JP2011016793A - レジスト組成物の酸発生剤用の塩 - Google Patents
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Abstract
Description
[式(I)中、Tは、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基のうち少なくとも2つは、酸素原子又は硫黄原子で置換されている。]
[式(I−1)中、X11及びX12は、互いに独立に、酸素原子又は硫黄原子を表す。
Rbは、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアルアルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基を表す。
mbは、0〜4の整数を表す。
n1は、1又は2の整数を表す。
n2は、0又は1の整数を表す。]
[式(I−2)中、Rbは、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアルアルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基を表す。
mbは、0〜4の整数を表す。]
[式(b)中、Q1及びQ2は、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
X1は、置換基を有していてもよい炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
Y1は、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数6〜24の芳香族炭化水素基又は式(I)で表される基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。ただし、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基のうち2つ以上は、酸素原子で置換されていない。
Zは、有機基を表す。
Y2は、水素原子又は式(I)で表される基を含む基を表す。]
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
脂肪族炭化水素基としては、例えば、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基、ウンデシル基、ドデシル基などが挙げられる。
脂環式炭化水素基としては、シクロヘキシル基、アダマンチル基等が挙げられる。
芳香族炭化水素基としては、フェニル基、ナフチル基、アントラニル基、p−メチルフェニル基、p−tert−ブチルフェニル基、p−アダマンチルフェニル基などが挙げられる。
アルアルキル基としては、例えば、ベンジル基、フェネチル基、フェニルプロピル基、トリチル基、ナフチルメチル基、ナフチルエチル基等が挙げられる。
アシル基としては、アセチル基、プロピオニル基、ブチリル等が挙げられる。
[式(I−1)中、X11及びX12は、互いに独立に、酸素原子又は硫黄原子を表す。
Rbは、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアルアルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基を表す。
mbは、0〜4の整数を表す。
n1は、1又は2の整数を表す。
n2は、0又は1の整数を表す。]
[式(I−2)中、Rbは、ハロゲン原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数1〜12のアルコキシ基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数7〜12のアルアルキル基、グリシジルオキシ基又は炭素数2〜4のアシル基を表す。
mbは、0〜4の整数を表す。]
[式(b)中、Q1及びQ2は、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
X1は、置換基を有していてもよい炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
Y1は、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数6〜24の芳香族炭化水素基又は式(I)で表される基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。ただし、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基のうち2つ以上は、酸素原子で置換されていない。
Zは、有機基を表す。
Y2は、水素原子又は式(I)で表される基を含む基を表す。]
アルキレン基としては、例えば、メチレン基、ジメチレン基、トリメチレン基、テトラメチレン基、ペンタメチレン基、ヘキサメチレン基、ヘプタメチレン基、オクタメチレン基、ノナメチレン基、デカメチレン基、ウンデカメチレン基、ドデカメチレン基、トリデカメチレン基、テトラデカメチレン基、ペンタデカメチレン基、ヘキサデカメチレン基、ヘプタデカメチレン基、エチレン基、プロピレン基、イソプロピレン基、sec−ブチレン基及びtert−ブチレン基などが挙げられる。
