JP2001230399A - 固体撮像装置 - Google Patents
固体撮像装置Info
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- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、画素からの出力が大きく、高品質の
撮像信号を得ることができる固体撮像装置を提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】フォトトランジスタPTrに光が入射され
たとき、そのベース・エミッタPN接合によって、フォ
トトランジスタPTrのベースに入射光量に応じた電流
が流れる。このベース電流が増幅されたエミッタ電流が
光電流として流れ、サブスレッショルド領域で動作を行
うMOSトランジスタT1のゲートに対数変換された電
圧が現れる。そして、この対数変換された電圧に応じて
積分された電圧が接続ノードaに現れるとともに、MO
SトランジスタT6をONにしたとき、この接続ノード
aの電圧に応じた出力電流が、出力信号線に導出され
る。
撮像信号を得ることができる固体撮像装置を提供するこ
とを目的とする。 【解決手段】フォトトランジスタPTrに光が入射され
たとき、そのベース・エミッタPN接合によって、フォ
トトランジスタPTrのベースに入射光量に応じた電流
が流れる。このベース電流が増幅されたエミッタ電流が
光電流として流れ、サブスレッショルド領域で動作を行
うMOSトランジスタT1のゲートに対数変換された電
圧が現れる。そして、この対数変換された電圧に応じて
積分された電圧が接続ノードaに現れるとともに、MO
SトランジスタT6をONにしたとき、この接続ノード
aの電圧に応じた出力電流が、出力信号線に導出され
る。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は固体撮像装置に関す
るものであり、特に画素を二次元に配置した固体撮像装
置に関する。
るものであり、特に画素を二次元に配置した固体撮像装
置に関する。
【0002】
【従来の技術】フォトダイオード等の光電変換素子(感
光素子)と、その光電変換素子で発生した光電荷を出力
信号線へ取り出す手段とを含む画素をマトリクス状(行
列状)に配してなる二次元固体撮像装置は種々の用途に
供されている。ところで、このような固体撮像装置は光
電変換素子で発生した光電荷を読み出す(取り出す)手
段によってCCD型とMOS型に大きく分けられる。C
CD型は光電荷をポテンシャルの井戸に蓄積しつつ、転
送するようになっており、ダイナミックレンジが狭いと
いう欠点がある。一方、MOS型はフォトダイオードの
pn接合容量に蓄積した電荷をMOSトランジスタを通
して直接読み出すようになっていた。
光素子)と、その光電変換素子で発生した光電荷を出力
信号線へ取り出す手段とを含む画素をマトリクス状(行
列状)に配してなる二次元固体撮像装置は種々の用途に
供されている。ところで、このような固体撮像装置は光
電変換素子で発生した光電荷を読み出す(取り出す)手
段によってCCD型とMOS型に大きく分けられる。C
CD型は光電荷をポテンシャルの井戸に蓄積しつつ、転
送するようになっており、ダイナミックレンジが狭いと
いう欠点がある。一方、MOS型はフォトダイオードの
pn接合容量に蓄積した電荷をMOSトランジスタを通
して直接読み出すようになっていた。
【0003】ここで、従来のMOS型固体撮像装置の1
画素当りの構成を図19に示し説明する。同図におい
て、PDはフォトダイオードであり、そのカソードがM
OSトランジスタT1のゲートとMOSトランジスタT
2のソースに接続されている。MOSトランジスタT1
のソースはMOSトランジスタT3のドレインに接続さ
れ、MOSトランジスタT3のソースは出力信号線Vou
tへ接続されている。またMOSトランジスタT1のド
レイン及びMOSトランジスタT2のドレインには直流
電圧VPDが印加され、フォトダイオードのアノードには
直流電圧VPSが印加されている。
画素当りの構成を図19に示し説明する。同図におい
て、PDはフォトダイオードであり、そのカソードがM
OSトランジスタT1のゲートとMOSトランジスタT
2のソースに接続されている。MOSトランジスタT1
のソースはMOSトランジスタT3のドレインに接続さ
れ、MOSトランジスタT3のソースは出力信号線Vou
tへ接続されている。またMOSトランジスタT1のド
レイン及びMOSトランジスタT2のドレインには直流
電圧VPDが印加され、フォトダイオードのアノードには
直流電圧VPSが印加されている。
【0004】フォトダイオードPDに光が入射すると、
光電荷が発生し、その電荷はMOSトランジスタT1の
ゲートに蓄積される。ここで、MOSトランジスタT3
のゲートにパルス信号φVを与えてMOSトランジスタ
T3をONすると、MOSトランジスタT1のゲートの
電荷に比例した電流がMOSトランジスタT1、T3を
通って出力信号線へ導出される。このようにして入射光
量に比例した出力電流を読み出すことができる。信号読
み出し後はMOSトランジスタT3をOFFにしてMO
SトランジスタT2をONすることでMOSトランジス
タT1のゲート電圧を初期化させることができる。
光電荷が発生し、その電荷はMOSトランジスタT1の
ゲートに蓄積される。ここで、MOSトランジスタT3
のゲートにパルス信号φVを与えてMOSトランジスタ
T3をONすると、MOSトランジスタT1のゲートの
電荷に比例した電流がMOSトランジスタT1、T3を
通って出力信号線へ導出される。このようにして入射光
量に比例した出力電流を読み出すことができる。信号読
み出し後はMOSトランジスタT3をOFFにしてMO
SトランジスタT2をONすることでMOSトランジス
タT1のゲート電圧を初期化させることができる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来のM
OS型の固体撮像装置は各画素においてフォトダイオー
ドで発生しMOSトランジスタのゲートに蓄積された光
電荷をそのまま読み出すものであったからダイナミック
レンジが狭く、そのため露光量を精密に制御しなければ
ならず、しかも露光量を精密に制御しても暗い部分が黒
くつぶれたり、明るい部分が飽和したりしていた。又、
フォトダイオードによる光電変換における電気信号への
増幅率が小さいため、出力信号が小さいレベルとなるた
め、S/N比が悪く全体として高品質の撮像信号を得る
ことができないという欠点もある。
OS型の固体撮像装置は各画素においてフォトダイオー
ドで発生しMOSトランジスタのゲートに蓄積された光
電荷をそのまま読み出すものであったからダイナミック
レンジが狭く、そのため露光量を精密に制御しなければ
ならず、しかも露光量を精密に制御しても暗い部分が黒
くつぶれたり、明るい部分が飽和したりしていた。又、
フォトダイオードによる光電変換における電気信号への
増幅率が小さいため、出力信号が小さいレベルとなるた
め、S/N比が悪く全体として高品質の撮像信号を得る
ことができないという欠点もある。
【0006】そこで、本出願人は、入射した光量に応じ
た光電流を発生し得るフォトダイオードと、光電流を入
力するMOSトランジスタと、このMOSトランジスタ
をサブスレッショルド電流が流れうる状態にバイアスす
るバイアス手段とを備え、光電流を対数変換するように
した固体撮像装置を提案した(特開平3−192764
号公報参照)。このような固体撮像装置により、ダイナ
ミックレンジを拡大することが可能となった。しかしな
がら、このような固体撮像装置では、低輝度の場合の特
性やS/N比が十分でないという問題があった。
た光電流を発生し得るフォトダイオードと、光電流を入
力するMOSトランジスタと、このMOSトランジスタ
をサブスレッショルド電流が流れうる状態にバイアスす
るバイアス手段とを備え、光電流を対数変換するように
した固体撮像装置を提案した(特開平3−192764
号公報参照)。このような固体撮像装置により、ダイナ
ミックレンジを拡大することが可能となった。しかしな
がら、このような固体撮像装置では、低輝度の場合の特
性やS/N比が十分でないという問題があった。
【0007】本発明は、このような点に鑑みなされたも
のであって、画素からの出力が大きく、高品質の撮像信
号を得ることができる固体撮像装置を提供することを目
的とする。又、本発明の他の目的は、ダイナミックレン
ジの広い固体撮像装置を提供することにある。
のであって、画素からの出力が大きく、高品質の撮像信
号を得ることができる固体撮像装置を提供することを目
的とする。又、本発明の他の目的は、ダイナミックレン
ジの広い固体撮像装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、請求項1に記載の固体撮像装置は、入射した光量に
応じた電気信号を発生する感光素子を有する光電変換手
段と、該光電変換手段の出力信号を出力信号線へ導出す
る導出路とを備えた固体撮像装置において、前記感光素
子が、制御電極に入射された光量に応じた光電流を増幅
して前記電気信号を発生するフォトトランジスタである
とともに、前記光電変換手段が、前記フォトトランジス
タより発生された前記電気信号を線形的に変換する第1
状態と、自然対数的に変換する第2状態とに切り換え可
能としたことを特徴とする。
め、請求項1に記載の固体撮像装置は、入射した光量に
応じた電気信号を発生する感光素子を有する光電変換手
段と、該光電変換手段の出力信号を出力信号線へ導出す
る導出路とを備えた固体撮像装置において、前記感光素
子が、制御電極に入射された光量に応じた光電流を増幅
して前記電気信号を発生するフォトトランジスタである
とともに、前記光電変換手段が、前記フォトトランジス
タより発生された前記電気信号を線形的に変換する第1
状態と、自然対数的に変換する第2状態とに切り換え可
能としたことを特徴とする。
【0009】このような構成の固体撮像装置によると、
フォトダイオードに比べて、その入射光量に対する増幅
率の大きいフォトトランジスタで増幅された電気信号を
対数変換することで出力信号が得られる。そのため、固
体撮像装置のダイナミックレンジが広くなるとともに、
その信号レベルの大きい出力信号が得られる。
フォトダイオードに比べて、その入射光量に対する増幅
率の大きいフォトトランジスタで増幅された電気信号を
対数変換することで出力信号が得られる。そのため、固
体撮像装置のダイナミックレンジが広くなるとともに、
その信号レベルの大きい出力信号が得られる。
【0010】又、被写体の輝度状態及び撮像時の環境に
応じて、ダイナミックレンジを変更することができる。
例えば、フォトトランジスタで発生した光電荷をMOS
トランジスタを用いて変換する場合、このMOSトラン
ジスタを閾値以下のサブスレッショルド領域で動作させ
ると、対数変換状態(第2状態)となり、ダイナミック
レンジが大きくとれる。しかしながら、低輝度で動く被
写体を撮像すると、対数変換動作では、残像が目立つよ
うになる。
応じて、ダイナミックレンジを変更することができる。
例えば、フォトトランジスタで発生した光電荷をMOS
トランジスタを用いて変換する場合、このMOSトラン
ジスタを閾値以下のサブスレッショルド領域で動作させ
ると、対数変換状態(第2状態)となり、ダイナミック
レンジが大きくとれる。しかしながら、低輝度で動く被
写体を撮像すると、対数変換動作では、残像が目立つよ
うになる。
【0011】それは、対数変換動作では、MOSトラン
ジスタがON状態となっていてフォトトランジスタの発
生する電気信号をリアルタイムで対数変換してMOSト
ランジスタから出力するが、MOSトランジスタのゲー
ト側の電荷及びこのゲートに接続されたフォトトランジ
スタなどに蓄積された電荷が放電されず、前の情報が残
るからである。これは、輝度が低い場合に特に目立つ。
又、対数変換では、一般に変換出力が小さいので、S/
N比(信号/ノイズ比)が悪い。
ジスタがON状態となっていてフォトトランジスタの発
生する電気信号をリアルタイムで対数変換してMOSト
ランジスタから出力するが、MOSトランジスタのゲー
ト側の電荷及びこのゲートに接続されたフォトトランジ
スタなどに蓄積された電荷が放電されず、前の情報が残
るからである。これは、輝度が低い場合に特に目立つ。
又、対数変換では、一般に変換出力が小さいので、S/
N比(信号/ノイズ比)が悪い。
【0012】これに対して、MOSトランジスタをOF
F状態にしている線形変換状態(第1状態)では、ダイ
ナミックレンジは狭いが、光電変換手段から出力される
信号は大きく得られるので、S/N比がよい。従って、
低輝度から高輝度の広い範囲にわたる被写体の撮像に
は、光電変換手段を第2状態(対数変換)に切り換えて
使用し、低輝度の被写体や、輝度範囲の狭い被写体の撮
像には、光電変換手段を第1状態(線形変換)に切り換
えて使用すると良い。
F状態にしている線形変換状態(第1状態)では、ダイ
ナミックレンジは狭いが、光電変換手段から出力される
信号は大きく得られるので、S/N比がよい。従って、
低輝度から高輝度の広い範囲にわたる被写体の撮像に
は、光電変換手段を第2状態(対数変換)に切り換えて
使用し、低輝度の被写体や、輝度範囲の狭い被写体の撮
像には、光電変換手段を第1状態(線形変換)に切り換
えて使用すると良い。
【0013】請求項2に記載の固体撮像装置は、入射し
た光量に応じた電気信号を発生する感光素子を有する光
電変換手段と該光電変換手段の出力信号を出力信号線へ
導出する導出路とを備えた画素をマトリクス状に配して
なる二次元の固体撮像装置において、前記感光素子が、
制御電極に入射された光量に応じた光電流を増幅して前
記電気信号を発生するフォトトランジスタであるととも
に、前記光電変換手段が、前記フォトトランジスタより
発生された前記電気信号を線形的に変換する第1状態
と、自然対数的に変換する第2状態とに切り換え可能と
したことを特徴とする。
た光量に応じた電気信号を発生する感光素子を有する光
電変換手段と該光電変換手段の出力信号を出力信号線へ
導出する導出路とを備えた画素をマトリクス状に配して
なる二次元の固体撮像装置において、前記感光素子が、
制御電極に入射された光量に応じた光電流を増幅して前
記電気信号を発生するフォトトランジスタであるととも
に、前記光電変換手段が、前記フォトトランジスタより
発生された前記電気信号を線形的に変換する第1状態
と、自然対数的に変換する第2状態とに切り換え可能と
したことを特徴とする。
【0014】このような固体撮像装置ににおいて、前記
電気信号を線形的に変換する第1状態と、自然対数的に
変換する第2状態とに切り換え可能とされるため、被写
体の輝度状態及び撮像時の環境に応じて、ダイナミック
レンジを変更することができるデジタルカメラやビデオ
カメラを実現することができる。
電気信号を線形的に変換する第1状態と、自然対数的に
変換する第2状態とに切り換え可能とされるため、被写
体の輝度状態及び撮像時の環境に応じて、ダイナミック
レンジを変更することができるデジタルカメラやビデオ
カメラを実現することができる。
【0015】更に、請求項3に記載するように、前記光
電変換手段が前記第1状態で動作して電気信号を前記出
力信号線へ出力した後に前記光電変換手段を初期化する
ためのリセット手段を設けても構わない。
電変換手段が前記第1状態で動作して電気信号を前記出
力信号線へ出力した後に前記光電変換手段を初期化する
ためのリセット手段を設けても構わない。
【0016】このような構成によると、例えば、フォト
トランジスタで発生した光電荷をMOSトランジスタを
用いて変換する場合、MOSトランジスタをOFF状態
にしている線形変換状態で撮像を行ったとき、前記フォ
トトランジスタや前記MOSトランジスタに蓄積された
電荷を、前記リセット手段でリセットを行うことによっ
て、前記フォトトランジスタや前記MOSトランジスタ
を初期状態とすることができる。
トランジスタで発生した光電荷をMOSトランジスタを
用いて変換する場合、MOSトランジスタをOFF状態
にしている線形変換状態で撮像を行ったとき、前記フォ
トトランジスタや前記MOSトランジスタに蓄積された
電荷を、前記リセット手段でリセットを行うことによっ
て、前記フォトトランジスタや前記MOSトランジスタ
を初期状態とすることができる。
【0017】又、請求項4に記載の固体撮像装置のよう
に、前記各画素が、前記光電変換手段の出力信号を増幅
する増幅用トランジスタを有し、該増幅用トランジスタ
の出力信号を前記導出路を介して前記出力信号線へ出力
するようになっていると、各画素からの信号が大きく安
定した状態で読み出される。
に、前記各画素が、前記光電変換手段の出力信号を増幅
する増幅用トランジスタを有し、該増幅用トランジスタ
の出力信号を前記導出路を介して前記出力信号線へ出力
するようになっていると、各画素からの信号が大きく安
定した状態で読み出される。
【0018】更に、請求項5に記載するように、請求項
4に記載の固体撮像装置において、前記出力信号線に接
続されたその総数が全画素数より少ない負荷抵抗又は定
電流源を有するような固体撮像装置であっても良い。こ
の負荷抵抗又は定電流源を設けることによって、各画素
から出力される電流信号を電圧信号として読み出すこと
ができる。このような固体撮像装置において、前記負荷
抵抗又は定電流源は、前記出力信号線に接続された第1
電極と、直流電圧に接続された第2電極と、直流電圧に
接続された制御電極とを有するトランジスタであっても
良い。
4に記載の固体撮像装置において、前記出力信号線に接
続されたその総数が全画素数より少ない負荷抵抗又は定
電流源を有するような固体撮像装置であっても良い。こ
の負荷抵抗又は定電流源を設けることによって、各画素
から出力される電流信号を電圧信号として読み出すこと
ができる。このような固体撮像装置において、前記負荷
抵抗又は定電流源は、前記出力信号線に接続された第1
電極と、直流電圧に接続された第2電極と、直流電圧に
接続された制御電極とを有するトランジスタであっても
良い。
【0019】前記導出路に、全画素の中から所定のもの
を順次選択し、選択された画素から増幅された信号を出
力信号線に導出するスイッチを設けてもよい。これによ
って、各画素から前記出力信号線に出力される信号を順
次読み出してシリアルデータとして出力することができ
る。
を順次選択し、選択された画素から増幅された信号を出
力信号線に導出するスイッチを設けてもよい。これによ
って、各画素から前記出力信号線に出力される信号を順
次読み出してシリアルデータとして出力することができ
る。
【0020】請求項6に記載の固体撮像装置は、請求項
1〜請求項5のいずれかに記載の固体撮像装置におい
て、前記光電変換手段が、制御電極がフローティング状
態にされるとともに、第1電極に直流電圧が印加され、
制御電極に入射された光量によって発生した光電流を増
幅する前記フォトトランジスタと、第1電極と第2電極
と制御電極とを備え、該フォトトランジスタの第2電極
に第1電極及び制御電極が接続され、前記フォトトラン
ジスタからの出力電流が流れ込む第1トランジスタと、
第1電極と第2電極と制御電極とを備え、第1電極に直
流電圧が印加されるとともに制御電極が前記第1トラン
ジスタの制御電極に接続され、第2電極から電気信号を
出力する第2トランジスタとから構成され、前記第1ト
ランジスタをサブスレッショルド領域で動作させること
によって、前記フォトトランジスタから流れる出力電流
を自然対数的に変換することを特徴とする。
1〜請求項5のいずれかに記載の固体撮像装置におい
て、前記光電変換手段が、制御電極がフローティング状
態にされるとともに、第1電極に直流電圧が印加され、
制御電極に入射された光量によって発生した光電流を増
幅する前記フォトトランジスタと、第1電極と第2電極
と制御電極とを備え、該フォトトランジスタの第2電極
に第1電極及び制御電極が接続され、前記フォトトラン
ジスタからの出力電流が流れ込む第1トランジスタと、
