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JP2009512999A - 半導体パッケージ - Google Patents

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Abstract

双方向化合物半導体部品と、縦続構成で電気的に接続される2つの電力半導体素子とを含む半導体パッケージ。
【選択図】 図2

Description

本出願は、「双方向エンハンスメントモードCSC FETパッケージング」という発明の名称の2005年9月21日に提出の米国仮特許願第60/719242号に関連するものである。
本発明は、半導体パッケージ、より詳細には電力半導体パッケージに関する。
ワイヤーボンドは、典型的な半導体パッケージに使用され、パッケージ内に収容された半導体素子の電極を、そこに収容された他の素子の電極あるいはリードまたは導電パッドに相互接続する。
米国特許出願第11/056062号公報
ワイヤーボンドを用いる場合の大きい欠点は、抵抗の増大である。パッケージ全体の抵抗を減らすことは、望ましいことである。
さらに、半導体素子の性能を改善するために、パッケージ内に収容された半導体素子から、できるだけ多くの熱を引き出すことが望ましい。
さらに、パッケージの点有空間を小とすることが望ましい。
本発明の一実施形態による半導体パッケージは、その少なくとも1つの主要面に配置された複数の導電パッドを有する基板と、関連する導電パッドに、電気的かつ機械的に接続されている少なくとも第1電源電極を有する双方向化合物半導体部品と、化合物半導体部品の第1電源電極に電気的に接続されている第1電源電極を有する第1電力半導体素子と、少なくとも1つの導電パッドに、電気的かつ機械的に接続されている第2電源電極とを含み、第2電力半導体は、化合物半導体部品の第2電源電極に電気的に接続される第1電源電極と、少なくとも1つの導電パッドに、電気的かつ機械的に接続される第2電源電極とを有し、双方向化合物半導体部品、第1電力半導体素子、および第2電力半導体素子は、パッケージ内で電気的に直列に接続されている。
好ましい実施形態では、第1および第2電力半導体素子は、電力MOSFETであり、双方向化合物電力半導体素子は、III族窒化物ベースの双方向電力半導体素子である。
本発明によるパッケージは、第1電力半導体素子の第1電源電極を、化合物半導体部品の第1電源電極に電気的に接続する第1ヒートシンクと、第2電力半導体素子の第1電源電極を、化合物半導体部品の第2電源電極に電気的に接続する第2ヒートシンクとをさらに含んでいるのがよい。第1ヒートシンクおよび第2ヒートシンクは、化合物半導体部品に熱的に結合されることが好ましい。
本発明によるパッケージは、第1および第2半導体素子、ならびに化合物半導体部品の周りに配置される成形ケースを、さらに含んでいるのがよい。
本発明の一実施形態では、ヒートシンクは、成形ケースを通って露出されている。
本発明の別の実施形態では、ヒートシンクは、成形ケースに封入されている。
本発明の他の特徴および利点については、添付図面に基づく本発明の次の説明により明らかになると思う。
本明細書で用いる化合物半導体部品(CSC)は、III族窒化物ベースの電力半導体素子、例えば、高電子移動度トランジスタ(HEMT)、金属絶縁体半導体HEMT(MISHEMT)、金属酸化膜半導体(MОSHEMT)、および同種の素子を含むヘテロ接合型半導体素子を指す。
他に指示しない限り、本明細書で用いる電力半導体素子は、単一物質半導体素子、例えばシリコンベースの電力半導体素子(例えばシリコンベースまたは炭化ケイ素ベースのMОSFET)などを指す。
図1A、図1B、図2、および図3に示す、本発明の第1実施形態による半導体パッケージは、基板10と、第1電力半導体素子12(例えばシリコンベースの電力MOSFET)と、第2電力半導体素子14(例えばシリコンベースの電力MOSFET)と、双方向CSC16(例えばIII族窒化物ベースの双方向HEMT)と、第1ヒートシンクコネクタ18と、第2ヒートシンクコネクタ208と、成形ケース22(より良く分かるように、図1Bでは透けて見えるように表わしてある)とを備えている。
基板10の一表面には、複数の導電パッド24が設けられている。第1電力半導体素子12の第1電源電極26(例えばソース電極)は、はんだ、導電性エポキシ(例えば銀エポキシ)、または同種の材料からなる、導電性接着剤28の層を用いて、少なくとも1つの関連する導電パッド24に、電気的かつ機械的に接続されている。
第2電力半導体素子14の第1電源電極26(例えばソース電極)は、少なくとも1つの関連する導電パッド24に、電気的かつ機械的に結合されている。特に示されないけれども、各電力半導体素子12、14の制御電極30(図4、図5参照)(例えばゲート電極)もまた、関連する導電パッド24に、電気的かつ機械的に接続されていることに留意する必要がある。
双方向CSC16は、複数の電源電極32、34と、ゲート電極36、38(図6参照)とを含んでいる。双方向CSCの例は、本出願の譲受人に譲渡された特許文献1に開示されている。
各電源電極32、34は、電流の方向に応じてソースまたはドレインとしての機能を果たすことができる。双方向CSC16は、ワイヤーボンディングを排除するために、銅バンプや、はんだバンプなどを、その電極上に有していることが好ましい。1つの好ましい例として、電源電極32、34を逆方向に配置してもよい。
各電源電極32、34は、導電性接着剤28の層を用いて、関連する導電パッド24に、電気的かつ機械的に結合されている。同様に、各ゲート電極36、38は、図示はしていないけれども、関連する導電パッド24に、電気的かつ機械的に結合されている。
第1ヒートシンクコネクタ18は、導電性接着剤28(例えば、はんだまたは導電性エポキシ)の層を用いて、第1電力半導体素子12の第2電源電極40に、電気的かつ機械的に結合され、かつ導電性接着剤28の層を用いて、導電パッド24に電気的かつ機械的に接続されている突出部分41を有する。