[式(X1−A)〜式(X1−C)中、X1A及びX1Bは、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜6のアルキレン基を表す。ただし、式(X1−A)〜式(X1−C)で表される基の炭素数は1〜17である。]
[式(X1−1)中、Xa1は、置換基を有していてもよい炭素数1〜15の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
*は、−C(Q1)(Q2)−との結合手を表す。]
[式(X1−2)中、Xa2は、置換基を有していてもよい炭素数1〜13の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
*は、−C(Q1)(Q2)−との結合手を表す。]
ヒドロキシ基含有脂肪族炭化水素基としては、例えば、ヒドロキシメチル基、ヒドロキシエチル基などが挙げられる。
Y1における、脂環式炭化水素基におけるメチレン基が酸素原子又はカルボニル基で置き換わった基としては、例えば、環状エーテル基(−CH2−が−O−で置き換わった基)、オキソ基を有する飽和環状炭化水素基(−CH2−が−CO−で置き換わった基)又はラクトン環基(隣り合う2つの−CH2−が、それぞれ、−O−又は−CO−で置き換わった基)等が挙げられる。ただし、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基のうち2つ以上は、酸素原子で置換されていない。
[式(Y1−1)〜式(Y1−4)中、環に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよく、環に含まれる水素原子は、置換されていてもよい。]
Xaa〜Xaeは、互いに独立に、単結合又は炭素数1〜15のアルキレン基を表す。]
式(c−a)中、環に含まれる水素原子が炭化水素基のみで置換されたアニオン(該炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)としては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
式(c−b)中、環に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)アニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
式(c−c)中、環に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)アニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
式(c−d)中、環に含まれる水素原子が置換されていないか又は炭化水素基のみで置換された(環に含まれるメチレン基は酸素原子で置換されていてもよい。)アニオンとしては、例えば、下記のもの等が挙げられる。
Y2が水素原子であるH−Z+としては、例えば、式(IXa)、式(IXb)、式(IXc)及び式(IXd)で表されるカチオン等が挙げられ、式(IXa)で表されるカチオンが好ましい。
Pa、Pb及びPcのうちの2つが互いに結合して環を形成してもよい。
式(IXb)中、P4及びP5は、それぞれ独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
x4及びx5は1〜5の整数を表す。
式(IXc)中、P6及びP7は、それぞれ独立に、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数3〜12のシクロアルキル基を表すか、P6とP7とが互いに結合して炭素数3〜12の環を形成する。
P8は、水素原子を表し、P9は、炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基、又は置換基を有していてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表すか、P8とP9とが互いに結合して炭素数3〜12の環を形成する。
式(IXd)中、P10〜P21は、それぞれ独立に、水素原子、水酸基、炭素数1〜12のアルキル基又は炭素数1〜12のアルコキシ基を表す。
Eは、硫黄原子又は酸素原子を表す。
mは、0又は1を表す。]
シクロアルキルとしては、上述した脂環式炭化水素基と同様のものが例示される。
P6とP7とが互いに結合して形成する環としては、テトラヒドロチオフェニウム基などが挙げられる。
P8における芳香族炭化水素基の置換基としては、炭素数1〜12のアルキル基等が挙げられる。
P8とP9とが互いに結合して形成する環としては、上述した式(W13)〜式(W15)の基などが挙げられる。
[式(I−3)中、Tは、上記と同じ意味を表す。
Aは、置換基を有していてもよい炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。]
Aとしては、X1と同様の基が挙げられ、中でも、Aとしては、好ましくは、式(A−1)〜式(A−3)で表される基が挙げられる。
[式(A−1)中、*は、Tとの結合手を表す。]
