JP2002280900A - Clock reproducing circuit - Google Patents
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- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
- Synchronisation In Digital Transmission Systems (AREA)
Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、シリアルデータ信
号からクロックを抽出するクロック再生回路に関し、特
にプルインレンジ、ジッタ特性等が入力信号のデータパ
タンに依存しない光受信機を実現するためのクロック再
生回路に関するものである。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a clock recovery circuit for extracting a clock from a serial data signal, and more particularly to a clock recovery circuit for realizing an optical receiver whose pull-in range and jitter characteristics do not depend on the data pattern of an input signal. It is related to the circuit.
【0002】[0002]
【従来の技術】図8は従来のクロック再生回路の一例を
示す図である(参考文献:C.R.Hogge,JR.,”A Self Cor
recting Clock Recovery Circuit”,Journal of Lightw
ave Tech.,vol.LT-3,No.6 1985,p1323)。2. Description of the Related Art FIG. 8 is a diagram showing an example of a conventional clock recovery circuit (reference: CRHogge, JR., "A Self Cor
recting Clock Recovery Circuit ”, Journal of Lightw
ave Tech., vol. LT-3, No. 6 1985, p1323).
【0003】従来のクロック再生回路は、位相比較器
2、ループフィルタ3、電圧制御発振器(以下、VCO
と略記する)4、加算器19から構成される。位相比較
器2は位相差に比例した直流電圧成分を含む信号を出力
する機能を有する。位相比較器には多くの構成が提案さ
れているが、図8の構成が最も広く知られている。A conventional clock recovery circuit includes a phase comparator 2, a loop filter 3, and a voltage controlled oscillator (hereinafter referred to as a VCO).
4) and an adder 19. The phase comparator 2 has a function of outputting a signal including a DC voltage component proportional to the phase difference. Although many configurations have been proposed for the phase comparator, the configuration in FIG. 8 is the most widely known.
【0004】入力データDinはデータ入力端子1を経由
してD型フリップフロップ(以下、D−FFと略記す
る)9に入力される。また、VCO4の出力信号はバッ
ファ6を経由してD−FF9をトリガする。これにより
入力データDinがクロックCLKによりリタイミングさ
れた信号がD−FF9の出力に現れる。Dinとリタイミ
ングされた信号とは排他的論理和ゲート(以下、EXO
Rと略記する)13の入力に接続される。EXOR13
はDinとCLKとの位相差に比例したパルス幅を持つ信
号(位相比較信号15)VPを出力することになる。な
お、EXOR13は入力信号にエッジ(ハイレベルから
ローレベルへの遷移、またはローレベルからハイレベル
ヘの遷移)が生じた時にのみパルスを出力するので、V
Pは位相差だけでなくエッジ密度にも比例した直流成分
を持つ。The input data Din is input to a D-type flip-flop (hereinafter abbreviated as D-FF) 9 via a data input terminal 1. The output signal of the VCO 4 triggers the D-FF 9 via the buffer 6. As a result, a signal in which the input data Din is retimed by the clock CLK appears at the output of the D-FF 9. Din and the retimed signal are exclusive OR gates (hereinafter, EXO)
R) (abbreviated as R). EXOR13
Will output a signal (phase comparison signal 15) V P having a pulse width proportional to the phase difference between Din and CLK. The EXOR 13 outputs a pulse only when an edge (a transition from a high level to a low level or a transition from a low level to a high level) occurs in the input signal.
P has a DC component proportional to not only the phase difference but also the edge density.
【0005】CLKの立ち上がりとDinのエッジが一致
する位相関係を基準(ゼロ)とした場合のDinとCLK
との位相差をφ(ラジアン)、入力信号Dinのエッジ密
度係数(入力データDinのエッジ数/クロックCLKの
エッジ数)をDFとすると、位相比較信号VPの直流成
分は、ハイレベルとローレベルの差電圧を単位電圧とし
て、 VP=φ・DF (1) のように表される。ここで、0<φ<2πであり、0<
DF<0.5である。Din and CLK when the phase relationship where the rising edge of CLK coincides with the edge of Din are set as a reference (zero).
When the phase difference phi (radian), the edge density coefficients of the input signal Din (the number of edge edges number / clock CLK of the input data Din) and DF of the DC component of the phase comparison signal V P has a high level low Using the level difference voltage as a unit voltage, V P = φ · DF (1) Here, 0 <φ <2π, and 0 <
DF <0.5.
【0006】一方、D−FF9によりリタイミングされ
た信号はD−FF10にも入力され、バッファ6の反転
CLK出力によりもう一度リタイミングされる。D−F
F9の出力とD−FF10の出力はEXOR14の入力
に接続される。EXOR14に入力される2信号はいず
れもVCO4の出力によりリタイミングされているの
で、EXOR14の出力(エッジ密度信号16)VEの
パルス幅はDinとCLKとの位相差に無関係に一定(C
LKのデューテイが正確に50%である場合にはクロッ
ク周期の半分)となる。On the other hand, the signal retimed by the D-FF 9 is also input to the D-FF 10 and re-timed again by the inverted CLK output of the buffer 6. DF
The output of F9 and the output of D-FF10 are connected to the input of EXOR14. Since the two signals inputted to EXOR14 is retimed by the output of the VCO4 any, constant regardless of the pulse width of the output (edge density signal 16) V E of EXOR14 to the phase difference between Din and CLK (C
If the duty of LK is exactly 50%, the clock cycle is half).
【0007】EXOR14はEXOR13と同様に入力
信号にエッジが生じた時にのみパルスを出力するので、
VEはエッジ密度に比例した直流成分を持つ。CLKの
デューテイが正確に50%である場合、エッジ密度信号
VEの直流成分は、 VE=π・DF (2) のように表される。加算器19は位相比較信号VPとエ
ッジ密度信号VEとを入力し、その差の電圧を出力す
る。(1)、(2)式より加算器19の出力VPEの直
流成分は、 VPE=(φ−π)・DF (3) のように表される。加算器19の出力VPEはループフ
ィルタ3を通過することにより帯域を制限された後、V
CO4に送出される。VCO4の出力はクロック出力端
子5に接続されると同時に、位相比較器2に戻されるこ
とにより、DinとCLKとの間で位相同期が成立する。The EXOR 14 outputs a pulse only when an edge occurs in the input signal, similarly to the EXOR 13.
VE has a DC component proportional to the edge density. If the duty of the CLK is exactly 50%, the DC component of the edge density signal V E is expressed as V E = π · DF (2 ). The adder 19 receives the phase comparison signal VP and the edge density signal VE and outputs a voltage corresponding to the difference. From the equations (1) and (2), the DC component of the output VPE of the adder 19 is expressed as follows: VPE = (φ−π) · DF (3) After the output VPE of the adder 19 is band-limited by passing through the loop filter 3,
Sent to CO4. The output of the VCO 4 is connected to the clock output terminal 5 and returned to the phase comparator 2 at the same time, whereby the phase synchronization is established between Din and CLK.
【0008】ロック状態では、VCO4はほぼ一定周波
数で発振するため加算器19の出力VPEの直流成分
((3)式)はほぼ一定となる。この条件でエッジ密度係
数DFが変化すると、VPEを一定とするようにφが変
化してロック状態を維持することになる。すなわち、φ
はDFによって変調を受けることになる。唯一、φがD
Fの影響を受けないのはφ=πの場合である。φ=πの
場合でロック状態が実現している場合は、DFが変化し
てもφはその値を変化することがない。[0008] In the locked state, the DC component of the output V PE of the adder 19 to oscillate at a substantially constant frequency VCO4
(Equation (3)) is almost constant. When the edge density coefficient DF changes under this condition, φ changes so as to keep VPE constant, and the locked state is maintained. That is, φ
Will be modulated by the DF. Only φ is D
F is not affected when φ = π. When the lock state is realized when φ = π, φ does not change its value even if DF changes.
【0009】なお、リタイミングされたデータが必要な
場合には、D−FF9の出力あるいはD−FF10の出
力を使用すれば良い。図8では、D−FF10の出力を
Doutとしデータ出力端子34に接続して外部に送出す
る構成としている。When the retimed data is required, the output of the D-FF 9 or the output of the D-FF 10 may be used. In FIG. 8, the output of the D-FF 10 is set to Dout, connected to the data output terminal 34, and transmitted to the outside.
【0010】図9は従来のクロック再生回路の動作を示
す波形図である。入力端子1に与えられる(a)に示すDi
n信号を(b)に示すCLK信号によりD−FF9によりリ
タイミングして(c)に示す信号11を得、(a)に示すDin
信号とリタイミングされた(c)に示す信号からEXOR
13により(f)に示す位相比較信号15(=VP)が得
られる。また、リタイミングされた(c)に示す信号11
を(d)に示す反転CLK信号によってD−FF10によ
りさらにリタイミングして(e)に示す信号12を得、こ
られの信号(c)と(e)からEXOR14により(g)に示す
エッジ密度信号16(=VE)が得られる。(f)に示す
位相比較信号と(g)に示すエッジ密度信号との差(=V
P−VE)が加算器19の(h)に示す出力17(=V
PE)となる。FIG. 9 is a waveform diagram showing the operation of the conventional clock recovery circuit. Di shown in (a) given to input terminal 1
The n signal is retimed by the D-FF 9 by the CLK signal shown in (b) to obtain the signal 11 shown in (c), and the Din shown in (a)
EXOR from the signal shown in FIG.
Phase comparison signal 15 shown in (f) by 13 (= V P) is obtained. Also, the signal 11 shown in FIG.
Is further retimed by the D-FF 10 using the inverted CLK signal shown in (d) to obtain the signal 12 shown in (e). The edge density shown in (g) by EXOR 14 from these signals (c) and (e) signal 16 (= V E) is obtained. The difference between the phase comparison signal shown in (f) and the edge density signal shown in (g) (= V
P− V E ) is the output 17 (= V) shown in (h) of the adder 19.
PE ).
【0011】図9(I)はCLK信号の位相がDin信号
に対して進んでいる場合(0<φ<π)の動作であり、
位相比較信号(f)のパルス幅はエッジ密度信号(g)のパル
ス幅よりも短く、加算器19の出力VPEの直流成分は
負となる。図9(III)はCLK信号の位相がDin信号
に対して遅れている場合(π<φ<2π)の動作であ
り、位相比較信号(f)のパルス幅はエッジ密度信号(g)の
パルス幅よりも長く、加算器19の出力VPEの直流成
分は正となる。図9(II)はCLK信号とDin信号との
位相関係が最適の場合(φ=π)の動作である。FIG. 9I shows the operation when the phase of the CLK signal is ahead of the Din signal (0 <φ <π).
The pulse width of the phase comparison signal (f) is shorter than the pulse width of the edge density signal (g), and the DC component of the output VPE of the adder 19 becomes negative. FIG. 9 (III) shows the operation when the phase of the CLK signal lags behind the Din signal (π <φ <2π), and the pulse width of the phase comparison signal (f) is the pulse of the edge density signal (g). It is longer than the width, and the DC component of the output VPE of the adder 19 is positive. FIG. 9 (II) shows the operation when the phase relationship between the CLK signal and the Din signal is optimal (φ = π).
【0012】最適な位相関係とは、D−FF9において
CLK信号の立ち上がりでDin信号のちょうど中央を打
ち抜く位相関係のことであり、D−FF9にとって最も
位相余裕が大きい位相関係であるからである。この場
合、位相比較信号(f)のパルス幅はエッジ密度信号(g)の
パルス幅に一致しており、加算器19の出力の直流成分
はゼロとなる。これは(3)式においてφ=πとした結
果と一致する。The optimal phase relationship is a phase relationship in which the D-FF 9 punches out the center of the Din signal at the rising edge of the CLK signal, and has the largest phase margin for the D-FF 9. In this case, the pulse width of the phase comparison signal (f) matches the pulse width of the edge density signal (g), and the DC component of the output of the adder 19 becomes zero. This agrees with the result of setting φ = π in equation (3).
【0013】図10は位相比較器2の位相比較特性(D
in−CLKの位相差φと、加算器19の出力VPEの平
均電圧との関係)である。入力データDinのエッジ密度
係数DFを0.5と0.25の場合について示した。DFの値
は、Dinが0/1交番信号の場合に最高のDF=0.5とな
り、PN(疑似ノイズ)信号や通常のデータ伝送の場合
にDF<0.5となる。FIG. 10 shows a phase comparison characteristic (D
(Relationship between phase difference φ of in-CLK and average voltage of output VPE of adder 19). The case where the edge density coefficient DF of the input data Din is 0.5 and 0.25 is shown. The maximum value of DF is DF = 0.5 when Din is a 0/1 alternating signal, and DF <0.5 in the case of PN (pseudo noise) signal or normal data transmission.
【0014】すでに説明したように、クロック再生回路
の運用中(ロック時)には加算器19の出力VPEの平
均電圧はほぼ一定に保たれるので、運用中にDFの値が
変化した場合、Din−CLKの位相差φが影響を受けそ
の値を変化させることになる。この時、Din−CLKの
位相差φそれ自身の値によってその影響の受け方の度合
いが異なる。(II)に示すようにφがπに近い場合に
は、φはDFの値の変化による影響を受けにくく、φが
πの場合には影響がなくなる。一方、φがπから大きく
外れると大きな影響を受けることになる。すなわち、D
in−CLKの位相関係の最適点(II)は、D−FF9に
おけるCLKによるDin打ち抜きの位相余裕が最大であ
る意味で最適であるのに加え、φがDFの影響を受けな
い唯一の位相関係である意味でも最適であると言うこと
ができる。また、加算器19の出力VPEの平均電圧
も、DFの影響を受けないのは、最適点(II)のみであ
る。As described above, the average voltage of the output VPE of the adder 19 is kept substantially constant during the operation of the clock recovery circuit (at the time of locking). , Din-CLK is affected and changes its value. At this time, the degree of the influence depends on the value of the phase difference φ of Din-CLK itself. As shown in (II), when φ is close to π, φ is hardly affected by a change in the value of DF, and is not affected when φ is π. On the other hand, if φ deviates significantly from π, it will be greatly affected. That is, D
The optimum point (II) of the phase relationship of in-CLK is optimal in the sense that the phase margin of Din punching by CLK in the D-FF 9 is the maximum, and in addition, φ is the only phase relationship that is not affected by the DF. Can be said to be optimal in some sense. Also, the average voltage of the output V PE of the adder 19 is also not affected by the DF is only optimal point (II).
【0015】図11はVCO4の自走周波数と加算器1
9の出力VPEの平均電圧との関係を示す図である。ロ
ック状態での傾きが負であるが、これは同じビットレー
トに対して自走周波数が高い方向にシフトした場合に、
加算器19の出力VPEの平均電圧が低くなることによ
りロック状態を維持することを意味している。上述の通
りDFの影響を受けない加算器19の出力VPEの平均
電圧はポイント(最適点(II))でしか存在しないた
め、DFの影響を受けないVCO4の自走周波数もポイ
ント(ロックレンジの中央)でしか存在しない。FIG. 11 shows the free-running frequency of the VCO 4 and the adder 1
9 is a diagram illustrating a relationship between an output VPE and an average voltage of the output VPE . The slope in the locked state is negative, but this means that when the free-running frequency shifts to a higher direction for the same bit rate,
The lock state is maintained by reducing the average voltage of the output VPE of the adder 19. Since the average voltage of the output V PE of the adder 19 is not affected as described above DF exist only at the point (optimal point (II)), VCO 4 free running frequency also point which is not influenced by the DF (lock range Only in the center).
【0016】[0016]
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
図8に示す従来のクロック再生回路では、位相比較特性
がDFの影響を受けないVCO4の自走周波数は、ポイ
ントでしか存在しない。仮にVCO4の自走周波数がこ
の最適点(II)よりも高い(I)となった場合を考える
(図11)。すると加算器19の出力VPEの平均電圧
はその値を下げることにより同期状態を維持する。この
結果、図10に(I)として示すように、Din−CLK
の位相差φはDFの値によって大きく変化を受けること
になる。これは、D−FF9、D−FF10の打ち抜き
タイミングがDFにより大きく変調を受けることを意味
する。As described above,
In the conventional clock recovery circuit shown in FIG. 8, the free-running frequency of the VCO 4 whose phase comparison characteristic is not affected by the DF exists only at points. Consider a case where the free-running frequency of the VCO 4 becomes higher (I) than the optimum point (II) (FIG. 11). Then the average voltage of the output V PE of the adder 19 to maintain synchronization state by lowering its value. As a result, as shown as (I) in FIG.
Is greatly affected by the value of DF. This means that the punching timing of the D-FF 9 and D-FF 10 is greatly modulated by the DF.
【0017】この結果、再生されるクロックCoutの位
相がDFによって変調されてしまうのに加え、リタイミ
ングされた再生データDoutの位相も同様にDFによっ
て変調されてしまう。このように、DFによりCoutの
位相やDoutの位相が変調されると、ジッタの新たな発
生や入力データDinに含まれるジッタに対する耐力の低
下の問題を引き起こす。また、DFの違いによりロック
レンジやプルインレンジがシフトするため、特定の範囲
のDFに対してしか十分なプルインレンジが得られな
い。As a result, in addition to the phase of the reproduced clock Cout being modulated by the DF, the phase of the retimed reproduced data Dout is similarly modulated by the DF. When the DF modulates the phase of Cout or the phase of Dout in this way, it causes problems such as new generation of jitter and reduction in tolerance to jitter included in the input data Din. Further, since the lock range and the pull-in range are shifted due to the difference in the DF, a sufficient pull-in range can be obtained only for the DF in a specific range.
