JP2011239070A - 固体撮像装置、および、その製造方法、電子機器 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】単位画素Pは、複数のフォトダイオード21が設けられていると共に、そのフォトダイオード21から信号電荷を転送する複数の転送ゲート22Gが、その複数のフォトダイオード21のそれぞれに設けられている。そして、その複数の転送ゲート22Gによって複数のフォトダイオード21からフローティングディフュージョンへ信号電荷が転送される。ここでは、複数のフォトダイオード21は、同一色の光を受光して信号電荷を生成し、その複数のフォトダイオード21からフローティングディフュージョンFDに転送された信号電荷が加算され、電気信号として出力される。
【選択図】図3
Description
好適には、前記複数の光電変換部は、前記第1方向と前記第2方向とのそれぞれにおいて偶数個が並ぶように配列されている。
好適には、前記複数の光電変換部は、前記第1方向と前記第2方向とのそれぞれにおいて4の倍数個が並ぶように配列されている。
1.実施形態1(単位画素が4個のPDを含む場合)
2.実施形態2(光導波路がある場合)
3.実施形態3(単位画素が16個のPDを含む場合)
4.実施形態4(単位画素が16個のPDを含む場合)
5.その他
(A)装置構成
(A−1)カメラの要部構成
図1は、本発明にかかる実施形態1において、カメラ40の構成を示す構成図である。
固体撮像装置1の全体構成について説明する。
本実施形態にかかる固体撮像装置1の詳細内容について説明する。
図3に示すように、固体撮像装置1においては、複数の単位画素Pが水平方向xと垂直方向yとのそれぞれに配置されている。
図4,図5に示すように、単位画素Pには、複数の撮像部PA1,PA2,PB1,PB2が撮像面(xy面)に配列されている。
単位画素Pにおいて、フォトダイオード21は、図4に示すように、複数が撮像面(xy面)に配置されている。複数のフォトダイオード21は、水平方向xと垂直方向yとのそれぞれにおいて偶数個が並ぶ、撮像部PA1,PA2,PB1,PB2の配列に対応するように設けられている。たとえば、サイズが1〜2μmである撮像部PA1,PA2,PB1,PB2のそれぞれに、フォトダイオード21が設けられている。つまり、フォトダイオード21は、水平方向xと垂直方向yとのそれぞれにおいて、2個のフォトダイオード21が等間隔で並ぶように設けられている。
単位画素Pにおいて、転送トランジスタ22と、増幅トランジスタ23と、選択トランジスタ24と、リセットトランジスタ25とのそれぞれは、図4に示すように、撮像面(xy面)に配置されている。転送トランジスタ22と、増幅トランジスタ23と、選択トランジスタ24と、リセットトランジスタ25とのそれぞれは、フォトダイオード21にて生成された信号電荷を読み出してデータ信号として出力するように構成されている。
単位画素Pにおいて、転送トランジスタ22は、図4に示すように、複数の撮像部PA1,PA2,PB1,PB2に対応するように、水平方向xと垂直方向yとのそれぞれにおいて、複数が設けられている。
単位画素Pにおいて、増幅トランジスタ23は、図4に示すように、撮像面(xy面)において、複数の撮像部PA1,PA2,PB1,PB2の下方に設けられている。つまり、増幅トランジスタ23は、撮像面(xy面)において水平方向xおよび垂直方向yに並ぶ複数のフォトダイオード21の下方に設けられている。ここでは、増幅トランジスタ23は、水平方向において一対のソース・ドレインがチャネルを挟むように設けられている。
単位画素Pにおいて、選択トランジスタ24は、図4に示すように、撮像面(xy面)において、複数の撮像部PA1,PA2,PB1,PB2の下方に設けられている。つまり、選択トランジスタ24は、増幅トランジスタ23と同様に、撮像面(xy面)において水平方向xおよび垂直方向yに並ぶ複数のフォトダイオード21の下方に設けられている。ここでは、選択トランジスタ24は、水平方向において一対のソース・ドレインがチャネルを挟むように設けられている。
単位画素Pにおいて、リセットトランジスタ25は、図4に示すように、撮像面(xy面)において、複数の撮像部PA1,PA2,PB1,PB2の下方に設けられている。つまり、リセットトランジスタ25は、増幅トランジスタ23および選択トランジスタ24と同様に、撮像面(xy面)において水平方向xおよび垂直方向yに並ぶ複数のフォトダイオード21の下方に設けられている。ここでは、リセットトランジスタ25は、水平方向において一対のソース・ドレインがチャネルを挟むように設けられている。
配線層111は、図6に示すように、半導体基板101において、転送トランジスタ22の転送ゲート22Gが設けられた表面に設けられている。
カラーフィルタCFは、図6に示すように、半導体基板101において、転送トランジスタ22の転送ゲート22Gが設けられた表面の側に設けられている。
マイクロレンズMLは、図6に示すように、半導体基板101において、転送トランジスタ22の転送ゲート22Gが設けられた表面の側に設けられている。
図7は、本発明にかかる実施形態1において、単位画素P内のポテンシャルを示す概念図である。図7においては、図4のY1a−Y2a部分のポテンシャルを示している。
なお、各フォトダイオード21の信号電荷を異なるタイミングで、フローティングディフュージョンFDに順次転送し、そのフローティングディフュージョンFDにおいて加算された信号電荷に基づいて、出力信号を読み出すように駆動させても良い。
以下より、上記の固体撮像装置1を製造する製造方法の要部について説明する。
まず、図9に示すように、フォトダイオード21と、転送トランジスタ22と、フローティングディフュージョンFDとを形成する。
つぎに、図10に示すように、配線層111を形成する。
つぎに、図6に示したように、カラーフィルタCFとマイクロレンズMLとを形成する。
以上のように、本実施形態の固体撮像装置1では、カラー画像を撮像する撮像領域PAに、複数の単位画素Pが配置されている。単位画素Pは、撮像領域PAにおいて水平方向xと垂直方向yとのそれぞれに複数が配列されている。この撮像領域PAには、3原色の光のそれぞれを受光するように、単位画素Pがベイヤー配列で配置されている。つまり、この画素配列においては、赤色の単位画素Pと、垂直方向yにおいて、その赤色の単位画素Pに隣接して並んでいる緑色の単位画素Pとが、左側に配列されている。また、緑色の単位画素Pと、垂直方向yにおいて、その緑色の単位画素Pに隣接して並んでいる青色の単位画素Pとが、右側に配列されている(図3参照)。
一般に、固体撮像装置の飽和信号量は、フォトダイオード21に蓄積された信号電荷数(電子数またはホール数)や、フローティングディフュージョンFDのレンジ、後段の回路(例えば、A/Dコンバータ)のレンジで決定される。
単位画素のサイズを大きくして、フォトダイオード21で蓄積可能な信号電荷数を増加させても、フローティングディフュージョンFDのレンジを越えた場合には、検出困難だが、変換効率を低下させることで、検出可能とすることができる。また、フォトダイオード21に蓄積可能な信号電荷数を増加できるので、光ショットノイズによる画質低下を防止できる。
電源電圧を上げてFDレンジやA/Dコンバータのレンジを増加させた場合には消費電力が増大するが、上記のようにすることで、電源電圧を上げる必要がなくなるので、消費電力を減少させることができる。カプセル内視鏡などの小型の電子機器では、内部に電池を設けないか、僅かな容量のものを設けるために、極めて低い消費電力が求められるので、上記のようにすることが、特に、好適である。また、電源電圧を上げるに伴ってゲート酸化膜を厚くする必要が生じ、ノイズの発生が増える場合があるが、上記のようにすることで、電源電圧を上げる必要がなくなるので、ノイズの発生を減少させることができる。
(A)装置構成など
図13は、本発明にかかる実施形態2において、固体撮像装置の要部を示す図である。
