JP2003142564A - 支持装置 - Google Patents
支持装置Info
- Publication number
- JP2003142564A JP2003142564A JP2001342961A JP2001342961A JP2003142564A JP 2003142564 A JP2003142564 A JP 2003142564A JP 2001342961 A JP2001342961 A JP 2001342961A JP 2001342961 A JP2001342961 A JP 2001342961A JP 2003142564 A JP2003142564 A JP 2003142564A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- susceptor
- support member
- flat plate
- void
- joined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims abstract description 43
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims abstract description 19
- 239000011800 void material Substances 0.000 claims description 37
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 29
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 15
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 12
- 238000005266 casting Methods 0.000 claims description 5
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 claims description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims description 3
- 238000009694 cold isostatic pressing Methods 0.000 claims description 2
- 239000012948 isocyanate Substances 0.000 claims description 2
- 150000002513 isocyanates Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000007721 mold pressing method Methods 0.000 claims description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 30
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 17
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 12
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 10
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 7
- 239000000499 gel Substances 0.000 description 7
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 6
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 6
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 4
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 4
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 3
- 125000001495 ethyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])([H])* 0.000 description 3
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 3
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 description 3
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 3
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 150000003748 yttrium compounds Chemical class 0.000 description 3
- OBOSXEWFRARQPU-UHFFFAOYSA-N 2-n,2-n-dimethylpyridine-2,5-diamine Chemical compound CN(C)C1=CC=C(N)C=N1 OBOSXEWFRARQPU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001817 Agar Polymers 0.000 description 2
- QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N Ammonia Chemical compound N QGZKDVFQNNGYKY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000008272 agar Substances 0.000 description 2
- 235000010419 agar Nutrition 0.000 description 2
- AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N alumane Chemical compound [AlH3] AZDRQVAHHNSJOQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007864 aqueous solution Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002826 coolant Substances 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 125000001449 isopropyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])[H] 0.000 description 2
