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JP4746644B2 - 電子透かし埋め込み方法及び装置及びプログラム及びコンピュータ読取可能な記録媒体 - Google Patents

電子透かし埋め込み方法及び装置及びプログラム及びコンピュータ読取可能な記録媒体 Download PDF

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Description

本発明は、電子透かし埋め込み方法及び装置及びプログラム及びコンピュータ読取可能な記録媒体に係り、特に、映像コンテンツに、別の副情報を知覚されないように埋め込み、この副情報を読み取る技術である電子透かし技術に関するものである。
今日、電子透かし技術は、コンテンツの著作権保護・管理システムや、コンテンツ関連サービス提供システムなどに用いられている。
画像、映像といったコンテンツの流通の際、コンテンツ識別・管理や著作権保護・管理、関連情報提供などの目的のため、コンテンツ内に知覚できないように別の情報を埋め込む電子透かし技術を用いる方法がある。特に、画像・映像コンテンツに対する電子透かし技術においては、画素値の微小変更に基づく方法が一般的である(例えば、非特許文献1参照)。
また、電子透かし埋め込みに伴う画質劣化を抑えるために、視覚的に感度が高い輝度成分を避け、色差などの色成分を微小変更する方法がある(例えば、非特許文献2参照)。
一般にデジタル表現された画素値は、例えば、8ビットすなわち、256値に量子化された値であり、電子透かし埋め込みはこの画素値の微小変更である。例えば、カラー画像データがRGB各々8ビットで表現された24ビットカラーデータについて考える。RGBデータから輝度・色差信号への変換は、例えば、CCIR601などで定義された変換式
Figure 0004746644
等を用いて相互に変換可能である。今、画質劣化を抑えるために視覚感度の高い輝度Yを避け、例えば、Cb成分を微小量△cbだけ変更して電子透かしを埋め込むことを考える。この場合、例えば、△cb=±1であるとすると、埋め込みによって生じるRGBの変化量△r、△g、△bは(式2)からそれぞれ
△r=0,
△g=±0.336,
△b=±1.732
となるが、ここで量子化による丸め誤差を考えると(四捨五入則を用いるとして)、
△R=△G=0,
△B=±2となる。すなわち、この場合はCb成分の微小変更量はB成分にのみ反映される。このとき量子化後の△r,△g,△bをYCbCr色空間に変換すると、
△y=±0.114×2,
△cb=±0.511×2,
△cr=±0.083×2
となり、本来変更を施さなかったY及びCr成分値が変化していることがわかる。特に、輝度成分Yが変化することにより、電子透かし埋め込みによる視覚劣化が目立ち易くなるという問題があった。
さらに、(式2)の変換式から、│△cb│<0.5/1.732の変更を与えても量子化による丸め誤差のため、△r=△g=△b=0となって画像に全く変更を与えられないため、電子透かしが埋め込まれないことがわかる。また、0.5/1.732≦│△cb│<1.5/1.732では、△r=△g=0、△b=±1であるなどして、電子透かし埋め込みによる変化量△cbを連続的に指定しても、量子化によって実際の画像値の変更量は離散的になってしまう。更に加えて、△cb=±3とした場合、
△r=0,
△g=±0.336×3,
△b=±1.732×3
量子化を行うと、
△r=0,
△g=±1,
△b=±5
となり、量子化後の△r△g△bをYCbCr色空間に変換すると、
△y=±(-0.587×1+0.114×5)=±0.017
となり、前述の△cb=±1のときの△y=±0.114×2より変化量が小さくなる。すなわち、Cb成分の変化量を小さくしても、画質劣化の主要因であるY成分の変化量が量子化により大きくなってしまうことがある。以上のことからわかるように、従来技術においては、電子透かし技術の運用上の重要なポイントである、埋め込み強度によって画質劣化と耐性のトレードオフバランスを細かく正確に制御する、ということが困難であるという問題があった。
以上要約すると、
(1)画質劣化を抑えるためY成分を避けてCb成分など色成分のみの変更を行っても、最終的な埋め込み後画素値(RGB値)が正数しか取り得ないため、量子化誤差によってY成分が変動してしまう;
(2)最終的な埋め込み後画素値(RGB値)が整数しか取り得ないため、強度を細かく調整することができない;
(3)強度を下げても画質劣化が増大することがあるため、強度で耐性・画質トレードオフを適切に制御できない;
という問題があった。
一方、このデジタル画像のカラーフォーマット変換時の微小変更量への影響問題への解決策として、量子化誤差や対象色成分以外の色成分の変更量が小さくなるように透かしパターンを変更する方法が提案されている(例えば、特許文献1参照)。
中村、山本、北原、宮武、片山、安野:"電子透かし埋め込み方法及び装置及びプログラム"特開2008-17289号公報 中村、山本、北原、宮武、片山、安野、曽根原:"リアルタイム検出可能な動画向けモバイル電子透かし",Vol. 36, No. 4, pp. 426-434 (2007) Takao Nakamura, Hiroshi Ogawa, Atsuki Tomioka, and Youichi Takashima: "Improved Digital Watermark Robustness against Translation and/or Cropping of an Image Area", IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, Vol. E83-A, No. 1, pp. 68-76 (2000).
