JP2009002950A - 少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 - Google Patents
少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2009002950A JP2009002950A JP2008161281A JP2008161281A JP2009002950A JP 2009002950 A JP2009002950 A JP 2009002950A JP 2008161281 A JP2008161281 A JP 2008161281A JP 2008161281 A JP2008161281 A JP 2008161281A JP 2009002950 A JP2009002950 A JP 2009002950A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- model
- test
- environmental model
- control system
- environmental
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 164
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 claims abstract description 100
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 15
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims abstract description 8
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 claims description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 claims description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 1
- 125000004122 cyclic group Chemical group 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012821 model calculation Methods 0.000 description 1
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B23/00—Testing or monitoring of control systems or parts thereof
- G05B23/02—Electric testing or monitoring
- G05B23/0205—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults
- G05B23/0218—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults
- G05B23/0256—Electric testing or monitoring by means of a monitoring system capable of detecting and responding to faults characterised by the fault detection method dealing with either existing or incipient faults injecting test signals and analyzing monitored process response, e.g. injecting the test signal while interrupting the normal operation of the monitored system; superimposing the test signal onto a control signal during normal operation of the monitored system
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Automation & Control Theory (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
- Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)
- Testing Of Engines (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
【解決手段】テスト装置2は環境モデル変数の、メモリの物理アドレスに対する割り当てが読み出し可能に格納されている割り当てのためのユニット23を含んでいる。
【選択図】図3
Description
Claims (18)
- 少なくとも1つの電子的な制御システム(1)をテストするためのテスト装置(2)であって、
前記テスト装置はアドレス可能な物理的なメモリを有しており、
前記テスト装置は、データチャネルを介してテストすべき制御システム(1)に接続され、少なくとも1つの環境モデル(21)を計算しかつ少なくとも1つのテストモデル(22)を実現するのに適しておりかつそのようにセットアップされており、
前記環境モデル(21)は環境モデルデータを前記制御システム(1)に送出することによりおよび制御システム(1)から制御システムデータを受け取ることによりデータチャネルを介して相互作用できるようになっており、
前記テストモデル(21)は、前記環境モデル(21)に影響を及ぼし、前記環境モデル(21)の計算に影響を及ぼしおよび/または前記電子的な制御システム(1)に影響を及ぼすように実現可能であり、
前記環境モデル(21)はとりわけ、アドレス可能な物理的なメモリを有するメモリ場所に固定の物理的なアドレス下に格納されている環境モデル変数によって記述されており、
前記テスト装置(2)は前記環境モデル変数を変更するのに適しておりかつそのようにセットアップされている
形式の装置において、
前記テスト装置(2)は、少なくとも1つの環境モデル変数の、前記メモリの少なくとも1つの割り当てられている物理的なアドレスに対する割り当てが読み出し可能に格納されている割り当てのためのユニット(23)を含んでいる
ことを特徴とするテスト装置。 - 前記テストモデル(22)は、1つまたは複数の環境モデル変数の、前記メモリの割り当てられている物理的なアドレスに対する割り当てを前記割り当てのためのユニット(23)から読み出すのに適しておりかつそのようにセットアップされている
請求項1記載のテスト装置。 - 前記テストモデル(22)は、前記物理的なアドレス下に記憶されている、前記環境モデル変数の値を変更するために、前記環境モデル(21)に影響を及ぼし、前記環境モデル(21)の計算に影響を及ぼしおよび/または前記電子的な制御システム(1)に影響を及ぼすために適しておりかつそのようにセットアップされている
請求項1または2記載のテスト装置。 - 前記テストモデル(21)は1つの環境モデルの変数または複数の環境モデル変数の値を変更するために少なくとも1つの機能を含んでいる
請求項3記載のテスト装置。 - 前記機能により、複数の環境モデル変数の値が同時に、すなわち環境モデルの1クロックの期間に変更可能である
