JP2002181715A - カードのサインパネル部の検査方法及び装置 - Google Patents
カードのサインパネル部の検査方法及び装置Info
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims abstract description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims description 10
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 カードのサインパネル部の欠陥を自動的に検
出する。 【解決手段】 粗面（２ａ）を有するサインパネル部
（２）が平滑な表面（１ａ）上に形成されたカード
（１）に対して斜め方向から光を照射する光源（４）
と、サインパネル部（２）の上方でサインパネル部
（２）の表面（２ａ）からの反射光を受光するカメラ
（５）と、受光量が少ない箇所をサインパネル部（２）
の欠陥部（３）として検出する画像処理部（６）とを有
する。
出する。 【解決手段】 粗面（２ａ）を有するサインパネル部
（２）が平滑な表面（１ａ）上に形成されたカード
（１）に対して斜め方向から光を照射する光源（４）
と、サインパネル部（２）の上方でサインパネル部
（２）の表面（２ａ）からの反射光を受光するカメラ
（５）と、受光量が少ない箇所をサインパネル部（２）
の欠陥部（３）として検出する画像処理部（６）とを有
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プラスチック等で
作られたカードのサインパネル部を検査する方法及び装
置に関する。
作られたカードのサインパネル部を検査する方法及び装
置に関する。
【０００２】
【従来の技術】図１（Ａ）に示すように、クレジットカ
ード等のカード１にはカード所有者の名前を記入するた
めのサインパネル部２が設けられている。サインパネル
部２はカード１の平滑な表面１ａに転写等により形成さ
れ、サインパネル部２の表面２ａはサインをしやすくす
るため粗面に形成されている。
ード等のカード１にはカード所有者の名前を記入するた
めのサインパネル部２が設けられている。サインパネル
部２はカード１の平滑な表面１ａに転写等により形成さ
れ、サインパネル部２の表面２ａはサインをしやすくす
るため粗面に形成されている。
【０００３】図１（Ｂ）に示すように、このサインパネ
ル部２にはピンホール等の孔３が転写等の際に開く場合
があり、このような孔３がサインパネル部２中に存在す
ると、見栄えが悪くなり、またサインに支障を来たすの
で、従来カード１はサインパネル部２についても良否検
査を行った後に出荷している。従来このサインパネル部
２の検査は一般に検査員の肉眼によって行っている。
ル部２にはピンホール等の孔３が転写等の際に開く場合
があり、このような孔３がサインパネル部２中に存在す
ると、見栄えが悪くなり、またサインに支障を来たすの
で、従来カード１はサインパネル部２についても良否検
査を行った後に出荷している。従来このサインパネル部
２の検査は一般に検査員の肉眼によって行っている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】検査員の肉眼によるサ
インパネル部の検査は効率が悪いので、本発明者はこの
検査を自動化するため、サインパネル部の上方から照明
すると共にサインパネル部の上方でカメラによりサイン
パネル部の撮影を行い、良品のサインパネル部の映像と
比較してその一番輝度が低いところよりも更に低い輝度
の部分があった場合に不良であると判断する装置を案出
した。
インパネル部の検査は効率が悪いので、本発明者はこの
検査を自動化するため、サインパネル部の上方から照明
すると共にサインパネル部の上方でカメラによりサイン
パネル部の撮影を行い、良品のサインパネル部の映像と
比較してその一番輝度が低いところよりも更に低い輝度
の部分があった場合に不良であると判断する装置を案出
した。
【０００５】しかし、サインパネル部内に小さい文字等
が繰り返し形成されている場合がありその文字はサイン
パネル部の加工工程の性格上一様に現われないので、そ
のような場合は孔の存在を検出することができない。ま
た、サインパネル部内に文字等の繰り返しがない場合で
も、上記のような良品のサインパネル部内の一番輝度が
低いところより暗い部分があった場合を不良とする検査
方法では、サインパネル部内の文字に比べてカードの色
が濃くないと孔を検出することができない。
が繰り返し形成されている場合がありその文字はサイン
パネル部の加工工程の性格上一様に現われないので、そ
のような場合は孔の存在を検出することができない。ま
た、サインパネル部内に文字等の繰り返しがない場合で
も、上記のような良品のサインパネル部内の一番輝度が
低いところより暗い部分があった場合を不良とする検査
方法では、サインパネル部内の文字に比べてカードの色
が濃くないと孔を検出することができない。