第1電極と第2電極と制御電極とを備え、第1電極に直
流電圧が印加されるとともに制御電極が前記第1トラン
ジスタの制御電極に接続され、第2電極から電気信号を
出力する第2トランジスタとから構成され、前記第1ト
ランジスタをサブスレッショルド領域で動作させること
によって、前記フォトトランジスタから流れる出力電流
を自然対数的に変換することを特徴とする。
【0021】又、請求項7に記載の固体撮像装置は、請
求項1〜請求項5のいずれかに記載の固体撮像装置にお
いて、定電流源が設けられるとともに、前記光電変換手
段が、第1電極に直流電圧が印加され、制御電極に入射
された光量によって発生した光電流を増幅する前記フォ
トトランジスタと、第1電極と第2電極と制御電極とを
備え、該フォトトランジスタの第2電極に第1電極及び
制御電極が接続され、前記フォトトランジスタからの出
力電流が流れ込む第1トランジスタと、第1電極と第2
電極と制御電極とを備え、第1電極に直流電圧が印加さ
れるとともに制御電極が前記第1トランジスタの制御電
極に接続され、第2電極から電気信号を出力する第2ト
ランジスタと、前記フォトトランジスタの制御電極と前
記定電流源との間に接続されるとともに、前記フォトト
ランジスタの制御電極と前記定電流源との接続を電気的
に接離する第1スイッチと、から構成され、撮像動作を
行うときは、前記第1スイッチをOFFにするととも
に、前記第1トランジスタをサブスレッショルド領域で
動作させることによって、前記フォトトランジスタから
流れる出力電流を自然対数的に変換し、又、前記光電変
換手段の感度のバラツキを検出するときは前記第1スイ
ッチをONにすることを特徴とする。
求項1〜請求項5のいずれかに記載の固体撮像装置にお
いて、定電流源が設けられるとともに、前記光電変換手
段が、第1電極に直流電圧が印加され、制御電極に入射
された光量によって発生した光電流を増幅する前記フォ
トトランジスタと、第1電極と第2電極と制御電極とを
備え、該フォトトランジスタの第2電極に第1電極及び
制御電極が接続され、前記フォトトランジスタからの出
力電流が流れ込む第1トランジスタと、第1電極と第2
電極と制御電極とを備え、第1電極に直流電圧が印加さ
れるとともに制御電極が前記第1トランジスタの制御電
極に接続され、第2電極から電気信号を出力する第2ト
ランジスタと、前記フォトトランジスタの制御電極と前
記定電流源との間に接続されるとともに、前記フォトト
ランジスタの制御電極と前記定電流源との接続を電気的
に接離する第1スイッチと、から構成され、撮像動作を
行うときは、前記第1スイッチをOFFにするととも
に、前記第1トランジスタをサブスレッショルド領域で
動作させることによって、前記フォトトランジスタから
流れる出力電流を自然対数的に変換し、又、前記光電変
換手段の感度のバラツキを検出するときは前記第1スイ
ッチをONにすることを特徴とする。
【0022】このような構成の固体撮像装置によると、
各画素に設けられたフォトトランジスタの制御電極に、
定電流源より十分大きな定電流を流すとともに、このと
きの出力信号を読み出すことによって、フォトトランジ
スタの増幅率の差異に起因する各画素の感度のバラツキ
を検出することができる。
各画素に設けられたフォトトランジスタの制御電極に、
定電流源より十分大きな定電流を流すとともに、このと
きの出力信号を読み出すことによって、フォトトランジ
スタの増幅率の差異に起因する各画素の感度のバラツキ
を検出することができる。
【0023】又、上記固体撮像装置は、例えば、ビデオ
ムービーなどの撮像装置のように撮像動作とリセット動
作を繰り返し行うことで、動画を撮像する場合、光電変
換素子に光が入射された状態でも、定電流源に接続され
た第1スイッチをONすることにより、フォトトランジ
スタを、光電変換素子への光入射に影響されにくい状態
とすることができ、各画素の感度バラツキを速やかに検
出することができる。従って、被写体の撮像時に各画素
毎の出力を補正するための補正データを獲得するため
に、従来のように一様光を照射する必要がなくなるとと
もに、一様光を照射したときに得られた補正データを記
録し続けておく必要もなくなる。
ムービーなどの撮像装置のように撮像動作とリセット動
作を繰り返し行うことで、動画を撮像する場合、光電変
換素子に光が入射された状態でも、定電流源に接続され
た第1スイッチをONすることにより、フォトトランジ
スタを、光電変換素子への光入射に影響されにくい状態
とすることができ、各画素の感度バラツキを速やかに検
出することができる。従って、被写体の撮像時に各画素
毎の出力を補正するための補正データを獲得するため
に、従来のように一様光を照射する必要がなくなるとと
もに、一様光を照射したときに得られた補正データを記
録し続けておく必要もなくなる。
【0024】請求項6又は請求項7に記載の固体撮像装
置において、前記光電変換手段が、前記第1トランジス
タの第1電極及び制御電極の接続ノードと前記第2トラ
ンジスタの制御電極との間に接続された第2スイッチを
有し、前記固体撮像装置に設けられた前記各光電変換手
段内の前記第2スイッチが、同一のタイミングで動作す
ることによって、同一時間に撮像した電気信号が前記各
光電変換手段から出力されるようにしても良い。
置において、前記光電変換手段が、前記第1トランジス
タの第1電極及び制御電極の接続ノードと前記第2トラ
ンジスタの制御電極との間に接続された第2スイッチを
有し、前記固体撮像装置に設けられた前記各光電変換手
段内の前記第2スイッチが、同一のタイミングで動作す
ることによって、同一時間に撮像した電気信号が前記各
光電変換手段から出力されるようにしても良い。
【0025】このような構成の固体撮像装置によると、
前記第2スイッチを同一のタイミングでONすることに
よって、同一時間の電気信号が前記第2トランジスタの
制御電極にサンプルホールドすることができる。このよ
うに同一時間の映像情報となる電気信号が得られるた
め、各画素毎に順次出力する動作を行って、その出力信
号をシリアルデータとして出力する場合であっても、こ
の出力信号の映像情報が同一時間における映像情報であ
るため、時間的な誤差をなくすことができる。
前記第2スイッチを同一のタイミングでONすることに
よって、同一時間の電気信号が前記第2トランジスタの
制御電極にサンプルホールドすることができる。このよ
うに同一時間の映像情報となる電気信号が得られるた
め、各画素毎に順次出力する動作を行って、その出力信
号をシリアルデータとして出力する場合であっても、こ
の出力信号の映像情報が同一時間における映像情報であ
るため、時間的な誤差をなくすことができる。
【0026】請求項1〜請求項7のいずれかに記載の固
体撮像装置において、前記光電変換手段から出力される
電気信号を積分するキャパシタを有し、該キャパシタで
積分した信号を前記導出路を介して前記出力信号線へ導
出するようにしても良い。
体撮像装置において、前記光電変換手段から出力される
電気信号を積分するキャパシタを有し、該キャパシタで
積分した信号を前記導出路を介して前記出力信号線へ導
出するようにしても良い。
【0027】このような構成の固体撮像装置によると、
キャパシタで積分した信号を出力信号とすることによ
り、光源の変動成分や高周波のノイズがキャパシタで吸
収されて除去される。
キャパシタで積分した信号を出力信号とすることによ
り、光源の変動成分や高周波のノイズがキャパシタで吸
収されて除去される。
【0028】請求項8に記載の固体撮像装置は、画素を
マトリクス状に配してなる二次元の固体撮像装置におい
て、各画素が、ベース電極がフローティング状態にされ
るとともに、第1電極に直流電圧が印加され、ベース電
極に入射された光量によって発生した光電流を増幅する
フォトトランジスタと、該フォトトランジスタの第2電
極に第1電極とゲート電極が接続された第1MOSトラ
ンジスタと、該第1MOSトランジスタのゲート電極に
ゲート電極が接続された第2MOSトランジスタと、を
有し、前記第1MOSトランジスタを閾値以下のサブス
レッショルド領域で動作させることで、前記フォトトラ
ンジスタから出力される電気信号を自然対数的に変換し
て前記第2MOSトランジスタの第2電極から出力させ
ることを特徴とする。
マトリクス状に配してなる二次元の固体撮像装置におい
て、各画素が、ベース電極がフローティング状態にされ
るとともに、第1電極に直流電圧が印加され、ベース電
極に入射された光量によって発生した光電流を増幅する
フォトトランジスタと、該フォトトランジスタの第2電
極に第1電極とゲート電極が接続された第1MOSトラ
ンジスタと、該第1MOSトランジスタのゲート電極に
ゲート電極が接続された第2MOSトランジスタと、を
有し、前記第1MOSトランジスタを閾値以下のサブス
レッショルド領域で動作させることで、前記フォトトラ
ンジスタから出力される電気信号を自然対数的に変換し
て前記第2MOSトランジスタの第2電極から出力させ
ることを特徴とする。
【0029】請求項9に記載の固体撮像装置は、画素を
マトリクス状に配してなる二次元の固体撮像装置におい
て、各画素に定電流を供給する定電流源を有するととも
に、各画素が、第1電極に直流電圧が印加され、ベース
電極に入射された光量によって発生した光電流を増幅す
るフォトトランジスタと、該フォトトランジスタの第2
電極に第1電極とゲート電極が接続された第1MOSト
ランジスタと、該第1MOSトランジスタのゲート電極
にゲート電極が接続された第2MOSトランジスタと、
前記定電流源に第1電極が接続されるとともに、前記フ
ォトトランジスタのベース電極に第2電極が接続された
第3MOSトランジスタと、を有し、撮像動作を行うと
きは、前記第3MOSトランジスタにOFFとするとと
もに、前記第1MOSトランジスタを閾値以下のサブス
レッショルド領域で動作させることで、前記フォトトラ
ンジスタから出力される電気信号を自然対数的に変換し
て前記第2MOSトランジスタの第2電極から出力さ
せ、前記画素の感度のバラツキを検出するときは前記第
3MOSトランジスタをONにすることを特徴とする。
マトリクス状に配してなる二次元の固体撮像装置におい
て、各画素に定電流を供給する定電流源を有するととも
に、各画素が、第1電極に直流電圧が印加され、ベース
電極に入射された光量によって発生した光電流を増幅す
るフォトトランジスタと、該フォトトランジスタの第2
電極に第1電極とゲート電極が接続された第1MOSト
ランジスタと、該第1MOSトランジスタのゲート電極
にゲート電極が接続された第2MOSトランジスタと、
前記定電流源に第1電極が接続されるとともに、前記フ
ォトトランジスタのベース電極に第2電極が接続された
第3MOSトランジスタと、を有し、撮像動作を行うと
きは、前記第3MOSトランジスタにOFFとするとと
もに、前記第1MOSトランジスタを閾値以下のサブス
レッショルド領域で動作させることで、前記フォトトラ
ンジスタから出力される電気信号を自然対数的に変換し
て前記第2MOSトランジスタの第2電極から出力さ
せ、前記画素の感度のバラツキを検出するときは前記第
3MOSトランジスタをONにすることを特徴とする。
【0030】請求項8又は請求項9に記載の固体撮像装
置において、請求項10に記載するように、前記画素
に、前記第1MOSトランジスタのゲート電極に第1電
極が接続され、第2電極が直流電圧に接続されるととも
に、ゲート電極に入力される電圧のレベルの切り換えに
よって、前記第1MOSトランジスタのゲート電極に蓄
積された電荷を放出してリセットする第4MOSトラン
ジスタを設けても構わない。このような構成によると、
前記第1トランジスタの第1電極と第2電極の間の電位
差を変えることによって、光電変換手段の動作を、前記
フォトトランジスタから出力される電気信号を線形的に
変換して出力する第1状態と、前記フォトトランジスタ
から出力される電気信号を自然対数的に変換して出力す
る第2状態とに切り換えて、そのダイナミックレンジの
大きさを変更することができる。
置において、請求項10に記載するように、前記画素
に、前記第1MOSトランジスタのゲート電極に第1電
極が接続され、第2電極が直流電圧に接続されるととも
に、ゲート電極に入力される電圧のレベルの切り換えに
よって、前記第1MOSトランジスタのゲート電極に蓄
積された電荷を放出してリセットする第4MOSトラン
ジスタを設けても構わない。このような構成によると、
前記第1トランジスタの第1電極と第2電極の間の電位
差を変えることによって、光電変換手段の動作を、前記
フォトトランジスタから出力される電気信号を線形的に
変換して出力する第1状態と、前記フォトトランジスタ
から出力される電気信号を自然対数的に変換して出力す
る第2状態とに切り換えて、そのダイナミックレンジの
大きさを変更することができる。
【0031】そして、前記画素が前記第1状態で動作す
る場合は、前記第1MOSトランジスタの第2電極と前
記フォトトランジスタの第1電極の電位を接近させるこ
とにより前記第1MOSトランジスタを不作動状態とす
るとともに、電気信号を出力した後、前記第4MOSト
ランジスタのゲート電極に入力する電圧のレベルを切り
換えることによって前記第4MOSトランジスタを導通
させて、少なくとも前記第1MOSトランジスタの第1
電極及びゲート電極に蓄積された電荷を放出してリセッ
トする。又、前記画素が前記第2状態で動作する場合
は、前記第1MOSトランジスタを閾値以下のサブスレ
ッショルド領域で動作させる。
る場合は、前記第1MOSトランジスタの第2電極と前
記フォトトランジスタの第1電極の電位を接近させるこ
とにより前記第1MOSトランジスタを不作動状態とす
るとともに、電気信号を出力した後、前記第4MOSト
ランジスタのゲート電極に入力する電圧のレベルを切り
換えることによって前記第4MOSトランジスタを導通
させて、少なくとも前記第1MOSトランジスタの第1
電極及びゲート電極に蓄積された電荷を放出してリセッ
トする。又、前記画素が前記第2状態で動作する場合
は、前記第1MOSトランジスタを閾値以下のサブスレ
ッショルド領域で動作させる。
【0032】請求項8又は請求項9に記載する固体撮像
装置において、請求項11に記載するように、前記画素
に、前記第1MOSトランジスタの第1電極とゲート電
極との接続ノードに第1電極が接続されるとともに、前
記第2MOSトランジスタのゲート電極に第2電極が接
続された第5MOSトランジスタを設けても構わない。
このような構成の固体撮像装置によると、前記固体撮像
装置内に設けられた各画素内の前記第5MOSトランジ
スタが、同一のタイミングで動作することによって、同
一時間に撮像した電気信号が前記各画素から出力され
る。
装置において、請求項11に記載するように、前記画素
に、前記第1MOSトランジスタの第1電極とゲート電
極との接続ノードに第1電極が接続されるとともに、前
記第2MOSトランジスタのゲート電極に第2電極が接
続された第5MOSトランジスタを設けても構わない。
このような構成の固体撮像装置によると、前記固体撮像
装置内に設けられた各画素内の前記第5MOSトランジ
スタが、同一のタイミングで動作することによって、同
一時間に撮像した電気信号が前記各画素から出力され
る。
【0033】又、請求項8〜請求項11に記載する固体
撮像装置において、請求項12に記載するように、前記
画素に、第1電極が前記第2MOSトランジスタの第2
電極に接続され、第2電極が出力信号線に接続され、ゲ
ート電極が行選択線に接続された第6MOSトランジス
タを設けることで、この第6MOSトランジスタを行選
択用のスイッチとすることができる。
撮像装置において、請求項12に記載するように、前記
画素に、第1電極が前記第2MOSトランジスタの第2
電極に接続され、第2電極が出力信号線に接続され、ゲ
ート電極が行選択線に接続された第6MOSトランジス
タを設けることで、この第6MOSトランジスタを行選
択用のスイッチとすることができる。
【0034】請求項13に記載する固体撮像装置は、請
求項8〜請求項10のいずれかに記載の固体撮像装置に
おいて、前記画素が、第1電極が直流電圧に接続され、
ゲート電極が前記第2MOSトランジスタの第2電極に
接続されるとともに、前記第2MOSトランジスタの第
2電極から出力される出力信号を増幅する第7MOSト
ランジスタと、第1電極が前記第7MOSトランジスタ
の第2電極に接続され、第2電極が出力信号線に接続さ
れ、ゲート電極が行選択線に接続された第6MOSトラ
ンジスタと、を有することを特徴とする。
求項8〜請求項10のいずれかに記載の固体撮像装置に
おいて、前記画素が、第1電極が直流電圧に接続され、
ゲート電極が前記第2MOSトランジスタの第2電極に
接続されるとともに、前記第2MOSトランジスタの第
2電極から出力される出力信号を増幅する第7MOSト
ランジスタと、第1電極が前記第7MOSトランジスタ
の第2電極に接続され、第2電極が出力信号線に接続さ
れ、ゲート電極が行選択線に接続された第6MOSトラ
ンジスタと、を有することを特徴とする。
【0035】請求項13の固体撮像装置において、請求
項14に記載するように、前記画素に、前記第2MOS
トランジスタの第2電極に一端が接続され他端が前記第
1MOSトランジスタの第2電極が接続される信号線に
接続されるとともに、前記第2MOSトランジスタの第
1電極にリセット電圧が与えられたときに前記第2MO
Sトランジスタを介してリセットされるキャパシタを設
けても良い。このような構成にすることによって、画素
から出力される信号が、一旦キャパシタで積分された信
号となるので、光源の変動成分や高周波のノイズがキャ
パシタで吸収されて除去される。更に、前記第2MOS
トランジスタの第1電極にリセット電圧を与えることに
よって、前記第2MOSトランジスタを介してキャパシ
タ内の電荷が放出されてリセットされる。
項14に記載するように、前記画素に、前記第2MOS
トランジスタの第2電極に一端が接続され他端が前記第
1MOSトランジスタの第2電極が接続される信号線に
接続されるとともに、前記第2MOSトランジスタの第
1電極にリセット電圧が与えられたときに前記第2MO
Sトランジスタを介してリセットされるキャパシタを設
けても良い。このような構成にすることによって、画素
から出力される信号が、一旦キャパシタで積分された信
号となるので、光源の変動成分や高周波のノイズがキャ
パシタで吸収されて除去される。更に、前記第2MOS
トランジスタの第1電極にリセット電圧を与えることに
よって、前記第2MOSトランジスタを介してキャパシ
タ内の電荷が放出されてリセットされる。
【0036】又、請求項15に記載するように、前記画
素において、前記第2MOSトランジスタの第1電極が
直流電圧に接続されるとともに、前記第2MOSトラン
ジスタの第2電極に第1電極が接続され第2電極に直流
電圧が接続された第8MOSトランジスタと、前記第2
MOSトランジスタの第2電極に一端が接続され他端が
前記第1MOSトランジスタの第2電極が接続される信
号線に接続されるとともに、前記第8MOSトランジス
タのゲート電極にリセット電圧が与えられたときに前記
第8MOSトランジスタを介してリセットされるキャパ
シタと、を設けても良い。このような構成にすることに
よって、画素から出力される信号が、一旦キャパシタで
積分された信号となるので、光源の変動成分や高周波の
ノイズがキャパシタで吸収されて除去される。更に、前
記第8MOSトランジスタのゲート電極にリセット電圧
を与えることによって、前記第8MOSトランジスタを
介してキャパシタ内の電荷が放出されてリセットされ
る。
素において、前記第2MOSトランジスタの第1電極が
直流電圧に接続されるとともに、前記第2MOSトラン
ジスタの第2電極に第1電極が接続され第2電極に直流
電圧が接続された第8MOSトランジスタと、前記第2
MOSトランジスタの第2電極に一端が接続され他端が
前記第1MOSトランジスタの第2電極が接続される信
号線に接続されるとともに、前記第8MOSトランジス
タのゲート電極にリセット電圧が与えられたときに前記