Py及びPzは、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数1〜30のアルキル基、置換基を有していてもよい炭素数3〜30の脂環式炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表すか、Py及びPzが互いに結合して環を形成する。
A及びTは、上記と同じ意味を表す。]
Py及びPzが、それぞれ独立に、置換基を有していてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基であることが好ましい。
例えば、式(Ia−1)で表される塩と式(Ia−2)で表される化合物とを溶剤中、触媒存在下で反応させることにより、式(I)で表される基を含む式(Ia)で表される塩で表される塩を得ることができる。溶剤としては、ジメチルホルムアミド等が挙げられる。触媒としては、炭酸カリウム、ヨウ化カリウム等が挙げられる。
式(Ia−1)で表される塩は、例えば、特開2008−13551号公報に記載された方法で合成することができる。
溶剤としては、クロロホルム等が挙げられる。
式(Ib−2)で表される塩としては、特開第2008−165218号公報に記載された方法によって製造することができる。
触媒としては、炭酸カリウム、ヨウ化カリウム等が挙げられる。
溶剤としては、N,N’−ジメチルホルムアミド等が挙げられる。
式(I)で表される基を含む塩は、酸発生剤として用いられ、露光により生じた酸は、樹脂中の基であって酸に不安定な基に対して触媒的に作用して開裂させ、樹脂はアルカリ水溶液に可溶なものとなる。かかるレジスト組成物は化学増幅型ポジ型レジスト組成物として好適である。式(I)で表される基を含む塩は、単独でも複数種を同時に用いてもよい。また、式(I)で表される基を含む塩以外と併用してもよい。式(I)で表される基を含む塩以外の塩としては、例えば、式(Xa)〜式(Xi)で表される塩が挙げられる。
P28及びP29は、それぞれ独立に、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基又は炭素数4〜36の脂環式炭化水素基を表すか、あるいはP28とP29とが互いに結合してS+を含んで炭素数2〜6の環を形成する。
P30は、炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基、炭素数4〜36の脂環式炭化水素基又は置換基を有していてもよい炭素数6〜20の芳香族炭化水素基を表す。P31は炭素数1〜12のアルキル基、炭素数3〜12のシクロアルキル基もしくは置換されていてもよい芳香環基を表すか、あるいはP30とP31とが互いに結合して炭素数3〜12の環を形成する。ここで、該環に含まれるメチレン基は、酸素原子、硫黄原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
Q1及びQ2は、上記と同義である。
X13は、単結合またはメチレン基を表す。
R25は、水素原子又は炭素数1〜12の脂肪族炭化水素基を表す。]
P30とP31とが互いに結合して形成する環としては、上述した式(W13)〜式(W15)の基などが挙げられる。
脂環式炭化水素基としては、単環式又は多環式のいずれでもよく、単環式の脂環式炭化水素基としては、例えば、シクロペンチル基、シクロへキシル基、メチルシクロヘキシル基、ジメチルシクロへキシル基、シクロヘプチル基、シクロオクチル基などのシクロアルキル基が挙げられる。多環式の脂環式炭化水素基としては、デカヒドロナフチル基、アダマンチル基、ノルボルニル基、メチルノルボルニル基、下記のような基等が挙げられる。
式(1)では、脂環式炭化水素基の炭素数は、好ましくは炭素数1〜16である。
これらの中でも(メタ)アクリル酸2−エチル−2−アダマンチル又は(メタ)アクリル酸2−イソプロピル−2−アダマンチルが、得られるレジストの感度が優れ耐熱性にも優れる傾向があることから好ましい。
水酸基を有する2−ノルボルネンに由来する構造単位、
(メタ)アクリロニトリルに由来する構造単位、
水酸基を有するアダマンチル(メタ)アクリレートに由来する構造単位、
p−又はm−ヒドロキシスチレン等のスチレン系モノマーに由来する構造単位、
アルキル基で置換されていてもよいラクトン環を有する化合物に由来する構造単位が挙げられる。
樹脂が水酸基を有するアダマンチル(メタ)アクリレートに由来する構造単位を含む場合、水酸基を有するアダマンチル(メタ)アクリレートに由来する構造単位が、樹脂を構成する構成単位の合計100モル%に対して、5〜50モル%含有されることが好ましい。
前記その他の構造単位としては、
例えば、アクリル酸やメタクリル酸等の遊離のカルボン酸基を有するモノマーに由来する構造単位、
無水マレイン酸、無水イタコン酸等の脂肪族不飽和ジカルボン酸無水物に由来する構造単位、
2−ノルボルネンに由来する構造単位、
−CO−O−CH2(R’)基又は−CO−O−CH(R’)(R”)基(R’及びR”は互いに独立にアルキル基、好ましくは炭素数1〜6のアルキル基を表す。)を有する化合物に由来する構造単位、
1−アダマンチル基を有する(メタ)アクリル酸エステルに由来する構造単位等が挙げられる。
