JP2008042828A - 固体撮像素子及びその駆動方法。 - Google Patents
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims abstract description 84
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 20
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 66
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 10
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 10
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 3
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 3
- 238000013329 compounding Methods 0.000 abstract 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 15
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 8
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 5
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 238000002485 combustion reaction Methods 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 239000002699 waste material Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000011496 digital image analysis Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/50—Control of the SSIS exposure
- H04N25/57—Control of the dynamic range
- H04N25/58—Control of the dynamic range involving two or more exposures
- H04N25/587—Control of the dynamic range involving two or more exposures acquired sequentially, e.g. using the combination of odd and even image fields
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/60—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise
- H04N25/616—Noise processing, e.g. detecting, correcting, reducing or removing noise involving a correlated sampling function, e.g. correlated double sampling [CDS] or triple sampling
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- H—ELECTRICITY
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- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
- H04N25/77—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components
- H04N25/771—Pixel circuitry, e.g. memories, A/D converters, pixel amplifiers, shared circuits or shared components comprising storage means other than floating diffusion
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N25/00—Circuitry of solid-state image sensors [SSIS]; Control thereof
- H04N25/70—SSIS architectures; Circuits associated therewith
- H04N25/76—Addressed sensors, e.g. MOS or CMOS sensors
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Abstract
