JP4527456B2 - メモリ寿命警告装置、および情報処理方法 - Google Patents
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Description
前記半導体メモリを装着するためのアダプタ部と、
書き込み寿命である旨を表示するための表示部と、
前記半導体メモリの使用状況に対応して該半導体メモリの書き込み命令限界回数を算定するとともに、該情報処理装置から該半導体メモリへの書き込み命令の回数をカウントする命令計数回路と、
前記書き込み命令限界回数を保持するための記憶部と、
前記書き込み命令の回数と前記書き込み命令限界回数とを比較し、該書き込み命令の回数が該書き込み命令限界回数を越えると、前記表示部に書き込み寿命である旨を表示させる比較部と、を有し、
前記命令計数回路は、
前記書き込み命令の回数と該書き込み命令毎の書き込みセクタ数とを所定の期間計測した後、該書き込みセクタ数の和を該書き込み命令の回数で割ることで一回あたりの書き込み時におけるセクタ数である平均セクタ数を算出し、該半導体メモリの全セクタの書き込み可能回数を該平均セクタ数で割った値を前記書き込み命令限界回数とする構成である。
前記半導体メモリの使用状況に対応して該半導体メモリの書き込み命令限界回数を算定し、
前記書き込み命令限界回数を前記記憶部に保持し、
前記情報処理装置から半導体メモリへの書き込み命令の回数をカウントし、
前記書き込み命令の回数と前記書き込み命令限界回数とを比較し、
前記書き込み命令の回数が前記書き込み命令限界回数を越えると、前記表示部に該書き込み寿命である旨を表示させるものであり、
前記書き込み命令限界回数の算定方法は、
前記書き込み命令の回数と該書き込み命令毎の書き込みセクタ数とを所定の期間計測した後、
前記所定の期間における前記書き込みセクタ数の和を前記書き込み命令の回数で割ることで、一回あたりの書き込み時におけるセクタ数である平均セクタ数を算出し、
その後、前記半導体メモリの全セクタの書き込み可能回数を前記平均セクタ数で割った値を前記書き込み命令限界回数とするものである。
3×8+220×16+660×32+770×48+82×64+23×80+9×96+7×112+5×128 = 71000 (セクタ)となる。
71000÷1777 = 39.95 セクタ/回≒ 40 セクタ/回となる。
1000セクタ×10万回=1億セクタ・回となる。このことから、1億セクタ・回の延べ書き込み回数があることになる。
1億÷40=250万回書き込み命令となり、書き込み命令限界回数Nを250万回と算定することができる。この値Nを図1の限界回数記憶部13に入力する。
N=(V×T)/(M/S)となる。
12 書き込み命令回数計数回路
13 書き込み命令限界回数記憶部
14 (N,n)比較部
15 寿命判定表示部
20 フラッシュメモリカード
30 コンピュータ
Claims (3)
- 情報処理装置に用いられる半導体メモリについての書き込み寿命を通知するためのメモリ寿命警告装置であって、
前記半導体メモリを装着するためのアダプタ部と、
書き込み寿命である旨を表示するための表示部と、
前記半導体メモリの使用状況に対応して該半導体メモリの書き込み命令限界回数を算定するとともに、該情報処理装置から該半導体メモリへの書き込み命令の回数をカウントする命令計数回路と、
前記書き込み命令限界回数を保持するための記憶部と、
前記書き込み命令の回数と前記書き込み命令限界回数とを比較し、該書き込み命令の回数が該書き込み命令限界回数を越えると、前記表示部に書き込み寿命である旨を表示させる比較部と、を有し、
前記命令計数回路は、
前記書き込み命令の回数と該書き込み命令毎の書き込みセクタ数とを所定の期間計測した後、該書き込みセクタ数の和を該書き込み命令の回数で割ることで一回あたりの書き込み時におけるセクタ数である平均セクタ数を算出し、該半導体メモリの全セクタの書き込み可能回数を該平均セクタ数で割った値を前記書き込み命令限界回数とする、メモリ寿命警告装置。 - 前記記憶部は、前記半導体メモリを含むメモリモジュールの識別子と、前記書き込み命令の回数を保持する請求項1記載のメモリ寿命警告装置。
- 情報処理装置に用いられる半導体メモリについての書き込み寿命を通知するための、記憶部および表示部を備えたメモリ寿命警告装置による情報処理方法であって、
前記半導体メモリの使用状況に対応して該半導体メモリの書き込み命令限界回数を算定し、
前記書き込み命令限界回数を前記記憶部に保持し、
前記情報処理装置から半導体メモリへの書き込み命令の回数をカウントし、
前記書き込み命令の回数と前記書き込み命令限界回数とを比較し、
前記書き込み命令の回数が前記書き込み命令限界回数を越えると、前記表示部に該書き込み寿命である旨を表示させるものであり、
前記書き込み命令限界回数の算定方法は、
前記書き込み命令の回数と該書き込み命令毎の書き込みセクタ数とを所定の期間計測した後、
前記所定の期間における前記書き込みセクタ数の和を前記書き込み命令の回数で割ることで、一回あたりの書き込み時におけるセクタ数である平均セクタ数を算出し、
その後、前記半導体メモリの全セクタの書き込み可能回数を前記平均セクタ数で割った値を前記書き込み命令限界回数とするものである、情報処理方法。
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