以上のように、本実施形態は、各単位画素Pは、フォトダイオード21へ光を導く光導波路131を含む。この光導波路は、各撮像部(PA1,PA2など)に設けられたフォトダイオード21のそれぞれに対応して、複数が設けられている。
(A)装置構成など
図14に示すように、固体撮像装置においては、実施形態1と同様に、複数の単位画素Pのそれぞれに、カラーフィルタCFが設けられている。カラーフィルタCFは、レッドフィルタ層CFRと、グリーンフィルタ層CFGと、ブルーフィルタ層CFBとを含み、ベイヤー配列で、単位画素Pのそれぞれに設けられている。
図15,図16に示すように、単位画素Pにおいて、撮像部PA1〜PA4,PB1〜PB4,PC1〜PC4,PD1〜PD4は、撮像面(xy面)にて、水平方向xと垂直方向yとのそれぞれに、4個ずつが並んで配列されている。
以上のように、本実施形態は、実施形態1と同様に、単位画素Pにおいて、フォトダイオード21と転送ゲート22GとフローティングディフュージョンFDが設けられた部分が、水平方向xおよび垂直方向yを軸にして対称である。よって、実施形態1と同様に、撮像領域PAの上部と下部との間において、各色の光のケラレの割合が同じになるので、色シェーディングの発生を防止できる。その他、実施形態1と同様に、残像などの発生を効果的に防止可能である。
(A)装置構成
図17は、本発明にかかる実施形態4において、固体撮像装置の要部を示す図である。
以上のように、本実施形態は、実施形態3と同様に、単位画素Pにおいて、フォトダイオード21と転送ゲート22GとフローティングディフュージョンFDが設けられた部分が、水平方向xおよび垂直方向yを軸にして対称である。よって、実施形態3と同様に、撮像領域PAの上部と下部との間において、各色の光のケラレの割合が同じになるので、色シェーディングの発生を防止できる。その他、実施形態1と同様に、残像などの発生を効果的に防止可能である。
本発明の実施に際しては、上記した実施形態に限定されるものではなく、種々の変形例を採用することができる。
Claims (13)
- 複数の単位画素が配置されており、カラー画像を撮像する撮像領域を具備しており、
前記単位画素は、
複数の光電変換部と、
前記複数の光電変換部のそれぞれに設けられており、前記光電変換部から信号電荷を転送する複数の転送ゲートと、
前記複数の転送ゲートによって前記複数の光電変換部から前記信号電荷が転送されるフローティングディフュージョンと
を有し、
前記複数の光電変換部は、同一色の光を受光して前記信号電荷を生成し、
前記複数の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された前記信号電荷が加算され、電気信号として出力される、
固体撮像装置。 - 前記単位画素は、
前記複数の光電変換部が前記フローティングディフュージョンを挟むように設けられており、
前記複数の光電変換部のそれぞれと前記フローティングディフュージョンとの間に、前記複数の転送ゲートが設けられている、
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記単位画素は、前記撮像領域において、第1方向と前記第1方向に直交する第2方向とに複数が配列されており、
前記フローティングディフュージョンが、前記第1方向で前記複数の光電変換部に挟まれるように設けられており、
前記複数の転送ゲートが、前記第1方向で前記複数の光電変換部のそれぞれと前記フローティングディフュージョンとの間に介在するように設けられている、
請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記単位画素は、前記撮像領域において、第1方向と前記第1方向に直交する第2方向とに複数が配列されており、
前記フローティングディフュージョンが、前記第1方向および前記第2方向とに対して傾斜した方向で、前記複数の光電変換部に挟まれるように設けられており、
前記複数の転送ゲートが、前記第1方向および前記第2方向とに対して傾斜した方向で、前記複数の光電変換部のそれぞれと前記フローティングディフュージョンとの間に介在するように設けられている、
請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記複数の光電変換部は、前記単位画素において、前記第1方向と前記第2方向とのそれぞれに同じ数で並ぶように配列されている、
請求項3または4に記載の固体撮像装置。 - 前記複数の光電変換部は、前記第1方向と前記第2方向とのそれぞれにおいて偶数個が並ぶように配列されている、
請求項5に記載の固体撮像装置。 - 前記複数の光電変換部は、前記第1方向と前記第2方向とのそれぞれにおいて4の倍数個が並ぶように配列されている、
請求項6に記載の固体撮像装置。 - 前記単位画素は、
前記フローティングディフュージョンにゲートが電気的に接続された増幅トランジスタと、
前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷によって得られる信号を出力する垂直信号線と
を有し、
前記増幅トランジスタは、前記単位画素において複数が設けられており、
前記垂直信号線は、複数が設けられ、当該複数の垂直信号線が互いに電気的に接続されており、
前記複数の垂直信号線から出力された信号を平滑化する、
請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記単位画素は、
前記フローティングディフュージョンにゲートが電気的に接続された増幅トランジスタと、
前記フローティングディフュージョンに転送された信号電荷によって得られる信号を出力する垂直信号線と
を有し、
前記増幅トランジスタは、前記単位画素において複数が設けられており、当該複数の増幅トランジスタのソースが、共通の垂直信号線に電気的に接続されている、
請求項2に記載の固体撮像装置。 - 前記単位画素は、
前記光電変換部へ光を集光するマイクロレンズ
を含み、
前記マイクロレンズは、前記複数の光電変換部のそれぞれに対応して複数が設けられている、
請求項1に記載の固体撮像装置。 - 前記単位画素は、
前記光電変換部へ光を導く光導波路
を含み、
前記光導波路は、前記複数の光電変換部のそれぞれに対応して複数が設けられている、
請求項1に記載の固体撮像装置。 - カラー画像を撮像する撮像領域に、複数の単位画素を設けることによって固体撮像装置を形成する工程を具備しており、
前記単位画素を形成する工程は、
同一色の光を受光して信号電荷を生成する複数の光電変換部を形成する工程と、
前記光電変換部から前記信号電荷を転送する複数の転送ゲートを、前記複数の光電変換部のそれぞれに設ける工程と、
前記複数の転送ゲートによって前記複数の光電変換部から前記信号電荷が転送されて加算されるフローティングディフュージョンを形成する工程と
を有する、
固体撮像装置の製造方法。 - 複数の単位画素が配置されており、カラー画像を撮像する撮像領域を具備しており、
前記単位画素は、
複数の光電変換部と、
前記複数の光電変換部のそれぞれに設けられており、前記光電変換部から信号電荷を転送する複数の転送ゲートと、
前記複数の転送ゲートによって前記複数の光電変換部から前記信号電荷が転送されるフローティングディフュージョンと
を有し、
前記複数の光電変換部は、同一色の光を受光して前記信号電荷を生成し、
前記複数の光電変換部から前記フローティングディフュージョンに転送された前記信号電荷が加算され、電気信号として出力される、
電子機器。
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US13/085,676 US20110273597A1 (en) | 2010-05-07 | 2011-04-13 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
TW100113283A TW201201575A (en) | 2010-05-07 | 2011-04-15 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