しかしながら、上記従来の量子化誤差や対象色成分以外の色成分の変更量が小さくなるように透かしパターンを変更する方法の実装には基準変更量を事前に設定する必要がある。基準変更量は無数の候補が存在し、その選択方法についても記載されているが、実際には候補の良し悪しをつけ難い候補が存在するため、画像を作成してみないと判断できない場合が多々起こり得る。また、事前にこれらの設定について調査する手間がかかるため、簡便な方法とは言い難い。
本発明は、上記の点に鑑みなされたもので、微小な信号を色変換する場合に生じる意図しない輝度や色の変化を抑えつつ、透かし強度と画質劣化の関係が逆転することなく、適切に制御可能な電子透かし埋め込み処理を実現することが可能な電子透かし埋め込み方法及び装置及びプログラム及びコンピュータ読取可能な記録媒体を提供することを目的とする。
図1は、本発明の原理を説明するための図である。
本発明(請求項1)は、カラー画像に電子透かしを埋め込む電子透かし埋め込み方法であって、
透かしパターン生成手段において、透かし情報が入力されると、該透かし情報の原画像への電子透かし埋め込みによって該原画像に与えられる画素値の変更量を表す透かしパターンを生成する透かしパターン生成ステップ(ステップ1)と、
透かしパターン変更手段の変換誤差算出手段において、透かしパターンの色変換による変換誤差を算出する変換誤差算出ステップ(ステップ2)と、
透かしパターン変更手段の変換誤差拡散手段において、変換誤差を透かしパターンの各画素の周辺画素に対し重み付けを行って拡散し、変換済み透かしパターンを生成する変換誤差拡散ステップ(ステップ3)と、
透かしパターン重畳手段において、変更済み透かしパターンを入力された原画像に重畳して透かし入り画像を出力する透かしパターン重量ステップ(ステップ4)と、を行う。
また、本発明(請求項2)は、変換誤差算出ステップ(ステップ2)において、
入力された透かしパターンの画素値を色変換し、
色変換された値を量子化し、
量子化した値を入力された透かしパターンと同じ色空間に色変換し、
入力された透かしパターンの画素値と色変換された透かしパターンの画素値との差分を変換誤差とする。
また、本発明(請求項3)は、変換誤差算出ステップ(ステップ2)において、
色成分毎に異なるブロックサイズで誤差を算出する。
また、本発明(請求項4)は、変換誤差拡散ステップ(ステップ3)において、
変換誤差算出ステップ(ステップ2)で算出された変換誤差を、色成分毎に異なるブロックサイズで拡散させる。
図2は、本発明の原理構成図である。
本発明(請求項5)は、カラー画像に電子透かしを埋め込む電子透かし埋め込み装置であって、
透かし情報が入力されると、該透かし情報の原画像への電子透かし埋め込みによって該原画像に与えられる画素値の変更量を表す透かしパターンを生成する透かしパターン生成手段110と、
透かしパターンの色変換による変換誤差を算出する変換誤差算出手段121と、
変換誤差を透かしパターンの各画素の周辺画素に対し重み付けを行って拡散し、変換済み透かしパターンを生成する変換誤差拡散手段122と、
変更済み透かしパターンを入力された原画像に重畳して透かし入り画像を出力する透かしパターン重量手段130と、を有する。

また、本発明(請求項6)は、変換誤差算出手段121において、
入力された透かしパターンの画素値を色変換し、色変換された値を量子化し、量子化した値を入力された透かしパターンと同じ色空間に色変換し、入力された透かしパターンの画素値と色変換された透かしパターンの画素値との差分を変換誤差とする手段を含む。
また、本発明(請求項7)は、変換誤差算出手段121において、
色成分毎に異なるブロックサイズで誤差を算出する手段を含む。
また、本発明(請求項8)は、変換誤差拡散手段122において、
変換誤差算出手段121で算出された変換誤差を、色成分毎に異なるブロックサイズで拡散させる手段を含む。