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 2
- 125000002496 methyl group Chemical group [H]C([H])([H])* 0.000 description 2
- NFSAPTWLWWYADB-UHFFFAOYSA-N n,n-dimethyl-1-phenylethane-1,2-diamine Chemical compound CN(C)C(CN)C1=CC=CC=C1 NFSAPTWLWWYADB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 2
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 2
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002002 slurry Substances 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 238000005979 thermal decomposition reaction Methods 0.000 description 2
- BWOAAAYNOWWMHL-UHFFFAOYSA-K trichloroyttrium;hydrate Chemical compound O.[Cl-].[Cl-].[Cl-].[Y+3] BWOAAAYNOWWMHL-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N Ethylenediamine Chemical compound NCCN PIICEJLVQHRZGT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920001503 Glucan Polymers 0.000 description 1
- 229910019142 PO4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920002472 Starch Polymers 0.000 description 1
- 229910009442 Y2O Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000086 alane Inorganic materials 0.000 description 1
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- -1 amine hydrochlorides Chemical class 0.000 description 1
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 description 1
- 229910021529 ammonia Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012300 argon atmosphere Substances 0.000 description 1
- 238000005219 brazing Methods 0.000 description 1
- 125000000484 butyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000004649 carbonic acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 239000000679 carrageenan Substances 0.000 description 1
- 229920001525 carrageenan Polymers 0.000 description 1
- 235000010418 carrageenan Nutrition 0.000 description 1
- 229940113118 carrageenan Drugs 0.000 description 1
- 150000003841 chloride salts Chemical class 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 239000007859 condensation product Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000001307 helium Substances 0.000 description 1
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 description 1
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000007731 hot pressing Methods 0.000 description 1
- 150000002484 inorganic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002823 nitrates Chemical class 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003921 oil Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 239000001814 pectin Substances 0.000 description 1
- 229920001277 pectin Polymers 0.000 description 1
- 235000010987 pectin Nutrition 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 235000021317 phosphate Nutrition 0.000 description 1
- 150000003013 phosphoric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 125000001436 propyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])([H])C([H])([H])[H] 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 235000019698 starch Nutrition 0.000 description 1
- 239000008107 starch Substances 0.000 description 1
- 150000003467 sulfuric acid derivatives Chemical class 0.000 description 1
- 229910019655 synthetic inorganic crystalline material Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052727 yttrium Inorganic materials 0.000 description 1
- VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N yttrium atom Chemical compound [Y] VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000347 yttrium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- RTAYJOCWVUTQHB-UHFFFAOYSA-H yttrium(3+);trisulfate Chemical compound [Y+3].[Y+3].[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O.[O-]S([O-])(=O)=O RTAYJOCWVUTQHB-UHFFFAOYSA-H 0.000 description 1
- UHVMMEOXYDMDKI-JKYCWFKZSA-L zinc;1-(5-cyanopyridin-2-yl)-3-[(1s,2s)-2-(6-fluoro-2-hydroxy-3-propanoylphenyl)cyclopropyl]urea;diacetate Chemical compound [Zn+2].CC([O-])=O.CC([O-])=O.CCC(=O)C1=CC=C(F)C([C@H]2[C@H](C2)NC(=O)NC=2N=CC(=CC=2)C#N)=C1O UHVMMEOXYDMDKI-JKYCWFKZSA-L 0.000 description 1
Landscapes
- Surface Heating Bodies (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Abstract
プター、およびサセプターを支持するセラミックス製の
支持部材を備えている支持装置において、高い気密性を
もって容易に空隙部を形成可能な装置を提供する。 【解決手段】支持装置1Aは、支持部材5Aとサセプタ
ー4Aとを備えている。支持部材5Aは、中空の本体部
分6と、本体部分6の端部に設けられた平板状部11A
とを備えている。平板状部11Aとサセプター4Aとが
接合されている。空隙部9Aは、平板状部11Aとサセ
プター4Aとの間に両者の界面に沿って設けることがで
き、あるいは平板状部11A内に設けることができる。
Description
ものである。
窒化アルミニウム質セラミックスからなるセラミックス
ヒーターを、略円筒形状の支持部材に対して接合する方
法が開示されている。この技術について、図11を参照
しつつ説明する。セラミックスヒーター4は、セラミッ
クス基体2と、基体2内に埋設された抵抗発熱体3とを
備えている。支持部材20Aは略円筒形状をしている。
この支持部材20Aの端面を基体2の背面2bに接合す
る。この際、ポリアルキルイミノアランの重合体のゲル
を、基体2の背面2bと支持部材20Aの端面との間に
塗布し、1600℃程度で熱処理し、基体2の背面2b
と支持部材20Aの端面との間に窒化アルミニウムの接
合層を生成させる。
設計を検討する過程において、次の要望が生じてきてお
り、前述した従来技術のサセプターでは、新たな要望に
答えることが困難であった。即ち、本発明者は、セラミ
ックスヒーターの内部に冷却媒体を流すための通路を形
成することを試みていた。しかし、セラミックスのバル
クの内部に、抵抗発熱体を埋設した後に、細長い通路を
加工によって形成することは不可能である。このため、
本発明者は、グリーンシート積層法によってセラミック
スサセプターの内部に通路を形成することを試みた。グ
リーンシート積層法によって、所定深さの通路をサセプ
ター内部に形成するためには、グリーンンシートに所定
深さの溝を予め形成し、この後に複数のグリーンシート
を積層し、一体焼結させる必要がある。しかし、こうし
た方法では、グリーンシートの焼結段階で溝の近辺でシ
ートの変形が生じ、所定深さの溝を正確に形成すること
はできない。特に、複数のグリーンシートの接合界面に
おいて、焼結後の接合界面における気体漏れが発生し易
く、気密性を維持することが困難であった。このよう
に、セラミック基体2の内部に、高い気密性をもって気
体や液体の流路を形成することは困難であり、かつ高コ
ストである。
セラミックス製のサセプター、およびサセプターを支持
するセラミックス製の支持部材を備えている支持装置に
おいて、高い気密性をもって容易に空隙部を形成可能な
装置を提供することである。
とを備えるセラミックス製のサセプター、およびサセプ
ターを支持するセラミックス製の支持部材を備えている
支持装置であって、支持部材が、内側空間の設けられた
本体部分と、この本体部分の端部に設けられた平板状部
とを備えており、平板状部とサセプターとが接合されて
いることを特徴とする。
部分の端部に設けられた平板状部とを備えるセラミック
ス製の一体の支持部材を準備し、この支持部材の平板状
部とサセプターとを接合することを想到した。これによ
って、サセプターと平板状部との界面に沿って、あるい
は支持部材の平板状部の内部に空隙部を比較的容易に形
成することができ、空隙部の気密性を高く維持できる。
発明を更に詳細に説明する。図1は、本発明の一実施形
態に係る支持装置1Aを示す断面図であり、図2は、図
1の装置をII−II線に沿って矢視方向に見た図であ
り、図3は、図1の装置をIII−III線に沿って矢
視方向に見た図である。II−II線、III−III
線は、いずれも接合面に沿って切っている。
と支持部材5Aとを備えている。サセプター4Aは、円
板形状のセラミック基体2と、基体2の内部に埋設され
た機能部材3と、機能部材3に接続された端子14とを
備えている。基体2の上面2aは、物品(例えば本例で
は半導体)を設置するための設置面である。ただし、半
導体と設置面2aとの間に別部材を挟むことは可能であ
る。設置面2aと背面2bとの間には、所定箇所に貫通
孔10が形成されている。
Aと、細長い中空の本体部分6とを備えている。本体部
分6の内側空間8には電力供給部材13が挿入されてお
り、部材13の末端が端子14に接続されている。平板