【解決手段】 光電変換素子からの情報を記憶素子に順次記憶し、それらの記憶素子に記憶された複数の情報を合成して新たな情報を作り記憶することで記憶素子数を上回る回数の情報を記憶することができる。また、出力時に複数の記憶素子の情報を合成することで一度の読み出し動作で多くの情報を読み出すことができ、短時間での読み出しができる。また多重露光撮影を素子の制御のみで行うことができる。
【選択図】図1
Description
また、デジタル画像処理システムの発展に伴いCCD(Charge Coupled Device)、MOSイメージセンサと言った固体撮像素子を用いたデジタル高速度カメラが主流となってきている。これらのシステムでは以前のフィルムカメラのように撮影後にフィルムを現像処理する必要がなく、撮影直後に画像を確認することができる。またパソコンなどを用いたデジタル画像解析装置への取り込みも容易である(例えば、特許文献1参照)。
また高速で移動する物体の離散的な時間における軌跡を一枚の画像の中に写しこむ多重露光撮影の場合、従来のフィルムカメラの場合では高速で連続的にパルス発光できるストロボなど外部の機器が必要であった。CCD等の電子シャッタを用いることで離散的な画像は得ることが出来るが高速撮影は困難である。固体撮像装置を用いる場合でも高速のメカニカルシャッタや高速マルチ発光ストロボ等の外部機器が必要であり、カメラ単体で高速多重露光撮影を行なうことは出来なかった。
また、本発明の請求項6記載の固体撮像素子は前記光電変換素子と前記複数の記憶素子とをつなぐ共通信号線の一部あるいは全部を初期化するための初期化手段を備える。これにより、複数の記憶素子に記憶された情報を合成または読み出す際に、共通信号線に残った情報が加算されることなく画質劣化を低減することが可能となる。
また、本発明に請求項8記載の固体撮像素子は前期光電変換素子からの情報を前期記憶素子に記憶する際にノイズキャンセル回路を用いて画素固定ノイズを除去する手段を備える。これにより、光電変換素子からの情報から画素の特性ばらつきによる固定パターンノイズを削除することができ画質劣化を低減することが可能となる。
また、本発明に請求項11記載の固体撮像素子は前記時刻t(1)からt(n)およびt(n+1)において前期光電変換素子の蓄積時間が同一である。これにより、一定の露光時間を保ったまま、情報の合成が可能となり、記憶素子の個数を超えた情報の記憶を一定の露光時間で行うことが可能となる。
また、本発明に請求項14記載の固体撮像素子は前記時刻t(n)とt(m)においてm=2nの関係が成り立つ。これにより、一定の撮像間隔を保ったまま、情報の合成が可能となり、記憶素子の個数を超えた情報の記憶を一定間隔で行うことが可能となる。
前記合成した情報を記憶した記憶素子以外の記憶素子を用いて、同様にしてb個の情報を合成した情報をc個の記憶素子に記憶し前記c個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をc個の記憶素子の内の一つに記憶する手段を持つ。これにより、記憶素子の個数以上の情報を一度に蓄えることが可能となる。
前記合成した情報を記憶した記憶素子以外の記憶素子を用いて、同様にしてb個の情報を合成した情報をc個の記憶素子に記憶し前記c個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をc個の記憶素子とは異なる記憶素子に記憶する手段を持つ。これにより、記憶素子の個数以上の情報を一度に蓄えることが可能となる。
また、本発明に請求項20記載の固体撮像素子は前記複数の光電変換素子に記憶された情報のうち少なくとも2個以上の情報を合成し一度の読み出し動作で必要な情報の読み出しを行なう。これにより、記憶された複数の情報を一度に読み出すことができ、短時間での読み出しを行うことが可能となる。
(実施の形態1)
図1に光電変換素子がマトリクス状に配置された個体撮像素子を示す。図1において10は光電変換素子を含む画素である。図2に本発明による固体撮像素子の第一の例を示す。図2において11は光信号を電気信号に変換する光電変換素子であり、12は光電変換素子からの情報を記憶する複数の記憶素子である。
図3にこの固体撮像素子の回路例を示す。図3において、21は光電変換素子、22は光電変換素子21からの情報を転送する転送MOSトランジスタ、23は画素の雑音信号を出力するためのリセットMOSトランジスタである。
リセットMOSトランジスタ23のソースは転送MOSトランジスタ22のドレインに接続され、リセットMOSトランジスタ23のドレインは所望の電圧VRSTに設定されている。
MOSトランジスタ24、MOSトランジスタ25でソースフォロワを形成しており、MOSトランジスタ24のドレインは電源VDDに接続され、ソースはMOSトランジスタの25のドレインに接続される。MOSトランジスタ25のゲートにはバイアス電圧LG1を供給する。
初期化MOSトランジスタ30のドレインは所望の電圧VSFに接続され、初期化MOSトランジスタ30のゲートは信号線MRSTに接続されている。
共通信号線27はMOSトランジスタ31のゲートに接続されており、MOSトランジスタ31とMOSトランジスタ32でソースフォロワを形成している。MOSトランジスタ31のドレインは電源VDDに接続され、ソースはMOSトランジスタの32のドレインに接続される。
出力選択用MOSトランジスタ33のゲートは信号線OEに接続され、出力選択用MOSトランジスタ33のドレインは垂直信号線に接続されている。
本発明における固体撮像素子では光電変換素子21からの信号を一度記憶素子群28−1から28−nに記憶し、それらの記憶素子に記憶した情報を合成した後、読み出す。
時刻t1において信号線RWおよび信号線TRANの信号にHIGHのパルスを与えると共に第一の記憶素子29−1の選択信号線WL1をHIGHにすることで記憶素子選択MOSトランジスタ28−1をオンにして光電変化素子21からの情報を第一の記憶素子29−1に転送する。
時刻t3においては第二の記憶素子29−3の選択信号線WL3をHIGHにすることで記憶素子選択MOSトランジスタ28−3をオンにして光電変化素子21からの情報を第二の記憶素子29−3に転送する。
続いて時刻t3bにおいて第一および第二および第三の記憶素子29−1、29−2、29−3の選択MOSトランジスタ28−1、28−2、28−3を同時にオンすることで第一および第二および第三の記憶素子29−1、29−2、29−3が並列接続され、これらに蓄積されていた電荷が平均化される。
同様に残りの記憶素子にも時刻t4から時刻t6の情報を記憶した後それらを合成する。
記憶が完了した後、時刻t7で信号線RSTおよび信号線RWおよび信号線OEにHIGHのパルスを与え、画素のノイズ信号を出力し、時刻t8で信号線MRSTにHIGHのパルスを与え、信号線OEをHIGHにして時刻t9で第一の記憶素子29−1の選択MOSトランジスタ28−1をオンすることで第一の記憶素子29−1に記憶された合成情報が出力される。
このとき共通信号線27の浮遊容量もあわせられることになるため、共通信号線27を合成の前に一定の電圧VSFで初期化することで雑音の低減ができる。
図5のTRANは図3の転送MOSトランジスタ22のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。図5のRSTは図3のリセットMOSトランジスタ23のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。図5のRWは図3のMOSトランジスタ24のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。図5のMRSTは図3の初期化用MOSトランジスタ30のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。
時刻t1において信号線RWおよび信号線TRANの信号にHIGHのパルスを与えると共に第一の記憶素子29−1の選択信号線WL1をHIGHにすることで記憶素子選択MOSトランジスタ28−1をオンにして光電変化素子21からの情報を第一の記憶素子29−1に転送する。
時刻t3においては第二の記憶素子29−3の選択信号線WL3をHIGHにすることで記憶素子選択MOSトランジスタ28−3をオンにして光電変化素子21からの情報を第二の記憶素子29−3に転送する。次に時刻t3aにおいて信号線MRSTにHIGHのパルスを与えることで光電変換素子21と記憶素子29を結ぶ共通信号線27を所望の電圧VSFで初期化する。続いて時刻t3bにおいて第一および第二および第三の記憶素子29−1、29−2、29−3の選択MOSトランジスタ28−1、28−2、28−3を同時にオンすることで第一および第二および第三の記憶素子29−1、29−2、29−3が並列接続され、これらに蓄積されていた電荷が平均化される。
続いて時刻t4において信号線RWおよび信号線TRANの信号にHIGHのパルスを与えると共に第二の記憶素子29−2の選択信号線WL2をHIGHにすることで記憶素子選択MOSトランジスタ28−2をオンにして光電変化素子21からの情報を第二の記憶素子29−2に転送する。
時刻t6においては第四の記憶素子29−4の選択信号線WL4をHIGHにすることで記憶素子選択MOSトランジスタ28−4をオンにして光電変化素子21からの情報を第四の記憶素子29−4に転送する。
続いて時刻t6bにおいて第二および第三および第四の記憶素子29−2、29−3、29−4の選択MOSトランジスタ28−2、28−3、28−4を同時にオンすることで第二および第三および第四の記憶素子29−2、29−3、29−4が並列接続され、これらに蓄積されていた電荷が平均化される。このとき信号線RWはLOWのままである。これにより第二から第四の記憶素子29−2、29−3、29−4には合成された信号が記憶される。
第一および第二および第三の記憶素子29−1、29−2、29−3に記憶された情報を合成した情報を第四の記憶素子29−4に記憶してもよい。ただしこの場合3つの記憶素子に記憶された情報を4つの記憶素子で合成するため情報の劣化が生じる。
また複数の記憶素子に記憶された情報の合成を光電変換素子21からの情報を記憶素子へ記憶する間隔の間に完了することで、一定間隔で光電変換素子からの情報を記憶素子へ記憶し続けることができる。
また複数の記憶素子に記憶された情報の合成は合成する情報が記憶された直後でなく、別の記憶素子に光電変換素子からの情報が記憶された後でもよい。
図6に複数の記憶素子に記憶された情報の合成を光電変換素子からの情報を記憶素子へ記憶する動作とは別に動作できる回路を設けることで、光電変換素子からの情報を記憶素子へ記憶する動作と複数の記憶素子に記憶された情報の合成を行う回路の例を示す。
転送MOSトランジスタ22のゲートは信号線TRANに接続され、リセットMOSトランジスタ23のゲートは信号線RSTに接続されている。
光電変換素子21の出力が転送MOSトランジスタ22のドレインに接続され転送MOSトランジスタ22のソースはMOSトランジスタ24のゲートに接続されている。
MOSトランジスタ25のゲートにはバイアス電圧LG1を供給する。
MOSトランジスタ24のソースとMOSトランジスタ25のドレインの接続点が出力ノードであり、MOSトランジスタ26のドレインに接続されている。MOSトランジスタ26のゲートは信号線RWに接続され、MOSトランジスタ26のソースは共通信号線27に接続され、共通信号線27には記憶素子選択MOSトランジスタ28−1、28−2、28−nのドレインが接続されている。
共通信号線27はMOSトランジスタ31のゲートに接続されており、MOSトランジスタ31とMOSトランジスタ32でソースフォロワを形成している。
図7にこの回路における駆動パルスの例を示す。
図7のTRANは図6の転送MOSトランジスタ22のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。図7のRSTは図6のリセットMOSトランジスタ23のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。図7のRWは図6のMOSトランジスタ24のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。図7のMRSTは図6の初期化用MOSトランジスタ30のゲートに接続された信号線の駆動波形を示す。
時刻t1において信号線RWおよび信号線TRANにHIGHのパルスを与えると共に第一の記憶素子29−1の選択MOSトランジスタ28−1をオンにすることで光電変化素子21からの情報を第一の記憶素子29−1に転送する。
時刻t3において光電変化素子21からの情報を第三の記憶素子29−3に転送する。
次に時刻t3aにおいて信号線MRSTにHIGHのパルスを与えることで光電変換素子21と記憶素子を結ぶ共通信号線27を初期化する。
同様に第四から第六の記憶素子への記憶が完了しそれらの情報の合成が完了した後、時刻t7で信号線RSTおよび信号線RWおよび信号線OEにHIGHのパルスを与え、画素のノイズ信号を出力し、時刻t8で信号線MRSTにHIGHのパルスを与え、信号線OEをHIGHにして時刻t9で第一の記憶素子29−1の選択MOSトランジスタ28−1をオンすることで第一の記憶素子29−1に記憶された合成情報が出力される。
先に時刻t7で出力した画素のノイズ信号と時刻t9および時刻t11で出力した信号と差分を取ることで、画素固有のノイズを取り除くことができる。
図8に記憶素子に記憶された情報を合成するときの記憶素子に記憶される情報の変化を示す。図8において時刻t1における光電変換素子からの情報をV1と示す。
図8に示した例は8個の記憶素子を用いて4つの記憶素子に記憶された情報の合成する場合である。図8の(a)は第一から第四の記憶素子にそれぞれ時刻t1からt4の情報が記憶された状態を示している。これらの4つの情報を合成することで(b)のように第一から第四の記憶素子には合成された情報が記録される。
同様に4つずつの情報の合成を3回繰り返した後、第五から第八の記憶素子にそれぞれ時刻t17からt20の情報を記憶することで(d)の状態となる。
最後に第五から第八の記憶素子に記憶された情報を合成することで(e)の状態となる。この後第一から第五の記憶素子の情報を読み出すことで時刻t1からt20における情報を読み出すことができる。
K×{m−(K−1)}
個の時刻における情報を記憶することができる。
(実施の形態2)
複数の記憶素子に記憶された情報の合成を行った後、さらにそれらの合成された情報どうしを合成することで、より多くの時刻における情報を記憶することが可能となる。
m個の記憶素子を用いてK個の情報の合成をn回繰り返した場合
n×K×{m−n×(K−1)}
個の時刻における情報を記憶することができる。
n≧m÷K+1
である。
複数の記憶素子に記憶された情報の合成を繰り返し行う際に合成された情報を別の記憶素子に記憶してもよい。
(実施の形態3)
図10に画素内に光電変換素子からの情報を増幅する増幅回路を備えた場合の構成図を示す。
図12に画素の特性ばらつきによる固定パターンノイズを除去するためのノイズキャンセル回路を備えた例を示す。(a)のように記憶素子と読み出し回路の間に配置してもよいし、(b)のように光電変換素子と記憶素子群との間に配置してもよい。
(実施の形態4)
各時刻における光電変化素子からの情報を複数の記憶素子に記憶した後、それらの記憶素子の情報を同時に読み出すことで、読み出す際に情報の合成を行うことで、読み出し時間を短縮することができる。
この発明により複数の記憶素子に記憶された情報を一度の読み出し動作で読み出すことができ、読み出しにかかる時間を短縮することが出来る。記憶素子の個数分の画像または情報の合成を行なって記憶素子の個数を超える画像を記憶した後、一度の読み出し動作で全ての画像を読み出し、新たな画像を記憶する動作を繰り返すことで多くの画像を記録することが可能となる。