第8MOSトランジスタを介してリセットされるキャパ
シタと、を設けても良い。このような構成にすることに
よって、画素から出力される信号が、一旦キャパシタで
積分された信号となるので、光源の変動成分や高周波の
ノイズがキャパシタで吸収されて除去される。更に、前
記第8MOSトランジスタのゲート電極にリセット電圧
を与えることによって、前記第8MOSトランジスタを
介してキャパシタ内の電荷が放出されてリセットされ
る。
【0037】請求項16に記載の固体撮像装置は、請求
項8〜請求項15のいずれかに記載の固体撮像装置前記
画素に対し前記出力信号線を介して接続された負荷抵抗
又は定電流源を成すMOSトランジスタを備えているこ
とを特徴とする。
項8〜請求項15のいずれかに記載の固体撮像装置前記
画素に対し前記出力信号線を介して接続された負荷抵抗
又は定電流源を成すMOSトランジスタを備えているこ
とを特徴とする。
【0038】又、請求項17に記載の固体撮像装置は、
請求項8〜請求項16のいずれかに記載の固体撮像装置
において、前記MOSトランジスタが全てNチャネルの
MOSトランジスタであるとともに、前記フォトトラン
ジスタがnpn型のフォトトランジスタであることを特
徴とする。
請求項8〜請求項16のいずれかに記載の固体撮像装置
において、前記MOSトランジスタが全てNチャネルの
MOSトランジスタであるとともに、前記フォトトラン
ジスタがnpn型のフォトトランジスタであることを特
徴とする。
【0039】
【発明の実施の形態】<画素構成の第1例>図1は本発
明の他の実施形態である二次元のMOS型固体撮像装置
の一部の構成を概略的に示している。同図において、G
11〜Gmnは行列配置(マトリクス配置)された画素を
示している。2は垂直走査回路であり、行(ライン)4
−1、4−2、・・・、4−nを順次走査していく。3
は水平走査回路であり、画素から出力信号線6−1、6
−2、・・・、6−mに導出された光電変換信号を画素
ごとに水平方向に順次読み出す。5は電源ラインであ
る。各画素に対し、上記ライン4−1、4−2・・・、
4−nや出力信号線6−1、6−2・・・、6−m、電
源ライン5だけでなく、他のライン(例えば、クロック
ラインやバイアス供給ライン等)も接続されるが、図1
ではこれらについて省略し、図3以降の各実施形態にお
いて示している。
明の他の実施形態である二次元のMOS型固体撮像装置
の一部の構成を概略的に示している。同図において、G
11〜Gmnは行列配置(マトリクス配置)された画素を
示している。2は垂直走査回路であり、行(ライン)4
−1、4−2、・・・、4−nを順次走査していく。3
は水平走査回路であり、画素から出力信号線6−1、6
−2、・・・、6−mに導出された光電変換信号を画素
ごとに水平方向に順次読み出す。5は電源ラインであ
る。各画素に対し、上記ライン4−1、4−2・・・、
4−nや出力信号線6−1、6−2・・・、6−m、電
源ライン5だけでなく、他のライン(例えば、クロック
ラインやバイアス供給ライン等)も接続されるが、図1
ではこれらについて省略し、図3以降の各実施形態にお
いて示している。
【0040】出力信号線6−1、6−2、・・・、6−
mごとにNチャネルのMOSトランジスタQ1、Q2が
図示の如く1組ずつ設けられている。出力信号線6−1
を例にとって説明すると、MOSトランジスタQ1のゲ
ートは直流電圧線11に接続され、ドレインは出力信号
線6−1に接続され、ソースは直流電圧VPS’のライン
12に接続されている。一方、MOSトランジスタQ2
のドレインは出力信号線6−1に接続され、ソースは最
終的な信号線7に接続され、ゲートは水平走査回路3に
接続されている。
mごとにNチャネルのMOSトランジスタQ1、Q2が
図示の如く1組ずつ設けられている。出力信号線6−1
を例にとって説明すると、MOSトランジスタQ1のゲ
ートは直流電圧線11に接続され、ドレインは出力信号
線6−1に接続され、ソースは直流電圧VPS’のライン
12に接続されている。一方、MOSトランジスタQ2
のドレインは出力信号線6−1に接続され、ソースは最
終的な信号線7に接続され、ゲートは水平走査回路3に
接続されている。
【0041】画素G11〜Gmnには、後述するように、
それらの画素で発生した光電荷に基づく信号を出力する
NチャネルのMOSトランジスタTaが設けられてい
る。MOSトランジスタTaと上記MOSトランジスタ
Q1との接続関係は図2(a)のようになる。このMO
SトランジスタTaは、第1及び第2の実施形態では、
第7MOSトランジスタT7に、第3〜第5の実施形態
では、第2MOSトランジスタT2に相当する。ここ
で、MOSトランジスタQ1のソースに接続される直流
電圧VPS’と、MOSトランジスタTaのドレインに接
続される直流電圧VPD’との関係はVPD’>VPS’であ
り、直流電圧VPS’は例えばグランド電圧(接地)であ
る。この回路構成は上段のMOSトランジスタTaのゲ
ートに信号が入力され、下段のMOSトランジスタQ1
のゲートには直流電圧DCが常時印加される。このため
下段のMOSトランジスタQ1は抵抗又は定電流源と等
価であり、図2(a)の回路はソースフォロワ型の増幅
回路となっている。この場合、MOSトランジスタTa
から増幅出力されるのは電流であると考えてよい。
それらの画素で発生した光電荷に基づく信号を出力する
NチャネルのMOSトランジスタTaが設けられてい
る。MOSトランジスタTaと上記MOSトランジスタ
Q1との接続関係は図2(a)のようになる。このMO
SトランジスタTaは、第1及び第2の実施形態では、
第7MOSトランジスタT7に、第3〜第5の実施形態
では、第2MOSトランジスタT2に相当する。ここ
で、MOSトランジスタQ1のソースに接続される直流
電圧VPS’と、MOSトランジスタTaのドレインに接
続される直流電圧VPD’との関係はVPD’>VPS’であ
り、直流電圧VPS’は例えばグランド電圧(接地)であ
る。この回路構成は上段のMOSトランジスタTaのゲ
ートに信号が入力され、下段のMOSトランジスタQ1
のゲートには直流電圧DCが常時印加される。このため
下段のMOSトランジスタQ1は抵抗又は定電流源と等
価であり、図2(a)の回路はソースフォロワ型の増幅
回路となっている。この場合、MOSトランジスタTa
から増幅出力されるのは電流であると考えてよい。
【0042】MOSトランジスタQ2は水平走査回路3
によって制御され、スイッチ素子として動作する。尚、
後述するように図3以降の各実施形態の画素内にはスイ
ッチ用のNチャネルの第6MOSトランジスタT6も設
けられている。この第6MOSトランジスタT6も含め
て表わすと、図2(a)の回路は正確には図2(b)の
ようになる。即ち、MOSトランジスタT6がMOSト
ランジスタQ1とMOSトランジスタTaとの間に挿入
されている。ここで、MOSトランジスタT6は行の選
択を行うものであり、トランジスタQ2は列の選択を行
うものである。尚、図1および図2に示す構成は以下に
説明する第1の実施形態〜第5の実施形態に共通の構成
である。
によって制御され、スイッチ素子として動作する。尚、
後述するように図3以降の各実施形態の画素内にはスイ
ッチ用のNチャネルの第6MOSトランジスタT6も設
けられている。この第6MOSトランジスタT6も含め
て表わすと、図2(a)の回路は正確には図2(b)の
ようになる。即ち、MOSトランジスタT6がMOSト
ランジスタQ1とMOSトランジスタTaとの間に挿入
されている。ここで、MOSトランジスタT6は行の選
択を行うものであり、トランジスタQ2は列の選択を行
うものである。尚、図1および図2に示す構成は以下に
説明する第1の実施形態〜第5の実施形態に共通の構成
である。
【0043】図2のように構成することにより信号のゲ
インを大きく出力することができる。従って、画素がダ
イナミックレンジ拡大のために感光素子から発生する光
電流を自然対数的に変換しているような場合は、そのま
までは出力信号が小さいが、本増幅回路により充分大き
な信号に増幅されるため、後続の信号処理回路(図示せ
ず)での処理が容易になる。また、増幅回路の負荷抵抗
部分を構成するトランジスタQ1を画素内に設けずに、
列方向に配置された複数の画素が接続される出力信号線
6−1、6−2、・・・、6−mごとに設けることによ
り、負荷抵抗又は定電流源の数を低減でき、半導体チッ
プ上で増幅回路が占める面積を少なくできる。
インを大きく出力することができる。従って、画素がダ
イナミックレンジ拡大のために感光素子から発生する光
電流を自然対数的に変換しているような場合は、そのま
までは出力信号が小さいが、本増幅回路により充分大き
な信号に増幅されるため、後続の信号処理回路(図示せ
ず)での処理が容易になる。また、増幅回路の負荷抵抗
部分を構成するトランジスタQ1を画素内に設けずに、
列方向に配置された複数の画素が接続される出力信号線
6−1、6−2、・・・、6−mごとに設けることによ
り、負荷抵抗又は定電流源の数を低減でき、半導体チッ
プ上で増幅回路が占める面積を少なくできる。
【0044】<第1の実施形態>図1に示した画素構成
の第1例の各画素に適用される第1の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図3は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。
の第1例の各画素に適用される第1の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図3は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。
【0045】図3において、npn型フォトトランジス
タPTrが感光部(光電変換部)を形成している。その
フォトトランジスタPTrのエミッタは第1MOSトラ
ンジスタT1のドレインとゲート、及び第2MOSトラ
ンジスタT2のゲートに接続されている。MOSトラン
ジスタT2のソースは第7MOSトランジスタT7のゲ
ート、及び第8MOSトランジスタT8のドレインに接
続され、MOSトランジスタT7のソースは第6MOS
トランジスタT6のドレインに接続されている。MOS
トランジスタT6のソースは出力信号線6(この出力信
号線6は、図1の6−1、6−2、・・・、6−mに対
応する)へ接続されている。尚、MOSトランジスタT
1,T2,T6〜T8は、NチャネルのMOSトランジ
スタでバックゲートが接地されている。
タPTrが感光部(光電変換部)を形成している。その
フォトトランジスタPTrのエミッタは第1MOSトラ
ンジスタT1のドレインとゲート、及び第2MOSトラ
ンジスタT2のゲートに接続されている。MOSトラン
ジスタT2のソースは第7MOSトランジスタT7のゲ
ート、及び第8MOSトランジスタT8のドレインに接
続され、MOSトランジスタT7のソースは第6MOS
トランジスタT6のドレインに接続されている。MOS
トランジスタT6のソースは出力信号線6(この出力信
号線6は、図1の6−1、6−2、・・・、6−mに対
応する)へ接続されている。尚、MOSトランジスタT
1,T2,T6〜T8は、NチャネルのMOSトランジ
スタでバックゲートが接地されている。
【0046】又、フォトトランジスタPTrのコレクタ
とMOSトランジスタT2,T7のドレインには直流電
圧VPDが印加されるようになっている。一方、MOSト
ランジスタT1のソースには直流電圧VPSが印加されて
おり、MOSトランジスタT2のソースにはキャパシタ
Cを介して同じく直流電圧VPSが印加されている。MO
SトランジスタT8のソースには直流電圧VRGが印加さ
れている。MOSトランジスタT8のゲートには信号φ
VRSが入力される。又、MOSトランジスタT6のゲー
トには信号φVが入力される。MOSトランジスタT
1、T2はいずれもサブスレッショルド領域で動作する
ようにバイアスされている。
とMOSトランジスタT2,T7のドレインには直流電
圧VPDが印加されるようになっている。一方、MOSト
ランジスタT1のソースには直流電圧VPSが印加されて
おり、MOSトランジスタT2のソースにはキャパシタ
Cを介して同じく直流電圧VPSが印加されている。MO
SトランジスタT8のソースには直流電圧VRGが印加さ
れている。MOSトランジスタT8のゲートには信号φ
VRSが入力される。又、MOSトランジスタT6のゲー
トには信号φVが入力される。MOSトランジスタT
1、T2はいずれもサブスレッショルド領域で動作する
ようにバイアスされている。
【0047】又、フォトトランジスタPTrのベース
は、電圧が印加されないフローティング状態とする。こ
のフォトトランジスタPTrは、ベース・エミッタ間の
PN接合に入射される光の光量に応じてベース電流が発
生し、このベース電流が増幅されたエミッタ電流を電気
信号(以下、「光電流」と呼ぶ)としてMOSトランジ
スタT1のドレインに与える。このフォトトランジスタ
PTrは、ベース電流をその大きさが略100倍となる
エミッタ電流に増幅するため、フォトダイオードに比べ
て、大きな光電流を得ることができる。
は、電圧が印加されないフローティング状態とする。こ
のフォトトランジスタPTrは、ベース・エミッタ間の
PN接合に入射される光の光量に応じてベース電流が発
生し、このベース電流が増幅されたエミッタ電流を電気
信号(以下、「光電流」と呼ぶ)としてMOSトランジ
スタT1のドレインに与える。このフォトトランジスタ
PTrは、ベース電流をその大きさが略100倍となる
エミッタ電流に増幅するため、フォトダイオードに比べ
て、大きな光電流を得ることができる。
【0048】フォトトランジスタPTrに光が入射する
と光電流が発生し、MOSトランジスタのサブスレッシ
ョルド特性により、前記光電流を自然対数的に変換した
値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲートに発
生する。この電圧により、MOSトランジスタT2に電
流が流れ、キャパシタCには前記光電流の積分値を自然
対数的に変換した値と同等の電荷が蓄積される。つま
り、キャパシタCとMOSトランジスタT2のソースと
の接続ノードaに、前記光電流の積分値を自然対数的に
変換した値に比例した電圧が生じることになる。ただ
し、このとき、MOSトランジスタT6,T8はOFF
状態である。
と光電流が発生し、MOSトランジスタのサブスレッシ
ョルド特性により、前記光電流を自然対数的に変換した
値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲートに発
生する。この電圧により、MOSトランジスタT2に電
流が流れ、キャパシタCには前記光電流の積分値を自然
対数的に変換した値と同等の電荷が蓄積される。つま
り、キャパシタCとMOSトランジスタT2のソースと
の接続ノードaに、前記光電流の積分値を自然対数的に
変換した値に比例した電圧が生じることになる。ただ
し、このとき、MOSトランジスタT6,T8はOFF
状態である。
【0049】次に、MOSトランジスタT6のゲートに
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT7のゲートにかかる
電圧に比例した電流がMOSトランジスタT6,T7を
通って出力信号線6に導出される。今、MOSトランジ
スタT7のゲートにかかる電圧は、接続ノードaにかか
る電圧であるので、出力信号線6に導出される電流は前
記光電流の積分値を自然対数的に変換した値となる。
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT7のゲートにかかる
電圧に比例した電流がMOSトランジスタT6,T7を
通って出力信号線6に導出される。今、MOSトランジ
スタT7のゲートにかかる電圧は、接続ノードaにかか
る電圧であるので、出力信号線6に導出される電流は前
記光電流の積分値を自然対数的に変換した値となる。
【0050】このようにして入射光量の対数値に比例し
た信号(出力電流)を読み出すことができる。信号読み
出し後はMOSトランジスタT6をOFFにするととも
に、MOSトランジスタT8のゲートにハイレベルの信
号φVRSを与えることでMOSトランジスタT8をON
として、キャパシタC及び接続ノードaの電位を初期化
して、次の撮像動作に備える。
た信号(出力電流)を読み出すことができる。信号読み
出し後はMOSトランジスタT6をOFFにするととも
に、MOSトランジスタT8のゲートにハイレベルの信
号φVRSを与えることでMOSトランジスタT8をON
として、キャパシタC及び接続ノードaの電位を初期化
して、次の撮像動作に備える。
【0051】尚、図4に示すように、キャパシタCとM
OSトランジスタT8との間に、キャパシタCにドレイ
ンが接続され、MOSトランジスタT8のドレインにソ
ースが接続されたMOSトランジスタT9と、MOSト
ランジスタT9のソースに一端が接続されたキャパシタ
C2とを設けても良い。この場合、MOSトランジスタ
T9のゲートに与える信号φV1によりMOSトランジ
スタT9をONしてキャパシタCの電荷をキャパシタC
2に移した後、MOSトランジスタT9をOFFするこ
とでMOSトランジスタT6によって信号読み出しを行
っている間にキャパシタCによる次の積分動作を開始す
ることができる。従って、全画素について同時刻に積分
を行うことができる。
OSトランジスタT8との間に、キャパシタCにドレイ
ンが接続され、MOSトランジスタT8のドレインにソ
ースが接続されたMOSトランジスタT9と、MOSト
ランジスタT9のソースに一端が接続されたキャパシタ
C2とを設けても良い。この場合、MOSトランジスタ
T9のゲートに与える信号φV1によりMOSトランジ
スタT9をONしてキャパシタCの電荷をキャパシタC
2に移した後、MOSトランジスタT9をOFFするこ
とでMOSトランジスタT6によって信号読み出しを行
っている間にキャパシタCによる次の積分動作を開始す
ることができる。従って、全画素について同時刻に積分
を行うことができる。
【0052】<第2の実施形態>図1に示した画素構成
の第1例の各画素に適用される第2の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図5は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図3に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
の第1例の各画素に適用される第2の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図5は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図3に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
【0053】図5に示すように、本実施形態では、MO
SトランジスタT2のドレインに信号φDを与えること
によってキャパシタC及び接続ノードaの電圧を初期化
するようにし、それによってMOSトランジスタT8を
削除した構成となっている。その他の構成は第1の実施
形態(図3)と同一である。尚、信号φDのハイレベル
期間では、キャパシタCで積分が行なわれ、ローレベル
期間では、キャパシタCの電荷がMOSトランジスタT
2を通して放電され、キャパシタCの電圧及びMOSト
ランジスタT7のゲートは略信号φDのローレベル電圧
に初期化される(リセット)。本実施形態では、MOS
トランジスタT8を省略できる分、構成がシンプルにな
る。
SトランジスタT2のドレインに信号φDを与えること
によってキャパシタC及び接続ノードaの電圧を初期化
するようにし、それによってMOSトランジスタT8を
削除した構成となっている。その他の構成は第1の実施
形態(図3)と同一である。尚、信号φDのハイレベル
