JP3370551B2 - ワイヤボンディング装置及びそのボンディング荷重補正方法 - Google Patents
ワイヤボンディング装置及びそのボンディング荷重補正方法Info
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Description
ムが板ばねを介して上下方向に揺動自在に支持されたワ
イヤボンディング装置及びそのボンディング荷重補正方
法に関する。
下方向に揺動自在に支持されたワイヤボンディング装置
は、図4に示すような構造となっている。一端にボンデ
ィングツール1を有するボンディングアーム2は、支持
フレーム3の一端に固定されている。支持フレーム3
は、十字状に組み付けられた板ばね4を介して移動テー
ブル5に上下方向に揺動自在に取付けられ、移動テーブ
ル5はXYテーブル6に搭載されている。支持フレーム
3の他端には、リニアモータ7のコイル8が固定され、
またリニアモータ7のマグネット9は移動テーブル5に
固定されている。支持フレーム3の後端にはリニアスケ
ール10が固定されており、リニアスケール10に対向
して移動テーブル5には位置センサ11が固定されてい
る。またワイヤボンディング装置は図示しないワークを
加熱するヒートブロック15を有し、ヒートブロック1
5は上下動機構16で上下動させられる。なお、この種
のワイヤボンディング装置として、例えば特開昭58−
184734号公報、特開平6−29343号公報、特
公平6−80697号公報が挙げられる。
持フレーム3及びボンディングアーム2が板ばね4を中
心として揺動し、ボンディングツール1が上下移動す
る。またXYテーブル6の駆動によって移動テーブル
5、支持フレーム3、ボンディングアーム2及びボンデ
ィングツール1がXY方向に移動する。このボンディン
グツール1の上下移動及びXY方向の移動の組合せによ
って、図示しないワーク上の第1ボンディング点と第2
ボンディング点間にボンディングツール1に挿通された
図示しないワイヤを接続する。ここで、第1ボンディン
グ点には、ワイヤの先端に形成されたボールがボンディ
ングされ、第2ボンディング点にはワイヤの他端がボン
ディングされる。第1ボンディング点及び第2ボンディ
ング点にワイヤをボンディングする時、ボンディングツ
ール1によってボール又はワイヤをワーク上のボンディ
ング点に押し付けて接続するために、リニアモータ7か
らボンディング荷重が掛けられる。
の制御の形態について説明する。外部入出力手段20
は、コンピュータ21に対して動作に必要な各種情報の
入出力を行う。これは手動操作であっても、外部装置と
のオンライン通信による操作であっても良い。コンピュ
ータ21は、制御回路22、演算回路23、基準座標レ
ジスタ24、荷重リミット値レジスタ25及び高さ位置
カウンタ26を有し、制御回路22は、外部入出力手段
20、演算回路23、基準座標レジスタ24、荷重リミ
ット値レジスタ25及び高さ位置カウンタ26を制御す
る。
アーム2の高さ位置が格納される。この値は1つの位置
指令となり、位置制御回路30に入力される。すると位
置制御回路30は前回の位置指令と、新たな位置指令と
を比較し、その差分から移動量を生成する。この移動量
は、ドライブ信号33としてモータドライバ31に伝達
される。
ボンディング荷重の上限値を示す値が格納され、リミッ
ト情報34としてモータドライバ31に伝達される。モ
ータドライバ31は、ドライブ信号33により、ボンデ
ィングツール1を指定した高さ位置に移動させるための
電力を生成すると同時に、リミット情報34によりボン
ディング荷重の上限値を越えないように電力を制限する
働きを併せ持っている。なお、電力は、電圧及び電流の
積であるから、実際のリニアモータ7の制御は、電圧又
は電流のいずれか一方又は両方を制御すれば良い。従っ
て、以後はリニアモータ7に流すドライブ電流35を制
御する制御方式について説明する。このドライブ電流3
5を制御する回路としては、例えば特公平6−1822
2号公報が挙げられる。モータドライバ31で生成され
たドライブ電流35がリニアモータ7のコイル8に印加
されると駆動力が発生する。この駆動力により、支持フ
レーム3、ボンディングアーム2及びボンディングツー
ル1が板ばね4を支点として揺動する。
からの信号をコンピュータ21に入力するのに適した信
号形式に変換するエンコーダ32からの信号を計数し
て、リニアスケール10の実際の高さ位置を生成する。
コンピュータ21には、予めリニアスケール10の上下
方向の移動量に対する、ボンディングツール1の上下方
向の移動量との比率と量子化係数(1単位が何μmか)
が与えられているので、これを基にして、高さ位置カウ
ンタ26の示す値を演算回路23で演算することによ
り、ボンディングツール1の実際の高さ位置が求まる。
ついて説明する。まず、ボンディングツール1の先端部
真下にロードセル40の突起部41(検出部)が位置す
るようにロードセル40をヒートブロック15上に置
く。ロードセル40は荷重計42に接続されていて、常
にロードセル40に加えられた荷重を表示する。次に上
下動機構16を作動させてヒートブロック15及びロー
ドセル40を上下動させ、ボンディングアーム2が水平
になるように調整する。ここで、ボンディングアーム2
を水平に調整するのは、次の理由による。ボンディング
アーム2及びボンディングツール1は板ばね4を中心と
して揺動する。従って、ボンディング点にボンディング
ツール1が接触した時にボンディングツール1が垂直、
即ちボンディングアーム2が水平状態であるのが好まし
い。
に調整した状態で、外部入力手段20によって、コンピ
ュータ21にボンディングアーム2を水平にするよう指
示が与えられる。この指示により、制御回路22は基準
座標レジスタ24を通して位置制御回路30に対し、そ
のための制御情報を送出する。またモータドライバ31
に対しては、ドライブ電流35を制限するためのリミッ
ト情報34を送出する。位置制御回路30からは、ドラ
イブ電流35を生成するためのドライブ信号33がモー
タドライバ31に送られる。モータドライバ31は、こ
のドライブ信号33を基に、指定された極性及び電流量
のドライブ電流35を生成し、コイル8に対し出力す
る。但し、ドライブ電流35がコンピュータ21から指
示されたリミット値を越える場合には、ドライブ電流3
5の電流量をリミット値までに制限する。以後、コンピ
ュータ21からのボンディングアーム2の移動に関する
指示はこのように伝達される。
グ荷重(例えば20g)が設定されると、上記動作によ
りロードセル40に荷重が印加される。この時、ロード
セル40に接続された荷重計42に実ボンディング荷重
の値が表示されるので、この値が、設定されたボンディ
ング荷重と等しくなるようにドライブ電流35を調節す
る必要がある。そのため、コンピュータ21から指示さ
れたリミット情報34と実際に制限されるボンディング
荷重の値との対応を外部入出力手段20を手動操作して
変更している。設定されたボンディング荷重と荷重計4
2に表示された実ボンディング荷重の値が一致したら、
ボンディング荷重を別の値(例えば200g)に設定し
て再び上記操作を繰り返し行う。このようにして、設定
されたボンディング荷重と実ボンディング荷重との誤差
を極力なくしている。
ね4で上下方向に揺動自在に支持した方式においては、
コイル8にドライブ電流35が流れていない時、即ちリ
ニアモータ7に駆動力が発生していない時には、ボンデ
ィングアーム2は、図5(b)に示すように、板ばね4
で支持するボンディングツール1、ボンディングアーム
2、支持フレーム3、コイル8、リニアスケール10等
の重量バランスと板ばね4の付勢力との均衡位置Bで静
止する。板ばね4の付勢力は、ボンディングアーム2を
均衡位置Bに戻す方向に働く。即ち、図5(a)に示す
ように、ボンディングアーム2が均衡位置Bより上方位
置Aにある時は、均衡位置Bへ押し下げようとする付勢
力が発生する。図5(c)(d)に示すように、ボンデ
ィングアーム2が均衡位置Bより下方位置C及びDにあ
る時は、均衡位置Bへ押し上げようとする付勢力が発生
する。この板ばね4の付勢力の変化を図6に示す。な
お、均衡位置Bはワイヤボンディング装置の機構及び機
種により異なり、均衡位置Bにおけるボンディングアー
ム2は、図5(c)に示す水平位置とは限らない。
るほど板ばね4により下方へ引き下げる力が大きくな
り、本来のボンディング荷重に板ばね4の付勢力が加わ
る。従って、その分だけ実ボンディング荷重は大きくな
る。また下方位置C及びDに変位するほど板ばね4によ
り上方に引き上げられる力が大きくなり、本来のボンデ
ィング荷重を相殺する。従って、その分だけ実ボンディ
ング荷重は小さくなる。このように、ボンディングアー
ム2の高さ位置が板ばね4による均衡位置Bより離れる
ほど、設定ボンディング荷重と実ボンディング荷重との
誤差が大きくなるという問題があった。
は、ボンディング点の高さ位置をボンディングアーム2
の水平位置Cにして設定ボンディング荷重を調整するの
みであり、板ばね4で支持されたボンディングツール
1、ボンディングアーム2、支持フレーム3、コイル
8、リニアスケール10等の重量バランスと板ばね4の
付勢力との関係については全く考慮されていなかった。
ところで、ボンディングされるワークは、ワークの種類
によってボンディング点の高さが異なる。また第1ボン
ディング点と第2ボンディング点とではボンディング点
の高さが異なる場合がある。従って、均衡位置B以外の
位置でボンディングが行われる場合には、板ばね4の付
勢力が発生してボンディング荷重に影響するので、実ボ
ンディング荷重は設定されたボンディング荷重と等しく
ならなかった。
B,C,Dによりコイル8の高さ位置及び傾斜が変わる
ので、コイル8の受ける磁束密度もが変わる。このこと
を図5、図7及び図8により説明する。図7及び図8は
コイル8が各位置にある時のコイル8とマグネット9の
位置関係における磁束密度の関係を示す。図7(a)は
ボンディングアーム2が図5(a)の位置Aにある時、
図7(b)はボンディングアーム2が図5(c)の位置
Cにある時、図7(c)はボンディングアーム2が図5
(d)の位置Dにある時のそれぞれの磁束40を示す。
ボンディングアーム2が位置Bにある時は、図7(a)
と図7(b)の中間関係にある。
ド部9aに近づくほど磁束密度が高くなり、コイル8の
受ける磁束40の影響は強くなる。即ち、図7(b)の
位置Cの時が最も磁束密度が大きく、それだけ強い駆動
力を発生することができる。しかし、図7(a),
(c)のように、コイル8がマグネット9から離れた
り、角度を持ったりすると、位置Cと比較して磁束密度
が減少するので、駆動力はその分低下する。従って、各
位置において同じ駆動力を得るには、磁束密度の減少分
に応じてこれを補正する分多く電流を流す必要がある。
しかし、上記従来技術は、コイル8の受ける磁束密度の
変化については何ら考慮されていなかった。
さ位置にあっても、設定されたボンディング荷重に等し
い実ボンディング荷重を得ることができるボンディング
装置及びそのボンディング荷重補正方法を提供すること
にある。
の本発明の装置は、一端部にボンディングツールを有し
板ばねを介して上下方向に揺動自在に支持されたボンデ
ィングアームと、このボンディングアームを揺動駆動す
るリニアモータと、前記ボンディングアームの上下方向
の位置を検知する位置センサと、この位置センサからの
信号を処理してボンディングアームの高さ位置と前記リ
ニアモータに流すドライブ電流のリミット値を算出する
コンピュータと、このコンピュータからの指令により前
記ボンディングアームの高さ位置の維持又は移動の制御
を行う位置制御回路と、この位置制御回路からの指令に
より前記ドライブ電流を発生させ、かつ前記コンピュー
タからの指令により前記ドライブ電流量を制限する電流
リミッタ機能を有するモータドライバと、前記コンピュ
ータに指示を入力し、またコンピュータからの結果を出
力する外部入出力手段とを備えたワイヤボンディング装
置において、前記コンピュータは、ボンディングアーム
の高さ位置における板ばねの付勢力を補正する補正電流
値及びボンディング荷重に応じたドライブ電流のリミッ
ト値を記憶したメモリを有することを特徴とする。
は、一端部にボンディングツールを有し板ばねを介して
上下方向に揺動自在に支持されたボンディングアーム
と、このボンディングアームを揺動駆動するリニアモー
タと、前記ボンディングアームの上下方向の位置を検知
する位置センサと、この位置センサからの信号を処理し
てボンディングアームの高さ位置と前記リニアモータに
流すドライブ電流のリミット値を算出するコンピュータ
と、このコンピュータからの指令により前記ボンディン
グアームの高さ位置の維持又は移動の制御を行う位置制
御回路と、この位置制御回路からの指令により前記ドラ
イブ電流を発生させ、かつ前記コンピュータからの指令
により前記ドライブ電流量を制限する電流リミッタ機能
を有するモータドライバと、前記コンピュータに指示を
入力し、またコンピュータからの結果を出力する外部入
出力手段とを備えたワイヤボンディング装置において、
リニアモータに流す電流量とボンディングアームの高さ
位置との関係から板ばねの付勢力を求め、その付勢力を
補正するようにリニアモータに流す電流を制御すること
を特徴とする。
3により説明する。なお、図4及び図5と同じ又は相当
部材には、同一符号を付しその詳細な説明は省略する。
図1に示すように、コンピュータ21のメモリ45に
は、ボンディングアーム2の各位置A・・B・・C・・
Dにより、板ばね4の付勢力及びリニアモータ7のコイ
ル8の受ける磁束密度の変化を補正するために必要な補
正電流値46と、ドライブ電流35のリミット値47と
が格納されている。以下、補正電流値46及びリミット
値47の設定方法を図5を参照しながら図2及び図3に
より説明する。
ボンディング荷重が0gとなる、いわゆる無負荷時の状
態におけるコイル8の位置とドライブ電流35との関係
を調査した。手順としては、まず、ボンディングアーム
2を図5(a)に示す位置Aに移動させ静止させる。こ
の時の板ばね4の付勢力は、ボンディングアーム2を下
方へ押し下げようとする方向に働く。またコイル8から
発生する駆動力は、板ばね4の付勢力を相殺するに等し
い力である。ボンディング荷重のリミット値(荷重リミ
ット値レジスタ25に格納されている値)は、板ばね4
の付勢力を相殺できるドライブ電流35をコイル8へ流
せるように、ある程度上限値を上げて余裕を持った値に
しておく。次にドライブ電流35のリミット値(絶対
値)を徐々に下げる。すると、ある所でドライブ電流3
5が減少してコイル8から発生する駆動力が板ばね4の
付勢力を下回り、ボンディングアーム2の高さ位置が下
降するので、その直前の高さ位置と、ドライブ電流35
のリミット値をメモリ45に記憶しておく。この上記手
順で記憶したリミット値が板ばね4の付勢力を相殺する
駆動力を発生させるドライブ電流35の電流量に相当す
る値である。
示す位置Dに移動させて静止させる。そして、前記した
と同様に、ドライブ電流35のリミット値を徐々に下げ
る。すると、ある所でボンディングアーム2の高さ位置
が上昇するので、その直前の高さ位置と、ドライブ電流
35のリミット値をメモリ45に記憶しておく。
め、各位置間は演算回路23で線形補間して求める。こ
の関係を表すと図2のようになる。これにより、設定さ
れたボンディング高さ位置から、板ばね4の付勢力を相
殺するために必要な基本電流量が求められる。この基本
電流量に、設定したボンディング荷重分に相当する電流
(実荷重電流)を加えた電流量が実際のコイル8に印加
されるドライブ電流35の量となる。即ち、設定された
高さ位置に対する板ばね4の付勢力を相殺するので、高
さ位置がどこであっても設定値に等しいボンディング荷
重が得られる。また機差や人的要因による校正差が生じ
ないので、信頼性のある校正ができる。ここで、点A,
B,C,Dは、図5(a),(b),(c),(d)の
各位置を示す。
ドライブ電流35の関係に置き換えると、図3の無負荷
(0g)時のようになる。図3には、無負荷時の他に1
例として、20g、200gのボンディング荷重をボン
ディングツール1へ印加した状態も示した。図3より、
ボンディングアーム2の高さ位置の変化によりドライブ
電流35がどのように変化するかが判る。
さ位置に移動するための基準電流(位置指令電流)と、
高さ位置による磁束密度の低下による駆動力の低下を補
う補正電流(駆動補正電流)と、板ばね4のばね荷重に
よる高さ位置の補正電流(ばね荷重補正電流)と、前記
実荷重電流とがある。この内、位置指令電流と駆動補正
電流とばね荷重補正電流とを加算した基本電流が無負荷
時のドライブ電流35となる。更に、これに実荷重電流
を加算した電流が実際の荷重を伴ったドライブ電流35
となる。
駆動力は低下し、またばね荷重はボンディングアーム2
を下方へ移動させる方向に発生する。従って、補正電流
には、駆動補正電流及びばね荷重補正電流とがある。こ
の駆動補正電流は、ボンディングアーム2を上方へ駆動
する方向に流れる。また、この時のばね荷重補正電流
は、ボンディングアーム2を上方へ駆動する方向に流れ
る。
駆動力は低下するが、ばね荷重は発生しない。従って、
補正電流は駆動補正電流のみである。この駆動補正電流
は、ボンディングアーム2を上方へ駆動する方向に流れ
る。
が、ばね荷重はボンディングアーム2を上方へ移動させ
る方向に発生する。従って、補正電流は、ばね荷重補正
電流のみである。このばね荷重補正電流は、ボンディン
グアーム2を下方へ駆動する方向に流れる。
駆動力は低下し、またばね荷重はボンディングアーム2
を上方へ移動させる方向に発生する。従って、補正電流
には、駆動補正電流及びばね荷重補正電流とがある。こ
の駆動補正電流は、ボンディングアーム2を下方へ駆動
する方向に流れる。また、この時のばね荷重補正電流
は、ボンディングアーム2を下方へ駆動する方向に流れ
る。
ディングアーム2を上方に移動させる方向が「+」、ボ
ンディングアーム2を下方に移動させる方向が「−」と
すると、表1のようになる。
流量とボンディングアームの高さ位置との関係から板ば
ねの付勢力を求め、その付勢力を補正するようにリニア
モータに流す電流を制御するので、ボンディング点がど
の高さ位置にあっても、設定されたボンディング荷重に
等しい実ボンディング荷重を得ることができる。
態を示す説明図である。
ブ電流との関係図である。
との関係図である。
る。
ータのコイルとマグネットとの関係図である。
荷重との関係図である。
す説明図である。
の関係図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 一端部にボンディングツールを有し板ば
ねを介して上下方向に揺動自在に支持されたボンディン
グアームと、このボンディングアームを揺動駆動するリ
ニアモータと、前記ボンディングアームの上下方向の位
置を検知する位置センサと、この位置センサからの信号
を処理してボンディングアームの高さ位置と前記リニア
モータに流すドライブ電流のリミット値を算出するコン
ピュータと、このコンピュータからの指令により前記ボ
ンディングアームの高さ位置の維持又は移動の制御を行
う位置制御回路と、この位置制御回路からの指令により
前記ドライブ電流を発生させ、かつ前記コンピュータか
らの指令により前記ドライブ電流量を制限する電流リミ
ッタ機能を有するモータドライバと、前記コンピュータ
に指示を入力し、またコンピュータからの結果を出力す
る外部入出力手段とを備えたワイヤボンディング装置に
おいて、前記コンピュータは、ボンディングアームの高
さ位置における板ばねの付勢力を補正する補正電流値及
びボンディング荷重に応じたドライブ電流のリミット値
を記憶したメモリを有することを特徴とするワイヤボン
ディング装置。 - 【請求項2】 一端部にボンディングツールを有し板ば
ねを介して上下方向に揺動自在に支持されたボンディン
グアームと、このボンディングアームを揺動駆動するリ
ニアモータと、前記ボンディングアームの上下方向の位
置を検知する位置センサと、この位置センサからの信号
を処理してボンディングアームの高さ位置と前記リニア
モータに流すドライブ電流のリミット値を算出するコン
ピュータと、このコンピュータからの指令により前記ボ
ンディングアームの高さ位置の維持又は移動の制御を行
う位置制御回路と、この位置制御回路からの指令により
前記ドライブ電流を発生させ、かつ前記コンピュータか
らの指令により前記ドライブ電流量を制限する電流リミ
ッタ機能を有するモータドライバと、前記コンピュータ
に指示を入力し、またコンピュータからの結果を出力す
る外部入出力手段とを備えたワイヤボンディング装置に
おいて、リニアモータに流す電流量とボンディングアー
ムの高さ位置との関係から板ばねの付勢力を求め、その
付勢力を補正するようにリニアモータに流す電流を制御
することを特徴とするワイヤボンディング装置のボンデ
ィング荷重補正方法。
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US6616031B2 (en) * | 2001-07-17 | 2003-09-09 | Asm Assembly Automation Limited | Apparatus and method for bond force control |
WO2008151964A1 (de) * | 2007-06-15 | 2008-12-18 | Oerlikon Assembly Equipment Ag, Steinhausen | Bondkopf fuer einen wire bonder |
JP4425319B1 (ja) * | 2008-09-10 | 2010-03-03 | 株式会社新川 | ボンディング方法、ボンディング装置及び製造方法 |
JP5772075B2 (ja) * | 2011-03-07 | 2015-09-02 | トヨタ紡織株式会社 | 振動溶着装置 |
CN103302853A (zh) * | 2013-05-21 | 2013-09-18 | 苏州凯尔博精密机械有限公司 | 一种四轴超声波焊接机用自动选择工作台 |
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Family Cites Families (14)
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---|---|---|---|---|
US4266710A (en) * | 1978-11-22 | 1981-05-12 | Kulicke And Soffa Industries Inc. | Wire bonding apparatus |
JPS58184734A (ja) * | 1982-04-22 | 1983-10-28 | Toshiba Corp | ワイヤボンデイング装置 |
US4597519A (en) * | 1984-02-27 | 1986-07-01 | Fairchild Camera & Instrument Corporation | Lead wire bonding with increased bonding surface area |
JPS62150838A (ja) * | 1985-12-25 | 1987-07-04 | Hitachi Ltd | 検出方法および装置 |
JP2506958B2 (ja) * | 1988-07-22 | 1996-06-12 | 松下電器産業株式会社 | ワイヤボンディング装置 |
JP2814154B2 (ja) * | 1991-04-16 | 1998-10-22 | 株式会社新川 | ボンデイング装置 |
JP2789394B2 (ja) * | 1991-05-29 | 1998-08-20 | 株式会社新川 | ワイヤボンデイング方法及び装置 |
JP2798573B2 (ja) * | 1991-12-24 | 1998-09-17 | 帝人株式会社 | ヒト好中球エラスターゼ阻害活性を有する天然型ポリペプチドおよびそれを含有する医薬製剤 |
JPH0618222A (ja) * | 1992-06-30 | 1994-01-25 | Toyota Motor Corp | ゲージホールの中心位置検出方法 |
JP2969411B2 (ja) * | 1992-07-10 | 1999-11-02 | 株式会社新川 | ワイヤボンデイング装置 |
US5586713A (en) * | 1993-08-31 | 1996-12-24 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method for wire bonding |
US5443200A (en) * | 1993-10-13 | 1995-08-22 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Bonding apparatus and bonding method |
JP3329623B2 (ja) * | 1995-06-27 | 2002-09-30 | 株式会社東芝 | ワイヤボンディング装置およびワイヤボンディング方法 |
US5645210A (en) * | 1996-02-09 | 1997-07-08 | Kulicke And Soffa Investments, Inc. | High speed bonding tool contact detector |
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