JP3695971B2 - 成膜装置および成膜方法 - Google Patents
成膜装置および成膜方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP3695971B2 JP3695971B2 JP36531098A JP36531098A JP3695971B2 JP 3695971 B2 JP3695971 B2 JP 3695971B2 JP 36531098 A JP36531098 A JP 36531098A JP 36531098 A JP36531098 A JP 36531098A JP 3695971 B2 JP3695971 B2 JP 3695971B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- chamber
- mounting surface
- film formation
- shaft member
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68764—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by a movable susceptor, stage or support, others than those only rotating on their own vertical axis, e.g. susceptors on a rotating caroussel
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/683—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
- H01L21/687—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches
- H01L21/68714—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support
- H01L21/68778—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using mechanical means, e.g. chucks, clamps or pinches the wafers being placed on a susceptor, stage or support characterised by supporting substrates others than wafers, e.g. chips
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、トランジスタなどの半導体装置および液晶表示装置を製造するための被成膜基板の支持機構を備える成膜装置および成膜方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
特開平8−107076には、支持したウエハの表面に薄膜を形成するCVD(Chemical Vaper Deposition)装置が記載されている。このCVD装置では、ウエハの支持機構としてサセプタを使用している。先ず、サセプタの載置面を水平に保持した状態で、その上で最上昇位置にあるウエハリフトピンの上端に、ロボットによって搬送してきたウエハを載置する。次に、ウエハリフトピンを最下降位置とし、前記載置面上にウエハを載置する。その後、サセプタを水平軸線まわりに回動させて、前記載置面が鉛直になるようにし、その状態で、ウエハ上に薄膜を形成する。前記載置面には、ウエハチャックピンが固定されている。ウエハチャックピンは、前記載置面が鉛直姿勢であるとき、ウエハの端面を下方から支持して、ウエハを載置面に支持し、サセプタの回動によるウエハの鉛直時の落下を防止している。
成膜後のサセプタは、再び回動して載置面を水平に戻す。この状態で、ウエハリフトピンを再び最上昇位置にして、ウエハをリフトアップさせ、ロボットによって搬出する。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
上記特開平8−107076のCVD装置では、薄膜が形成されるときに、ウエハ上に薄膜が形成されるとともに、ウエハチャックピンの表面にも薄膜が付着し、したがって薄膜は、ウエハの表面とウエハチャックピンの表面とにわたって連なって形成される。このような状態で、成膜後、ウエハをロボットによる搬出のために、サセプタの載置面上からリフトアップさせると、このリフトアップ時、ウエハチャックピンに付着した薄膜によってウエハ上の薄膜が引かれて、ウエハ上の薄膜がウエハから剥離してしまう。さらにウエハに、割れや欠けなどを形成してしまうことがある。
【0004】
本発明の目的は、被成膜基板およびその上に形成された薄膜を傷つけることなく被成膜基板を搬出できる被成膜基板の支持機構を備える成膜装置および成膜方法を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、(a)第1チャンバと、弁と、基板を成膜する第2チャンバとが、この順序で設けられ、
(b)第2チャンバを排気する排気管が設けられ、
(c)第1チャンバには、ロボットが収納され、
このロボットは、
アームを有し、
前記弁の開閉および前記排気管による排気の各動作と関連して、
基板を受け取り、第1チャンバを経て第2チャンバに搬送し、第2チャンバ内の成膜後の基板を、第1チャンバに戻し、
(d)第2チャンバには、支持機構が収納され、
この支持機構は、
(d1)基板を乗載する平坦な乗載面を有する矩形の板状に形成されるステージと、
(d2)ステージに連結される一対のリンク部材と、
(d3)軸部材であって、
一対のリンク部材に連結され、水平な第1方向Xに延び、
その第1方向Xのまわりに回動して、
乗載面が水平となって基板がロボットのアームによって乗載面に乗載されかつ成膜後に戻る乗載位置と、
乗載面が鉛直となって基板に成膜される成膜位置とに、
回動可能である軸部材と、
(d4)乗載面の端部に、乗載面から上方に突出し、円柱状を成し、基板の端面に接触してその端面を成膜位置で下方から支持する一対の支持ピンと、
(d5)アクチュエータであって、
支持ピンに連結され、
支持ピンを、前記第1方向Xに垂直な第2方向Yに沿って軸部材に近づく向きと、軸部材から遠ざかる向きとに移動可能であり、
基板の成膜後に、乗載面が鉛直である成膜位置から水平に戻った乗載位置で、支持ピンを、第2方向Yに周期的な振動運動して、基板の端面から支持ピンを引き離すアクチュエータとを有することを特徴とする成膜装置である。
【0006】
本発明に従えば、成膜時に被成膜基板Mの端面を支持する一対の支持ピン23,24が可動であるので、成膜が終了した後で基板Mを搬出する前に、乗載面21aが水平な乗載位置で、支持ピン23,24を第2方向Yに動かすことによって、基板M上に形成された薄膜の剥離および基板Mの割れ、欠けを防止することができる。
【0007】
【0008】
【0009】
支持ピンの移動方向である第2方向Yは、軸部材22に近づくまたは遠ざかる方向であるので、支持ピン23,24の移動に伴って支持ピン23,24が基板Mの端面と摩擦することを防止できる。よって、摩擦によって発生するダストが、薄膜に含有されてしまうことを防止することができ、ウエハ上の薄膜の品質を向上することができる。
【0011】
また本発明は、第1チャンバに収納されたロボットのアームによって、基板を、第1チャンバと第2チャンバとの間に設けられている弁を開いて、第2チャンバに搬入し、
第2チャンバには、支持機構が収納され、
この支持機構は、
(a1)基板を乗載する平坦な乗載面を有する矩形の板状に形成されるステージと、
(a2)ステージに連結される一対のリンク部材と、
(a3)軸部材であって、
一対のリンク部材に連結され、水平な第1方向Xに延び、
その第1方向Xのまわりに回動して、
乗載面が水平となって基板がロボットのアームによって乗載面に乗載されかつ成膜後に戻る乗載位置と、
乗載面が鉛直となって基板に成膜される成膜位置とに、
回動可能である軸部材と、
(a4)乗載面の端部に、乗載面から上方に突出し、円柱状を成し、基板の端面に接触してその端面を成膜位置で下方から支持する一対の支持ピンと、
(a5)アクチュエータであって、
支持ピンに連結され、
支持ピンを、前記第1方向Xに垂直な第2方向Yに沿って軸部材に近づく向きと、軸部材から遠ざかる向きとに移動可能であり、
基板の成膜後に、乗載面が鉛直である成膜位置から水平に戻った乗載位置で、支持ピンを、第2方向Yに周期的な振動運動して、基板の端面から支持ピンを引き離すアクチュエータとを有し、
アームによって基板を、ステージの乗載位置にある水平な乗載面上に乗載し、
軸部材を回動して乗載面が鉛直となる成膜位置にし、基板の端面を下方から、一対の支持ピンで支持して、成膜し、この成膜時、前記弁を閉じ、排気管による排気を行った状態であり、
基板の成膜後に、乗載面を水平な乗載位置に戻し、
この乗載位置で、アクチュエータによって、支持ピンを、第2方向Yに沿って移動させて、基板の端面から支持ピンを引き離し、
前記弁を開き、前記アームによって基板を、第2チャンバから搬出することを特徴とする成膜方法である。
【0012】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の一実施形態である成膜装置10を示す図である。成膜装置10は、密閉可能なロードロックチャンバ11、トランスポートチャンバ12および成膜チャンバ13から成る。ロードロックチャンバ11は、成膜するための基板Mを搬入するための通路である。トランスポートチャンバ12は、ロードロックチャンバ11に連結されており、真空中で基板Mを搬送するための真空ロボット14を有する。成膜チャンバ13は、トランスポートチャンバ12に連結されており、基板Mを支持するための支持機構20を有している。
【0013】
ロードロックチャンバ11およびトランスポートチャンバ12の間には仕切弁15が設けられ、トランスポートチャンバ12および成膜チャンバ13の間には仕切弁16が設けられる。トランスポートチャンバ12および成膜チャンバ13には、それぞれ排気管17,18が設けられている。
【0014】
成膜装置10では、まずロードロックチャンバ11の一端からその内部に基板Mを入れて、ロードロックチャンバ11、トランスポートチャンバ12および成膜チャンバ13を密閉する。さらに仕切弁15,16を閉じ、排気管17,18を通じて排気することによって、トランスポートチャンバ12および成膜チャンバ13を真空にする。
【0015】
ロードロックチャンバ11内の基板Mが仕切弁15まで搬送されると、仕切弁15が開けられる。トランスポートチャンバ12内の真空ロボット14は、アーム14aを延ばして基板Mを受け取り、仕切弁16まで基板Mを搬送する。真空ロボット14が基板Mを受け取ると、仕切弁15は閉じられる。仕切弁16まで基板Mが搬送されると、排気管17からの排気によって再びトランスポートチャンバ12内が真空になるまで待った後、仕切弁16が開けられ、真空ロボット14は再びアーム14aを延ばして、成膜チャンバ13内の支持機構20に基板Mを渡す。基板Mが渡されると、仕切弁16は閉じられる。