本発明(請求項9)は、請求項5乃至8のいずれか1項に記載の電子透かし埋め込み装置を構成する各手段としてコンピュータを機能させるための電子透かし埋め込みプログラムである。
上述のように、本発明によれば、微小な信号を色変換する場合に生じる意図しない輝度や色の変化を抑えつつ、透かし強度と画質劣化の関係が逆転することなく適切に制御可能な電子透かし埋め込み処理を実現することができる。
また、本発明においては、入力透かしパターンを色変換し、再度色変換によって画像を戻した場合の画素値の誤差を、周辺画素へ誤差拡散することにより、画像全体をマクロに見た場合の画質の改善を図ることができる。
また、透かしパターンの変換誤差を周辺画素へ割り振ることから、画像全体をマクロに見る場合には、埋め込み強度によって画質劣化と耐性のトレードオフを意図した通りに制御することが可能である。
さらに、誤差拡散方法させ規定しておけば事前のパラメータ設定などが不要であるため、極めて簡便な実装が可能である。
以下、図面と共に本発明の実施の形態を説明する。
まず、本発明の概要を説明する。
電子透かし技術によって副情報を画像に埋め込むには、視覚的に感度の高い輝度情報Yよりも感度の低い色差情報Cb、Crに、副情報から生成した透かしパターンを重畳させることが有効であることが知られている。しかし、埋め込む画像がRGBの3色である場合、色差情報Cb、Crのみに透かしパターンを入れようとしても、RGB画像のRGBの各階調が離散的であるため、透かしパターンをY、Cb、CrからRGBに変換して量子化する際に、量子化誤差が発生し、結果的に輝度情報Yにも変動を与えてしまう。そこで、本発明では、発生した誤差を誤差拡散法を用いて透かしパターン上に拡散した透かしパターンを作り、その透かしパターンをY、Cb、CrからRGBに変換して画像を重畳する。
図3は、本発明の一実施の形態における電子透かし埋め込み装置の構成を示す。
同図に示す電子透かし埋め込み装置100は、透かしパターン生成部110、透かしパターン変更部120、透かしパターン重畳部130から構成される。
透かしパターン生成部110は、透かし情報が入力されると、画像と同じサイズの透かしパターンを透かしパターン変更部120に出力する。
透かしパターン変更部120は、後述する方法で量子化誤差を拡散した透かしパターンの強度を変更し、変更済み透かしパターンを透かしパターン重畳部130に出力する。
透かしパターン重畳部130は、変更済み透かしパターンを画像に重畳して透かし入り画像を出力する。
図4は、本発明の一実施の形態における透かしパターン変更部の構成を示す。
透かしパターン変更部120は、変換誤差算出部121、変換誤差拡散部122から構成される。
変換誤差算出部121は、透かしパターンに対して、透かしパターンの表色系から画像の表色系への色変換と、量子化と、画像の表色系から透かしパターンの表色系への色変換を行うことによって得られた透かしパターンと、元の透かしパターンの差である変換誤差を計算して出力する。
変換誤差拡散部122は、変換誤差と、元の透かしパターンが入力されると、変換誤差を元の透かしパターンの各画素毎に、その画素の周辺画素の色と、その画素における変換誤差に周辺画素に応じた重みを乗じたものに加算することにより、誤差拡散を行うことによって、変換済み透かしパターンを算出して出力する。
図5は、本発明の一実施の形態における電子透かし埋め込み装置の処理のフローチャートである。
ステップ110) 透かしパターン生成部110において、透かし情報が入力されると、当該透かし情報の原画像への電子透かし埋め込みによって当該原画像に与える画素値の変更量を表す透かしパターンを生成する。
ステップ120) 透かしパターン変更部120において、出力される変更済み透かしパターンをマクロに見た場合に入力された透かしパターンの原画像への重畳の際に生じる量子化による透かし埋め込み対象色成分の誤差が少なくなるように、入力された透かしパターンを変更して変更済み透かしパターンを生成する。