従って、第1ヒートシンクコネクタ18は、第1電力半導体素子12の第2電源電極40を双方向CSC16の電源電極(例えば電源電極32)の1つに、電気的に接続している。例えば、導電パッド42は、関連する導電パッド24に電気的に接続され、電源電極(例えば電源電極32)は、基板を通して、あるいは基板面上の銅配線などを通して、導電パッド24に電気的に接続されている。第1ヒートシンクコネクタ18は、熱伝導性物体44を通して、双方向CSC16の裏面に熱的に結合されることが好ましい。
第2ヒートシンクコネクタ20もまた、突出部分41を有し、この突出部分は、導電パッド43に電気的かつ機械的に結合され、それによって、第2電力半導体素子14(これは、導電性接着層28によって、第2ヒートシンク20に電気的かつ機械的に結合される)の第2電源電極40は、導電パッド43と類似または同じ方法で、導電パッド43を通して、双方向CSC16の他の電源電極34に電気的に接続されている。
第2ヒートシンクコネクタ20もまた、双方向CSC16の裏面に層44を通して、熱的に結合されていることにも留意されたい。
基板10は、外部接続のために複数の端子48、49、50、51、52、53をさらに備えている。各端子は、コネクタ、または基板10の本体を通って延びるバイア(図示せず)を用いて、少なくとも1つの関連する導電パッド24、42、43に接続され、それによって、パッケージの占有空間を小としている。
従って、電源端子48は、第1電力半導体素子12の第1電源電極26に接続される導電パッド24に接続され、電源端子50は、パッド24に電気的に接続され、従って、第1電力半導体素子12の第2電源電極(および電源電極、例えば双方向CSC16の電極32)に接続され、制御端子52は、第1電力半導体素子12の制御電極30に、電気的かつ機械的に接続される導電パッドに電気的に接続されている。
同様に、電源端子49は、第2電力半導体素子14の第1電源電極26に接続される導電パッド24に接続され、電源端子51は、パッド43に電気的に接続され、従って、第2電力半導体素子14の第2電源電極(および電源電極、例えば双方向CSC16の電極34)に接続され、制御端子53は、第2電力半導体素子14の制御電極30に、電気的かつ機械的に接続される導電パッドに、電気的に接続されている。
本発明の第1実施形態においては、成形ケース22には、双方向CSC16、第1および第2電力素子12、14、ならびに第1および第2ヒートシンクコネクタ18、20が封入されている。
半導体素子12、14、16は、ワイヤーボンドを用いずに相互接続すると有利であることに留意する必要がある。また、熱は、半導体素子12、14、16の両面から引き出され、それによって、両面冷却が達成されることにも留意する必要がある。
図4、図5に示すように、各電力半導体素子12、14の制御電極30(例えばゲート電極)、第1電源電極26(例えばソース電極)、および第2電源電極40(例えばドレイン電極)は、ワイヤーボンド無しの接続を可能とするために、はんだ付け可能とすることが好ましいことに留意する必要がある。
ソルダレジストとしての機能を果たすことが好ましいパッシベーション物体46は、第1電源電極26と制御電極30との間に配置されて、素子を保護し、リフロー中のはんだなどの侵入に因るアセンブリ中の短絡を防止する。
図7〜図10に示す、本発明による半導体パッケージは、先ず、図7および図8に示すように、第1および第2電力半導体素子12、14および双方向CSC16を、基板12の導電パッド24に電気的かつ機械的に取り付けることによって製造される。
その後、導電性接着剤28(例えばはんだ)は、図9に示すように、第1および第2電力半導体素子12、14の第2電源電極40上に施される。次に、図10に示すように、熱的物体44は、双方向CSC16の裏面に施される。最後に、第1および第2ヒートシンク18、20は、上述したように取り付けられ、成形ケース22はアセンブリに供される。
図11に示す、第2実施形態においては、ヒートシンクコネクタ18、20は、双方向CSC16のほぼ裏面全体を覆うために、互いに対向する代わりに、並んで配置されている。
図12に示すように、第2実施形態において、ヒートシンクコネクタ18、20は、双方向CSC16のほぼ裏面全体を覆う一方で、拡大された熱放散面積を提供するために、L字形の上部形状とすることができる。
図13に示す、本発明の第4実施形態においては、成形ケース22の一部は、第1および第2ヒートシンクコネクタ18、20の裏面の少なくとも一部、好ましくは裏面全体を露出させるために除去される。
以上本発明を、その特定の実施形態に関して説明したが、多くの他の変形例や変更態様、および他の用途が、当業者には明らかであると思う。従って本発明は、本明細書の特定の開示によってではなく、添付の特許請求の範囲によってのみ限定されるべきものである。
本発明によるパッケージに配置される双方向CSC、および電力半導体素子の回路図である。 本発明の第1実施形態による半導体パッケージの平面図である。 図1Bの線2−2に沿って、矢印方向に見た断面図である。 図1Bの線3−3に沿って、矢印方向に見た断面図である。 本発明によるパッケージ内で使用される電力半導体素子の例の平面図である。 図4の線5−5に沿って矢印方向に見た断面図である。 本発明によるパッケージ内で使用される双方向CSCの平面図である。 本発明によるパッケージ内で使用される基板の平面図である。 電力半導体素子および双方向CSCを基板に組み立てた後の図7の基板の平面図である。 はんだを施した後の図8に示すアセンブリである。 熱伝導性物体を双方向CSCの裏面に施した後の図9に示すアセンブリである。 本発明の第2実施形態の平面図である。 本発明の第3実施形態の平面図である。 本発明の第4実施形態の断面図である。
符号の説明
10 基板
12 第1電力半導体素子
14 第2電力半導体素子
16 双方向CSC
18 第1ヒートシンクコネクタ
20 第2ヒートシンクコネクタ
22 成形ケース
24 導電パッド
26 第1電源電極
28 導電性接着剤28
30 制御電極
32 電源電極
34 電源電極
36 ゲート電極
38 ゲート電極
40 第2電源電極
41 突出部分
42 導電パッド
43 導電パッド
44 熱伝導性物体
48 電源端子
49 電源端子
50 電源端子
51 電源端子
52 制御端子
53 制御端子

Claims (12)

  1. 少なくとも1つの主要面上に配置された、複数の導電パッドを有する基板と、
    少なくとも、関連する導電パッドに電気的かつ機械的に接続された第1電源電極と、関連する導電パッドに電気的かつ機械的に接続された第2電源電極とを有する双方向化合物半導体部品と、
    前記化合物半導体部品の第1電源電極に電気的に接続された第1電源電極と、少なくとも1つの導電パッドに電気的かつ機械的に接続された第2電源電極とを有する第1電力半導体素子と、
    前記化合物半導体部品の第2電源電極に電気的に接続された第1電源電極と、少なくとも1つの導電パッドに電気的かつ機械的に接続された第2電源電極とを有する第2電力半導体とを備え、
    前記双方向化合物半導体部品、前記第1電力半導体素子、および前記第2電力半導体素子は、前記パッケージ内で電気的に直列に接続されている半導体パッケージ。
  2. 前記第1および第2電力半導体素子は、電力MOSFETであり、前記双方向化合物電力半導体素子は、III族窒化物ベースの双方向電力半導体素子である請求項1に記載のパッケージ。
  3. 前記第1電力半導体素子の第1電源電極を、前記化合物半導体部品の第1電源電極に電気的に接続している第1ヒートシンクと、
    前記第2電力半導体素子の第1電源電極を、前記化合物半導体部品の第2電源電極に電気的に接続している第2ヒートシンクとをさらに備える請求項1に記載のパッケージ。
  4. 前記第1ヒートシンクおよび第2ヒートシンクは、前記化合物半導体部品に熱的に結合されている請求項3に記載のパッケージ。
  5. 前記第1および第2半導体素子、ならびに前記化合物半導体部品の周りに配置されている成形ケースを、さらに備える請求項4に記載のパッケージ。
  6. 前記ヒートシンクは、前記成形ケースを通って露出している請求項5に記載のパッケージ。
  7. 前記ヒートシンクは、前記成形ケースに封入されている請求項5に記載のパッケージ。
  8. 縦続構成でワイヤー無しで接続される双方向化合物半導体部品、第1電力半導体素子、および第2電力半導体素子を含むマルチチップ回路を備える半導体パッケージ。
  9. 前記化合物半導体部品に熱的に結合され、前記電力半導体素子の少なくとも1つを、前記化合物半導体部品に電気的に接続する、少なくとも1つのヒートシンクをさらに備える請求項8に記載のパッケージ。
  10. 成形ケースをさらに備える請求項9に記載のパッケージ。
  11. 前記成形ケースは、前記ヒートシンクを包囲している請求項10に記載のパッケージ。
  12. 前記ヒートシンクは、前記成形ケースを経て露出している請求項10に記載のパッケージ。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014131027A (ja) * 2012-12-18 2014-07-10 Internatl Rectifier Corp Iii族−nおよびiv族デバイスのカスコード回路集積
KR20180135523A (ko) * 2017-06-12 2018-12-21 매그나칩 반도체 유한회사 전력 반도체의 멀티칩 패키지