なお、本発明を上記の実施の形態に基づいて説明してきたが、本発明は上記の実施の形態に限定されないのはもちろんである。
以下のような場合も本発明に含まれる。
(1)撮像素子としてMOSトランジスタによる画像選択を行なう方式について説明してきたがCCD方式による撮像素子であってもよい。
(2)回路例を図4,5に示したがこの回路に限るものではない。
11 光電変換素子
12 記憶素子
13 増幅回路
14 読み出し回路
15 記憶素子初期化回路
16 ノイズキャンセル回路
21 光電変換素子
22 転送スイッチ
23 リセット回路
24 ソースフォロワを構成するトランジスタ
25 ソースフォロワを構成するトランジスタ
26 記憶素子書き込みスイッチ
27 共通信号線
28 共通信号線および記憶素子初期化回路
29 記憶素子選択スイッチ
30 記憶素子
31 ソースフォロワを構成するトランジスタ
32 ソースフォロワを構成するトランジスタ
33 読み出し行選択スイッチ
34 情報合成スイッチ
Claims (21)
- 複数の画素がマトリクス状に配置されてなる固体撮像素子であって、
各画素は
入射した光を光電変換して信号電荷を出力する光電変換素子と
前記光電変換素子から出力された信号電荷を記憶する複数の記憶素子と
前記複数個の記憶素子に記憶された情報のうち少なくとも2個以上の情報を合成し、
前記複数個の記憶素子のいずれかに記憶する手段を備える
ことを特徴とする固体撮像素子。 - 前記記憶素子のうち少なくとも2つ以上から成る第一の記憶素子群に記憶された情報を合成し、
合成された情報を前記記憶素子のうち第一の記憶素子群に含まれない記憶素子に記憶する手段を備える
ことを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。 - 前記記憶素子のうち少なくとも2つ以上から成る第一の記憶素子群に記憶された情報を合成し、
合成された情報を前記記憶素子のうち第一の記憶素子群に含まれる記憶素子に記憶する手段を備える
ことを特徴とする請求項1記載の固体撮像素子。 - 前記固体撮像素子が
前記記憶素子のうち少なくとも2つ以上から成る第一の記憶素子群に記憶された情報の合成と
前記記憶素子のうち前記第一の記憶素子群以外の記憶素子への前記画素からの出力信号の書き込みを
同時に行う手段を有する
ことを特徴とする請求項1から請求項3記載の固体撮像素子。 - 前記各画素に信号増幅回路を有し、
前記光電変換素子から出力された出力電荷を前記回路で増幅し前記記憶素子で記憶する
ことを特徴とする請求項1から請求項4記載の固体撮像素子。 - 前記固体撮像素子が
前記光電変換素子と前記複数の記憶素子とをつなぐ共通信号線の一部あるいは全部を
初期化するための初期化手段を備える
ことを特徴とする請求項1から請求項5記載の固体撮像素子。 - 前記固体撮像素子が
各画素にノイズキャンセル回路を有し
画素固定ノイズを除去する手段を備える
ことを特徴とする請求項1から請求項5記載の固体撮像素子。 - 前記固体撮像素子が
前期光電変換素子からの情報を前期記憶素子に記憶する際にノイズキャンセル回路を用いて
画素固定ノイズを除去する手段を備える
ことを特徴とする請求項1から請求項5記載の固体撮像素子。 - 前記固体撮像素子においてt(1)からt(n)の異なる時刻において前記記憶手段に前記光電変換素子からの信号を順次記憶した後、
前記記憶素子のうち少なくとも2つ以上から成る第一の記憶素子群に記憶された情報を合成し前記記憶素子に記憶した後、
t(n+1)の時刻における前記記憶手段に前記光電変換素子からの信号を
前記合成信号を記録した記憶素子以外の前記記憶素子に記憶する
ことを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。 - 前記時刻t(1)からt(n)およびt(n+1)の時刻が
一定間隔である
ことを特徴とする請求項9記載の固体撮像素子の駆動方法。 - 前記時刻t(1)からt(n)およびt(n+1)において
前期光電変換素子の蓄積時間が同一である
ことを特徴とする請求項9記載の固体撮像素子の駆動方法。 - 前記固体撮像素子において
t(1)からt(n)の異なる時刻において前記記憶手段に前記光電変換素子からの信号を順次記憶した後、
前記記憶素子のうち少なくとも2つ以上から成る第一の記憶素子群に記憶された情報を合成し前記記憶素子に記憶する処理が
t(n+1)からt(n+m)の時刻において前記記憶手段に前記光電変換素子からの信号を前記合成信号を記録した記憶素子以外の前記記憶素子に記憶する間に完了する
ことを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。 - 前記時刻t(1)からt(n)およびt(n+m)の時刻が
一定間隔である
ことを特徴とする請求項12記載の固体撮像素子の駆動方法。 - 前記時刻t(n)とt(m)においてm=2nの関係が成り立つ
ことを特徴とする請求項12記載の固体撮像素子の駆動方法。 - a個の記憶素子を持つ前記固体撮像素子において
b個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をb個の記憶素子の内の一つに記憶し
前記合成した情報を記憶した記憶素子以外の記憶素子を用いて、
同様にしてb個の情報を合成した情報をc個の記憶素子に記憶し