ステップ130) 透かしパターン重畳部130において、外部から原画像が入力され、また、透かしパターン変更部120から変更済み透かしパターンが入力されると、変更済み透かしパターンを原画像に重畳し、透かし入り画像を生成し、出力する。
次に、上記のステップ120の透かしパターン変更部の処理について説明する。
YCbCr色空間では、Y成分は輝度成分を表し、画像の全ての画像をサンプリングしている。一方、Cb、Cr成分は色差成分であり、そのフォーマットによってx方向、y方向のサンプリング数が異なる。ここで、Cb、Cr成分のx方向、y方向のサンプリング間隔をSx、Syとする。一般的に用いられるYCbCr色空間のフォーマットでは、Cb成分でのx、y方向のサンプリング数と、Cr成分でのx、y方向のサンプリング数では同一である。図6に、一般的なYcbCr色空間のサンプリング比率とその画像例について示す。例えば、YUV420なら、Y成分が2×2ブロックのサンプリングを行うときに、Cb、Cr成分は1×1ブロック分のサンプリングを行うため、Sx=2、Sy=2となる。
図7は、本発明の一実施の形態における透かしパターン変更部の処理のフローチャートである。
ステップ121) 透かしパターン変更部120は、入力透かしパターンをCb、Cr成分に応じたSx×Syサイズのブロック単位でラスタースキャンする。
ステップ122) Cb、Cr成分は注目ブロック自体か注目画素となる。
ステップ123) 透かしパターン変更部120は、各ブロック内でラスタースキャン順にY成分の注目画素を更新する。このとき、Cb、Cr成分は現在の注目ブロック自体が注目画素となる。
ステップ124) 透かしパターン変更部120の変換誤差算出部121は、ブロック内でのY成分のスキャン順にY成分の変換誤差を算出する。
ステップ125) Y成分の誤差を隣接画素のY成分に拡散する。
ステップ126) ブロック内の全てのY成分画素について処理を行った場合はステップ127に移行し、すべてのY成分画素に対して処理が終了していない場合は、ステップ123に戻る。
ステップ127) 変換誤差算出部121は、ブロックの変換誤差を算出する。
変換誤差の算出方法をYUV444(Sx=1、Sy=1)の場合について、図8に示す。ここで、YUV444のとき、ブロックサイズは1×1となるため、実際はCb、Cr成分を分けて考える必要はなく、図8に示すように同時に扱うこととなる。また、図9は、本発明の一実施の形態における変換誤差算出部の処理のフローチャートである。
図8に示す四角で囲った中の数字と以下の括弧内の数字及び図9のフローチャートの括弧内の数字は対応するものとする。
まず、変換誤差算出部121は、実数値で表現されるYCbCrの各画素値を前述の(式1)を用いて実数値のRGBへ変換し(1)、次に、この実数値を整数値へ丸める(2)。その後整数値悪RGB画素値を(式2)により実数値のY'Cb'Cr'へと再変換する(3)。ここで入力された透かしパターンの画素値YCbCrと再変換された画素値Y'Cb'Cr'の値は異なり、その差分を色変換による変換誤差E(E,ECb,ECy)=(Y−Y',Cb−Cb',Cr−Cr')とする(4)。
ステップ128) 変換誤差拡散部122は、変換誤差算出部121からこの変換誤差Eを取得し、注目画素の周辺画素へその誤差を拡散させる。図8では、注目画素の右、左下、下、右下側へそれぞれ7/16,3/16,5/16,1/16倍の重み付けをして誤差を拡散するFloyd-Steinbergの方法により誤差拡散を行っているが、Stuki、Sierra、JajuNiの方法など様々な方法を用いることが考えられる。
一方、SxまたはSyのどちらかが1より大きい場合は、Y成分とCb,Cr成分を分けて扱う必要がある。図10に、YUV420(Sx=2、Sy=2)の場合について示す。
現在の注目ブロック内でY成分をラスタースキャンした順番にY成分の変換誤差を求める。このとき、Cb,Cr成分の値は、注目ブロック内で同一の値を用い、処理は、図8、図9の(1)〜(4)と同一である。ブロック内でY成分の誤差を全て拡散した後に、Cb,Cr成分の誤差の算出時には、ブロック内のY成分の平均値を用いる方法などが考えられる。
この場合の誤差拡散方法として、画素スキャンの進行方向に対して斜め後ろ側の画素に誤差を拡散させる方法を用いると問題が生じる。例えば、Floyd-Steinbergの方法では、注目画素の左下側の画素への拡散が必要になるが、2×2のブロック内の右下の画素に対しては右隣のブロックの左上画素からの誤差が拡散される必要がある。しかし、Cb,Cr成分のブロック単位で処理しているため、注目ブロックの誤差拡散処理が終了した後に画素からの拡散処理を更に受けることとなり、意図しない誤差が蓄積されてしまうという問題がある。
こういった問題が生じるのは、Sy≧2の場合であるため、YUV420やYUV410の時は、注目画素の右、下、右下側の三方向へのみ誤差を拡散させるといった、注目画素の斜め後ろ側へは誤差を拡散させない誤差拡散方法を用いることが考えられる。
ステップ129) 全ての画素について処理が終了すれば当該処理を終了し、終了していなければステップ121移行する。
また、上記の実施の形態において、Cb成分への電子透かし埋め込みについて説明したが、勿論Cr成分でも構わないし、他の表示系であっても色成分毎にブロックサイズを変更し、誤差の算出、拡散を行えば適用可能である。
また、上記の実施の形態では、静止画像への電子透かしについて説明したが、非特許文献1のような動画像への電子透かしを考えた場合は、動画像の各フレーム画像またはフィールド画像を静止画像とみなして、本発明を適用することにより動画像においても実現可能である。
なお、本発明は、上記の電子透かし方法の例への適用のみに限定されるものではない。例えば、非特許文献1のように、動画像の各フレームに対して透かしを埋め込むものであったり、あるいは、非特許文献2のように透かしのパターンがブロックではなくテクスチャ上のものであったりしても構わない。
さらに、上記の実施の形態では、画質劣化を避けるためYCbCr表色系のCb成分に埋め込みを行うようにしているが、これをCr成分としたり、別の表色系のいずれかの成分とするなど任意に選択可能である。
上記の実施の形態における電子透かし埋め込み装置100の各構成要素の動作をプログラムとして構築し、電子透かし埋め込み装置として利用されるコンピュータにインストールする、または、ネットワークを流通させることが可能である。
また、構築されたプログラムをハードディスクや、フレキシブルディスク・CD−ROM等の可搬記憶媒体に格納し、コンピュータにインストールする、または、配布することが可能である。
なお、本発明は、上記の実施の形態に限定されることなく、特許請求の範囲内において種々変更・応用が可能である。
本発明は、静止画・動画像に対する電子透かし埋め込み技術に適用可能である。
本発明の原理を説明するための図である。 本発明の原理構成図である。 本発明の一実施の形態における電子透かし埋め込み装置の構成図である。 本発明の一実施の形態における透かしパターン変更部の構成図である。 本発明の一実施の形態における電子透かし埋め込み装置の処理のフローチャートである。 一般的なYCbCr色空間毎のサンプリング比率と画像例である。 本発明の一実施の形態における透かしパターン変更部の処理のフローチャートである。 本発明の一実施の形態における変換誤差算出部と誤差拡散部の処理を説明するための図である。 本発明の一実施の形態における変換誤差算出部の処理のフローチャートである。 本発明の一実施の形態における変換誤差算出部と誤差拡散部の処理を説明するための図である。
符号の説明
100 電子透かし埋め込み装置
110 透かしパターン生成手段、透かしパターン生成部
120 透かしパターン変更部
121 変換誤差算出手段、変換誤差算出部
122 変換誤差拡散手段、変換誤差拡散部
130 透かしパターン重畳手段、透かしパターン重畳部

Claims (10)

  1. カラー画像に電子透かしを埋め込む電子透かし埋め込み方法であって、
    透かしパターン生成手段において、透かし情報が入力されると、該透かし情報の原画像への電子透かし埋め込みによって該原画像に与えられる画素値の変更量を表す透かしパターンを生成する透かしパターン生成ステップと、
    透かしパターン変更手段の変換誤差算出手段において、前記透かしパターンの色変換による変換誤差を算出する変換誤差算出ステップと、
    前記透かしパターン変更手段の変換誤差拡散手段において、前記変換誤差を前記透かしパターンの各画素の周辺画素に対し重み付けを行って拡散し、変換済み透かしパターンを生成する変換誤差拡散ステップと、
    透かしパターン重畳手段において、前記変更済み透かしパターンを入力された前記原画像に重畳して透かし入り画像を出力する透かしパターン重量ステップと、
    を行うことを特徴とする電子透かし埋め込み方法。
  2. 前記変換誤差算出ステップにおいて、
    入力された前記透かしパターンの画素値を色変換し、
    色変換された値を量子化し、
    量子化した値を入力された前記透かしパターンと同じ色空間に色変換し、
    入力された前記透かしパターンの画素値と色変換された透かしパターンの画素値との差分を変換誤差とする
    請求項1記載の電子透かし埋め込み方法。
  3. 前記変換誤差算出ステップにおいて、
    色成分毎に異なるブロックサイズで誤差を算出する
    請求項2記載の電子透かし埋め込み方法。
  4. 前記変換誤差拡散ステップにおいて、
    前記変換誤差算出ステップで算出された前記変換誤差を、色成分毎に異なるブロックサイズで拡散させる
    請求項1記載の電子透かし埋め込み方法。
  5. カラー画像に電子透かしを埋め込む電子透かし埋め込み装置であって、
    透かし情報が入力されると、該透かし情報の原画像への電子透かし埋め込みによって該原画像に与えられる画素値の変更量を表す透かしパターンを生成する透かしパターン生成手段と、
    前記透かしパターンの色変換による変換誤差を算出する変換誤差算出手段と、
    前記変換誤差を前記透かしパターンの各画素の周辺画素に対し重み付けを行って拡散し、変換済み透かしパターンを生成する変換誤差拡散手段と、
    前記変更済み透かしパターンを入力された前記原画像に重畳して透かし入り画像を出力する透かしパターン重量手段と、
    を有することを特徴とする電子透かし埋め込み装置。
  6. 前記変換誤差算出手段は、
    入力された前記透かしパターンの画素値を色変換し、色変換された値を量子化し、量子化した値を入力された前記透かしパターンと同じ色空間に色変換し、入力された前記透かしパターンの画素値と色変換された透かしパターンの画素値との差分を変換誤差とする手段を含む請求項5記載の電子透かし埋め込み装置。
  7. 前記変換誤差算出手段は、
    色成分毎に異なるブロックサイズで誤差を算出する手段を含む
    請求項6記載の電子透かし埋め込み装置。
  8. 前記変換誤差拡散手段は、
    前記変換誤差算出手段で算出された前記変換誤差を、色成分毎に異なるブロックサイズで拡散させる手段を含む
    請求項5記載の電子透かし埋め込み装置。
  9. 請求項5乃至8のいずれか1項に記載の電子透かし埋め込み装置を構成する各手段としてコンピュータを機能させるための電子透かし埋め込みプログラム。
  10. 請求項9記載の電子透かし埋め込みプログラムを格納したことを特徴とするコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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