請求項4記載のテスト装置。 - 前記機能はループを含んでおり、該ループ内で前記環境モデル変数に割り当てられている少なくとも1つのメモリ場所がアドレス指定される
請求項4または5記載のテスト装置。 - アドレス指定されるメモリ場所の内容が変更されるまたはオーバライトされる
請求項6記載のテスト装置。 - 前記環境モデル(22)は複数の機能を含んでおり、
該機能に環境モデル変数が割り当てられておりかつ
前記割り当てのためのユニット(23)において前記環境モデル変数は前記環境モデル(22)の前記機能に対するその割り当てに相応して区分されて配置されている
請求項1から7までのいずれか1項記載のテスト装置。 - 前記環境モデル(22)の機能はハイアラーキに区分されておりかつ
前記割り当てのためのユニット(23)において前記環境モデル変数が前記区分に相応して配置されている
請求項8記載のテスト装置。 - 前記環境モデル変数はシグネイタを有しておりかつ
該シグネイタから、環境モデル変数が割り当てられている機能が明らかである
請求項8または9記載のテスト装置。 - 前記シグネイタから、環境モデル変数が割り当てられている機能の位置が機能のハイアラーキにおいて明らかである
請求項10記載のテスト装置。 - テスト装置(2)と、環境モデル(21)、テストモデル(22)、環境モデル変数および/またはテストモデルデータの作成、変更および/または検出に適しておりかつそのようにセットアップされているコンフィギュレーション装置(3)とを含んでいる装置において、
前記テスト装置(2)は請求項1から11までのいずれか1項記載に従って構成されている
ことを特徴とする装置。 - 前記装置はデータチャネルを有しており、該データチャネルを介して前記テスト装置(2)および前記コンフィギュレーション装置(3)が相互に接続されている
請求項12記載の装置。 - 前記コンフィギュレーション装置(13)は、1つまたは複数の環境モデル変数の、前記メモリの割り当てられている物理的なアドレスに対する割り当てを前記割り当てのためのユニット(23)に格納するのに適しておりかつそのようにセットアップされている
請求項12または13記載の装置。 - 前記コンフィギュレーション装置(3)は、前記物理的なアドレス下に記憶されている、前記環境モデル変数の値を変更するために、前記環境モデル(21)に影響を及ぼし、前記環境モデル(21)の計算に影響を及ぼしおよび/または前記電子的な制御システム(1)に影響を及ぼすために適しておりかつそのようにセットアップされている
請求項14記載の装置。 - 前記コンフィギュレーション装置(3)は割り当てのためのユニットを含んでおり、該割り当てのためのユニットにおいて、前記環境モデル変数のすべてまたは一部、例えばシグネイタの、前記メモリの前記割り当てられている物理的なアドレスに対する割り当てが読み出し可能に格納されている
請求項12から15までのいずれか1項記載の装置。 - テスト装置はアドレス可能な物理的なメモリを有しており、
前記テスト装置は、データチャネルを介してテストすべき制御システム(1)に接続され、少なくとも1つの環境モデル(21)を計算しかつ少なくとも1つのテストモデル(22)を実現するのに適しておりかつそのようにセットアップされており、
前記環境モデル(21)は環境モデルデータを前記制御システム(1)に送出することによりおよび制御システム(1)から制御システムデータを受け取ることによりデータチャネルを介して相互作用できるようになっており、
前記テストモデル(21)は、前記環境モデル(21)に影響を及ぼし、前記環境モデル(21)の計算に影響を及ぼしおよび/または前記電子的な制御システム(1)に影響を及ぼすように実現可能であり、
前記環境モデル(21)はとりわけ、アドレス可能な物理的なメモリを有するメモリ場所に固定の物理的なアドレス下に格納されている環境モデル変数によって記述されており、
前記テスト装置(2)は前記環境モデル変数を変更するのに適しておりかつそのようにセットアップされている
という形式の、少なくとも1つの電子的な制御システム(1)をテストするためのテスト装置(2)を作動させるための方法において、
前記コンフィギュレーション装置(3)は前記割り当てのためのユニット(23)に、少なくとも1つの環境モデル変数およびその割り当てられている物理的なメモリアドレスを伝達する
ことを特徴とする方法。 - 前記テストモデル(22)は、1つまたは複数の環境モデル変数の、前記メモリの割り当てられている物理的なアドレスに対する割り当てを前記割り当てのためのユニット(23)から読み出す
請求項17記載の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102007029285A DE102007029285A1 (de) | 2007-06-22 | 2007-06-22 | Testvorrichtung zum Testen wenigstens eines elektronischen Steuerungssystems sowie Verfahren zum Betreiben einer Testvorrichtung |
DE102007029285.8 | 2007-06-22 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009002950A true JP2009002950A (ja) | 2009-01-08 |
JP5495515B2 JP5495515B2 (ja) | 2014-05-21 |
Family
ID=39761010
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008161281A Active JP5495515B2 (ja) | 2007-06-22 | 2008-06-20 | 少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8290755B2 (ja) |
EP (1) | EP2009525B1 (ja) |
JP (1) | JP5495515B2 (ja) |
CN (1) | CN101441473B (ja) |
AT (1) | ATE532117T1 (ja) |
DE (1) | DE102007029285A1 (ja) |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP2309354B1 (de) * | 2009-10-01 | 2013-03-20 | Siemens Aktiengesellschaft | Vorrichtung und Verfahren zur Simulation |
DE102010007244A1 (de) | 2010-02-09 | 2011-08-11 | TraceTronic GmbH, 01189 | Verfahren zur Überprüfung eingebetteter Systeme |
CN102816686B (zh) * | 2012-08-29 | 2014-08-20 | 李永利 | 一种pcr扩增仪及pcr扩增仪的使用方法 |
EP2770434B1 (de) | 2013-02-21 | 2016-09-14 | dSPACE digital signal processing and control engineering GmbH | Verfahren zur Durchführung einer Inventarisierung der an ein Steuergeräte-Testsystem angeschlossenen Hardware-Komponenten |