前記c個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をc個の記憶素子の内の一つに記憶する手段を持つ
ことを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。 - a個の記憶素子を持つ前記固体撮像素子において
b個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をb個の記憶素子の内の一つに記憶し
前記合成した情報を記憶した記憶素子以外の記憶素子を用いて、
同様にしてb個の情報を合成した情報をc個の記憶素子に記憶し
前記c個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をc個の記憶素子とは異なる記憶素子に記憶する手段を持つ
ことを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。 - a個の記憶素子を持つ前記固体撮像素子において
b個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をb個の記憶素子とは異なる記憶素子に記憶し
前記合成した情報を記憶した記憶素子以外の記憶素子を用いて、
同様にしてb個の情報を合成した情報をc個の記憶素子に記憶し
前記c個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をc個の記憶素子の内の一つに記憶する手段を持つ
ことを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。 - a個の記憶素子を持つ前記固体撮像素子において
b個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をb個の記憶素子とは異なる記憶素子に記憶し
前記合成した情報を記憶した記憶素子以外の記憶素子を用いて、
同様にしてb個の情報を合成した情報をc個の記憶素子に記憶し
前記c個の記憶素子に記憶された情報を合成した情報をc個の記憶素子とは異なる記憶素子に記憶する手段を持つ
ことを特徴とする固体撮像素子の駆動方法。 - 前記駆動方法においてb=cの関係がなりたつ
ことを特徴とする請求項15から請求項18に記載の固体撮像素子の駆動方法。 - 前記固体撮像素子において
前記複数の光電変換素子に記憶された情報のうち少なくとも2個以上の情報を合成し
一度の読み出し動作で必要な情報の読み出しを行なう
ことを特徴とする請求項9から請求項19記載の固体撮像素子の駆動方法。 - 複数の画素がマトリクス状に配置されてなる固体撮像素子であって、
各画素は
入射した光を光電変換して信号電荷を出力する光電変換素子と
前記光電変換素子から出力された信号電荷を記憶する複数の記憶素子と
前記複数個の記憶素子に記憶された情報のうち少なくとも2個以上の情報を合成し
出力する機能を備える
ことを特徴とする固体撮像素子。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006218256A JP2008042828A (ja) | 2006-08-10 | 2006-08-10 | 固体撮像素子及びその駆動方法。 |
US11/889,202 US7940318B2 (en) | 2006-08-10 | 2007-08-09 | Solid-state imaging device and driving method for a solid-state imaging device for high-speed photography and enabling multiple exposure photography |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006218256A JP2008042828A (ja) | 2006-08-10 | 2006-08-10 | 固体撮像素子及びその駆動方法。 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008042828A true JP2008042828A (ja) | 2008-02-21 |
Family
ID=39050332
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006218256A Pending JP2008042828A (ja) | 2006-08-10 | 2006-08-10 | 固体撮像素子及びその駆動方法。 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7940318B2 (ja) |
JP (1) | JP2008042828A (ja) |
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US20080036889A1 (en) | 2008-02-14 |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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