【０００６】従って、本発明は、従来の検査手段が有す
る欠点を解消することができるサインパネル部を検査す
る方法及び装置を提供することを目的とする。
る欠点を解消することができるサインパネル部を検査す
る方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
め、請求項１に係る発明は、粗面（２ａ）を有するサイ
ンパネル部（２）が平滑な表面（１ａ）上に形成された
カード（１）に対して斜め方向から光を照射し、サイン
パネル部（２）の上方でサインパネル部（２）の表面
（２ａ）からの反射光を受光し、受光量が少ない箇所を
サインパネル部（２）の欠陥部（３）として検出するカ
ードのサインパネル部の検査方法を採用する。
め、請求項１に係る発明は、粗面（２ａ）を有するサイ
ンパネル部（２）が平滑な表面（１ａ）上に形成された
カード（１）に対して斜め方向から光を照射し、サイン
パネル部（２）の上方でサインパネル部（２）の表面
（２ａ）からの反射光を受光し、受光量が少ない箇所を
サインパネル部（２）の欠陥部（３）として検出するカ
ードのサインパネル部の検査方法を採用する。
【０００８】また、請求項２に係る発明は、粗面（２
ａ）を有するサインパネル部（２）が平滑な表面（１
ａ）上に形成されたカード（１）に対して斜め方向から
光を照射する光源（４）と、サインパネル部（２）の上
方でサインパネル部（２）の表面（２ａ）からの反射光
を受光するカメラ（５）と、受光量が少ない箇所をサイ
ンパネル部（２）の欠陥部（３）として検出する画像処
理部（６）とを有するカードのサインパネル部の検査装
置を採用する。
ａ）を有するサインパネル部（２）が平滑な表面（１
ａ）上に形成されたカード（１）に対して斜め方向から
光を照射する光源（４）と、サインパネル部（２）の上
方でサインパネル部（２）の表面（２ａ）からの反射光
を受光するカメラ（５）と、受光量が少ない箇所をサイ
ンパネル部（２）の欠陥部（３）として検出する画像処
理部（６）とを有するカードのサインパネル部の検査装
置を採用する。
【０００９】この請求項１、２に係る発明によれば、サ
インパネル部（２）に孔等の欠陥部（３）が存在すると
その部分が暗く写り、その回りは明るく写るので、直ち
に欠陥部（３）の存在を検出することができる。
インパネル部（２）に孔等の欠陥部（３）が存在すると
その部分が暗く写り、その回りは明るく写るので、直ち
に欠陥部（３）の存在を検出することができる。
【００１０】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、添
付図面を参照して説明する。
付図面を参照して説明する。
【００１１】図１に示すように、この発明が検査対象と
するプラスチック等で出来たカード１はカード所有者の
名前を記入するためのサインパネル部２を有する。サイ
ンパネル部２はカード１の平滑な表面１ａに転写等によ
り形成され、サインパネル部２の表面２ａはサインをし
やすくするため粗面に形成されている。同図（Ａ）に示
すカード１のサインパネル部２は正常であり、同図
（Ｂ）に示すカード１のサインパネル部２は異常であっ
て、ピンホール等の孔３等からなる欠陥を有する。
するプラスチック等で出来たカード１はカード所有者の
名前を記入するためのサインパネル部２を有する。サイ
ンパネル部２はカード１の平滑な表面１ａに転写等によ
り形成され、サインパネル部２の表面２ａはサインをし
やすくするため粗面に形成されている。同図（Ａ）に示
すカード１のサインパネル部２は正常であり、同図
（Ｂ）に示すカード１のサインパネル部２は異常であっ
て、ピンホール等の孔３等からなる欠陥を有する。
【００１２】本発明は図２に示すような原理に基づいて
この欠陥を検出しようとする。すなわち、図２（Ａ）に
示すように、カード１の平滑な表面１ａに対して照射さ
れた光は正反射するが、サインパネル部２の表面２ａは
粗面であるから同図（Ｂ）に示すようにサインパネル部
２の表面に照射された光は乱反射してサインパネル部２
の上方へ向かう。サインパネル部２に孔３が開いている
場合、孔３内に侵入した検査光は孔３の底のカード１の
平滑な表面１ａ上で正反射し、サインパネル部２の上方
へ向かうことなく図２（Ａ）に示すように入射光と反対
方向に向かう。従って、サインパネル部２の上方で受光
することにより得た画像中で回りよりも暗い箇所が存在
すればそこが孔３のある欠陥箇所であることになる。
この欠陥を検出しようとする。すなわち、図２（Ａ）に
示すように、カード１の平滑な表面１ａに対して照射さ
れた光は正反射するが、サインパネル部２の表面２ａは
粗面であるから同図（Ｂ）に示すようにサインパネル部
２の表面に照射された光は乱反射してサインパネル部２
の上方へ向かう。サインパネル部２に孔３が開いている
場合、孔３内に侵入した検査光は孔３の底のカード１の
平滑な表面１ａ上で正反射し、サインパネル部２の上方
へ向かうことなく図２（Ａ）に示すように入射光と反対
方向に向かう。従って、サインパネル部２の上方で受光
することにより得た画像中で回りよりも暗い箇所が存在
すればそこが孔３のある欠陥箇所であることになる。
【００１３】上記知見に基づきカードのサインパネル部
の検査装置は図３に示すように構成される。
の検査装置は図３に示すように構成される。
【００１４】すなわち、図３に示すように、このサイン
パネル部の検査装置は、カード１に対して斜め方向から
光を照射する光源４と、サインパネル部２の上方でサイ
ンパネル部２の表面２ａからの反射光を受光するカメラ
５と、受光量が少ない箇所をサインパネル部２の欠陥部
として検出する画像処理部６とを有する。
パネル部の検査装置は、カード１に対して斜め方向から
光を照射する光源４と、サインパネル部２の上方でサイ
ンパネル部２の表面２ａからの反射光を受光するカメラ
５と、受光量が少ない箇所をサインパネル部２の欠陥部
として検出する画像処理部６とを有する。
【００１５】光源４は、例えば白色光を発するランプで
構成され、カード１の側方からサインパネル部２上に斜
めに照明光を当てるよう配置される。
構成され、カード１の側方からサインパネル部２上に斜
めに照明光を当てるよう配置される。
【００１６】カメラ５は、ＣＣＤカメラ、エリアセンサ
ーカメラ、ラインセンサーカメラ等で構成され、カード
１のサインパネル部２の真上当りに設置される。カメラ
５の下方にはカード１を水平方向に搬送する図示しない
コンベア装置が配置され、検査すべきカード１を一定間
隔で間欠走行又は連続走行させるようになっている。Ｃ
ＣＤカメラ、エリアセンサーカメラ等が用いられる場合
は、コンベア装置は間欠走行し、カメラ５の直下でカー
ド１を一時停止させる。カメラ５は一時停止したカード
１の表面１ａをその真上から撮影する。ラインセンサー
カメラ等が用いられる場合は、コンベア装置は連続走行
し、カメラ５はカード１の表面１ａを連続的に走査す
る。
ーカメラ、ラインセンサーカメラ等で構成され、カード
１のサインパネル部２の真上当りに設置される。カメラ
５の下方にはカード１を水平方向に搬送する図示しない
コンベア装置が配置され、検査すべきカード１を一定間
隔で間欠走行又は連続走行させるようになっている。Ｃ
ＣＤカメラ、エリアセンサーカメラ等が用いられる場合
は、コンベア装置は間欠走行し、カメラ５の直下でカー
ド１を一時停止させる。カメラ５は一時停止したカード
１の表面１ａをその真上から撮影する。ラインセンサー
カメラ等が用いられる場合は、コンベア装置は連続走行
し、カメラ５はカード１の表面１ａを連続的に走査す
る。
【００１７】画像処理部６は、コンピュータとしての機
能を有し、入力部として上記カメラ５のほか操作部７を
有し、出力部としてモニタ８を有する。画像処理部６
は、カメラ５から入力されるカード１の画像信号を二値
化処理し、この画像データを処理してOK／NG判定を行
い、モニタ８等に判定結果を出力するようになってい
る。操作部７は画像処理に際しマンーマシンインターフ
ェイスとして操作され、モニタ８は画像処理中にその内
容等の表示を行う。
能を有し、入力部として上記カメラ５のほか操作部７を
有し、出力部としてモニタ８を有する。画像処理部６
は、カメラ５から入力されるカード１の画像信号を二値
化処理し、この画像データを処理してOK／NG判定を行
い、モニタ８等に判定結果を出力するようになってい
る。操作部７は画像処理に際しマンーマシンインターフ
ェイスとして操作され、モニタ８は画像処理中にその内
容等の表示を行う。
【００１８】このサインパネル部の検査装置によれば、
カード１がカメラ５の真下あたりに搬送されて来ると、
光源４から照明光がカード１上に斜め方向から照射さ
れ、カード１の真上あたりでカード１の表面１ａがカメ
ラ５により撮影される。平滑な光沢のあるカード１の表
面１ａでは光源４からの照明光が正反射するので撮影さ
れた画像上では暗く写り、表面の粗いサインパネル部２
上では照明光が乱反射して画像上では明るく写る。しか
し、サインパネル部２内に孔３や汚れがあれば、照明光
が正反射するので暗く写る。画像処理部６は、この画像
データを処理し、画像内のサインパネル部２の座標を抽
出し、サインパネル部２内に設定されたしきい値より暗
い部分が無いどうかを検査する。暗い部分があればこの
部分を孔３等の欠陥部として半断し、ＮＧ信号をモニタ
８等に出力する。モニタ８は検査された当該カード１の
サインパネル部２に欠陥ありと表示する。サインパネル
部２内に設定されたしきい値より暗い部分が無い場合
は、画像処理部６はＯＫ信号をモニタ８等に出力する。
モニタ８は検査された当該カード１のサインパネル部２
には欠陥なしと表示する。
カード１がカメラ５の真下あたりに搬送されて来ると、
光源４から照明光がカード１上に斜め方向から照射さ
れ、カード１の真上あたりでカード１の表面１ａがカメ
ラ５により撮影される。平滑な光沢のあるカード１の表
面１ａでは光源４からの照明光が正反射するので撮影さ
れた画像上では暗く写り、表面の粗いサインパネル部２
上では照明光が乱反射して画像上では明るく写る。しか
し、サインパネル部２内に孔３や汚れがあれば、照明光
が正反射するので暗く写る。画像処理部６は、この画像
データを処理し、画像内のサインパネル部２の座標を抽
出し、サインパネル部２内に設定されたしきい値より暗
い部分が無いどうかを検査する。暗い部分があればこの
部分を孔３等の欠陥部として半断し、ＮＧ信号をモニタ
８等に出力する。モニタ８は検査された当該カード１の
サインパネル部２に欠陥ありと表示する。サインパネル
部２内に設定されたしきい値より暗い部分が無い場合
は、画像処理部６はＯＫ信号をモニタ８等に出力する。
モニタ８は検査された当該カード１のサインパネル部２
には欠陥なしと表示する。
【００１９】
【発明の効果】本発明によれば、粗面を有するサインパ
ネル部が平滑な表面上に形成されたカードに対して斜め
方向から光を照射し、サインパネル部の上方でサインパ
ネル部の表面からの反射光を受光し、受光量が少ない箇
所をサインパネル部の欠陥部として検出するので、サイ
ンパネル部の良否を自動で確実に判定することができ
る。
ネル部が平滑な表面上に形成されたカードに対して斜め
方向から光を照射し、サインパネル部の上方でサインパ
ネル部の表面からの反射光を受光し、受光量が少ない箇
所をサインパネル部の欠陥部として検出するので、サイ
ンパネル部の良否を自動で確実に判定することができ
る。
【図１】本発明に係る検査装置により検査することがで
きるカードの平面図であり、（Ａ）は良品、（Ｂ）は不
良品を示す。
きるカードの平面図であり、（Ａ）は良品、（Ｂ）は不
良品を示す。
【図２】本発明の原理を示す模式図であり、（Ａ）はカ
ード表面で照射光が正反射する状態を示し、（Ｂ）は乱
反射する状態を示す。
ード表面で照射光が正反射する状態を示し、（Ｂ）は乱
反射する状態を示す。
【図３】本発明に係る検査装置の構成を示すブロック図
である。
である。
１…カード １ａ…カードの表面 ２…サインパネル部 ２ａ…サインパネル部の表面 ３…孔 ４…光源 ５…カメラ ６…画像処理部
Claims (2)
- 【請求項１】 粗面を有するサインパネル部が平滑な表
面上に形成されたカードに対して斜め方向から光を照射
し、サインパネル部の上方でサインパネル部の表面から
の反射光を受光し、受光量が少ない箇所をサインパネル
部の欠陥部として検出することを特徴とするカードのサ
インパネル部の検査方法。 - 【請求項２】 粗面を有するサインパネル部が平滑な表
面上に形成されたカードに対して斜め方向から光を照射
する光源と、サインパネル部の上方でサインパネル部の
表面からの反射光を受光するカメラと、受光量が少ない
箇所をサインパネル部の欠陥部として検出する画像処理
部とを有することを特徴とするカードのサインパネル部
の検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379672A JP2002181715A (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | カードのサインパネル部の検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000379672A JP2002181715A (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | カードのサインパネル部の検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002181715A true JP2002181715A (ja) | 2002-06-26 |
Family
ID=18847989
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000379672A Pending JP2002181715A (ja) | 2000-12-14 | 2000-12-14 | カードのサインパネル部の検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002181715A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015068741A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | 大日本印刷株式会社 | サインパネル検査システム、サインパネル検査方法 |
-
2000
- 2000-12-14 JP JP2000379672A patent/JP2002181715A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2015068741A (ja) * | 2013-09-30 | 2015-04-13 | 大日本印刷株式会社 | サインパネル検査システム、サインパネル検査方法 |
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