状部11Aには、図2に示すように、リング状の外周側
突起11bと、リング状の内周側突起11cとが形成さ
れている。突起11bと11cとの間には凹部9Aが形
成されている。突起11bおよび11cは、図1に示す
ように背面2bに対して接合されており、それぞれリン
グ状の接合面12A、12Bを形成している。9Aは、
平板状部11Aと背面2bとの界面に沿って空隙部を形
成する。
び平板状部11Aを貫通する連通孔7が設けられてい
る。連通孔7の一端7aは、本体部分6の末端面6aに
対して開口している。連通孔7の他端は空隙部9Aに連
通している。そして、上述の基体2側の貫通孔10は、
それぞれ空隙部9Aに連通している。なお、図3におい
ては、接合面12A、12Bの位置を点線で示した。
や背面に凹部を形成し、次いで平板状部と基体2とを接
合することによって、容易に形成できる。しかも、平板
状部5Aと本体部分6とはセラミックスからなる一体の
部材であるので、気密性が保持されている。そして、空
隙部を平面的に見て包囲している接合面12Aや12B
の形状や寸法、および接合方法を選択することによっ
て、空隙部に対して容易に所望の度合いの気密性を確保
することができる。
の種類は特に限定されないが、窒化アルミニウム、窒化
珪素、炭化珪素、アルミナが特に好適である。
平板状部との間に空隙部を形成する。この場合には、サ
セプターの背面側、あるいは平板状部の表面側に、凹部
を形成することによって、前記した空隙部を容易に形成
できる。
することができる。あるいは、支持部材の平板状部に凹
部を形成することができる。支持部材側は、通常は常圧
焼結法によって製造できるので、焼結前に凹部を成形す
ることができる。従って、空隙部の形成を一層低コスト
で容易に実施できる。更に、平板状部とサセプターの背
面との双方に凹部を形成することもできる。
に、サセプターと平板状部との界面に沿って、両者の間
に空隙部を形成する。しかし、場合によっては、支持部
材の平板状部の中に空隙部を形成することも可能であ
る。支持部材の中に空隙部を形成することは、サセプタ
ーの内部に空隙部を形成する場合よりも容易である。
装置1Bを示す断面図であり、図5は、図4の装置をV
−V線に沿って矢視方向に見た図であり、図6は、図4
の装置をVI−VI線に沿って矢視方向に見た図であ
る。この実施形態では、支持部材の平板状部側には凹部
を設けず、基体2の背面2b側に凹部を設ける。
と支持部材5Bとを備えている。サセプター4Bは、円
板形状のセラミック基体2Aと、基体2Aの内部に埋設
された機能部材3と、機能部材3に接続された端子14
とを備えている。設置面2aと背面2bとの間には、所
定箇所に貫通孔10が形成されている。
Bと、細長い中空の本体部分6とを備えている。本体部
分6の内側の空間8には電力供給部材13が挿入されて
おり、部材13の末端が端子14に接続されている。平
板状部11Bの上面20は略平坦面である。
2cと、内周側の円盤状突起2dとが形成されている。
突起2cと2dとの間には凹部9Bが形成されている。
突起2cおよび2dは、図4に示すように平板状部11
Bの上面20に対して接合されており、それぞれリング
状の接合面12A、12Bを形成している。空隙部9B
は、平板状部11Bと背面2bとの界面に沿って形成さ
れている。
び平板状部11Bを貫通する連通孔7が設けられてい
る。連通孔7の端部は空隙部9Bに連通しており、基体
2側の貫通孔10もそれぞれ空隙部9Bに連通してい
る。なお、図5、図6においては、接合面12A、12
Bの位置を一部点線で示した。
限定されない。例えば、支持部材を、ゲルキャスト法、
コールドアイソスタティックプレス法、イソシアネート
法または型プレス法など、任意の方法によって成形し、
次いで焼成することができる。
ルキャスト法によって成形する。これによって、平板状
部と細長い中空の本体部分とを含む一体のセラミックス
製の支持部材を比較的に容易に成形することができる。
特に、平板状部の前記凹部を容易に成形することができ
る。その上、得られた成形体を常圧焼成させた後に、焼
結体の形状や寸法が、成形体の形状や寸法に比べて大き
く変化しない。
ミック粉末とゲル生成物質の粉末とを溶剤に分散してス
ラリーとし、このスラリーをキャスト成形して成形体を
得る。このゲル生成物質としては、ゼチラン、デンプ
ン、カラギーナン、寒天、ペクチン、グルカンを例示で
きる。
ガス流路として機能させる。図1の例では、連通孔7、
空隙部9A、貫通孔10をガス流路として機能させる。
こうしたガスとしては、バックサイドガスやパージガス
を例示できる。ここで、好適な実施形態においては、サ
セプターの側面側からパージガスを噴出させることによ
って、腐食性ガスや成膜ガス、クリーニングガスなどが
サセプターの背面側に回り込むことを有効に防止でき
る。
ス、アルゴンガスなどの不活性ガスや、水やオイルなど
の流体)を流すための通路として利用できる。
を、設置面側から気体を吸引するための気体吸引路とし
て機能させる。この場合には、サセプターが、設置面上
の半導体を吸引して固定する真空ウエハーとして機能す
る。
うに、支持部材に、空隙部と連通する連通孔7を形成す
る。この場合には、支持部材の内側空間8に対して、連
通孔や空隙部を隔離することができる。
電チャック電極を埋設することができる。また、サセプ
ターに、高周波を発生させるための電極を埋設すること
ができる。更には、サセプター内部に、抵抗発熱体と静
電チャック電極との双方を埋設でき、あるいはサセプタ
ー内部に、静電チャック電極と、高周波を発生させるた
めの電極との双方を埋設でき、あるいはサセプター内部
に、抵抗発熱体と、高周波を発生させるための電極との
双方を埋設できる。
物品は限定はされないが、半導体(特に半導体ウエハ
ー)や、アルミニウムウエハー、鉄ウエハーなどの金属
ウエハーを例示できる。
構成するセラミックスの熱伝導率が、支持部材を構成す
るセラミックスの熱伝導率よりも高い。このように、サ
セプターを構成するセラミックスの熱伝導率を高くする
ことによって、サセプターにおいて横方向への熱伝導が
促進され、設置面2aの温度の均一性に寄与する。これ
と共に、支持部材を構成するセラミックスの熱伝導率を
低くすることによって、サセプターの背面から支持部材
を通る熱伝導を抑制することができ、これによって設置
面の一部にコールドスポットが生ずる傾向を抑制でき
る。これによって、設置面について所望の温度の均一性
を確保することが容易になる。
ラミックスの熱伝導率は、10W/mK 以上とするこ
とが好ましく、50W/mK以上とすることが更に好ま
しい。このようなセラミックスとしては以下を例示でき
る。Y添加系窒化アルミニウム、炭化ケイ素、窒化ケイ
素
熱伝導率は、200W/mK以下とすることが好まし
く、100W/mK以下とすることが一層好ましい。こ
のようなセラミックスとしては以下を例示できる。高純
度窒化アルミ、アルミナ、窒化ケイ素、YAG、Y2O
3
の熱伝導率は、支持部材を構成するセラミックスの熱伝