CN2011101116548A CN102238346A (zh) | 2010-05-07 | 2011-04-29 | 固态成像装置、固态成像装置的制造方法以及电子设备 |
KR1020110040681A KR20110123667A (ko) | 2010-05-07 | 2011-04-29 | 고체 촬상 장치, 고체 촬상 장치의 제조 방법 및 전자 기기 |
US14/495,318 US9438833B2 (en) | 2010-05-07 | 2014-09-24 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US15/156,564 US9653499B2 (en) | 2010-05-07 | 2016-05-17 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US15/465,084 US9923005B2 (en) | 2010-05-07 | 2017-03-21 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US15/894,542 US10050073B2 (en) | 2010-05-07 | 2018-02-12 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US16/031,345 US10177184B2 (en) | 2010-05-07 | 2018-07-10 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US16/204,194 US10720458B2 (en) | 2010-05-07 | 2018-11-29 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US16/204,176 US10355037B2 (en) | 2010-05-07 | 2018-11-29 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US16/779,068 US10978506B2 (en) | 2010-05-07 | 2020-01-31 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
US17/197,203 US11671721B2 (en) | 2010-05-07 | 2021-03-10 | Solid-state imaging device, method of manufacturing solid-state imaging device, and electronic apparatus |
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---|---|---|---|
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Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9356064B2 (en) | 2013-03-18 | 2016-05-31 | Sony Corporation | Solid state imaging device and manufacturing method, and electronic apparatus |
WO2017002730A1 (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
CN107204348A (zh) * | 2016-03-17 | 2017-09-26 | 松下知识产权经营株式会社 | 摄像装置 |
JP2018160933A (ja) * | 2018-07-11 | 2018-10-11 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP2018160934A (ja) * | 2018-07-11 | 2018-10-11 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
US10128300B2 (en) | 2015-03-31 | 2018-11-13 | Sony Corporation | Solid-state image sensor, imaging device, and electronic equipment |
JP2020005131A (ja) * | 2018-06-28 | 2020-01-09 | 株式会社リコー | 固体撮像素子及び撮像システム |
JP2020115697A (ja) * | 2018-07-11 | 2020-07-30 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP2021072414A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、撮像システム及び移動体 |
DE112020006539T5 (de) | 2020-01-16 | 2023-01-12 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Festkörperbildgebungsvorrichtung |
Families Citing this family (60)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010018677A1 (ja) * | 2008-08-11 | 2010-02-18 | 本田技研工業株式会社 | 画素、画素の製造方法、撮像装置および画像形成方法 |
JP5029624B2 (ja) * | 2009-01-15 | 2012-09-19 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
JP2012253624A (ja) * | 2011-06-03 | 2012-12-20 | Sony Corp | 固体撮像装置およびカメラシステム |
KR20130011692A (ko) * | 2011-07-22 | 2013-01-30 | 삼성전자주식회사 | 깊이 영상과 컬러 영상을 획득하는 픽셀 구조를 가진 이미지 센서 |
JP6003291B2 (ja) * | 2011-08-22 | 2016-10-05 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
JP5864990B2 (ja) | 2011-10-03 | 2016-02-17 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置およびカメラ |
CN109246400B (zh) * | 2012-03-30 | 2021-02-19 | 株式会社尼康 | 拍摄元件及拍摄装置 |
JP6021613B2 (ja) * | 2012-11-29 | 2016-11-09 | キヤノン株式会社 | 撮像素子、撮像装置、および、撮像システム |
JP6231741B2 (ja) | 2012-12-10 | 2017-11-15 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置およびその製造方法 |
JP2014199898A (ja) * | 2013-03-11 | 2014-10-23 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子および製造方法、並びに、電子機器 |
JP6112960B2 (ja) * | 2013-05-08 | 2017-04-12 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
