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JP2011034173A5 - - Google Patents

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請求項2記載の発明は、検査対象である紙葉類の厚みを検知する厚み検知ステップを含み、厚み検知ステップにおいて検知された紙葉類の厚みを用い、前記紙葉類の基材の屈折率を算出することを特徴とする、請求項1記載の紙葉類の真偽判別方法である
請求項記載の発明は、テラヘルツ光を用いて紙葉類の真偽を判別する方法であって、検査対象である紙葉類の厚さ〜その厚さの約20倍の波長のテラヘルツ光を偏光P波および偏光S波に制限し、偏光P波および偏光S波をそれぞれ紙葉類に対して照射し、紙葉類の表面および裏面で反射される各テラヘルツ光の偏光P波および偏光S波毎に、テラヘルツ反射光を検出し、検出したテラヘルツ反射光の偏光P波および偏光S波の反射率を求め、該反射率を用いて紙葉類の基材の屈折率を算出し、算出した屈折率が所定の屈折率であるか否かに基づいて、紙葉類の真偽を判別することを特徴とする紙葉類の真偽判別方法である。
請求項記載の発明は、テラヘルツ光を用いて紙葉類の真偽を判別する装置であって、検査対象である紙葉類の厚さ〜その厚さの約20倍の波長のテラヘルツ光を紙葉類に対して照射するための送信子と、紙葉類の表面および裏面で反射されるテラヘルツ反射光を受信するための受信子と、前記受信子で受信されたテラヘルツ反射光に基づいて紙葉類の基材の屈折率を算出する屈折率算出手段と、前記屈折率算出手段で算出された屈折率に基づいて、紙葉類の真偽を判別する判別手段と、含むことを特徴とする紙葉類の真偽判別装置である。
請求項記載の発明は、前記検査対象である紙葉類の厚みを検出するための厚み検出装置をさらに備え、前記紙葉類の屈折率を算出する手段は、前記厚み検出装置で検出された紙葉類の厚み情報に基づいて紙葉類の屈折率を計算することを特徴とする、請求項記載の紙葉類の真偽判別装置である。
請求項記載の発明は、前記テラヘルツ光を紙葉類に対して照射する送信子および紙葉類で反射されるテラヘルツ反射光を検出する受信子は、送信・受信対ユニットとなっており、かつ、当該送信・受信対ユニットは、少なくとも2組設けられていて、一方はテラヘルツ光の偏光P波の送信および受信を行い、他方はテラヘルツ光の偏光S波の送信および受信を行うことを特徴とする、請求項または記載の紙葉類の真偽判別装置である。
求項記載の発明は、前記演算手段は、前記テラヘルツ光の偏光P波と偏光S波との反射率の比を算出し、当該反射率の比が所定の値の範囲内にあるか否かにより紙葉類の真偽を判別することを特徴とする、請求項記載の紙葉類の真偽判別装置である。
請求項8記載の発明は、テラヘルツ光を用いて紙葉類の真偽を判別する方法であって、検査対象である紙葉類の厚さの数分の1〜数倍の波長のテラヘルツ光を偏光P波および偏光S波に制限し、偏光P波および偏光S波をそれぞれ紙葉類に対して照射し、各偏光P波および偏光S波毎に、紙葉類の表面および裏面で反射されるテラヘルツ反射光を検出し、検出した偏光P波のテラヘルツ反射光および偏光S波のテラヘルツ反射光の反射光量の比を算出し、前記反射光量の比が所定の値の範囲にあるか否かに基づいて、紙葉類の真偽を判別することを特徴とする紙葉類の真偽判別方法である。

Claims (8)

  1. テラヘルツ光を用いて紙葉類の真偽を判別する方法であって、
    検査対象である紙葉類の厚さの数分の1〜数倍の波長のテラヘルツ光を紙葉類に対して照射し、
    紙葉類の表面および裏面で反射されるテラヘルツ反射光を検出し、
    検出したテラヘルツ反射光に基づいて紙葉類の基材の屈折率を算出し、
    算出した屈折率が所定の屈折率であるか否かに基づいて、紙葉類の真偽を判別することを特徴とする紙葉類の真偽判別方法。
  2. 検査対象である紙葉類の厚みを検知する厚み検知ステップを含み、
    厚み検知ステップにおいて検知された紙葉類の厚みを用い、前記紙葉類の基材の屈折率を算出することを特徴とする、請求項1記載の紙葉類の真偽判別方法。
  3. テラヘルツ光を用いて紙葉類の真偽を判別する方法であって、
    検査対象である紙葉類の厚さ〜その厚さの約20倍の波長のテラヘルツ光を偏光P波および偏光S波に制限し、偏光P波および偏光S波をそれぞれ紙葉類に対して照射し、
    紙葉類の表面および裏面で反射される各テラヘルツ光の偏光P波および偏光S波毎に、テラヘルツ反射光を検出し、
    検出したテラヘルツ反射光の偏光P波および偏光S波の反射率を求め
    該反射率を用いて紙葉類の基材の屈折率を算出し、算出した屈折率が所定の屈折率であるか否かに基づいて、紙葉類の真偽を判別することを特徴とする紙葉類の真偽判別方法。
  4. テラヘルツ光を用いて紙葉類の真偽を判別する装置であって、
    検査対象である紙葉類の厚さ〜その厚さの約20倍の波長のテラヘルツ光を紙葉類に対して照射するための送信子と、
    紙葉類の表面および裏面で反射されるテラヘルツ反射光を受信するための受信子と、
    前記受信子で受信されたテラヘルツ反射光に基づいて紙葉類の基材の屈折率を算出する屈折率算出手段と、
    前記屈折率算出手段で算出された屈折率に基づいて、紙葉類の真偽を判別する判別手段と、
    を含むことを特徴とする紙葉類の真偽判別装置。
  5. 前記検査対象である紙葉類の厚みを検出するための厚み検出装置をさらに備え、
    前記紙葉類の屈折率を算出する手段は、前記厚み検出装置で検出された紙葉類の厚み情報に基づいて紙葉類の屈折率を計算することを特徴とする、請求項記載の紙葉類の真偽判別装置。
  6. 前記テラヘルツ光を紙葉類に対して照射する送信子および紙葉類で反射されるテラヘルツ反射光を検出する受信子は、送信・受信対ユニットとなっており、かつ、当該送信・受信対ユニットは、少なくとも2組設けられていて、一方はテラヘルツ光の偏光P波の送信および受信を行い、他方はテラヘルツ光の偏光S波の送信および受信を行うことを特徴とする、請求項または記載の紙葉類の真偽判別装置。
  7. 前記演算手段は、前記テラヘルツ光の偏光P波と偏光S波との反射率の比を算出し、
    当該反射率の比が所定の値の範囲内にあるか否かにより紙葉類の真偽を判別することを特徴とする、請求項記載の紙葉類の真偽判別装置。
  8. テラヘルツ光を用いて紙葉類の真偽を判別する方法であって、
    検査対象である紙葉類の厚さの数分の1〜数倍の波長のテラヘルツ光を偏光P波および偏光S波に制限し、偏光P波および偏光S波をそれぞれ紙葉類に対して照射し、
    各偏光P波および偏光S波毎に、紙葉類の表面および裏面で反射されるテラヘルツ反射光を検出し、検出した偏光P波のテラヘルツ反射光および偏光S波のテラヘルツ反射光の反射光量の比を算出し、
    前記反射光量の比が所定の値の範囲にあるか否かに基づいて、紙葉類の真偽を判別することを特徴とする紙葉類の真偽判別方法。
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