導率以上であることが好ましく、その差は50W/mK
以上とすることが一層好ましい。
支持部材との接合面の外径が、本体部分の外径の1.3
倍以上である。例えば、図1を参照すると、サセプター
と支持部材との接合面12Aの外径Lが、本体部分6の
外径Mの1.3倍以上である。このような形態とするこ
とによって、空隙部の設置余地が大きくなり、本発明の
作用効果を達成する上で一層有益である。この観点から
は、サセプターと支持部材との接合面の外径を、本体部
分の外径の2倍以上とすることが更に好ましい。
加圧焼結法によって製造する。これによって、サセプタ
ーの内部に機能部材3を埋設しつつ、基体2の相対密度
を非常に高くすることが可能である。ただし、この場合
には、基体2の内部に空隙部を形成することが一層困難
になる。従って、平板状部側、あるいは平板状部とサセ
プターとの間に空隙部を形成できる本発明が、一層有効
となる。
方法は限定されず、固相接合、ろう付け、ねじ止めなど
の機械的締結、樹脂による接着であってよい。樹脂によ
る接合は、サセプターの使用温度が200℃以下である
場合に特に好適である。この樹脂としては、ポリイミド
樹脂やシリコーン樹脂を例示できる。固液接合法は、特
開平10−273370号公報に記載された方法であ
る。
支持部材とが固相接合されている。固相接合法において
は、サセプターを構成するセラミックスと、支持部材を
構成するセラミックスとの少なくとも一方に対して有効
な焼結助剤を含有する溶液を接合面に塗布し、接合面に
対して略垂直方向へと向かって圧力を加えながら、焼結
温度よりも若干低い程度の温度で熱処理する。特に好ま
しくは、以下のようにして固相接合を行う。
化アルミニウムの前駆体化合物を、支持部材の平板状部
とサセプター背面との間に介在させた状態で熱分解させ
ることによって、両者を接合する。この場合において好
ましくは、平板状部およびサセプターが、窒化アルミニ
ウム質セラミックスからなる。
−窒素結合を有する有機金属化合物または無機化合物を
使用できる。これには、R3Alとアンモニアやエチレ
ンジアミンの付加物(Rはメチル基、エチル基、プロピ
ル基、ブチル基)、AlH3とNH3との縮合生成物、
ポリアルキルイミノアラン[(HAlNR)n]を使用
できる。ポリアルキルイミノアランは、アルキルイミノ
アラン(HAlNR)の重合体であり、いわゆるカゴ型
構造を有するもので、Rはアルキル基である。これを製
造するには、アルミニウムの水素化物を、アミンやアミ
ン塩酸塩と反応させる。Rがエチル基の場合には8量体
[(HAlNR)8:Rはエチル基]が主として生成
し、イソプロピル基の場合には6量体[(HAlNR)
6:Rはイソプロピル基]が主として生成する。Rがメ
チル基であると、不溶性の高分子が生成しやすい。
熱分解温度は、好ましくは1600℃以下である。接合
時の雰囲気は、アルゴン等の不活性ガスやアンモニア−
窒素等の還元性雰囲気が好ましく、熱分解時にアルミニ
ウム−窒素結合を有する化合物から発生する炭素を除去
するためには、アンモニア−不活性ガスの雰囲気が好ま
しい。
向に向かって加圧することが、接合強度を一層向上させ
る上で好ましい。加圧の効果は、実質的には0.1kg
/cm2 の圧力で現れる。上限は500kg/cm2 で
ある。
合物に加えて、珪素−窒素結合を有する化合物をも使用
できる。
に、サセプターを構成するセラミックスと支持部材を構
成するセラミックスとの少なくとも一方に対して有効な
焼結助剤を含む溶液を介在させ、次いで熱処理を行う。
例えば、セラミックスが窒化アルミニウムまたは窒化珪
素からなる場合には、イットリウム化合物、イッテルビ
ウム化合物およびアルカリ土類元素の化合物からなる群
より選ばれた一種以上の接合助剤が好ましく、イットリ
ウム化合物が特に好ましい。
酸塩、硝酸塩、炭酸塩が濡れやすく、ハンドリング性が
良い。例えば塩化イットリウム、塩化イットリウム水和
物、硫酸イットリウム、酢酸イットリウムの水溶液や、
塩化イットリウム、塩化イットリウム水和物、酢酸イッ
トリウムの水溶液を使用することが好ましい。
理、ホットプレス法、プラズマ活性化焼結、レーザーに
よる局部加熱法等がある。
部材を、支持部材の平板状部に対して接合することがで
きる。この接合方法は限定されず、前述した接合方法を
利用可能である。また、サセプターを平板状部に対して
接合するのと同じ接合工程で、他の部材も平板状部に接
合することが好ましい。
は、サセプターの側面の外側に設置する部材であり、特
に好ましくは環状部材である。この場合には、サセプタ
ーの側面と環状部材との間に気体通路を形成することが
できる。
を概略的に示す断面図であり、図8は、図7において矢
視方向に見た図である。本例においては、支持部材5B
の平板状部11Bに対して、サセプター4Cの背面2b
が接合されている。そして、サセプター4Cの外側に、
円環形状の部材22が、サセプター4Cを包囲するよう
に設置されている。サセプター4Cと円環状部材22と
の間には、円形の気体通路21が形成されている。連通
孔7が空隙部23の一端に連通しており、連通孔23の
他端が気体通路21に連通している。この気体通路は、
前述したように、パージガスなどの各種のガスの通路と
して利用できる。12、27は各接合面である。
バックサイドガスやパージガスを流すための気体通路
と、設置面側から気体を吸引するための気体吸引路との
双方を設けることができる。図9は、この実施形態に係
る支持装置1Dを概略的に示す断面図であり、図10
は、図9の装置をX−X線に沿って矢視方向に見た図で
ある。
空隙部23と気体通路25とが形成されている。空隙部
23の一方の端部は連通孔7に連通しており、空隙部2
3の他方の端部は気体通路25に連通している。これら
は、パージガスなどのガスの流通路として作用する。ま
た、サセプター4Dには貫通孔24が形成されており、
この貫通孔24が、支持部材6の連通孔7Aに連通して
いる。貫通孔24および連通孔7Aから気体を吸引す
る。これによって、サセプターが、設置面上の半導体を
吸引して固定する真空ウエハーとして機能する。
従って、支持装置1Aを製造した。ただし、基体2は相
対密度99.9%の窒化アルミニウム焼結体によって形
成した。この窒化アルミニウム焼結体の焼結温度は18
00−2000℃であり、焼結助剤として5mol%の
イットリウムを含有している。
スト法によって成形し、1800℃で焼成した。Mは8
0mmであり、Lは350mmであり、本体部分6の長
さは150mmである。
基体2の背面2bとを、それぞれ研磨加工した。各接合
面の間に、8量体[(HAlNC2fH5)8]のゲル
を介在させ、アルゴン雰囲気内で、1600℃で2時間
熱処理し、接合体を得た。空隙部9Aの外径は300m
mであり、内径は60mmであり、深さは2 mm
である。
学顕微鏡(1000倍)で観察したところ、剥離、変
形、クラックは見られなかった。
即ち、接合体の寸法20mm×40mm×20mm、プ