JP2015012127A (ja) * | 2013-06-28 | 2015-01-19 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子および電子機器 |
JP6136669B2 (ja) * | 2013-07-08 | 2017-05-31 | 株式会社ニコン | 撮像装置 |
EP3051811A4 (en) * | 2013-09-26 | 2017-03-22 | Nikon Corporation | Image pickup element and image pickup device |
JP6176062B2 (ja) * | 2013-11-06 | 2017-08-09 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびその駆動方法、並びに電子機器 |
US20170302872A1 (en) * | 2014-10-01 | 2017-10-19 | Sony Corporation | Solid-state imaging device, signal processing method, and electronic device |
JP6406977B2 (ja) * | 2014-11-04 | 2018-10-17 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、撮像システム |
JP2016111425A (ja) * | 2014-12-03 | 2016-06-20 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 撮像装置 |
KR102363433B1 (ko) | 2015-01-15 | 2022-02-16 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 |
GB2537421A (en) * | 2015-04-17 | 2016-10-19 | Stmicroelectronics (Research & Development) Ltd | A pixel having a plurality of photodiodes |
WO2017030007A1 (ja) * | 2015-08-20 | 2017-02-23 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法、及び、電子機器 |
WO2017057776A1 (ja) * | 2015-10-02 | 2017-04-06 | オリンパス株式会社 | 撮像素子、内視鏡および内視鏡システム |
CN105578072A (zh) * | 2015-12-18 | 2016-05-11 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 成像方法、成像装置及电子装置 |
SG11201800816VA (en) * | 2015-12-18 | 2018-02-27 | Guangdong Oppo Mobile Telecommunications Corp Ltd | Image sensor, control method, and electronic device |
JP2017120975A (ja) * | 2015-12-28 | 2017-07-06 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 撮像素子 |
JP2017126846A (ja) * | 2016-01-13 | 2017-07-20 | ソニー株式会社 | 撮像素子、撮像素子の駆動方法、並びに、電子機器 |
KR102541701B1 (ko) * | 2016-01-15 | 2023-06-13 | 삼성전자주식회사 | 씨모스 이미지 센서 |
JP7005125B2 (ja) | 2016-04-22 | 2022-01-21 | キヤノン株式会社 | 撮像素子、撮像システム、および撮像素子の製造方法 |
JP6806494B2 (ja) * | 2016-08-24 | 2021-01-06 | キヤノン株式会社 | 撮像装置、撮像システム、移動体及び撮像装置の駆動方法 |
CN106454054B (zh) * | 2016-11-29 | 2019-03-19 | Oppo广东移动通信有限公司 | 控制方法、控制装置及电子装置 |
CN106504218B (zh) | 2016-11-29 | 2019-03-12 | Oppo广东移动通信有限公司 | 控制方法、控制装置及电子装置 |
CN106341670B (zh) | 2016-11-29 | 2017-09-22 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 控制方法、控制装置及电子装置 |
CN106357967B (zh) * | 2016-11-29 | 2018-01-19 | 广东欧珀移动通信有限公司 | 控制方法、控制装置和电子装置 |
KR102717094B1 (ko) * | 2016-12-27 | 2024-10-15 | 삼성전자주식회사 | 공유 픽셀을 구비한 이미지 센서 및 그 이미지 센서를 구비한 전자 장치 |
US10638054B2 (en) * | 2017-01-25 | 2020-04-28 | Cista System Corp. | System and method for visible and infrared high dynamic range sensing |
KR102333610B1 (ko) * | 2017-03-06 | 2021-12-03 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센서 |
KR102428834B1 (ko) * | 2017-03-29 | 2022-08-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR102354991B1 (ko) | 2017-05-24 | 2022-01-24 | 삼성전자주식회사 | 픽셀 회로 및 이를 포함하는 이미지 센서 |
US10423122B2 (en) * | 2017-08-04 | 2019-09-24 | Visera Technologies Company Limited | Lens-free image sensor using phase-shifting hologram |
CN111034179B (zh) * | 2017-09-14 | 2022-09-20 | 新唐科技日本株式会社 | 固体摄像装置及具备该固体摄像装置的摄像装置 |
KR102591525B1 (ko) * | 2018-05-28 | 2023-10-23 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 공통 선택 트랜지스터를 가진 유닛 픽셀 블록을 포함하는 이미지 센서 |
WO2020160195A2 (en) * | 2019-01-29 | 2020-08-06 | Gigajot Technology Inc. | Column-interleaved pixel array |
KR102600681B1 (ko) * | 2019-03-26 | 2023-11-13 | 삼성전자주식회사 | 비닝을 수행하는 테트라셀 이미지 센서 |
KR102651393B1 (ko) * | 2019-04-05 | 2024-03-27 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 쉴딩 배선을 갖는 이미지 센서 |
KR102709791B1 (ko) * | 2019-04-15 | 2024-09-26 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 |
CN110010058B (zh) * | 2019-05-20 | 2021-01-29 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板及显示面板 |
WO2020241151A1 (ja) | 2019-05-24 | 2020-12-03 | ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 | 固体撮像装置及び測距装置 |
JP7335987B2 (ja) * | 2019-06-17 | 2023-08-30 | フォトネオ・スポレチノスト・ス・ルチェニーム・オメゼニーム | 減算イメージセンサによる周囲光を抑制する方法及び装置 |
KR20220029587A (ko) * | 2019-07-02 | 2022-03-08 | 소니 세미컨덕터 솔루션즈 가부시키가이샤 | 고체 촬상 장치 및 그 구동 방법, 및 전자기기 |
KR20210010018A (ko) * | 2019-07-19 | 2021-01-27 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 이미지 센싱 장치 |
CN110475083B (zh) * | 2019-08-26 | 2021-12-14 | Oppo广东移动通信有限公司 | 一种像素结构、图像传感器及终端 |
WO2021035516A1 (zh) * | 2019-08-27 | 2021-03-04 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 图像传感器的半导体结构、芯片及电子装置 |
JP6891340B2 (ja) * | 2019-09-30 | 2021-06-18 | シェンチェン グーディックス テクノロジー カンパニー リミテッド | 画像センサの半導体構造、チップおよび電子デバイス |
US11284045B2 (en) * | 2020-04-22 | 2022-03-22 | OmniVision Technologies. Inc. | Image sensor with shifted color filter array pattern and bit line pairs |
US11658202B2 (en) * | 2020-05-15 | 2023-05-23 | Omnivision Technologies, Inc. | Dual row select pixel for fast pixel binning |
CN111669521B (zh) * | 2020-06-23 | 2023-02-07 | 中国电子科技集团公司第四十四研究所 | 水平区转移栅倾斜设置的ccd结构 |
CN113938584B (zh) | 2020-06-26 | 2024-01-12 | 爱思开海力士有限公司 | 图像感测装置 |
KR20220140905A (ko) * | 2021-04-09 | 2022-10-19 | 삼성전자주식회사 | 이미지 센서 |
US11594069B1 (en) * | 2021-09-08 | 2023-02-28 | Omnivision Technologies, Inc. | Anti-spoofing optical fingerprint sensor methods and hardware with color selection |
US11620852B2 (en) * | 2021-09-08 | 2023-04-04 | Omnivision Technologies, Inc. | Method for detecting spoof fingerprints with an under-display fingerprint sensor |
Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000059696A (ja) * | 1998-08-05 | 2000-02-25 | Canon Inc | 撮像装置及びそれを用いた撮像システム |
JP2001250931A (ja) * | 2000-03-07 | 2001-09-14 | Canon Inc | 固体撮像装置およびこれを用いた撮像システム |
JP2002010276A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-11 | Olympus Optical Co Ltd | 撮像装置 |
JP2002199284A (ja) * | 2000-12-25 | 2002-07-12 | Canon Inc | 撮像素子 |
JP2006014107A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Olympus Corp | 固体撮像装置 |
JP2006345330A (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Hitachi Medical Corp | 撮像装置 |
JP2007095792A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Canon Inc | 撮像装置 |
JP2007158109A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Nikon Corp | 焦点検出用信号の生成機能を有する固体撮像装置、および電子カメラ |
JP2008015754A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Nikon Corp | 撮像装置、画像処理装置および画像処理方法 |
JP2008060198A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Sony Corp | 固体撮像装置の製造方法 |
JP2009021919A (ja) * | 2007-07-13 | 2009-01-29 | Sony Corp | 撮像装置 |
WO2009151585A1 (en) * | 2008-06-13 | 2009-12-17 | Eastman Kodak Company | Wide aperture image sensor pixel |
JP2010010487A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Sony Corp | 固体撮像装置及び電子機器 |
JP2010016114A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Sony Corp | 固体撮像装置とその製造方法、及び電子機器 |
JP2010028423A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Sony Corp | 固体撮像素子およびカメラシステム |
WO2010046982A1 (ja) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | 株式会社島津製作所 | 光または放射線撮像装置 |
Family Cites Families (51)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2600250B2 (ja) | 1988-02-22 | 1997-04-16 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置およびビデオカメラ |
JP2600250Y2 (ja) | 1993-11-15 | 1999-10-04 | 富士電気化学株式会社 | 渦巻形電池 |
US6977684B1 (en) * | 1998-04-30 | 2005-12-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Arrangement of circuits in pixels, each circuit shared by a plurality of pixels, in image sensing apparatus |
US6512546B1 (en) * | 1998-07-17 | 2003-01-28 | Analog Devices, Inc. | Image sensor using multiple array readout lines |
US6956605B1 (en) * | 1998-08-05 | 2005-10-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Image pickup apparatus |
US6657665B1 (en) * | 1998-12-31 | 2003-12-02 | Eastman Kodak Company | Active Pixel Sensor with wired floating diffusions and shared amplifier |
JP2002314058A (ja) | 2001-04-17 | 2002-10-25 | Sony Corp | 固体撮像素子およびその製造方法 |
JP3846572B2 (ja) * | 2001-09-20 | 2006-11-15 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
JP4117672B2 (ja) | 2002-05-01 | 2008-07-16 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子及び固体撮像装置、並びにこれらの製造方法 |
JP3988189B2 (ja) | 2002-11-20 | 2007-10-10 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
US7436010B2 (en) * | 2003-02-13 | 2008-10-14 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Solid state imaging apparatus, method for driving the same and camera using the same |
JP4067054B2 (ja) * | 2004-02-13 | 2008-03-26 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置および撮像システム |
JP4492250B2 (ja) | 2004-08-11 | 2010-06-30 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子 |
JP5089017B2 (ja) * | 2004-09-01 | 2012-12-05 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及び固体撮像システム |
JP2006121650A (ja) * | 2004-09-24 | 2006-05-11 | Fuji Photo Film Co Ltd | 固体撮像装置 |
KR100598015B1 (ko) * | 2005-02-07 | 2006-07-06 | 삼성전자주식회사 | 공유 구조 상보성 금속 산화막 반도체 액티브 픽셀 센서어레이의 레이 아웃 |
KR100934513B1 (ko) * | 2005-02-10 | 2009-12-29 | 도판 인사츠 가부시키가이샤 | 고체 촬상 소자 및 그 제조 방법 |
JP4224036B2 (ja) * | 2005-03-17 | 2009-02-12 | 富士通マイクロエレクトロニクス株式会社 | フォトダイオード領域を埋め込んだイメージセンサ及びその製造方法 |
US20070035649A1 (en) * | 2005-08-10 | 2007-02-15 | Micron Technology, Inc. | Image pixel reset through dual conversion gain gate |
JP4599258B2 (ja) * | 2005-09-16 | 2010-12-15 | 富士フイルム株式会社 | 固体撮像素子 |
KR100772892B1 (ko) * | 2006-01-13 | 2007-11-05 | 삼성전자주식회사 | 플로팅 확산 영역의 커패시턴스를 제어할 수 있는 공유픽셀형 이미지 센서 |
JP4329765B2 (ja) | 2006-01-31 | 2009-09-09 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置 |
US7773138B2 (en) * | 2006-09-13 | 2010-08-10 | Tower Semiconductor Ltd. | Color pattern and pixel level binning for APS image sensor using 2×2 photodiode sharing scheme |
JP4807253B2 (ja) * | 2006-12-28 | 2011-11-02 | 株式会社デンソー | 画像データ生成装置及び受光デバイス |
US7839439B2 (en) * | 2007-01-12 | 2010-11-23 | Sony Corporation | Solid-state imaging device and imaging device |
JP2008205638A (ja) * | 2007-02-16 | 2008-09-04 | Texas Instr Japan Ltd | 固体撮像装置及びその動作方法 |
JP5076568B2 (ja) * | 2007-03-12 | 2012-11-21 | ソニー株式会社 | データ処理方法、データ処理装置、固体撮像装置、撮像装置、電子機器 |
JP5104036B2 (ja) * | 2007-05-24 | 2012-12-19 | ソニー株式会社 | 固体撮像素子とその製造方法及び撮像装置 |
US7924333B2 (en) * | 2007-08-17 | 2011-04-12 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus providing shared pixel straight gate architecture |
US7989749B2 (en) * | 2007-10-05 | 2011-08-02 | Aptina Imaging Corporation | Method and apparatus providing shared pixel architecture |
US20090091648A1 (en) * | 2007-10-09 | 2009-04-09 | Shengmin Lin | Multi-resolution Image Sensor Array with High Image Quality Pixel Readout Circuitry |
JP5292787B2 (ja) * | 2007-11-30 | 2013-09-18 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及びカメラ |
JP2009177797A (ja) * | 2007-12-26 | 2009-08-06 | Panasonic Corp | 固体撮像装置及びその駆動方法 |
JP5422914B2 (ja) * | 2008-05-12 | 2014-02-19 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置の製造方法 |
WO2010018677A1 (ja) * | 2008-08-11 | 2010-02-18 | 本田技研工業株式会社 | 画素、画素の製造方法、撮像装置および画像形成方法 |
TWI433307B (zh) * | 2008-10-22 | 2014-04-01 | Sony Corp | 固態影像感測器、其驅動方法、成像裝置及電子器件 |
US8130302B2 (en) * | 2008-11-07 | 2012-03-06 | Aptina Imaging Corporation | Methods and apparatus providing selective binning of pixel circuits |
JP5241454B2 (ja) * | 2008-12-01 | 2013-07-17 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置及びそれを用いた撮像システム |
JP5029624B2 (ja) * | 2009-01-15 | 2012-09-19 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
JP5267867B2 (ja) * | 2009-03-06 | 2013-08-21 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 撮像装置 |
KR101094246B1 (ko) * | 2009-03-16 | 2011-12-19 | 이재웅 | 넓은 동적범위를 갖는 씨모스 이미지 센서 |
JP5359465B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2013-12-04 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、固体撮像装置の信号処理方法および撮像装置 |
JP5476832B2 (ja) * | 2009-07-23 | 2014-04-23 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及びカメラ |
JP5471117B2 (ja) * | 2009-07-24 | 2014-04-16 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置とその製造方法並びにカメラ |
US8130304B2 (en) * | 2009-07-24 | 2012-03-06 | Aptina Imaging Corporation | Image sensors with pixel charge summing |
JP5564874B2 (ja) * | 2009-09-25 | 2014-08-06 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置、及び電子機器 |
JP5290923B2 (ja) * | 2009-10-06 | 2013-09-18 | キヤノン株式会社 | 固体撮像装置および撮像装置 |
US8872953B2 (en) * | 2009-10-30 | 2014-10-28 | Sony Corporation | Solid-state imaging device, manufacturing method thereof, camera, and electronic device |
FR2955701A1 (fr) * | 2010-01-28 | 2011-07-29 | St Microelectronics Sa | Structure compacte de capteur d'image |
JP5537172B2 (ja) * | 2010-01-28 | 2014-07-02 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
JP6003291B2 (ja) * | 2011-08-22 | 2016-10-05 | ソニー株式会社 | 固体撮像装置及び電子機器 |
-
2010
- 2010-05-07 JP JP2010107265A patent/JP5644177B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-04-13 US US13/085,676 patent/US20110273597A1/en not_active Abandoned
- 2011-04-15 TW TW100113283A patent/TW201201575A/zh unknown
- 2011-04-29 KR KR1020110040681A patent/KR20110123667A/ko not_active Withdrawn
- 2011-04-29 CN CN2011101116548A patent/CN102238346A/zh active Pending
-
2014
- 2014-09-24 US US14/495,318 patent/US9438833B2/en active Active
-
2016
- 2016-05-17 US US15/156,564 patent/US9653499B2/en active Active
-
2017
- 2017-03-21 US US15/465,084 patent/US9923005B2/en active Active
-
2018
- 2018-02-12 US US15/894,542 patent/US10050073B2/en active Active
- 2018-07-10 US US16/031,345 patent/US10177184B2/en active Active
- 2018-11-29 US US16/204,194 patent/US10720458B2/en active Active
- 2018-11-29 US US16/204,176 patent/US10355037B2/en active Active
-
2020
- 2020-01-31 US US16/779,068 patent/US10978506B2/en active Active
-
2021
- 2021-03-10 US US17/197,203 patent/US11671721B2/en active Active
Patent Citations (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000059696A (ja) * | 1998-08-05 | 2000-02-25 | Canon Inc | 撮像装置及びそれを用いた撮像システム |
JP2001250931A (ja) * | 2000-03-07 | 2001-09-14 | Canon Inc | 固体撮像装置およびこれを用いた撮像システム |
JP2002010276A (ja) * | 2000-06-22 | 2002-01-11 | Olympus Optical Co Ltd | 撮像装置 |
JP2002199284A (ja) * | 2000-12-25 | 2002-07-12 | Canon Inc | 撮像素子 |
JP2006014107A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Olympus Corp | 固体撮像装置 |
JP2006345330A (ja) * | 2005-06-10 | 2006-12-21 | Hitachi Medical Corp | 撮像装置 |
JP2007095792A (ja) * | 2005-09-27 | 2007-04-12 | Canon Inc | 撮像装置 |
JP2007158109A (ja) * | 2005-12-06 | 2007-06-21 | Nikon Corp | 焦点検出用信号の生成機能を有する固体撮像装置、および電子カメラ |
JP2008015754A (ja) * | 2006-07-05 | 2008-01-24 | Nikon Corp | 撮像装置、画像処理装置および画像処理方法 |
JP2008060198A (ja) * | 2006-08-30 | 2008-03-13 | Sony Corp | 固体撮像装置の製造方法 |
JP2009021919A (ja) * | 2007-07-13 | 2009-01-29 | Sony Corp | 撮像装置 |
WO2009151585A1 (en) * | 2008-06-13 | 2009-12-17 | Eastman Kodak Company | Wide aperture image sensor pixel |
JP2010010487A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Sony Corp | 固体撮像装置及び電子機器 |
JP2010016114A (ja) * | 2008-07-02 | 2010-01-21 | Sony Corp | 固体撮像装置とその製造方法、及び電子機器 |
JP2010028423A (ja) * | 2008-07-18 | 2010-02-04 | Sony Corp | 固体撮像素子およびカメラシステム |
WO2010046982A1 (ja) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | 株式会社島津製作所 | 光または放射線撮像装置 |
Cited By (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE47391E1 (en) | 2013-03-18 | 2019-05-14 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Solid state imaging device and manufacturing method, and electronic apparatus |
US9356064B2 (en) | 2013-03-18 | 2016-05-31 | Sony Corporation | Solid state imaging device and manufacturing method, and electronic apparatus |
USRE49333E1 (en) | 2013-03-18 | 2022-12-13 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Solid state imaging device and manufacturing method, and electronic apparatus |
USRE47392E1 (en) | 2013-03-18 | 2019-05-14 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Solid state imaging device and manufacturing method, and electronic apparatus |
USRE49661E1 (en) | 2013-03-18 | 2023-09-19 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Solid state imaging device and manufacturing method, and electronic apparatus |
US10128300B2 (en) | 2015-03-31 | 2018-11-13 | Sony Corporation | Solid-state image sensor, imaging device, and electronic equipment |
US10741605B2 (en) | 2015-03-31 | 2020-08-11 | Sony Corporation | Solid-state image sensor, imaging device, and electronic equipment |
US10134797B2 (en) | 2015-03-31 | 2018-11-20 | Sony Corporation | Solid-state image sensor, imaging device, and electronic equipment |
US10212368B2 (en) | 2015-06-30 | 2019-02-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Solid-state imaging device |
JP2017017457A (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-19 | 浜松ホトニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
WO2017002730A1 (ja) * | 2015-06-30 | 2017-01-05 | 浜松ホトニクス株式会社 | 固体撮像装置 |
CN107204348B (zh) * | 2016-03-17 | 2023-06-30 | 松下知识产权经营株式会社 | 摄像装置 |
CN107204348A (zh) * | 2016-03-17 | 2017-09-26 | 松下知识产权经营株式会社 | 摄像装置 |
JP7115067B2 (ja) | 2018-06-28 | 2022-08-09 | 株式会社リコー | 固体撮像素子及び撮像システム |
JP2020005131A (ja) * | 2018-06-28 | 2020-01-09 | 株式会社リコー | 固体撮像素子及び撮像システム |
JP2020115697A (ja) * | 2018-07-11 | 2020-07-30 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP2018160934A (ja) * | 2018-07-11 | 2018-10-11 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP2018160933A (ja) * | 2018-07-11 | 2018-10-11 | 株式会社ニコン | 撮像素子および撮像装置 |
JP2021072414A (ja) * | 2019-11-01 | 2021-05-06 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、撮像システム及び移動体 |
JP7458746B2 (ja) | 2019-11-01 | 2024-04-01 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置、撮像システム及び移動体 |
DE112020006539T5 (de) | 2020-01-16 | 2023-01-12 | Sony Semiconductor Solutions Corporation | Festkörperbildgebungsvorrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
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US10050073B2 (en) | 2018-08-14 |
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