期間では、キャパシタCで積分が行なわれ、ローレベル
期間では、キャパシタCの電荷がMOSトランジスタT
2を通して放電され、キャパシタCの電圧及びMOSト
ランジスタT7のゲートは略信号φDのローレベル電圧
に初期化される(リセット)。本実施形態では、MOS
トランジスタT8を省略できる分、構成がシンプルにな
る。
【0054】この実施形態において、まず、信号φDを
ハイレベル(例えば、直流電圧VPDと略等しい電圧)に
して、光電流の積分値を自然対数的に変換した値と同等
の電荷をキャパシタCに蓄積する。そして、所定のタイ
ミングでMOSトランジスタT6をONにして、MOS
トランジスタT7のゲートにかかる電圧に比例した電流
をMOSトランジスタT6,T7を通して出力信号線6
に導出する。その後、MOSトランジスタT6をOFF
するとともに信号φDをローレベル(直流電圧VPSより
も低い電圧)にすると、キャパシタCの電荷がMOSト
ランジスタT2を通して信号φDの信号線路へ放電さ
れ、それによって、キャパシタC及び接続ノードaの電
圧が初期化される。
ハイレベル(例えば、直流電圧VPDと略等しい電圧)に
して、光電流の積分値を自然対数的に変換した値と同等
の電荷をキャパシタCに蓄積する。そして、所定のタイ
ミングでMOSトランジスタT6をONにして、MOS
トランジスタT7のゲートにかかる電圧に比例した電流
をMOSトランジスタT6,T7を通して出力信号線6
に導出する。その後、MOSトランジスタT6をOFF
するとともに信号φDをローレベル(直流電圧VPSより
も低い電圧)にすると、キャパシタCの電荷がMOSト
ランジスタT2を通して信号φDの信号線路へ放電さ
れ、それによって、キャパシタC及び接続ノードaの電
圧が初期化される。
【0055】<第3の実施形態>図1に示した画素構成
の第1例の各画素に適用される第3の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図6は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図5に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
の第1例の各画素に適用される第3の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図6は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図5に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
【0056】図6に示すように、本実施形態では、MO
SトランジスタT2のドレインに直流電圧VPDが印加さ
れるとともに、キャパシタC及びMOSトランジスタT
7を削除した構成となっている。そして、MOSトラン
ジスタT2のソースがMOSトランジスタT6のドレイ
ンに接続される。その他の構成は第2の実施形態(図
5)と同一である。
SトランジスタT2のドレインに直流電圧VPDが印加さ
れるとともに、キャパシタC及びMOSトランジスタT
7を削除した構成となっている。そして、MOSトラン
ジスタT2のソースがMOSトランジスタT6のドレイ
ンに接続される。その他の構成は第2の実施形態(図
5)と同一である。
【0057】このような構成の回路において、MOSト
ランジスタT2のゲート電圧をフォトトランジスタPT
rで発生する光電流に対して自然対数的に変化させるこ
とによって、前記光電流に対して自然対数的に比例した
値のドレイン電流がMOSトランジスタT2を流れる。
そして、MOSトランジスタT6のゲートに信号φVを
与えてONとすると、前記光電流に対して自然対数的に
比例した値のドレイン電流が、MOSトランジスタT
2,T6を通して出力信号線6に導出される。このと
き、MOSトランジスタT2及びMOSトランジスタQ
1(図2)の導通時抵抗とそれらを流れる電流によって
決まるMOSトランジスタQ1のドレイン電圧が、信号
として出力信号線6に現れる。このようにして信号が読
み出された後、MOSトランジスタT6がOFFにな
る。
ランジスタT2のゲート電圧をフォトトランジスタPT
rで発生する光電流に対して自然対数的に変化させるこ
とによって、前記光電流に対して自然対数的に比例した
値のドレイン電流がMOSトランジスタT2を流れる。
そして、MOSトランジスタT6のゲートに信号φVを
与えてONとすると、前記光電流に対して自然対数的に
比例した値のドレイン電流が、MOSトランジスタT
2,T6を通して出力信号線6に導出される。このと
き、MOSトランジスタT2及びMOSトランジスタQ
1(図2)の導通時抵抗とそれらを流れる電流によって
決まるMOSトランジスタQ1のドレイン電圧が、信号
として出力信号線6に現れる。このようにして信号が読
み出された後、MOSトランジスタT6がOFFにな
る。
【0058】尚、本実施形態では上記第2の実施形態の
ように、光信号をキャパシタCで一旦積分するというこ
とを行わないので、積分時間が不要となり、又、キャパ
シタCのリセットも不要であるので、その分信号処理の
高速化が図れる。又、本実施形態では、第2の実施形態
に比し、キャパシタC及びMOSトランジスタT7を省
略できる分、構成が更にシンプルになり画素サイズを小
さくすることができる。
ように、光信号をキャパシタCで一旦積分するというこ
とを行わないので、積分時間が不要となり、又、キャパ
シタCのリセットも不要であるので、その分信号処理の
高速化が図れる。又、本実施形態では、第2の実施形態
に比し、キャパシタC及びMOSトランジスタT7を省
略できる分、構成が更にシンプルになり画素サイズを小
さくすることができる。
【0059】<第4の実施形態>図1に示した画素構成
の第1例の各画素に適用される第4の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図7は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図6に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
の第1例の各画素に適用される第4の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図7は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図6に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
【0060】図7に示すように、本実施形態では、MO
SトランジスタT1のドレインとゲートとの接続ノード
にドレインが接続されるとともに、MOSトランジスタ
T2のゲートにソースが接続された第5MOSトランジ
スタT5が新たに設けられた構成となっている。MOS
トランジスタT5のゲートには、信号φSが入力され
る。その他の構成は第3の実施形態(図6)と同一であ
る。尚、MOSトランジスタT5は、MOSトランジス
タT1と同様、NチャネルのMOSトランジスタでバッ
クゲートが接地されている。
SトランジスタT1のドレインとゲートとの接続ノード
にドレインが接続されるとともに、MOSトランジスタ
T2のゲートにソースが接続された第5MOSトランジ
スタT5が新たに設けられた構成となっている。MOS
トランジスタT5のゲートには、信号φSが入力され
る。その他の構成は第3の実施形態(図6)と同一であ
る。尚、MOSトランジスタT5は、MOSトランジス
タT1と同様、NチャネルのMOSトランジスタでバッ
クゲートが接地されている。
【0061】このような構成の回路において、まず、信
号φSをローレベルにして、図1のような構成の固体撮
像装置内の画素G11〜Gmn(図1)に設けられたMOS
トランジスタT5を全てOFFの状態にする。このと
き、フォトトランジスタPTrは入射される光の光量に
応じた光電流を発生し、MOSトランジスタT1のゲー
ト電圧はこの光電流を対数変換した値に相当する電圧と
なる。次に、同一のタイミングで画素G11〜Gmn内のM
OSトランジスタT5のゲートにパルス信号φSを与え
る。尚、MOSトランジスタT5は、パルス信号φSが
ハイレベルのときONとなり、このとき、MOSトラン
ジスタT1に現れる光電流を対数変換した値に相当する
電圧がMOSトランジスタT2のゲートにサンプルホー
ルドされる。即ち、同一時間に撮像した映像情報が、各
画素の出力側の回路にサンプルホールドされたことにな
る。このようにMOSトランジスタT2のゲートにサン
プルホールドされると、MOSトランジスタT5がOF
Fになる。
号φSをローレベルにして、図1のような構成の固体撮
像装置内の画素G11〜Gmn(図1)に設けられたMOS
トランジスタT5を全てOFFの状態にする。このと
き、フォトトランジスタPTrは入射される光の光量に
応じた光電流を発生し、MOSトランジスタT1のゲー
ト電圧はこの光電流を対数変換した値に相当する電圧と
なる。次に、同一のタイミングで画素G11〜Gmn内のM
OSトランジスタT5のゲートにパルス信号φSを与え
る。尚、MOSトランジスタT5は、パルス信号φSが
ハイレベルのときONとなり、このとき、MOSトラン
ジスタT1に現れる光電流を対数変換した値に相当する
電圧がMOSトランジスタT2のゲートにサンプルホー
ルドされる。即ち、同一時間に撮像した映像情報が、各
画素の出力側の回路にサンプルホールドされたことにな
る。このようにMOSトランジスタT2のゲートにサン
プルホールドされると、MOSトランジスタT5がOF
Fになる。
【0062】そして、垂直走査回路2(図1)及び水平
走査回路3(図1)によって、画素G11〜Gmnに設けら
れたMOSトランジスタT6のゲートにパルス信号φV
が順次与えられて、MOSトランジスタT6がONする
ことにより、光電流を対数変換した出力電流が出力信号
線6に出力される。このとき、各画素では、MOSトラ
ンジスタT6がONすることによって、MOSトランジ
スタT2のゲートにサンプルホールドされた光電流を対
数変換した電圧に比例したドレイン電流が、出力電流と
してMOSトランジスタT2,T6を通して出力信号線
6に導出される。そして、MOSトランジスタT2及び
MOSトランジスタQ1(図2)の導通時抵抗とそれら
を流れる電流によって決まるMOSトランジスタQ1の
ドレイン電圧が、信号として出力信号線6に現れる。こ
のようにして信号が読み出された後、MOSトランジス
タT6がOFFになる。
走査回路3(図1)によって、画素G11〜Gmnに設けら
れたMOSトランジスタT6のゲートにパルス信号φV
が順次与えられて、MOSトランジスタT6がONする
ことにより、光電流を対数変換した出力電流が出力信号
線6に出力される。このとき、各画素では、MOSトラ
ンジスタT6がONすることによって、MOSトランジ
スタT2のゲートにサンプルホールドされた光電流を対
数変換した電圧に比例したドレイン電流が、出力電流と
してMOSトランジスタT2,T6を通して出力信号線
6に導出される。そして、MOSトランジスタT2及び
MOSトランジスタQ1(図2)の導通時抵抗とそれら
を流れる電流によって決まるMOSトランジスタQ1の
ドレイン電圧が、信号として出力信号線6に現れる。こ
のようにして信号が読み出された後、MOSトランジス
タT6がOFFになる。
【0063】このように、本実施形態では、固体撮像装
置内の全ての画素が同一時間に撮像動作を行った後、垂
直走査回路や水平走査回路が各画素を操作することで、
各画素が順番にその撮像した際の映像情報を有する出力
信号を出力する。よって、固体撮像装置は、同一時間の
映像情報の出力信号をシリアルデータとして出力できる
ため、このようなシリアルデータとなる出力信号を再生
したとき、その映像情報に時間的な誤差が含まれること
がなくなる。
置内の全ての画素が同一時間に撮像動作を行った後、垂
直走査回路や水平走査回路が各画素を操作することで、
各画素が順番にその撮像した際の映像情報を有する出力
信号を出力する。よって、固体撮像装置は、同一時間の
映像情報の出力信号をシリアルデータとして出力できる
ため、このようなシリアルデータとなる出力信号を再生
したとき、その映像情報に時間的な誤差が含まれること
がなくなる。
【0064】<第5の実施形態>図1に示した画素構成
の第1例の各画素に適用される第5の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図8は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図6に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
の第1例の各画素に適用される第5の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図8は、本実施形態に使
用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回路
図である。尚、図6に示す画素と同様の目的で使用され
る素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その詳
細な説明は省略する。
【0065】図8に示すように、本実施形態では、MO
SトランジスタT1のドレイン及びゲートとMOSトラ
ンジスタT2のゲートとの接続ノードにドレインが接続
されるとともに、ソースに直流電圧VPG2が印加された
第4MOSトランジスタT4が新たに設けられた構成と
なっている。MOSトランジスタT4のゲートには、信
号φVRS2が入力される。又、MOSトランジスタT1
のソースには、信号φVPSが与えられる。その他の構成
は第3の実施形態(図6)と同一である。尚、MOSト
ランジスタT4は、MOSトランジスタT1と同様、N
チャネルのMOSトランジスタでバックゲートが接地さ
れている。
SトランジスタT1のドレイン及びゲートとMOSトラ
ンジスタT2のゲートとの接続ノードにドレインが接続
されるとともに、ソースに直流電圧VPG2が印加された
第4MOSトランジスタT4が新たに設けられた構成と
なっている。MOSトランジスタT4のゲートには、信
号φVRS2が入力される。又、MOSトランジスタT1
のソースには、信号φVPSが与えられる。その他の構成
は第3の実施形態(図6)と同一である。尚、MOSト
ランジスタT4は、MOSトランジスタT1と同様、N
チャネルのMOSトランジスタでバックゲートが接地さ
れている。
【0066】本実施形態において、信号φVPSの電圧値
を切り換えてMOSトランジスタT1のバイアスを変え
ることにより、出力信号線6に導出される出力信号を光
電流に対して自然対数的に変換させる場合と、線形的に
変換させる場合とを実現することができる。尚、信号φ
VPSは、2値的に変化するものとし、MOSトランジス
タT1,T2をサブスレッショルド領域で動作させるた
めの電圧をローレベルとし、直流電圧VPDと略等しい電
圧をハイレベルとする。以下これらの各場合における動
作を説明する。
を切り換えてMOSトランジスタT1のバイアスを変え
ることにより、出力信号線6に導出される出力信号を光
電流に対して自然対数的に変換させる場合と、線形的に
変換させる場合とを実現することができる。尚、信号φ
VPSは、2値的に変化するものとし、MOSトランジス
タT1,T2をサブスレッショルド領域で動作させるた
めの電圧をローレベルとし、直流電圧VPDと略等しい電
圧をハイレベルとする。以下これらの各場合における動
作を説明する。
【0067】(1) 光電流を自然対数的に変換して出
力する場合 まず、信号φVPSをローレベルとし、MOSトランジス
タT1,T2がサブスレッショルド領域で動作するよう
にバイアスされているときの動作について、説明する。
このとき、MOSトランジスタT4のゲートにはローレ
ベルの信号φVRS2が与えられるので、MOSトランジ
スタT4はOFFとなり、実質的に存在しないことと等
価になる。
力する場合 まず、信号φVPSをローレベルとし、MOSトランジス
タT1,T2がサブスレッショルド領域で動作するよう
にバイアスされているときの動作について、説明する。
このとき、MOSトランジスタT4のゲートにはローレ
ベルの信号φVRS2が与えられるので、MOSトランジ
スタT4はOFFとなり、実質的に存在しないことと等
価になる。
【0068】フォトトランジスタPTrに光が入射する
と光電流が発生し、MOSトランジスタのサブスレッシ
ョルド特性により、前記光電流を自然対数的に変換した
値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲートに発
生する。この電圧により、MOSトランジスタT2に、
前記光電流を自然対数的に変換した値と同等のドレイン
電流が流れようとする。ただし、このとき、MOSトラ
ンジスタT6はOFF状態である。
と光電流が発生し、MOSトランジスタのサブスレッシ
ョルド特性により、前記光電流を自然対数的に変換した
値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲートに発
生する。この電圧により、MOSトランジスタT2に、
前記光電流を自然対数的に変換した値と同等のドレイン
電流が流れようとする。ただし、このとき、MOSトラ
ンジスタT6はOFF状態である。
【0069】次に、MOSトランジスタT6のゲートに
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。よって、
出力信号線6に導出される電流は前記光電流を自然対数
的に変換した値となる。このようにして入射光量の対数
値に比例した信号(出力電流)を読み出すと、MOSト
ランジスタT6をOFFにする。尚、このように入射光
量に対してその出力電流を自然対数的に変換する場合、
信号φVRS2は、常にローレベルのままである。
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。よって、
出力信号線6に導出される電流は前記光電流を自然対数
的に変換した値となる。このようにして入射光量の対数
値に比例した信号(出力電流)を読み出すと、MOSト
ランジスタT6をOFFにする。尚、このように入射光
量に対してその出力電流を自然対数的に変換する場合、
信号φVRS2は、常にローレベルのままである。
【0070】(2) 光電流を線形的に変換して出力す
る場合 次に、信号φVPSをハイレベルとして、MOSトランジ
スタT1をカットオフ状態にしたときの動作について説
明する。このとき、MOSトランジスタT4のゲートに
ローレベルの信号φVRS2を与えて、MOSトランジス
タT4はOFFとする。このような状態において、フォ
トトランジスタPTrに光が入射すると光電流が発生す
る。このとき、MOSトランジスタT1のバックゲート
とゲートとの間やフォトトランジスタPTrでキャパシ
タを構成するので、光電流による電荷がMOSトランジ
スタT1のゲート及びドレインに蓄積される。よって、
MOSトランジスタT1,T2のゲート電圧が前記光電
流を積分した値に比例した値になる。
る場合 次に、信号φVPSをハイレベルとして、MOSトランジ
スタT1をカットオフ状態にしたときの動作について説
明する。このとき、MOSトランジスタT4のゲートに
ローレベルの信号φVRS2を与えて、MOSトランジス
タT4はOFFとする。このような状態において、フォ
トトランジスタPTrに光が入射すると光電流が発生す
る。このとき、MOSトランジスタT1のバックゲート
とゲートとの間やフォトトランジスタPTrでキャパシ
タを構成するので、光電流による電荷がMOSトランジ
スタT1のゲート及びドレインに蓄積される。よって、
MOSトランジスタT1,T2のゲート電圧が前記光電
流を積分した値に比例した値になる。
【0071】次に、MOSトランジスタT6のゲートに
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。MOSト
ランジスタT2のゲートにかかる電圧は、前記光電流を
積分した値に比例した値の電圧であるので、出力信号線
6に導出される出力電流は前記光電流の積分値を線形的
に変換した値となる。
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。MOSト
ランジスタT2のゲートにかかる電圧は、前記光電流を
積分した値に比例した値の電圧であるので、出力信号線
6に導出される出力電流は前記光電流の積分値を線形的
に変換した値となる。
【0072】このようにして入射光量に比例した信号
(出力電流)を読み出すことができる。信号読み出し後
は、まず、MOSトランジスタT6をOFFにするとと
もに、MOSトランジスタT4のゲートにハイレベルの
信号φVRS2を与えることで、MOSトランジスタT4
をONとして、フォトトランジスタPTr、MOSトラ
ンジスタT1のドレイン電圧、及びMOSトランジスタ
T1,T2のゲート電圧を初期化させる。
(出力電流)を読み出すことができる。信号読み出し後
は、まず、MOSトランジスタT6をOFFにするとと
もに、MOSトランジスタT4のゲートにハイレベルの
信号φVRS2を与えることで、MOSトランジスタT4
をONとして、フォトトランジスタPTr、MOSトラ
ンジスタT1のドレイン電圧、及びMOSトランジスタ
T1,T2のゲート電圧を初期化させる。
【0073】このように、本実施形態においては、簡単
な電位操作により同一の画素で複数の出力特性を切り換
えることが可能になる。尚、信号を対数変換して出力す
る状態から線形変換して出力する状態に切り換える際に
は、まずφVPS2の電位調整により出力の切り換えを行
ってから、MOSトランジスタT4によるMOSトラン
ジスタT1などのリセットを行うことが好ましい。一
方、信号を線形変換して出力する状態から対数変換して
出力する状態に切り換える際には、MOSトランジスタ
T4によるMOSトランジスタT1などのリセットは特
に必要ない。これは、MOSトランジスタT1が完全な
OFF状態ではないことに起因してMOSトランジスタ
T1に蓄積されたキャリアは逆極性のキャリアによって
うち消されるためである。
な電位操作により同一の画素で複数の出力特性を切り換
えることが可能になる。尚、信号を対数変換して出力す
る状態から線形変換して出力する状態に切り換える際に
は、まずφVPS2の電位調整により出力の切り換えを行
ってから、MOSトランジスタT4によるMOSトラン
ジスタT1などのリセットを行うことが好ましい。一
方、信号を線形変換して出力する状態から対数変換して
出力する状態に切り換える際には、MOSトランジスタ
T4によるMOSトランジスタT1などのリセットは特
に必要ない。これは、MOSトランジスタT1が完全な
OFF状態ではないことに起因してMOSトランジスタ
T1に蓄積されたキャリアは逆極性のキャリアによって
うち消されるためである。
【0074】尚、本実施形態において、第1又は第2の
実施形態のように、MOSトランジスタT2のソースに
一端が接続されたキャパシタC(図3又は図5参照)、
及びMOSトランジスタT2のソースにゲートが接続さ
れるとともにMOSトランジスタT6のドレインにソー
スが接続されたMOSトランジスタT7(図3又は図5
参照)を設けて、出力側に積分回路を設けた構成にして
も構わない。
実施形態のように、MOSトランジスタT2のソースに
一端が接続されたキャパシタC(図3又は図5参照)、
及びMOSトランジスタT2のソースにゲートが接続さ
れるとともにMOSトランジスタT6のドレインにソー
スが接続されたMOSトランジスタT7(図3又は図5
参照)を設けて、出力側に積分回路を設けた構成にして
も構わない。
【0075】このとき、対数変換動作によって出力電流
を出力した場合、MOSトランジスタT8(図3参照)
又はMOSトランジスタT2(図5参照)によって、接
続ノードa及びキャパシタCをリセットを行う。又、線
形変換動作によって出力電流を出力した場合、まず、M
OSトランジスタT4によってMOSトランジスタT1
などのリセットを行った後、MOSトランジスタT8
(図3参照)又はMOSトランジスタT2(図5参照)
によって、接続ノードa及びキャパシタCのリセットを
行う。
を出力した場合、MOSトランジスタT8(図3参照)
又はMOSトランジスタT2(図5参照)によって、接
続ノードa及びキャパシタCをリセットを行う。又、線
形変換動作によって出力電流を出力した場合、まず、M
OSトランジスタT4によってMOSトランジスタT1
などのリセットを行った後、MOSトランジスタT8
(図3参照)又はMOSトランジスタT2(図5参照)
によって、接続ノードa及びキャパシタCのリセットを
行う。
【0076】又、本実施形態において、第4の実施形態
のように、MOSトランジスタT1のゲート及びドレイ
ンの接続ノードにソースが接続されるとともにMOSト
ランジスタT2のゲートにドレインが接続されたMOS
トランジスタT5(図7参照)を設けても構わない。こ
のとき、線形変換動作を行って、MOSトランジスタT
4によるMOSトランジスタT1などのリセットを行う
際、MOSトランジスタT5をONの状態にする。そし
て、MOSトランジスタT1などのリセットが終了する
とともに、MOSトランジスタT5をOFFにし、次の
撮像動作に備えるようにする。尚、MOSトランジスタ
T4のドレインは、MOSトランジスタT5のソース、
ドレインのいずれに接続しても構わない。
のように、MOSトランジスタT1のゲート及びドレイ
ンの接続ノードにソースが接続されるとともにMOSト
ランジスタT2のゲートにドレインが接続されたMOS
トランジスタT5(図7参照)を設けても構わない。こ
のとき、線形変換動作を行って、MOSトランジスタT
4によるMOSトランジスタT1などのリセットを行う
際、MOSトランジスタT5をONの状態にする。そし
て、MOSトランジスタT1などのリセットが終了する
とともに、MOSトランジスタT5をOFFにし、次の
撮像動作に備えるようにする。尚、MOSトランジスタ
T4のドレインは、MOSトランジスタT5のソース、
ドレインのいずれに接続しても構わない。
【0077】<画素構成の第2例>図9は本発明の実施
形態である二次元のMOS型固体撮像装置の一部の構成
を概略的に示している。尚、図1に示す二次元のMOS
型固体撮像装置の一部の構成において、同様の目的で使
用される素子及び信号線などは、同一の符号を付して、
その詳細な説明は省略する。
形態である二次元のMOS型固体撮像装置の一部の構成
を概略的に示している。尚、図1に示す二次元のMOS
型固体撮像装置の一部の構成において、同様の目的で使
用される素子及び信号線などは、同一の符号を付して、
その詳細な説明は省略する。
【0078】図9における固体撮像装置は、図1の固体
撮像装置に、定電流源9−1、9−2、・・・、9−m
と、電流供給線8−1、8−2、・・・、8−mとを設
けて、定電流源9−1、9−2、・・・、9−mが列毎
にそれぞれ、電流供給線8−1、8−2、・・・、8−
mを介して、画素G11〜G1n、G21〜G2n、・・・、G
m1〜Gmnに電流を供給する。各画素に対し、上記ライン
4−1、4−2・・・、4−nや出力信号線6−1、6
−2・・・、6−m、電流供給線8−1、8−2、・・
・、8−m、電源ライン5だけでなく、他のライン(例
えば、クロックラインやバイアス供給ライン等)も接続
されるが、図9ではこれらについて省略する。
撮像装置に、定電流源9−1、9−2、・・・、9−m
と、電流供給線8−1、8−2、・・・、8−mとを設
けて、定電流源9−1、9−2、・・・、9−mが列毎
にそれぞれ、電流供給線8−1、8−2、・・・、8−
mを介して、画素G11〜G1n、G21〜G2n、・・・、G
m1〜Gmnに電流を供給する。各画素に対し、上記ライン
4−1、4−2・・・、4−nや出力信号線6−1、6
−2・・・、6−m、電流供給線8−1、8−2、・・
・、8−m、電源ライン5だけでなく、他のライン(例
えば、クロックラインやバイアス供給ライン等)も接続
されるが、図9ではこれらについて省略する。
【0079】出力信号線6−1、6−2、・・・、6−
mごとにNチャネルのMOSトランジスタQ1、Q2が
図示の如く1組ずつ設けられている。出力信号線6−1
を例にとって説明すると、MOSトランジスタQ1のゲ
ートは直流電圧線11に接続され、ドレインは出力信号
線6−1に接続され、ソースは直流電圧VPS’のライン
12に接続されている。一方、MOSトランジスタQ2
のドレインは出力信号線6−1に接続され、ソースは最
終的な信号線7に接続され、ゲートは水平走査回路3に
接続されている。
mごとにNチャネルのMOSトランジスタQ1、Q2が
図示の如く1組ずつ設けられている。出力信号線6−1
を例にとって説明すると、MOSトランジスタQ1のゲ
ートは直流電圧線11に接続され、ドレインは出力信号
線6−1に接続され、ソースは直流電圧VPS’のライン
12に接続されている。一方、MOSトランジスタQ2
のドレインは出力信号線6−1に接続され、ソースは最
終的な信号線7に接続され、ゲートは水平走査回路3に
接続されている。
【0080】画素G11〜Gmnには、後述するように、
それらの画素で発生した光電荷に基づく信号を出力する
NチャネルのMOSトランジスタTaが設けられてい
る。MOSトランジスタTaと上記MOSトランジスタ
Q1との接続関係は、図1の場合と同様に、図2(a)
のようになり、図2(a)の回路はソースフォロワ型の
増幅回路となる。このMOSトランジスタTaは、第6
の実施形態では、第7MOSトランジスタT7に、第7
〜第9の実施形態では、第2MOSトランジスタT2に
相当する。
それらの画素で発生した光電荷に基づく信号を出力する
NチャネルのMOSトランジスタTaが設けられてい
る。MOSトランジスタTaと上記MOSトランジスタ
Q1との接続関係は、図1の場合と同様に、図2(a)
のようになり、図2(a)の回路はソースフォロワ型の
増幅回路となる。このMOSトランジスタTaは、第6
の実施形態では、第7MOSトランジスタT7に、第7
〜第9の実施形態では、第2MOSトランジスタT2に
相当する。
【0081】MOSトランジスタQ2は水平走査回路3
によって制御され、スイッチ素子として動作する。尚、
後述するように図10以降の各実施形態の画素内にはス
イッチ用のNチャネルの第6MOSトランジスタT6も
設けられている。このMOSトランジスタT6も含めて
表わすと、図2(a)の回路は正確には図2(b)のよ
うになる。即ち、MOSトランジスタT6がMOSトラ
ンジスタQ1とMOSトランジスタTaとの間に挿入さ
れている。ここで、MOSトランジスタT6は行の選択
を行うものであり、MOSトランジスタQ2は列の選択
を行うものである。尚、図9および図2に示す構成は以
下に説明する第6の実施形態〜第9の実施形態に共通の
構成である。
によって制御され、スイッチ素子として動作する。尚、
後述するように図10以降の各実施形態の画素内にはス
イッチ用のNチャネルの第6MOSトランジスタT6も
設けられている。このMOSトランジスタT6も含めて
表わすと、図2(a)の回路は正確には図2(b)のよ
うになる。即ち、MOSトランジスタT6がMOSトラ
ンジスタQ1とMOSトランジスタTaとの間に挿入さ
れている。ここで、MOSトランジスタT6は行の選択
を行うものであり、MOSトランジスタQ2は列の選択
を行うものである。尚、図9および図2に示す構成は以
下に説明する第6の実施形態〜第9の実施形態に共通の
構成である。
【0082】図2のように構成することにより信号のゲ
インを大きく出力することができる。従って、画素がダ
イナミックレンジ拡大のために感光素子から発生する光
電流を自然対数的に変換しているような場合は、そのま
までは出力信号が小さいが、本増幅回路により充分大き
な信号に増幅されるため、後続の信号処理回路(図示せ
ず)での処理が容易になる。また、増幅回路の負荷抵抗
部分を構成するMOSトランジスタQ1を画素内に設け
ずに、列方向に配置された複数の画素が接続される出力
信号線6−1、6−2、・・・、6−mごとに設けるこ
とにより、負荷抵抗又は定電流源の数を低減でき、半導
体チップ上で増幅回路が占める面積を少なくできる。
インを大きく出力することができる。従って、画素がダ
イナミックレンジ拡大のために感光素子から発生する光
電流を自然対数的に変換しているような場合は、そのま
までは出力信号が小さいが、本増幅回路により充分大き
な信号に増幅されるため、後続の信号処理回路(図示せ
ず)での処理が容易になる。また、増幅回路の負荷抵抗
部分を構成するMOSトランジスタQ1を画素内に設け
ずに、列方向に配置された複数の画素が接続される出力
信号線6−1、6−2、・・・、6−mごとに設けるこ
とにより、負荷抵抗又は定電流源の数を低減でき、半導
体チップ上で増幅回路が占める面積を少なくできる。
【0083】<第6の実施形態>図9に示した画素構成
の第2例の各画素に適用される第6の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図10は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図3に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
の第2例の各画素に適用される第6の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図10は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図3に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
【0084】図10に示すように、本実施形態では、フ
ォトトランジスタPTrのベースにソースが接続される
とともに、定電流源9(この定電流源9は、図9の9−
1、9−2、・・・、9−mに対応する)に電流供給線
8(この電流供給線8は、図9の8−1、8−2、・・
・、8−mに対応する)を介してドレインが接続された
第3MOSトランジスタT3が新たに設けられた構成と
なっている。MOSトランジスタT3のゲートには、信
号φSWが入力される。その他の構成は第1の実施形態
(図3)と同一である。尚、MOSトランジスタT3
は、MOSトランジスタT1と同様、NチャネルのMO
Sトランジスタでバックゲートが接地されている。
ォトトランジスタPTrのベースにソースが接続される
とともに、定電流源9(この定電流源9は、図9の9−
1、9−2、・・・、9−mに対応する)に電流供給線
8(この電流供給線8は、図9の8−1、8−2、・・
・、8−mに対応する)を介してドレインが接続された
第3MOSトランジスタT3が新たに設けられた構成と
なっている。MOSトランジスタT3のゲートには、信
号φSWが入力される。その他の構成は第1の実施形態
(図3)と同一である。尚、MOSトランジスタT3
は、MOSトランジスタT1と同様、NチャネルのMO
Sトランジスタでバックゲートが接地されている。
【0085】このような構成において、画素が撮像動作
を行う場合は、信号φSWをローレベルにしてMOSト
ランジスタT3をOFFすることによって、フォトトラ
ンジスタPTrのベースをフローティング状態にする。
又、画素の感度バラツキを検出する場合は、信号φSW
をハイレベルにしてMOSトランジスタT3をONする
ことによって、定電流源9からフォトトランジスタPT
rのベースに定電流を与える。以下に、撮像動作及び感
度バラツキの検出動作について説明する。
を行う場合は、信号φSWをローレベルにしてMOSト
ランジスタT3をOFFすることによって、フォトトラ
ンジスタPTrのベースをフローティング状態にする。
又、画素の感度バラツキを検出する場合は、信号φSW
をハイレベルにしてMOSトランジスタT3をONする
ことによって、定電流源9からフォトトランジスタPT
rのベースに定電流を与える。以下に、撮像動作及び感
度バラツキの検出動作について説明する。
【0086】(1)撮像動作 まず、ローレベルの信号φSWをMOSトランジスタT
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr、MOSトランジスタT1,T2,T6〜T
8、及びキャパシタCが、第1の実施形態と同様の動作
を行うことで、対数変換された出力電流が出力信号線6
に出力される。
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr、MOSトランジスタT1,T2,T6〜T
8、及びキャパシタCが、第1の実施形態と同様の動作
を行うことで、対数変換された出力電流が出力信号線6
に出力される。
【0087】即ち、フォトトランジスタPTrに光が入
射すると光電流が発生し、MOSトランジスタのサブス
レッショルド特性により、前記光電流を自然対数的に変
換した値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲー
トに発生する。この電圧により、キャパシタCには前記
光電流の積分値を自然対数的に変換した値と同等の電荷
が蓄積される。そして、MOSトランジスタT6のゲー
トにパルス信号φVを与えてMOSトランジスタT6を
ONすることで、前記光電流の積分値を自然対数的に変
換した値に等しい出力電流が、MOSトランジスタT
6,T7を通って出力信号線6に導出される。
射すると光電流が発生し、MOSトランジスタのサブス
レッショルド特性により、前記光電流を自然対数的に変
換した値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲー
トに発生する。この電圧により、キャパシタCには前記
光電流の積分値を自然対数的に変換した値と同等の電荷
が蓄積される。そして、MOSトランジスタT6のゲー
トにパルス信号φVを与えてMOSトランジスタT6を
ONすることで、前記光電流の積分値を自然対数的に変
換した値に等しい出力電流が、MOSトランジスタT
6,T7を通って出力信号線6に導出される。
【0088】(2)画素の感度バラツキ検出 画素の感度バラツキ検出動作について、図11を参照し
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、パルス信号φVRSをMOSト
ランジスタT8のゲートに与えて、キャパシタC及び接
続ノードaのリセットを行う。次に、ハイレベルの信号
φSWをMOSトランジスタT3のゲートに与えてMO
SトランジスタT3をONにして、フォトトランジスタ
PTrのベースに定電流源9より電流供給線8を介して
定電流が流れるようにする。
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、パルス信号φVRSをMOSト
ランジスタT8のゲートに与えて、キャパシタC及び接
続ノードaのリセットを行う。次に、ハイレベルの信号
φSWをMOSトランジスタT3のゲートに与えてMO
SトランジスタT3をONにして、フォトトランジスタ
PTrのベースに定電流源9より電流供給線8を介して
定電流が流れるようにする。
【0089】このように、各画素に定電流源9より一定
の電流が流れると、この定電流源9によってフォトトラ
ンジスタPTrのベース電流が一定とされる。このと
き、このベース電流が、フォトトランジスタPTrのベ
ース・エミッタ間PN接合に入射される光の光量に応じ
て生じる電流より十分大きな電流である。そのため、フ
ォトトランジスタPTrのエミッタ電流である光電流
が、定電流源9より与えられる電流によって決定され
る。このときの光電流の値が、感度のバラツキの原因と
なるフォトトランジスタPTrの増幅率を表す。
の電流が流れると、この定電流源9によってフォトトラ
ンジスタPTrのベース電流が一定とされる。このと
き、このベース電流が、フォトトランジスタPTrのベ
ース・エミッタ間PN接合に入射される光の光量に応じ
て生じる電流より十分大きな電流である。そのため、フ
ォトトランジスタPTrのエミッタ電流である光電流
が、定電流源9より与えられる電流によって決定され
る。このときの光電流の値が、感度のバラツキの原因と
なるフォトトランジスタPTrの増幅率を表す。
【0090】よって、MOSトランジスタT1,T2の
ゲートに、定電流源9によって決定された光電流を対数
変換した値の電圧が現れる。この電圧により、キャパシ
タCには前記光電流の積分値を自然対数的に変換した値
と同等の電荷が蓄積される。そして、MOSトランジス
タT6のゲートにパルス信号φVを与えてMOSトラン
ジスタT6をONすることで、前記光電流の積分値を自
然対数的に変換した値に等しい出力電流が、MOSトラ
ンジスタT6,T7を通って出力信号線6に導出され
る。この光電流が感度のバラツキの原因となるフォトト
ランジスタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に
出力される出力信号が、各画素の感度のバラツキを表し
た信号となる。
ゲートに、定電流源9によって決定された光電流を対数
変換した値の電圧が現れる。この電圧により、キャパシ
タCには前記光電流の積分値を自然対数的に変換した値
と同等の電荷が蓄積される。そして、MOSトランジス
タT6のゲートにパルス信号φVを与えてMOSトラン
ジスタT6をONすることで、前記光電流の積分値を自
然対数的に変換した値に等しい出力電流が、MOSトラ
ンジスタT6,T7を通って出力信号線6に導出され
る。この光電流が感度のバラツキの原因となるフォトト
ランジスタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に
出力される出力信号が、各画素の感度のバラツキを表し
た信号となる。
【0091】このように、パルス信号φVを与えて、各
画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロー
レベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOFF
にして、フォトトランジスタPTrのベースをフローテ
ィング状態にする。その後、パルス信号φVRSをMOS
トランジスタT8のゲートに与えて、キャパシタC及び
接続ノードaをリセットすることによって、次の撮像動
作に備える。
画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロー
レベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOFF
にして、フォトトランジスタPTrのベースをフローテ
ィング状態にする。その後、パルス信号φVRSをMOS
トランジスタT8のゲートに与えて、キャパシタC及び
接続ノードaをリセットすることによって、次の撮像動
作に備える。
【0092】尚、本実施形態において、第2の実施形態
(図5)と同様、MOSトランジスタT2のドレインに
信号φDを与えるとともに、MOSトランジスタT8を
削除した構成の画素としても構わない。このとき、信号
φDを図11の信号φVRSと同様のタイミングでローレ
ベルのパルス信号を与えることによって、キャパシタC
及び接続ノードaのリセットを行えばよい。
(図5)と同様、MOSトランジスタT2のドレインに
信号φDを与えるとともに、MOSトランジスタT8を
削除した構成の画素としても構わない。このとき、信号
φDを図11の信号φVRSと同様のタイミングでローレ
ベルのパルス信号を与えることによって、キャパシタC
及び接続ノードaのリセットを行えばよい。
【0093】<第7の実施形態>図9に示した画素構成
の第2例の各画素に適用される第7の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図12は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図6に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
の第2例の各画素に適用される第7の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図12は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図6に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
【0094】図12に示すように、本実施形態では、第
6の実施形態(図10)と同様、フォトトランジスタP
Trのベースにソースが接続されるとともに、定電流源
9に電流供給線8を介してドレインが接続された第3M
OSトランジスタT3が新たに設けられた構成となって
いる。MOSトランジスタT3のゲートには、信号φS
Wが入力される。その他の構成は第3の実施形態(図
6)と同一である。尚、MOSトランジスタT3は、M
OSトランジスタT1と同様、NチャネルのMOSトラ
ンジスタでバックゲートが接地されている。
6の実施形態(図10)と同様、フォトトランジスタP
Trのベースにソースが接続されるとともに、定電流源
9に電流供給線8を介してドレインが接続された第3M
OSトランジスタT3が新たに設けられた構成となって
いる。MOSトランジスタT3のゲートには、信号φS
Wが入力される。その他の構成は第3の実施形態(図
6)と同一である。尚、MOSトランジスタT3は、M
OSトランジスタT1と同様、NチャネルのMOSトラ
ンジスタでバックゲートが接地されている。
【0095】このような構成において、第6の実施形態
と同様に、画素が撮像動作を行う場合は、信号φSWを
ローレベルにしてMOSトランジスタT3をOFFする
ことによって、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。又、画素の感度バラツキを検
出する場合は、信号φSWをハイレベルにしてMOSト
ランジスタT3をONすることによって、定電流源9か
らフォトトランジスタPTrのベースに定電流を与え
る。以下に、撮像動作及び感度バラツキの検出動作につ
いて説明する。
と同様に、画素が撮像動作を行う場合は、信号φSWを
ローレベルにしてMOSトランジスタT3をOFFする
ことによって、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。又、画素の感度バラツキを検
出する場合は、信号φSWをハイレベルにしてMOSト
ランジスタT3をONすることによって、定電流源9か
らフォトトランジスタPTrのベースに定電流を与え
る。以下に、撮像動作及び感度バラツキの検出動作につ
いて説明する。
【0096】(1)撮像動作 まず、ローレベルの信号φSWをMOSトランジスタT
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T6が、
第3の実施形態と同様の動作を行うことで、対数変換さ
れた出力電流が出力信号線6に出力される。
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T6が、
第3の実施形態と同様の動作を行うことで、対数変換さ
れた出力電流が出力信号線6に出力される。
【0097】即ち、フォトトランジスタPTrに光が入
射すると光電流が発生し、MOSトランジスタのサブス
レッショルド特性により、前記光電流を自然対数的に変
換した値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲー
トに発生する。この電圧により、前記光電流に対して自
然対数的に比例した値のドレイン電流がMOSトランジ
スタT2を流れる。そして、MOSトランジスタT6の
ゲートに信号φVを与えてONとすると、前記光電流に
対して自然対数的に比例した値のドレイン電流が、MO
SトランジスタT2,T6を通して出力信号線6に導出
される。このようにして信号が読み出された後、MOS
トランジスタT6がOFFになる。
射すると光電流が発生し、MOSトランジスタのサブス
レッショルド特性により、前記光電流を自然対数的に変
換した値の電圧がMOSトランジスタT1,T2のゲー
トに発生する。この電圧により、前記光電流に対して自
然対数的に比例した値のドレイン電流がMOSトランジ
スタT2を流れる。そして、MOSトランジスタT6の
ゲートに信号φVを与えてONとすると、前記光電流に
対して自然対数的に比例した値のドレイン電流が、MO
SトランジスタT2,T6を通して出力信号線6に導出
される。このようにして信号が読み出された後、MOS
トランジスタT6がOFFになる。
【0098】(2)画素の感度バラツキ検出 画素の感度バラツキ検出動作について、図13を参照し
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、ハイレベルの信号φSWをM
OSトランジスタT3のゲートに与えてMOSトランジ
スタT3をONにして、フォトトランジスタPTrのベ
ースに定電流源9より電流供給線8を介して定電流が流
れるようにする。
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、ハイレベルの信号φSWをM
OSトランジスタT3のゲートに与えてMOSトランジ
スタT3をONにして、フォトトランジスタPTrのベ
ースに定電流源9より電流供給線8を介して定電流が流
れるようにする。
【0099】このように、各画素に定電流源9より一定
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1,T2のゲート
に、定電流源9によって決定された光電流を対数変換し
た値の電圧が現れる。この電圧により、前記光電流に対
して自然対数的に比例した値のドレイン電流がMOSト
ランジスタT2を流れようとする。
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1,T2のゲート
に、定電流源9によって決定された光電流を対数変換し
た値の電圧が現れる。この電圧により、前記光電流に対
して自然対数的に比例した値のドレイン電流がMOSト
ランジスタT2を流れようとする。
【0100】そして、MOSトランジスタT6のゲート
に信号φVを与えてONとすると、前記光電流に対して
自然対数的に比例した値のドレイン電流が、MOSトラ
ンジスタT2,T6を通して出力信号線6に導出され
る。この光電流が感度のバラツキの原因となるフォトト
ランジスタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に
出力される出力信号が、各画素の感度のバラツキを表し
た信号となる。このように、パルス信号φVを与えて、
各画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロ
ーレベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOF
Fにして、次の撮像動作に備える。
に信号φVを与えてONとすると、前記光電流に対して
自然対数的に比例した値のドレイン電流が、MOSトラ
ンジスタT2,T6を通して出力信号線6に導出され
る。この光電流が感度のバラツキの原因となるフォトト
ランジスタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に
出力される出力信号が、各画素の感度のバラツキを表し
た信号となる。このように、パルス信号φVを与えて、
各画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロ
ーレベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOF
Fにして、次の撮像動作に備える。
【0101】<第8の実施形態>図9に示した画素構成
の第2例の各画素に適用される第8の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図14は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図7に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
の第2例の各画素に適用される第8の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図14は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図7に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
【0102】図14に示すように、本実施形態では、第
6の実施形態(図10)と同様、フォトトランジスタP
Trのベースにソースが接続されるとともに、定電流源
9に電流供給線8を介してドレインが接続された第3M
OSトランジスタT3が新たに設けられた構成となって
いる。MOSトランジスタT3のゲートには、信号φS
Wが入力される。その他の構成は第4の実施形態(図
7)と同一である。尚、MOSトランジスタT3は、M
OSトランジスタT1と同様、NチャネルのMOSトラ
ンジスタでバックゲートが接地されている。
6の実施形態(図10)と同様、フォトトランジスタP
Trのベースにソースが接続されるとともに、定電流源
9に電流供給線8を介してドレインが接続された第3M
OSトランジスタT3が新たに設けられた構成となって
いる。MOSトランジスタT3のゲートには、信号φS
Wが入力される。その他の構成は第4の実施形態(図
7)と同一である。尚、MOSトランジスタT3は、M
OSトランジスタT1と同様、NチャネルのMOSトラ
ンジスタでバックゲートが接地されている。
【0103】このような構成において、第6の実施形態
と同様に、画素が撮像動作を行う場合は、信号φSWを
ローレベルにしてMOSトランジスタT3をOFFする
ことによって、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。又、画素の感度バラツキを検
出する場合は、信号φSWをハイレベルにしてMOSト
ランジスタT3をONすることによって、定電流源9か
らフォトトランジスタPTrのベースに定電流を与え
る。以下に、撮像動作及び感度バラツキの検出動作につ
いて説明する。
と同様に、画素が撮像動作を行う場合は、信号φSWを
ローレベルにしてMOSトランジスタT3をOFFする
ことによって、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。又、画素の感度バラツキを検
出する場合は、信号φSWをハイレベルにしてMOSト
ランジスタT3をONすることによって、定電流源9か
らフォトトランジスタPTrのベースに定電流を与え
る。以下に、撮像動作及び感度バラツキの検出動作につ
いて説明する。
【0104】(1)撮像動作 まず、ローレベルの信号φSWをMOSトランジスタT
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T5,T
6が、第4の実施形態と同様の動作を行うことで、対数
変換された出力電流が出力信号線6に出力される。
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T5,T
6が、第4の実施形態と同様の動作を行うことで、対数
変換された出力電流が出力信号線6に出力される。
【0105】まず、信号φSをローレベルにして、図9
のような構成の固体撮像装置内の画素G11〜Gmn(図
9)に設けられたMOSトランジスタT5を全てOFF
の状態にする。このとき、フォトトランジスタPTrは
入射される光の光量に応じた光電流を発生し、MOSト
ランジスタT1のゲート電圧はこの光電流を対数変換し
た値に相当する電圧となる。次に、同一のタイミングで
画素G11〜Gmn内のMOSトランジスタT5のゲートに
パルス信号φSを与え、MOSトランジスタT1に現れ
る光電流を対数変換した値に相当する電圧をMOSトラ
ンジスタT2のゲートにサンプルホールドする。このよ
うにサンプルホールドされると、MOSトランジスタT
5をOFFにする。
のような構成の固体撮像装置内の画素G11〜Gmn(図
9)に設けられたMOSトランジスタT5を全てOFF
の状態にする。このとき、フォトトランジスタPTrは
入射される光の光量に応じた光電流を発生し、MOSト
ランジスタT1のゲート電圧はこの光電流を対数変換し
た値に相当する電圧となる。次に、同一のタイミングで
画素G11〜Gmn内のMOSトランジスタT5のゲートに
パルス信号φSを与え、MOSトランジスタT1に現れ
る光電流を対数変換した値に相当する電圧をMOSトラ
ンジスタT2のゲートにサンプルホールドする。このよ
うにサンプルホールドされると、MOSトランジスタT
5をOFFにする。
【0106】そして、垂直走査回路2(図1)及び水平
走査回路3(図1)によって、画素G11〜Gmnに設けら
れたMOSトランジスタT6のゲートにパルス信号φV
が順次与えられて、MOSトランジスタT6がONする
ことにより、MOSトランジスタT2のゲートにサンプ
ルホールドされた光電流を対数変換した電圧に比例した
出力電流が出力信号線6に出力される。このようにして
信号が読み出された後、MOSトランジスタT6がOF
Fになる。
走査回路3(図1)によって、画素G11〜Gmnに設けら
れたMOSトランジスタT6のゲートにパルス信号φV
が順次与えられて、MOSトランジスタT6がONする
ことにより、MOSトランジスタT2のゲートにサンプ
ルホールドされた光電流を対数変換した電圧に比例した
出力電流が出力信号線6に出力される。このようにして
信号が読み出された後、MOSトランジスタT6がOF
Fになる。
【0107】(2)画素の感度バラツキ検出 画素の感度バラツキ検出動作について、図15を参照し
て説明する。尚、図15のタイミングチャートは、1画
素における各信号の動作を示す。上記のように、パルス
信号φSを全ての画素に与えた後、各画素に順次パルス
信号φVを与えて、全ての画素から出力電流を出力する
と、まず、ハイレベルの信号φSWをMOSトランジス
タT3のゲートに与えてMOSトランジスタT3をON
にして、フォトトランジスタPTrのベースに定電流源
9より電流供給線8を介して定電流が流れるようにす
る。
て説明する。尚、図15のタイミングチャートは、1画
素における各信号の動作を示す。上記のように、パルス
信号φSを全ての画素に与えた後、各画素に順次パルス
信号φVを与えて、全ての画素から出力電流を出力する
と、まず、ハイレベルの信号φSWをMOSトランジス
タT3のゲートに与えてMOSトランジスタT3をON
にして、フォトトランジスタPTrのベースに定電流源
9より電流供給線8を介して定電流が流れるようにす
る。
【0108】このように、各画素に定電流源9より一定
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1ゲートに、定電流
源9によって決定された光電流を対数変換した値の電圧
が現れる。
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1ゲートに、定電流
源9によって決定された光電流を対数変換した値の電圧
が現れる。
【0109】次に、パルス信号φSを全画素のMOSト
ランジスタT5のゲートに与えることによって、MOS
トランジスタT2のゲートに、MOSトランジスタT1
のゲート電圧となる定電流源9によって決定された光電
流を対数変換した値の電圧をサンプルホールドする。こ
の電圧により、前記光電流に対して自然対数的に比例し
た値のドレイン電流がMOSトランジスタT2を流れよ
うとする。そして、このようにMOSトランジスタT2
のゲートにサンプルホールドされると、MOSトランジ
スタT5をOFFにする。
ランジスタT5のゲートに与えることによって、MOS
トランジスタT2のゲートに、MOSトランジスタT1
のゲート電圧となる定電流源9によって決定された光電
流を対数変換した値の電圧をサンプルホールドする。こ
の電圧により、前記光電流に対して自然対数的に比例し
た値のドレイン電流がMOSトランジスタT2を流れよ
うとする。そして、このようにMOSトランジスタT2
のゲートにサンプルホールドされると、MOSトランジ
スタT5をOFFにする。
【0110】そして、信号φSWをローレベルにしてM
OSトランジスタT3をOFFにする。その後、各画素
毎にMOSトランジスタT6のゲートに信号φVを与え
てONとして、前記光電流に対して自然対数的に比例し
た値のドレイン電流を、MOSトランジスタT2,T6
を通して出力信号線6に導出する。この光電流が感度の
バラツキの原因となるフォトトランジスタPTrの増幅
率を表すため、出力信号線6に出力される出力信号が、
各画素の感度のバラツキを表した信号となる。このよう
に、同時にサンプルホールドされた各画素の感度バラツ
キを表した信号を、各画素より順番に出力することでシ
リアルデータとして出力すると、MOSトランジスタT
6をOFFにして次の撮像動作に備える。
OSトランジスタT3をOFFにする。その後、各画素
毎にMOSトランジスタT6のゲートに信号φVを与え
てONとして、前記光電流に対して自然対数的に比例し
た値のドレイン電流を、MOSトランジスタT2,T6
を通して出力信号線6に導出する。この光電流が感度の
バラツキの原因となるフォトトランジスタPTrの増幅
率を表すため、出力信号線6に出力される出力信号が、
各画素の感度のバラツキを表した信号となる。このよう
に、同時にサンプルホールドされた各画素の感度バラツ
キを表した信号を、各画素より順番に出力することでシ
リアルデータとして出力すると、MOSトランジスタT
6をOFFにして次の撮像動作に備える。
【0111】<第9の実施形態>図9に示した画素構成
の第2例の各画素に適用される第9の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図16は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図8に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
の第2例の各画素に適用される第9の実施形態につい
て、図面を参照して説明する。図16は、本実施形態に
使用する固体撮像装置に設けられた画素の構成を示す回
路図である。尚、図8に示す画素と同様の目的で使用さ
れる素子及び信号線などは、同一の符号を付して、その
詳細な説明は省略する。
【0112】図16に示すように、本実施形態では、第
6の実施形態(図10)と同様、フォトトランジスタP
Trのベースにソースが接続されるとともに、定電流源
9に電流供給線8を介してドレインが接続された第3M
OSトランジスタT3が新たに設けられた構成となって
いる。MOSトランジスタT3のゲートには、信号φS
Wが入力される。その他の構成は第5の実施形態(図
8)と同一である。尚、MOSトランジスタT3は、M
OSトランジスタT1,T2,T4,T6と同様、Nチ
ャネルのMOSトランジスタでバックゲートが接地され
ている。又、信号φVPSは、2値的に変化するものと
し、MOSトランジスタT1,T2をサブスレッショル
ド領域で動作させるための電圧をローレベルとし、直流
電圧VPDと略等しい電圧をハイレベルとする。以下これ
らの各場合における動作を説明する。
6の実施形態(図10)と同様、フォトトランジスタP
Trのベースにソースが接続されるとともに、定電流源
9に電流供給線8を介してドレインが接続された第3M
OSトランジスタT3が新たに設けられた構成となって
いる。MOSトランジスタT3のゲートには、信号φS
Wが入力される。その他の構成は第5の実施形態(図
8)と同一である。尚、MOSトランジスタT3は、M
OSトランジスタT1,T2,T4,T6と同様、Nチ
ャネルのMOSトランジスタでバックゲートが接地され
ている。又、信号φVPSは、2値的に変化するものと
し、MOSトランジスタT1,T2をサブスレッショル
ド領域で動作させるための電圧をローレベルとし、直流
電圧VPDと略等しい電圧をハイレベルとする。以下これ
らの各場合における動作を説明する。
【0113】(1) 光電流を自然対数的に変換して出
力する場合 (1−a)撮像動作 まず、ローレベルの信号φSWをMOSトランジスタT
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T4,T
6が、第5の実施形態と同様の動作を行うことで、対数
変換された出力電流が出力信号線6に出力される。
力する場合 (1−a)撮像動作 まず、ローレベルの信号φSWをMOSトランジスタT
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T4,T
6が、第5の実施形態と同様の動作を行うことで、対数
変換された出力電流が出力信号線6に出力される。
【0114】即ち、まず、信号φVPSをローレベルと
し、MOSトランジスタT1,T2がサブスレッショル
ド領域で動作するようにバイアスするとともに、信号φ
VRS2をローレベルにして、MOSトランジスタT4は
OFFにする。このとき、フォトトランジスタPTrに
光が入射すると光電流が発生し、MOSトランジスタの
サブスレッショルド特性により、前記光電流を自然対数
的に変換した値の電圧がMOSトランジスタT1,T2
のゲートに発生する。この電圧により、MOSトランジ
スタT2に、前記光電流を自然対数的に変換した値と同
等のドレイン電流が流れようとする。
し、MOSトランジスタT1,T2がサブスレッショル
ド領域で動作するようにバイアスするとともに、信号φ
VRS2をローレベルにして、MOSトランジスタT4は
OFFにする。このとき、フォトトランジスタPTrに
光が入射すると光電流が発生し、MOSトランジスタの
サブスレッショルド特性により、前記光電流を自然対数
的に変換した値の電圧がMOSトランジスタT1,T2
のゲートに発生する。この電圧により、MOSトランジ
スタT2に、前記光電流を自然対数的に変換した値と同
等のドレイン電流が流れようとする。
【0115】次に、MOSトランジスタT6のゲートに
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。よって、
出力信号線6に導出される電流は前記光電流の積分値を
自然対数的に変換した値となる。このようにして入射光
量の対数値に比例した信号(出力電流)を読み出すと、
MOSトランジスタT6をOFFにする。
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。よって、
出力信号線6に導出される電流は前記光電流の積分値を
自然対数的に変換した値となる。このようにして入射光
量の対数値に比例した信号(出力電流)を読み出すと、
MOSトランジスタT6をOFFにする。
【0116】(1−b)画素の感度バラツキ検出 画素の感度バラツキ検出動作について、図17を参照し
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、ハイレベルの信号φSWをM
OSトランジスタT3のゲートに与えてMOSトランジ
スタT3をONにして、フォトトランジスタPTrのベ
ースに定電流源9より電流供給線8を介して定電流が流
れるようにする。
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、ハイレベルの信号φSWをM
OSトランジスタT3のゲートに与えてMOSトランジ
スタT3をONにして、フォトトランジスタPTrのベ
ースに定電流源9より電流供給線8を介して定電流が流
れるようにする。
【0117】このように、各画素に定電流源9より一定
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1,T2のゲート
に、定電流源9によって決定された光電流を対数変換し
た値の電圧が現れる。この電圧により、前記光電流に対
して自然対数的に比例した値のドレイン電流がMOSト
ランジスタT2を流れようとする。
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1,T2のゲート
に、定電流源9によって決定された光電流を対数変換し
た値の電圧が現れる。この電圧により、前記光電流に対
して自然対数的に比例した値のドレイン電流がMOSト
ランジスタT2を流れようとする。
【0118】そして、MOSトランジスタT6のゲート
に信号φVを与えてONとすると、前記光電流に対して
自然対数的に比例した値のドレイン電流が、MOSトラ
ンジスタT2,T6を通して出力信号線6に導出され
る。この光電流が感度のバラツキの原因となるフォトト
ランジスタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に
出力される出力信号が、各画素の感度のバラツキを表し
た信号となる。このように、パルス信号φVを与えて、
各画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロ
ーレベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOF
Fにして、次の撮像動作に備える。尚、このとき、MO
SトランジスタT4はOFFの状態である。
に信号φVを与えてONとすると、前記光電流に対して
自然対数的に比例した値のドレイン電流が、MOSトラ
ンジスタT2,T6を通して出力信号線6に導出され
る。この光電流が感度のバラツキの原因となるフォトト
ランジスタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に
出力される出力信号が、各画素の感度のバラツキを表し
た信号となる。このように、パルス信号φVを与えて、
各画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロ
ーレベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOF
Fにして、次の撮像動作に備える。尚、このとき、MO
SトランジスタT4はOFFの状態である。
【0119】(2) 光電流を線形的に変換して出力す
る場合 (2−a)撮像動作 まず、ローレベルの信号φSWをMOSトランジスタT
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T4,T
6が、第5の実施形態と同様の動作を行うことで、線形
変換された出力電流が出力信号線6に出力される。
る場合 (2−a)撮像動作 まず、ローレベルの信号φSWをMOSトランジスタT
3のゲートに与えることで、MOSトランジスタT3を
OFFにして、フォトトランジスタPTrのベースをフ
ローティング状態にする。このとき、フォトトランジス
タPTr及びMOSトランジスタT1,T2,T4,T
6が、第5の実施形態と同様の動作を行うことで、線形
変換された出力電流が出力信号線6に出力される。
【0120】即ち、まず、信号φVPSをハイレベルとし
て、MOSトランジスタT1をカットオフ状態にすると
ともに、MOSトランジスタT4のゲートにローレベル
の信号φVRS2を与えて、MOSトランジスタT4はO
FFとする。このとき、フォトトランジスタPTrに光
が入射して光電流が発生すると、光電流による電荷がM
OSトランジスタT1のゲート及びドレインなどに蓄積
されることによって、MOSトランジスタT1,T2の
ゲート電圧が前記光電流を積分した値に比例した値にな
る。
て、MOSトランジスタT1をカットオフ状態にすると
ともに、MOSトランジスタT4のゲートにローレベル
の信号φVRS2を与えて、MOSトランジスタT4はO
FFとする。このとき、フォトトランジスタPTrに光
が入射して光電流が発生すると、光電流による電荷がM
OSトランジスタT1のゲート及びドレインなどに蓄積
されることによって、MOSトランジスタT1,T2の
ゲート電圧が前記光電流を積分した値に比例した値にな
る。
【0121】次に、MOSトランジスタT6のゲートに
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。このよう
にして入射光量に比例した信号(出力電流)を読み出す
ことができる。信号読み出し後は、MOSトランジスタ
T6をOFFにする。
パルス信号φVを与えて、MOSトランジスタT6をO
Nにすると、MOSトランジスタT2のゲートにかかる
電圧に比例したドレイン電流がMOSトランジスタT
2,T6を通って出力信号線6に導出される。このよう
にして入射光量に比例した信号(出力電流)を読み出す
ことができる。信号読み出し後は、MOSトランジスタ
T6をOFFにする。
【0122】(2−b)画素の感度バラツキ検出 画素の感度バラツキ検出動作について、図18を参照し
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、パルス信号φVRS2を与えて
MOSトランジスタT4をONすることで、MOSトラ
ンジスタT1などのリセットを行う。そして、ハイレベ
ルの信号φSWをMOSトランジスタT3のゲートに与
えてMOSトランジスタT3をONにして、フォトトラ
ンジスタPTrのベースに定電流源9より電流供給線8
を介して定電流が流れるようにする。
て説明する。上記のようにパルス信号φVを与えて出力
電流を出力すると、まず、パルス信号φVRS2を与えて
MOSトランジスタT4をONすることで、MOSトラ
ンジスタT1などのリセットを行う。そして、ハイレベ
ルの信号φSWをMOSトランジスタT3のゲートに与
えてMOSトランジスタT3をONにして、フォトトラ
ンジスタPTrのベースに定電流源9より電流供給線8
を介して定電流が流れるようにする。
【0123】このように、各画素に定電流源9より一定
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1,T2のゲート
に、定電流源9によって決定された光電流を線形変換し
た値の電圧が現れる。この電圧により、前記光電流に対
して線形的に比例した値のドレイン電流がMOSトラン
ジスタT2を流れようとする。
の電流が流れると、この定電流源9より与えられる電流
によって決定される光電流がフォトトランジスタPTr
より流れる。このときの光電流の値が、感度のバラツキ
の原因となるフォトトランジスタPTrの増幅率を表
す。よって、MOSトランジスタT1,T2のゲート
に、定電流源9によって決定された光電流を線形変換し
た値の電圧が現れる。この電圧により、前記光電流に対
して線形的に比例した値のドレイン電流がMOSトラン
ジスタT2を流れようとする。
【0124】そして、MOSトランジスタT6のゲート
に信号φVを与えてONとすると、前記光電流に対して
線形的に比例した値のドレイン電流が、MOSトランジ
スタT2,T6を通して出力信号線6に導出される。こ
の光電流が感度のバラツキの原因となるフォトトランジ
スタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に出力さ
れる出力信号が、各画素の感度のバラツキを表した信号
となる。
に信号φVを与えてONとすると、前記光電流に対して
線形的に比例した値のドレイン電流が、MOSトランジ
スタT2,T6を通して出力信号線6に導出される。こ
の光電流が感度のバラツキの原因となるフォトトランジ
スタPTrの増幅率を表すため、出力信号線6に出力さ
れる出力信号が、各画素の感度のバラツキを表した信号
となる。
【0125】このように、パルス信号φVを与えて、各
画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロー
レベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOFF
にする。その後、パルス信号φVRS2を与えてMOSト
ランジスタT1などをリセットすることによって、次の
撮像動作に備える。
画素の感度バラツキが検出されると、信号φSWをロー
レベルにして、再び、MOSトランジスタT3をOFF
にする。その後、パルス信号φVRS2を与えてMOSト
ランジスタT1などをリセットすることによって、次の
撮像動作に備える。
【0126】尚、本実施形態において、第1又は第2の
実施形態のように、MOSトランジスタT2のソースに
一端が接続されたキャパシタC(図3又は図5参照)、
及びMOSトランジスタT2のソースにゲートが接続さ
れるとともにMOSトランジスタT6のドレインにソー
スが接続されたMOSトランジスタT7(図3又は図5
参照)を設けて、出力側に積分回路を設けた構成にして
も構わない。又、本実施形態において、第4の実施形態
のように、MOSトランジスタT1のゲート及びドレイ
ンの接続ノードにソースが接続されるとともにMOSト
ランジスタT2のゲートにドレインが接続されたMOS
トランジスタT5(図7参照)を設けても構わない。
実施形態のように、MOSトランジスタT2のソースに
一端が接続されたキャパシタC(図3又は図5参照)、
及びMOSトランジスタT2のソースにゲートが接続さ
れるとともにMOSトランジスタT6のドレインにソー
スが接続されたMOSトランジスタT7(図3又は図5
参照)を設けて、出力側に積分回路を設けた構成にして
も構わない。又、本実施形態において、第4の実施形態
のように、MOSトランジスタT1のゲート及びドレイ
ンの接続ノードにソースが接続されるとともにMOSト
ランジスタT2のゲートにドレインが接続されたMOS
トランジスタT5(図7参照)を設けても構わない。
【0127】尚、上述した第6〜第9の実施形態におい
て、画素毎に、その感度バラツキを検出したときの信号
を出力信号線6に出力すると、この検出時の信号がシリ
アルに出力され、後続回路においてメモリに画素毎の補
正データとして記憶しておく。そして、実際の撮像時の
信号を前記記憶されている補正データで画素毎に補正す
れば、出力信号から画素毎のバラツキを取り除くことが
できる。この補正方法はラインメモリなどのメモリを素
子内に設けることによっても実現できる。
て、画素毎に、その感度バラツキを検出したときの信号
を出力信号線6に出力すると、この検出時の信号がシリ
アルに出力され、後続回路においてメモリに画素毎の補
正データとして記憶しておく。そして、実際の撮像時の
信号を前記記憶されている補正データで画素毎に補正す
れば、出力信号から画素毎のバラツキを取り除くことが
できる。この補正方法はラインメモリなどのメモリを素
子内に設けることによっても実現できる。
【0128】尚、第1〜第9の実施形態において、各画
素からの信号読み出しは電荷結合素子(CCD)を用い
て行うようにしてもかまわない。この場合、行選択用の
スイッチとなるMOSトランジスタT6に相当するポテ
ンシャルレベルを可変としたポテンシャルの障壁を設け
ることにより、CCDへの電荷読み出しを行えばよい。
素からの信号読み出しは電荷結合素子(CCD)を用い
て行うようにしてもかまわない。この場合、行選択用の
スイッチとなるMOSトランジスタT6に相当するポテ
ンシャルレベルを可変としたポテンシャルの障壁を設け
ることにより、CCDへの電荷読み出しを行えばよい。
【0129】又、MOSトランジスタT1〜T9をNチ
ャネルのMOSトランジスタとするとともに、フォトト
ランジスタPTrをnpn型トランジスタとしたが、M
OSトランジスタT1〜T9をPチャネルのMOSトラ
ンジスタとするとともに、フォトトランジスタPTrを
pnp型トランジスタとした構成としても構わない。ま
た、このとき、図1又は図9の画素構成において、MO
SトランジスタQ1,Q2もPチャネルのMOSトラン
ジスタで構成される。このように、PチャネルのMOS
トランジスタ及びpnp型トランジスタで固体撮像装置
を構成したとき、その構成及び動作が逆となるものの、
実質的には同一の構成となる。
ャネルのMOSトランジスタとするとともに、フォトト
ランジスタPTrをnpn型トランジスタとしたが、M
OSトランジスタT1〜T9をPチャネルのMOSトラ
ンジスタとするとともに、フォトトランジスタPTrを
pnp型トランジスタとした構成としても構わない。ま
た、このとき、図1又は図9の画素構成において、MO
SトランジスタQ1,Q2もPチャネルのMOSトラン
ジスタで構成される。このように、PチャネルのMOS
トランジスタ及びpnp型トランジスタで固体撮像装置
を構成したとき、その構成及び動作が逆となるものの、
実質的には同一の構成となる。
【0130】
【発明の効果】本願請求項1及び請求項2の固体撮像装
置によると、光電変換手段の感光素子にフォトトランジ
スタを用いることにより、光電流が増幅されて電気信号
として出力されるので高感度な撮像を行うことが可能と
なる。しかも、光電変換手段の出力状態を、被写体の輝
度とは独立して、自然対数的出力状態と線形的出力状態
とに自由に設定できるので、例えば、輝度範囲の広い被
写体の撮像には自然対数的出力状態を選択し、低輝度の
被写体や輝度範囲の狭い被写体の撮像には線形的出力状
態を選択するという使い分けができる。従って、低輝度
から高輝度までの幅広い被写体を高品位に撮像できる。
置によると、光電変換手段の感光素子にフォトトランジ
スタを用いることにより、光電流が増幅されて電気信号
として出力されるので高感度な撮像を行うことが可能と
なる。しかも、光電変換手段の出力状態を、被写体の輝
度とは独立して、自然対数的出力状態と線形的出力状態
とに自由に設定できるので、例えば、輝度範囲の広い被
写体の撮像には自然対数的出力状態を選択し、低輝度の
被写体や輝度範囲の狭い被写体の撮像には線形的出力状
態を選択するという使い分けができる。従って、低輝度
から高輝度までの幅広い被写体を高品位に撮像できる。
【0131】本願請求項8及び請求項9の固体撮像装置
によると、感光素子にフォトトランジスタを用い、この
フォトトランジスタの第2電極に、第1MOSトランジ
スタの第1電極とゲート電極とを接続し、第1MOSト
ランジスタのゲート電極に、第2MOSトランジスタの
ゲート電極を接続するとともに、第1MOSトランジス
タをサブスレッショルド領域で動作させてフォトトラン
ジスタからの電気信号を自然対数的に変換して第2MO
Sトランジスタの第2電極から出力するようにしたこと
により、簡素で且つ設計の自由度の高い回路構成で、高
感度でダイナミックレンジの広い固体撮像装置を得るこ
とができる。特に、本願請求項9の固体撮像装置による
と、フォトトランジスタのベース電極に定電流を流す定
電流源が設けられることによって、各画素のフォトトラ
ンジスタの制御電極に同一の定電流を流すことでそのフ
ォトトランジスタの増幅率を表す出力信号が得られる。
そのため、従来のように、一様光を与えることなく、こ
のフォトトランジスタの増幅率のバラツキに起因する画
素のバラツキを検出することができる。従って、画素感
度のバラツキがキャンセルされた高品位な撮像を行うこ
とができる。
によると、感光素子にフォトトランジスタを用い、この
フォトトランジスタの第2電極に、第1MOSトランジ
スタの第1電極とゲート電極とを接続し、第1MOSト
ランジスタのゲート電極に、第2MOSトランジスタの
ゲート電極を接続するとともに、第1MOSトランジス
タをサブスレッショルド領域で動作させてフォトトラン
ジスタからの電気信号を自然対数的に変換して第2MO
Sトランジスタの第2電極から出力するようにしたこと
により、簡素で且つ設計の自由度の高い回路構成で、高
感度でダイナミックレンジの広い固体撮像装置を得るこ
とができる。特に、本願請求項9の固体撮像装置による
と、フォトトランジスタのベース電極に定電流を流す定
電流源が設けられることによって、各画素のフォトトラ
ンジスタの制御電極に同一の定電流を流すことでそのフ
ォトトランジスタの増幅率を表す出力信号が得られる。
そのため、従来のように、一様光を与えることなく、こ
のフォトトランジスタの増幅率のバラツキに起因する画
素のバラツキを検出することができる。従って、画素感
度のバラツキがキャンセルされた高品位な撮像を行うこ
とができる。
【図1】本発明の一実施形態である二次元固体撮像装置
の全体の構成を説明するためのブロック回路図。
の全体の構成を説明するためのブロック回路図。
【図2】図1の一部の回路図。
【図3】本発明の第1の実施形態の1画素の構成を示す
回路図。
回路図。
【図4】本発明の第1の実施形態の1画素の別の構成を
示す回路図。
示す回路図。
【図5】本発明の第2の実施形態の1画素の構成を示す
回路図。
回路図。
【図6】本発明の第3の実施形態の1画素の構成を示す
回路図。
回路図。
【図7】本発明の第4の実施形態の1画素の構成を示す
回路図。
回路図。
【図8】本発明の第5の実施形態の1画素の構成を示す
回路図。
回路図。
【図9】本発明の一実施形態である二次元固体撮像装置
の全体の構成を説明するためのブロック回路図。
の全体の構成を説明するためのブロック回路図。
【図10】本発明の第6の実施形態の1画素の構成を示
す回路図。
す回路図。
【図11】第6の実施形態で使用する画素の各素子に与
える信号のタイミングチャート。
える信号のタイミングチャート。
【図12】本発明の第7の実施形態の1画素の構成を示
す回路図。
す回路図。
【図13】第7の実施形態で使用する画素の各素子に与
える信号のタイミングチャート。
える信号のタイミングチャート。
【図14】本発明の第8の実施形態の1画素の構成を示
す回路図。
す回路図。
【図15】第8の実施形態で使用する画素の各素子に与
える信号のタイミングチャート。
える信号のタイミングチャート。
【図16】本発明の第9の実施形態の1画素の構成を示
す回路図。
す回路図。
【図17】第9の実施形態で使用する画素の各素子に与
える信号のタイミングチャート。
える信号のタイミングチャート。
【図18】第9の実施形態で使用する画素の各素子に与
える信号のタイミングチャート。
える信号のタイミングチャート。
【図19】従来例の1画素の構成を示す回路図。
G11〜Gmn 画素 2 垂直走査回路 3 水平走査回路 4−1〜4−n 行選択線 6−1〜6−m 出力信号線 7 信号線 8−1〜8−m 電流供給線 9−1〜9−m 定電流源 10 直流電圧線 11 ライン PTr フォトトランジスタ T1〜T8 第1〜第8MOSトランジスタ C キャパシタ
Claims (17)
- 【請求項1】 入射した光量に応じた電気信号を発生す
る感光素子を有する光電変換手段と、該光電変換手段の
出力信号を出力信号線へ導出する導出路とを備えた固体
撮像装置において、 前記感光素子が、制御電極に入射された光量に応じた光
電流を増幅して前記電気信号を発生するフォトトランジ
スタであるとともに、 前記光電変換手段が、前記フォトトランジスタより発生
された前記電気信号を線形的に変換する第1状態と、自
然対数的に変換する第2状態とに切り換え可能としたこ
とを特徴とする固体撮像装置。 - 【請求項2】 入射した光量に応じた電気信号を発生す
る感光素子を有する光電変換手段と該光電変換手段の出
力信号を出力信号線へ導出する導出路とを備えた画素を
マトリクス状に配してなる二次元の固体撮像装置におい
て、 前記感光素子が、制御電極に入射された光量に応じた光
電流を増幅して前記電気信号を発生するフォトトランジ
スタであるとともに、 前記光電変換手段が、前記フォトトランジスタより発生
された前記電気信号を線形的に変換する第1状態と、自
然対数的に変換する第2状態とに切り換え可能としたこ
とを特徴とする固体撮像装置。 - 【請求項3】 前記光電変換手段が前記第1状態で動作
して電気信号を前記出力信号線へ出力した後に前記光電
変換手段を初期化するためのリセット手段が設けられた
ことを特徴とする請求項1又は請求項2に記載の固体撮
像装置。 - 【請求項4】 前記各画素が、前記光電変換手段の出力
信号を増幅する増幅用トランジスタを有しており、該増
幅用トランジスタの出力信号を前記導出路を介して前記
出力信号線へ出力することを特徴とする請求項2に記載
の固体撮像装置。 - 【請求項5】 前記出力信号線に接続された負荷抵抗又
は定電流源を有し、前記負荷抵抗又は定電流源の総数が
全画素数より少ないことを特徴とする請求項4に記載の
固体撮像装置。 - 【請求項6】 前記光電変換手段が、 制御電極がフローティング状態にされるとともに、第1
電極に直流電圧が印加され、制御電極に入射された光量
によって発生した光電流を増幅する前記フォトトランジ
スタと、 第1電極と第2電極と制御電極とを備え、該フォトトラ
ンジスタの第2電極に第1電極及び制御電極が接続さ
れ、前記フォトトランジスタからの出力電流が流れ込む
第1トランジスタと、 第1電極と第2電極と制御電極とを備え、第1電極に直
流電圧が印加されるとともに制御電極が前記第1トラン
ジスタの制御電極に接続され、第2電極から電気信号を
出力する第2トランジスタとから構成され、 前記第1トランジスタをサブスレッショルド領域で動作
させることによって、前記フォトトランジスタから流れ
る出力電流を自然対数的に変換することを特徴とする請
求項1〜請求項5のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 【請求項7】 定電流源が設けられるとともに、 前記光電変換手段が、 第1電極に直流電圧が印加され、制御電極に入射された
光量によって発生した光電流を増幅する前記フォトトラ
ンジスタと、 第1電極と第2電極と制御電極とを備え、該フォトトラ
ンジスタの第2電極に第1電極及び制御電極が接続さ
れ、前記フォトトランジスタからの出力電流が流れ込む
第1トランジスタと、 第1電極と第2電極と制御電極とを備え、第1電極に直
流電圧が印加されるとともに制御電極が前記第1トラン
ジスタの制御電極に接続され、第2電極から電気信号を
出力する第2トランジスタと、 前記フォトトランジスタの制御電極と前記定電流源との
間に接続されるとともに、前記フォトトランジスタの制
御電極と前記定電流源との接続を電気的に接離する第1
スイッチと、から構成され、 撮像動作を行うときは、前記第1スイッチをOFFにす
るとともに、前記第1トランジスタをサブスレッショル
ド領域で動作させることによって、前記フォトトランジ
スタから流れる出力電流を自然対数的に変換し、 又、前記光電変換手段の感度のバラツキを検出するとき
は前記第1スイッチをONにすることを特徴とする請求
項1〜請求項5のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 【請求項8】 画素をマトリクス状に配してなる二次元
の固体撮像装置において、 各画素が、 ベース電極がフローティング状態にされるとともに、第
1電極に直流電圧が印加され、ベース電極に入射された
光量によって発生した光電流を増幅するフォトトランジ
スタと、 該フォトトランジスタの第2電極に第1電極とゲート電
極が接続された第1MOSトランジスタと、 該第1MOSトランジスタのゲート電極にゲート電極が
接続された第2MOSトランジスタと、を有し、 前記第1MOSトランジスタを閾値以下のサブスレッシ
ョルド領域で動作させることで、前記フォトトランジス
タから出力される電気信号を自然対数的に変換して前記
第2MOSトランジスタの第2電極から出力させること
を特徴とする固体撮像装置。 - 【請求項9】 画素をマトリクス状に配してなる二次元
の固体撮像装置において、 各画素に定電流を供給する定電流源を有するとともに、 各画素が、 第1電極に直流電圧が印加され、ベース電極に入射され
た光量によって発生した光電流を増幅するフォトトラン
ジスタと、 該フォトトランジスタの第2電極に第1電極とゲート電
極が接続された第1MOSトランジスタと、 該第1MOSトランジスタのゲート電極にゲート電極が
接続された第2MOSトランジスタと、 前記定電流源に第1電極が接続されるとともに、前記フ
ォトトランジスタのベース電極に第2電極が接続された
第3MOSトランジスタと、 を有し、 撮像動作を行うときは、前記第3MOSトランジスタに
OFFとするとともに、前記第1MOSトランジスタを
閾値以下のサブスレッショルド領域で動作させること
で、前記フォトトランジスタから出力される電気信号を
自然対数的に変換して前記第2MOSトランジスタの第
2電極から出力させ、 前記画素の感度のバラツキを検出するときは前記第3M
OSトランジスタをONにすることを特徴とする固体撮
像装置。 - 【請求項10】 前記画素が、 前記第1MOSトランジスタのゲート電極に第1電極が
接続され、第2電極が直流電圧に接続されるとともに、
ゲート電極に入力される電圧のレベルの切り換えによっ
て、前記第1MOSトランジスタのゲート電極に蓄積さ
れた電荷を放出してリセットする第4MOSトランジス
タを有し、 前記フォトトランジスタから出力される電気信号を自然
対数的に変換して前記第2MOSトランジスタの第2電
極から出力させるときは、前記第1MOSトランジスタ
を閾値以下のサブスレッショルド領域で動作させ、 一方、前記フォトトランジスタから出力される電気信号
を線形的に変換して前記第2MOSトランジスタの第2
電極から出力させるときは、前記第1MOSトランジス
タの第2電極と前記フォトトランジスタの第1電極の電
位を接近させることにより前記第1MOSトランジスタ
を不作動状態とするとともに、電気信号を出力した後、
前記第4MOSトランジスタのゲート電極に入力する電
圧のレベルを切り換えることによって前記第4MOSト
ランジスタを導通させて、少なくとも前記第1MOSト
ランジスタの第1電極及びゲート電極に蓄積された電荷
を放出してリセットすることを特徴とする請求項8又は
請求項9に記載の固体撮像装置。 - 【請求項11】 前記画素が、 前記第1MOSトランジスタの第1電極とゲート電極と
の接続ノードに第1電極が接続されるとともに、前記第
2MOSトランジスタのゲート電極に第2電極が接続さ
れた第5MOSトランジスタを有し、 前記固体撮像装置内に設けられた各画素内の前記第5M
OSトランジスタが、同一のタイミングで動作すること
によって、同一時間に撮像した電気信号が前記各画素か
ら出力されることを特徴とする請求項8又は請求項9に
記載の固体撮像装置。 - 【請求項12】 前記画素が、第1電極が前記第2MO
Sトランジスタの第2電極に接続され、第2電極が出力
信号線に接続され、ゲート電極が行選択線に接続された
第6MOSトランジスタを有することを特徴とする請求
項8〜請求項11のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 【請求項13】 前記画素が、 第1電極が直流電圧に接続され、ゲート電極が前記第2
MOSトランジスタの第2電極に接続されるとともに、
前記第2MOSトランジスタの第2電極から出力される
出力信号を増幅する第7MOSトランジスタと、 第1電極が前記第7MOSトランジスタの第2電極に接
続され、第2電極が出力信号線に接続され、ゲート電極
が行選択線に接続された第6MOSトランジスタと、 を有することを特徴とする請求項8〜請求項10のいず
れかに記載の固体撮像装置。 - 【請求項14】 前記画素が、前記第2MOSトランジ
スタの第2電極に一端が接続され他端が前記第1MOS
トランジスタの第2電極が接続される信号線に接続され
るとともに、前記第2MOSトランジスタの第1電極に
リセット電圧が与えられたときに前記第2MOSトラン
ジスタを介してリセットされるキャパシタを有すること
を特徴とする請求項13に記載の固体撮像装置。 - 【請求項15】 前記第2MOSトランジスタの第1電
極が直流電圧に接続されるとともに、 前記画素が、 前記第2MOSトランジスタの第2電極に第1電極が接
続され第2電極に直流電圧が接続された第8MOSトラ
ンジスタと、 前記第2MOSトランジスタの第2電極に一端が接続さ
れ他端が前記第1MOSトランジスタの第2電極が接続
される信号線に接続されるとともに、前記第8MOSト
ランジスタのゲート電極にリセット電圧が与えられたと
きに前記第8MOSトランジスタを介してリセットされ
るキャパシタと、 を有することを特徴とする請求項13に記載の固体撮像
装置。 - 【請求項16】 前記画素に対し前記出力信号線を介し
て接続された負荷抵抗又は定電流源を成すMOSトラン
ジスタを備えていることを特徴とする請求項8〜請求項
15のいずれかに記載の固体撮像装置。 - 【請求項17】 前記MOSトランジスタが全てNチャ
ネルのMOSトランジスタであるとともに、前記フォト
トランジスタがnpn型のフォトトランジスタであるこ
とを特徴とする請求項8〜請求項16のいずれかに記載
の固体撮像装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000046700A JP2001230399A (ja) | 2000-02-18 | 2000-02-18 | 固体撮像装置 |
US09/774,212 US20010015404A1 (en) | 2000-02-18 | 2001-01-30 | Solid-state image-sensing device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000046700A JP2001230399A (ja) | 2000-02-18 | 2000-02-18 | 固体撮像装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001230399A true JP2001230399A (ja) | 2001-08-24 |
Family
ID=18569069
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000046700A Pending JP2001230399A (ja) | 2000-02-18 | 2000-02-18 | 固体撮像装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001230399A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012011585A1 (ja) * | 2010-07-22 | 2012-01-26 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光電変換セル及びアレイとその読み出し方法と回路 |
-
2000
- 2000-02-18 JP JP2000046700A patent/JP2001230399A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012011585A1 (ja) * | 2010-07-22 | 2012-01-26 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | 光電変換セル及びアレイとその読み出し方法と回路 |
US9142579B2 (en) | 2010-07-22 | 2015-09-22 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Photoelectric conversion cell and array, reset circuit and electrical signal sense control circuit therefor |
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