JP3590557B2 - レベルシフタを有する半導体装置のデータ出力回路及びデータ出力方法、該データ出力回路を有する半導体装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術の分野】
本発明は、データ入出力回路に係るもので、特に半導体装置のデータ出力回路及びデータ出力方法、該データ出力回路を有する半導体装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体集積回路が益々複雑になるに従い、シリコンチップ上に集積されるCMOSトランジスタの個数も比例して増加する。電力の消耗を減らし動作速度を増加させるために、チップの内部に用いられる電源供給電圧は、例えば5Vから3.3V又は2,5V、或いはそれ以下に次第に低下されつつある。
【0003】
それで、通常の半導体メモリの集積回路チップには、外部の電源電圧を降下して内部の回路で必要とされる電圧を生成する内部電源電圧発生回路が設置されている。反対に、チップ外部のデバイスとのインターフェース及びチップ内部の特定のトランジスタに対する駆動能力を増加させるため、相対的に高い電圧も必要であるので、外部の電源電圧を昇圧してワードラインなどの必要な回路に前記昇圧された電圧を提供する昇圧回路も採用している。
【0004】
前記内部電源電圧発生回路を有する半導体装置においては、外部デバイスとの信号インターフェースのレベルを合わせるため、多様な種類の外部電源電圧レベルに応じて動作する出力回路を必要とする。前記半導体装置のデータ出力回路は、通常、出力バッファ、ハイインピーダンスコントロール回路、及び出力ドライバの外にも、内部電源電圧のレベルで生成された出力データを外部電圧のレベルに変換させて出力端に出力する電圧レベル変換用レベルシフタを備える。
【0005】
次いで、半導体装置のデータ出力回路において、出力バッファから出力される出力データ信号フェアは、ハイインピーダンスコントロール回路ブロックに印加されて、2次的な出力データ信号フェアとして生成される。次いで、生成した出力データ信号フェアはレベルシフタにより電圧変換された後、出力ドライバを通して外部に出力される最終的な出力データとして出力される。
【0006】
以下、従来のデータ出力回路を図3及び図4を用いて説明する。
【0007】
図3は、通常のデータ出力回路の概略的ブロック図で、出力バッファ10、HZ(ハイインピーダンス)コントロール部20、レベルシフタ30、出力ドライバ40の相互連結構成が図示されている。
【0008】
図中、出力バッファ10とHZコントロール部20は内部電源電圧VDDを受けて動作を行い、レベルシフタ30と出力ドライバ40は前記内部電源電圧VDDより高いレベルの動作電源電圧VDDQを受けて動作を行う。ここで、前記動作電源電圧VDDQは外部電源電圧とすることができ、場合によって約1.8V、2.5V、3.3V又は5Vのうちの1つとすることができる。
【0009】
このように構成されて、出力バッファ10から出力した出力データ信号対は、ハイインピーダンスコントロール部20に印加されて2次的な出力データ信号対として出力された後、レベルシフタ30に提供されて電圧変換される。次いで、前記電圧の変換した信号対は、出力ドライバ40に印加されて最終的な出力データを得るに用いられる。
【0010】
ところが、このような出力データの出力過程がいろんなブロックを通して長い経路を経るに従い、データ出力スピード及びハイインピーダンス遷移スピードが遅くなる。
【0011】
以下、図4を用いてデータ出力回路を詳しく説明する。
【0012】
前記出力バッファ10は、p及びnチャンネルMOSトランジスタMP1,MP2,MN1,MN2とインバータIN1とでなるクロックCMOSインバータと、出力端に入力端が互いに連結された構造のインバータIN2,IN3でなるラッチL1とから構成される。
【0013】
前記HZコントロール部20は、ハイインピーダンスコントロール信号HZの反転信号HZBをインバーティングするインバータIN4と、前記ラッチL1内のインバータIN2,IN3の各出力信号の出力データ信号対DATACB,DATACを一方の入力端で受信し、前記インバータIN4の出力を他方の入力端に入力して、それぞれNORゲーティングするNORゲートNOR1,NOR2とから構成される。
【0014】
前記レベルシフタ30は、前記NORゲートNOR1,NOR2の各出力に連結されたレベルシフタからなり、1つのレベルシフタは、ゲートターミナルが互いのドレインターミナルにクロスカップルされ、動作電源電圧VDDQにソースターミナルが共通に連結されたPチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP3,MP4と、前記Pチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP3,MP4のドレインターミナルと接地電源電圧間にドレイン−ソースチャンネル(drain−source channel)がそれぞれ形成され、ゲートターミナルに前記NORゲートNOR1の出力を反転するインバータIN5の出力及び前記NORゲートNOR1の出力をそれぞれ受信する差動トランジスタフェアMN3,MN4とを備え、残りの1つのレベルシフタは、同様に、ゲートターミナルが互いのドレインターミナルにクロスカップルされ、動作電源電圧VDDQにソースターミナルが共通に連結されたPチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP5,MP6と、前記Pチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP5,MP6のドレインターミナルと接地電源電圧間にドレイン−ソースチャンネルがそれぞれ形成され、ゲートターミナルに前記NORゲートNOR2の出力及び前記NORゲートNOR2の出力を反転するインバータIN6の出力をそれぞれ受信する差動トランジスタ対MN5,MN6とを備える。
【0015】
前記出力ドライバ40は、前記NORゲートNOR1に連結されたレベルシフタの出力に応答するプルアップトランジスタMP8と、前記NORゲートNOR2に連結されたレベルシフタの出力に応答するプルダウントランジスタMN8とを備える。
以下、このように構成された図4の動作を説明する。
【0016】
メモリセルに貯蔵されたデータを外部に出力するリード動作モードにおいて、第1電圧範囲の0V/3.3V振幅を持つ入力データ信号DATABが前記クロックCMOSインバータの入力端に印加され、クロック制御信号KDATAが論理レベル“ハイ”として印加されると、前記入力データ信号DATABは論理インバーティングされてトランジスタMP2のドレイン端子に現れる。例えば、前記入力データ信号DATABが前記第1電圧範囲で論理レベル“ハイ”として前記入力端に印加したとすれば、インバータIN2の入力端に論理レベル“ロー”として提供される。ここで、前記出力バッファ10に印加される入力データ信号DATABはメモリセルに連結されたビットライン上のデータを感知増幅するメインセンスアンプで提供されるセンス出力信号対SAS,SASBのうちで1つであることができる。
【0017】
前記出力バッファ10内の前記ラッチL1は、前記インバータIN2を通してハイレベルの出力データ信号DATACBを出力し、前記インバータIN3を通してローレベルの出力データ信号DATACを出力する。ここで、前記ハイ及びローレベルの出力データ信号は出力データ信号対という用語で称される。
【0018】
前記ハイレベルの出力データ信号DATACBがNORゲートNOR1の一方の入力端に印加され、ハイインピーダンスコントロール信号HZが第2状態のローレベルとして他方の入力端に印加されれば、前記NORゲートNOR1の出力は論理ローとなる。一方、前記NORゲートNOR2の出力は論理ハイとなる。
【0019】
前記NORゲートNOR1の出力を受信するレベルシフタは、アナログ差動増幅器のディジタル形態のDCVSL(Differential Cascade Voltage Switch Logic)回路としてのレベルシフティング動作を行って、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号DOUを出力ラインを通して論理“ハイ”として出力する。ここで、前記論理“ハイ”は前記動作電源電圧VDDQのレベルに従い異なるが、約5Vレベルを有することができる。
【0020】
一方、前記NORゲートNOR2の出力を受信するレベルシフタは、前記レベルシフタと同様なレベルシフティング動作を行って、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルダウン出力データ信号DODを出力ラインを通して論理“ハイ”として出力する。この場合、前記論理“ハイ”も第2電圧範囲でのハイレベルである。ここで、前記レベルシフタ30のPチャンネルトランジスタMP4,MP6の各ドレイン端子は前記出力ラインとなり、2つの出力ラインは出力ライン対と言われる。
【0021】
従って、出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8はpチャンネルトランジスタ動作を行ってオフされ、プルダウントランジスタMN8はnチャンネルトランジスタ動作を行ってオン状態になって、最終出力データはローとなる。この場合、前記ローレベルの出力データは0Vのレベルと見なされるので、実質的にレベルシフティングされたと考えにくい。しかし、ハイレベルの出力データが出力される場合は、実質的に出力データに対するレベルシフティングが行われる。
【0022】
ローレベルが出力データとして出力される上述の場合とは反対に、図4において前記入力データ信号DATABが前記第1電圧範囲で論理レベル“ロー”として前記入力端に印加されれば、インバータIN2の入力端に論理レベル“ハイ”として提供される。
【0023】
従って、前記ラッチL1は前記インバータIN2を通してローレベルの出力データ信号DATACBを出力し、前記インバータIN3を通してハイレベルの出力データ信号DATACを出力する。前記ローレベルの出力データ信号DATACBがNORゲートNOR1の一方の入力端に印加され、ハイインピーダンスコントロール信号HZがローレベルとして他方の入力端に印加されると、前記NORゲートNOR1の出力は論理ハイになる。そして、前記NORゲートNOR2の出力は論路ローになる。
【0024】
前記NORゲートNOR1の出力を受信するレベルシフタはプルアップ出力データ信号DOUを論理“ロー”として出力する。そして、前記NORゲートNOR2の出力を受信するレベルシフタはレベルシフティング動作を行って、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルダウン出力データ信号DODを論理“ロー”として出力する。
【0025】
従って、出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8はオン状態になり、プルダウントランジスタMN8はオフ状態になって、最終出力データDQのレベルは第2電圧範囲での論理レベル“ハイ”となる。この場合、前記“ハイ”は前記内部電源電圧VDDのレベルが約3.3Vで、前記動作電源電圧VDDQのレベルが約5Vであれば、約5Vのレベルになって、実質的にレベルシフティングになったことがわかる。
【0026】
一方、リード動作の他にライト動作又は待機動作モードにおいて、ハイインピーダンスコントロール信号HZはハイレベルとして印加される。即ち、ハイインピーダンスコントロール信号HZの反転信号HZBはローである。この場合、前記NORゲートNOR1と前記NORゲートNOR2の出力は、前記出力データ信号対DATACB,DATACの論理にかかわらずに両方が“ロー”になる。
【0027】
従って、前記NORゲートNOR1の出力を受信するレベルシフタはプルアップ出力データ信号DOUを論理“ハイ”として出力し、前記NORゲートNOR2の出力を受信するレベルシフタはプルダウン出力データ信号DODを論理“ロー”として出力する。それで、出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8とプルダウントランジスタMN8は両方がターンオフ状態となって、出力端は“ハイインピーダンス”状態になる。
【0028】
前記図4の回路において、出力データDQが出力されるためには、前記入力データ信号DATABが出力バッファ10に印加されてからHZコントロール部20、レベルシフタ30、及び出力ドライバ40の動作が連続して行われなければならない。それで、出力データの出力過程が長い経路を経る必要があるため、データ出力スピード及びハイインピーダンス状態への遷移スピードが相対的に遅くなる。
【0029】
特に、HSTL(High Speed Transceiver Logic)インターフェース又はLVTTLインターフェースである場合、前記HZコントロール部20で行われる前記ゲーティング動作と前記レベルシフタ30のレベルシフティング動作は相当の時間を要するため、出力スピードの遅延に莫大な影響を与える。又、図4に示した通常のレベルシフタ回路は、いろんな外部電圧レベル毎にプルアップ遷移時間が異なるため、出力速度を1つのレベルシフタ回路として用いて調整することが難しく、出力のプルアップとプルダウンの速度差により出力信号のスキューが発生する。
【0030】
尚、本分野においてレベルシフタ及びその適用技術は多様な先行技術に開示されており、その例としては、米国特許No.5,723,986にレベルシフティング回路が開示され、レベルシフティング回路を有する半導体メモリ装置用出力バッファは米国特許No.5,476,313に開示されている。
【0031】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、上記の問題を解決できる半導体装置のデータ出力回路及びデータ出力方法、該データ出力回路を有する半導体装置を提供するにある。
【0032】
本発明の他の目的は、データ出力スピード及びハイインピーダンス遷移スピードを増加又は最大化し得るデータ出力回路及びデータ出力方法、該データ出力回路を有する半導体装置を提供することにある。
【0033】
本発明の又他の目的は、プルアップ動作とプルダウン動作のときに出力信号間のスキューを最小化できるデータ出力回路及びデータ出力方法、該データ出力回路を有する半導体装置を提供することにある。
【0034】
本発明の又他の目的は、データ出力スピード及びハイインピーダンス遷移スピードを増加又は最大化させながら優秀なドライビング能力及び低漏泄電流特性を有するレベルシフティング回路を提供することにある。
【0035】
【課題を解決するための手段】
前記目的を達成するために、本発明による半導体装置のデータ出力回路は、第1電圧範囲を有する入力データ信号をクロック制御信号に応じて受信してラッチし、出力データ信号対として出力するよう構成された出力バッファと、レベルシフタとインピーダンスコントローラとの両方を備えるレベルシフティング回路であって、インピーダンスコントロール信号の第1論理状態に応じて、インピーダンス状態を制御するためにインピーダンス駆動データを出力ライン対を通して出力するよう構成され、前記インピーダンスコントロール信号の第2論理状態に応じて、前記出力バッファから前記出力データ信号対を直接受信して、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を前記出力ライン対を通してそれぞれ転送するよう構成されたレベルシフティング回路と、前記レベルシフティング回路からの前記インピーダンス駆動データに応じてデータ出力端をハイインピーダンス状態に維持すると共に、最終データを前記データ出力端を通して外部に出力するために、前記レベルシフティング回路からの前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号に応じて出力ドライビング処理を実行する出力ドライバとを備え、前記レベルシフティング回路は、前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を転送する前記出力ライン対を前記レベルシフタとは並列にプルアップするプルアップ回路を、前記出力データ信号対の一方に応じて接続することを特徴とする。
【0037】
又、本発明の半導体装置は、データ出力回路を有する半導体装置において、前記データ出力回路が、第1電圧範囲を有する入力データ信号をクロック制御信号に応じて受信してラッチし、出力データ信号対として出力するよう構成された出力バッファと、レベルシフタとインピーダンスコントローラとの両方を備えるレベルシフティング回路であって、インピーダンスコントロール信号の第1論理状態に応じて、インピーダンス状態を制御するためにインピーダンス駆動データを出力ライン対を通して出力するよう構成され、前記インピーダンスコントロール信号の第2論理状態に応じて、前記出力バッファから前記出力データ信号対を直接受信して、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を前記出力ライン対を通してそれぞれ転送するよう構成されたレベルシフティング回路と、前記レベルシフティング回路からの前記インピーダンス駆動データに応じてデータ出力端をハイインピーダンス状態に維持すると共に、最終データを前記データ出力端を通して外部に出力するために、前記レベルシフティング回路からの前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号に応じて出力ドライビング処理を実行する出力ドライバとを備え、前記レベルシフティング回路は、前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を転送する前記出力ライン対を前記レベルシフタとは並列にプルアップするプルアップ回路を、前記出力データ信号対の一方に応じて接続することを特徴とする。
【0038】
このような本発明に係るデータ出力回路及びデータ出力方法、該データ出力回路を有する半導体装置によると、データ出力スピード及びハイインピダンス遷移スピードが改善され、プルアップ動作とプルダウン動作のときに出力信号間のスキューが最小化され、優れたドライビング能力が得られる。
【0039】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。
【0040】
図1は、本発明に係るデータ出力回路のブロック図である。図1を図3と比較すると、出力バッファ10と出力ドライバ40の構成は同一であり、図3のHZコントロール部20とレベルシフタ30の構成の代わりに、図1において1つの回路ブロック、即ちHZコントロール及びレベルシフタ25が示される。図中、出力バッファ10は内部電源電圧VDDを受けて動作を行い、残りのブロックは前記内部電源電圧VDDよりは高いレベルお動作電源電圧VDDQを受けて動作を行う。
【0041】
ここで、前記動作電源電圧VDDQは、外部電源電圧にすることができ、適用条件に従い約1.8V、2.5V、3.3V、5Vのうちの1つであることができる。前記図1のブロック構成は、図3の4ブロック構成を単純に3つのブロックに変更しただけのものでなく、上記の従来の問題点を解決するために工夫されたものであって、これに関しては図2を用いて詳しく説明する。
【0042】
図2に示すように、出力バッファ10は、第1電圧範囲を有する入力データ信号DATABをクロック制御信号KDATAに応じて受信しラッチして、出力データ信号対DATACB,DATACとして出力する。
【0043】
ハイインピーダンスコントロール及びレベルシフタ25は、ハイインピーダンスコントロール信号HZの第1状態の“ハイ”に従い、ハイインピーダンス状態を制御するためのハイインピーダンス駆動データを出力ライン対L3,L4を通して出力し、前記ハイインピーダンスコントロール信号HZの第2状態に従い、前記出力データ信号対DATACB,DATACを受信して、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号DOU及びプルダウン出力データ信号DODを前記出力ライン対L3,L4を通してそれぞれ出力する。
【0044】
出力ドライバ40は、前記インピダンス駆動データに応じてデータ出力端L5をハイインピーダンス状態に維持し、外部に提供される出力データDQを前記データ出力端L5を通して出力するため、前記プルアップデータ信号DOU及びプルダウンデータ信号DODに応じて出力ドライビングを行う。
【0045】
図2において、出力バッファ10と出力ドライバ40の構成は上述の図4の構成と同一である。本発明の技術的思想に従い改善されたHZコントロール及びレベルシフタ25で、1つのレベルシフタは、ゲートターミナルが互いのドレインターミナルにクロスカップルされ、動作電源電圧VDDQにソースターミナルが共通に連結されたpチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP5,MP6と、前記pチャンネルクロスカップルトランジスタフェアMP5,MP6のドレインターミナルと接地電源電圧間に第1,第2電流パスを定義するドレイン−ソースチャンネルがそれぞれ形成され、ゲートターミナルに第1電圧範囲を有する出力データ信号対DATACB,DATACをそれぞれ対応して受信する作動トランジスタ対MN5,MN6と、前記差動トランジスタ対MN5,MN6の前記第1電流パス側にある差動トランジスタMN5のソースターミナルと前記接地電源電圧間にドレイン−ソースチャンネルが連結され、ゲートターミナルに第1ハイインピーダンスコントロール信号HZBを受信する第1NチャンネルトランジスタNM13、及び前記第2電流パス側にある差動トランジスタMN6とドレイン−ソースチャンネルが互いに並列に連結され、ゲートターミナルに前記第1ハイインピーダンスコントロール信号とは反対ロジックを有する第2ハイインピーダンスコントロール信号HZを受信する第2NチャンネルトランジスタMN14からなるハイインピーダンスコントロールトランジスタ対MN13,MN14と、前記pチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP5,MP6のドレインターミナルのうちの1つに形成されて、第2電圧範囲を有するプルダウン出力データ信号DODが出力される出力ラインL4と前記動作電源電圧VDDQとの間にドレイン−ソースチャンネルが順次直列に連結され、ゲートターミナルに前記第1ハイインピーダンスコントロール信号HZB及び前記出力データ信号対のうちの1つの信号DATACBをそれぞれ受信する第1,第2プルアップNチャンネルトランジスタMN15,MN16とを備える。
【0046】
又、他の1つのレベルシフタは、ゲートターミナルが互いのドレインターミナルにクロスカップルされ、動作電源電圧VDDQにソースターミナルが共通に連結されたPチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP3,MP4と、前記Pチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP3,MP4のドレインターミナルと接地電源電圧間に第1,2電流パスを定義するドレイン−ソースチャンネルがそれぞれ形成され、ゲートターミナルで第1電圧範囲を有する出力データ信号対DATACB,DATACをそれぞれ対応的に受信する差動トランジスタ対MN3,MN4と、前記差動トランジスタ対MN3,MN4の前記第2電流パス側にある差動トランジスタMN4のソースターミナルと前記接地電源電圧間にドレイン−ソースチャンネルが連結され、ゲートターミナルに第1ハイインピーダンスコントロール信号HZBを受信する第1NチャンネルトランジスタMN11と、前記第1電流パス側にある差動トランジスタMN3とドレイン−ソースチャンネルが互いに並列で連結され、ゲートターミナルに前記第1ハイインピーダンスコントロール信号とは反対ロジックを有する第2ハイインピーダンスコントロール信号HZを受信する第2NチャンネルトランジスタNM10とでなるハイインピダンスコントロールトランジスタ対MN10,MN11と、前記Pチャンネルクロスカップルトランジスタ対MP3,MP4のドレインターミナル中の1つに形成されて、第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号DOUが出力される出力ラインL3と前記動作電源電圧VDDQとの間にドレイン−ソースチャンネルが順次直列に連結され、ゲートターミナルに前記出力データ信号対のうちの1つの信号DATACBを受信するプルアップNチャンネルトランジスタMN12とを有する。
【0047】
図2では図4に示したNORゲートNOR1,NOR2が除去されているため、ゲーティングに掛かる遅延時間がない。以下、このように構成された図2の回路動作を説明する。
【0048】
メモリセルに貯蔵されたデータを外部に出力するリード動作モードにおいて、入力データ信号DATABが前記第1電圧範囲で論理レベル“ハイ”として前記入力端に印加されれば、インバータIN2の入力端に論理レベル“ロー”として提供される。
【0049】
前記出力バッファ10内の前記インバータIN2はハイレベルの出力データ信号DATACBを出力し、前記インバータIN3はローレベルの出力データ信号DATACを出力する。前記ハイレベルの出力データ信号DATACBは、レベルシフタ25内のNチャンネルMOSトランジスタMN3のゲート端子に直接的に印加されると共にNチャンネルMOSトランジスタMN12のゲート端子にも印加される。
【0050】
ハイインピーダンスコントロール信号HZが第2状態のローレベルとしてNチャンネルMOSトランジスタMN10のゲート端子に直接的に印加されると、NチャンネルMOSトランジスタMN11のゲート端子にはハイインピーダンスコントロール信号HZの反転信号HZBがハイレベルとして印加される。NチャンネルMOSトランジスタMN4のゲート端子には前記ローレベルの出力データ信号DATACが印加される。
【0051】
従って、前記NチャンネルMOSトランジスタMN3,MN11,MN12は全てターンオンされ、NチャンネルMOSトランジスタMN10,MN4は共にターンオフされる。前記NチャンネルMOSトランジスタMN3がターンオンされるに従いPチャンネルMOSトランジスタMP4のゲート電圧は接地レベルの0Vに下降して、PチャンネルMOSトランジスタMP4はターンオンされ、出力ラインL3には前記動作電源電圧VDDQが伝達される。
【0052】
前記出力ラインL3に前記動作電源電圧VDDQが最大の電圧レベルとして伝達されれば、前記出力ラインL3にゲート端子が連結された前記PチャンネルMOSトランジスタMP3は完全にターンオフ状態となる。この場合、NチャンネルMOSトランジスタMN11はターンオンされるが、NチャンネルMOSトランジスタMN14がターンオフされるため、前記出力ラインL3に伝達された第2電圧範囲(0Vから前記VDDQの電圧レベルまで)でのハイレベルは、レベル低下なしにそのまま出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8のゲートに印加される。
【0053】
ここで、前記NチャンネルMOSトランジスタMN12の役割は、前記入力データ信号DATABが論理レベル“ハイ”として印加されるときに、前記出力ラインL3を迅速に動作電源電圧VDDQレベルにプルアップさせるためのものである。即ち、前記入力データ信号DATABが論理レベル“ロー”として印加された場合、前記出力ラインL3は約0Vのレベルを有するため、前記入力データ信号DATABが論理レベル“ハイ”として印加されるときに前記出力ラインL3が動作電源電圧VDDQレベルに充分に上昇するまでは多少の時間が掛かる。
【0054】
従って、プルアップ時間の最小化のために前記NチャンネルMOSトランジスタMN12は、ドレイン端子に前記動作電源電圧VDDQレベルを直接に受けて上記の場合に前記出力ラインL3に伝達するので、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号DOUが出力ラインL3に論理“ハイ”として迅速に出力される。
【0055】
通常、プルアップ速度がプルダウン速度に比べ遅いため出力信号のタイムスキューが発生するが、本発明の実施の形態例では前記NチャンネルMOSトランジスタMN12によりプルアップとプルダウンに対するタイムスキューが最小化される。前記タイムスキューの最小化はトリガー(tirggering)後のラッチ動作が迅速になされることを意味する。
【0056】
ここで、迅速なプルアップ動作のために前記トランジスタMN12をNチャンネルMOSトランジスタとして用いる理由は、漏洩電流を完全に防止するためである。即ち、Pチャンネルの場合は、外部電源電圧が高い場合にゲート端子に印加される電圧にかかわらず常にターンオンさせることができるためである。さらに、前記トランジスタMN12の使用は、出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8のサイズを大きくしなくても、前記プルアップトランジスタMP8が充分なドライビング能力を有するようにする。
【0057】
つまり、前記入力データ信号DATABは論理ゲーティング過程を経ずに出力ラインL3に出力端が連結された前記レベルシフタにそのまま印加され、前記レベルシフタの迅速なレベルシフティング動作によりハイレベルのプルアップ出力データ信号DOUとして迅速に出力される。ここで、前記プルアップ出力データ信号DOUが有する論理レベル“ハイ”は動作電源電圧VDDQのレベルに従い異なるが、約5Vレベルを有し得る。
【0058】
一方、出力端L4に出力端が連結されたプルダウン用レベルシフタの動作は次のようである。
【0059】
上記の場合と同様に、入力データ信号DATABが“ハイ”として印加される場合、前記ローレベルの出力データ信号DATACはNチャンネルMOSトランジスタMN6のゲート端子に直接的に印加される。
【0060】
ハイインピダンスコントロール信号HZはローレベルとしてNチャンネルMOSトランジスタMN14のゲート端子に直接的に印加され、NチャンネルMOSトランジスタMN13,MN15のゲート端子にはハイインピダンスコントロール信号HZの反転信号HZBがハイレベルとして印加される。NチャンネルMOSトランジスタMN5,MN16のゲート端子には前記ハイレベルの出力データ信号DATACBが印加される。従って、前記NチャンネルMOSトランジスタMN5,MN13,MN15,MN16は全てがターンオンされ、NチャンネルMOSトランジスタMN14,MN6は共にターンオフされる。
【0061】
前記NチャンネルMOSトランジスタMN5,MN13がターンオンされるに従い、PチャンネルMOSトランジスタMP6のゲート電圧は接地レベルの0Vに下降してPチャンネルMOSトランジスタMP6はターンオンされるため、出力ラインL4には前記動作電源電圧VDDQが伝達される。ここで、第1電流パスは前記差動トランジスタMN5のドレイン−ソースチャンネルになり、第2電流パスは前記差動トランジスタMN6のドレイン−ソースチャンネルをさす。
【0062】
前記出力ラインL4に前記動作電源電圧VDDQが最大の電圧レベルとして伝達されれば、前記出力ラインL4にゲート端子が連結された前記PチャンネルMOSトランジスタMP5は完全にターンオフ状態となる。この場合、NチャンネルMOSトランジスタMN14,MN6は共にターンオフされるので、前記出力ラインL4に伝達された第2電圧範囲でのハイレベルは、レベル低下なしにそのまま出力ドライバ40内のプルダウントランジスタMN8のゲートに印加される。
【0063】
ここで、前記NチャンネルMOSトランジスタMN15,MN16の役割は、前記入力データ信号DATABが論理レベル“ハイ”として印加されるとき、前記出力ラインL4を迅速に動作電源電圧VDDQレベルにプルアップさせるためのものである。つまり、前記入力データ信号DATABは論理ゲーティング過程を経ずに出力ラインL4に出力端が連結された前記レベルシフタにそのまま印加され、前記レベルシフタの迅速なレベルシフティング動作によりハイレベルのプルダウン出力データ信号DODとして迅速に出力される。
【0064】
前記出力ライン対L3,L4にそれぞれ現れるレベルシフティングされたプルアップ出力データ信号DOU及びプルダウン出力データ信号DODは、それぞれハイレベルとして前記出力ドライバ40に印加される。従って、出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8はPチャンネルトランジスタ動作を行ってオフされ、プルダウントランジスタMN8はNチャンネルトランジスタ動作を行ってオン状態になる。よって、最終出力データは第2電圧範囲でのローレベルとして提供される。
【0065】
ローレベルが出力データとして出力される上記の場合とは反対に、図2において前記入力データ信号DATABが前記第1電圧範囲で論理レベル“ロー”として前記入力端に印加されれば、インバータIN2の入力端に論理レベル“ハイ”として提供される。従って、ローレベルの出力データ信号DATACBとハイレベルの出力データ信号DATACが出力バッファ10から得られる。
【0066】
前記ローレベルの出力データ信号DATACBはNチャンネルMOSトランジスタMN3のゲート端子に直接的に印加されると共に、NチャンネルMOSトランジスタMN12のゲート端子にも印加される。ハイインピーダンスコントロール信号HZがローレベルとしてNチャンネルMOSトランジスタMN10のゲート端子に直接的に印加されると、nチャンネルMOSトランジスタMN11のゲート端子にはハイインピーダンスコントロール信号HZの反転信号HZBがハイレベルとして印加される。NチャンネルMOSトランジスタMN4のゲート端子には前記ハイレベルの出力データ信号DATACが印加される。
【0067】
従って、前記NチャンネルMOSトランジスタMN4,MN11は共にターンオンされ、NチャンネルMOSトランジスタMN3,MN10,MN12は全てがターンオフされる。前記NチャンネルMOSトランジスタMN4,MN11がターンオンされるに従い、PチャンネルMOSトランジスタMP3のゲート電圧は接地レベルの0Vに下降してPチャンネルMOSトランジスタMP3はターンオンされる。
【0068】
それで、PチャンネルMOSトランジスタMP4のゲート電圧が前記動作電源電圧VDDQまで上昇するので、PチャンネルMOSトランジスタMP4は完全にターンオフされ、出力ラインL3上の電圧レベルは前記NチャンネルMOSトランジスタMN4,MN11を通して0Vに下降する。このとき、前記NチャンネルMOSトランジスタMN12はターンオフ状態であるため、動作電源電圧VDDQを伝達する役割をしない。つまり、プルアップ出力データ信号DOUが出力ラインL3に論理“ロー”として迅速に出力される。
【0069】
一方、出力端L4に出力端が連結されたプルダウン用レベルシフタもレベルシフティング動作を実行して、出力ラインL4にローレベルのプルダウン出力データ信号DODを迅速に出力する。前記出力ライン対L3,L4にそれぞれ現れるレベルシフティングされたプルアップ出力データ信号DOU及びプルダウン出力データ信号DODはそれぞれローレベルとして前記出力ドライバ40に印加される。
【0070】
従って、出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8はpチャンネルトランジスタ動作を行ってターンオンされ、プルダウントランジスタMN8はターンオフされて、最終出力データDQは第2電圧範囲でのハイレベルとして提供される。このような動作によりデータ出力スピードは従来の技術に比べ相対的に速くなることがわかる。
【0071】
一方、半導体メモリ装置のリード動作の代わりに、ライト動作モード又は待機動作モードにおいて前記ハイインピーダンスコントロール信号HZはハイレベルとして印加される。即ち、ハイインピーダンスコントロール信号HZの反転信号HZBはローである。
【0072】
この場合、前記ハイインピーダンスコントロール信号HZ及びその反転信号HZBをゲート端子で受信する前記レベルシフタ内のNチャンネルトランジスタの動作により、プルアップ出力データ信号DOUは論理“ハイ”として出力され、プルダウン出力データ信号DODは論理“ロー”として出力される。
【0073】
従って、出力ドライバ40内のプルアップトランジスタMP8とプルダウントランジスタMN8は共にターンオフ状態になって、出力端L5は従来技術に比べ相対的に迅速に“ハイインピーダンス”状態になる。即ち、前記ハイインピーダンスコントロール信号HZが出力データ信号対DATACB,DATACとは組み合わされないため、論理ゲーティング素子に印加されずに直ちに前記レベルシフタ25に印加される。それで、ハイインピーダンス制御用のプルアップ出力データ信号DOUが論理“ハイ”として直ちに出力され、ハイインピーダンス制御用のプルダウン出力データ信号DODが論理“ロー”として直ちに出力されるので、ハイインピーダンス遷移スピードが改善される。
【0074】
従って、本発明では、上記従来の問題を解決するためデータ出力スピード及びハイインピーダンス遷移スピードを改善し、漏洩電流の問題なしにプルアップ動作とプルダウン動作のときに出力信号のスキューを除去又は最小化する。又、出力ドライバ40のトランジスタサイズを増大させずドライビング能力を充分に維持させる。
【0075】
このように本発明は、図面を基づき例を挙げて記述したが、これに限定されずに発明の技術的思想を外れない限り、本発明が属する技術分野で通常の知識を持つ者により多様な変化と変更が可能であることはもちろんである。例えば、レベルシフタ内のトランジスタの個数を加減するか、プルアップ及びプルダウン用トランジスタを他のチャンネル及びバイポーラトランジスタ素子に置き換えることもできる。
【0076】
【発明の効果】
以上説明したように、改善されたレベルシフタを有する本発明に係るデータ出力回路及びデータ出力方法、該データ出力回路を有する半導体装置によると、データ出力スピード及びハイインピーダンス遷移スピードが改善され、漏泄電流の問題を有さずプルアップ動作とプルダウン動作のときに出力信号のスキューが除去又は最小化される効果を有する。又、出力ドライバの電流ドライビング能力が向上され、高速の半導体装置に有利であるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係るデータ出力回路のブロック図である。
【図2】図1のデータ出力回路の一実施の形態例に従う詳細回路図である。
【図3】従来のデータ出力回路の概略的ブロック図である。
【図4】図3に示したデータ出力回路の詳細回路図である。
Claims (9)
- 第1電圧範囲を有する入力データ信号をクロック制御信号に応じて受信してラッチし、出力データ信号対として出力するよう構成された出力バッファと、
レベルシフタとインピーダンスコントローラとの両方を備えるレベルシフティング回路であって、インピーダンスコントロール信号の第1論理状態に応じて、インピーダンス状態を制御するためにインピーダンス駆動データを出力ライン対を通して出力するよう構成され、前記インピーダンスコントロール信号の第2論理状態に応じて、前記出力バッファから前記出力データ信号対を直接受信して、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を前記出力ライン対を通してそれぞれ転送するよう構成されたレベルシフティング回路と、
前記レベルシフティング回路からの前記インピーダンス駆動データに応じてデータ出力端をハイインピーダンス状態に維持すると共に、最終データを前記データ出力端を通して外部に出力するために、前記レベルシフティング回路からの前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号に応じて出力ドライビング処理を実行する出力ドライバとを備え、
前記レベルシフティング回路は、前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を転送する前記出力ライン対を前記レベルシフタとは並列にプルアップするプルアップ回路を、前記出力データ信号対の一方に応じて接続することを特徴とする半導体装置のデータ出力回路。 - 前記出力バッファは、クロックCMOSインバータとインバータラッチとでなることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置のデータ出力回路。
- 前記インピーダンスコントロール信号の第1論理状態は論理レベル“ハイ”で、第2論理状態は論理レベル“ロー”であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置のデータ出力回路。
- 前記半導体装置は揮発性半導体メモリ装置であることを特徴とする請求項1に記載の半導体装置のデータ出力回路。
- 半導体メモリ装置に適合し、プルダウン出力データ信号が出力ドライバのnチャネルトランジスタのゲートに接続されたレベルシフティング回路において、
ゲートターミナルが互いのドレインターミナルにクロスカップルされ、動作電源電圧にソースターミナルが共通で連結されたpチャンネルクロスカップルトランジスタ対(MP5,MP6)と、
前記pチャンネルクロスカップルトランジスタ対(MP5,MP6)のドレインターミナルと接地電源電圧との間に第1,2電流パスを定義するドレイン-ソースチャンネルがそれぞれ形成され、ゲートターミナルに第1電圧範囲を有する出力データ信号対(DATACB,DATAC)をそれぞれ対応的に受信する差動トランジスタ対(MN5,MN6)と、
前記差動トランジスタ対(MN5,MN6)の前記第1電流パス側にある差動トランジスタ(MN5)のソースターミナルと前記接地電源電圧との間にドレイン-ソースチャンネルが連結され、ゲートターミナルに第1インピーダンスコントロール信号(HZB)を受信する第1nチャンネルトランジスタ(MN13)、及び前記第2電流パス側にある差動トランジスタ(MN6)とドレイン-ソースチャンネルが並列で連結され、ゲートターミナルに前記第1インピーダンスコントロール信号とは反対ロジックを有する第2インピーダンスコントロール信号(HZ)を受信する第2nチャンネルトランジスタ(MN14)とからなるインピーダンスコントロールトランジスタ対(MN13,MN14)と、
前記pチャンネルクロスカップルトランジスタ対(MP5,MP6)のドレインターミナルのうちの1つに形成されて、第2電圧範囲を有するプルダウン出力データ信号(DOD)が出力される出力ライン(L4)と前記動作電源電圧(VDDQ)との間にドレイン-ソースチャンネルが順次直列で連結され、ゲートターミナルに前記第1インピーダンスコントロール信号(HZB)及び前記出力データ信号対のうちの1つの信号(DATACB)をそれぞれ受信する第1,2プルアップnチャンネルトランジスタ(MN15,MN16)とを備えることを特徴とするレベルシフティング回路。 - 前記第2インピーダンスコントロール信号は、半導体メモリ装置のライト動作モード又は待機動作モードでハイレベルとして印加されることを特徴とする請求項5に記載のレベルシフティング回路。
- 前記第2インピーダンスコントロール信号は、半導体メモリ装置のリード動作モードでローレベルとして印加されることを特徴とする請求項6に記載のレベルシフティング回路。
- 半導体メモリ装置に適合し、プルアップ出力データ信号が出力ドライバのpチャネルトランジスタのゲートに接続されたレベルシフティング回路において、
ゲートターミナルが互いのドレインターミナルにクロスカップルされ、動作電源電圧にソースターミナルが共通に連結されたpチャンネルクロスカップルトランジスタ対(MP3,MP4)と、
前記pチャンネルクロスカップルトランジスタ対(MP3,MP4)のドレインターミナルと接地電源電圧との間に第1,第2電流パスを定義するドレイン-ソースチャンネルがそれぞれ形成され、ゲートターミナルに第1電圧範囲を有する出力データ信号対(DATACB,DATAC)をそれぞれ対応して受信する差動トランジスタ対(MN3,MN4)と、
前記差動トランジスタ対(MN3,MN4)の前記第2電流パス側にある差動トランジスタ(MN4)のソースターミナルと前記接地電源電圧との間にドレイン-ソースチャンネルが連結され、ゲートターミナルに第1インピーダンスコントロール信号(HZB)を受信する第1nチャンネルトランジスタ(NM11)、及び前記第1電流パス側にある差動トランジスタ(MN3)とドレイン-ソースチャンネルが互いに並列で連結されゲートターミナルに前記第1インピーダンスコントロール信号とは反対ロジックを有する第2インピーダンスコントロール信号(HZ)を受信する第2nチャンネルトランジスタ(MN10)とでなるインピーダンスコントロールトランジスタ対(MN10,MN11)と、
前記pチャンネルクロスカップルトランジスタ対(MP3,MP4)のドレインターミナルのうちの1つに形成されて、第2電圧範囲を有するプルダウン出力データ信号(DOU)が出力される出力ライン(L3)と前記動作電源電圧(VDDQ)との間にドレイン-ソースチャンネルが順次直列に連結されゲートターミナルに前記出力データ信号対のうちの1つの信号(DATACB)を受信するプルアップnチャンネルトランジスタ(MN12)とを備え、
前記第1インピダンスコントロール信号は、半導体メモリ装置のライト動作モード又は待機動作モードでローレベルとして印加され、半導体メモリ装置のリード動作モードでハイレベルとして印加されることを特徴とするレベルシフティング回路。 - データ出力回路を有する半導体装置において、
前記データ出力回路が、
第1電圧範囲を有する入力データ信号をクロック制御信号に応じて受信してラッチし、出力データ信号対として出力するよう構成された出力バッファと、
レベルシフタとインピーダンスコントローラとの両方を備えるレベルシフティング回路であって、インピーダンスコントロール信号の第1論理状態に応じて、インピーダンス状態を制御するためにインピーダンス駆動データを出力ライン対を通して出力するよう構成され、前記インピーダンスコントロール信号の第2論理状態に応じて、前記出力バッファから前記出力データ信号対を直接受信して、前記第1電圧範囲よりも広い第2電圧範囲を有するプルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を前記出力ライン対を通してそれぞれ転送するよう構成されたレベルシフティング回路と、
前記レベルシフティング回路からの前記インピーダンス駆動データに応じてデータ出力端をハイインピーダンス状態に維持すると共に、最終データを前記データ出力端を通して外部に出力するために、前記レベルシフティング回路からの前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号に応じて出力ドライビング処理を実行する出力ドライバとを備え、
前記レベルシフティング回路は、前記プルアップ出力データ信号及びプルダウン出力データ信号を転送する前記出力ライン対を前記レベルシフタとは並列にプルアップするプルアップ回路を、前記出力データ信号対の一方に応じて接続することを特徴とする半導体装置。
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JP3502330B2 (ja) * | 2000-05-18 | 2004-03-02 | Necマイクロシステム株式会社 | 出力回路 |
JP3717781B2 (ja) * | 2000-10-30 | 2005-11-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | レベル変換回路および半導体集積回路 |
JP2003133938A (ja) * | 2001-10-26 | 2003-05-09 | Mitsubishi Electric Corp | 出力回路 |
JP3889954B2 (ja) * | 2001-10-29 | 2007-03-07 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体装置 |
US6657906B2 (en) * | 2001-11-28 | 2003-12-02 | Micron Technology, Inc. | Active termination circuit and method for controlling the impedance of external integrated circuit terminals |
KR100465599B1 (ko) * | 2001-12-07 | 2005-01-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 데이타 출력 버퍼 |
JP2003229758A (ja) * | 2002-02-01 | 2003-08-15 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置 |
US6836148B2 (en) * | 2002-04-08 | 2004-12-28 | Texas Instruments Incorporated | Versatile high voltage outputs using low voltage transistors |
DE10215546B4 (de) * | 2002-04-09 | 2004-02-26 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zur Umsetzung von Logiksignalpegeln |
JP4020680B2 (ja) * | 2002-04-12 | 2007-12-12 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体集積回路 |
US6801064B1 (en) * | 2002-08-27 | 2004-10-05 | Cypress Semiconductor, Corp | Buffer circuit using low voltage transistors and level shifters |
JP4389787B2 (ja) * | 2002-11-06 | 2009-12-24 | 日本電気株式会社 | レベル変換回路 |
US6838918B1 (en) * | 2002-11-19 | 2005-01-04 | Xilinx, Inc. | Hard phase alignment of clock signals using asynchronous level-mode state machine |
US6836150B2 (en) * | 2002-12-23 | 2004-12-28 | Micron Technology, Inc. | Reducing swing line driver |
DE10320795A1 (de) * | 2003-04-30 | 2004-12-09 | Infineon Technologies Ag | Pegelumsetz-Einrichtung |
US7301370B1 (en) | 2003-05-22 | 2007-11-27 | Cypress Semiconductor Corporation | High-speed differential logic to CMOS translator architecture with low data-dependent jitter and duty cycle distortion |
KR100541158B1 (ko) * | 2003-05-28 | 2006-01-10 | 주식회사 하이닉스반도체 | 출력 회로 |
US7053657B1 (en) * | 2003-06-26 | 2006-05-30 | Cypress Semiconductor Corporation | Dynamically biased wide swing level shifting circuit for high speed voltage protection input/outputs |
US7019553B2 (en) * | 2003-12-01 | 2006-03-28 | Micron Technology, Inc. | Method and circuit for off chip driver control, and memory device using same |
US7737734B1 (en) | 2003-12-19 | 2010-06-15 | Cypress Semiconductor Corporation | Adaptive output driver |
KR100574488B1 (ko) * | 2004-02-04 | 2006-04-27 | 주식회사 하이닉스반도체 | 레벨 쉬프터 |
JP4457810B2 (ja) | 2004-03-04 | 2010-04-28 | 富士電機システムズ株式会社 | 表示装置駆動回路 |
US7034572B2 (en) * | 2004-06-14 | 2006-04-25 | Micron Technology, Inc. | Voltage level shifting circuit and method |
US7791397B2 (en) * | 2004-07-28 | 2010-09-07 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | High speed digital level shifter |
JP2006059910A (ja) * | 2004-08-18 | 2006-03-02 | Fujitsu Ltd | 半導体装置 |
US7200053B2 (en) * | 2004-09-01 | 2007-04-03 | Micron Technology, Inc. | Level shifter for low voltage operation |
KR100568874B1 (ko) * | 2004-12-03 | 2006-04-10 | 삼성전자주식회사 | 반도체 메모리에서의 출력버퍼회로 |
US7215579B2 (en) * | 2005-02-18 | 2007-05-08 | Micron Technology, Inc. | System and method for mode register control of data bus operating mode and impedance |
JP4241657B2 (ja) * | 2005-04-14 | 2009-03-18 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体集積回路 |
US7956641B1 (en) | 2005-04-28 | 2011-06-07 | Cypress Semiconductor Corporation | Low voltage interface circuit |
US7355905B2 (en) | 2005-07-01 | 2008-04-08 | P.A. Semi, Inc. | Integrated circuit with separate supply voltage for memory that is different from logic circuit supply voltage |
US8072834B2 (en) | 2005-08-25 | 2011-12-06 | Cypress Semiconductor Corporation | Line driver circuit and method with standby mode of operation |
KR100884001B1 (ko) * | 2006-02-22 | 2009-02-17 | 삼성전자주식회사 | 입력 차단 모드에서 전류가 흐르지 않으며 고정된 출력값을발생하는 레벨 쉬프터 및 레벨 쉬프팅 방법 |
US7352229B1 (en) * | 2006-07-10 | 2008-04-01 | Altera Corporation | Reference clock receiver compliant with LVPECL, LVDS and PCI-Express supporting both AC coupling and DC coupling |
US7652504B2 (en) * | 2006-12-13 | 2010-01-26 | Apple Inc. | Low latency, power-down safe level shifter |
US7834662B2 (en) * | 2006-12-13 | 2010-11-16 | Apple Inc. | Level shifter with embedded logic and low minimum voltage |
JP2008293604A (ja) * | 2007-05-25 | 2008-12-04 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置の出力回路、および半導体記憶装置の出力回路のデータ出力方法 |
US7626440B1 (en) | 2007-07-04 | 2009-12-01 | Altera Corporation | High speed level shift |
JP2009088766A (ja) * | 2007-09-28 | 2009-04-23 | Toshiba Corp | 出力バッファ回路 |
US7705631B2 (en) * | 2008-01-28 | 2010-04-27 | Elite Semiconductor Memory Technology, Inc. | Level shifter circuit |
US8102728B2 (en) * | 2009-04-07 | 2012-01-24 | Apple Inc. | Cache optimizations using multiple threshold voltage transistors |
US7995410B2 (en) * | 2009-06-26 | 2011-08-09 | Apple Inc. | Leakage and NBTI reduction technique for memory |
JP5618772B2 (ja) * | 2010-11-11 | 2014-11-05 | ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. | 半導体装置 |
JP2012191333A (ja) * | 2011-03-09 | 2012-10-04 | Toshiba Corp | 出力回路および出力制御システム |
US8553488B2 (en) | 2011-06-10 | 2013-10-08 | Apple Inc. | Performing stuck-at testing using multiple isolation circuits |
US8963609B2 (en) * | 2013-03-01 | 2015-02-24 | Arm Limited | Combinatorial circuit and method of operation of such a combinatorial circuit |
US9508405B2 (en) | 2013-10-03 | 2016-11-29 | Stmicroelectronics International N.V. | Method and circuit to enable wide supply voltage difference in multi-supply memory |
US10263621B2 (en) * | 2017-03-24 | 2019-04-16 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited | Level shifter with improved voltage difference |
US9997208B1 (en) | 2017-03-29 | 2018-06-12 | Qualcomm Incorporated | High-speed level shifter |
JP2022143791A (ja) * | 2021-03-18 | 2022-10-03 | 株式会社ジャパンディスプレイ | レベルシフト回路、表示パネル、及び電子機器 |
Family Cites Families (10)
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---|---|---|---|---|
JPH04145720A (ja) * | 1990-10-08 | 1992-05-19 | Nec Ic Microcomput Syst Ltd | 論理回路 |
JPH0567963A (ja) * | 1991-09-06 | 1993-03-19 | Hitachi Ltd | 論理集積回路 |
US5300832A (en) * | 1992-11-10 | 1994-04-05 | Sun Microsystems, Inc. | Voltage interfacing buffer with isolation transistors used for overvoltage protection |
KR950000353B1 (ko) * | 1992-12-30 | 1995-01-13 | 현대전자산업 주식회사 | 집적회로용 출력 버퍼 회로 |
KR970001345B1 (ko) * | 1993-07-28 | 1997-02-05 | 삼성전자 주식회사 | 레벨 쉬프터 |
JPH08330939A (ja) * | 1995-06-05 | 1996-12-13 | Toshiba Microelectron Corp | レベルシフタ回路 |
US5627487A (en) * | 1995-06-28 | 1997-05-06 | Micron Technology, Inc. | Charge conserving driver circuit for capacitive loads |
US5583454A (en) * | 1995-12-01 | 1996-12-10 | Advanced Micro Devices, Inc. | Programmable input/output driver circuit capable of operating at a variety of voltage levels and having a programmable pullup/pulldown function |
KR100223675B1 (ko) * | 1996-12-30 | 1999-10-15 | 윤종용 | 고속동작용 반도체 메모리 장치에 적합한 데이터 출력관련 회로 |
TW511335B (en) * | 1998-06-09 | 2002-11-21 | Mitsubishi Electric Corp | Integrated circuit |
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