされる。
The method for measuring the follow-up β is as follows.
First, as shown in FIG. 5, the lower surfaces of the two opposite sides that do not measure the followability β in the
The measurement of the followability β is performed simultaneously with the measurement of the distortion property α.
This followability β is an index representing flexibility indicating how much the deflection of the pellicle frame can follow the deflection of the mask. Therefore, it can be said that the smaller the numerical value, the higher the followability, but if the followability is too high, wrinkles will occur when the pellicle film is extended or handled, so it is necessary to be within the above range. The
また、ペリクル枠体の厚みは、好ましくは下限が4.0mm以上であり、より好ましくは下限が5.0mm以上であり、特に好ましくは6.0mm以上である。一方上限は、好ましくは10mm以下であり、より好ましくは8mm以下、更に好ましくは7mm以下であり、特に好ましくは6.5mm以下である。
ペリクル枠体の幅は、好ましくは13mm以上が良く、より好ましくは14mm以上、さらに好ましくは16mm以上である。一方の上限は、好ましくは30mm以下、より好ましくは25mm以下、さらに好ましくは19mm以下がよい。尚、幅は長辺、短辺何れの辺の幅とも同じであってもよく、各々独立の幅であっても構わない。
なお、ペリクル枠体の辺の幅とは、例えば図2、図3に示すように幅Wa、Wbのような各辺の最大幅をいう。
ペリクル枠体各辺の断面形状としては、矩形、H型、T型等、特に限定は無いが、矩形形状が最も好ましい。断面は中空構造であっても良い。
本発明のペリクル枠体は、超大型になるほど顕著な効果を奏し、具体的には、ペリクル枠体の長辺の長さが、1400mm以上、特に1700mm以上、2100mm以下であって、ペリクル有効面積が16000cm2以上、24000cm2以上、特に25000cm2以上の場合に顕著な効果を奏する。
尚、本発明のペリクル枠体は大型であれば顕著な効果を奏するのであるが、TFTLCDの製造に用いるマスク等に要求されている大きさから、有効面積の上限は35000cm2であれば十分である。
The lower limit of the thickness of the pellicle frame is preferably 4.0 mm or more, more preferably the lower limit is 5.0 mm or more, and particularly preferably 6.0 mm or more. On the other hand, the upper limit is preferably 10 mm or less, more preferably 8 mm or less, still more preferably 7 mm or less, and particularly preferably 6.5 mm or less.
The width of the pellicle frame is preferably 13 mm or more, more preferably 14 mm or more, and further preferably 16 mm or more. One upper limit is preferably 30 mm or less, more preferably 25 mm or less, and still more preferably 19 mm or less. The width may be the same as the width of either the long side or the short side, or may be an independent width.
The width of the side of the pellicle frame refers to the maximum width of each side such as the widths Wa and Wb as shown in FIGS.
The cross-sectional shape of each side of the pellicle frame body is not particularly limited, such as a rectangular shape, an H shape, or a T shape, but the rectangular shape is most preferable. The cross section may be a hollow structure.
The pellicle frame of the present invention has a remarkable effect as it becomes very large. Specifically, the length of the long side of the pellicle frame is 1400 mm or more, particularly 1700 mm or more and 2100 mm or less. Is 16000 cm 2 or more, 24000 cm 2 or more, particularly 25000 cm 2 or more.
Although the pellicle frame of the present invention has a significant effect when it is large, it is sufficient that the upper limit of the effective area is 35000 cm 2 because of the size required for masks used in the manufacture of TFTLCDs. is there.
ところで、長辺の長さが1400mm以上の大型ペリクルでは、ハンドリング工程における自由度を向上させるために、短辺側2辺もしくは長辺側2辺どちらか一方の辺のみを把持してハンドリングすることが好ましく、特に作業効率を考慮した場合、短辺側2辺を把持する把持方法であることが好ましい。ペリクル枠体の短辺の幅Wbが、長辺の幅Waに対してWb/Waが1.05以上であると、短辺側2辺を把持する把持方法でハンドリングした際に、常に剛性の高い辺からの把持が可能となり、ハンドリング時のシワ発生を抑制することが出来る。ペリクルのハンドリングが幅広の短辺方向から可能になることは、把持する際の持ち手部分が広がり、利便さも向上する。ハンドリング性向上の観点から、ペリクル枠体短辺側に把持用の凸部、凹部を形成することが特に好ましい。また、Wb/Waが1.50以下であると、ペリクル枠体を立てた場合(長辺側を地面と垂直、短辺側を地面と平行にさせた場合)であっても、長辺側の歪みを抑えることができるため、シワ発生を抑制することが出来る。ペリクル有効面積が16000cm2以上となるような超大型ペリクルにおいては、作業効率上、ペリクルを回転させてペリクル膜表面の異物検査を行うことが好ましい。その際にペリクル枠体を立てる工程を経ることとなるが、Wb/Waが1.50以下であると、長辺側の歪みを抑えることができ、異物検査工程等においてペリクル膜のシワ発生を抑制することが出来る。 By the way, in the case of a large pellicle with a long side of 1400 mm or more, in order to improve the degree of freedom in the handling process, only one of the two sides on the short side or the two sides on the long side is gripped and handled. In particular, in consideration of work efficiency, it is preferable that the gripping method grips two sides on the short side. When the width Wb of the short side of the pellicle frame is Wb / Wa of 1.05 or more with respect to the width Wa of the long side, it is always rigid when handled by the gripping method of gripping the two short sides. Gripping from a high side is possible, and wrinkling during handling can be suppressed. The fact that the handling of the pellicle is possible from the direction of the wide short side widens the handle portion when gripping and improves convenience. From the viewpoint of improving handling properties, it is particularly preferable to form a convex or concave portion for gripping on the short side of the pellicle frame. Further, when Wb / Wa is 1.50 or less, even when the pellicle frame is erected (when the long side is perpendicular to the ground and the short side is parallel to the ground), the long side Therefore, the generation of wrinkles can be suppressed. In an ultra-large pellicle having an effective area of 16000 cm 2 or more, it is preferable to inspect foreign matter on the surface of the pellicle film by rotating the pellicle in terms of work efficiency. At that time, a process of erecting the pellicle frame is performed, but if Wb / Wa is 1.50 or less, distortion on the long side can be suppressed, and wrinkles of the pellicle film are generated in the foreign substance inspection process and the like. Can be suppressed.
ペリクル枠体1の短辺1bの幅Wbは、具体的には、長辺1aの幅Waに対する短辺1bの幅Wbの割合(Wb/Wa)は1.05以上が好ましく、より好ましくは1.1以上であり、上限は1.50以下が好ましく、より好ましくは1.25以下、特に好ましくは1.2以下である。
Specifically, the width Wb of the short side 1b of the
本発明のペリクル枠体を構成する材料は、例えば、機械構造用炭素鋼(SCシリーズ等)、工具鋼(炭素工具鋼SKシリーズ、高速度工具鋼SKHシリーズ、合金工具鋼SKSシリーズ、SKDシリーズ、SKTシリーズ等)、マルテンサイト系ステンレスシリーズ(SUS403、SUS410、SUS410S、SUS420J1、SUS420J2、SUS429J1、SUS440A、SUS304等)、アルミニウム、アルミニウム合金(5000系、6000系、7000系等)等の金属、セラミックス(SiC、AlN、Al2O3等)、セラミックスと金属の複合材料(Al-SiC、Al-AlN、Al-Al2O3等)があげられ、中でもアルミニウムやその合金をあげることができ、より具体的にはアルミニウムとマグネシウムの合金、アルミニウムとマグネシウムそしてケイ素の合金、アルミニウムと亜鉛そしてマグネシウムの合金、をあげることができる。
尚、上記の各鋼材は磁性材料のため磁石で固定出来、特に大型ペリクルの枠体の場合、加工作業が良くなり好ましく用いられる。ペリクル枠体の表面に、黒色クロムメッキ、黒色アルマイト、黒色塗装等の黒色化処理を施すことも出来る。
Materials constituting the pellicle frame of the present invention include, for example, carbon steel for machine structures (SC series, etc.), tool steel (carbon tool steel SK series, high speed tool steel SKH series, alloy tool steel SKS series, SKD series, SKT series, etc.), martensitic stainless steel series (SUS403, SUS410, SUS410S, SUS420J1, SUS420J2, SUS429J1, SUS440A, SUS304, etc.), aluminum, aluminum alloys (5000 series, 6000 series, 7000 series, etc.), ceramics ( SiC, AlN, Al2O3, etc.), ceramic and metal composite materials (Al-SiC, Al-AlN, Al-Al2O3, etc.), among which aluminum and its alloys can be mentioned. Examples include magnesium alloys, aluminum and magnesium and silicon alloys, aluminum and zinc and magnesium alloys.
In addition, since each said steel material can be fixed with a magnet since it is a magnetic material, especially in the case of the frame of a large pellicle, processing work improves and it is preferably used. The surface of the pellicle frame can be subjected to blackening treatment such as black chrome plating, black alumite, or black coating.
この中で、黒色アルマイト処理についてさらに説明する。
ペリクル用の支持枠としては一般に5000系のアルミニウム合金を用いることが多いので、アルミニウム合金を例にあげて説明する。
一般的な黒色アルマイト処理は、アルミニウム合金でペリクル支持枠を成形後、アルマイト処理し、この処理により発生した微細な孔を黒色化剤で封入処理し、そしてその微細孔をふさぐ封孔処理を施して黒色アルマイト処理がなされる。しかし、このようにして一般的な方法で作られた支持枠の表面を、電子顕微鏡で観察すると、細かいひびわれ(マイクロクラック)の発生が確認される。このようなマイクロクラックはパターンの微細化が進展し、配線幅が一層狭くなると、該クラックに入り込んだ極く小さい異物の落下も問題となる。そこで、このようなマイクロクラックの発生を防止する方法として以下のような方法をとることが好ましい。
In this, the black alumite treatment will be further described.
As a support frame for a pellicle, a 5000 series aluminum alloy is generally often used. Therefore, an aluminum alloy will be described as an example.
In general black alumite treatment, after forming the pellicle support frame with aluminum alloy, alumite treatment is performed, fine holes generated by this treatment are sealed with a blackening agent, and sealing treatment is performed to close the fine holes. Black anodized. However, when the surface of the support frame made by a general method in this way is observed with an electron microscope, generation of fine cracks (microcracks) is confirmed. Such micro-cracks have a problem that even if the pattern is further miniaturized and the wiring width is further narrowed, a very small foreign matter falling into the cracks is also a problem. Therefore, it is preferable to take the following method as a method for preventing the occurrence of such microcracks.
先ず、ペリクル枠体の表面をアルマイト処理する。このアルマイト処理は、硫酸濃度10〜20%、電流密度1〜2A/dm2、電解液温度15〜30℃、通電時間10〜30分の範囲で行われる。その際、合金の表面にはミクロな孔(直径50〜200Å、ピッチ500〜1500Å)が規則正しく多数形成される。その後、この孔を使って黒色化処理を行う。黒色化処理は枠からの光の反射を防止するために行うので黒色に限らず黒に近い、茶色や紺色等の濃い色も含むものである。黒色化処理には、染色、電解着色等が挙げられる。染色は、黒色の染料を溶解した液の中に浸漬することでこの孔に染料を吸着させ色調を得る方法であり、また、電解着色は、この孔に電気的に金属元素を析出させ色調を得る方法である。染色は例えば、染料濃度3〜10g/L、染色液温度50〜65℃にて行う。 First, the surface of the pellicle frame is anodized. This alumite treatment is performed in a sulfuric acid concentration of 10 to 20%, a current density of 1 to 2 A / dm 2 , an electrolyte temperature of 15 to 30 ° C., and an energization time of 10 to 30 minutes. At that time, a large number of microscopic holes (diameter 50 to 200 mm, pitch 500 to 1500 mm) are regularly formed on the surface of the alloy. Thereafter, a blackening process is performed using the holes. Since the blackening process is performed in order to prevent reflection of light from the frame, it is not limited to black, but also includes dark colors such as brown and dark blue that are close to black. Examples of the blackening treatment include dyeing and electrolytic coloring. Dyeing is a method of obtaining a color tone by adsorbing the dye in this hole by immersing it in a solution in which a black dye is dissolved, and electrolytic coloring is a method in which a metallic element is electrically deposited in this hole to change the color tone. How to get. For example, dyeing is performed at a dye concentration of 3 to 10 g / L and a dye solution temperature of 50 to 65 ° C.
続いて、この孔を塞ぐ封孔処理が施される。この処理には、例えば低温封孔剤とよばれる日華化学工業(株)製ハードウォール3(商品名)封孔助剤6〜12g/Lを加えた煮沸水が使われる。
この時の封孔によりアルマイト膜表面の微細な孔が埋められアルマイト膜は緻密になっていくのであるが、封孔の温度を100℃より若干低い温度、例えば70〜95℃、より好ましくは80〜90℃で封孔処理を行えば、極めて均一な表面性を有し、実質的にマイクロクラックのないペリクル枠体を作ることができる。
尚、マイクロクラックの有無の判断は、支持枠表面を電子顕微鏡にて1000倍に拡大した写真において10cm(実寸法0.1mm)の直線を引き、その直線に交差するクラック数を計算する。クラックの幅は、その電子顕微鏡写真で観察できるもの、即ちクラック幅0.1μm以上のものを計数する。この数値が多いほどクラックが高密度で存在すると判断する。
Subsequently, a sealing process for closing the hole is performed. For this treatment, for example, boiling water to which 6 to 12 g / L of a hard wall 3 (trade name) sealing aid called a low-temperature sealing agent is added is used.
Although the fine pores on the surface of the alumite film are filled by the sealing at this time and the alumite film becomes dense, the temperature of the sealing is slightly lower than 100 ° C., for example, 70 to 95 ° C., more preferably 80 ° C. When the sealing treatment is performed at ˜90 ° C., a pellicle frame body having an extremely uniform surface property and substantially free of microcracks can be produced.
In addition, the judgment of the presence or absence of a microcrack draws a 10 cm (actual dimension 0.1 mm) straight line in the photograph which expanded the support frame surface 1000 times with the electron microscope, and calculates the number of cracks which cross | intersect that straight line. As for the width of the crack, those that can be observed in the electron micrograph, that is, those having a crack width of 0.1 μm or more are counted. It is judged that cracks exist with higher density as this value increases.
必要に応じてペリクル枠体の内壁面又は全面に、異物を補足するための粘着材(アクリル系、酢酸ビニル系、シリコン系、ゴム系等)やグリース(シリコーン系、フッ素系等)を塗布しても良い。
また、必要に応じてペリクル枠体の内部と外部を貫通する微細な穴を開けて、ペリクルとフォトマスクで形成された空間の内外の気圧差がなくなるようにすると、膜の膨らみや凹みを防止出来る。
また、この時、微細な穴の外側に異物除去フィルターを取り付けると、気圧調整が可能な上、ペリクルとフォトマスクで形成された空間の中に異物が侵入することを防げるので好ましい。
If necessary, apply adhesive (acrylic, vinyl acetate, silicon, rubber, etc.) or grease (silicone, fluorine, etc.) to capture foreign matter on the inner wall surface or the entire surface of the pellicle frame. May be.
In addition, if necessary, a minute hole that penetrates the inside and outside of the pellicle frame body is made so that the pressure difference between the inside and outside of the space formed by the pellicle and photomask is eliminated, preventing swelling and dents in the film. I can do it.
At this time, it is preferable to attach a foreign matter removal filter outside the fine hole because the atmospheric pressure can be adjusted and foreign matter can be prevented from entering the space formed by the pellicle and the photomask.
ペリクルとフォトマスクで形成された空間容積が大きい場合には、これらの穴やフィルターを複数個設けると、気圧変動による膜の膨らみや凹みの回復時間が短くなり、好ましい。
本発明のペリクル枠体は、上記の要件を満足することで適度な剛性と柔軟性を兼ね備えることが可能となるため、ペリクル膜を展張することによる枠体の歪がなく、ペリクルを単独でハンドリングする場合の撓みはもちろん、その後の、マスクへ貼り付け後のハンドリングにおけるマスク自身の撓みにも追従することが可能である。その結果、ペリクルにシワが生じず、かつ、マスクの撓みにも追従できるので、エアパスが生じることもないといった優れた効果を奏するものである。
When the space volume formed by the pellicle and the photomask is large, it is preferable to provide a plurality of these holes and filters because the recovery time of the swelling and dent of the film due to atmospheric pressure fluctuation is shortened.
The pellicle frame of the present invention can have both appropriate rigidity and flexibility by satisfying the above requirements. Therefore, there is no distortion of the frame due to the expansion of the pellicle film, and the pellicle is handled alone. Of course, it is possible to follow the bending of the mask itself in the handling after being attached to the mask as well as the bending in the case of doing so. As a result, the pellicle is not wrinkled and can follow the bending of the mask, so that an excellent effect is obtained that no air path is generated.
以上、本発明のペリクル枠体について説明したが、本発明のペリクル枠体は、以下のような構造にすることで、よりペリクル枠体としての信頼性を向上させることができる。
例えば、図1、図2及び図3に示すペリクル枠体1の長辺1a及び短辺1bが同じ幅Wa,Wbとした場合、ペリクル膜2の貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdとの間に、Wa=Wb>Wc=Wdである関係を満足する構造を上げることができる。このように、ペリクル枠体1の幅Wa,Wbが貼着面の幅Wc、Wdより広い構造を用いると、ペリクル膜2とペリクル枠体1の接着剤は、接着剤塗布装置、例えばX−Yディスペンサーロボット等を用いて定量的に塗布できるので、貼着面全体に均一に接着剤を塗布することができる。また、貼着幅が枠体1の幅より狭く設定されることにより、接着剤の塗り斑、塗り残しを抑制することができ、その結果、塗り斑、塗り残し部分の空間に異物が堆積することを防ぐことが出来る。また、Wc=Wdであると、塗布量を長辺と短辺で変更せずに辺全体を塗布することができ、好ましい。
Although the pellicle frame of the present invention has been described above, the pellicle frame of the present invention can be further improved in reliability as a pellicle frame by adopting the following structure.
For example, when the long side 1a and the short side 1b of the
上記のような、Wa=Wb>Wc=Wdの関係を満足する構造を製造する方法として、ペリクル枠体1のペリクル膜の貼着面側に傾斜面を形成すれば、段差が無く傾斜面を形成することが出来る。尚、この傾斜面は曲面状にしてもよい。
以上のようにペリクル枠体1の幅とペリクル膜貼着面の幅との間にWa=Wb>Wc=Wdなる差を設けることにより、接着剤が枠体1の膜貼着面1b1をはみ出して枠体1の内周部へ垂れることを防止する効果もある。なお、Wa=Wbの場合を説明したが、ペリクル枠体1の長辺1aと短辺1bが同じ幅Wa,Wbでなくても、Wa>Wc、Wb>Wdであれば上記効果を得ることができ、また、Wc=Wdであると、塗布量を長辺と短辺で変更せずに辺全体を塗布することが出来るため、好ましい。
As a method of manufacturing the structure satisfying the relationship of Wa = Wb> Wc = Wd as described above, if the inclined surface is formed on the pellicle film attaching surface side of the
As described above, by providing a difference of Wa = Wb> Wc = Wd between the width of the
第1の発明のペリクル枠体は、フォトマスク長辺の長さがペリクル枠体長辺長さ以上、ペリクル枠体長辺長さ+150mm以下で、フォトマスク短辺の長さがペリクル枠体短辺長さ以上、ペリクル枠体短辺長さ+200mm以下のフォトマスクに特に好適に追従できる。フォトマスクの厚みはペリクル枠体を貼り付けた後に、ペリクル枠体の重さに耐えられる(フォトマスクが損壊しない程度)ほどの厚みがあればよい。また、フォトマスクの材質としてソーダ石灰ガラス、無アルカリガラス、低アルカリガラス、石英ガラス等が考えられるが、第1の発明のペリクル枠体はフォトマスクの材質によることなく、好適に追従することができる。
以上、第1の発明のペリクル枠体の構成について説明した。
The pellicle frame according to the first aspect of the present invention is such that the length of the long side of the photomask is not less than the length of the long side of the pellicle frame and the length of the long side of the pellicle frame is not more than 150 mm and the length of the short side of the photomask is the short side of the pellicle frame Thus, the photomask with a pellicle frame short side length of +200 mm or less can be particularly suitably followed. The thickness of the photomask only needs to be thick enough to withstand the weight of the pellicle frame after the pellicle frame is attached (so that the photomask is not damaged). Further, soda lime glass, non-alkali glass, low alkali glass, quartz glass, and the like can be considered as the material of the photomask, but the pellicle frame of the first invention can suitably follow without depending on the material of the photomask. it can.
The configuration of the pellicle frame according to the first invention has been described above.
次に、参考例として第2の発明について説明する。 Next, the second invention will be described as a reference example.
第2の発明におけるペリクル枠体1の幅について説明する。図2に示すペリクル枠体1の長辺1aの幅Waは、下限が13.0mm以上であり、好ましくは下限が14.0mm以上、最も好ましくは16.0mm以上である。一方、上限は30.0mm以下であり、好ましくは上限は25.0mm以下で、更に好ましくは上限は19.0mm以下である。
なお、ペリクル枠体の辺の幅とは、例えば図2、図3に示すように幅Wa、Wbのような各辺の最大幅をいう。
The width of the
The width of the side of the pellicle frame refers to the maximum width of each side such as the widths Wa and Wb as shown in FIGS.
図3に示すペリクル枠体1の短辺1bの幅Wbは、少なくとも長辺1aの幅Waより広いことが必要であり、具体的には、長辺1aの幅Waに対する短辺1bの幅Wbの割合(Wb/Wa)は、下限が1.05以上、好ましくは1.1以上であり、上限は1.50以下、好ましくは1.25以下、最も好ましくは1.2以下である。従って、ペリクル枠体の短辺の幅Wbは13.65mm以上45.0mm以下の値をとる。
The width Wb of the short side 1b of the
長辺の長さが1400mm以上の大型ペリクルでは、ハンドリング工程における自由度を向上させるために、短辺側2辺もしくは長辺側2辺のどちらか一方の辺のみを把持してハンドリングすることが好ましく、特に作業効率を考慮した場合、短辺側2辺を把持する把持方法であることが好ましい。ペリクル枠体の短辺の幅Wbが、長辺の幅Waに対してWb/Waが1.05以上であると、短辺側2辺を把持する把持方法でハンドリングした際に、常に剛性の高い辺からの把持が可能となり、ハンドリング時のシワ発生を抑制することが出来る。ペリクルのハンドリングが幅広の短辺方向から可能になることは、把持する際の持ち手部分が広がり、利便さも向上する。ハンドリング性向上の観点から、ペリクル枠体短辺側に把持用の凸部、凹部を形成することが特に好ましい。また、Wb/Waが1.50以下であると、ペリクル枠体を立てた場合(長辺側を地面と垂直、短辺側を地面と平行にさせた場合)であっても、長辺側の歪みを抑えることができるため、シワ発生を抑制することが出来る。ペリクル有効面積が16000cm2以上となるような超大型ペリクルにおいては、作業効率上、ペリクルを回転させてペリクル膜表面の異物検査を行うことが好ましい。その際にペリクル枠体を立てる工程を経ることとなるが、Wb/Waが1.50以下であると、長辺側の歪みを抑えることができ、異物検査工程等においてペリクル膜のシワ発生を抑制することが出来る。 For a large pellicle with a long side of 1400 mm or more, in order to improve the degree of freedom in the handling process, it is possible to handle by handling only one of the two short sides or the two long sides. In particular, in consideration of work efficiency, a gripping method for gripping the two short sides is preferable. When the width Wb of the short side of the pellicle frame is Wb / Wa of 1.05 or more with respect to the width Wa of the long side, it is always rigid when handled by the gripping method of gripping the two short sides. Gripping from a high side is possible, and wrinkling during handling can be suppressed. The fact that the handling of the pellicle is possible from the direction of the wide short side widens the handle portion when gripping and improves convenience. From the viewpoint of improving handling properties, it is particularly preferable to form a convex or concave portion for gripping on the short side of the pellicle frame. Further, when Wb / Wa is 1.50 or less, even when the pellicle frame is erected (when the long side is perpendicular to the ground and the short side is parallel to the ground), the long side Therefore, the generation of wrinkles can be suppressed. In an ultra-large pellicle having an effective area of 16000 cm 2 or more, it is preferable to inspect foreign matter on the surface of the pellicle film by rotating the pellicle in terms of work efficiency. At that time, a process of erecting the pellicle frame is performed, but if Wb / Wa is 1.50 or less, distortion on the long side can be suppressed, and wrinkles of the pellicle film are generated in the foreign substance inspection process and the like. Can be suppressed.
また、枠体1の厚みについては、好ましくは4.0mm以上で、より好ましくは5.0mm以上で、更に好ましくは6.0mm以上である。また、上限は10.0mm以下が好ましく、より好ましくは8.0mm以下、さらに好ましくは7.0mm以下、最も好ましくは6.5mm以下である。
ペリクル枠体各辺の断面形状としては、矩形、H型、T型等、特に限定は無いが、矩形形状が最も好ましい。断面は中空構造であっても良い。
Moreover, about the thickness of the
The cross-sectional shape of each side of the pellicle frame body is not particularly limited, such as a rectangular shape, an H shape, or a T shape, but the rectangular shape is most preferable. The cross section may be a hollow structure.
本発明のペリクル枠体1は、大型になるほど顕著な効果を奏し、具体的には、ペリクル枠体1の長辺1aの長さLaが、1400mm以上、特に1700mm以上、2100mm以下であって、その時のペリクルの有効面積は16000cm2以上、24000cm2以上、特に25000cm2以上の場合に顕著な効果を奏する。尚、本発明のペリクル枠体1は大型であれば顕著な効果を奏するのであるが、TFTLCDの製造に用いるマスク等に要求されている大きさから、有効面積の上限は35000cm2であれば十分である。
The
ところで、長辺の長さが1400mm以上の大型ペリクルの場合、マスクへのペリクル貼り付け後のハンドリングは、作業工程上、マスクの短辺のみの把持ではなく、ペリクル枠体1の対向する一組の短辺1bの、各々の短辺1bの少なくとも一カ所をマスクと一緒に把持すると作業効率が上がる場合が多く、その場合には、マスクの自重による撓みが長辺と短辺で相違することがわかっている。具体的には、把持をしない対向する長辺1a方向のマスクの撓みが大きくなる。そのため、長辺方向の撓みに対してペリクル枠体の撓みが追従することが要求される。第2の発明におけるペリクル枠体は、このような特異性のあるマスクの撓みにも十分に追従することができる。 By the way, in the case of a large pellicle having a long side length of 1400 mm or more, handling after attaching the pellicle to the mask is not a gripping of only the short side of the mask but a pair of opposed pellicle frames 1 in the work process. In many cases, gripping at least one part of each short side 1b together with the mask increases the working efficiency, and in this case, the deflection due to the weight of the mask differs between the long side and the short side. I know. Specifically, the bending of the mask in the direction of the opposing long side 1a that is not gripped increases. Therefore, it is required that the pellicle frame body follows the bending in the long side direction. The pellicle frame body according to the second aspect of the present invention can sufficiently follow such specific bending of the mask.
本発明のペリクル枠体は、上記の要件を満足することで適度な剛性と柔軟性を兼ね備えることが可能となるため、ペリクル膜を展張することによる枠体の歪みがなく、ペリクルを単独でハンドリングする場合の撓みはもちろん、その後の、マスクへ貼り付け後のハンドリングにおけるマスク自身の撓みにも追従することが可能である。
その結果、ペリクル膜をペリクル枠体に展張する時に生じるペリクル枠体の歪みのためペリクル有効面積を低下させることなく、マスクの撓みにも追従できるので、エアパスが生じることもないといった優れた効果を奏するものである。
さらに、短辺側が長辺に比較して幅広であることよりペリクルのハンドリング時にペリクル枠体の短辺側が把持しやすくなる。その結果、マスクのハンドリング時の把持部分と同じ側からペリクルのハンドリングを行いやすくなることで作業効率が向上する。
The pellicle frame of the present invention can have both appropriate rigidity and flexibility by satisfying the above requirements, so that there is no distortion of the frame due to the expansion of the pellicle film, and the pellicle is handled alone. Of course, it is possible to follow the bending of the mask itself in the handling after being attached to the mask as well as the bending in the case of doing so.
As a result, the distortion of the pellicle frame that occurs when the pellicle film is stretched on the pellicle frame can follow the flexure of the mask without reducing the effective area of the pellicle. It is what you play.
Furthermore, since the short side is wider than the long side, the short side of the pellicle frame is easily gripped when handling the pellicle. As a result, it becomes easier to handle the pellicle from the same side as the gripping portion when handling the mask, thereby improving work efficiency.
本発明のペリクル枠体1においては、前記枠体1の長辺1a及び短辺1bのペリクル膜2の貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdを略等しくすることも好ましい態様である。ここで述べる長辺1aと短辺1bのペリクル膜の貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdが略等しいとは、長辺1aと短辺1bの膜貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdの差が長辺1aと短辺1bの幅Wa,Wbの差より小さいことを意味する。つまり図2及び図3の断面図を参照すると、Wb−Wa>Wd−Wcであることを意味する。
通常、ペリクル膜2とペリクル枠体1の接着剤は、接着剤塗布装置、例えばX−Yディスペンサーロボット等を用いて塗布される。この場合、長辺1aと短辺1bでの単位長さ当たりの接着剤塗布量は同じであるため、Wc<Wdであると、ペリクル膜2をペリクル枠体1に貼り付けた際に、長辺1aでは接着剤量が多くなってしまい、接着剤が枠体1の膜貼着面1a1をはみ出して枠体1の内周部へ垂れることがある。
In the
Usually, the adhesive between the pellicle film 2 and the
また、短辺1bでは接着剤量が不足して膜貼着面1b1の全面に均一に広がらず、内側ではペリクル膜2とペリクル枠体1との間に狭い隙間が出来、この隙間に異物が挟まれることがある。
かかる観点から、上述のように、長辺1aと短辺1bの膜貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdを略等しくすることで、従来通りの簡単な接着剤塗布装置を用いても、より好ましいペリクルが得られる。
In addition, the short side 1b is insufficient in the amount of adhesive and does not spread uniformly over the entire surface 1b1, and a narrow gap is formed between the pellicle film 2 and the
From this point of view, as described above, by making the widths Wc, Wd of the film attachment surfaces 1a1, 1b1 of the long side 1a and the short side 1b substantially equal, using a conventional simple adhesive application device, A more preferred pellicle can be obtained.
長辺1aと短辺1bの膜貼着面1a1,1b1の幅Wc,Wdを略等しくする方法として、ペリクル枠体の少なくとも枠体1の長辺1aのペリクル膜2の貼着面側に傾斜面を形成すれば、段差が無く傾斜面を形成することが出来、ペリクル枠体に異物が堆積することを防ぐことが出来る。尚、この傾斜面は局面状にしてもよい。
尚、この傾斜面を設けることにより、接着剤が枠体の内周部へ垂れることを防止することが出来る。傾斜面はペリクル枠体の剛性、柔軟性に影響を与えない程度の大きさであることが好ましい。
In order to make the widths Wc and Wd of the film adhering surfaces 1a1 and 1b1 of the long side 1a and the short side 1b substantially equal, the pellicle frame is inclined at least on the adhering surface side of the pellicle film 2 of the long side 1a of the
In addition, it can prevent that an adhesive agent hangs down to the inner peripheral part of a frame by providing this inclined surface. It is preferable that the inclined surface has a size that does not affect the rigidity and flexibility of the pellicle frame.
次に、上記本発明の第1の発明及び第2の発明に係るペリクル枠体の内側の面積が16000cm2以上の超大型のペリクル枠体にペリクル膜を展張して接着して得られる超大型ペリクルは、以下のように作成することができるので説明する。
ペリクル膜としては、セルロース誘導体(ニトロセルロース、セルロースアセテート、セルロースアセテートプロピオネート、セルロースアセテートブチレート等、あるいはこれら2種以上の混合物)、フッ素系ポリマー(テトラフルオロエチレン−ビニリデンフルオライド−ヘキサフルオロプロピレンの3元コポリマー、主鎖に環状構造を持つポリマーであるデュ・ポン社製のテフロンAF(商品名)、旭硝子社製のサイトップ(商品名)、アウジモント社製のアルゴフロン(商品名)等)等のポリマー等が用いられる。
Next, an ultra-large size obtained by stretching and bonding a pellicle film to an ultra-large size pellicle frame having an inner area of 16000 cm 2 or more according to the first and second inventions of the present invention. The pellicle can be created as follows and will be described.
Examples of pellicle membranes include cellulose derivatives (nitrocellulose, cellulose acetate, cellulose acetate propionate, cellulose acetate butyrate, etc., or a mixture of two or more thereof), fluorine-based polymers (tetrafluoroethylene-vinylidene fluoride-hexafluoropropylene). Teflon AF (trade name) manufactured by Du Pont, a polymer having a cyclic structure in the main chain, Cytop (trade name) manufactured by Asahi Glass Co., and Algoflon (trade name) manufactured by Augmont ) And the like are used.
ペリクル膜は、例えばポリマー溶液から成膜された薄膜が使用されている。この薄膜には張力が存在する。一方、この張力は、ペリクル膜が撓んだりしわが入らないようにするために必要である。
ペリクル膜が撓んだりしわが入ると、ペリクル膜に付着した異物をエアブローで除去する時に、該ペリクル膜が大きく振動し除去し難い。また、ペリクル膜の高さが場所により変わるために、ペリクル膜の異物検査機が正常に機能しない。また、ペリクル膜の光学的高さ測定に誤差を及ぼす等の問題が生じる。
現在用いられている一括露光液晶露光機の光源である超高圧水銀ランプに対しては、耐光性やコストの点から、セルロースアセテートプロピオネートやセルロースアセテートブチレートが好ましく使用される。
ペリクル膜の膜厚は、0.5μm〜10μm程度が好適であり、本発明に係る大型ペリクルでは、ペリクル膜の強度や均一な膜の作り易さから、2μm〜8μmが好ましい。上記のポリマーは、夫々に適した溶媒(ケトン系、エステル系、アルコール系、フッ素系等)により、ポリマー溶液とする。
上記のセルロースアセテートプロピオネートやセルロースアセテートブチレートに対しては、乳酸エチル等のエステル系が好ましい。ポリマー溶液は必要に応じてデプスフィルター、メンブレンフィルター等により濾過される。
For example, a thin film formed from a polymer solution is used as the pellicle film. This thin film has a tension. On the other hand, this tension is necessary to prevent the pellicle film from being bent or wrinkled.
When the pellicle film is bent or wrinkled, when the foreign matter attached to the pellicle film is removed by air blow, the pellicle film vibrates greatly and is difficult to remove. Further, since the height of the pellicle film varies depending on the location, the pellicle film foreign matter inspection machine does not function normally. In addition, there arises a problem such as an error in measuring the optical height of the pellicle film.
Cellulose acetate propionate and cellulose acetate butyrate are preferably used for the ultra-high pressure mercury lamp, which is the light source of the currently used batch exposure liquid crystal exposure machine, from the viewpoint of light resistance and cost.
The thickness of the pellicle film is preferably about 0.5 μm to 10 μm. In the large pellicle according to the present invention, 2 μm to 8 μm is preferable because of the strength of the pellicle film and the ease of forming a uniform film. The above polymer is made into a polymer solution by using a suitable solvent (ketone, ester, alcohol, fluorine, etc.).
For the above cellulose acetate propionate and cellulose acetate butyrate, ester systems such as ethyl lactate are preferred. The polymer solution is filtered through a depth filter, a membrane filter or the like as necessary.
ポリマー溶液の成膜法には、スピンコート法、ロールコート法、ナイフコート法、キャスト法等があるが、均一性や異物の管理の点から、スピンコート法が好ましい。スピンコート法により成膜基板上に成膜した後、必要に応じてホットプレート、クリーンオーヴン、(遠)赤外線加熱等により溶媒を乾燥することにより、均一な膜が形成される。この時の成膜基板としては、合成石英、溶融石英、無アルカリガラス、低アルカリガラス、ソーダライムガラス等が利用出来る。
本発明に係る大型ペリクルの成膜用の基板のサイズは大きいので、乾燥時の温度斑により成膜基板が割れることがある。これを防ぐために、成膜用基板の熱膨張係数は小さいほど好ましい。特に、0℃〜300℃における線膨張係数が50×10-7m/℃以下であることが好ましい。
The polymer solution film forming method includes a spin coating method, a roll coating method, a knife coating method, a casting method, and the like, but the spin coating method is preferable from the viewpoint of uniformity and foreign matter management. After a film is formed on the film formation substrate by spin coating, a uniform film is formed by drying the solvent by hot plate, clean oven, (far) infrared heating or the like, if necessary. As the film formation substrate at this time, synthetic quartz, fused quartz, alkali-free glass, low alkali glass, soda lime glass, or the like can be used.
Since the substrate for film formation of the large pellicle according to the present invention is large, the film formation substrate may be cracked due to temperature spots during drying. In order to prevent this, the thermal expansion coefficient of the film formation substrate is preferably as small as possible. It is particularly preferred linear expansion coefficient at 0 ° C. to 300 ° C. is not more than 50 × 10- 7 m / ℃.
また、成膜用の基板の表面には、シリコーン系、フッ素系等の材料により、あらかじめ離型処理を施しておけば良い。また、上記のペリクル膜の片側、あるいは両側に、該ペリクル膜よりも屈折率の低い層(即ち、反射防止層)を形成することにより、露光光線に対する透過率を高めることが出来、好ましい。
反射防止層の材料としては、フッ素系ポリマー(テトラフルオロエチレン−ビニリデンフルオライド−ヘキサフルオロプロピレンの3元コポリマー、主鎖に環状構造を持つポリマーであるデュ・ポン社製のテフロンAF(商品名)、旭硝子社製のサイトップ(商品名)、アウジモント社製のアルゴフロン(商品名)、ポリフルオロアクリレート等)や、フッ化カルシウム、フッ化マグネシウム、フッ化バリウム等屈折率の低い材料が使用される。
In addition, the surface of the substrate for film formation may be subjected to a mold release process in advance using a material such as silicone or fluorine. Further, it is preferable that a layer having a lower refractive index than the pellicle film (that is, an antireflection layer) is formed on one side or both sides of the pellicle film, so that the transmittance for exposure light can be increased.