【0018】以上の問題を回避するためには、VCO4
の自走周波数を最適点に調整しておく必要があり、かつ
VCO4の自走周波数が経年変化や環境変化(温度変
化、電源電圧変動、入力データ振幅など)の影響を受け
ないように補償手段を備える必要がある。しかしなが
ら、VCOの出荷時の個別調整は莫大な稼動を必要とす
るのに加え、VCO4の自走周波数の経年変化を補償す
ることは現実的には困難である。In order to avoid the above problems, VCO4
It is necessary to adjust the free-running frequency of the VCO 4 to the optimum point, and to compensate for the free-running frequency of the VCO 4 not being affected by aging or environmental changes (temperature change, power supply voltage fluctuation, input data amplitude, etc.) It is necessary to provide. However, individual adjustment at the time of shipment of the VCO requires enormous operation, and it is practically difficult to compensate for the secular change of the free-running frequency of the VCO 4.
【0019】さらに、VCO4の自走周波数を最適点に
調整しておいた場合であっても、図10に示すように位
相比較特性がDF依存性を持つことは、位相同期回路の
ループ利得がDF依存性を持つことを意味する。ループ
利得は、ジッタ伝達などのジッタ特性に大きく影響を及
ぼすため、システム要求を満足するように最適値に設計
しておく必要がある。ループ利得の最適化設計を特定の
DFに対して行うと、別のDF値に対するループ利得が
最適値から外れる結果となり、特定の範囲外のDFを持
つデータが入力された場合に、ジッタ特性がシステム要
求値を満足できない可能性が発生する。Further, even when the free-running frequency of the VCO 4 is adjusted to the optimum point, the fact that the phase comparison characteristic has the DF dependence as shown in FIG. It has DF dependency. Since the loop gain greatly affects jitter characteristics such as jitter transmission, it is necessary to design the loop gain to an optimum value so as to satisfy system requirements. If the loop gain optimization design is performed for a specific DF, the loop gain for another DF value will deviate from the optimum value, and if data having a DF outside the specific range is input, the jitter characteristic will be reduced. There is a possibility that the system requirements cannot be satisfied.
【0020】本発明の目的は、位相比較特性が入力デー
タパタンの影響を受けないようにして、エッジ密度係数
の変化による性能劣化を抑えることができるようにした
クロック再生回路を提供することである。An object of the present invention is to provide a clock recovery circuit in which a phase comparison characteristic is not affected by an input data pattern, and performance degradation due to a change in an edge density coefficient can be suppressed. .
【0021】[0021]
【課題を解決するための手段】このために第1の発明
は、電圧によって発振周波数を制御される電圧制御発振
器と、入力端子からの入力信号に対する前記電圧制御発
振器の出力信号の位相差を検出しこの位相差に比例した
直流電圧成分を含む位相比較信号VPと前記入力信号の
エッジ密度を検出しこのエッジ密度に比例した直流電圧
成分を含むエッジ密度信号VEとを出力する位相比較器
と、αを任意定数とし、前記位相比較信号VPと前記エ
ッジ密度信号VEとを入力し、α(VP−VE)/VE
を出力する演算回路と、前記演算回路の出力信号から所
定の帯域以下の成分を取り出し、前記電圧制御発振器に
制御電圧として印加するループフィルタとを備え、前記
電圧制御発振器の出力信号から再生クロックを得るよう
構成した。According to a first aspect of the present invention, a voltage controlled oscillator whose oscillation frequency is controlled by a voltage and a phase difference between an output signal of the voltage controlled oscillator and an input signal from an input terminal are detected. detecting an edge density of the phase comparison signal V P and the input signal containing a DC voltage component proportional to the phase difference of Sico phase comparator for outputting an edge density signal V E containing a DC voltage component proportional to this edge density When the alpha and arbitrary constants, enter the said phase comparison signal V P and the edge density signal V E, α (V P -V E) / V E
And a loop filter that extracts a component below a predetermined band from the output signal of the arithmetic circuit and applies the component as a control voltage to the voltage-controlled oscillator, and generates a reproduction clock from the output signal of the voltage-controlled oscillator. It was configured to obtain.
【0022】第2の発明は、第1の発明において、前記
演算回路は、前記αを決める抵抗器群と、前記(VP−
VE)/VEの演算を行う差動増幅器及び乗算器とから
構成されるようにした。In a second aspect based on the first aspect, the arithmetic circuit includes a resistor group for determining the α and the (V P −
V E ) / V E , and a differential amplifier and a multiplier.
【0023】第3の発明は、電圧によって発振周波数を
制御される電圧制御発振器と、入力端子からの入力信号
に対する前記電圧制御発振器の出力信号の位相差を検出
しこの位相差に比例した直流電圧成分を含む位相比較信
号VPと前記入力信号のエッジ密度を検出しこのエッジ
密度に比例した直流電圧成分を含むエッジ密度信号V E
とを出力する位相比較器と、前記位相比較器が基準とな
るエッジ密度の入力信号が入力された場合に出力するエ
ッジ密度信号VEと同じ直流成分をもつ基準エッジ密度
信号VE0を発生する基準電圧発生器と、αを任意定数
とし、前記位相比較信号VPと前記エッジ密度信号VE
と前記基準エッジ密度信号VE0とを入力し、α(VP
−VE)(VE0/VE)を出力する演算回路と、前記演
算回路の出力信号から所定の帯域以下の成分を取り出
し、前記電圧制御発振器に制御電圧として印加するルー
プフィルタとを備え、前記電圧制御発振器の出力信号か
ら再生クロックを得るよう構成した。According to a third aspect of the present invention, the oscillation frequency is changed by a voltage.
Controlled voltage controlled oscillator and input signal from input terminal
The phase difference of the output signal of the voltage controlled oscillator with respect to
Phase comparison signal containing a DC voltage component proportional to the phase difference.
No. VPAnd the edge density of the input signal
Edge density signal V including DC voltage component proportional to density E
And a phase comparator that outputs
Output when an input signal with a different edge density is input.
Edge density signal VEReference edge density with the same DC component as
Signal VE0Reference voltage generator that generates
And the phase comparison signal VPAnd the edge density signal VE
And the reference edge density signal VE0And α (VP
-VE) (VE0/ VE) And an arithmetic circuit for outputting
Extracts components below a specified band from the output signal of the arithmetic circuit
And a loop for applying a control voltage to the voltage-controlled oscillator.
A filter, wherein the output signal of the voltage-controlled oscillator is
It is configured to obtain a reproduction clock from the same.
【0024】第4の発明は、第3の発明において、前記
演算回路は、前記αを決める抵抗器群と、前記(VP−
VE)(VE0/VE)の演算を行う差動増幅器及び乗算
器とから構成されるようにした。[0024] A fourth aspect based on the third aspect, the arithmetic circuit includes a resistor group for determining the alpha, the (V P -
V E ) (V E0 / V E ) and a differential amplifier and a multiplier.
【0025】第5の発明は、電圧によって発振周波数を
制御される電圧制御発振器と、入力端子からの入力信号
に対する前記電圧制御発振器の出力信号の位相差を検出
しこの位相差に比例した直流電圧成分を含む位相比較信
号VPと前記入力信号のエッジ密度を検出しこのエッジ
密度に比例した直流電圧成分を含むエッジ密度信号V E
とを出力する位相比較器と、αを任意定数とし、前記位
相比較信号VPと前記エッジ密度信号VEとを入力し、
α(VP/VE)を出力する演算回路と、前記演算回路
の出力信号から所定の帯域以下の成分を取り出し、前記
電圧制御発振器に制御電圧として印加するループフィル
タとを備え、前記電圧制御発振器の出力信号から再生ク
ロックを得るよう構成した。According to a fifth aspect of the present invention, the oscillation frequency is changed by a voltage.
Controlled voltage controlled oscillator and input signal from input terminal
The phase difference of the output signal of the voltage controlled oscillator with respect to
Phase comparison signal containing a DC voltage component proportional to the phase difference.
No. VPAnd the edge density of the input signal
Edge density signal V including DC voltage component proportional to density E
, And α is an arbitrary constant.
Phase comparison signal VPAnd the edge density signal VEAnd enter
α (VP/ VEAnd an arithmetic circuit for outputting the arithmetic circuit
Take out components below a predetermined band from the output signal of
Loop fill applied as control voltage to voltage controlled oscillator
A regeneration clock based on the output signal of the voltage controlled oscillator.
It was configured to get a lock.
【0026】第6の発明は、第5の発明において、前記
演算回路は、前記αを決める抵抗器群と、前記(VP/
VE)の演算を行う差動増幅器及び乗算器とから構成さ
れるようにした。[0026] A sixth aspect of the fifth invention, the arithmetic circuit includes a resistor group for determining the alpha, the (V P /
V E ), and a differential amplifier and a multiplier.
【0027】[0027]
【発明の実施の形態】本発明のクロック再生回路は、従
来のクロック再生回路において減算を行う加算器を、除
算を含む演算回路に置き換えることを最も主要な特徴と
する。従来のクロック再生回路は加算器により位相比較
信号VPとエッジ密度信号VEとの減算を行うことによ
り、加算器19の出力VPEにおいて位相比較情報を取
り出すのに対して、本発明のクロック再生回路は除算を
含む演算回路により位相比較信号VPとエッジ密度信号
VEとの除算を行うことにより、演算回路の出力におい
てエッジ密度情報を完全に相殺し位相比較情報のみを取
り出すことが異なる。BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION A clock recovery circuit according to the present invention is most characterized in that an adder for performing subtraction in a conventional clock recovery circuit is replaced with an arithmetic circuit including division. By performing subtraction between the phase comparison signal V P and edge density signal V E by the conventional clock recovery circuit adder for taking out the phase comparison information at the output V PE of the adder 19, the clock of the present invention by performing the division between the phase comparison signal V P and edge density signal V E by the arithmetic circuit recovery circuit including a division, be taken only completely offset phase comparison information edge density information different in the output of the arithmetic circuit .