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7804131B2 (en) * 2006-04-28 2010-09-28 International Rectifier Corporation Multi-chip module
DE102007007142B4 (de) * 2007-02-09 2008-11-13 Infineon Technologies Ag Nutzen, Halbleiterbauteil sowie Verfahren zu deren Herstellung
US20110134607A1 (en) * 2009-12-07 2011-06-09 Schnetker Ted R Solid state switch arrangement
US8482019B2 (en) * 2010-01-28 2013-07-09 Infineon Technologies Ag Electronic light emitting device and method for fabricating the same
US8546849B2 (en) * 2011-05-04 2013-10-01 International Rectifier Corporation High voltage cascoded III-nitride rectifier package utilizing clips on package surface
US8853707B2 (en) 2011-05-04 2014-10-07 International Rectifier Corporation High voltage cascoded III-nitride rectifier package with etched leadframe
US8853706B2 (en) 2011-05-04 2014-10-07 International Rectifier Corporation High voltage cascoded III-nitride rectifier package with stamped leadframe
US8698293B2 (en) * 2012-05-25 2014-04-15 Infineon Technologies Ag Multi-chip package and method of manufacturing thereof
US9576887B2 (en) * 2012-10-18 2017-02-21 Infineon Technologies Americas Corp. Semiconductor package including conductive carrier coupled power switches
US9171837B2 (en) 2012-12-17 2015-10-27 Nxp B.V. Cascode circuit
US9870978B2 (en) * 2013-02-28 2018-01-16 Altera Corporation Heat spreading in molded semiconductor packages
JP6211829B2 (ja) 2013-06-25 2017-10-11 株式会社東芝 半導体装置
US9443787B2 (en) 2013-08-09 2016-09-13 Infineon Technologies Austria Ag Electronic component and method
US9362240B2 (en) 2013-12-06 2016-06-07 Infineon Technologies Austria Ag Electronic device
US9653386B2 (en) * 2014-10-16 2017-05-16 Infineon Technologies Americas Corp. Compact multi-die power semiconductor package
KR20150108685A (ko) * 2014-03-18 2015-09-30 삼성전기주식회사 반도체모듈 패키지 및 그 제조 방법
JP2016099127A (ja) * 2014-11-18 2016-05-30 富士電機株式会社 パワー半導体モジュールの製造方法及びその中間組立ユニット
US10490478B2 (en) 2016-07-12 2019-11-26 Industrial Technology Research Institute Chip packaging and composite system board
CN106505058A (zh) * 2016-12-05 2017-03-15 嘉盛半导体(苏州)有限公司 半导体多芯片模块系统
US20200168533A1 (en) * 2018-11-26 2020-05-28 Texas Instruments Incorporated Multi-die package with multiple heat channels
US11948855B1 (en) 2019-09-27 2024-04-02 Rockwell Collins, Inc. Integrated circuit (IC) package with cantilever multi-chip module (MCM) heat spreader
WO2022246658A1 (en) * 2021-05-25 2022-12-01 Innoscience (Suzhou) Technology Co., Ltd. Nitride-based semiconductor bidirectional switching device and method for manufacturing the same

Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS564275A (en) * 1979-06-25 1981-01-17 Fujitsu Ltd Semiconductor device
JPS62119471A (ja) * 1985-11-20 1987-05-30 Fujitsu Ltd 双方向トランジスタのシミユレーシヨンモデル化方式
JPH06112744A (ja) * 1992-09-30 1994-04-22 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 利得制御増幅器
JPH09162399A (ja) * 1995-12-12 1997-06-20 Toshiba Corp 半導体装置
JPH09283756A (ja) * 1996-04-18 1997-10-31 Toyota Autom Loom Works Ltd アナログスイッチ
JPH10117139A (ja) * 1996-10-09 1998-05-06 Fujitsu Ltd 半導体論理回路
JP2000196387A (ja) * 1998-12-28 2000-07-14 Nec Corp マイクロ波増幅回路
JP2000307413A (ja) * 1999-04-19 2000-11-02 Sony Corp 電圧変換回路及び通信回路網
JP2002026067A (ja) * 2000-07-04 2002-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその実装方法
JP2002290104A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波スイッチ回路およびそれを用いた通信端末装置
JP2003256054A (ja) * 2001-12-27 2003-09-10 Fujitsu Hitachi Plasma Display Ltd パワーモジュール及び表示装置
JP2005039242A (ja) * 2003-06-26 2005-02-10 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH668667A5 (de) * 1985-11-15 1989-01-13 Bbc Brown Boveri & Cie Leistungshalbleitermodul.
US5077595A (en) * 1990-01-25 1991-12-31 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Semiconductor device
US5382916A (en) * 1991-10-30 1995-01-17 Harris Corporation Differential voltage follower
US5446300A (en) * 1992-11-04 1995-08-29 North American Philips Corporation Semiconductor device configuration with multiple HV-LDMOS transistors and a floating well circuit
US5532512A (en) * 1994-10-03 1996-07-02 General Electric Company Direct stacked and flip chip power semiconductor device structures
US6879816B2 (en) * 1998-11-12 2005-04-12 Broadcom Corporation Integrated switchless programmable attenuator and low noise amplifier
US6858922B2 (en) * 2001-01-19 2005-02-22 International Rectifier Corporation Back-to-back connected power semiconductor device package
US6686656B1 (en) * 2003-01-13 2004-02-03 Kingston Technology Corporation Integrated multi-chip chip scale package
JP2005011986A (ja) * 2003-06-19 2005-01-13 Sanyo Electric Co Ltd 半導体装置
US7465997B2 (en) * 2004-02-12 2008-12-16 International Rectifier Corporation III-nitride bidirectional switch

Patent Citations (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS564275A (en) * 1979-06-25 1981-01-17 Fujitsu Ltd Semiconductor device
JPS62119471A (ja) * 1985-11-20 1987-05-30 Fujitsu Ltd 双方向トランジスタのシミユレーシヨンモデル化方式
JPH06112744A (ja) * 1992-09-30 1994-04-22 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 利得制御増幅器
JPH09162399A (ja) * 1995-12-12 1997-06-20 Toshiba Corp 半導体装置
JPH09283756A (ja) * 1996-04-18 1997-10-31 Toyota Autom Loom Works Ltd アナログスイッチ
JPH10117139A (ja) * 1996-10-09 1998-05-06 Fujitsu Ltd 半導体論理回路
JP2000196387A (ja) * 1998-12-28 2000-07-14 Nec Corp マイクロ波増幅回路
JP2000307413A (ja) * 1999-04-19 2000-11-02 Sony Corp 電圧変換回路及び通信回路網
JP2002026067A (ja) * 2000-07-04 2002-01-25 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置及びその実装方法
JP2002290104A (ja) * 2001-03-27 2002-10-04 Matsushita Electric Ind Co Ltd 高周波スイッチ回路およびそれを用いた通信端末装置
JP2003256054A (ja) * 2001-12-27 2003-09-10 Fujitsu Hitachi Plasma Display Ltd パワーモジュール及び表示装置
JP2005039242A (ja) * 2003-06-26 2005-02-10 Toshiba Corp 半導体装置及びその製造方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014131027A (ja) * 2012-12-18 2014-07-10 Internatl Rectifier Corp Iii族−nおよびiv族デバイスのカスコード回路集積
KR20180135523A (ko) * 2017-06-12 2018-12-21 매그나칩 반도체 유한회사 전력 반도체의 멀티칩 패키지
KR102153159B1 (ko) 2017-06-12 2020-09-08 매그나칩 반도체 유한회사 전력 반도체의 멀티칩 패키지

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Publication number Publication date
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