ローブ周波数25MHz、プローブ径0.25秒、焦点
距離4秒の条件下において、接合面に対して実施した。
この結果、接合面に剥離は見られなかった。
ィテクターを使用して、リーク量を測定した。この結
果、ヘリームリーク量は10−8sccm未満であっ
た。
置面と背面とを備えるセラミックス製のサセプター、お
よびサセプターを支持するセラミックス製の支持部材を
備えている支持装置において、高い気密性をもって容易
に空隙部を形成可能な装置を提供できる。
Aを示す断面図である。
に見た図である。
方向に見た図である。
す断面図である。
た図である。
に見た図である。
略的に示す断面図である。
視方向に見た図である。
を概略的に示す断面図である。
た図である。
基体 2a 設置面 2b 背面 2c 外周側
のリング状突起 2d内周側の円形突起 3 機能部材 4
A、4B、4C、4D サセプター 5A、5B
支持部材 6 支持部材の本体部分 7、7A 連通孔 8 本体部分6内の空間
9A 9B、23 空隙部 10 基体内の
貫通孔 11A、11B 平板状部 12
A、12B 接合面 13 電力供給部材
14端子 L 接合面の外径 M 支持
部材の本体部分6の外径
Claims (15)
- 【請求項1】設置面と背面とを備えるセラミックス製の
サセプター、および前記サセプターを支持するセラミッ
クス製の支持部材を備えている支持装置であって、 前記支持部材が、内側空間の設けられた本体部分と、こ
の本体部分の端部に設けられた平板状部とを備えてお
り、前記平板状部と前記サセプターとが接合されている
ことを特徴とする、支持装置。 - 【請求項2】前記サセプターと前記平板状部との間に空
隙部が形成されていることを特徴とする、請求項1記載
の装置。 - 【請求項3】前記平板状部側に前記空隙部が形成されて
いることを特徴とする、請求項1または2記載の装置。 - 【請求項4】前記サセプターの前記背面側に前記空隙部
が形成されていることを特徴とする、請求項1〜3のい
ずれか一つの請求項に記載の装置。 - 【請求項5】前記空隙部がガス流路として機能すること
を特徴とする、請求項2〜4のいずれか一つの請求項に
記載の装置。 - 【請求項6】前記空隙部が、前記設置面側から気体を吸
引するための気体吸引路として機能することを特徴とす
る、請求項2〜4のいずれか一つの請求項に記載の装
置。 - 【請求項7】前記支持部材に、前記空隙部と連通する連
通孔が形成されていることを特徴とする、請求項2〜6
のいずれか一つの請求項に記載の装置。 - 【請求項8】前記サセプター内に抵抗発熱体が埋設され
ていることを特徴とする、請求項1〜7のいずれか一つ
の請求項に記載の装置。 - 【請求項9】前記サセプター内に静電チャック電極が埋
設されていることを特徴とする、請求項1〜8のいずれ
か一つの請求項に記載の装置。 - 【請求項10】前記サセプター内に高周波発生用電極が
埋設されていることを特徴とする、請求項1〜9のいず
れか一つの請求項に記載の装置。 - 【請求項11】前記サセプターを構成するセラミックス
の熱伝導率が、前記支持部材を構成するセラミックスの
熱伝導率よりも高いことを特徴とする、請求項1〜10
のいずれか一つの請求項に記載の装置。 - 【請求項12】前記サセプターと前記支持部材とが固相
接合、固液接合、ろう付け、樹脂接着、または機械的接
合されていることを特徴とする、請求項1〜11のいず
れか一つの請求項に記載の装置。 - 【請求項13】前記サセプターと前記支持部材との接合
面の外径が、前記本体部分の外径の1.3倍以上である
ことを特徴とする、請求項1〜12のいずれか一つの請
求項に記載の装置。 - 【請求項14】前記支持部材が、ゲルキャスト法、コー
ルドアイソスタティックプレス法、イソシアネート法ま
たは型プレス法によって成形されていることを特徴とす
る、請求項1〜13のいずれか一つの請求項に記載の装
置。 - 【請求項15】前記平板状部に対して接合されている前
記サセプター以外の他の部材を備えていることを特徴と
する、請求項1〜14のいずれか一つの請求項に記載の
装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001342961A JP4386606B2 (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | 支持装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001342961A JP4386606B2 (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | 支持装置の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2003142564A true JP2003142564A (ja) | 2003-05-16 |
JP4386606B2 JP4386606B2 (ja) | 2009-12-16 |
Family
ID=19156732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001342961A Expired - Lifetime JP4386606B2 (ja) | 2001-11-08 | 2001-11-08 | 支持装置の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4386606B2 (ja) |
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1703546A2 (en) * | 2005-03-16 | 2006-09-20 | Ngk Insulators, Ltd. | Processing device |
JP2006261665A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Ngk Insulators Ltd | ガス供給部材及びそれを用いた処理装置 |
JP2009256789A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-11-05 | Ngk Insulators Ltd | セラミックスヒータ |
WO2013132804A1 (ja) * | 2012-03-07 | 2013-09-12 | 日本特殊陶業株式会社 | 搬送装置およびセラミック部材 |
KR101305760B1 (ko) * | 2008-03-21 | 2013-09-17 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 세라믹스 히터 |
JP2015159186A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 日本特殊陶業株式会社 | 加熱装置 |
KR20180006647A (ko) * | 2016-07-11 | 2018-01-19 | 주식회사 미코 | 반도체 후공정용 척 플레이트, 상기 척 플레이트를 갖는 척 구조물 및 척 구조물을 갖는 칩 분리 장치 |
JP2018073613A (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-10 | 京セラ株式会社 | ヒータ |
CN108511951A (zh) * | 2018-05-24 | 2018-09-07 | 常熟利星光电科技有限公司 | 一种连接器一体式内架 |
WO2019088203A1 (ja) * | 2017-11-02 | 2019-05-09 | 日本碍子株式会社 | 半導体製造装置用部材、その製法及び成形型 |
US20210043475A1 (en) * | 2018-03-28 | 2021-02-11 | Kyocera Corporation | Heater and heater system |
TWI745899B (zh) * | 2019-03-26 | 2021-11-11 | 日商日本碍子股份有限公司 | 半導體製造裝置用構件、其製法及成形模具 |
JP7247409B1 (ja) | 2021-09-17 | 2023-03-28 | ミコ セラミックス リミテッド | 低熱伝導シャフトを備える高温用サセプタ |
JPWO2023119601A1 (ja) * | 2021-12-23 | 2023-06-29 | ||
JP7566115B1 (ja) | 2023-10-06 | 2024-10-11 | ミコ セラミックス リミテッド | セラミックサセプター |
JP7580641B1 (ja) | 2023-12-12 | 2024-11-11 | ミコ セラミックス リミテッド | パージガス流路を備えるサセプター |
-
2001
- 2001-11-08 JP JP2001342961A patent/JP4386606B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (34)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006261670A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Ngk Insulators Ltd | 処理装置 |
JP2006261665A (ja) * | 2005-03-16 | 2006-09-28 | Ngk Insulators Ltd | ガス供給部材及びそれを用いた処理装置 |
KR100766846B1 (ko) * | 2005-03-16 | 2007-10-18 | 니뽄 가이시 가부시키가이샤 | 가스 공급 부재 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 |
JP4590364B2 (ja) * | 2005-03-16 | 2010-12-01 | 日本碍子株式会社 | 処理装置 |
JP4590363B2 (ja) * | 2005-03-16 | 2010-12-01 | 日本碍子株式会社 | ガス供給部材及びそれを用いた処理装置 |
US8394199B2 (en) | 2005-03-16 | 2013-03-12 | Ngk Insulators, Ltd. | Processing device |
EP1703546A2 (en) * | 2005-03-16 | 2006-09-20 | Ngk Insulators, Ltd. | Processing device |
US8540819B2 (en) | 2008-03-21 | 2013-09-24 | Ngk Insulators, Ltd. | Ceramic heater |
JP2009256789A (ja) * | 2008-03-21 | 2009-11-05 | Ngk Insulators Ltd | セラミックスヒータ |
KR101305760B1 (ko) * | 2008-03-21 | 2013-09-17 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 세라믹스 히터 |
WO2013132804A1 (ja) * | 2012-03-07 | 2013-09-12 | 日本特殊陶業株式会社 | 搬送装置およびセラミック部材 |
JPWO2013132804A1 (ja) * | 2012-03-07 | 2015-07-30 | 日本特殊陶業株式会社 | 搬送装置およびセラミック部材 |
TWI508214B (zh) * | 2012-03-07 | 2015-11-11 | Ngk Spark Plug Co | 搬送裝置及陶瓷構件 |
US9691652B2 (en) | 2012-03-07 | 2017-06-27 | Ngk Spark Plug Co., Ltd. | Carrier device and ceramic member |
KR101757522B1 (ko) * | 2012-03-07 | 2017-07-12 | 니뽄 도쿠슈 도교 가부시키가이샤 | 반송 장치 및 세라믹 부재 |
JP2015159186A (ja) * | 2014-02-24 | 2015-09-03 | 日本特殊陶業株式会社 | 加熱装置 |
KR20180006647A (ko) * | 2016-07-11 | 2018-01-19 | 주식회사 미코 | 반도체 후공정용 척 플레이트, 상기 척 플레이트를 갖는 척 구조물 및 척 구조물을 갖는 칩 분리 장치 |
KR102523850B1 (ko) * | 2016-07-11 | 2023-04-21 | 주식회사 미코세라믹스 | 척 구조물 및 척 구조물을 갖는 칩 분리 장치 |
JP2018073613A (ja) * | 2016-10-28 | 2018-05-10 | 京セラ株式会社 | ヒータ |
CN111316418B (zh) * | 2017-11-02 | 2024-01-30 | 日本碍子株式会社 | 半导体制造装置用构件、其制法及成型模具 |
WO2019088203A1 (ja) * | 2017-11-02 | 2019-05-09 | 日本碍子株式会社 | 半導体製造装置用部材、その製法及び成形型 |
CN111316418A (zh) * | 2017-11-02 | 2020-06-19 | 日本碍子株式会社 | 半导体制造装置用构件、其制法及成型模具 |
JPWO2019088203A1 (ja) * | 2017-11-02 | 2020-11-19 | 日本碍子株式会社 | 半導体製造装置用部材、その製法及び成形型 |
US20210043475A1 (en) * | 2018-03-28 | 2021-02-11 | Kyocera Corporation | Heater and heater system |
US11961747B2 (en) | 2018-03-28 | 2024-04-16 | Kyocera Corporation | Heater and heater system |
CN108511951A (zh) * | 2018-05-24 | 2018-09-07 | 常熟利星光电科技有限公司 | 一种连接器一体式内架 |
TWI745899B (zh) * | 2019-03-26 | 2021-11-11 | 日商日本碍子股份有限公司 | 半導體製造裝置用構件、其製法及成形模具 |
JP2023047311A (ja) * | 2021-09-17 | 2023-04-05 | ミコ セラミックス リミテッド | 低熱伝導シャフトを備える高温用サセプタ |
JP7247409B1 (ja) | 2021-09-17 | 2023-03-28 | ミコ セラミックス リミテッド | 低熱伝導シャフトを備える高温用サセプタ |
WO2023119601A1 (ja) * | 2021-12-23 | 2023-06-29 | 住友電気工業株式会社 | ヒータ |
JP7391294B2 (ja) | 2021-12-23 | 2023-12-05 | 住友電気工業株式会社 | ヒータ |
JPWO2023119601A1 (ja) * | 2021-12-23 | 2023-06-29 | ||
JP7566115B1 (ja) | 2023-10-06 | 2024-10-11 | ミコ セラミックス リミテッド | セラミックサセプター |
JP7580641B1 (ja) | 2023-12-12 | 2024-11-11 | ミコ セラミックス リミテッド | パージガス流路を備えるサセプター |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4386606B2 (ja) | 2009-12-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4386606B2 (ja) | 支持装置の製造方法 | |
TWI660453B (zh) | 用於高溫處理之靜電吸座組件 | |
KR100778612B1 (ko) | 기판처리장치 | |
JP2019031434A (ja) | 過渡液相、窒化アルミニウム製部品の常圧接合 | |
JP2016503234A (ja) | 金属接合された保護層を有する基板支持アセンブリ | |
JPH10242252A (ja) | ウエハ加熱装置 | |
JP2015514661A5 (ja) | ||
US7837798B2 (en) | Semiconductor processing apparatus with a heat resistant hermetically sealed substrate support | |
JP4003932B2 (ja) | セラミックス−金属接合体 | |
JPH11220008A (ja) | ウエハ支持部材 | |
JP2008004926A (ja) | ウエハ保持体とその製造方法及び半導体製造装置 | |
JP2004040000A (ja) | 電極内蔵型サセプタ及びその製造方法 | |
JP2007051317A (ja) | 加熱装置 | |
JP4569077B2 (ja) | 半導体あるいは液晶製造装置用保持体およびそれを搭載した半導体あるいは液晶製造装置 | |
JP4252231B2 (ja) | 半導体ウェハー支持部材接合体の製造方法および半導体ウェハー支持部材接合体 | |
JP2003124299A (ja) | 電極内蔵型サセプタ及びその製造方法 | |
JP2001237051A (ja) | 筒状体を有するセラミックヒーター及びこれを用いた加熱装置 | |
JP3520074B2 (ja) | セラミックサセプターの取付構造、セラミックサセプターの支持構造およびセラミックサセプターの支持部材 | |
JP2001308165A (ja) | サセプタ及びその製造方法 | |
JP2001085505A (ja) | サセプタ及びその製造方法 | |
JP2003124296A (ja) | サセプタ及びその製造方法 | |
JP6139249B2 (ja) | 試料保持具 | |
JP3909248B2 (ja) | 試料加熱装置 | |
JP4443556B2 (ja) | 試料加熱装置の製造方法 | |
JP4026751B2 (ja) | 半導体製造装置およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20040809 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070424 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070514 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20071218 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080123 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20080306 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080407 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080502 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20080513 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20080926 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090908 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090929 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4386606 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121009 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121009 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131009 Year of fee payment: 4 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |