JP2019149462A - 基板処理装置、基板処理方法及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、本実施形態に係る基板処理システムの概略構成を示す図である。以下では、位置関係を明確にするために、互いに直交するX軸、Y軸およびZ軸を規定し、Z軸正方向を鉛直上向き方向とする。
続いて、図2を参照して、基板処理システム1が含む基板処理装置10の構成を説明する。基板処理装置10は、表面に膜Fが形成されたウェハW(基板)を処理対象とし、ウェハWの周縁部Wc(周縁の近傍部分)から膜Fを除去する処理を行う。
続いて、図3〜図6を参照して、排気流路50の構成を説明する。排気流路50は、処理ユニット16における基板処理によって生じる排気を外部配管に排出する流路である。排気流路50は、インナーダクト51(排気管)と、アウターダクト52と、流入口53と、中間流路54と、液供給部60(図5参照)と、排気チェンジャー70(排出先設定部)と、を備える。流入口53は、処理ユニット16からの排気の流入部分である。中間流路54は、インナーダクト51及び流入口53を連結する部分である。
制御部18は、図7に示すように、機能モジュールとして、液供給制御部81と、回転制御部82と、温調制御部83と、排気切替制御部84とを含む。
続いて、上記の処理ユニット16によってウェハWを処理する方法について、図8を参照して説明する。ここでは、図8を参照して、カップ洗浄処理手順を説明する。上述したように、本実施形態でのカップ洗浄処理は、ウェハ本処理が行われた後に行われる。このため、カップ洗浄処理の開始時においては、回転保持部21にウェハWが保持された状態とされている。
以上、本開示に係る実施形態について詳細に説明したが、本発明の要旨の範囲内で種々の変形を上記の実施形態に加えてもよい。例えば、カップ洗浄処理中においてインナーダクト51を回転させながらインナーダクト51に液体を供給しインナーダクト51の付着物を除去する例を説明したが、インナーダクト51の付着物を除去するための処理を、ウェハ本処理中において実行してもよい。ただし、上述したように、インナーダクト51を回転させることにより排気の排出先(酸薬液用配管150又はアルカリ薬液用配管160)が変わることとなるため、ウェハWの表面Waに対して酸性又はアルカリ性の薬液が供給されるウェハ本処理において無条件にインナーダクト51を回転させることはできない。この点、ウェハ本処理においては、ウェハWの回転方向が変更になる際、ウェハWへの液供給が一時的に停止する時間帯があるところ、当該時間帯においてインナーダクト51を回転させると共にインナーダクト51に液体を供給する処理(インナーダクト51の付着物を除去する処理)を行っても、基板処理において何ら問題とならない。そこで、ウェハWへの液供給が一時的に停止する時間に限り、ウェハ本処理においてもインナーダクト51の付着物を除去する処理を行ってもよい。すなわち、制御部18は、ウェハ本処理において、ウェハWの回転方向が第1の方向(例えば逆回転方向)から第2の方向(例えば正回転方向)に切り替わる際のウェハWの停止タイミングにおいて、インナーダクト51を回転させるように、排気チェンジャー70を制御してもよい。
Claims (11)
- 基板処理によって生じる排気を外部配管である第1配管又は第2配管のいずれか一方に選択的に排出可能に構成された排気管と、
前記排気管に対して外方から洗浄のための液体を供給する液供給部と、
前記排気管を回転させることにより、前記排気の排出先を前記第1配管又は前記第2配管のいずれか一方に設定する排出先設定部と、
制御部と、を備え、
前記制御部は、
前記排気管を回転させるように前記排出先設定部を制御することと、
回転する前記排気管に対して前記液体が供給されるように前記液供給部を制御することと、を実行するように構成されている、基板処理装置。 - 前記基板を保持しつつ回転させる回転保持部を更に備え、
前記制御部は、
前記基板の回転中に前記排気管を回転させるように、前記排出先設定部を制御する、請求項1記載の基板処理装置。 - 前記基板を保持しつつ回転させる回転保持部を更に備え、
前記回転保持部は、第1の方向に前記基板を回転させた後に、該第1の方向とは反対方向である第2の方向に前記基板を回転させ、
前記制御部は、
前記基板の回転方向が前記第1の方向から前記第2の方向に切り替わる際の前記基板の停止タイミングにおいて前記排気管を回転させるように、前記排出先設定部を制御する、請求項1又は2記載の基板処理装置。 - 前記液供給部は、前記液体として希フッ酸及びリンス液の少なくともいずれか一方を吐出する、請求項1〜3のいずれか一項記載の基板処理装置。
- 前記液供給部は、前記希フッ酸を供給する第1供給部と、前記リンス液を供給する第2供給部とを有し、
前記制御部は、回転する前記排気管に対して前記希フッ酸が供給されるように前記第1供給部を制御した後に、前記排気管に対して前記リンス液が供給されるように前記第2供給部を制御する、請求項4記載の基板処理装置。 - 前記排気管は、円筒状に形成されており、その側面には、軸方向の互いに異なる領域に、前記第1配管に連続する第1領域及び前記第2配管に連続する第2領域を有しており、
前記第1領域の一部には、前記排気管の内部と前記第1配管とが連通するように前記側面を貫通する第1貫通領域が形成されており、
前記第2領域の一部には、前記排気管の内部と前記第2配管とが連通するように前記側面を貫通する第2貫通領域が形成されており、
前記第1貫通領域及び前記第2貫通領域は、前記排気管の周方向において互いに異なる領域に形成されている、請求項1〜5のいずれか一項記載の基板処理装置。 - 基板処理によって生じる排気を外部配管に排出する排気管を回転させることにより、該排気の排出先を、前記外部配管である第1配管又は第2配管のいずれか一方に設定する工程と、
回転する前記排気管に対して液体を吐出し、前記排気管を洗浄する工程と、を含む基板処理方法。 - 前記基板を保持しつつ回転させる回転保持部によって前記基板が回転している際に、前記排気管を回転させる、請求項7記載の基板処理方法。
- 前記基板を保持しつつ回転させる回転保持部によって前記基板の回転方向が切り替えられる際の前記基板の停止タイミングにおいて、前記排気管を回転させる、請求項7又は8記載の基板処理方法。
- 回転する前記排気管に対して前記液体として前記希フッ酸を吐出した後に、回転する前記排気管に対して前記液体としてリンス液を吐出する、請求項7〜9のいずれか一項記載の基板処理方法。
- 請求項7〜10のいずれか一項に記載の基板処理方法を基板処理装置に実行させるためのプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012009511A (ja) * | 2010-06-22 | 2012-01-12 | Tokyo Electron Ltd | 流路切替え装置、処理装置、流路切替え方法及び処理方法並びに記憶媒体 |
JP2012099582A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置、液処理方法、およびこの液処理方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体 |
JP2014041994A (ja) * | 2012-07-26 | 2014-03-06 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置および洗浄方法 |
JP2014103263A (ja) * | 2012-11-20 | 2014-06-05 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 |
JP2016072480A (ja) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理システム |
Family Cites Families (9)
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---|---|---|---|---|
US4381443A (en) * | 1981-06-24 | 1983-04-26 | Sunset Ltd. | Portable unit for heating packaged food |
JP2002176026A (ja) * | 2000-12-05 | 2002-06-21 | Ses Co Ltd | 枚葉式基板洗浄方法および枚葉式基板洗浄装置 |
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JP4983885B2 (ja) * | 2009-10-16 | 2012-07-25 | 東京エレクトロン株式会社 | 液処理装置、液処理方法及び記憶媒体 |
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---|---|---|---|---|
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JP2012099582A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置、液処理方法、およびこの液処理方法を実行するためのコンピュータプログラムが記録された記録媒体 |
JP2014041994A (ja) * | 2012-07-26 | 2014-03-06 | Tokyo Electron Ltd | 液処理装置および洗浄方法 |
JP2014103263A (ja) * | 2012-11-20 | 2014-06-05 | Tokyo Electron Ltd | 基板処理装置、基板処理方法及び記憶媒体 |
JP2016072480A (ja) * | 2014-09-30 | 2016-05-09 | 株式会社Screenホールディングス | 基板処理システム |
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