R5及びR6が−COOUである場合は、カルボキシル基がエステルとなったものであり、Uに相当するアルコール残基としては、例えば、置換基を有していてもよい炭素数1〜8程度のアルキル基、2−オキソオキソラン−3−又は−4−イル基などを挙げることができる。ここで、該アルキル基は、水酸基や脂環式炭化水素残基などが置換基として結合していてもよい。
アルキル基としては、メチル基、エチル基、n−プロピル基、イソプロピル基、n−ブチル基、sec−ブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、2−エチルヘキシル基等が挙げられる。
水酸基が結合したアルキル基、つまり、ヒドロキシルアルキル基としては、例えば、ヒドロキシメチル基、2−ヒドロキシエチル基等が挙げられる。
脂環式炭化水素基としては、例えば、炭素数3〜30程度のものが挙げられ、シクロプロピル、シクロブチル、シクロペンチル、シクロヘキシル、シクロヘプチル、シクロデシル、シクロヘキセニル、ビシクロブチル、ビシクロヘキシル、ビシクロオクチル、2−ノルボルニル等が挙げられる。
2−ノルボルネン、
2−ヒドロキシ−5−ノルボルネン、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸メチル、
5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−ヒドロキシ−1−エチル、
5−ノルボルネン−2−メタノール、
5−ノルボルネン−2,3−ジカルボン酸無水物等の化合物を挙げることができる。
ノルボルネン構造と酸に不安定な基とを含むモノマーとしては、例えば、5−ノルボルネン−2−カルボン酸−tert−ブチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−シクロヘキシル−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチルシクロヘキシル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−メチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸2−エチル−2−アダマンチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−メチルシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(4−ヒドロキシシクロヘキシル)−1−メチルエチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−メチル−1−(4−オキソシクロヘキシル)エチル、5−ノルボルネン−2−カルボン酸1−(1−アダマンチル)−1−メチルエチル等が例示される。
この場合の重量平均分子量は、後述するように、ゲルパーミュエーションクロマトグラフィーにより求めることができる。
また、塩基性化合物を用いる場合は、レジスト組成物の全固形分量を基準に、0.01〜1重量%程度の範囲で含有するのが好ましい。
レジスト組成物としては、さらに、必要に応じて、増感剤、溶解抑止剤、他の樹脂、界面活性剤、安定剤、染料など、各種の添加物を少量含有することもできる。
(1)本発明のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含む。
本発明の塩は、例えば、半導体の微細加工に用いられる化学増幅型レジスト組成物に使用されるものであり、高い解像度、良好なラインエッジラフネス(LER)を示すレジスト組成物用の酸発生剤として好適に用いられ、中でも、ArFやKrFなどのエキシマレーザーリソグラフィならびにArF液浸露光リソグラフィに好適なレジスト組成物用の酸発生剤として用いることができる。
実施例及び比較例の中、含有量ないし使用量を表す%及び部は、特記ないかぎり質量基準である。
カラム:TSKgel Multipore HXL−M 3本+ guardcolumn(東ソー(株)製)
溶離液:テトラヒドロフラン
流量:1.0mL/min
検出器:RI検出器
カラム温度:40℃
注入量:100μL
分子量標準:標準ポリスチレン(東ソー(株)製)
MS(ESI(−)Spectrum):M− 335.0
1H−NMR(ジメチルスルホキシド−d6、内部標準物質テトラメチルシラン):δ(ppm)2.49−2.68(m,3H)、2.83−2.90(m,1H)、3.77−3.86(m,1H)、4.07−4.16(m,3H)、5.83(m,1H)、7.70−7.90(m,15H)
(式(A2)で表される塩の合成)
式(A1−b)で表される化合物3.94部及びN,N’−ジメチルホルムアミド28.00部を仕込み、23℃で30分間攪拌した。得られた混合物に、炭酸カリウム1.66部及びヨウ化カリウム0.84部を仕込み、50℃で1時間攪拌した。得られた混合物を、40℃まで冷却し、式(A2−a)で表される塩6.30部をN,N’−ジメチルホルムアミド28.00部に溶解した溶液を1時間かけて滴下した。その後、75℃で5時間攪拌した。得られた混合物を、23℃まで冷却し、クロロホルム60.00部及び1N塩酸60.00部を加えて攪拌し、分離した。回収された有機層をイオン交換水60.00部で水層が中性になるまで水洗を繰り返した。回収された有機層に活性炭2.0部を加えて攪拌し、ろ過した。得られたろ液を濃縮し、酢酸エチル20部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣にtert−ブチルメチルエーテル20部を加えて攪拌し、上澄液を除去した。得られた残渣をクロロホルムに溶解し、濃縮して、式(A2−b)で表される塩3.88部を得た。