EP2770389B1 (de) | 2013-02-21 | 2019-05-08 | dSPACE digital signal processing and control engineering GmbH | Verfahren zur Durchführung einer Konfiguration eines Steuergeräte-Testsystems |
DE102013018848A1 (de) | 2013-11-09 | 2015-05-13 | Daimler Ag | Verfahren und Vorrichtung zur automatisierten Prüfung der Softwareimplementierung eines Steuerungssystems |
CN104199434B (zh) * | 2014-08-07 | 2017-05-10 | 奇瑞汽车股份有限公司 | 车内电子控制系统的功能检测装置和方法 |
EP3193221A1 (de) * | 2016-01-15 | 2017-07-19 | dSPACE digital signal processing and control engineering GmbH | Signalpfadüberprüfungsvorrichtung |
DE102016102920A1 (de) * | 2016-02-19 | 2017-08-24 | Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh | Verfahren zur Konfiguration eines zum Testen eines elektronischen Steuergeräts eingerichteten Testgeräts |
US10681570B2 (en) | 2016-08-12 | 2020-06-09 | W2Bi, Inc. | Automated configurable portable test systems and methods |
US10158552B2 (en) * | 2016-08-12 | 2018-12-18 | W2Bi, Inc. | Device profile-driven automation for cell-based test systems |
US10701571B2 (en) | 2016-08-12 | 2020-06-30 | W2Bi, Inc. | Automated validation and calibration portable test systems and methods |
US10459435B2 (en) * | 2016-10-17 | 2019-10-29 | Yokogawa Electric Corporation | Test manager for industrial automation controllers |
CN109358610B (zh) * | 2018-12-10 | 2021-02-05 | 上海星融汽车科技有限公司 | 车辆诊断设备的检测方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05288115A (ja) * | 1992-04-03 | 1993-11-02 | Nissan Motor Co Ltd | 疑似信号発生装置 |
JPH10240333A (ja) * | 1997-02-25 | 1998-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | プラントシミュレータ |
JPH1114507A (ja) * | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Denso Corp | 車両シミュレーション装置 |
JP2008070368A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-27 | Dspace Digital Signal Processing & Control Engineering Gmbh | 電子制御システムをテストする方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6219628B1 (en) * | 1997-08-18 | 2001-04-17 | National Instruments Corporation | System and method for configuring an instrument to perform measurement functions utilizing conversion of graphical programs into hardware implementations |
US6766514B1 (en) * | 1999-10-19 | 2004-07-20 | General Electric Co. | Compiler having real-time tuning, I/O scaling and process test capability |
DE102004027033B4 (de) | 2004-03-15 | 2009-07-02 | Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh | Beeinflussungsgerät für Steuergeräte und Verfahren zur Beeinflussung eines Steuergeräts |
DE102006061796A1 (de) * | 2006-12-21 | 2008-06-26 | Dspace Digital Signal Processing And Control Engineering Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur dynamischen Behandlung von Objekten |
-
2007
- 2007-06-22 DE DE102007029285A patent/DE102007029285A1/de not_active Withdrawn
-
2008
- 2008-06-19 US US12/142,208 patent/US8290755B2/en active Active
- 2008-06-20 JP JP2008161281A patent/JP5495515B2/ja active Active
- 2008-06-20 EP EP08104497A patent/EP2009525B1/de active Active
- 2008-06-20 AT AT08104497T patent/ATE532117T1/de active
- 2008-06-20 CN CN2008101756699A patent/CN101441473B/zh not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05288115A (ja) * | 1992-04-03 | 1993-11-02 | Nissan Motor Co Ltd | 疑似信号発生装置 |
JPH10240333A (ja) * | 1997-02-25 | 1998-09-11 | Mitsubishi Electric Corp | プラントシミュレータ |
JPH1114507A (ja) * | 1997-06-19 | 1999-01-22 | Denso Corp | 車両シミュレーション装置 |
JP2008070368A (ja) * | 2006-09-11 | 2008-03-27 | Dspace Digital Signal Processing & Control Engineering Gmbh | 電子制御システムをテストする方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN101441473B (zh) | 2012-07-04 |
CN101441473A (zh) | 2009-05-27 |
ATE532117T1 (de) | 2011-11-15 |
US8290755B2 (en) | 2012-10-16 |
US20080319728A1 (en) | 2008-12-25 |
EP2009525A1 (de) | 2008-12-31 |
EP2009525B1 (de) | 2011-11-02 |
DE102007029285A1 (de) | 2008-12-24 |
JP5495515B2 (ja) | 2014-05-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5495515B2 (ja) | 少なくとも1つの電子的な制御システムをテストするためのテスト装置並びにテスト装置を作動するための方法 | |
US6286132B1 (en) | Debugging support apparatus, a parallel execution information generation device, a computer-readable recording medium storing a debugging support program, and a computer-readable recording medium storing a parallel execution information generation program | |
US20060277010A1 (en) | Parameterization of a simulation working model | |
CN100514296C (zh) | 自动化仿真方法及系统 | |
US7647583B2 (en) | Method and apparatus for emulating a hardware/software system using a computer | |
CN112270149A (zh) | 验证平台自动化集成方法、系统及电子设备和存储介质 | |
US20200133705A1 (en) | Generalized virtualization platform for systems using hardware abstraction software layers | |
JP6877215B2 (ja) | コンピュータ上のシミュレーション環境において制御装置の制御プログラムをテストする方法 | |
US20070214451A1 (en) | Method and Device for the Stimulation of Functions for Controlling Operating Sequence | |
US10055363B2 (en) | Method for configuring an interface unit of a computer system | |
US20150101475A1 (en) | Method of Instrument Simulation | |
CN107145381A (zh) | 面向实践教学的mips‑cpu测试工具 | |
JP6812637B2 (ja) | プログラマブルコントローラシステム、その開発支援装置、ターゲット装置 | |
US20160085519A1 (en) | Determination of signals for readback from fpga | |
CN111258838B (zh) | 验证组件生成方法、装置、存储介质及验证平台 | |
US10339229B1 (en) | Simulation observability and control of all hardware and software components of a virtual platform model of an electronics system | |
US7546589B2 (en) | Semi-automated desk checking system and method | |
Kurtz et al. | Software based test automation approach using integrated signal simulation | |
JP2019113952A (ja) | 情報処理装置及びプログラム | |
Caba et al. | Rapid prototyping and verification of hardware modules generated using hls | |
JPH07219980A (ja) | テスト実行方式 | |
JPH01307837A (ja) | Mpuシミュレーション方法及びmpuシミュレータ | |
JP6620653B2 (ja) | プラント監視制御システム用エミュレータ | |
WO2018203390A1 (ja) | 試験装置、試験システム、試験方法、および、プログラム | |
JPH05250221A (ja) | シミュレータ実行方式 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20101227 |
|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20101228 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110317 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121207 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20130304 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20130307 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130527 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20130722 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20131113 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20131120 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140203 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140304 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5495515 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |