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JP2017077101A - 電力変換回路 - Google Patents

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JP2017077101A
JP2017077101A JP2015203547A JP2015203547A JP2017077101A JP 2017077101 A JP2017077101 A JP 2017077101A JP 2015203547 A JP2015203547 A JP 2015203547A JP 2015203547 A JP2015203547 A JP 2015203547A JP 2017077101 A JP2017077101 A JP 2017077101A
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Koji Yamaguchi
浩二 山口
朋浩 松田
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朋浩 松田
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Abstract

【課題】スイッチング回数の多い方のアームにおける発熱を従来よりも低減する。【解決手段】少なくとも2つの半導体スイッチング素子が直列接続された少なくとも2つのスイッチングレグを備え、前記半導体スイッチング素子の接続点の1つが外部の第1負荷あるいは外部の第1電源に接続され、半導体スイッチング素子の開放端が外部の第2電源あるいは外部の第2負荷に接続される電力変換回路であって、スイッチングレグにおいて、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグにおける半導体スイッチング素子は、スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグにおける半導体スイッチング素子よりもバンドギャップが広い半導体材料で形成されている。【選択図】図1

Description

本発明は、電力変換回路に関する。
下記特許文献1には、スイッチトリラクタンスモータ(以下ではSRモータという。)用の駆動回路が開示されている。この駆動回路は、直流電源から供給された直流電力を間欠状電力に変換する電力変換回路であり、H型ブリッジ回路をSRモータのステータ巻線に対応して設けたものである。例えば特許文献1の図13には、三相のSRモータに対応して、3つのH型ブリッジ回路(H型の非対称ブリッジ回路)を基本構成回路として備える駆動回路が記載されている。
特開2012−044816号公報
ところで、上記H型ブリッジ回路では、左右のスイッチングレグ(左レグ及び右レグ)を構成する半導体スイッチング素子のスイッチング回数に偏りがあるため、左右のスイッチングレグでスイッチング損失や発熱が異なるという現象が起こる。すなわち、上記H型ブリッジ回路では、スイッチング回数の多い方のスイッチングレグの半導体スイッチング素子がスイッチング回数の少ない方のスイッチングレグの半導体スイッチング素子よりも劣化が早くなり、この結果としてスイッチング回数の多い方のスイッチングレグによってH型ブリッジ回路つまり電力変換回路の寿命が支配されてしまう。
本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであり、スイッチング回数の多い方のスイッチングレグにおけるスイッチング損失を従来よりも低減することを目的とするものである。
上記目的を達成するために、本発明では、第1の解決手段として、少なくとも2つの半導体スイッチング素子が直列接続された少なくとも2つのスイッチングレグを備え、前記半導体スイッチング素子の接続点の1つが外部の第1負荷あるいは外部の第1電源に接続され、前記半導体スイッチング素子の開放端が外部の第2電源あるいは外部の第2負荷に接続される電力変換回路であって、前記スイッチングレグにおいて、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグにおける前記半導体スイッチング素子は、スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグにおける前記半導体スイッチング素子よりもバンドギャップが広い半導体材料で形成されている、という手段を採用する。
本発明では、第2の解決手段として、上記第1の解決手段において、前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグの前記半導体スイッチング素子は化合物半導体によって形成され、前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグにおける前記半導体スイッチング素子は、シリコン半導体によって形成されている、という手段を採用する。
本発明では、第3の解決手段として、上記第2の解決手段において、前記化合物半導体は、炭化ケイ素半導体あるいは窒化ガリウム半導体である、という手段を採用する。
本発明では、第4の解決手段として、上記第1〜第3のいずれかの解決手段において、
前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグの前記半導体スイッチング素子は、同一の半導体材料から形成された保護用ダイオードを備えるトランジスタである、という手段を採用する。
本発明では、第5の解決手段として、上記第1〜第4のいずれかの解決手段において、前記第1負荷は、スイッチトリラクタンスモータであり、前記スイッチングレグは、前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグと前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグとが対を構成し、当該対が前記スイッチトリラクタンスモータの巻線に対応して複数備えられる、という手段を採用する。
本発明では、第6の解決手段として、上記第1〜第4のいずれかの解決手段において、前記第1負荷は、スイッチトリラクタンスモータであり、前記スイッチングレグは、1つの前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグあるいは前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグと、前記スイッチトリラクタンスモータの巻線に対応する複数の前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグあるいは前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグとを備える、という手段を採用する。
本発明によれば、スイッチング回数の多い方のスイッチングレグにおけるスイッチング損失を従来よりも低減することができる。
本発明の第1実施形態に係るモータ駆動回路の回路図である。 本発明の第1実施形態における基本回路(H型ブリッジ回路)の回路図である。 本発明の第1実施形態に係るモータ駆動回路の動作を示す波形図である。 本発明の第2実施形態に係るモータ駆動回路の回路図である。 本発明の第2実施形態に係るモータ駆動回路の動作を示す波形図である。 本発明の第2実施形態の変形例に係るモータ駆動回路の回路図である。 本発明の第2実施形態の変形例に係るモータ駆動回路の動作を示す波形図である。 本発明の第2実施形態の変形例における左レグの変形例を示す回路図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態について説明する。
なお、本実施形態は、本発明をモータ駆動回路に適用した場合に関するものである。
〔第1実施形態〕
第1実施形態に係るモータ駆動回路は、三相SRモータMを駆動対象とする電力回路であり、図1に示されているように直流電源E、平滑コンデンサC、3つのH型ブリッジ回路Sa,Sb,Scを備える。なお、このような各構成要素のうち、3つのH型ブリッジ回路Sa,Sb,Scは、上記三相SRモータMに対応した三相電力変換回路を構成している。
上記三相SRモータMは、ステータにおける突極数が6、ロータの突極数が4、また各突極を構成するステータ巻線が三相(A相、B相、C相)のスイッチトリラクタンスモータである。なお、図1では、A相に対応する突極を「A」、「A’」と表記し、B相に対応する突極を「B」、「B’」と表記し、C相に対応する突極を「C」、「C’」と表記している。このような三相SRモータMは、本発明における第1負荷に相当する。
直流電源Eは、正極端子T1及び負極端子T2を備えており、当該正極端子T1及び負極端子T2を介して所定電圧の直流電力を電力変換回路に供給する電圧源である。なお、このような直流電源Eは、本発明における第2電源に相当する。
平滑コンデンサCは、このような直流電源Eに並列接続されたフィルムコンデンサである。すなわち、平滑コンデンサCは、一端が直流電源Eの正極端子T1に接続され、また他端が直流電源Eの負極端子T2に接続された二端子の回路素子であり、直流電源Eから供給された電荷を充放電することにより上記直流電力の電圧変動を平滑化する。
上述した三相電力変換回路、つまり3つのH型ブリッジ回路Sa,Sb,Scは、直流電源Eから供給された直流電力を三相SRモータMの駆動電流に変換する。すなわち、三相電力変換回路(3つのH型ブリッジ回路Sa,Sb,Sc)は、直流電源E(第2電源)の直流電力をパルス状の駆動電流に変換して三相SRモータM(第1負荷)に供給する。
図2(a)は、H型ブリッジ回路Saの詳細を示す回路図である。このH型ブリッジ回路Saは、図1及び図2(a)に示すように、4つの半導体スイッチング素子、つまりIGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)Q1、シリコンダイオードD1、ショットキーダイオードD2及びMOS(Metal-Oxide-Semiconductor)トランジスタQ2を備えている。
このような4つの半導体スイッチング素子のうち、IGBTQ1及びシリコンダイオードD1は、互いに直列接続されており、左レグN(図2(a)参照)を構成している。また、このようなIGBTQ1及びシリコンダイオードD1のうち、IGBTQ1は左レグNの上アームを構成し、シリコンダイオードD1は左レグNの下アームを構成している。
すなわち、IGBTQ1のエミッタ端子はシリコンダイオードD1のカソード端子と接続されており、当該エミッタ端子とカソード端子との接続点(つまり左レグNの出力端)は、三相SRモータM(第1負荷)のA相巻線Laの一端に接続されている(図2(a)参照)。また、左レグNの一方の開放端かつ入力端であるIGBTQ1のコレクタ端子は、直流電源Eの正極端子T1に接続され、左レグNの他方の開放端かつ入力端であるシリコンダイオードD1のアノード端子は、直流電源Eの負極端子T2に接続されている。
このような左レグNを構成するIGBTQ1及びシリコンダイオードD1は、半導体材料としてシリコンを用いたシリコン半導体素子である。なお、例えば302[K]におけるシリコンのバンドギャップは、約1.11[eV]である。
一方、ショットキーダイオードD2及びMOSトランジスタQ2は、図1及び図2(a)に示すように直列接続されており、右レグM(図2(a)参照)を構成している。
すなわち、MOSトランジスタQ2のドレイン端子はショットキーダイオードD2のアノード端子と接続されており、当該ドレイン端子とアノード端子との接続点(つまり右レグMの出力端)は、三相SRモータM(第1負荷)のA相巻線Laの他端に接続されている(図2(a)参照)。
また、右レグMの一方の開放端かつ入力端であるショットキーダイオードD2のカソード端子は、直流電源Eの正極端子T1に接続され、右レグMの他方の開放端かつ入力端であるMOSトランジスタQ2のソース端子は、直流電源Eの負極端子T2に接続されている。なお、ショットキーダイオードD2は、右レグMの上アームを構成し、MOSトランジスタQ2は、右レグMの下アームを構成している。
このような右レグMを構成するショットキーダイオードD2及びMOSトランジスタQ2は、上記左レグNを構成するIGBTQ1及びシリコンダイオードD1の半導体つまりシリコンよりもバンドギャップが広い化合物半導体のうち、炭化ケイ素を半導体材料とする炭化ケイ素半導体素子である。なお、例えば302[K]における炭化ケイ素のバンドギャップは、約2.86[eV]である。
すなわち、H型ブリッジ回路Saは、左レグNと右レグMとからなるレグ対によって構成されている。また、このようなレグ対における右レグMでは、左レグNの半導体スイッチング素子よりもバンドギャップが倍以上広い半導体材料で形成された半導体スイッチング素子を用いる。詳細については後述するが、このような左レグN及び右レグMのうち、左レグNは、本発明におけるスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグに相当し、右レグMは、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグに相当する。
ここで、このようなH型ブリッジ回路Saには、いくつかの変形例が考えられる。例えば図2(b)に示すように、左レグと右レグとを構成する半導体スイッチング素子を入れ替えると共に、左レグと右レグとにおける上アームを構成する半導体スイッチング素子と下アームを構成する半導体スイッチング素子とを入れ替えた回路構成が考えられる。
すなわち、図2(b)における左レグN’は、下アームを構成するショットキーダイオードD2及び上アームを構成するMOSトランジスタQ2で構成され、右レグM’は、下アームを構成するIGBTQ1及び上アームを構成するシリコンダイオードD1で構成される。なお、この図2(b)に示す回路構成の場合、左レグN’がスイッチング回数が多い方のスイッチングレグであり、また右レグM’がスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグである。
また、図示しないが、H型ブリッジ回路Saにおいて、左レグNと右レグMとにおける上アームを構成する半導体スイッチング素子と下アームを構成する半導体スイッチング素子とを入れ替えた回路構成や、図2(b)に示す回路構成において、左レグN’と右レグM’における上アームを構成する半導体スイッチング素子と下アームを構成する半導体スイッチング素子とを入れ替えた回路構成も考えられる。
さらには、MOSトランジスタが実装されたパワーモジュールには、一般的にMOSトランジスタと同一の半導体材料から形成された保護用ダイオード(つまりショットキーダイオード)が並列接続された状態で実装されているので、図2(c)に示すように上記保護用ダイオードが並列接続されたMOSトランジスタのゲート端子をソース端子に接続したものをショットキーダイオードD2の代わりに用いても良い。すなわち、図2(c)における右レグM”は、MOSトランジスタに保護用ダイオードが並列接続されたショットキーダイオードD’とMOSトランジスタQ2に保護用ダイオードが並列接続されたMOSトランジスタQ2’とから構成される。
H型ブリッジ回路Sb及びH型ブリッジ回路Scについては詳細回路を割愛するが、上述したH型ブリッジ回路Saと同様な左レグ及び右レグを備えている。H型ブリッジ回路Sbは、図1に示すように、4つの半導体スイッチング素子、つまりIGBTQ3、シリコンダイオードD3、ショットキーダイオードD4及びMOSトランジスタQ4を備えている。このような4つの半導体スイッチング素子のうち、IGBTQ3及びシリコンダイオードD3は、直列接続されており、左レグを構成している。
すなわち、IGBTQ3のエミッタ端子はシリコンダイオードD3のカソード端子と接続されており、当該エミッタ端子とカソード端子との接続点(つまり左レグの出力端)は、三相SRモータM(第1負荷)のB相巻線の一端に接続されている。また、左レグの一方の開放端かつ入力端であるIGBTQ3のコレクタ端子は、直流電源Eの正極端子T1に接続され、左レグの他方の開放端かつ入力端であるシリコンダイオードD3のアノード端子は、直流電源Eの負極端子T2に接続されている。
このようなH型ブリッジ回路Sbにおいて、左レグを構成するIGBTQ3及びシリコンダイオードD3は、半導体材料としてシリコンを用いたシリコン半導体素子である。なお、例えば302[K]におけるシリコンのバンドギャップは、約1.11[eV]である。
一方、ショットキーダイオードD4及びMOSトランジスタQ4は、図1に示すように直列接続されており、右レグを構成している。すなわち、MOSトランジスタQ4のドレイン端子はショットキーダイオードD4のアノード端子と接続されており、当該ドレイン端子とアノード端子との接続点(つまり右レグの出力端)は、三相SRモータM(第1負荷)のB相巻線の他端に接続されている。
また、H型ブリッジ回路Sbにおいて、右レグの一方の開放端かつ入力端であるショットキーダイオードD4のカソード端子は、直流電源Eの正極端子T1に接続され、右レグの他方の開放端かつ入力端であるMOSトランジスタQ4のソース端子は、直流電源Eの負極端子T2に接続されている。
このようなH型ブリッジ回路Sbの右レグを構成するショットキーダイオードD4及びMOSトランジスタQ4は、H型ブリッジ回路Sbの左レグを構成するIGBTQ3及びシリコンダイオードD3の半導体つまりシリコンよりもバンドギャップが広い化合物半導体のうち、炭化ケイ素を半導体材料とする炭化ケイ素半導体素子である。なお、例えば302[K]における炭化ケイ素のバンドギャップは、約2.86[eV]である。
すなわち、H型ブリッジ回路Sbの右レグでは、左レグの半導体スイッチング素子よりもバンドギャップが倍以上広い半導体材料で形成された半導体スイッチング素子を用いる。このようなH型ブリッジ回路Sbにおける左レグは、本発明におけるスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグに相当し、右レグは、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグに相当する。
H型ブリッジ回路Scは、図1に示すように、4つの半導体スイッチング素子、つまりIGBTQ5、シリコンダイオードD5、ショットキーダイオードD6及びMOSトランジスタQ6を備えている。このような4つの半導体スイッチング素子のうち、IGBTQ5及びシリコンダイオードD5は、直列接続されており、左レグを構成している。
すなわち、IGBTQ5のエミッタ端子はシリコンダイオードD5のカソード端子と接続されており、当該エミッタ端子とカソード端子との接続点(つまり左レグの出力端)は、三相SRモータM(第1負荷)のC相巻線の一端に接続されている。また、左レグの一方の開放端かつ入力端であるIGBTQ5のコレクタ端子は、直流電源Eの正極端子T1に接続され、左レグの他方の開放端かつ入力端であるシリコンダイオードD5のアノード端子は、直流電源Eの負極端子T2に接続されている。
このようなH型ブリッジ回路Scにおいて、左レグを構成するIGBTQ5及びシリコンダイオードD5は、半導体材料としてシリコンを用いたシリコン半導体素子である。なお、例えば302[K]におけるシリコンのバンドギャップは、約1.11[eV]である。
一方、ショットキーダイオードD6及びMOSトランジスタQ6は、図1に示すように直列接続されており、右レグを構成している。すなわち、MOSトランジスタQ6のドレイン端子はショットキーダイオードD6のアノード端子と接続されており、当該ドレイン端子とアノード端子との接続点(つまり右レグの出力端)は、三相SRモータM(第1負荷)のC相巻線の他端に接続されている。
また、H型ブリッジ回路Scにおいて、右レグの一方の開放端かつ入力端であるショットキーダイオードD6のカソード端子は、直流電源Eの正極端子T1に接続され、右レグの他方の開放端かつ入力端であるMOSトランジスタQ6のソース端子は、直流電源Eの負極端子T2に接続されている。
このようなH型ブリッジ回路Scの右レグを構成するショットキーダイオードD6及びMOSトランジスタQ6は、H型ブリッジ回路Scの左レグを構成するIGBTQ5及びシリコンダイオードD5の半導体つまりシリコンよりもバンドギャップが広い化合物半導体のうち、炭化ケイ素を半導体材料とする炭化ケイ素半導体素子である。なお、例えば302[K]における炭化ケイ素のバンドギャップは、約2.86[eV]である。
すなわち、H型ブリッジ回路Scの右レグでは、左レグの半導体スイッチング素子よりもバンドギャップが倍以上広い半導体材料で形成された半導体スイッチング素子を用いる。このようなH型ブリッジ回路Scにおける左レグは、本発明におけるスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグに相当し、右レグは、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグに相当する。
以上のように、第1実施形態に係るモータ駆動回路では、3つのH型ブリッジ回路Sa,Sb,Scが左レグと右レグとからなるレグ対として構成されている。また、このような3つのH型ブリッジ回路Sa,Sb,Scは、三相SRモータMのA相〜C相の巻線に対応して、互いに影響を及ぼさない独立したブリッジ回路として設けられている。
次に、第1実施形態に係るモータ駆動回路の動作について詳しく説明する。
このモータ駆動回路は、動作という点では一般的なSRモータ駆動回路と同一である。すなわち、モータ駆動回路は、図示しないモータ制御装置から入力される制御信号(ゲート信号)に基づいて作動するものであり、三相SRモータMにおけるロータの突局がステータの突極に対して所定の位置関係(位相関係)になったタイミングで各H型ブリッジ回路Sa,Sb,Scに順次入力される上記ゲート信号に基づいてA相〜C相の駆動電流(モータ電流Ia〜Ic)を順次生成する。
ここで、モータ駆動回路を構成する各H型ブリッジ回路Sa,Sb,Scの動作は、動作タイミングを除いて同一である。したがって、以下では、代表としてH型ブリッジ回路Saの動作を図2(a)及び図3を参照して詳しく説明する。
上記モータ制御装置は、H型ブリッジ回路SaのIGBTQ1に対する制御信号として図3の下から2段目に示すQ1ゲート信号を生成し、またMOSトランジスタQ2に対する制御信号として図3の最下段に示すQ2ゲート信号を生成する。IGBTQ1は、このようなQ1ゲート信号に基づいてON/OFFし、またMOSトランジスタQ2はQ2ゲート信号に基づいてON/OFFする。この結果、三相SRモータMのA相巻線Laには、図3の下から3段目に示すモータ電圧Vaが印加され、よってモータ電圧Vaには図3の最上段に示すモータ電流Iaが通電される。
すなわち、モータ電流Iaは、ロータの回転角θonでIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2の何れもがONする、つまり動作モードがモード1(正電圧モード)となることによって立ち上がる。そして、モータ電流Iaは、MOSトランジスタQ2がON/OFFを繰り返す、つまり一定期間に亘ってモード2(還流モード)とモード1(正電圧モード)を繰り返すことによって目標電流Irefを維持する。そして、モータ電流Iaは、回転角θoffでIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2の何れもがOFFする、つまり動作モードがモード3(負電圧モード)になることによって立ち下る。
ここで、IGBTQ1は回転角θonから回転角θoffまでの期間においてON状態を維持するが、MOSトランジスタQ2は、当該期間においてON/OFFを繰り返す。また、シリコンダイオードD3は上記期間においてOFF状態を維持し、ショットキーダイオードD2は、MOSトランジスタQ2のON/OFFに連動してOFF/ONを繰り返す。
すなわち、A相巻線Laへの1回のモータ電流Iaの通電に際して、右レグMを構成するショットキーダイオードD2及びMOSトランジスタQ2のスイッチング回数は、左レグNを構成するIGBTQ1及びシリコンダイオードD1のスイッチング回数よりも多い。H型ブリッジ回路Saにおける左レグNと右レグMとにはスイッチング回数において差異があり、右レグMは、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグであり、左レグNはスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグである。
例えば、従来のように左レグ及び右レグを同一の半導体材料から形成された同一の半導体スイッチング素子から構成した場合、右レグにおけるスイッチング損失及び当該スイッチング損失に起因する発熱は左レグにおけるスイッチング損失及び発熱よりも大幅に大きくなる。
これに対してH型ブリッジ回路Saでは、右レグMは、左レグNのIGBTQ1及びシリコンダイオードD1の半導体材料であるシリコンよりもバンドギャップが広い炭化ケイ素を半導体材料とするショットキーダイオードD2及びMOSトランジスタQ2で構成されているので、スイッチング損失及び発熱がシリコンを半導体材料する半導体スイッチング素子を用いた場合よりも大幅に抑制される。
したがって、本実施形態によれば、右レグMつまりスイッチング回数の多い方のスイッチングレグにおけるスイッチング損失及び発熱を従来よりも低減することができる。
〔第2実施形態〕
次に、第2実施形態について、図4及び図5を参照して説明する。
上述した第1実施形態では、互いに独立した3つのH型ブリッジ回路Sa〜Sc(レグ対)を三相SRモータM(第1負荷)のA相〜C相の各巻線毎に設けたが、第2実施形態に係るモータ駆動回路は、1つの左レグN(スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグ)と、3つの巻線La〜Lcに対応する3つの右レグMa〜Mc(スイッチング回数が多い方のスイッチングレグ)とを備える。
第2実施形態における右レグMa〜Mcは、第1実施形態における右レグMと全く同一な直列接続回路である。すなわち、右レグMa〜Mcの上アームを構成するショットキーダイオードD2a〜D2cは、第1実施形態のショットキーダイオードD2と同様であり、下アームを構成するMOSトランジスタQ2a〜Q2cは、第1実施形態のMOSトランジスタQ2と同様である。
このような第2実施形態に係るモータ駆動回路は、単一の左レグNを三相SRモータMの3つの巻線La〜Lcで共用し、右レグMa〜Mcのみを巻線La〜Lc毎に設けたものでり、図5の波形図に示すように動作する。
つまり、このモータ駆動回路を制御するモータ制御装置(図示略)は、左レグNのIGBTQ1に対する制御信号として図5の下から4段目に示すQ1ゲート信号を生成し、また右レグMaのMOSトランジスタQ2aに対する制御信号として図5の下から3段目に示すQ2aゲート信号を生成し、右レグMbのMOSトランジスタQ2bに対する制御信号として図5の下から2段目に示すQ2bゲート信号を生成し、右レグMcのMOSトランジスタQ2cに対する制御信号として図5の最下段に示すQ2cゲート信号を生成する。
IGBTQ1は、上記Q1ゲート信号に基づいてON/OFFし、またMOSトランジスタQ2a〜Q2cは、Q2a〜Q2cゲート信号に基づいてON/OFFする。この結果、三相SRモータMのA相巻線Laには図5の最上段に示すモータ電流Iaが通電され、三相SRモータMのB相巻線Lbには図5の上から2段目に示すモータ電流Ibが通電され、三相SRモータMのC相巻線Lcには図5の上から3段目に示すモータ電流Icが通電される。
すなわち、モータ電流Iaは、ロータの回転角θonでIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2aの何れもがONすることによって立ち上がり、MOSトランジスタQ2aがON/OFFを繰り返すことによって目標電流Irefを維持し、さらに回転角θoffでIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2aの何れもがOFFすることによって立ち下る。
そして、モータ電流Ibは、このようなモータ電流Iaの立下り後の回転角θonにおいてIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2bの何れもがONすることによって立ち上がり、MOSトランジスタQ2bがON/OFFを繰り返すことによって目標電流Irefを維持し、さらに回転角θoffでIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2bの何れもがOFFすることによって立ち下る。さらにモータ電流Icは、このようなモータ電流Ibの立下り後の回転角θonにおいてIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2cの何れもがONすることによって立ち上がり、MOSトランジスタQ2cがON/OFFを繰り返すことによって目標電流Irefを維持し、さらに回転角θoffでIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2cの何れもがOFFすることによって立ち下る。
このような第2実施形態に係るモータ駆動回路において、A相巻線Laへの1回のモータ電流Iaの通電に際して、右レグMa〜Mcを構成するショットキーダイオードDa〜Dc及びMOSトランジスタQ2a〜Q2cのスイッチング回数は、左レグNを構成するIGBTQ1及びシリコンダイオードD1のスイッチング回数よりも多い。すなわち、右レグMa〜Mcは、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグであり、左レグNはスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグである。
しかしながら、右レグMa〜Mcは、左レグNのIGBTQ1及びシリコンダイオードD1の半導体材料であるシリコンよりもバンドギャップが広い炭化ケイ素を半導体材料とするショットキーダイオードD2a〜D2c及びMOSトランジスタQ2a〜Q2cで構成されているので、スイッチング損失及び発熱が従来よりも大幅に抑制される。したがって、第2実施形態によれば、右レグMa〜Mc(つまりスイッチング回数の多い方のスイッチングレグ)におけるスイッチング損失及び発熱を従来よりも低減することができる。
なお、このような第2実施形態に係るモータ駆動回路において、上アームを構成する半導体スイッチング素子と下アームを構成する半導体スイッチング素子とを入れ替えても良い。すなわち、左レグNの上アームをシリコンダイオードD1で、また下アームをIGBTQ1で構成し、右レグMa〜Mcの上アームをMOSトランジスタQ2a〜Q2cで、また下アームをショットキーダイオードD2a〜D2cで構成しても良い。
さらに、このような第2実施形態に係るモータ駆動回路の変形例として、図6に示す回路が考えられる。この変形例に係るモータ駆動回路は、図4と図6とを比較すると解るように、左レグと右レグとを構成する半導体スイッチング素子を入れ替えると共に、左レグと右レグとにおける上アームを構成する半導体スイッチング素子と下アームを構成する半導体スイッチング素子とを入れ替えたものである。
すなわち、図6における左レグN’は、下アームを構成するショットキーダイオードD2及び上アームを構成するMOSトランジスタQ2で構成されている。一方、右レグMa’は下アームを構成するIGBTQ1a及び上アームを構成するシリコンダイオードD1aで構成され、右レグMb’は下アームを構成するIGBTQ1b及び上アームを構成するシリコンダイオードD1bで構成され、右レグMc’は下アームを構成するIGBTQ1c及び上アームを構成するシリコンダイオードD1cで構成されている。
この回路構成の場合には、1つの左レグN’がスイッチング回数が多い方のスイッチングレグであり、3つの右レグMa’〜Mc’がスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグである。このような変形例に係るモータ駆動回路は、単一の左レグN’を三相SRモータMの3つの巻線La〜Lcで共用し、右レグMa’〜Mc ’を巻線La〜Lc毎に設けた点で図4の回路構成と同様であるが、図7の波形図に示すように動作する。
MOSトランジスタQ2は、図7の下から4段目に示すQ2ゲート信号に基づいてON/OFFし、またIGBTQ1a〜Q1cは、図7の下から3段目から最下段に示すQ1a〜Q1cゲート信号に基づいてON/OFFする。この結果、三相SRモータMのA相巻線La〜Lcには図7の最上段から上から3段目に示すモータ電流Ia〜Icが通電される。
すなわち、上記モータ電流Iaは、ロータの回転角θonでMOSトランジスタQ2及びIGBTQ1の何れもがONすることによって立ち上がり、MOSトランジスタQ2aがON/OFFを繰り返すことによって目標電流Irefを維持し、さらに回転角θoffでIGBTQ1及びMOSトランジスタQ2aの何れもがOFFすることによって立ち下る。
上記モータ電流Ibは、このようなモータ電流Iaの立下り後の回転角θonにおいてMOSトランジスタQ2及びIGBTQ1bの何れもがONすることによって立ち上がり、MOSトランジスタQ2がON/OFFを繰り返すことによって目標電流Irefを維持し、さらに回転角θoffでMOSトランジスタQ2及びIGBTQ1bの何れもがOFFすることによって立ち下る。さらに上記モータ電流Icは、このようなモータ電流Ibの立下り後の回転角θonにおいてMOSトランジスタQ2及びIGBTQ1cの何れもがONすることによって立ち上がり、MOSトランジスタQ2がON/OFFを繰り返すことによって目標電流Irefを維持し、さらに回転角θoffでMOSトランジスタQ2及びIGBTQ1cの何れもがOFFすることによって立ち下る。
このような変形例に係るモータ駆動回路において、A相巻線Laへの1回のモータ電流Iaの通電に際して、左レグN’を構成するショットキーダイオードD2及びMOSトランジスタQ2のスイッチング回数は、右レグMa’〜Mc’を構成するIGBTQ1a〜Q1c及びシリコンダイオードD1a〜D1cのスイッチング回数よりも多い。すなわち、左レグN’は、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグであり、右レグMa’〜Mc’はスイッチング回数が少ない方のスイッチングレグである。
このような変形例において、左レグN’は、右レグMa’〜Mc’のIGBTQ1a〜Q1c及びシリコンダイオードD1a〜D1cの半導体材料であるシリコンよりもバンドギャップが広い炭化ケイ素を半導体材料とするショットキーダイオードD2及びMOSトランジスタQ2で構成されているので、スイッチング損失及び発熱が従来よりも大幅に抑制される。したがって、第2実施形態によれば、左レグN’(つまりスイッチング回数の多い方のスイッチングレグ)におけるスイッチング損失及び発熱を従来よりも低減することができる。
なお、この変形例において、図8(a)に示すように、左レグN’におけるMOSトランジスタQ2及びショットキーダイオードD2を図2(c)に示したMOSトランジスタQ2’に変更した左レグN”を採用することが考えられる。すなわち、この左レグN”は、左レグN’におけるMOSトランジスタQ2を上アーム用のMOSトランジスタQ2u’に置き換え、ショットキーダイオードD2を下アーム用のMOSトランジスタQ2d’に置き換えたものである。
このような左レグN”において、図8(b)のQ2u’ゲート信号及びQ2d’ゲート信号に示すように、上アーム用のMOSトランジスタQ2u’のON/OFFに同期させて下アーム用のMOSトランジスタQ2d’をOFF/ONさせることによって、モード2(還流モード)時の導通損失を低減することができる。
すなわち、左レグN”を採用することにより、A相において左レグN”のMOSトランジスタQ2u’がON、かつ、右レグMa’のIGBTQ1aがOFFすることによりシリコンダイオードD1aに還流電流が流れている期間(還流モード期間)、B相において左レグN”のMOSトランジスタQ2u’がON、かつ、右レグMb’のIGBTQ1bがOFFすることによりシリコンダイオードD1bに還流電流が流れている期間(還流モード期間)、またC相において左レグN”のMOSトランジスタQ2u’がON、かつ、右レグMc’のIGBTQ1cがOFFすることによりシリコンダイオードD1cに還流電流が流れている期間(還流モード期間)における導通損失を低減することができる。
なお、本発明は上記第1、第2実施形態に限定されるものではなく、例えば以下のような変形例が考えられる。
(1)上記第1、第2実施形態では本願発明をモータ駆動回路に適用した場合、つまり本願発明をインバータに適用した場合について説明したが、本願発明はこれに限定されない。本願発明は、三相SRモータM(第1負荷) に代えて第1電源が接続され、かつ、直流電源E(第2電源)に代えて第2負荷が接続され、第1電源から供給された交流電力を直流電力に変換して第2負荷に供給するコンバータにも適用できる。
(2)上記第1、第2実施形態では、上アーム及び下アームを単一の半導体スイッチング素子で構成したが、本発明はこれに限定されない。すなわち、上アーム及び/あるいは下アームを複数の半導体スイッチング素子で構成してもよい。
例えば図2(a)における左レグNの上アームを直列接続及び/あるいは並列接続された複数のIGBTQ1で構成し、下アームを直列接続及び/あるいは並列接続された複数のシリコンダイオードD1で構成し、また右アームMの上アームを直列接続及び/あるいは並列接続された複数のショットキーダイオードD2で構成し、下アームを直列接続及び/あるいは並列接続された複数のMOSトランジスタQ2で構成しても良い。このような構成を採用することにより、上アーム及び下アームの耐圧及び/あるいは電流容量を増大させることが可能である。
(3)上記第1、第2実施形態では、MOSトランジスタ及びショットキーダイオード、つまり炭化ケイ素半導体素子をスイッチング回数が多い方のスイッチングレグに採用したが、本発明はこれに限定されない。化合物半導体には種々のものがあるが、炭化ケイ素半導体素子に代えて、例えば窒化ガリウム半導体素子を採用してもよい。窒化ガリウム半導体素子として、例えばGaN-HEMT(High Electron Mobility Transistor)を採用することが考えられる。
M 三相SRモータ(第1負荷)
E 直流電源(第2電源)
C 平滑コンデンサ
Sa,Sb,Sc H型ブリッジ回路
Q1、Q3、Q5 IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)
Q2、Q4、Q6 MOSトランジスタ
D1、D3、D5 シリコンダイオード
D2、D4、D6 ショットキーダイオード
N 左レグ
M 右レグ
T1 正極端子
T2 負極端子

Claims (6)

  1. 少なくとも2つの半導体スイッチング素子が直列接続された少なくとも2つのスイッチングレグを備え、前記半導体スイッチング素子の接続点の1つが外部の第1負荷あるいは外部の第1電源に接続され、前記半導体スイッチング素子の開放端が外部の第2電源あるいは外部の第2負荷に接続される電力変換回路であって、
    前記スイッチングレグにおいて、スイッチング回数が多い方のスイッチングレグにおける前記半導体スイッチング素子は、スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグにおける前記半導体スイッチング素子よりもバンドギャップが広い半導体材料で形成されていることを特徴とする電力変換回路。
  2. 前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグの前記半導体スイッチング素子は化合物半導体によって形成され、
    前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグにおける前記半導体スイッチング素子は、シリコン半導体によって形成されていることを特徴とする請求項1に記載の電力変換回路。
  3. 前記化合物半導体は、炭化ケイ素半導体あるいは窒化ガリウム半導体であることを特徴とする請求項2に記載の電力変換回路。
  4. 前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグの前記半導体スイッチング素子は、同一の半導体材料から形成された保護用ダイオードを備えるトランジスタであることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の電力変換回路。
  5. 前記第1負荷は、スイッチトリラクタンスモータであり、
    前記スイッチングレグは、前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグと前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグとが対を構成し、当該対が前記スイッチトリラクタンスモータの巻線に対応して複数備えられることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の電力変換回路。
  6. 前記第1負荷は、スイッチトリラクタンスモータであり、
    前記スイッチングレグは、1つの前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグあるいは前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグと、前記スイッチトリラクタンスモータの巻線に対応する複数の前記スイッチング回数が少ない方のスイッチングレグあるいは前記スイッチング回数が多い方のスイッチングレグとを備えることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の電力変換回路。
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