一方、3−ヒドロキシアダマンチルメタノール1.1部及びN,N−ジメチルホルムアミド5.5部に、水素化ナトリウム0.2部を添加し、2時間撹拌した。この溶液に、前記の混合物を添加した。得られた混合物を15時間撹拌し、生成した式(A2−c)で表される塩を含む溶液をそのまま次の反応に用いた。
MS(ESI(−)Spectrum):M− 339.1
1H−NMR(ジメチルスルホキシド−d6、内部標準物質テトラメチルシラン):δ(ppm)1.35−1.80(m,12H)、2.10(s,2H)、2.45−2.70(m,3H)、2.82−2.95(m,1H)、3.75−3.89(m,3H)、4.08−4.19(m,1H)、4.40−4.42(s,1H)、4.96(s,2H)、5.85−5.92(m,1H)、7.28−7.35(m,2H)、7.70−7.90(m,12H)
モノマーE、モノマーF、モノマーB、モノマーC及びモノマーDを、モル比30:14:6:20:30の割合で仕込み、次いで、全モノマーの合計質量に対して、1.5質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1.00mol%と3.00mol%との割合で添加し、これを73℃で約5時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒(4:1)に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約8.1×103である共重合体を収率65%で得た。得られた共重合体は、次式の各モノマーに由来する繰り返し単位を有するものであり、これを樹脂B1とした。
モノマーA、モノマーB及びモノマーCを、モル比50:25:25の割合で仕込み、次いで、全モノマーの合計質量に対して、1.5質量倍のジオキサンを加えた。得られた混合物に、開始剤としてアゾビスイソブチロニトリルとアゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)とを全モノマーの合計モル数に対して、それぞれ、1mol%と3mol%との割合で添加し、これを80℃で約6時間加熱した。その後、反応液を、大量のメタノールと水との混合溶媒(3:1)に注いで沈殿させる操作を3回行うことにより精製し、重量平均分子量が約9.2×103である共重合体を収率60%で得た。この共重合体は、次式の各モノマーに由来する繰り返し単位を有するものであり、これを樹脂B2とした。
Q1:2,6−ジイソプロピルアニリン
<溶剤>
プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート 265部
2−ヘプタノン 20.0部
プロピレングリコールモノメチルエーテル 20.0部
γ−ブチロラクトン 3.5部
次いで、前記の有機反射防止膜の上に、上記のレジスト組成物を乾燥後の膜厚が85nmとなるようにスピンコートした。
露光後、ホットプレート上にて、表1の「PEB」欄に記載された温度で60秒間ポストエキスポジャーベーク(PEB)を行い、さらに2.38重量%テトラメチルアンモニウムヒドロキシド水溶液で60秒間のパドル現像を行った。
これらの結果を表2に示す。
Claims (8)
- 式(b)で表される請求項1〜3のいずれか記載の塩。
[式(b)中、Q1及びQ2は、互いに独立に、フッ素原子又は炭素数1〜6のペルフルオロアルキル基を表す。
X1は、置換基を有していてもよい炭素数1〜17の飽和炭化水素基を表し、該飽和炭化水素基に含まれるメチレン基は酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。
Y1は、置換基を有していてもよい炭素数3〜36の脂環式炭化水素基、置換基を有していてもよい炭素数6〜24の芳香族炭化水素基又は式(I)で表される基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基は、酸素原子又はカルボニル基で置換されていてもよい。ただし、該脂環式炭化水素基に含まれるメチレン基のうち2つ以上は、酸素原子で置換されていない。
Zは、有機基を表す。
Y2は、水素原子又は式(I)で表される基を含む基を表す。] - 請求項1〜4のいずれか記載の塩を含有する酸発生剤。
- 請求項5記載の酸発生剤と樹脂とを含有し、該樹脂は酸に不安定な基を有し、かつアルカリ水溶液に不溶又は難溶な樹脂であり、酸との作用によりアルカリ水溶液で溶解し得る樹脂であるレジスト組成物。
- さらに塩基性化合物を含有する請求項6記載のレジスト組成物。
- (1)請求項6又は7記載のレジスト組成物を基板上に塗布する工程、
(2)塗布後の組成物から溶剤を除去して組成物層を形成する工程、
(3)組成物層に露光機を用いて露光する工程、
(4)露光後の組成物層を加熱する工程、
(5)加熱後の組成物層を、現像装置を用いて現像する工程を含むことを特徴とするパターン形成方法。
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