【0028】従来のクロック再生回路では、Din−CL
Kの位相差φがπの場合においてのみ、エッジ密度情報
を完全に相殺できるのに対して、φがπから外れると加
算器19の出力VPEにエッジ密度係数DFがリークし
てしまう。このようなエッジ密度係数DFのリークは、
エッジ密度係数DFの変化(データパタンの変化)によ
るロックレンジ及びプルインレンジの変化、ジッタ発
生、ジッタ耐力劣化の原因となる。本発明はこのような
エッジ密度係数DFの変化による性能劣化を抑えるため
になされたものであり、除算を含む演算回路の適用によ
り、Din−CLKの位相差φがπから外れた場合におい
ても演算回路の出力にエッジ密度係数がリークすること
がない。In the conventional clock recovery circuit, Din-CL
In the case of the phase difference K phi is π only the edge density information to be able fully offset, the output V PE to edge density factor DF of phi is the out of the π adder 19 leaks. Such a leak of the edge density coefficient DF is as follows.
Changes in the lock range and pull-in range due to a change in the edge density coefficient DF (changes in the data pattern), jitter generation, and jitter tolerance deterioration are caused. The present invention has been made in order to suppress the performance degradation due to such a change in the edge density coefficient DF. By applying an arithmetic circuit including division, even if the phase difference φ of Din-CLK deviates from π, the calculation is performed. The edge density coefficient does not leak to the output of the circuit.
【0029】[第1の実施の形態]図1は本発明の第1
の実施の形態のクロック再生回路を示す図である。本実
施の形態は、位相比較器2、ループフィルタ3、VCO
4、演算回路20aから構成される。位相比較器2は位
相差に比例した直流電圧成分を含む信号を出力する機能
を有する。入力データDinはデータ入力端子1を経由し
てD−FF9に入力される。また、VCO4の出力信号
はバッファ6を経由してD−FF9をトリガする。[First Embodiment] FIG. 1 shows a first embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a diagram illustrating a clock recovery circuit according to the embodiment. In the present embodiment, the phase comparator 2, the loop filter 3, the VCO
4. It is composed of an arithmetic circuit 20a. The phase comparator 2 has a function of outputting a signal including a DC voltage component proportional to the phase difference. The input data Din is input to the D-FF 9 via the data input terminal 1. The output signal of the VCO 4 triggers the D-FF 9 via the buffer 6.
【0030】これにより入力データDinがクロックCL
Kによりリタイミングされた信号がD−FF9の出力に
現れる。Dinとリタイミングされた信号とはEXOR1
3入力に接続される。EXOR13はDinとCLKとの
位相差に比例したパルス幅を持つ信号(位相比較信号1
5)VPを出力することになる。すでに述べたように、
CLKの立ち上がりとDinのエッジが一致する位相関係
を基準(ゼロ)とした場合のDinとCLKとの位相差を
φ(ラジアン)、入力信号のエッジ密度係数(入力デー
タDinのエッジ数/クロックCLKのエッジ数)をDF
とすると、位相比較信号VPの直流成分は前記した
(1)式で表される。As a result, the input data Din becomes the clock CL
The signal retimed by K appears at the output of D-FF9. Din and the retimed signal are EXOR1
Connected to 3 inputs. The EXOR 13 outputs a signal having a pulse width proportional to the phase difference between Din and CLK (the phase comparison signal 1).
5) will be output V P. As already mentioned,
The phase difference between Din and CLK when the rising edge of CLK coincides with the edge of Din as a reference (zero) is φ (radian), the edge density coefficient of the input signal (the number of edges of input data Din / clock CLK Number of edges)
When the DC component of the phase comparison signal V P is expressed by the above equation (1).
【0031】一方、D−FF9によりリタイミングされ
た信号はD−FF10にも入力され、バッファ6の反転
CLK出力によりもう一度リタイミングされる。D−F
F9の出力とD−FF10の出力はEXOR14の入力
に接続される。EXOR14に入力される2信号はいず
れもVCO4の出力によりリタイミングされているの
で、EXOR14の出力(エッジ密度信号16)VEの
パルス幅はDinとCLKとの位相差に無関係に一定(C
LKのデューテイが正確に50%である場合にはクロッ
ク周期の半分)となる。On the other hand, the signal retimed by the D-FF 9 is also input to the D-FF 10 and re-timed again by the inverted CLK output of the buffer 6. DF
The output of F9 and the output of D-FF10 are connected to the input of EXOR14. Since the two signals inputted to EXOR14 is retimed by the output of the VCO4 any, constant regardless of the pulse width of the output (edge density signal 16) V E of EXOR14 to the phase difference between Din and CLK (C
If the duty of LK is exactly 50%, the clock cycle is half).
【0032】EXOR14はEXOR13と同様に入力
信号にエッジが生じた時にのみパルスを出力するので、
VEはエッジ密度に比例した直流成分を持つ。CLKの
デューテイが正確に50%である場合、エッジ密度信号
VEの直流成分は前記した(2)式で表される。The EXOR 14 outputs a pulse only when an edge occurs in the input signal, similarly to the EXOR 13.
VE has a DC component proportional to the edge density. If the duty of the CLK is exactly 50%, the DC component of the edge density signal V E is expressed by the above equation (2).
【0033】演算回路20aは、位相比較器2の位相比
較信号VP及びエッジ密度信号VEを入力し、 VPE=α(VP−VE)/VE (4) で表される直流成分を持つ信号VPEを出力する。ここ
で、αは任意定数である。位相比較較信号VPは前記
(1)式でされ、エッジ密度信号VEは前記(2)式で
表されるので、これらを代入すると(4)式は VPE=(α/π)(φ−π) (5) で表される。[0033] DC operation circuit 20a, which inputs a phase comparison signal V P and edge density signal V E of the phase comparator 2 is represented by V PE = α (V P -V E) / V E (4) A signal VPE having a component is output. Here, α is an arbitrary constant. The phase comparator較信No. V P is in the (1), since the edge density signal V E is expressed by the equation (2), Substituting these (4) is V PE = (α / π) ( φ-π) (5)
【0034】すでに説明したように、従来のクロック再
生回路においては、加算器19の出力VPEにはエッジ
密度係数DFが含まれる((3)式)ため、位相差φがπ
から外れた場合には位相比較特性はDFの影響を受けて
いた。このようなエッジ密度情報のリークは、エッジ密
度係数DFの変化(データパタンの変化)によるロック
レンジ及びプルインレンジの変化、ジッタ発生、ジッタ
耐力劣化の原因となっていた。As described above, in the conventional clock recovery circuit, since the output density VPE of the adder 19 includes the edge density coefficient DF (Equation (3)), the phase difference φ becomes π.
In the case where it deviates from the above, the phase comparison characteristic was affected by the DF. Such a leak of the edge density information causes a change in the lock range and the pull-in range due to a change in the edge density coefficient DF (a change in the data pattern), generation of jitter, and deterioration of jitter tolerance.
【0035】これに対して、本実施形態の演算回路20
aの出力VPEにはDFが含まれない((5)式)ため、
位相差φが0から2πまでのいずれの値をとった場合で
も、位相比較特性はDFの影響を受けない。従って、演
算回路20aの出力VPEにはエッジ密度情報のリーク
がないため、エッジ密度係数DFの変化(データパタン
の変化)によるロックレンジ及びプルインレンジの変化
が抑圧され、ジッタ発生、ジッタ耐力劣化を防ぐことが
できる。On the other hand, the arithmetic circuit 20 of the present embodiment
Since the output VPE of a does not include DF (Equation (5)),
Even when the phase difference φ takes any value from 0 to 2π, the phase comparison characteristic is not affected by the DF. Accordingly, the output V PE of the arithmetic circuit 20a because there is no leakage of the edge density information is suppressed change in the lock range and the pull-in range due to the change of the edge density factor DF (changes in data patterns) are jitter generation, jitter tolerance degradation Can be prevented.
【0036】図2は位相比較器2の位相比較特性(Din
−CLKの位相差φと、演算回路20aの出力VPEの
平均電圧との関係)である。入力データDinのエッジ密
度係数(DF)を0.5と0.25の場合について示した。ク
ロック再生回路の運用中(ロック時)には演算回路20
aの出力の平均電圧はほぼ一定に保たれるので、従来の
クロック再生における位相比較特性(図10)では、運
用中にDFの値が変化した場合、Din−CLKの位相差
φが影響を受けその値を変化させていた。φがπから大
きく外れるほど、大きな影響を受けていた。これに対し
て、本実施形態のクロック再生回路では、運用中にDF
の値が変化しても、Din−CLKの位相差φが影響を受
けず一定であり、φがπから大きく外れた状態でクロッ
ク再生回路が同期状態を保っている場合であっても、影
響を受けることはない。FIG. 2 shows the phase comparison characteristic (Din
And the phase difference φ of -CLK, a relationship) between the average voltage at the output V PE of the arithmetic circuit 20a. The case where the edge density coefficient (DF) of the input data Din is 0.5 and 0.25 is shown. While the clock recovery circuit is operating (at the time of locking), the arithmetic circuit 20
Since the average voltage of the output of a is kept substantially constant, the phase difference φ of Din-CLK has an effect on the phase comparison characteristic (FIG. 10) in the conventional clock recovery when the value of DF changes during operation. The value was changed. The larger the φ deviated from π, the greater the effect. On the other hand, in the clock recovery circuit of the present embodiment, the DF
, The phase difference φ of Din-CLK is not affected and is constant, and even if the clock recovery circuit keeps the synchronized state with φ largely deviating from π, I do not receive.
【0037】すなわち、従来のクロック再生回路では、
φがπ近くの値をとるようにVCO4の自走周波数を精
度よく調整する必要があり、自走周波数をドリフトさせ
る温度変化や経年変化や電源電圧変動を抑える必要があ
ったが、本実施形態のクロック再生回路ではφがπから
外れても性能劣化を引き起こさないため、VCO4の自
走周波数を精度よく調整する必要がなく、自走周波数を
ドリフトさせる温度変化や経年変化や電源電圧変動に対
しても許容範囲を緩和させることが可能となるのであ
る。That is, in the conventional clock recovery circuit,
It is necessary to precisely adjust the free-running frequency of the VCO 4 so that φ takes a value close to π, and it is necessary to suppress a temperature change, a secular change, and a power supply voltage fluctuation that cause the free-running frequency to drift. Clock recovery circuit does not cause performance degradation even if φ deviates from π, so it is not necessary to adjust the free-running frequency of VCO4 with high accuracy. Even so, it is possible to relax the allowable range.
【0038】図3は本発明の第1の実施の形態における
演算回路20aの1つの具体的な回路20bを与えるも
のである。図3における演算回路20bは、差動増幅器
5l、乗算器52、抵抗値R1の抵抗器53,54、抵
抗値R2の抵抗器55,56から構成されている。以
降、演算回路20bの入出力関係、すなわち位相比較信
号VP、エッジ密度信号VE、演算回路20bの出力V
PEの関係を説明する。FIG. 3 shows one specific circuit 20b of the arithmetic circuit 20a according to the first embodiment of the present invention. The arithmetic circuit 20b in FIG. 3 includes a differential amplifier 51, a multiplier 52, resistors 53 and 54 having a resistance value R1, and resistors 55 and 56 having a resistance value R2. Thereafter, the input-output relationship of the arithmetic circuit 20b, that is, the phase comparison signal V P, edge density signal V E, the output V of the arithmetic circuit 20b
The relationship between PEs will be described.
【0039】比例係数をK(任意定数)とすると、乗算
器52の出力VMは、 VM=K・VPE・VE (6) で表される。一方、差動増幅器5lの正入力端子(+)
の電圧VINPは抵抗器54と抵抗器56の電圧分割に
より、 VINP=(VE−0)(R2/(Rl+R2))+0 (7) で与えられる。また、差動増幅器5lの負入力端子
(−)の電圧VINMは抵抗器53と抵抗器55の電圧
分割により、 VINM=(VP−VM)(R2/(Rl+R2))+VM (8) で与えられる。差動増幅器5lの利得が十分に大きいと
仮定すると、閉ループ差動増幅器の入力間には仮想短絡
(バーチャルショート)の性質が表れ、 VINP=VINM (9) となる。よって、(7),(8),(9)式より、乗算
器52の出力VMは、 VM=−(R2/R1)(VP−VE) (10) で表される。(6),(10)式は同じノードの電圧を
表すので一致する必要がある。この条件より、演算回路
20bの出力VPEは、 VPE=−(R2/R1)(1/K)(VP−VE)/VE (11) で与えられる。[0039] When the proportional coefficient a K (arbitrary constant), the output V M of the multiplier 52 is expressed by V M = K · V PE · V E (6). On the other hand, the positive input terminal (+) of the differential amplifier 5l
The voltage V INP the voltage division between the resistor 54 resistor 56 is given by V INP = (V E -0) (R2 / (Rl + R2)) + 0 (7). The negative input terminal of the differential amplifier 5l (-) by the voltage division of the voltage V INM resistor 53 and the resistor 55, V INM = (V P -V M) (R2 / (Rl + R2)) + V M ( 8) given by Assuming that the gain of the differential amplifier 51 is sufficiently large, the nature of virtual short-circuit (virtual short) appears between the inputs of the closed-loop differential amplifier, and V INP = V INM (9). Therefore, (7), (8) and (9), the output V M of the multiplier 52, V M = - represented by (R2 / R1) (V P -V E) (10). Equations (6) and (10) represent the voltage at the same node and therefore need to match. From this condition, the output V PE arithmetic circuit 20b, V PE = - given by (R2 / R1) (1 / K) (V P -V E) / V E (11).
【0040】(11)式によって与えられる演算回路2
0bの出力VPEの表式は、α=−(R2/R1)(1/
K)と定義すれば(4)式と一致する。すなわち、図3
に示す演算回路20bは本発明の第1の実施の形態にお
ける演算回路20aの実現例の一つとなっている。ここ
で、αの符号は上記の例では負になっているが、乗算器
52、差動増幅器51の接続の極性、VCO4の変調極
性等により変化するものであるので、現実の回路におい
てはトータルとして位相同期が成立する極性を選べば良
い。Operation circuit 2 given by equation (11)
Expression for the output V PE = 0b is, α = - (R2 / R1 ) (1 /
Defining as K) matches equation (4). That is, FIG.
The operation circuit 20b shown in FIG. 7 is one of the examples of realization of the operation circuit 20a in the first embodiment of the present invention. Here, although the sign of α is negative in the above example, it changes depending on the polarity of the connection between the multiplier 52 and the differential amplifier 51, the modulation polarity of the VCO 4, and the like. What is necessary is just to select the polarity which establishes phase synchronization.
【0041】なお、位相比較器2の構成は図1の構成に
限られない。すなわち、D−FF10を遅延回路で実現
することもできるし(参考文献:C.R.Hogge,JR.,"A Sel
f Correcting Clock Recovery Circuit",Journal of Li
ghtwave Tech.,vol.LT-3,no.6,1985,p1323)、さらにそ
の遅延回路にはD−FF9の出力の代わりにDinを直接
入力するようにしてもよい。また、EXOR13、EX
OR14を論理積ゲート35,36に変更(参考文献:
特開2000-68991)しバッファ39を追加した位相比較器
40(図12)を本発明の位相比較器として使用しても
同様の効果が得られる。すなわち、図12の位相比較器
40を使用したクロック再生回路においても、位相比較
特性がDFの影響を受けないVCO4の自走周波数はポ
イントでしか存在しないという問題を有するが、この位
相比較器40を第1の実施の形態の位相比較器2として
適用するすることで、DFの影響を受けない位相比較特
性を実現することができる。The configuration of the phase comparator 2 is not limited to the configuration shown in FIG. That is, the D-FF 10 can be realized by a delay circuit (see Reference: CRHogge, JR., "A Sel
f Correcting Clock Recovery Circuit ", Journal of Li
ghtwave Tech., vol. LT-3, no. 6, 1985, p1323), and Din may be directly input to the delay circuit instead of the output of the D-FF9. Also, EXOR13, EX
OR14 changed to AND gates 35 and 36 (references:
A similar effect can be obtained by using the phase comparator 40 (FIG. 12) to which the buffer 39 is added as the phase comparator of the present invention. That is, the clock recovery circuit using the phase comparator 40 shown in FIG. 12 also has a problem that the free-running frequency of the VCO 4 whose phase comparison characteristic is not affected by the DF exists only at a point. Is applied as the phase comparator 2 of the first embodiment, it is possible to realize a phase comparison characteristic that is not affected by the DF.
【0042】[第2の実施形態]図4は本発明の第2の
実施の形態のクロック再生回路を示す図である。本実施
の形態は位相比較器2、ループフィルタ3、VCO4、
演算回路21a、基準電圧発生器57aから構成され
る。第1の実施の形態との違いは、基準電圧発生器57
aを新たに設け、この出力VE0を演算回路21aに入
力する点にある。[Second Embodiment] FIG. 4 is a diagram showing a clock recovery circuit according to a second embodiment of the present invention. In the present embodiment, the phase comparator 2, the loop filter 3, the VCO 4,
The arithmetic circuit 21a includes a reference voltage generator 57a. The difference from the first embodiment is that the reference voltage generator 57
a is newly provided and this output VE0 is input to the arithmetic circuit 21a.
【0043】演算回路21aは、位相比較器2の位相比
較信号VP及びエッジ密度信号VEを入力し、 VPE=α(VP−VE)(VE0/VE) (12) で表される直流成分を持つ信号VPEを出力する。ここ
で、αは任意定数である。また、VE0は基準電圧発生
器57a出力であり、基準となるエッジ密度係数DF
(例えばDF=0.5)の場合にエッジ密度信号VEに含
まれる直流成分と同じ直流成分を持つ信号であるとす
る。すなわち、基準となるエッジ密度係数をDF=DF
0とすると、基準電圧発生器57aの出力は前記の
(2)式より、 VEO=π・DF0 (13) で表される。位相比較信号VPは前記の(1)式で表さ
れ、エッジ密度信号VEは前記の(2)式で表されるの
で、これらと(13)式を用いると(12)式は位相差
φ及び基準となるエッジ密度係数DF0の関数として、 VPE=(α・DF0)(φ−π) (14) で表される。The arithmetic circuit 21a receives the phase comparison signal V P and edge density signal V E of the phase comparator 2, in V PE = α (V P -V E) (V E0 / V E) (12) A signal VPE having the indicated DC component is output. Here, α is an arbitrary constant. VE0 is the output of the reference voltage generator 57a, and the reference edge density coefficient DF
And a signal having the same DC component and the DC component contained in the edge density signal V E in the case of (e.g., DF = 0.5). That is, the reference edge density coefficient is DF = DF
If it is set to 0 , the output of the reference voltage generator 57a is expressed by the following equation (2): V EO = π · DF 0 (13) The phase comparison signal VP is expressed by the above equation (1), and the edge density signal VE is expressed by the above equation (2). As a function of φ and the reference edge density coefficient DF 0 , V PE = (α · DF 0 ) (φ−π) (14)
【0044】以上より、本実施形態の演算回路21aの
出力VPEにはDFが含まれない((14)式)ため、位
相差φが0から2πまでのいずれの値をとった場合で
も、位相比較特性はDFの影響を受けない。本発明の第
2の実施の形態の位相比較特性は本発明の第1の実施の
形態の位相比較特性(図2)と同じ形状の特性となる。
従って、演算回路21aの出力VPEにはエッジ密度情
報のリークがないため、エッジ密度係数DFの変化(デ
ータパタンの変化)によるロックレンジ及びプルインレ
ンジの変化が抑圧され、ジッタ発生、ジッタ耐力劣化を
防ぐことができることになる。[0044] From the above, since the output V PE of the arithmetic circuit 21a of the present embodiment does not include DF ((14) formula), even if the phase difference φ took any value from 0 to 2 [pi, The phase comparison characteristic is not affected by the DF. The phase comparison characteristic of the second embodiment of the present invention has the same shape as the phase comparison characteristic (FIG. 2) of the first embodiment of the present invention.
Accordingly, the output V PE of the arithmetic circuit 21a because there is no leakage of the edge density information is suppressed change in the lock range and the pull-in range due to the change of the edge density factor DF (changes in data patterns) are jitter generation, jitter tolerance degradation Can be prevented.
【0045】図5は本発明の第2の実施の形態における
演算回路21a及び基準電圧発生器57aを具体化した
演算回路21b及び基準電圧発生器57bを与えるもの
である。図5における演算回路21bは、差動増幅器5
8、乗算器64、抵抗値Rlの抵抗器60、61、抵抗
値R2の抵抗器62、63から構成されている。本実施
形態の演算回路21bは、第1の実施形態の演算回路2
0b(図3)と比較して、乗算器64が付加されている
点が異なる。(11)式に乗算器64の付加分を反映さ
せると、演算回路21b出力VPEは、 VPE=−(R2/Rl)(Kb/Ka)(VP−VE)(VE0/VE) (15) で表されることが分かる。ここでは、乗算器59の係数
をKa、乗算器64の係数をKbとした。(15)式に
よって与えられる演算回路21bの出力VPEの表式
は、α=−(R2/R1)(Kb/Ka)と定義すれば(1
2)式と一致する。すなわち、図5に示す演算回路21
bは本発明第2の実施の形態における演算回路21aの
実現例の一つとなっている。FIG. 5 shows an arithmetic circuit 21b and a reference voltage generator 57b which embody the arithmetic circuit 21a and the reference voltage generator 57a according to the second embodiment of the present invention. The arithmetic circuit 21b in FIG.
8, a multiplier 64, resistors 60 and 61 having a resistance value of R1, and resistors 62 and 63 having a resistance value of R2. The arithmetic circuit 21b of the present embodiment is different from the arithmetic circuit 2 of the first embodiment.
0b (FIG. 3) in that a multiplier 64 is added. (11) and applied at an addition amount of the multiplier 64 in equation operation circuit 21b outputs V PE is, V PE = - (R2 / Rl) (Kb / Ka) (V P -V E) (V E0 / V E ) (15) Here, the coefficient of the multiplier 59 is Ka, and the coefficient of the multiplier 64 is Kb. (15) expression for the output V PE arithmetic circuit 21b given by equation, α = - (R2 / R1 ) if (Kb / Ka) and definition (1
2) It matches the equation. That is, the arithmetic circuit 21 shown in FIG.
"b" is one of the implementation examples of the arithmetic circuit 21a in the second embodiment of the present invention.
【0046】また、図5における基準電圧発生器57b
は、分周器70、遅延回路71、EXOR72から構成
されている。基準のエッジ密度係数DF0を0.5とする
場合を例に説明する。この場合には、分周器70の分周
比を1/2とし、遅延回路71の遅延時間をクロック周
期の1/2に選択すればよい。こうすれば、分周器70
出力信号は0/1交番信号データ(DF=0.5)となり、
EXOR72は、Dinを0/1交番信号とした場合にE
XOR14が出力するエッジ密度信号VEと同等の信号
を出力する。また、基準のエッジ密度係数DF0を0.25
とする場合は、分周器70の分周比を1/4とし、遅延
回路71の遅延時間をクロック周期の1/2に選択すれ
ばよい。こうすれば、分周器70出力信号は0011の
繰り返しパタン(DF=0.25)となる。The reference voltage generator 57b shown in FIG.
Is composed of a frequency divider 70, a delay circuit 71, and an EXOR 72. An example in which the reference edge density coefficient DF 0 is set to 0.5 will be described. In this case, the frequency division ratio of the frequency divider 70 may be set to 1/2, and the delay time of the delay circuit 71 may be selected to be 1/2 of the clock cycle. In this case, the frequency divider 70
The output signal is 0/1 alternating signal data (DF = 0.5)
The EXOR 72 sets E when the Din is a 0/1 alternating signal.
XOR14 outputs a signal equivalent to the edge density signal V E to be output. Also, the reference edge density coefficient DF 0 is set to 0.25
In this case, the frequency division ratio of the frequency divider 70 may be set to 、, and the delay time of the delay circuit 71 may be selected to be の of the clock cycle. In this case, the output signal of the frequency divider 70 has a repeating pattern of 0011 (DF = 0.25).
【0047】この第2の実施の形態のクロック再生回路
では、その演算回路21bの出力V PEの表式((15)
式)の各分子分母が対称的に表現される特徴を有する。
第1の実施の形態のクロック再生回路における演算回路
20bの出力VPEの表式((11)式)は分子分母が対
称的でないため、例えば乗算器52の係数K等の回路定
数が設計値からずれて製造された場合、ループ利得のず
れを招く。これに対して第2の実施の形態のクロック再
生回路では、回路定数の絶対精度の要求を緩和できる利
点がある。これは製造・出荷時の調整コストの低減及び
歩留り向上に効果がある。The clock recovery circuit according to the second embodiment
Then, the output V of the arithmetic circuit 21b is PEExpression of ((15)
Each of the numerator and denominator of the formula) has a feature of being expressed symmetrically.
Arithmetic circuit in clock recovery circuit according to first embodiment
Output V of 20bPEIn the expression (Equation (11)), the numerator denominator is
Since it is not symmetrical, for example, the circuit
If the number is manufactured out of design, the loop gain
Invite you. On the other hand, the clock reset of the second embodiment
In a raw circuit, it is possible to relax the requirement for the absolute accuracy of circuit constants.
There is a point. This reduces adjustment costs during manufacturing and shipping, and
This is effective for improving the yield.
【0048】[第3の実施形態]図6は本発明の第3の
実施の形態のクロック再生回路を示す図である。本実施
の形態は位相比較器2、ループフィルタ3、VCO4、
演算回路22aから構成される。演算回路22aは、位
相比較器2の位相比較信号VP及びエッジ密度信号VE
を入力し、 VPE=α(VP/VE) (16) で表される直流成分を持つ信号VPEを出力する。ここ
で、αは任意定数である。位相比較信号VPは前記の
(1)式で表され、エッジ密度信号VEは前記の(2)
式で表されるので、これらを代入すると、(16)式
は、 VPE=α(φ/π) (17) で表される。以上より、本実施形態の演算回路22aの
出力VPEにはDFが含まれない((17)式)ため、位
相差φが0から2πまでのいずれの値をとった場合で
も、位相比較特性はDFの影響を受けない。[Third Embodiment] FIG. 6 is a diagram showing a clock recovery circuit according to a third embodiment of the present invention. In the present embodiment, the phase comparator 2, the loop filter 3, the VCO 4,
It comprises an arithmetic circuit 22a. Operation circuit 22a includes a phase comparator of the phase comparator 2 signals V P and edge density signal V E
And outputs a signal VPE having a DC component represented by VPE = α ( VP / VE ) (16). Here, α is an arbitrary constant. The phase comparison signal VP is expressed by the above equation (1), and the edge density signal VE is expressed by the above equation (2).
When these are substituted, the expression (16) is expressed by the following expression: V PE = α (φ / π) (17) From the above, because does not include DF in the output V PE of the arithmetic circuit 22a of the present embodiment ((17)), even if the phase difference φ took any value from 0 to 2 [pi, the phase comparison characteristic Is not affected by DF.
【0049】本発明の第3の実施の形態の位相比較特性
は、本発明の第1の実施の形態の位相比較特性(図2)
と同じ形状の特性となる。従って、演算回路22aの出
力V PEにはエッジ密度情報のリークがないため、エッ
ジ密度係数DFの変化(データパタンの変化)によるロ
ックレンジ及びプルインレンジの変化が抑圧され、ジッ
タ発生、ジッタ耐力劣化を防ぐことができる。Phase comparison characteristic of the third embodiment of the present invention
Is the phase comparison characteristic of the first embodiment of the present invention (FIG. 2)
It has the same shape characteristics as. Therefore, the output of the arithmetic circuit 22a is
Force V PEEdges do not leak edge density information.
Due to the change in the density coefficient DF (change in the data pattern)
Changes in the lock range and pull-in range are suppressed,
Data generation and deterioration of jitter tolerance can be prevented.
【0050】図7は本発明第3の実施の形態における演
算回路22aを具体化した演算回路22bを与えるもの
である。図7における演算回路22bは、差動増幅器6
5、乗算器66、抵抗値Rlの抵抗器67、抵抗値R2
の抵抗器69、抵抗値Rcの抵抗器68から構成されて
いる。比例係数をK(任意定数)とすると、乗算器66
の出力VMは、 VM=K・VPE・VE (18) で表される。一方、差動増幅器65の正入力端子(+)
の電圧VINPは、抵抗器68の抵抗値Rcとして正入
力端子の入力インピーダンスよりも十分小さい値を選ぶ
ことにより、 VINP=0 (19) で与えられる。また、差動増幅器65の負入力端子
(−)の電圧VINMは抵抗器67と抵抗器69の電圧
分割により、 VINM=(VP−VM)(R2/(Rl+R2))+VM (20) で与えられる。差動増幅器65の利得が十分に大きいと
仮定すると、閉ループ差動増幅器の入力間には仮想短絡
(バーチャルショート)の性質が表れ、 VINP=VINM (21) となる。よって、(19),(20),(21)式よ
り、乗算器66の出力VMは、 VM=−(R2/R1)・VP (22) で表される。(18),(22)式は同じノードの電圧
を表すので一致する必要がある。この条件より、演算回
路22bの出力VPEは、 VPE=−(R2/R1)(1/K)(VP/VE) (23) で与えられる。(23)式によって与えられる演算回路
22bの出力VPEの表式はα=−(R2/R1)(1/
K)と定義すれば(16)式と一致する。すなわち、図
7に示す演算回路22bは本発明第3の実施の形態にお
ける演算回路22aの実現例の一つとなっている。FIG. 7 shows an arithmetic circuit 22b which embodies the arithmetic circuit 22a according to the third embodiment of the present invention. The arithmetic circuit 22b in FIG.
5, a multiplier 66, a resistor 67 having a resistance value Rl, a resistance value R2
And a resistor 68 having a resistance value Rc. Assuming that the proportional coefficient is K (arbitrary constant), the multiplier 66
The output V M of is expressed by V M = K · V PE · V E (18). On the other hand, the positive input terminal (+) of the differential amplifier 65
The voltage V INP is given by V INP = 0 (19) by selecting a value sufficiently smaller than the input impedance of the positive input terminal as the resistance value Rc of the resistor 68. The voltage V INM of the negative input terminal (−) of the differential amplifier 65 is V INM = (V P −V M ) (R2 / (R1 + R2)) + V M (by the voltage division of the resistor 67 and the resistor 69). 20) given by Assuming that the gain of the differential amplifier 65 is sufficiently large, the nature of a virtual short circuit (virtual short) appears between the inputs of the closed loop differential amplifier, and V INP = V INM (21) Therefore, (19), (20) and (21), the output V M of the multiplier 66, V M = - represented by (R2 / R1) · V P (22). Equations (18) and (22) represent the voltage at the same node and therefore need to match. From this condition, the output V PE arithmetic circuit 22b, V PE = - given by (R2 / R1) (1 / K) (V P / V E) (23). (23) expression for the output V PE arithmetic circuit 22b given by equation α = - (R2 / R1) (1 /
Defining as K) matches equation (16). That is, the arithmetic circuit 22b shown in FIG. 7 is one of the implementation examples of the arithmetic circuit 22a in the third embodiment of the present invention.
【0051】第3の実施の形態のクロック再生回路は、
従来のクロック再生回路における加算器を、除算を行う
演算回路22bに置き換えたことを特徴とし、第1、第
2の実施の形態のクロック再生回路と比較してより簡単
な回路で実現でき、部品点数が少なく小型化が図れる特
徴を持つ。The clock recovery circuit according to the third embodiment comprises:
It is characterized in that an adder in a conventional clock recovery circuit is replaced by an arithmetic circuit 22b for performing division, and can be realized by a simpler circuit than the clock recovery circuits of the first and second embodiments. The feature is that the number of points is small and miniaturization can be achieved.
【0052】[0052]
【発明の効果】本発明のクロック再生回路は、演算回路
の出力においてエッジ密度情報を完全に相殺し位相比較
情報のみを取出すことができる。この結果、位相差φが
0から2πまでのいずれの値をとった場合でも、位相比
較特性はエッジ密度(データパタンの種類、エッジ密度
の時間的な揺らぎ)の影響を受けない効果を奏する。The clock recovery circuit of the present invention can completely cancel the edge density information at the output of the arithmetic circuit and extract only the phase comparison information. As a result, even when the phase difference φ takes any value from 0 to 2π, the phase comparison characteristic has an effect of being unaffected by edge density (type of data pattern, temporal fluctuation of edge density).
【図1】 本発明の第1の実施の形態のクロック再生回
路の回路図である。FIG. 1 is a circuit diagram of a clock recovery circuit according to a first embodiment of the present invention.
【図2】 図1のクロック再生回路の位相比較器2の位
相比較特性図である。FIG. 2 is a phase comparison characteristic diagram of a phase comparator 2 of the clock recovery circuit of FIG.
【図3】 図1のクロック再生回路において演算回路2
0aを20bとして具体化した回路図である。FIG. 3 shows an arithmetic circuit 2 in the clock recovery circuit of FIG.
FIG. 9 is a circuit diagram embodied by setting 0a to 20b.
【図4】 本発明の第2の実施の形態のクロック再生回
路の回路図である。FIG. 4 is a circuit diagram of a clock recovery circuit according to a second embodiment of the present invention.
【図5】 図4のクロック再生回路において演算回路2
1a及び基準電圧発生器の57aを21b、57bとし
て具体化した回路図である。5 is an arithmetic circuit 2 in the clock recovery circuit of FIG.
FIG. 2 is a circuit diagram in which 1a and a reference voltage generator 57a are embodied as 21b and 57b.
【図6】 本発明の第3の実施の形態の形態のクロック
再生回路の回路図である。FIG. 6 is a circuit diagram of a clock recovery circuit according to a third embodiment of the present invention.
【図7】 図6のクロック再生回路において演算回路2
2aを22bとして具体化した回路図である。7 is an arithmetic circuit 2 in the clock recovery circuit of FIG.
FIG. 2 is a circuit diagram in which 2a is embodied as 22b.
【図8】 従来のクロック再生回路の一例を示す回路図
である。FIG. 8 is a circuit diagram showing an example of a conventional clock recovery circuit.
【図9】 図8の従来のクロック再生回路の動作を示す
波形図である。FIG. 9 is a waveform chart showing an operation of the conventional clock recovery circuit of FIG.
【図10】 図8の従来のクロック再生回路の位相比較
器2の位相比較特性図である。10 is a phase comparison characteristic diagram of the phase comparator 2 of the conventional clock recovery circuit of FIG.
【図11】 図8の従来のクロック再生回路のVCO4
の自走周波数と加算器19の出力の平均電圧との関係を
示す特性図である。11 shows a VCO4 of the conventional clock recovery circuit of FIG.
FIG. 4 is a characteristic diagram showing a relationship between a free-running frequency and an average voltage of an output of an adder 19.
【図12】 図8の従来のクロック再生回路の別の位相
比較器部分の構成例を示す回路図である。FIG. 12 is a circuit diagram showing a configuration example of another phase comparator portion of the conventional clock recovery circuit of FIG.
1:データDinの入力端子 2:位相比較器 3:ループフィルタ 4:VCO(電圧制御発振器) 5:クロックCLKの出力端子 6:バッファ 7:バッファ6の非反転出力 8:バッファ6の反転出力 9,10:D−FF(D型フリップフロップ) ll:D−FF9の出力 12:D−FF10の出力 13,14:EXOR(排他的論理和ゲート) I5:EXOR13の出力VP 16:EXOR14の出力VE 17:加算器19、演算回路20a,20b,21a,
21b,22a,22bの出力VPE 18:ループフィルタ3の出力 19:加算器 20a,20b,21a,21b,22a,22b:演
算回路 35,36:論理積ゲート 37:論理積ゲート35の出力 38:論理積ゲート36の出力 39:バッファ 40:位相比較器 5l:差動増幅器 52:乗算器 53〜56:抵抗器 57a、57b:基準電圧発生器 58:差動増幅器 59:乗算器 60〜63:抵抗器 64:乗算器 65:差動増幅器 66:乗算器 67〜69:抵抗器 70:分周器 71:遅延回路 72:EXOR1: input terminal of data Din 2: phase comparator 3: loop filter 4: VCO (voltage controlled oscillator) 5: output terminal of clock CLK 6: buffer 7: non-inverted output of buffer 6 8: inverted output of buffer 6 9 , 10: D-FF (D type flip-flop) ll: D-FF9 output of 12: D-FF10 output 13, 14: EXOR (exclusive OR gates) I5: EXOR13 output V P 16: EXOR14 output VE 17: adder 19, arithmetic circuits 20a, 20b, 21a,
21b, 22a, 22b of the output V PE 18: the loop filter 3 of the output 19: adder 20a, 20b, 21a, 21b, 22a, 22b: arithmetic circuits 35 and 36: AND gate 37: Output of AND gate 35 38 : Output of AND gate 36: buffer 40: phase comparator 51: differential amplifier 52: multipliers 53 to 56: resistors 57 a and 57 b: reference voltage generator 58: differential amplifier 59: multiplier 60 to 63 : Resistor 64: multiplier 65: differential amplifier 66: multiplier 67 to 69: resistor 70: frequency divider 71: delay circuit 72: EXOR
フロントページの続き (72)発明者 榎木 孝知 東京都千代田区大手町二丁目3番1号 日 本電信電話株式会社内 (72)発明者 平塚 庄治 東京都渋谷区道玄坂一丁目12番1号 エヌ ティティエレクトロニクス株式会社内 (72)発明者 村口 正弘 東京都渋谷区道玄坂一丁目12番1号 エヌ ティティエレクトロニクス株式会社内 Fターム(参考) 5J106 AA04 CC01 CC21 CC41 DD44 JJ02 KK05 Continuing on the front page (72) Inventor Takachi Enoki 2-3-1 Otemachi, Chiyoda-ku, Tokyo Nippon Telegraph and Telephone Corporation (72) Inventor Shoji Hiratsuka 1-12-1 Dogenzaka, Shibuya-ku, Tokyo N (72) Inventor Masahiro Muraguchi 1-12-1 Dogenzaka, Shibuya-ku, Tokyo NTT Electronics Corporation F-term (reference) 5J106 AA04 CC01 CC21 CC41 DD44 JJ02 KK05
Claims (6)
制御発振器と、 入力端子からの入力信号に対する前記電圧制御発振器の
出力信号の位相差を検出しこの位相差に比例した直流電
圧成分を含む位相比較信号VPと、前記入力信号のエッ
ジ密度を検出しこのエッジ密度に比例した直流電圧成分
を含むエッジ密度信号VEとを出力する位相比較器と、 αを任意定数とし、前記位相比較信号VPと前記エッジ
密度信号VEとを入力し、α(VP−VE)/VEを出
力する演算回路と、 前記演算回路の出力信号から所定の帯域以下の成分を取
り出し、前記電圧制御発振器に制御電圧として印加する
ループフィルタとを備え、 前記電圧制御発振器の出力信号から再生クロックを得る
ことを特徴とするクロック再生回路。1. A voltage controlled oscillator whose oscillation frequency is controlled by a voltage, and a phase including a DC voltage component proportional to the phase difference, detecting a phase difference between an output signal of the voltage controlled oscillator and an input signal from an input terminal. a comparison signal V P, to detect the edge density of the input signal and a phase comparator for outputting an edge density signal V E including a direct-current voltage component proportional to the edge density, the α and arbitrary constants, the phase comparison signal inputs the V P and the edge density signal V E, the arithmetic circuit for outputting α (V P -V E) / V E, a predetermined band following components from the output signal of said arithmetic circuit is taken out, the voltage A clock recovery circuit comprising: a loop filter for applying a control voltage to a control oscillator; and obtaining a recovery clock from an output signal of the voltage control oscillator.
と、前記(VP−VE)/VEの演算を行う差動増幅器
及び乗算器とから構成されることを特徴とする請求項1
に記載のクロック再生回路。Wherein said arithmetic circuit is characterized a resistor group for determining the alpha, that is composed of a differential amplifier and a multiplier for performing computation of the (V P -V E) / V E Claim 1
2. A clock recovery circuit according to claim 1.
制御発振器と、 入力端子からの入力信号に対する前記電圧制御発振器の
出力信号の位相差を検出しこの位相差に比例した直流電
圧成分を含む位相比較信号VPと、前記入力信号のエッ
ジ密度を検出しこのエッジ密度に比例した直流電圧成分
を含むエッジ密度信号VEとを出力する位相比較器と、 前記位相比較器が基準となるエッジ密度の入力信号が入
力された場合に出力するエッジ密度信号VEと同じ直流
成分をもつ基準エッジ密度信号VE0を発生する基準電
圧発生器と、 αを任意定数とし、前記位相比較信号VPと前記エッジ
密度信号VEと前記基準エッジ密度信号VE0とを入力
し、α(VP−VE)(VE0/VE)を出力する演算回
路と、 前記演算回路の出力信号から所定の帯域以下の成分を取
り出し、前記電圧制御発振器に制御電圧として印加する
ループフィルタとを備え、 前記電圧制御発振器の出力信号から再生クロックを得る
ことを特徴とするクロック再生回路。3. A voltage controlled oscillator whose oscillation frequency is controlled by a voltage, and a phase including a DC voltage component proportional to the phase difference by detecting a phase difference between an output signal of the voltage controlled oscillator and an input signal from an input terminal. a comparison signal V P, a phase comparator for outputting an edge density signal V E containing a DC voltage component which is proportional to the edge density detecting an edge density of the input signal, an edge density of the phase comparator is the reference a reference voltage generator for generating a reference edge density signal V E0 having the same DC component and an edge density signal V E to be output when the input signal is input, the α and arbitrary constants, and the phase comparison signal V P type and the edge density signal V E and the reference edge density signal V E0, an operation circuit for outputting α a (V P -V E) (V E0 / V E), or an output signal of said arithmetic circuit Taking out a predetermined bandwidth following ingredients, and a loop filter for applying a control voltage to said voltage controlled oscillator, a clock recovery circuit, characterized in that to obtain a reproduced clock from the output signal of the voltage controlled oscillator.
と、前記(VP−VE)(VE0/V E)の演算を行う差
動増幅器及び乗算器とから構成されることを特徴とする
請求項3に記載のクロック再生回路。4. The arithmetic circuit according to claim 1, wherein the resistor group determines the α.
And (VP-VE) (VE0/ V E)
Characterized by comprising a dynamic amplifier and a multiplier
The clock recovery circuit according to claim 3.
制御発振器と、 入力端子からの入力信号に対する前記電圧制御発振器の
出力信号の位相差を検出しこの位相差に比例した直流電
圧成分を含む位相比較信号VPと、前記入力信号のエッ
ジ密度を検出しこのエッジ密度に比例した直流電圧成分
を含むエッジ密度信号VEとを出力する位相比較器と、 αを任意定数とし、前記位相比較信号VPと前記エッジ
密度信号VEとを入力し、α(VP/VE)を出力する
演算回路と、 前記演算回路の出力信号から所定の帯域以下の成分を取
り出し、前記電圧制御発振器に制御電圧として印加する
ループフィルタとを備え、 前記電圧制御発振器の出力信号から再生クロックを得る
ことを特徴とするクロック再生回路。5. A voltage controlled oscillator whose oscillation frequency is controlled by a voltage, and a phase including a DC voltage component proportional to the phase difference, detecting a phase difference between an output signal of the voltage controlled oscillator and an input signal from an input terminal. a comparison signal V P, to detect the edge density of the input signal and a phase comparator for outputting an edge density signal V E including a direct-current voltage component proportional to the edge density, the α and arbitrary constants, the phase comparison signal An arithmetic circuit for inputting VP and the edge density signal VE and outputting α ( VP / VE ); extracting a component below a predetermined band from an output signal of the arithmetic circuit; A clock recovery circuit comprising: a loop filter for applying a control voltage; and obtaining a recovered clock from an output signal of the voltage controlled oscillator.
と、前記(VP/VE)の演算を行う差動増幅器及び乗
算器とから構成されることを特徴とする請求項5に記載
のクロック再生回路。6. The arithmetic circuit according to claim 5, wherein said arithmetic circuit comprises a resistor group for determining said α, a differential amplifier and a multiplier for performing said ( VP / VE ) operation. 2. A clock recovery circuit according to claim 1.
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