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JP3574672B2 - センス回路 - Google Patents

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JP3574672B2
JP3574672B2 JP29190893A JP29190893A JP3574672B2 JP 3574672 B2 JP3574672 B2 JP 3574672B2 JP 29190893 A JP29190893 A JP 29190893A JP 29190893 A JP29190893 A JP 29190893A JP 3574672 B2 JP3574672 B2 JP 3574672B2
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Description

【0001】
【産業上の利用分野】
本発明は、半導体集積回路等で用いられるセンス回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
例えば、EP−ROMには、本体ROMと同じ回路構成のダミーセル及びこのダミーセルによるリファレンスレベルと本体ROMとの出力を検出するセンスアンプから成るメモリ読出のためのセンス回路が設けられている(特公平2−49519号公報(G11C 17/18)参照)。
【0003】
そして、従来のセンス回路では、ビットラインデータにおける“0”のレベルと“1”のレベルとの略中間値に一つのリファレンスレベルを設定している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、上記センス回路におけるセンス時間を短くするために、例えばリファレンスレベルをビットラインデータにおける“1”のレベルに近づけることにより、ビットラインデータが“1”→“0”に変化する場合のセンス時間を短縮することができるが、これでは、ビットラインデータが“0”→“1”に変化する場合のセンス時間が長くなってしまう。また、その逆に、リファレンスレベルをビットラインデータにおける“0”のレベルに近づけると、ビットラインデータが“0”→“1”に変化する場合のセンス時間が短くなるが、ビットラインデータが“1”→“0”に変化する場合のセンス時間が長くなってしまう。
【0005】
本発明は、上記の事情に鑑み、ビットラインデータが“1”→“0”に変化する場合及びビットラインデータが“0”→“1”に変化する場合の双方のセンス時間を短くできるセンス回路を提供することを目的とする。
【0006】
本発明のセンス回路は、上記の課題を解決するために、ビットラインにおけるデータ“0”のレベルとデータ“1”のレベルとの間にリファレンスレベルを設定してメモリデバイスの読み出しを行うようにしたセンス回路において、データ“0”のレベル寄りの第1のリファレンスレベルにて出力を反転させる第1のセンスアンプと、データ“1”のレベル寄りの第2のリファレンスレベルにて出力を反転する第2のセンスアンプと、前回のセンス動作時の前記両センスアンプの出力データに基づいて両センスアンプのうち早く反転する方のセンスアンプ出力を選択する出力切替え器と、を備え、前記出力切替え器は、前回のセンス動作時のセンスアンプ出力をラッチするラッチ部と、第1のセンスアンプと出力バッファとの間に配置された第1のトランスファーゲートと、第2のセンスアンプと出力バッファとの間に配置された第2のトランスファーゲートとを有し、センス動作前の前記両センスアンプの出力データに基づいて決定された前記ラッチ部の出力にて早く動作する方のセンスアンプに接続されているトランスファーゲートをONにするように構成されていることを特徴とする。
【0008】
また、前記出力切替え器は、ビットラインの振幅が十分でないためにセンス動作で前記両センスアンプのうち一方しか反転しなかった場合に次のセンス動作は反転した側のセンスアンプを選択するように構成されていてもよい。
【0009】
また、第1及び第2のセンスアンプをカレントミラー型で構成するとともに、そのビットライン側構成部分は一つとしリファレンス側構成部分は第1及び第2のリファレンスレベルの各々を生成する二つの回路部分により構成してもよいものである。
【0010】
【作用】
上記第1の構成によれば、ビットラインが“1”→“0”に変化する場合には、データ“1”のレベル寄りの第2のリファレンスレベルが設定されている第2のセンスアンプの方が第1のセンスアンプよりも早く動作し、その逆にビットラインが“0”→“1”に変化する場合には、データ“0”のレベル寄りの第1のリファレンスレベルが設定されている第1のセンスアンプの方が第2のセンスアンプよりも早く動作し、両センスアンプのうち早く動作した方が選択されてその出力がセンス出力とされるため、ビットラインの変化の方向にかかわらずセンス時間の短縮が図れることになる。そして、センスアンプ出力がトランスファーゲートを通して出力バッファに予め接続されているため、出力切替えに要する時間を省くことができる。
【0012】
上記第2の構成によれば、ビットラインの振幅が十分でないために、センスアンプの一方のみが反転する状態を経て再びその前回の状態に戻ったとしても、前記一方のみが反転した状態におけるセンス出力がなされるとともにセンスアンプの切替えは行われないことによって、前回の状態に戻る際のセンス動作も正確に早く行われることになる。
【0013】
上記第3の構成によれば、カレントミラー型で構成したセンスアンプのビットライン側構成部分を共用するので、二つのセンスアンプをフルセットで構成する場合の消費電力の増大が回避されることになる。
【0014】
【実施例】
以下、本発明をその実施例を示す図に基づいて説明する。
【0015】
図1は、本発明のセンス回路1の概略構成を示したブロック図である。このセンス回路1は、ビットラインデータにおける“0”レベルと“1”レベルとの間にリファレンスレベルを設定してメモリデバイスの読み出しを行うものであり、第1のセンスアンプ2と、第2のセンスアンプ3と、出力切替え器4とを備えて構成されている。
【0016】
第1のセンスアンプ2は、ビットラインデータにおける“0”レベル寄りの第1のリファレンスレベル(以下、ref1と略記する)にて反転するようになっている。また、第2のセンスアンプ3は、ビットラインデータにおける“1”レベル寄りの第2のリファレンスレベル(以下、ref2と略記する)にて反転するようになっている。
【0017】
出力切替え器4は、第1のセンスアンプ2の出力(OUT1)及び第2のセンスアンプ3の出力(OUT2)を入力し、センス動作前の両センスアンプ2,3の出力データに基づいて両センスアンプ2,3のうち早く動作する方のセンスアンプ出力を選択してセンス出力とするようになっている。
【0018】
図2は、上記の出力切替え器4の構成を示したブロック図である。第1のトランスファーゲート5(以下、TG5と略記する)は第1のセンスアンプ2の出力部に、第2のトランスファーゲート6(以下、TG6と略記する)は第2のセンスアンプ3の出力部に各々接続されるとともに他端側は出力バッファ(図示せず)に接続され、更に、これらTG5,TG6は、ラッチ部7の出力及びインバータ8による反転出力によってどちらか一方だけがONするようになっている。具体的には、上記ラッチ部7の出力(OUT)が“0”のときはTG5がONでTG6はOFFとなり、“1”のときはTG6がONでTG5がOFFとなる。このように、センスアンプ出力がTG5,6を通して出力バッファに予め接続されているため、出力切替えに要する時間を省くことができる。
【0019】
図3は、上記のラッチ部7の構成を示した回路図である。ラッチ部7は、TG5,6に入力部(IN)が接続された第1のC−MOSゲート(以下、CI1と略記する)と、このCI1の出力部に接続された第1ラッチ部10と、この第1のラッチ部10の出力部に接続された第3のC−MOSゲート(以下、CI3と略記する)と、このCI3の出力部に接続された第2のラッチ部11とを備え、この第2のラッチ部11の出力(OUT)を前記TG2,3における選択信号とするようになっている。
【0020】
第1のラッチ部10は、インバータ10aと二つのNORゲート10b,10cと第2のC−MOSゲート(以下、CI2と略記する)とを備える。また、第2のラッチ部11は、インバータ11aと第4のC−MOSゲート(以下、CI4と略記する)とを備えている。
【0021】
上記のCI1〜4のうち、CI1とCI4は、αが“1”のときONし、αが“0”のときOFFする(即ち、回路からの切り離される)ようになっている。一方、CI2とCI3は、αが“0”のときONし、αが“1”のときOFFする(即ち、回路からの切り離される)ようになっている。なお、上記のαは、前述のOUT1(図ではAとして表している)とOUT2(図ではBとして表している)との排他的論理和である。なお、上記αおよびその反転値α−1を生成する回路は、図示を省略している。
【0022】
また、前記の二つのNORゲート10b,10cにおいて、NORゲート10bの一方の入力端子にはインバータ10aの出力が入力され、他方の入力端子にはOUT1とOUT2のアンド出力(A・B)が入力される。そして、NORゲート10cの一方の入力端子にはNORゲート10bの出力が入力され、他方の入力端子にはOUT1とOUT2の各々の反転値のアンド出力(A−1・B−1)が入力されるようになっている。なお、上記アンド出力(A・B)及び各々の反転値のアンド出力(A−1・B−1)を生成する回路についてもその図示を省略している。
【0023】
次に、上記の如く構成されたラッチ部7の動作を図4を用いて説明する。
【0024】
図4において、(a)にはビットラインのデータのレベル変化を示し、(b)には第1のセンスアンプ2の出力であるOUT1のタイムチャートを示し、(c)には第2のセンスアンプ3の出力であるOUT2のタイムチャートを示し、(d)にはα,α−1,(A・B),(A−1・B−1)の値を示し、(e)にはCI1〜CI4のON・OFF状態を示し、(f)には前記ラッチ部7の主要なポイントにおける出力状態等を示し、(g)にはセンス出力OUT3がOUT1とOUT2のどちらの出力になっているか、即ち、AかBかを示し、(h)にはセンス出力OUT3の出力状態を示している。
【0025】
(状態1)
ビットラインデータが“0”レベルから“1”レベルに変化しようとする状態であり、OUT1もOUT2も“0”の状態である。このとき、CI1はOFFであり回路から切り離され、また、CI2はONであることから、N2点の出力は“0”にN1点の出力は“1”になる。そして、CI3がONであるため、N3はN2を反転した値“1”となり、CI4がOFFでインバータ11aにより反転されるため、選択信号であるOUTは“0”となる。このため、TG5が選択されることになり、第1のセンスアンプ2の出力であるOUT1がセンス出力OUT3とされる状態となる。
【0026】
そして、次の状態2に進むときにおいてはOUT1とOUT2のうち先にOUT1の方が“1”に反転することになるが、上記のごとく、OUT1の出力がセンス出力OUT3とされていることによって、次の状態2に進むときのセンス動作が早く行われることになる。
【0027】
(状態2)
ビットラインデータがref1に達すると、OUT1は“1”になり、上記の如く“1”のセンス出力が早くなされることになる。また、ビットラインデータはref2に達してはいないので、OUT2は“0”のままである。このとき、CI1はONでCI2がOFFとなるので、INの値(ここではOUT1の値)が反転されてN1は“0”に、N2も“0”になるが、CI3がOFFされCI4がONしているため、前状態のOUT出力が維持されることになり、選択信号OUTは“0”のままである。このため、TG5が選択されたままであり、第1のセンスアンプ2の出力であるOUT1がセンス出力(OUT3)として出力し続けられる。
【0028】
(状態3)
ビットラインデータがref2に達すると、OUTは“1”のままで更にOUT2も“1”となる。このとき、CI1はOFFでCI2がONであることから、N2点の出力は“1”に、N1点の出力は“0”になる。そして、CI3がONであるため、N3はN2を反転した値“0”となり、CI4がOFFでインバータ11aにより反転されるため、選択信号OUTは“1”となる。このため、TG6が選択されることになるが、このときTG6の出力であるOUT2も“1”になっているため、センス出力OUT3には変化はない。
【0029】
そして、上記のごとく、TG6が選択されてOUT2をセンス出力OUT3とする状態になっていることにより、次の状態4に進むときのセンス動作が早く行われることになる。
【0030】
(状態4)
状態4では、ビットラインデータの振幅が不十分な場合を想定している。ビットラインデータがレベル“1”側からref2に達すると、OUT2は“0”になり、上記の如く“0”のセンス出力が早くなされることになる。また、ビットラインデータはref1に達してはいないので、OUT1は“1”のままである。このとき、CI1はONでCI2がOFFとなるので、INの値(ここではOUT2の値)が反転されてN1は“1”に、N2は“0”になるが、CI3がOFFされCI4がONしているため、前状態のOUT出力が維持されることになり、選択信号OUTは“1”のままでTG6が選択されたままである。TG6の選択状態は変わらないが、TG6の出力であるOUT2は“0”になっているため、センス出力OUT3は“0”になる。
【0031】
そして、上記のごとく、TG6が選択されてOUT2をセンス出力OUT3とする状態になっていることにより、次の状態5に進むときのセンス動作が早く行われることになる。また、ノイズ等によりビットラインレベルが一時的にref1とref2の中間に入り、再び元のレベルに戻った場合でも、第1ラッチ部10で直列に接続された2個のNOR回路10b,10cによりOUTの極性が決定されるため、OUTの極性は正しく保たれる。
【0032】
(状態5)
ビットラインデータがref1に至らないままref2に達すると、OUT1が“1”でOUT2も“1”となり、前述の状態3と同じ状態となる。この状態では、状態4に引き続いてOUTが“1”でTG6が選択されている。TG6の選択状態は変わらないが、TG6の出力であるOUT2は“1”になっているため、センス出力OUT3は“1”になる。
【0033】
そして、上記の如く、TG6が選択されてOUT2をセンス出力OUT3とする状態になっていることにより、次の状態6に進むときのセンス動作が早く行われることになる。
【0034】
(状態6)
ビットラインデータがレベル“1”側からref2に達すると、OUT2は“0”になり、そのセンス出力が早くなされることになる。また、ビットラインデータはref1に達してはいないので、OUT1は“1”のままである。このとき、前状態のOUT出力が維持されることになり、OUTは“1”のままでTG6が選択されたままである。TG6の選択状態は変わらないが、TG6の出力であるOUT2は“0”になるため、センス出力OUT3は“0”になる。
【0035】
(状態7)
状態7では、前述の状態1と同じ状態、即ち、OUT1もOUT2も“0”の状態であり、TG5が選択されることになる。TGの選択状態は状態6とで異なることになるが、TG5の出力であるOUT1は“0”であるのでセンス出力OUT3は“0”のままである。
【0036】
そして、上記の如く、TG5が選択されてOUT1をセンス出力OUT3とする状態となることにより、次の状態8に進むときのセンス動作が早く行われることになる。
【0037】
(状態8)
状態8では、前記状態4とは逆の方向に変化する場合でビットラインデータの振幅が不十分な場合を想定している。ビットラインデータがレベル“0”側からref1に達すると、OUT1は“1”になり、この“1”のセンス出力が早くなされることになる。また、ビットラインデータはref2に達してはいないので、OUT2は“0”のままである。従って、前状態のOUT出力が維持されることになり、OUTは“0”のままでTG5が選択されたままである。TG5の選択状態は変わらないが、TG5の出力であるOUT1は“1”になっているため、センス出力OUT3は“1”になる。
【0038】
そして、上記のごとく、TG5が選択されてOUT1をセンス出力OUT3とする状態になっていることにより、次の状態9に進むときのセンス動作が早く行われることになる。
【0039】
(状態9)
ビットラインデータがref2に至らないままref1に達すると、OUT1が“0”でOUT2も“0”となり、前述の状態7と同じ状態となる。この状態では、状態8に引き続いてOUTが“0”でTG5が選択されている。TG5の選択状態は変わらないが、TG5の出力であるOUT1は“0”になっているため、センス出力OUT3は“0”になる。
【0040】
そして、上記の如く、TG5が選択されてOUT1をセンス出力OUT3とする状態になっていることにより、次の状態に進むときのセンス動作が早く行われることになる。
【0041】
以上説明した状態1〜状態9の動作で明らかなように、ビットラインが“1”→“0”に変化する場合には、“1”レベル寄りのref2が設定されている第2のセンスアンプ3の方が第1のセンスアンプ2よりも早く動作し、その逆にビットラインが“0”→“1”に変化する場合には、“0”レベル寄りのref1が設定されている第1のセンスアンプ2の方が第2のセンスアンプ3よりも早く動作し、両センスアンプ2,3のうち早く動作した方が選択されてその出力がセンス出力とされるため、ビットラインの変化の方向にかかわらずセンス時間の短縮が図れることになる。
【0042】
更に、ビットラインデータの振幅が不十分な場合、即ち、前述の状態4、或いは状態8で示したように、二つのセンスアンプ2,3のうち一方しか反転しなかった場合、センス出力は行うが出力切替えは行わないことにより、次回のセンス反転時にも早くセンス動作を行うことができる。
【0043】
また、上記の実施例では、二つのフルセット構成のセンスアンプ2,3を用いているが、図5に示すように、センスアンプを電流センスタイプのカレントミラー型で構成するとともに、そのビットライン側構成部分20は一つとし、リファレンス側構成部分は、第1リファレンスレベル(ref1)を生成する回路部分21と、第2のリファレンスレベル(ref2)を生成する回路部分22とにより構成するようにしてもよいものである。別言すれば、通常のカレントミラー型のセンスアンプ構成(20,21)に、別のリファレンス側構成部分(22)を付加する構成としてもよい。
【0044】
このように構成することにより、カレントミラー型で構成したセンスアンプのビットライン側構成部分20を共用することになるので、ビットライン側ロードの電流iが半減でき、二つのセンスアンプをフルセットで構成する場合の消費電力の増大が回避されることになる。
【0045】
また、センスアンプを電圧センスタイプのカレントミラー型で構成する場合には、図5中のゲート入力(図中のX点で示す)に直接ビットライン及びダミーラインを接続することにより、同様の効果が得られる。
【0046】
【発明の効果】
以上のように、本発明によれば、ビットラインデータが“1”→“0”に変化する場合及びビットラインデータが“0”→“1”に変化する場合の双方のセンス時間を短くできる。また、その出力切替えに要する時間を省くことができる。更に、ビットラインデータの振幅が不十分となる場合でもセンス時間短縮を確保することができる。また、二種類のリファレンスレベルを設定するためにフルセットのセンスアンプを設ける場合の消費電力増大といった問題も回避することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のセンス回路を示すブロック図である。
【図2】図1の出力切替え器を示すブロック図である。
【図3】図2のラッチ部を示す回路図である。
【図4】図3のラッチ部の動作等を説明するための説明図である。
【図5】本発明のセンス回路で用いることができる省電力消費型のセンスアンプを示す回路図である。
【符号の説明】
1 センス回路
2 第1のセンスアンプ
3 第2のセンスアンプ
4 出力切替え器
5 第1のトランスファーゲート
6 第2のトランスファーゲート
7 ラッチ部
10 第1ラッチ部
11 第2ラッチ部
20 ビットライン側構成部分
21 第1のリファレンスレベルを生成する回路部分
22 第2のリファレンスレベルを生成する回路部分

Claims (3)

  1. ビットラインにおけるデータ“0”のレベルとデータ“1”のレベルとの間にリファレンスレベルを設定してメモリデバイスの読み出しを行うようにしたセンス回路において、データ“0”のレベル寄りの第1のリファレンスレベルにて出力を反転させる第1のセンスアンプと、データ“1”のレベル寄りの第2のリファレンスレベルにて出力を反転する第2のセンスアンプと、前回のセンス動作時の前記両センスアンプの出力データに基づいて両センスアンプのうち早く反転する方のセンスアンプ出力を選択する出力切替え器と、を備え、前記出力切替え器は、前回のセンス動作時のセンスアンプ出力をラッチするラッチ部と、第1のセンスアンプと出力バッファとの間に配置された第1のトランスファーゲートと、第2のセンスアンプと出力バッファとの間に配置された第2のトランスファーゲートとを有し、センス動作前の前記両センスアンプの出力データに基づいて決定された前記ラッチ部の出力にて早く動作する方のセンスアンプに接続されているトランスファーゲートをONにするように構成されていることを特徴とするセンス回路。
  2. 記出力切替え器は、ビットラインの振幅が十分でないためにセンス動作で前記両センスアンプのうち一方しか反転しなかった場合に次のセンス動作は反転した側のセンスアンプを選択するように構成されていることを特徴とする請求項1に記載のセンス回路。
  3. 第1及び第2のセンスアンプをカレントミラー型で構成するとともに、そのビットライン側構成部分は一つとしリファレンス側構成部分は第1及び第2のリファレンスレベルの各々を生成する二つの回路部分により構成していることを特徴とする請求項1又は2に記載のセンス回路。
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