Teflon AF (trade name) manufactured by Du Pont, a fluorinated polymer (terpolymer of tetrafluoroethylene-vinylidene fluoride-hexafluoropropylene, a polymer having a cyclic structure in the main chain) is used as an antireflection layer material. Asahi Glass's Cytop (trade name), Augmont's Algoflon (trade name), polyfluoroacrylate, etc.), calcium fluoride, magnesium fluoride, barium fluoride and other low refractive index materials are used. The
反射防止層は、ポリマーの場合、前述と同様のスピンコート法により、無機物の場合、真空蒸着やスパッタリング等の薄膜形成法により形成することが出来る。異物の点からは、ポリマー溶液によるスピンコート法が好ましい。デュ・ポン社製のテフロンAF(商品名)、アウジモンド社製のアルゴフロン(商品名)は屈折率が小さいので反射防止効果が高く好ましい。
上記により成膜基板上に形成されたペリクル膜は、アルミニウム合金、ステンレススチール、樹脂等に粘着材を貼り付けた仮枠により、成膜基板から剥がし取って所望のペリクル枠体に貼り替えても良い。また成膜基板上で所望のペリクル枠体を接着後、成膜基板から剥がし取っても良い。
The antireflection layer can be formed by a spin coating method similar to that described above in the case of a polymer, and by a thin film formation method such as vacuum deposition or sputtering in the case of an inorganic material. From the viewpoint of foreign matter, a spin coating method using a polymer solution is preferable. Since Teflon AF (trade name) manufactured by Du Pont and Algoflon (trade name) manufactured by Augmond have a low refractive index, they have a high antireflection effect and are preferable.
The pellicle film formed on the film formation substrate as described above may be peeled off from the film formation substrate by a temporary frame in which an adhesive material is attached to aluminum alloy, stainless steel, resin, etc. good. Further, after bonding a desired pellicle frame on the film formation substrate, it may be peeled off from the film formation substrate.
このようにして得られた大型ペリクル膜は、ペリクル枠体に張力を架けて接着剤により貼着される。
膜の張力が適度な範囲にあると、大型ペリクル膜がその自重や大型ペリクル膜内外の気圧差により大型ペリクル膜の膜面の鉛直方向に膨らんだり凹んだりするのを抑制して露光不良を防止することが出来る。また、ペリクル膜に付着した異物をエアブローで除去する時に該ペリクル膜が大きく振動し、異物を除去し難いという問題を解決出来、更には、ペリクル膜の高さが場所により変わるために該ペリクル膜の異物検査機が正常に機能しないという問題を解決出来、また、ペリクル膜の光学的高さ測定に誤差を及ぼすといった問題を解決出来る。また大型ペリクル内外の気圧変動に対する追従性能を確保することが出来る。
The large pellicle film thus obtained is attached with an adhesive while tension is applied to the pellicle frame.
When the tension of the film is in an appropriate range, the large pellicle film is prevented from being poorly exposed due to its own weight or the pressure difference between the inside and outside of the large pellicle film, which prevents the film surface of the large pellicle film from expanding or denting in the vertical direction. I can do it. Further, when the foreign matter adhered to the pellicle film is removed by air blow, the problem that the pellicle film vibrates greatly and it is difficult to remove the foreign matter can be solved. Further, since the height of the pellicle film changes depending on the location, the pellicle film It is possible to solve the problem that the foreign matter inspection machine does not function normally, and to solve the problem of causing an error in the optical height measurement of the pellicle film. In addition, it is possible to ensure follow-up performance with respect to atmospheric pressure fluctuations inside and outside the large pellicle.
ぺリクル膜とペリクル枠体に接着するための膜接着剤は、ペリクル膜の材質とペリクル枠体の材質によって適宜選択する。たとえば、エポキシ系、アクリル系、シリコーン系、フッ素系等の接着剤が使用される。
また、接着剤の硬化方法は夫々の接着剤に適した硬化方法(熱硬化、光硬化、嫌気性硬化等)が採用される。発塵性、コスト、作業性の面から、アクリル系の紫外線硬化型接着剤が好ましい。
ペリクル枠体をフォトマスクに貼り付けるためのマスク粘着材には、それ自身に粘着力のあるホットメルト系(ゴム系、アクリル系)、基材の両面に粘着材を塗布したテープ系(基材としてアクリル系、PVC系等のシートあるいはゴム系、ポリオレフィン系、ウレタン系等のフォーム等が適用出来、粘着材としてゴム系、アクリル系、シリコーン系等の粘着材が適用される)等が使用される。
The film adhesive for adhering the pellicle film and the pellicle frame is appropriately selected depending on the material of the pellicle film and the material of the pellicle frame. For example, an epoxy, acrylic, silicone or fluorine adhesive is used.
Moreover, the hardening method (thermal curing, photocuring, anaerobic hardening etc.) suitable for each adhesive agent is employ | adopted for the hardening method of an adhesive agent. From the viewpoint of dust generation, cost, and workability, an acrylic ultraviolet curable adhesive is preferable.
The mask adhesive for attaching the pellicle frame to the photomask is a hot-melt type (rubber-based or acrylic-based) that has adhesive force on itself, and a tape-based (base material) with adhesive material applied to both sides of the base material. Acrylic, PVC, etc. sheets or rubber, polyolefin, urethane, etc. foams can be applied, and rubber, acrylic, silicone, etc. adhesive materials are used as adhesives) The
本発明に係る大型ペリクルでは、マスク粘着材として、ペリクルをフォトマスクに低荷重で均一に貼り付けるために、比較的柔らかいホットメルト材料やフォームが好適である。フォームの場合は、その断面にアクリル系や酢酸ビニル系の粘着性材料あるいは非粘着性材料で覆うことにより、フォームからの発塵を防ぐことが出来る。
マスク粘着材の厚さは通常0.2mm以上とされるが、フォトマスクへの均一な貼付のために、好ましくは1mm以上とされる。上記マスク粘着材の粘着面をフォトマスクに貼り付けるまでの間保護するために、シリコーンやフッ素で離型処理されたポリエステルフィルムが使用される。
In the large pellicle according to the present invention, a relatively soft hot-melt material or foam is suitable as the mask adhesive material in order to uniformly apply the pellicle to the photomask with a low load. In the case of foam, dust generation from the foam can be prevented by covering the cross section with an acrylic or vinyl acetate adhesive material or a non-adhesive material.
The thickness of the mask adhesive is usually 0.2 mm or more, but is preferably 1 mm or more for uniform sticking to the photomask. In order to protect the adhesive surface of the mask adhesive material until it is attached to the photomask, a polyester film that has been subjected to a release treatment with silicone or fluorine is used.
ペリクルを輸送する際のケースは、アクリル系、ABS系、PVC系、PET系等の材料を、射出成型や真空成型することにより作成される。これらの材料は帯電を防止するために、帯電防止剤を練り込んでも良いし、帯電防止構造をもったポリマー(クレハ製BAYON(商標)、旭化成製ADION(商標))を利用しても良い。
本発明に係る超大型ペリクル用のケースは、輸送中にケースが歪みケース内のペリクルのダメージを与えないように、ケースの蓋、トレイ、またはその両方にリブ構造を設け、外力に対する抵抗性を高めることが好ましい。
又、ペリクルの枠体は、確実に把持できることに加えて、その後の収納容器からのペリクルの取り出しに際し、枠体にたわみやねじれを生じさせることなく、取り出すことができる方法が要求されている。そして、特に、ペリクル自体が大きくなり、ハンドリングも困難となる大型ペリクルにおいては、収納・運搬・保管に際しては、確実な把持はもちろん、収納容器からの取り出しの際、取り出し後直接マスク等に貼り付けられるよう、保護フィルムと粘着材の界面からペリクルの歪み撓みを生じさせることなく取り出す方法が要求されている。
The case for transporting the pellicle is made by injection molding or vacuum molding a material such as acrylic, ABS, PVC, or PET. These materials may be kneaded with an antistatic agent in order to prevent electrification, or a polymer having an antistatic structure (BAYON (trademark) manufactured by Kureha, ADION (trademark) manufactured by Asahi Kasei) may be used.
The case for the super-large pellicle according to the present invention is provided with a rib structure on the case lid, the tray, or both so that the case is not distorted during transportation and the pellicle is damaged in the case. It is preferable to increase.
Further, in addition to being able to securely grip the pellicle frame, there is a need for a method that allows the pellicle to be taken out without causing the frame to bend or twist when the pellicle is subsequently taken out of the storage container. And especially for large pellicles that become large and difficult to handle, the pellicle itself is difficult to handle. Therefore, there is a demand for a method of removing the pellicle from the interface between the protective film and the adhesive without causing distortion of the pellicle.
そこで、フォトマスクからの制約を受けないように、ペリクルの枠体のすべての辺部にそれぞれ把持用の凸部または凹部を形成することで、最も長い辺の長さが1.4m〜2.1mの大型ペリクルの把持を達成することも可能である。
特に、第2の発明においては、短辺側が長辺側より幅広となっていることから、短辺側に把持用の凸部、凹部を形成しやすくなる。
Therefore, by forming convex or concave portions for gripping on all the side portions of the pellicle frame so as not to be restricted by the photomask, the length of the longest side is 1.4 m to 2.m. It is also possible to achieve gripping of a 1 m large pellicle.
In particular, in the second invention, since the short side is wider than the long side, it is easy to form a grip convex part and concave part on the short side.
第2の発明のペリクル枠体は、フォトマスク長辺の長さがペリクル枠体長辺長さ以上、ペリクル枠体長辺長さ+150mm以下で、フォトマスク短辺の長さがペリクル枠体短辺長さ以上、ペリクル枠体短辺長さ+200mm以下のフォトマスクに特に好適に追従できる。フォトマスクの厚みはペリクル枠体を貼り付けた後に、ペリクル枠体の重さに耐えられる(フォトマスクが損壊しない程度)ほどの厚みがあればよい。また、フォトマスクの材質としてソーダ石灰ガラス、無アルカリガラス、低アルカリガラス、石英ガラス等が考えられるが、第2の発明のペリクル枠体はフォトマスクの材質によることなく、好適に追従することができる。
以下に、より具体的に本発明を実施例をあげて説明する。
The pellicle frame of the second invention is such that the length of the long side of the photomask is not less than the length of the long side of the pellicle frame, the length of the long side of the pellicle frame +150 mm or less, and the length of the short side of the photomask is the short side of the pellicle frame. Thus, the photomask with a pellicle frame short side length of +200 mm or less can be particularly suitably followed. The thickness of the photomask only needs to be thick enough to withstand the weight of the pellicle frame after the pellicle frame is attached (so that the photomask is not damaged). Further, soda lime glass, non-alkali glass, low alkali glass, quartz glass, and the like can be considered as the material of the photomask, but the pellicle frame of the second invention can suitably follow without depending on the material of the photomask. it can.
Hereinafter, the present invention will be described more specifically with reference to examples.
(第1の発明に関する実施例)
[実施例1〜99、比較例1〜71]
超大型ペリクル用枠体1は、長辺1aの長さ(La)、短辺1bの長さ(Lb)、枠体の内側の面積(有効面積)、枠体の厚みを表1から表9に示したものを用いた。又、ペリクル枠体の長辺1aの幅(Wa)、短辺1bの幅(Wb)を表1から表9に示したものとした。
尚、ペリクル枠体の材質としてはいずれもアルミ合金を用い、枠体の断面形状は長方形の形状のものを用いた。そして、用いたペリクル枠体は黒色アルマイト処理を施したマイクロクラックのない物であった。
そこで、上記のような枠体を用いて、実際のペリクルの性能評価を実施した。
(Example relating to the first invention)
[Examples 1 to 99, Comparative Examples 1 to 71]
The super
The material of the pellicle frame was aluminum alloy, and the frame had a rectangular cross section. The pellicle frame used was a microcrack-free product that had been subjected to black alumite treatment.
Therefore, performance evaluation of an actual pellicle was performed using the frame as described above.
具体的な内容を以下に示す。
ペリクル膜としては、セルロースエステルのポリマー溶液を低アルカリガラス上に塗布しスピンコートで主膜を形成する。
次いで、その膜上にフッ素ポリマー溶液をスピンコートで塗布して反射防止層を成膜した厚み4μmのペリクル膜を一様に用いる。得られたペリクル膜を上記ペリクル枠体に展張して貼着する。
ここで、ペリクル膜をペリクル枠体に展張して接着された時に発生するシワの有無を評価した(膜展張時のシワ発生結果)。評価結果は表1から表9に記載した。評価結果の表記は、「○」は全くシワがない状態、「△」は膜がよくみると少し波打っている状態、「×」は少しシワが入っている状態である。
Specific contents are shown below.
As the pellicle film, a polymer solution of cellulose ester is applied on a low alkali glass, and a main film is formed by spin coating.
Next, a 4 μm-thick pellicle film in which a fluoropolymer solution is applied onto the film by spin coating to form an antireflection layer is uniformly used. The obtained pellicle film is spread and stuck on the pellicle frame.
Here, the presence or absence of wrinkles generated when the pellicle film was stretched and bonded to the pellicle frame was evaluated (results of wrinkle generation during film extension). The evaluation results are shown in Tables 1 to 9. In the evaluation results, “◯” indicates no wrinkles, “Δ” indicates that the film is slightly wavy when viewed closely, and “×” indicates that the wrinkles are slightly wrinkled.
次に、ペリクル膜が展張・接着されたペリクル枠体を石英ガラスに貼り付けた。この際のマスク粘着材にはいずれも厚み1.2mmのスチレンエチレンブチレンスチレンのゴム系ホットメルト粘着材を使用し、ペリクル枠体のマスク接着面にこのホットメルト粘着材を塗着し、石英ガラスの所定位置に貼り付けた。尚、各部材は使用前に超音波洗浄を行った。
尚、石英ガラスのサイズは、石英ガラスの長辺を貼着するペリクルの長辺長さ+50mm、石英ガラスの短辺を貼着するペリクルの短辺長さ+100mmとした。使用した石英ガラスのサイズと厚みを表17に記載した。
Next, the pellicle frame body on which the pellicle film was stretched and bonded was attached to quartz glass. In this case, a 1.2 mm thick styrene ethylene butylene styrene rubber-based hot-melt adhesive material was used as the mask adhesive material, and this hot-melt adhesive material was applied to the mask adhesive surface of the pellicle frame to obtain quartz glass. Affixed at a predetermined position. Each member was subjected to ultrasonic cleaning before use.
In addition, the size of the quartz glass was made into the long side length + 50mm of the pellicle which sticks the long side of quartz glass, and the short side length + 100mm of the pellicle which sticks the short side of quartz glass. Table 17 shows the size and thickness of the quartz glass used.
さらに、ペリクル枠体の柔軟性について、ペリクルのマスクへの追従性を測定することで評価した。マスクに貼り付けられたペリクルを、ペリクルを貼り付けた面を下にしてマスクの2つの短辺を把持したまま空中に浮かせた状態で放置してマスクの自重による撓みにペリクルが追従していくかどうかの追従性をもって評価した。
評価結果を表1から表9に記載する。追従性の評価基準は、マスク貼着後一年以内に、変化がなかった場合を「○」、接着部分にわずかに浮きが発生した場合を「△」、エアパスが生じた場合を「×」と評価した。
尚、上記と同様の規格を有するペリクル枠体を用いて上記と同様の条件でペリクル膜を展張して接着したサンプルを別に作成し、そのサンプルを用いて長辺を把持して上記した測定条件を用いて同じ辺の歪み性αと追従性βの測定を実施し、その結果を表1から表9に合わせて記載した。
総合評価は、「追従性の評価結果」「膜展張時のシワ発生結果」の何れも「○」の場合は「◎」、一つでも△があれば「○」、一つでも×があれば「×」とした。
Further, the flexibility of the pellicle frame was evaluated by measuring the followability of the pellicle to the mask. The pellicle attached to the mask is left floating in the air while holding the two short sides of the mask with the surface on which the pellicle is attached facing down, and the pellicle follows the deflection caused by the weight of the mask. It was evaluated with the followability of whether or not.
The evaluation results are shown in Tables 1 to 9. Follow-up evaluation criteria are `` ○ '' when there is no change within one year after mask attachment, `` △ '' when there is a slight lift at the bonded part, `` X '' when there is an air pass It was evaluated.
In addition, using the pellicle frame body having the same standard as described above, separately creating a sample in which the pellicle film is stretched and bonded under the same conditions as described above, and using the sample to grip the long side, the measurement conditions described above Was used to measure distortion α and follow-up β on the same side, and the results are shown in Table 1 to Table 9.
Comprehensive evaluation is “◎” if “Followability evaluation result” or “Wrinkle generation result during film spreading” is “○”, “○” if there is any △, and “×” for any one. “×”.
(第2の発明に関する実施例)
先ず、本発明のペリクル枠体の評価方法について説明する。
本発明のペリクル枠体は適度な剛性と柔軟性を兼ね備えるものであるが、その剛性についてはペリクル膜をペリクル枠体に展張する時に生じるシワの有無、及び、その後のペリクルのハンドリング時に生じるシワの有無を目視判断することで評価し、柔軟性については、マスクに貼り付けられたペリクルを、ペリクルを貼り付けた面を下にしてマスクの2つの短辺を把持したまま空中に浮かせた状態で放置してマスクの自重による撓みにペリクルが追従していくかどうかの追従性をもって評価した。
(Example relating to the second invention)
First, a method for evaluating a pellicle frame according to the present invention will be described.
The pellicle frame body of the present invention has appropriate rigidity and flexibility. The rigidity of the pellicle frame body is determined by the presence or absence of wrinkles generated when the pellicle film is spread on the pellicle frame body, and the wrinkle generated during the subsequent handling of the pellicle. The flexibility is evaluated by visually judging the presence or absence of the pellicle attached to the mask with the two sides of the mask held in the air with the surface to which the pellicle is attached facing down. It was evaluated by following whether the pellicle follows the deflection caused by the weight of the mask.
[実施例100〜197、比較例72〜141]
実施例及び比較例で用いた超大型ペリクル用枠体1の、長辺1aの長さ(La)、短辺1bの長さ(Lb)、枠体の内側の面積(有効面積)を表10から表16に示した。又、ペリクル枠体の長辺1aの幅(Wa)、短辺1bの幅(Wb)、ペリクル枠体の厚みも表10から表16に示したものとした。
尚、ペリクル枠体の材質としてはいずれもアルミ合金を用い、枠体の断面形状は長方形の形状のものを用いた。そして、用いたペリクル枠体は黒色アルマイト処理を施したマイクロクラックのない物であった。
そこで、上記のような規格のペリクル用枠体を用いて実際に性能評価を実施した。
ペリクル膜としては、セルロースエステルのポリマー溶液を低アルカリガラス上に塗布しスピンコートで主膜を形成した。
[Examples 100 to 197, Comparative Examples 72 to 141]
Table 10 shows the length (La) of the long side 1a, the length (Lb) of the short side 1b, and the area inside the frame (effective area) of the
The material of the pellicle frame was aluminum alloy, and the frame had a rectangular cross section. The pellicle frame used was a microcrack-free product that had been subjected to black alumite treatment.
Therefore, performance evaluation was actually performed using the above-mentioned pellicle frame body.
As the pellicle film, a polymer solution of cellulose ester was applied on low alkali glass, and a main film was formed by spin coating.
次いで、その膜上にフッ素ポリマー溶液をスピンコートで塗布して反射防止層を成膜した厚み4μmのペリクル膜を一様に用いた。得られたペリクル膜を上記ペリクル枠体に展張して貼着した。尚、ペリクル枠体のハンドリングは、全て一組の短辺の各々の辺の一部を把持して実施した。
ここで、ペリクル膜をペリクル枠体に展張して接着された時に発生するシワの有無を評価した(膜展張時のシワ発生結果)。評価結果は表10から表16に記載した。評価結果の表記は、「○」は全くシワがない状態、「△」は膜がよくみると少し波打っている状態、「×」は少しシワが入っている状態である。
Next, a 4 μm-thick pellicle film in which a fluoropolymer solution was applied onto the film by spin coating to form an antireflection layer was uniformly used. The obtained pellicle film was spread and stuck on the pellicle frame. The handling of the pellicle frame was carried out by gripping a part of each side of a set of short sides.
Here, the presence or absence of wrinkles generated when the pellicle film was stretched and bonded to the pellicle frame was evaluated (results of wrinkle generation during film extension). The evaluation results are shown in Tables 10 to 16. In the evaluation results, “◯” indicates no wrinkles, “Δ” indicates that the film is slightly wavy when viewed closely, and “×” indicates that the wrinkles are slightly wrinkled.
次に、ペリクル膜が展張・接着されたペリクル枠体を石英ガラスに貼り付けた。この際のマスク粘着材にはいずれも厚み1.2mmのスチレンエチレンブチレンスチレンのゴム系ホットメルト粘着材を使用し、ペリクル枠体のマスク接着面にこのホットメルト粘着材を塗着し、石英ガラスの所定位置に貼り付けた。尚、各部材は使用前に超音波洗浄を行った。
尚、石英ガラスのサイズは、石英ガラスの長辺を貼着するペリクルの長辺長さ+50mm、石英ガラスの短辺を貼着するペリクルの短辺長さ+100mmとした。使用した石英ガラスのサイズと厚みを表17に記載した。
Next, the pellicle frame body on which the pellicle film was stretched and bonded was attached to quartz glass. In this case, a 1.2 mm thick styrene ethylene butylene styrene rubber-based hot-melt adhesive material was used as the mask adhesive material, and this hot-melt adhesive material was applied to the mask adhesive surface of the pellicle frame to obtain quartz glass. Affixed at a predetermined position. Each member was subjected to ultrasonic cleaning before use.
In addition, the size of the quartz glass was made into the long side length + 50mm of the pellicle which sticks the long side of quartz glass, and the short side length + 100mm of the pellicle which sticks the short side of quartz glass. Table 17 shows the size and thickness of the quartz glass used.
このようにして得られたフォトマスクに貼り付けられたペリクルのペリクル膜表面を観察し、ペリクル膜のペリクル枠体への展張・接着後からフォトマスク貼り付けまでの一連のハンドリング工程で生じたシワの有無についても評価した(ハンドリングによるシワ発生結果)。
ここで一連のハンドリング工程とは、組立(ペリクル膜の展張・接着)工程後の搬送工程→検査工程→梱包工程→出荷工程→取り出し工程→フォトマスクへの貼り付け工程、からなるハンドリング工程を指す。組立工程後の搬送工程では、工程内運搬用ホルダーを用いてペリクル枠体短辺側のコーナー4点付近をペリクルが落ちない程度の把持力で把持して、ペリクルを検査工程にまで運ぶ。この際、ペリクルは長辺を地面と平行に、短辺を地面と垂直にした状態で検査工程まで運ぶ。検査工程では、ペリクルの水平軸周りの一回の上下回転、鉛直軸周りの一回の左右回転、ペリクル膜中心を軸としたペリクル膜平面上での一回の90度回転を経ながら検査を行う。梱包工程へは、ペリクルを、ペリクルの長辺を地面と平行に短辺を地面と垂直にした状態で運ぶ。梱包工程では、ペリクルを、工程内運搬用ホルダーをつけた状態でペリクル収納容器に収納する。その後、工程内運搬用ホルダーを収納容器内で取り外し、ペリクルのみを収納容器に収納する。出荷工程では、トラック輸送を想定した通常の輸送を行う。このとき、収納容器は水平に維持される。取り出し工程では、ペリクル枠体が地面と水平の状態で、ペリクルを収納容器から取り出す。取り出す際には、ペリクル枠体短辺側のコーナー4点付近をペリクルが落ちない程度の把持力で把持する。フォトマスクへの貼り付け工程では、ペリクル枠体が地面と水平の状態で、ペリクル枠体短辺側のコーナー4点付近をペリクルが落ちない程度の把持力で把持し、そのままペリクルを、マスクにペリクルのマスク粘着剤を介して貼り付ける。貼り付け力は、貼り付け後もペリクルの外形が変動しないような貼り付け力でしっかり貼り付ける。
評価結果は表10から表16に記載した。尚、評価基準についてはペリクル枠体に展張して接着された時と同じである。
さらに、柔軟性を上記したペリクルのマスクへの追従性の評価条件を使って評価した。評価結果を表10から表16に記載する(追従性の評価結果)。追従性の評価基準は、ペリクルのマスク貼着後、ペリクルを貼り付けた面を下にしてマスクの2つの短辺を把持したまま空中に浮かせた状態で放置し、一年以内に、変化がなかった場合を「○」、接着部分にわずかに浮きが発生した場合を「△」、エアパスが生じた場合を「×」と評価した。
総合評価は、「追従性の評価結果」「膜展張時のシワ発生結果」「ハンドリングによるシワ発生結果」の何れも「○」の場合は「◎」、一つでも△があれば「○」、一つでも×があれば「×」とした。
The surface of the pellicle film of the pellicle affixed to the photomask obtained in this way is observed, and wrinkles generated in a series of handling steps from after the pellicle film is spread and adhered to the pellicle frame to the affixing of the photomask are observed. The presence or absence of wrinkles was also evaluated (results of wrinkling due to handling).
Here, a series of handling processes refers to a handling process consisting of a transport process after an assembly (pellicle film expansion / adhesion) process → inspection process → packaging process → shipping process → removing process → attaching process to a photomask. . In the transport process after the assembly process, the pellicle is transported to the inspection process by gripping the vicinity of the four corners on the short side of the pellicle frame with a gripping force that does not drop the pellicle using the in-process transport holder. At this time, the pellicle is carried to the inspection process with the long side parallel to the ground and the short side perpendicular to the ground. In the inspection process, inspection is performed through one vertical rotation about the horizontal axis of the pellicle, one horizontal rotation about the vertical axis, and one 90 degree rotation on the pellicle film plane around the center of the pellicle film. Do. To the packing process, the pellicle is carried with the long side of the pellicle parallel to the ground and the short side perpendicular to the ground. In the packing process, the pellicle is stored in the pellicle storage container with the in-process transport holder attached. Thereafter, the in-process transport holder is removed in the storage container, and only the pellicle is stored in the storage container. In the shipping process, normal transportation assuming truck transportation is performed. At this time, the storage container is kept horizontal. In the take-out step, the pellicle is taken out from the storage container in a state where the pellicle frame is horizontal with the ground. When taking out, the pellicle frame near the four corners on the short side is gripped with a gripping force that does not cause the pellicle to fall. In the step of attaching to the photomask, the pellicle frame is held horizontally with the ground and the pellicle frame is gripped around the four corners on the short side of the pellicle frame with a gripping force that does not drop the pellicle. Affix with pellicle mask adhesive. The sticking force is firmly attached with a sticking force that does not change the outer shape of the pellicle even after sticking.
The evaluation results are shown in Tables 10 to 16. The evaluation criteria are the same as when the pellicle frame is stretched and bonded.
Furthermore, the flexibility was evaluated using the above-described evaluation conditions for the followability of the pellicle to the mask. The evaluation results are shown in Table 10 to Table 16 (following evaluation results). The follow-up evaluation standard is that after the pellicle mask is attached, the pellicle-attached surface is down and left in the air while holding the two short sides of the mask. The case where there was no air gap was evaluated as “◯”, the case where a slight float occurred in the bonded portion was evaluated as “Δ”, and the case where an air path occurred was evaluated as “X”.
Comprehensive evaluation: “Followability evaluation result”, “Wrinkle generation result during film expansion”, “Wrinkle generation result by handling” is “◎” if any, “○” if there is any △ , If there is at least one x, it was set as “x”.
本発明のペリクル枠体、ペリクル、ペリクル枠体の使用方法を用いれば、近年開発されてきた高画質、高精細表示が可能な大型のカラーTFTLCD(薄膜トランジスタ液晶ディスプレイ)のフォトリソグラフィ工程で使用される大型のフォトマスクやレティクルに適用出来る。 By using the pellicle frame, pellicle, and method of using the pellicle frame of the present invention, it is used in the photolithography process of a large color TFT LCD (thin film transistor liquid crystal display) capable of high-quality and high-definition display that has been developed in recent years. Applicable to large photomasks and reticles.
1 ペリクル枠体
1a 長辺
2a 短辺
1a1、1b1 貼着面
1a2、1b2 平面状の傾斜面
2 ペリクル膜
10 大型ペリクル
DESCRIPTION OF
Claims (9)
β=(1/ペリクルの撓み量)×厚み×幅 (1) A rectangular pellicle frame, wherein the distortion α of the pellicle frame is 0.06% or less, the following β of each side of the pellicle frame represented by the following general formula (1) is 3 mm or more, A pellicle frame in which the followability β of the long side of the pellicle frame is 32 mm or less, the length of the long side of the frame is 1400 mm or more, 2100 mm or less, and the inner area of the pellicle frame is 15000 cm 2 or more body.
β = (1 / pellicle deflection) x thickness x width (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011248866A JP5284445B2 (en) | 2008-09-12 | 2011-11-14 | Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame |
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008235388 | 2008-09-12 | ||
JP2008235388 | 2008-09-12 | ||
JP2008235599 | 2008-09-12 | ||
JP2008235599 | 2008-09-12 | ||
JP2011248866A JP5284445B2 (en) | 2008-09-12 | 2011-11-14 | Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010528762A Division JP4886070B2 (en) | 2008-09-12 | 2009-09-11 | Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012068667A JP2012068667A (en) | 2012-04-05 |
JP5284445B2 true JP5284445B2 (en) | 2013-09-11 |
Family
ID=42005247
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010528762A Active JP4886070B2 (en) | 2008-09-12 | 2009-09-11 | Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame |
JP2011248866A Active JP5284445B2 (en) | 2008-09-12 | 2011-11-14 | Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010528762A Active JP4886070B2 (en) | 2008-09-12 | 2009-09-11 | Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP4886070B2 (en) |
KR (2) | KR101287700B1 (en) |
CN (2) | CN102132210B (en) |
TW (2) | TWI497197B (en) |
WO (1) | WO2010029997A1 (en) |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2560048A4 (en) * | 2010-04-13 | 2017-08-23 | Asahi Kasei E-materials Corporation | Self-supporting film, self-supporting structure, method for manufacturing self-supporting film, and pellicle |
JP5411200B2 (en) * | 2011-04-26 | 2014-02-12 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle for lithography |
JP5746662B2 (en) * | 2012-05-11 | 2015-07-08 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame |
JP5822401B2 (en) * | 2012-12-25 | 2015-11-24 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle for lithography |
JP6008784B2 (en) * | 2013-04-15 | 2016-10-19 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame, manufacturing method thereof, and pellicle |
JP6293041B2 (en) * | 2014-12-01 | 2018-03-14 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and pellicle using the same |
JP6460778B2 (en) * | 2014-12-25 | 2019-01-30 | 日本特殊陶業株式会社 | Pellicle frame and method for manufacturing pellicle frame |
JP6491472B2 (en) * | 2014-12-25 | 2019-03-27 | 日本特殊陶業株式会社 | Pellicle frame and method for manufacturing pellicle frame |
TWI576657B (en) * | 2014-12-25 | 2017-04-01 | 台灣積體電路製造股份有限公司 | Photomask cleaning apparatus and method |
WO2016124536A2 (en) * | 2015-02-03 | 2016-08-11 | Asml Netherlands B.V. | Mask assembly and associated methods |
US9658526B2 (en) | 2015-06-30 | 2017-05-23 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Mask pellicle indicator for haze prevention |
JP2017147292A (en) * | 2016-02-16 | 2017-08-24 | レノボ・シンガポール・プライベート・リミテッド | Method for manufacturing housing member |
KR101970059B1 (en) * | 2016-04-05 | 2019-04-17 | 아사히 가세이 가부시키가이샤 | Pellicle |
US10012899B2 (en) | 2016-09-01 | 2018-07-03 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Graphene pellicle for extreme ultraviolet lithography |
JP6729233B2 (en) * | 2016-09-20 | 2020-07-22 | 日本軽金属株式会社 | Pellicle support frame, pellicle, and manufacturing method thereof |
US10162258B2 (en) | 2016-12-15 | 2018-12-25 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Pellicle fabrication methods and structures thereof |
TWI618975B (en) * | 2016-12-28 | 2018-03-21 | Micro Lithography Inc | Photomask dustproof frame structure |
JP6861596B2 (en) * | 2017-08-07 | 2021-04-21 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and pellicle |
JP6968259B2 (en) * | 2018-03-05 | 2021-11-17 | 三井化学株式会社 | Manufacturing method for pellicle, exposure master plate, exposure equipment, and semiconductor equipment |
KR20210063357A (en) * | 2018-09-12 | 2021-06-01 | 포트로닉스, 인크. | Pellicles for Flat Panel Display Photomasks |
JP7291684B2 (en) * | 2018-10-29 | 2023-06-21 | 家登精密工業股▲ふん▼有限公司 | Reticle holding system |
JP7063962B2 (en) * | 2020-09-23 | 2022-05-09 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and pellicle |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4007752B2 (en) * | 1999-07-30 | 2007-11-14 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | Large pellicle frame and large pellicle |
JP4004188B2 (en) * | 1999-07-30 | 2007-11-07 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | Large pellicle frame |
JP2001083691A (en) * | 1999-09-13 | 2001-03-30 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Pellicle free from occurrence of dust |
JP4043232B2 (en) * | 2001-01-26 | 2008-02-06 | 旭化成エレクトロニクス株式会社 | Large pellicle |
JP4286194B2 (en) * | 2004-08-18 | 2009-06-24 | 信越化学工業株式会社 | Pellicle frame and pellicle for photolithography using the frame |
JP2006178434A (en) * | 2004-11-25 | 2006-07-06 | Asahi Kasei Electronics Co Ltd | Large pellicle |
JP2007328226A (en) * | 2006-06-09 | 2007-12-20 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle storage container and method for manufacturing the same |
JP2007333910A (en) * | 2006-06-14 | 2007-12-27 | Shin Etsu Chem Co Ltd | Pellicle |
KR101264571B1 (en) * | 2007-07-06 | 2013-05-14 | 아사히 가세이 이-매터리얼즈 가부시키가이샤 | Frame of large pellicle and grasping method of frame |
JP5051840B2 (en) * | 2007-11-22 | 2012-10-17 | 信越化学工業株式会社 | Method for storing a pellicle in a pellicle storage container |
-
2009
- 2009-09-11 TW TW098130810A patent/TWI497197B/en active
- 2009-09-11 TW TW103143952A patent/TWI537674B/en active
- 2009-09-11 JP JP2010528762A patent/JP4886070B2/en active Active
- 2009-09-11 CN CN200980133492.9A patent/CN102132210B/en active Active
- 2009-09-11 KR KR1020117004478A patent/KR101287700B1/en active IP Right Grant
- 2009-09-11 KR KR1020137010747A patent/KR101390007B1/en active IP Right Grant
- 2009-09-11 CN CN201210410055.0A patent/CN102944973B/en active Active
- 2009-09-11 WO PCT/JP2009/065919 patent/WO2010029997A1/en active Application Filing
-
2011
- 2011-11-14 JP JP2011248866A patent/JP5284445B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI497197B (en) | 2015-08-21 |
KR101390007B1 (en) | 2014-04-29 |
TW201015213A (en) | 2010-04-16 |
KR20130049837A (en) | 2013-05-14 |
TWI537674B (en) | 2016-06-11 |
CN102944973B (en) | 2015-01-21 |
JPWO2010029997A1 (en) | 2012-02-02 |
TW201510638A (en) | 2015-03-16 |
CN102132210B (en) | 2013-01-23 |
CN102944973A (en) | 2013-02-27 |
JP2012068667A (en) | 2012-04-05 |
CN102132210A (en) | 2011-07-20 |
JP4886070B2 (en) | 2012-02-29 |
KR20110034032A (en) | 2011-04-04 |
WO2010029997A1 (en) | 2010-03-18 |
KR101287700B1 (en) | 2013-07-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5284445B2 (en) | Pellicle frame, pellicle and method of using pellicle frame | |
TWI454841B (en) | A pellicle for lithography | |
US8338060B2 (en) | Pellicle for lithography and method for manufacturing the same | |
JP6376601B2 (en) | Pellicle support means, pellicle support apparatus and pellicle mounting method using the same | |
JP7456526B2 (en) | Method for manufacturing a pellicle, method for manufacturing a photomask with a pellicle, exposure method, method for manufacturing a semiconductor device, method for manufacturing a liquid crystal display, and method for manufacturing an organic EL display | |
JP4007752B2 (en) | Large pellicle frame and large pellicle | |
JP5876927B2 (en) | Pellicle, pellicle frame, and method for manufacturing pellicle | |
JP6304884B2 (en) | Pellicle pasting method | |
JP2011059446A (en) | Pellicle frame, pellicle, and usage of pellicle frame | |
JP6389353B2 (en) | Pellicle frame and pellicle | |
KR102461618B1 (en) | Pellicle frame, and pellicle using the same | |
JP4202554B2 (en) | Pellicle for semiconductor lithography | |
KR101930723B1 (en) | Pellicle and method of manufacturing the same | |
JP2019066848A (en) | Pellicle | |
JP2006323178A (en) | Pellicle for lithography, and its manufacturing method | |
JP4345882B2 (en) | Large pellicle | |
JP2022010209A (en) | Pellicle | |
JP2022162654A (en) | pellicle | |
KR100385759B1 (en) | Oversize pellicle | |
JP4055856B2 (en) | Manufacturing method of large pellicle membrane |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121102 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130524 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130529 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5284445 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |