JP2015185675A - Substrate processing apparatus, substrate processing method, and method for manufacturing substrate - Google Patents
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- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 365
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 title abstract description 26
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims abstract description 102
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims abstract description 94
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims abstract description 38
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 claims abstract description 20
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 claims description 38
- 239000002344 surface layer Substances 0.000 claims description 30
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 17
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 17
- 230000003028 elevating effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000008569 process Effects 0.000 abstract description 13
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 42
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 39
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 34
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 21
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 12
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 11
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 9
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 7
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 6
- 229920000459 Nitrile rubber Polymers 0.000 description 5
- 229920006311 Urethane elastomer Polymers 0.000 description 5
- HGAZMNJKRQFZKS-UHFFFAOYSA-N chloroethene;ethenyl acetate Chemical compound ClC=C.CC(=O)OC=C HGAZMNJKRQFZKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000002940 repellent Effects 0.000 description 4
- 239000005871 repellent Substances 0.000 description 4
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 4
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 3
- 230000008859 change Effects 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 238000002386 leaching Methods 0.000 description 2
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 2
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 230000000994 depressogenic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 239000012943 hotmelt Substances 0.000 description 1
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 1
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 1
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 1
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000005416 organic matter Substances 0.000 description 1
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 1
- 238000000059 patterning Methods 0.000 description 1
- 239000002957 persistent organic pollutant Substances 0.000 description 1
- 239000011148 porous material Substances 0.000 description 1
- 238000010405 reoxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 239000007921 spray Substances 0.000 description 1
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- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
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Abstract
Description
本発明は、基板処理装置、基板処理方法及び基板を製造する方法、特に、基板に塗布液を塗布する前に基板の表面処理を行う基板処理装置、基板処理方法及び基板を製造する方法に関する。 The present invention relates to a substrate processing apparatus, a substrate processing method, and a method for manufacturing a substrate, and more particularly, to a substrate processing apparatus, a substrate processing method, and a method for manufacturing a substrate that perform surface treatment of a substrate before applying a coating solution to the substrate.
ハンダバンプを基板上の電極に形成するためのフラックスの供給として、ペースト状のフラックスをスクリーン印刷する方法が用いられている。このようなフラックスを印刷する方法は使用実績のある方法であるが、スクリーンとなる印刷版の管理が煩雑であり、さらに微細な電極パターンや電極用の深いホールへの対応について難易度が高いという課題がある。 As a supply of flux for forming solder bumps on electrodes on a substrate, a method of screen printing a paste-like flux is used. Although the method of printing such a flux is a method with a track record of use, the management of the printing plate used as a screen is complicated, and it is said that the degree of difficulty in dealing with fine electrode patterns and deep holes for electrodes is high. There are challenges.
上記方法に代わるものとして、ディスペンサやインクジェット式の塗布ヘッドによりホールに対してパターニング塗布する方法が挙げられるが、一般的なディスペンサでは通常のホールサイズである直径数10μm、深さ数μm〜数10μmに対して液滴量が多すぎる点と、ノズル数が少ない点とからこの用途に不向きであり、マルチノズルで微小液滴を形成滴下できるインクジェット式の方が優れていると考えられる(例えば、特許文献1参照)。 As an alternative to the above method, there is a method of patterning and applying to a hole by a dispenser or an ink jet type application head, but in a general dispenser, a diameter of several tens of μm, a depth of several μm to several tens of μm, which is a normal hole size. In contrast, it is unsuitable for this application because of its excessive droplet volume and the small number of nozzles, and it is considered that the ink jet type capable of forming and dropping microdroplets with a multi-nozzle is superior (for example, Patent Document 1).
しかしながら、インクジェット式にはヘッドの構造上から吐出可能な液の粘度に制約があり、一般的なヘッドで吐出時20cP程度、特殊なヘッドにおいても吐出時100cP程度の比較的低粘度の液を用いる必要がある。 However, the ink jet type has a limitation on the viscosity of the liquid that can be discharged from the structure of the head, and a liquid having a relatively low viscosity of about 20 cP when discharging with a general head and about 100 cP when discharging with a special head is used. There is a need.
ところで、電極用のホールを形成した基板の材質が、多孔質のように毛細管現象が発生し易い形状となっている場合、ホール内に滴下、塗布した塗布液が低粘度のものであると、毛細管現象によりホール外への浸み出し現象が生じる場合がある。特に基板上の材質が塗布液に対して濡れ性の良いものであると上記現象は顕著となる。 By the way, when the material of the substrate on which the hole for the electrode is formed has a shape in which capillary phenomenon is likely to occur like a porous material, the coating solution dropped and applied in the hole has a low viscosity, There may be a phenomenon of seeping out of the hole due to capillary action. In particular, the above phenomenon becomes remarkable when the material on the substrate has good wettability to the coating solution.
基板上の電極用のホールから塗布液がホール外へと浸み出す現象の説明図を図6に示す。図6(a)に示すように、基板101には、電極用のホール102がレジスト(ソルダーレジスト)103により形成されている。このホール102には、ハンダボール(図示せず)を搭載するための塗布液としてフラックス105が滴下されている。上記したレジスト103は多孔質の状態であり、ホール102の側面を含むレジスト103の表面103aには多数の凹凸が形成されている。
FIG. 6 shows an explanatory diagram of the phenomenon in which the coating liquid oozes out of the hole from the electrode hole on the substrate. As shown in FIG. 6A, an
図6(b)に示すように、ホール102に滴下、塗布されたフラックス105は、レジスト表面103aの凹凸部分による毛細管現象により、ホール102の側面に沿ってホール102外へ向けて浸み出し始める。そして図6(c)に示すように、フラックス105はホール102の側面上端に浸み出し、さらにレジスト103がフラックス105と濡れ性の良いことから、図6(d)に示すようにフラックス105はホール102から出て基板101上のレジスト103表面に浸み出し、広がっている。
As shown in FIG. 6B, the
このように、ホール内に滴下した塗布液(フラックス)がホール外に浸み出してしまうと、ホール内の液量不足と、基板上に浸み出した液が及ぼす悪影響の問題が発生し、さらにはパターン塗布のメリットも失われてしまう。具体的には塗布液がフラックスであれば、上記ホール内の液量不足はフラックス量不足としてリフロー処理に不具合が生じる可能性があり、基板上への浸み出しはボールマウント時のミストラップ、基板洗浄時の残渣残りの発生等につながる。このような問題に対して、フラックス等の塗布液に要求される性能を維持したまま液物性(例えば、高表面張力化等)のみで解決するのは困難を伴う。例えば、インクジェットで吐出できる液で対応するにはホットメルトやUV硬化、速乾等の相変化的な特殊液でないと対応ができず、さらに使用できる液の選択範囲を著しく狭めることになる。これらは、インクジェット式のヘッドを使用する場合に限らず、低粘度液を使用する場合の共通の問題である。 In this way, when the coating liquid (flux) dripped into the hole oozes out of the hole, there is a problem of an insufficient amount of liquid in the hole and an adverse effect of the liquid leached on the substrate, Furthermore, the merit of pattern application is lost. Specifically, if the coating liquid is a flux, insufficient liquid in the hole may cause a problem in the reflow process due to insufficient flux, and leaching onto the substrate is mistrap during ball mounting, This can lead to residue residue during substrate cleaning. It is difficult to solve such a problem with only liquid properties (for example, high surface tension) while maintaining the performance required for a coating solution such as flux. For example, in order to cope with a liquid that can be ejected by ink jet, it is not possible to cope with a special liquid having a phase change such as hot melt, UV curing, or quick drying, and the selection range of usable liquids is remarkably narrowed. These are common problems not only when using an ink jet head but also when using a low viscosity liquid.
塗布液の上記ホール外への浸み出しを防止するには、フラックス等の塗布液と基板上のレジスト膜の表面との濡れ性を悪く(撥液性を高め)すればよく、例えば、塗布の前処理として基板のレジスト膜上に撥液膜をコーティングすることが考えられる。 In order to prevent the coating liquid from seeping out of the hole, it is only necessary to deteriorate the wettability (enhance liquid repellency) between the coating liquid such as flux and the surface of the resist film on the substrate. As a pretreatment, it is conceivable to coat a liquid repellent film on the resist film of the substrate.
上記方法で基板を塗布前に処理すれば、塗布液(例えばフラックス)のホール外への浸み出しを防止できるが、新たにコーティング装置及び乾燥装置(工程)を設ける必要があることから、コストが嵩み、さらには後工程への影響を防ぐための配慮も必要となる等の問題がある。 If the substrate is processed by the above method before coating, it is possible to prevent the coating liquid (for example, flux) from seeping out of the hole, but it is necessary to newly provide a coating apparatus and a drying apparatus (process). However, there is a problem that consideration is necessary to prevent the influence on the subsequent process.
本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、基板上の塗布領域に塗布された塗布液の塗布領域以外への浸み出しを簡便な構成によって防止できる塗布前の基板処理装置、基板処理方法及び基板を製造する方法を提供するものである。 The present invention has been made in view of such circumstances, and a substrate processing apparatus before coating that can prevent leaching of the coating solution applied to the coating region on the substrate other than the coating region with a simple configuration, A substrate processing method and a method for manufacturing a substrate are provided.
本発明に係る基板処理装置は、基板の表面に塗布処理を行う前に前記基板の処理を行う基板処理装置であって、表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材と、前記処理部材の表面を、前記基板の表面における前記塗布液の塗布が不要な部分に接触させる移動装置と、を有する構成となる。 The substrate processing apparatus according to the present invention is a substrate processing apparatus for processing the substrate before performing a coating process on the surface of the substrate, the processing member having a surface formed of rubber or resin, and the surface of the processing member And a moving device that contacts a portion of the surface of the substrate that does not require application of the coating liquid.
本発明に係る基板処理装置は、基板の塗布領域に塗布処理を行う前に前記基板の処理を行う基板処理装置であって、表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材と、前記処理部材の表面を、前記基板の前記塗布領域を含む領域に接触させる移動装置と、を有する構成となる。 A substrate processing apparatus according to the present invention is a substrate processing apparatus for processing a substrate before performing a coating process on a coating region of the substrate, the processing member having a surface formed of rubber or resin, and the processing member And a moving device for bringing a surface into contact with a region including the coating region of the substrate.
本発明に係る基板処理方法は、基板の塗布領域に塗布液の塗布を行う前に前記基板の処理を行う基板処理方法であって、表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材の表面を、前記基板の表面の前記塗布領域を含む領域に接触させる表面処理ステップを有する構成となる。 A substrate processing method according to the present invention is a substrate processing method for processing a substrate before applying a coating liquid to a coating region of the substrate, and the surface of a processing member whose surface is formed of rubber or resin, The surface treatment step is brought into contact with a region including the application region on the surface of the substrate.
本発明に係る基板を製造する方法は、基板の表面処理の後、前記基板の表面の塗布領域に塗布処理をして基板を製造する方法であって、前記表面処理が、表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材の前記表面を、前記基板の表面の前記塗布領域を含む領域に接触させる処理である構成となる。 A method of manufacturing a substrate according to the present invention is a method of manufacturing a substrate by performing a coating process on a coating region on the surface of the substrate after the surface treatment of the substrate, wherein the surface treatment is performed with a rubber or resin surface. It becomes the structure which is the process which makes the said surface of the process member formed by contact the area | region including the said application | coating area | region of the surface of the said board | substrate.
本発明によれば、塗布液の塗布処理前に、処理部材で、基板の表面を処理することで、基板上の塗布領域に塗布された塗布液が塗布領域の以外へ浸み出すことを簡便な構成によって抑え、塗布液の塗布精度を向上させることができる基板処理装置、基板処理方法及び基板を製造する方法を提供することができる。 According to the present invention, by treating the surface of the substrate with the processing member before the coating treatment of the coating solution, it is easy for the coating solution applied to the coating region on the substrate to ooze out of the coating region. It is possible to provide a substrate processing apparatus, a substrate processing method, and a method for manufacturing a substrate that can be suppressed by a simple configuration and improve the coating accuracy of the coating liquid.
本発明の実施の形態について図面を用いて説明する。 Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
<第1の実施形態>
本発明の実施の第1の実施形態に係る基板処理装置は、図1A,図1Bに示すように構成される。
<First Embodiment>
The substrate processing apparatus according to the first embodiment of the present invention is configured as shown in FIGS. 1A and 1B.
図1Aは基板上にハンダバンプを形成するためのハンダバンプ形成装置の側面概略を表した側面概略図であり、図1Bはハンダバンプ形成装置の平面概略図である。本発明の実施の一形態に係る基板処理装置は、図1A及び図1Bに示すハンダバンプ形成で基板の処理を行う装置である。 FIG. 1A is a schematic side view showing a schematic side view of a solder bump forming apparatus for forming solder bumps on a substrate, and FIG. 1B is a schematic plan view of the solder bump forming apparatus. A substrate processing apparatus according to an embodiment of the present invention is an apparatus for processing a substrate by forming solder bumps shown in FIGS. 1A and 1B.
図1A、図1Bに示すように、ハンダバンプ形成装置10は、ハンダバンプを形成するために、カセット(図示せず)内に収納した基板11を供給する基板供給装置12、基板供給装置12から基板11が供給され、この基板11の表面に形成された、塗布領域としての電極用のホールに塗布液としてのフラックスを噴射、塗布する塗布装置13、塗布装置13でフラックスが塗布された基板11のホールにハンダボール(図示せず)を搭載するハンダボール搭載装置15、搭載されたハンダボールを加熱処理してハンダを溶かすリフロー装置16、及びリフロー装置16により加熱処理されてハンダバンプが形成された基板を収納する基板収納装置17を備え、基板供給装置12と塗布装置13との間に、本実施形態に係る基板処理装置20が配置される。なおここで、フラックスは、フラックス溶液であり、ハンダ付け用フラックスを有機溶剤等の溶媒と混合することによって、後述のインクジェット式の塗布ヘッドでの吐出に適した粘度に調整されたものである。
As shown in FIGS. 1A and 1B, the solder
ハンダバンプ形成装置10は、さらに基板供給装置12と塗布装置13との間に基板搬送装置23、塗布装置13とハンダボール搭載装置15との間に基板搬送装置24、ハンダボール搭載装置15とリフロー装置16との間に基板搬送装置25、及びリフロー装置16と基板収納装置17との間に基板搬送装置26を備える。
The solder
基板収納装置12は、複数の基板11を収納する基板収納カセット(図示せず)と、基板収納カセットに収納された基板11を搬送装置23に送り出す送り出し機構(図示せず)を備える。
The
基板搬送装置23は、所定間隔を設けて水平面上に平行に配置される2本の円柱形状の軸部材23a、23bを含む。軸部材23a、23bは、円柱の中心軸が基板の搬送方向(矢印28で示す)と直交しており、この中心軸を回転軸として回転することで、載置された基板11を搬送方向の塗布装置13に向けて搬送する、いわゆる、搬送ローラである。軸部材23a、23bの上記所定間隔は、基板11を載置、搬送するのに最適な間隔が設定される。基板搬送装置23は、基板収納装置12の送り出し機構から送出された基板11を、基板搬送装置23の回転する軸部材23a、23bに順次載置して塗布装置13に搬送する。基板搬送装置24(軸部材24a、24b)、基板搬送装置25(軸部材25a、25b)、基板搬送装置26(軸部材26a、26b)についても上記した基板搬送装置23と同様の構造、機能を有するものである。
The
塗布装置13は、基板搬送装置23により搬送された基板11を載置する移動可能な基板ステージ31と、基板11にフラックス(塗布液)を噴射して塗布する、インクジェット式の塗布ヘッド32と、塗布前の基板11上に生じた静電気を除去するイオナイザ33とを有する。イオナイザ33による静電気除去は、後述するように、塗布装置13に搬送される基板11は、基板処理装置20により表面が処理(擦り、押圧)されているため、基板11に静電気が発生している可能性が有り得るので、基板11上へ塗布液を塗布する際に静電気による支障が発生するのを防止するためである。
The
基板ステージ31に載置された基板11は、イオナイザ33により静電気除去が行われ、さらに塗布ヘッド32により基板11の電極用のホールにフラックスが噴射、塗布された後に、基板ステージ31により基板搬送装置24に送られる。基板搬送装置24の軸部材24a、24bに載置された基板11は、軸部材24a、24bの回転によりハンダボール搭載装置15へと送られる。
The
ハンダボール搭載装置15に送られた基板11は、基板ステージ34に載置され、ハンダボール(図示せず)の搭載のための所定位置へと移動される。基板11の、フラックスが塗布されたホールへのハンダボールの搭載が完了すると、基板11を載置する基板ステージ34は基板搬送装置25に向けて移動する。そして、搬送装置25の軸部材25a、25bに載置された基板11は、軸部材25a、25bの回転によりリフロー装置16へと送られる。
The
リフロー装置16に送られた基板11は、基板ステージ35に載置され、加熱装置(図示せず)による加熱処理によりハンダボールが溶融され、ハンダバンプ(図示せず)が形成される。リフロー装置16での加熱処理が完了した後、基板11を載置する基板ステージ35は、基板搬送装置26に向けて移動する。搬送装置26の軸部材26a、26bに載置された基板11は、軸部材26a、26bの回転により基板収納装置17へと送られる。
The
基板収納装置17では、基板搬送装置26により搬送された基板11を基板収納カセット(図示せず)に収納する。このようにして、基板上の電極用のホールにフラックスが噴射、塗布された後に、ホールにハンダボールが搭載され、さらに加熱処理によりハンダが溶融されてハンダバンプが形成される。
In the
上記ハンダバンプの形成においては、基板上に形成された電極用のホールに所定量のフラックスが供給された後、このホールにハンダボール(図示せず)が搭載されるが、塗布ヘッド32により電極用のホールに塗布されたフラックスが、ホールを形成するレジストの表面の凹凸形状による毛細管現象等によりホール外へと浸み出すと、ホール内のフラックスの液量不足を招き、リフロー処理に支障をきたすことになる。そこで、上記支障の発生を回避すべく、フラックスのホール外への浸み出し防止のために、塗布装置13による基板11へのフラックス(塗布液)の塗布を行う前に、基板処理装置20により基板11の表面を処理するものである。なお、上記した基板11は方形状で薄形のプリント基板であるが、これに限定するものではない。
In the formation of the solder bump, a predetermined amount of flux is supplied to an electrode hole formed on the substrate, and then a solder ball (not shown) is mounted in the hole. If the flux applied to the hole oozes out of the hole due to capillarity due to the uneven shape of the resist surface that forms the hole, the amount of flux in the hole will be insufficient and the reflow process will be hindered. It will be. Therefore, in order to avoid the occurrence of the above-mentioned trouble, the
図1A、図1Bに示すように、基板処理装置20は、基板供給装置12と塗布装置13の間に設けられ、基板搬送装置23に載置された基板11の表面処理を行うものである。基板処理装置20は、円柱形状の処理部材36と、処理部材36を所定位置に保持する保持部材37を有する。
As shown in FIGS. 1A and 1B, the
処理部材36は、処理部材36の表面(円柱の側面)で基板11の表面を押圧又は擦るための部材であり、例えば処理部材36の断面図である図2に示すように、円柱形状の芯部材36aと、芯部材36aを覆うように形成された円筒状の表層部材36bとで構成される2層構造の円柱部材である。表層部材36bは、基板11の表面に直接触れて(接触して)表面処理(押圧、擦り)を行う部分であり、例えばニトリルゴム、ウレタンゴム等のゴム部材、又はシリコーン樹脂やタイゴン(登録商標)等の樹脂で形成される。なお、ゴム部材および樹脂は、硬質のものよりも軟質のものが好ましく、基板11の表面の凹凸にならうことができる柔軟性や弾性を有するなど、基板11の表面に傷等のダメージを与え難い硬さや表面状態のものを用いることが好ましい。芯部材36aは、スポンジ等のクッション性のある材質で形成される。これは、表層部材36bで基板11の表面を処理する際、基板11への荷重による破損等を防止するために、芯部材36aをクッションの役割としたものである。処理部材36の軸方向の長さは、基板11の幅の長さ(搬送方向(矢印28)と直交する方向の長さ)より少し大きめに設定されている。
The processing
基板処理装置20の保持部材37は、例えば、円柱形状の処理部材36の両側面(両底面)を左右から保持する構造のもので、処理部材36を塗布装置13側に配置される軸部材23bと平行で、軸部材23bとの間で基板11を挟む位置に置き、基板11の表面を所定の圧力で押圧する高さに保持するものである。所定の圧力は、基板11の表面処理に適した圧力で、かつ基板11を破損、損傷しない程度の圧力として設定される。基板処理装置20の保持部材37は、さらに処理部材36による基板11の表面処理(押圧又は擦り)中は、処理部材36を回転させずに固定位置に保持するが、表面処理の完了後次の基板11の表面処理の開始の前に、処理部材36を所定角度回転させて、表面処理で今回使用した表層部材36bの位置を変更する、回転機構部(図示せず)を有するようにしてもよい。この場合には、円柱形状の芯部材36aの中心を貫通して回転軸を設け、この回転軸を保持部材37によって回転自在に保持すると共に、回転軸には処理部材36を回転駆動させる駆動源を連結するようにすれば良い。
The holding
次に、図1A、図1B及び図2を参照して本実施形態に係る基板処理装置20の動作を説明する。基板処理装置20は、基板供給装置12から送り出され、基板搬送装置23に載置された基板11に対して、塗布装置13への搬送前に基板11の表面を処理する。
Next, the operation of the
基板搬送装置23の軸部材23a、23bに載置され、軸部材23a、23bの回転により基板11が塗布装置12へと搬送されると、基板処理装置20の保持部材37は、軸部材23bと処理部材36との間で、送られてきた基板11を挟み、処理部材36の表層部材36bにより所定の圧力で基板の搬送方向(矢印28)先端の幅方向全体を押圧する。基板11は基板搬送装置23によりさらに塗布装置13へ向けた搬送方向に搬送されるので、基板処理装置20は処理部材36の表層部材36bで、基板11の先端から後端に向けて基板11の表面(上面)全体を擦り、基板11の表面処理を行うことができる。つまり、この実施形態では、基板搬送装置23が、基板処理装置20における、処理部材36を基板11に接触させる移動装置を兼ねる。
When the
基板処理装置20の処理部材36の表層部材36bでの擦りによる表面処理を施した基板11は、塗布装置13において基板11上に形成した電極用のホールにフラックスを供給したところ、フラックスのホール外への浸み出しは確認されなかった。上記の表面処理を施さない基板11のときは、塗布後、1分程度放置した時点で、フラックスがホールの外へと浸み出し、基板11の表面の濡れが確認されたが、基板11の表面に触れる程度に押し付けて擦り、上記表面処理を施した基板11については、10分程度放置しても、表面にフラックスによる濡れは確認されなかった。これは、ゴム(例えば、ニトリルゴム、ウレタンゴム等)又は樹脂(シリコン樹脂等)で形成された処理部材36の表層部材36bで、基板11の表面を擦る表面処理により、ゴムや樹脂の表面に付着した有機物が基板の表面に転写、または、ゴムや樹脂の一部が基板の表面に付着されて、基板11の表面が有機汚染された結果、基板11の表面にフラックスに対する撥液性処理がなされたものと推察される。
The
このように、本実施の形態によれば、処理部材36を基板11の表面に接触させるという簡便な構成により、基板11の表面に撥液処理を施すことができ、これにより、基板11のホール内に塗布したフラックスが、ホールの外に浸み出すことを防止することができる。そのため、ホール内に必要量のフラックスを確実に塗布(供給)することが可能となり、塗布精度を向上させることができる。したがって、その後に行なわれるハンダボールのリフロー処理時に、溶融したハンダのぬれ性を良好に促進させることができ、また、ハンダ表面の再酸化を防止することができ、ハンダバンプを良好に形成することが可能となり、形成されるハンダバンプの歩留まりを向上させることができる。
As described above, according to the present embodiment, the surface of the
また、処理部材36を接触させることによって基板11の表面に付着した有機汚染物質は、ハンダボールを溶融させる加熱によって消失することが期待できるので、このような場合には、有機汚染物質を除去する為の洗浄装置等の特別な装置が不要となり、装置構成が複雑化することを防ぐことができる。
In addition, since organic contaminants attached to the surface of the
また、基板搬送装置23が基板処理装置20の、処理部材36を基板11に接触させる移動装置を兼ねるので、基板処理装置20は、処理部材36を所定の高さ位置に保持する保持部材37を設けるだけで良く、移動機構を設ける必要がないので、簡便な構成で、基板11の表面を撥液処理することが可能となる。
Further, since the
また、処理部材36を、クッション性のある部材で形成された芯部材36aと柔軟性や弾性のある表層部材36bとで構成したので、基板11の表面が平坦でない場合であっても、基板11の表面に、部分的に強い押圧力が作用することを防止でき、それによる、基板11の損傷を回避することが可能となる。
Further, since the processing
基板処理装置20は、処理部材36を所定位置に保持する保持部材37を有する構成であるが、更にこの保持部材37を、水平方向、上下方向に移動させる移動装置(図示せず)を含める構成とすることができる。例えば、処理部材36を保持した保持部材37を基板搬送方向と逆方向に向けて移動させることで、搬送される基板11への処理部材36による擦りを強く行うことができ、表面処理の効果を向上させることができるものと考えられる。また、基板搬送装置23による搬送を停止し、処理部材36を保持した保持部材37を基板搬送方向と逆方向に向けて移動させることで、基板11の表面を擦ることもできる。さらに移動装置により処理部材36を保持した保持部材37を上下方向に移動させることで、基板11に対する処理部材36による押圧の程度を調整することができる。このように基板11の表面を擦る強さの程度を、移動装置による基板11への押圧の程度の調整、移動装置による水平移動の向き、速さにより変化させることができるので、基板の材質等に応じた擦り、又は押圧による基板の表面処理が可能である。
The
<第2の実施形態>
次に、本発明に係る基板処理装置の第2の実施形態について、図3を参照して説明する。本実施形態は、上述した第1の実施形態における処理部材36を改良変更したもので、その他の部分には相違がない。したがって、第1の実施形態と同一のものは、同一名称、同一符号を記して説明する。
<Second Embodiment>
Next, a second embodiment of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. In this embodiment, the processing
図3に示すように、本実施形態の基板処理装置の処理部材41は、断面が長方形状の角柱部材である板部材41aの長手方向側の一側面(下面)に、断面が長方形の角柱形状である芯部材41bの長手方向の一側面(上面)が貼着され、さらに板部材41aに貼着された芯部材41bの長手方向の3つの側面を覆うように表層部材41cが貼着された構造である。芯部材41b及び表層部材41cの長手方向の長さは、基板11を搬送する方向と直交する方向である幅方向の基板11の長さよりも少し大きめに設けられている。また、芯部材41b及び表層部材41cの短手方向の長さは特に限定されないが、基板11の搬送方向の長さよりも小さい長さに設定されている。
As shown in FIG. 3, the processing
第1の実施形態と同様、処理部材41の表層部材41cは、基板11の表面に直接触れて表面処理を行う部分であり、例えばニトリルゴム、ウレタンゴム等のゴム部材、又はシリコーン樹脂、タイゴン(登録商標)等の樹脂で形成され、芯部材41bはスポンジ等のクッション性のある材質で形成される。第1の実施形態同様、表層部材36bで基板11の表面を処理する際、基板11の破損等を防止するために、芯部材36aをクッションの役割としたものである。
As in the first embodiment, the
第1の実施形態と同様に、本実施形態の基板処理装置の保持部材37は、その下端部で板部材41aの上面を支持し、処理部材41を塗布装置13側に配置される軸部材23bと平行で、軸部材23bとの間で基板11を挟み、基板11の表面を所定の圧力で押圧する高さに保持するものである。処理部材41の長手方向は、基板11の搬送方向28に対して直交する方向となる。
Similar to the first embodiment, the holding
次に本実施形態に係る基板処理装置の動作を説明するが、第1の実施形態と相違する点を中心に説明する。基板搬送装置23の軸部材23a、23bに載置され、軸部材23a、23bの回転により基板11が塗布装置12へと搬送されると、本実施形態の基板処理装置の保持部材37は、軸部材23bと処理部材41との間で基板11を挟み、処理部材41の表層部材41cの長方形状の一側面(底面)により所定の圧力で、送られてきた基板11の搬送方向(矢印28)先端部の幅方向全体を押圧する。基板11は基板搬送装置23によりさらに塗布装置13へ向けた搬送方向に搬送されるので、処理部材41の表層部材41cの長方形状の一側面で、基板11の先端から後端に向けて基板11の表面(上面)全体を擦り、基板11の表面処理を行うことができる。
Next, the operation of the substrate processing apparatus according to the present embodiment will be described. The description will focus on differences from the first embodiment. When the
このような実施形態においても、第1の実施形態同様の作用効果を得ることができる。また、本実施形態では、上記したように処理部材41の表層部材41cの長方形状の一側面で基板11の表面を擦るので、第1の実施形態に比べて、基板の搬送方向における接触面積が大きい分だけ、同じ押圧力、同じ搬送速度であっても、より確実に基板11の表面に有機汚染物質を付着させることでき、表面処理の効果が得られる可能性が高いものと考えられる。
Also in such an embodiment, the same operational effects as those of the first embodiment can be obtained. Further, in the present embodiment, as described above, the surface of the
本実施形態では、上記基板処理装置は、処理部材41を所定位置に保持する保持部材を有する構成であるが、更にこの保持部材を、水平方向、上下方向に移動させる移動装置(図示せず)を含める構成とすることができる。例えば、処理部材41を保持した保持部材を基板搬送方向と逆方向に向けて移動させることで、搬送される基板11への擦りを強くすることができ、表面処理の効果を向上させることも考えられる。また、基板搬送装置23による搬送を停止し、処理部材41を保持した保持部材を基板搬送方向と逆方向に向けて移動させることで、基板11の表面を擦ることもできる。
In the present embodiment, the substrate processing apparatus has a holding member that holds the processing
<第3の実施形態>
次に、本発明に係る基板処理装置の第3の実施形態について、図4を参照して説明する。本実施形態の基板処理装置は、図1に示す塗布装置13の中に基板11の処理装置機構を組み込み、基板11の表面処理とその後の基板11の塗布とを一体とした基板処理装置である。
<Third Embodiment>
Next, a third embodiment of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. The substrate processing apparatus of this embodiment is a substrate processing apparatus in which the processing apparatus mechanism for the
図4に示すように、本実施形態の基板処理装置50に含まれる処理装置機構51は、処理部材52と、処理部材52を保持する保持部材53a、保持部材53aを上下方向に昇降する昇降装置53とを有する。処理装置機構51は、塗布ヘッド54及びイオナイザ55が配置される位置よりも基板11の搬送方向(矢印28で示す)手前側に配置される。処理部材52は、表面(上下両面)が長方形状の板状である板部材52aに、長方形状の板状部材である芯部材52bが重ねられた状態で貼着され、芯部材52bの残りの面(5面)を覆うように表層部材52cが貼着された構造である。処理部材52は、基板ステージ31に保持された基板11と対向して位置する表層部材52cの表面、つまり、下面が基板11全体を押圧できる大きさおよび形状に形成されている。
As shown in FIG. 4, the
第1の実施形態同様、処理部材52の表層部材52cは、基板11の表面に直接触れて表面処理を行う部分であり、例えばニトリルゴム、ウレタンゴム等のゴム部材、又はシリコーン樹脂、タイゴン(登録商標)等の樹脂で形成され、芯部材52bはスポンジ等のクッション性のある材質で形成される。第1実施形態同様、表層部材52cで基板11の表面を処理する際、基板11の破損等を防止するために、芯部材52bをクッションの役割としたものである。
Similar to the first embodiment, the
なお、昇降装置53は、処理部材52の板部材52aを保持し、駆動装置(図示せず)により処理部材52を上下方向に昇降させる装置である。昇降装置53は、基板11の表面に処理部材52を押し付ける際に、押圧力の調整を行い、基板11の表面処理に適した押圧力に設定可能となっている。
The lifting
次に、図4を参照して本実施形態に係る基板処理装置50の動作を説明する。本実施形態に係る基板処理装置50は、上述したように塗布装置の中に処理装置機構51を組み込んだ構成のものであり、塗布装置については第1の実施形態で説明したものと同様である。処理装置機構51は、図1A、図1Bで示すイオナイザ55による静電気除去処理及び塗布ヘッド54による塗布処理の前に行う基板11の表面処理を行うもので、イオナイザ55よりも基板11の搬送方向(矢印28)手前側に設置される。
Next, the operation of the
図4に示すように、基板搬送装置(図示せず)により搬送された基板11は基板ステージ31に載置され、処理装置機構51による表面処理が施される位置に置かれる。つまり、基板ステージ31は、この位置で停止する。この状態で、処理装置機構51は、昇降装置53を駆動させて処理部材52を基板11に向けて下降させ、基板11の表面全体を表層部材52cで押圧し、押圧による表面処理を行うことができる。この後、基板ステージ31は、塗布ヘッド54側に向けて移動し、この移動中に基板11には、イオナイザ55による静電気除去処理、塗布ヘッド54による塗布処理が施される。
As shown in FIG. 4, the
このような実施形態においても、第1の実施形態同様の作用効果を得ることが可能である。また、本実施形態では、上記したように処理部材52の表層部材52cが基板11の表面全体を覆うように押圧できるので、基板の表面を一括して、表面処理の漏れがなく良好な表面処理ができるものである。
Also in such an embodiment, it is possible to obtain the same operational effects as the first embodiment. In the present embodiment, the
なお、処理装置機構51は、昇降装置53により処理部材52を下降させて押圧による基板11の表面処理を行うものであるが、更に水平方向の移動装置を加え、基板11への押圧状態にある昇降装置53を水平方向に移動させて、基板11の表面を擦る表面処理を行うこともできる。
The
また、処理部材52を、基板11の表面全体に接触させたが、処理したい部分だけに接触させるようにしても良い。この場合、基板11の表面上の処理したい部分の大きさに応じた大きさを有するブロック状の処理体(芯部材52bと表層部材52cからなる)を、処理したい部分の数だけ用意し、このブロック状の処理体を板部材52aの下面に、基板11の表面の処理したい部分の位置に合わせて取り付けて処理部材を構成するようにすると良い。このようにして形成した処理部材を用いれば、基板11の表面に対して必要以上に撥液性を付与せずに済むので、ハンダバンプ形成後に撥液性を除去する場合にも、その除去を容易に行なうことができる。
Further, although the processing
<第4の実施形態>
次に、本発明に係る基板処理装置の第4の実施形態について、図5を参照して説明する。本実施形態は、上述した第3の実施形態と同様に、塗布装置の中に処理装置機構を組み込み、基板の表面処理とその後の基板の塗布とを一体とした基板処理装置である。したがって、第3の実施形態と同一のものは、同一名称、同一符号を記して説明する。
<Fourth Embodiment>
Next, a fourth embodiment of the substrate processing apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. As in the third embodiment described above, the present embodiment is a substrate processing apparatus in which a processing apparatus mechanism is incorporated in a coating apparatus, and surface treatment of the substrate and subsequent coating of the substrate are integrated. Accordingly, the same components as those in the third embodiment will be described with the same names and the same symbols.
図5に示すように、本実施形態の基板処理装置60に含まれる処理装置機構61は、処理部材62と、処理部材62を保持する保持部材63a、保持部材63aを上下方向に昇降する昇降装置63b及び水平方向に移動する水平移動装置63cを備える移動装置63を有する。処理部材62は、第1の実施形態と同様の構成で、円柱形状の芯部材(図示せず)と、芯部材を覆うように形成された円筒状の表層部材(図示せず)とで構成される2層構造の円柱部材である。表層部材は、基板11の表面に直接触れて表面処理を行う部分であり、例えばニトリルゴム、ウレタンゴム等のゴム部材、又はシリコーン樹脂、タイゴン(登録商標)等の樹脂で形成され、芯部材は、スポンジ等のクッション性のある材質で形成される。処理部材62の軸方向の長さは、基板11の幅の長さ(搬送方向(矢印28)と直交する方向の長さ、図1A参照)より少し大きめに設定されている。
As shown in FIG. 5, the
次に、図5を参照して本実施形態に係る基板処理装置の動作を説明する。本実施形態に係る基板処理装置60は、上述したように塗布装置の中に処理装置機構61を組み込んだ構成のものであり、塗布装置については第1の実施形態で説明したものと同様である。処理装置機構61は、図1A及び図1Bで示すイオナイザ55による静電気除去処理及び塗布ヘッド54による塗布処理の前に行う基板表面処理を行うもので、イオナイザ55及び塗布ヘッド54よりも基板11の搬送方向(矢印28)手前側に設置される。
Next, the operation of the substrate processing apparatus according to this embodiment will be described with reference to FIG. The
図5に示すように、基板搬送装置(図示せず)により搬送された基板11は基板ステージ31に載置され、処理装置機構61による表面処理が施される位置に置かれる。つまり、基板ステージ31は、この位置で停止する。この状態で、処理装置機構61は、移動装置63を駆動させて処理部材62を基板11に向けて下降させ(矢印65)、基板11の表面を処理部材62で押圧し、さらに基板11を押圧した状態で水平方向に移動させて(矢印66)、基板11の表面を擦る表面処理を行うことができる。さらに、次の基板11に対する処理のために、処理装置機構61は、移動装置63を駆動させて処理部材62を上昇させ(矢印67)、次いで最初の位置に向けて水平移動させて(矢印68)、処理部材62を元の位置へ移動させて待機させる。この後、基板ステージ31は、塗布ヘッド54側に向けて移動し、この移動中に基板11には、イオナイザ55による静電気除去処理、塗布ヘッド54による塗布処理が施される。
As shown in FIG. 5, the
このような実施形態においても、第1の実施形態同様の作用効果を得ることができる。また、本実施形態では、上記したように処理部材62を上下方向に昇降、及び水平方向に移動させて、基板11の表面を擦ることができるので、基板11の効率的な表面処理が可能である。なお、処理部材62に代えて、第2の実施形態の処理部材41を使用して基板11の表面を押圧、擦りの表面処理をしても良い。
Also in such an embodiment, the same operational effects as those of the first embodiment can be obtained. Further, in the present embodiment, as described above, the processing
なお、本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、発明の要旨を逸脱しない範囲内で、種々変更可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the invention.
例えば、第1の実施形態および第4の実施形態において、円柱状に形成された処理部材36、62で基板11の表面を擦るものとしたが、これに限られるものではなく、円柱状の処理部材36、62を基板11の表面上で転がすようにして、基板11の表面を擦らずに、接触または押圧するようにしても良い。この場合、処理部材36、62を、その中心軸を中心に回転可能な状態で、保持部材37、63aに支持するようにすれば良い。このようにした場合、処理部材36、62を基板11の表面上で擦り動かした場合に比べて、基板11の表面に傷などのダメージが生じることを防止することが可能となるので、基板11の表面が傷つきやすい材質や硬さの場合に有効である。
For example, in the first embodiment and the fourth embodiment, the surface of the
また、上記実施形態において、ハンダバンプ形成装置10は、リフロー装置16でハンダをリフローした後、基板11を基板収納装置17に収納するように構成したものとしたが、これに限られるものでは無く、リフロー装置16の後に、基板11の表面を洗浄する基板洗浄装置を配置するようにしても良い。このように、基板洗浄装置を設けることで、リフロー装置16による加熱処理によって、有機汚染物質を完全に消失させることができない場合であっても、洗浄処理によって除去することが可能となり、製造されるハンダバンプ形成基板11の品質をより一層向上させることができる。
In the above embodiment, the solder
また、処理部材における基板11と接触する表面を、ゴムまたは樹脂の表層部材で形成するものとしたが、ゴムまたは樹脂製のブラシ状部材で形成するようにしても良い。
Moreover, although the surface which contacts the board |
また、塗布液としてフラックスを用いたものとしたが、これに限られるものではなく、フラックス以外の塗布液であっても適用可能である。 In addition, although the flux is used as the coating solution, the present invention is not limited to this, and any coating solution other than the flux is applicable.
また、基板11の表面の塗布領域として電極用のホールは、基板11の表面に対して窪んでいる凹部である必要はなく、同一面であっても良く、要は、電極が形成される部分であれば良い。
Moreover, the hole for an electrode as a coating area | region of the surface of the board |
また、塗布領域とこの塗布領域を含む領域、つまり、塗布領域と処理部材によって処理する領域とは、例えば、上記実施の形態の電極用のホールと基板11の表面のように、基板11の同一面に位置する必要なく、基板11の表面よりも下側に位置するものも含む。すなわち、塗布領域を含む領域とは、平面視において塗布領域を含むものであれば良い。
In addition, the application region and the region including the application region, that is, the region to be processed by the processing member are the same as those of the
また、基板における塗布領域としての電極用のホールの周囲の基板11表面に対して、処理部材による処理を行うものとしたが、これに限られるものではなく、例えば、基板の表面に形成された矩形状の電極の周囲に塗布液としての絶縁材料を塗布して絶縁膜を形成する場合に、処理部材、例えば、電極部分に接する部分の大きさを電極部分と同じ大きさに形成した処理部材を電極部分に接触させて、電極表面に撥液処理を施すようにしても良い。要は、基板の表面において、塗布液を塗布する必要のない部分に、処理部材による処理を行うようにすれば良い。なお、この場合にも、塗布液を塗布する必要の無い部分の全域に処理部材による処理を行う必要はなく、例えば、塗布領域に隣接した部分など、塗布液を塗布する必要の無い部分のうち、塗布領域に塗布された塗布液が濡れ広がりやすい部分にのみ、処理部材による処理を行うようにしても良い。
In addition, the processing by the processing member is performed on the surface of the
10 ハンダバンプ形成装置
11 基板
12 基板供給装置
13 塗布装置
15 ハンダボール搭載装置
16 リフロー装置
17 基板収納装置
20 基板処理装置
23、24、25、26 基板搬送装置
36 処理部材
37 保持部材
DESCRIPTION OF
Claims (9)
表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材と、
前記処理部材の表面を、前記基板の表面における前記塗布液の塗布が不要な部分に接触させる移動装置と、を有することを特徴とする基板処理装置。 A substrate processing apparatus for processing the substrate before performing a coating process on the surface of the substrate,
A treatment member whose surface is formed of rubber or resin;
A substrate processing apparatus comprising: a moving device that brings a surface of the processing member into contact with a portion of the surface of the substrate that does not require application of the coating liquid.
表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材と、
前記処理部材の表面を、前記基板の前記塗布領域を含む領域に接触させる移動装置と、を有することを特徴とする基板処理装置。 A substrate processing apparatus for processing the substrate before performing a coating process on a coating region of the substrate,
A treatment member whose surface is formed of rubber or resin;
A substrate processing apparatus comprising: a moving device that brings a surface of the processing member into contact with an area including the application area of the substrate.
前記移動装置は、前記処理部材を上下方向に昇降移動させる昇降装置であることを特徴とする請求項2に記載の基板処理装置。 The processing member is formed such that a surface facing the substrate is formed larger than the region of the substrate.
The substrate processing apparatus according to claim 2, wherein the moving device is a lifting device that moves the processing member up and down in a vertical direction.
表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材の表面を、前記基板の表面の前記塗布領域を含む領域に接触させる表面処理ステップを有することを特徴とする基板処理方法。 A substrate processing method for processing a substrate before applying a coating liquid to a substrate application region,
A substrate processing method comprising a surface processing step of bringing a surface of a processing member whose surface is formed of rubber or resin into contact with an area including the application area on the surface of the substrate.
前記表面処理が、表面がゴムまたは樹脂で形成された処理部材の前記表面を、前記基板の表面の前記塗布領域を含む領域に接触させる処理であることを特徴とする基板を製造する方法。 A method of manufacturing a substrate by performing a coating process on a coating region on the surface of the substrate after the surface treatment of the substrate,
The method of manufacturing a substrate, wherein the surface treatment is a treatment in which the surface of a processing member whose surface is formed of rubber or resin is brought into contact with a region including the application region on the surface of the substrate.
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JP2015185675A true JP2015185675A (en) | 2015-10-22 |
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Country Status (1)
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JP (1) | JP6259695B2 (en) |
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---|---|
JP6259695B2 (en) | 2018-01-10 |
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