【0016】
成膜チャンバ13内で成膜が完了した後、基板Mは逆の経路を辿って送り戻され、ロードロックチャンバ11から取り出される。
【0017】
図2は、成膜装置10の支持機構20を示す斜視図であり、図3は、その側面図である。支持機構20は、ステージ21、軸部材22および支持ピン23,24などを備える。ステージ21は、矩形の板状の部材で構成され、搬送された基板Mを乗載するための平坦な乗載面21aを有している。ステージ21の隣接する2辺に平行な方向をX方向およびY方向とする。
【0018】
軸部材22は、ステージ21の端面21bに対向してステージ21から所定の距離だけ離れて配置され、水平なX方向に延びている。ステージ21と軸部材22とは、一対のリンク部材25,26によって連結されている。軸部材22は、その軸回りのΩ方向に回動可能であり、成膜が終了した基板Mを真空ロボット14が搬出してから、真空ロボット14より次の基板Mを受け取るまで待機しているときには、ステージ21を水平に支持する。以下、ステージ21が水平に支持された位置を乗載位置と呼ぶ。成膜を行うときは、軸部材22が回動して、乗載面21aが鉛直方向に平行またはほぼ平行となる成膜位置まで、ステージ21が移動する。
【0019】
乗載面21aの端部には、乗載面21aから上方に突出するように一対の支持ピン23,24が設けられている。軸部材22の回動によってステージ21が成膜位置まで引き上げられても、支持ピン23,24が基板Mの端面を下方から支持することができる。このように、基板Mを鉛直方向またはほぼ鉛直方向に平行に支持した状態で成膜を行うことによって、パーティクルなどが形成された薄膜上に落下することを防止できる。
【0020】
また支持ピン23,24は、円柱状を成し、基板Mの端面との接触面積を小さくしている。これによって、基板M上に形成された薄膜が支持ピン23,24に付着しにくくなり、基板Mからの薄膜の剥離および基板Mの割れ、欠けなどを防止できる。
【0021】
また支持ピン23,24は、ともにアクチュエータ27に連結されており、Y方向すなわち軸部材22に近づくまたは遠ざかる方向に移動可能であり、成膜後に、基板Mおよびその上に形成された薄膜を傷つけることなく、基板Mの端面に接触する支持ピン23,24を引き離すことができる。支持ピン23,24の動きは、Y方向に沿って軸部材22に近づく向きに動くものでもよいし、その後に軸部材22から遠ざかる向きに動く往復運動でもよく、周期的な振動運動である。
【0022】
なお、上記の支持ピン23,24はアクチュエータ27によって連動するが、個別に専用のアクチュエータを設けて支持ピン23,24をそれぞれ独立に移動させてもよい。
【0023】
次に、図2の支持機構10による基板Mの支持方法を説明する。まず、基板Mを成膜チャンバ13内に搬入して、ステージ21に乗載する。次に、基板Mを乗載した乗載位置から、ステージ21の乗載面21aが鉛直またはほぼ鉛直になる成膜位置までステージ21を回動させる。これによって、支持ピン23,24は下方から基板Mの端面を支持する。
【0024】
成膜後に、ステージ21が成膜位置から再び乗載位置に戻るまでステージ21を回動させる。ステージ21が成膜位置から乗載位置に戻れば、アクチュエータ27を駆動して支持ピン23,24を移動させる。最後に、基板Mをリフトアップさせて成膜チャンバ13から搬出する。
【0025】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、支持ピン23,24を第2方向Yに可動とすることによって、被成膜基板M上に形成された薄膜の剥離および被成膜基板の割れ、欠けを防止することができる。
【0026】
支持ピン23,24の移動方向である前述の第2方向Yを軸部材に近づくまたは遠ざかる方向とすることによって、支持ピン23,24と基板Mの端面との摩擦を防止でき、ダストが薄膜に含有されてしまうことを防止することができ、ウエハ上の薄膜の品質を向上することができる。
【0027】
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態である成膜装置10を示す図である。
【図2】 成膜装置10の支持機構20を示す斜視図である。
【図3】 成膜装置10の支持機構20を示す側面図である。
【符号の説明】
10 成膜装置
20 支持機構
21 ステージ
21a 乗載面
22 軸部材
23,24 支持ピン
25,26 リンク部材
27 アクチュエータ
M 基板
X,Y,Ω 方向
Claims (2)
- (a)第1チャンバと、弁と、基板を成膜する第2チャンバとが、この順序で設けられ、
(b)第2チャンバを排気する排気管が設けられ、
(c)第1チャンバには、ロボットが収納され、
このロボットは、
アームを有し、
前記弁の開閉および前記排気管による排気の各動作と関連して、
基板を受け取り、第1チャンバを経て第2チャンバに搬送し、第2チャンバ内の成膜後の基板を、第1チャンバに戻し、
(d)第2チャンバには、支持機構が収納され、
この支持機構は、
(d1)基板を乗載する平坦な乗載面を有する矩形の板状に形成されるステージと、
(d2)ステージに連結される一対のリンク部材と、
(d3)軸部材であって、
一対のリンク部材に連結され、水平な第1方向Xに延び、
その第1方向Xのまわりに回動して、
乗載面が水平となって基板がロボットのアームによって乗載面に乗載されかつ成膜後に戻る乗載位置と、
乗載面が鉛直となって基板に成膜される成膜位置とに、
回動可能である軸部材と、
(d4)乗載面の端部に、乗載面から上方に突出し、円柱状を成し、基板の端面に接触してその端面を成膜位置で下方から支持する一対の支持ピンと、
(d5)アクチュエータであって、
支持ピンに連結され、
支持ピンを、前記第1方向Xに垂直な第2方向Yに沿って軸部材に近づく向きと、軸部材から遠ざかる向きとに移動可能であり、
基板の成膜後に、乗載面が鉛直である成膜位置から水平に戻った乗載位置で、支持ピンを、第2方向Yに周期的な振動運動して、基板の端面から支持ピンを引き離すアクチュエータとを有することを特徴とする成膜装置。 - 第1チャンバに収納されたロボットのアームによって、基板を、第1チャンバと第2チャンバとの間に設けられている弁を開いて、第2チャンバに搬入し、
第2チャンバには、支持機構が収納され、
この支持機構は、
(a1)基板を乗載する平坦な乗載面を有する矩形の板状に形成されるステージと、
(a2)ステージに連結される一対のリンク部材と、
(a3)軸部材であって、
一対のリンク部材に連結され、水平な第1方向Xに延び、
その第1方向Xのまわりに回動して、
乗載面が水平となって基板がロボットのアームによって乗載面に乗載されかつ成膜後に戻る乗載位置と、
乗載面が鉛直となって基板に成膜される成膜位置とに、
回動可能である軸部材と、
(a4)乗載面の端部に、乗載面から上方に突出し、円柱状を成し、基板の端面に接触してその端面を成膜位置で下方から支持する一対の支持ピンと、
(a5)アクチュエータであって、
支持ピンに連結され、
支持ピンを、前記第1方向Xに垂直な第2方向Yに沿って軸部材に近づく向きと、軸部材から遠ざかる向きとに移動可能であり、
基板の成膜後に、乗載面が鉛直である成膜位置から水平に戻った乗載位置で、支持ピン を、第2方向Yに周期的な振動運動して、基板の端面から支持ピンを引き離すアクチュエータとを有し、
アームによって基板を、ステージの乗載位置にある水平な乗載面上に乗載し、
軸部材を回動して乗載面が鉛直となる成膜位置にし、基板の端面を下方から、一対の支持ピンで支持して、成膜し、この成膜時、前記弁を閉じ、排気管による排気を行った状態であり、
基板の成膜後に、乗載面を水平な乗載位置に戻し、
この乗載位置で、アクチュエータによって、支持ピンを、第2方向Yに沿って移動させて、基板の端面から支持ピンを引き離し、
前記弁を開き、前記アームによって基板を、第2チャンバから搬出することを特徴とする成膜方法。
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36531098A JP3695971B2 (ja) | 1998-12-22 | 1998-12-22 | 成膜装置および成膜方法 |
TW088122250A TW457615B (en) | 1998-12-22 | 1999-12-17 | Mechanism and method for supporting substrate to be coated with film |
DE69938120T DE69938120T2 (de) | 1998-12-22 | 1999-12-20 | Mechanismus und Verfahren zum Halten eines mit einer Schicht zu bedeckenden Substrates |
EP99125447A EP1014425B1 (en) | 1998-12-22 | 1999-12-20 | Mechanism and method for supporting substrate to be coated with film |
KR1019990060118A KR100355484B1 (ko) | 1998-12-22 | 1999-12-22 | 막으로 코팅된 기판을 지지하기 위한 기구 및 방법 |
US09/470,615 US20030172874A1 (en) | 1998-12-22 | 1999-12-22 | Mechanism and method for supporting substrate to be coated with film |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36531098A JP3695971B2 (ja) | 1998-12-22 | 1998-12-22 | 成膜装置および成膜方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000188315A JP2000188315A (ja) | 2000-07-04 |
JP3695971B2 true JP3695971B2 (ja) | 2005-09-14 |
Family
ID=18483950
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36531098A Expired - Fee Related JP3695971B2 (ja) | 1998-12-22 | 1998-12-22 | 成膜装置および成膜方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20030172874A1 (ja) |
EP (1) | EP1014425B1 (ja) |
JP (1) | JP3695971B2 (ja) |
KR (1) | KR100355484B1 (ja) |
DE (1) | DE69938120T2 (ja) |
TW (1) | TW457615B (ja) |
Families Citing this family (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100819369B1 (ko) * | 2001-12-31 | 2008-04-04 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 노광용 척 |
JP4364196B2 (ja) | 2005-01-05 | 2009-11-11 | 三星モバイルディスプレイ株式會社 | トレイ用整列システム |
JP5171964B2 (ja) * | 2008-11-14 | 2013-03-27 | 株式会社アルバック | 有機薄膜蒸着装置、有機el素子製造装置、及び有機薄膜蒸着方法 |
KR101470883B1 (ko) * | 2008-12-29 | 2014-12-10 | 주식회사 케이씨텍 | 원자층 증착장치 |
JPWO2011024853A1 (ja) * | 2009-08-26 | 2013-01-31 | キヤノンアネルバ株式会社 | 成膜装置 |
US8898928B2 (en) * | 2012-10-11 | 2014-12-02 | Lam Research Corporation | Delamination drying apparatus and method |
CN104516131B (zh) | 2014-12-24 | 2018-02-13 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 一种贴膜治具 |
CN105172302A (zh) * | 2015-08-24 | 2015-12-23 | 苏州英多智能科技股份有限公司 | 翻转式真空贴合治具 |
US10573549B2 (en) | 2016-12-01 | 2020-02-25 | Lam Research Corporation | Pad raising mechanism in wafer positioning pedestal for semiconductor processing |
US9892956B1 (en) * | 2016-10-12 | 2018-02-13 | Lam Research Corporation | Wafer positioning pedestal for semiconductor processing |
US9960068B1 (en) | 2016-12-02 | 2018-05-01 | Lam Research Corporation | Moment cancelling pad raising mechanism in wafer positioning pedestal for semiconductor processing |
IT201700119768A1 (it) * | 2017-10-23 | 2019-04-23 | Incitec Production S R L | Dispositivo per l'accoppiamento di porzioni di materiale |
CN109850238A (zh) * | 2019-01-31 | 2019-06-07 | 武汉精毅通电子技术有限公司 | 显示面板贴膜装置 |
CN110203698B (zh) * | 2019-05-24 | 2021-11-09 | 上海提牛机电设备有限公司 | 一种方形件的搬运翻转装置 |
CN112117204B (zh) * | 2020-09-10 | 2022-10-14 | 安徽龙芯微科技有限公司 | 一种封装结构的制作方法 |
KR102340103B1 (ko) | 2021-09-01 | 2021-12-17 | (주)한테크 | 초박형 유리기판 이송장치 및 이송방법 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5840837A (ja) * | 1981-09-02 | 1983-03-09 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | クランプ装置 |
JPH08107076A (ja) * | 1994-10-06 | 1996-04-23 | Sony Corp | バッチ式減圧cvd装置 |
JP3288554B2 (ja) * | 1995-05-29 | 2002-06-04 | 株式会社日立製作所 | イオン注入装置及びイオン注入方法 |
JP3720515B2 (ja) * | 1997-03-13 | 2005-11-30 | キヤノン株式会社 | 基板処理装置及びその方法並びに基板の製造方法 |
-
1998
- 1998-12-22 JP JP36531098A patent/JP3695971B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-12-17 TW TW088122250A patent/TW457615B/zh not_active IP Right Cessation
- 1999-12-20 DE DE69938120T patent/DE69938120T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-12-20 EP EP99125447A patent/EP1014425B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-12-22 KR KR1019990060118A patent/KR100355484B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-12-22 US US09/470,615 patent/US20030172874A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE69938120T2 (de) | 2009-02-05 |
EP1014425B1 (en) | 2008-02-13 |
TW457615B (en) | 2001-10-01 |
EP1014425A1 (en) | 2000-06-28 |
DE69938120D1 (de) | 2008-03-27 |
JP2000188315A (ja) | 2000-07-04 |
US20030172874A1 (en) | 2003-09-18 |
KR100355484B1 (ko) | 2002-10-11 |
KR20000048313A (ko) | 2000-07-25 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP3695971B2 (ja) | 成膜装置および成膜方法 | |
JP4912253B2 (ja) | 基板搬送装置、基板処理装置及び基板搬送方法 | |
US5421889A (en) | Method and apparatus for inverting samples in a process | |
JP2008016815A (ja) | 基板搬送装置及びこの基板搬送装置を用いた基板処理設備 | |
JPH11288995A (ja) | 搬送システム及び処理装置 | |
JP2002324828A (ja) | 基板両面処理装置 | |
JP6945314B2 (ja) | 基板処理装置 | |
JP2002313886A (ja) | 基板搬送装置および基板搬送方法 | |
JP3462657B2 (ja) | 薄膜形成装置および薄膜形成方法 | |
WO2004030085A1 (ja) | 被処理体の搬送方法 | |
JP4683453B2 (ja) | 真空処理装置 | |
JP3632812B2 (ja) | 基板搬送移載装置 | |
KR101150088B1 (ko) | 로봇 장치와 이를 구비한 처리 장치, 애싱 처리 시스템 및 애싱 처리 방법 | |
JP2020038880A (ja) | 基板搬送機構、基板処理装置及び基板搬送方法 | |
JP4032778B2 (ja) | 板状部材の搬送装置 | |
JP2000133692A (ja) | 搬送装置 | |
JP4383636B2 (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
JPH03155619A (ja) | 真空処理装置 | |
JP3421358B2 (ja) | 搬送方法 | |
TW202238669A (zh) | 用於處理工具的主動夾持載具組件 | |
JP2000049215A (ja) | 処理システム | |
JPH03273606A (ja) | 半導体製造装置 | |
WO2018105427A1 (ja) | 基板上に膜を形成する方法、及び、成膜システム | |
JPH0529431A (ja) | 基板搬送用アーム | |
JPH06342783A (ja) | 基板ウェット処理装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040909 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20041026 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041215 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050215 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050317 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20050325 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20050621 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20050628 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080708 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090708 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100708 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110708 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110708 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120708 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120708 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130708 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |