DE3529476C2 - - Google Patents
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- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 43
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 19
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 22
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 description 10
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 7
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 7
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 3
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 3
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 2
- 230000036316 preload Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 101150087426 Gnal gene Proteins 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 210000003608 fece Anatomy 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
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- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
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- G11C—STATIC STORES
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- G11C7/18—Bit line organisation; Bit line lay-out
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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Description
Die Erfindung bezieht sich auf einen Treiberkreis für einen
zwei Paaren von Bitleitungen
gemeinsamen Signalabtastverstärker nach dem Oberbegriff des
Anspruches 1.
Ein derartiger Treiberkreis ist aus der EP 00 49 990 A2 be
kannt. Zwar wird bei dem bekannten Treiberkreis auch während
des Wartezustandes vor der Adressierung der Speicherzellen der
Gatterspannungspegel der Transfertransistorgruppen auf einen
höheren Wert als den der Vorladespannung der Bitleitungen
gehalten, und es wird die Gatterspannung der Transfertransistor
gruppen der nicht ausgewählten Bitleitungspaare während der
Adressierung der Speicherzellen nicht ganz auf das Nullpoten
tial abgesenkt, jedoch geschieht die Absenkung auf die Vorlade
spannung vermindert um die Schwellenspannung eines Transistors.
Wegen des Absenkens der Gatterspannung unter den Pegel der Vor
ladespannung und das Anheben der Gatterspannung wieder auf den
hohen Pegel ist der ganze Vorgang langsam.
Fig. 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines gemeinsamen
Signalabtastverstärkers, welcher in Verbindung mit der
vorliegenden Erfindung verwendet werden kann. Gemäß Fig.
1 ist dabei ein Taktsignal Φ₃ vorgesehen, welches den ent
sprechenden Quellen von Transistoren 1 und 2 zugeführt
werden kann. Der Abfluß des Transistors 1 ist mit einem
Abtastpunkt 9 verbunden, während sein Steueranschluß zu einem
Abtastpunkt 10 führt. Auf der anderen Seite ist der Abfluß
des Transistors 2 mit dem Abtastpunkt 10 verbunden, während
der Steueranschluß an dem Abtastpunkt 9 angeschlossen ist.
Die beiden Transistoren 1 und 2 bilden einen Abtastver
stärker des Flip-Flop-Typs.
Der Abtastpunkt 9 ist über einen Transfertransistor 7 R
mit einer Bitleitung 3 R verbunden, während der betreffen
de Abtastpunkt 9 auf der anderen Seite über einen Trans
fertransistor 7 L mit einer Bitleitung 3 L verbunden ist.
Der Abtastpunkt 10 ist hingegen über einen Transfertran
sistor 8 R mit einer Bitleitung 4 R verbunden, während die
ser Abtastpunkt 10 ebenfalls über einen Transfertransistor
8 L mit einer Bitleitung 4 L verbunden ist. Die Transfer
transistoren 7 R und 8 R können dabei die beiden Bitleitun
gen 3 R und 4 R auf der rechten Seite mit Hilfe des Abtast
verstärkers an- und ausschalten, wobei die An- und Aus
steuerung mit Hilfe eines Steuertaktsignals Φ 2R erfolgt.
Die Transfertransistoren 7 L und 8 L ermöglichen auf der
anderen Seite das An- und Ausschalten der Bitleitungen
3 L und 4 L auf der rechten Seite mit Hilfe des Abtastver
stärkers, wobei die Ansteuerung in diesem Fall mit Hilfe
eines Steuertaktsignals Φ 2L erfolgt. Die Bitleitungen
3 R und 4 R bilden ein Paar von gefalteten Bitleitungen,
während die Bitleitungen 3 L und 4 L ein anderes Paar von
gefalteten Bitleitungen darstellen. Der in Fig. 1 darge
stellte gemeinsame Signalabtastverstärker, welcher durch
die beiden Transistoren 1 und 2 gebildet ist, wird dabei
von den beiden Paaren von gefalteten Bitleitungen gemein
sam benutzt.
Die auf der rechten Seite von Fig. 1 befindlichen Bitlei
tungen 3 R und 4 R sind mit den Quellenanschlüssen von Tran
sistoren 5 R und 6 R verbunden. Eine Vorladungsspannung V R
wird den entsprechenden Abflußelektroden der Transistoren
5 R und 6 R zugeführt, während ein Vorladungstaktsignal Φ 1R
den entsprechenden Steuerelektroden zugeführt wird. Die
se Transistoren 5 R und 6 R ermöglichen eine Aufladung der
Bitleitungen 3 R und 4 R auf eine Vorladungsspannung V R in
Abhängigkeit eines Vorladungstaktsignals Φ 1R . Die Bitlei
tungen 3 R und 4 R sind fernerhin mit Speicherzellen MC 1R
und MC NR verbunden. Der Speicherinhalt der Speicherzelle
MC 1R wird auf der Bitleitung 3 R ausgelesen, sobald eine
Wortleitung WL 1R gewählt ist, während der Speicherinhalt
der Speicherzelle MC NR auf der Bitleitung 4 R ausgelesen
wird, sobald eine Wortleitung WL NR gewählt ist. Die Bit
leitungen 3 R und 4 R sind fernerhin mit Hilfsspeicherzel
len DC 1R und DC 2R verbunden. Das zwischen dem Auslesepo
tential der Information "0" und der Information "1" vor
handene Zwischenpotential wird dabei bezüglich der Hilfs
speicherzelle DC 1R auf der Bitleitung 3 R ausgelesen, so
bald eine Hilfswortleitung DWL 1R gewählt ist, während das
betreffende Zwischenpotential auf der Bitleitung 4 R ausge
lesen wird, sobald eine Hilfswortleitung DWL 2R mit Bezug
auf die Hilfsspeicherzelle DC 2R gewählt ist.
Ähnliche Elemente wie die mit den Bitleitungen 3 R und 4 R
verbundenen Elemente sind mit den Bitleitungen 3 L und 4 L
auf der linken Seite vorgesehen. Diese Elemente entspre
chen den bereits erörterten Elementen, wobei allerdings
anstelle der Indizes "R" Indizes "L" verwendet sind, so
daß in diesem Fall auf eine genauere Beschreibung verzich
tet werden kann.
Die auf der linken Seite befindlichen Bitleitungen 3 L
und 4 L sind über Transfertransistoren 11 und 12 mit ent
sprechenden Lese-/Schreibleitungen I/O 1 und I/O 2 verbun
den. Den entsprechenden Steuerelektroden der Transfer
transistoren 11 und 12 wird ein Taktsignal Φ 4 zugeführt.
Obwohl allein vier Wortleitungen WL 1R , WL NR , WL 1L und WL NL
in Fig. 1 gezeigt sind, so kann die Anzahl N eine beliebi
ge gerade Zahl der Wortleitungen auf jeder Seite entspre
chend gewählt werden, während die Anzahl N von Speicher
zellen MC 1R (MC 1L ) bis MC NR (MC NL ), welche mit den Bit
leitungen 3 R (3 L ) und 4 R (4 L ) verbunden sind, durch N/2 festgelegt ist.
Obwohl der in Fig. 1 dargestellte Schaltkreis nur einen
einzigen Abtastverstärker aufweist, weist ein tatsächlich
verwendeter Speicher im allgemeinen eine Mehrzahl derar
tiger Abtastverstärker auf, welche vertikal angeordnet
sind, um auf diese Weise eine Anordnung von Speicherzel
len zu bilden.
Im folgenden soll nunmehr ein Schaltkreis beschrieben wer
den, welcher nur einen Abtastverstärker und zwei Wortlei
tungen aufweist, um auf diese Weise das Verständnis der
vorliegenden Erfindung zu erleichtern.
Fig. 2 zeigt ein Zeitdiagramm bei einem NMOS-Halbleiter
element, welches zur Erläuterung der Funktionsweise der
Schaltanordnung von Fig. 1 verwendet ist.
In einem Wartezustand bis zum Zeitpunkt T 1 befindet sich
das Vorladungstaktsignal Φ 1L auf einem hohen Signalwert,
wodurch die Transistoren 5 L und 6 L in den Ein-Zustand ge
schaltet werden, während die Bitleitungen 3 L und 4 L auf
die Vorladungsspannung von V L geladen werden. Das Vorla
dungstaktsignal Φ 1R befindet sich ebenfalls auf einem hohen
Signalwert, so daß die Bitleitungen 3 R und 4 R über die
Transistoren 5 R und 6 R auf die Vorladungsspannung V R auf
geladen werden. Während dieses Zeitintervalls befindet
sich das den Abtastverstärker entaktivierende Taktsignal
Φ 3 auf einem hohen Signalwert, so daß der Abtastverstär
ker in dem Wartezustand gehalten ist. Es sei in diesem Zu
sammenhang angenommen, daß eine der Speicherzellen MC 1R
und MC NR auf der rechten Seite des Abtastverstärkers mit
Hilfe eines nicht dargestellten Adressiersignals adressiert
ist, was zur Folge hat, daß das Potential auf einer der
beiden Wortleitungen WL 1R oder WL NR und einer der Hilfs
wortleitungen DWL 1R oder DWL 2R erhöht ist, während die
nicht gewählte Wortleitung WL 1L oder WL NL und die Hilfs
wortleitung DWL 1L oder DWL 2L sich auf einem niedrigen
Spannungswert befinden.
Die Potentialwerte der gewählten Wortleitung und der Hilfs
wortleitung werden nicht unmittelbar bei der Adressierung
durch das Adressiersignal erhöht. Dies ist deshalb der
Fall, weil das Adressiersignal einem nicht dargestellten
Dekoder zugeführt wird, welcher die Potentialwerte von
bestimmten Wortleitungen und Hilfswortleitungen erhöht,
wobei die Zunahme der Potentialwerte auf der jeweiligen
Wortleitung bzw. Hilfswortleitung durch die Adressierung
entsprechend einem Zeitintervall für die Signalverarbei
tung innerhalb des Dekoders verzögert ist.
Im folgenden soll nunmehr jener Fall beschrieben werden,
in welchem beispielsweise die Wortleitung WL 1R und die
Hilfswortleitung DWL 2R ausgewählt werden.
Beim Auftreten eines Adressiersignals erhält das Steuer
taktsignal Φ 2L zum Zeitpunkt T 2 einen niedrigen Spannungs
wert, bevor die Potentialwerte auf der Wortleitung WL 1R
und der Hilfswortleitung DWL 2R zunehmen, was zur Folge hat,
daß die beiden Transfertransistoren 7 L und 8 L beide in
ihren nichtleitenden Zustand gelangen. Die Abtastpunkte 9
und 10 werden demzufolge von den beiden Bitleitungen 3 L
und 4 L elektrisch abgeschaltet, während die auf der Wort
leitung WL 1R und der Hilfswortleitung DWL 2R vorhandenen
Potentialwerte zum Zeitpunkt T 3 zunehmen. Die in der Spei
cherzelle MC 1R befindliche Information wird daraufhin auf
die Bitleitung 3 R ausgelesen, während die in der Hilfs
speicherzelle DC 2R befindliche Ladung auf die Bitleitung
4 R ausgelesen wird. Die ausgelesene Information wird dem
zufolge über die Transfertransistoren 7 R und 8 R den Ab
tastpunkten 9 und 10 zugeführt, und zwar während der Zeit
periode, während welcher das Steuertaktsignal Φ 2R sich bis
zum Zeitpunkt T 4 auf einem hohen Signalwert befindet.
Der Spannungswert des Steuertaktsignals Φ 2R fällt zum
Zeitpunkt T 4 geringfügig ab, während die Impedanzwerte
der Transfertransistoren 7 R und 8 R erhöht werden. Sobald
das Taktsignal Φ 3 zum Zeitpunkt T 5 einen niedrigen Span
nungswert erreicht, wird der durch die Transistoren 1 und
2 gebildete Abtastverstärker aktiviert und die den Abtast
punkten 9 und 10 zugeführte Information entsprechend ver
stärkt. Die verstärkte Information wird dann über die
Transfertransistoren 7 R und 8 R den Bitleitungen 3 R und 4 R
zurückgeleitet, um auf diese Weise in der gewählten Spei
cherzelle erneut eingeschrieben zu werden. Das Steuertakt
signal Φ 2L gelangt zum Zeitpunkt T 6 erneut auf einen hohen
Signalwert, wodurch die verstärkte Information über die
Transfertransistoren 7 L und 8 L zu den Bitleitungen 3 L und 4 L
transferiert wird.
Zum Zeitpunkt T 7 gelangt das Taktsignal Φ 4 auf einen hohen
Signalwert, so daß die verstärkte Information über die
Transfertransistoren 10 und 11 den Lese-/Schreibleitungen
I/O 1 und I/O 2 transferiert wird. Die Wortleitung WL 1R , die
Hilfswortleitung DWL 2R und das Taktsignal Φ 4 erreichen
zum Zeitpunkt T 8 erneut niedrige Spannungswerte, während
die Taktsignale Φ 1R , Φ 1L , Φ 3 und Φ 2R zum Zeitpunkt T 9 hohe
Signalwerte annehmen, so daß auf diese Weise die gefalte
ten Bitleitungen auf beiden Seiten die Potentialwerte V R
bzw. V L erhalten und der Abtastverstärker in seinen Warte
zustand zurückkehrt.
Der sequentielle Lese-/Schreibvorgang wird in der beschrie
benen Weise durchgeführt. Die Impedanzwerte der Transfer
transistoren 7 R und 8 R werden bei der Verstärkung des Ab
tastverstärkers erhöht, wodurch die Kapazitätsbelastung
der Abtastpunkte 9 und 10 reduziert wird, so daß auf die
se Weise eine Erhöhung der Wirkungsempfindlichkeit zu
standekommt.
Falls die auf der linken Seite befindlichen Speicherzel
len MC 1L und MC NL gewählt werden, werden die Wellenformen
der Steuertaktsignale Φ 2L und Φ 2R gegeneinander ausge
tauscht.
Der in Fig. 1 dargestellte Abtastverstärker wird, wie er
wähnt, derart betrieben, daß derselbe von zwei Paaren von
gefalteten Bitleitungen gemeinsam benutzt wird.
So wie sich anhand obiger Beschreibung ergibt, haben die
Wellenformen der Steuersignale Φ 2R und Φ 2L wichtige Funk
tionen zum Treiben des gemeinsamen Abtastverstärkers. Das
auf der nicht gewählten Seite vorhandene Steuertaktsignal,
d. h. in dem vorliegenden Fall Φ 2L , muß dabei unmittelbar
auf einen niedrigen Spannungswert gebracht werden, bevor
die Potentialwerte der gewählten Wortleitungen bei der
Adressierung der Speicherzellen durch das Adressiersignal
ansteigen, d. h. bevor das Auslesen der Speicherzellen er
folgt, wodurch erreicht wird, daß die nicht gewählten Bit
leitungen von dem Abtastverstärker abgetrennt werden. Ein
langsamer Abfall des Steuertaktsignals auf der nicht ge
wählten Seite verzögert das Auslesen der Speicherzellen,
wodurch ein Auslesen mit hoher Geschwindigkeit verhindert
wird. Ein langsamer Abfall des Steuertaktsignals verzögert
fernerhin den Transfer der durch den Abtastverstärker ver
stärkten Information in Richtung der Lese-/Schreibleitun
gen I/O 1 und I/O 2, wodurch ein Auslesen mit hoher Geschwin
digkeit verhindert wird. Es ist demzufolge ein Treiber
kreis für einen gemeinsamen Abtastverstärker erforderlich,
welcher einen sehr rasch durchzuführenden Auslesevorgang
gestattet, indem die vorhandenen Bitleitungen gegenüber
dem Abtastverstärker sehr rasch angeschlossen bzw. abge
trennt werden.
Es ist demzufolge Aufgabe der vorliegenden Erfindung,
einen Treiberkreis für einen von zwei Paaren von Bitlei
tungen gemeinsam angesteuerten Abtastverstärker zu schaf
fen, welcher das Anschalten bzw. Abtrennen der Bitleitun
gen von und zu dem Abtastverstärker mit hoher Geschwin
digkeit erlaubt, so daß der gemeinsame Abtastverstärker
mit hoher Geschwindigkeit betrieben werden kann.
Erfindungsgemäß wird ein Treiberkreis für einen
gemeinsamen Signalabtastverstärker der eingangs beschriebenen Art vorgesehen, welcher durch die
kennzeichnenden Merkmale des Anspruches 1 gekennzeichnet ist.
Der Treiberkreis soll nunmehr anhand eines Ausführungsbeispie
les näher erläutert und beschrieben werden, wobei auf die
Zeichnungen Bezug genommen ist. Es zeigt
Fig. 1 ein Schaltdiagramm der Ausführungsform eines
gemeinsamen Abtastverstärkers, welcher in Verbin
dung mit dem Treiberkreis verwendbar ist;
Fig. 2 ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise zum Antreiben des in Fig. 1 dargestellten
Schaltkreises;
Fig. 3 ein Zeitdiagramm zur Erläuterung des Antreib
vorgangs bei der Ausführungsform des Treiberkreises;
Fig. 4 ein Schaltdiagramm eines Teiles der Ausführungs
form des Treiberkreises, welche insbeson
dere mit einem Schaltkreis zur Erzeugung der Steuer
taktsignale versehen ist;
Fig. 5 ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktionswei
se des Schaltkreises von Fig. 4;
Fig. 6 ein Schaltdiagramm eines anderen Teils der
Ausführungsform des Treiberkreises, welche insbesonde
re mit einem Schaltkreis zur Erzeugung der Verrie
gelungstaktsignale versehen ist;
Fig. 7 ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise des Schaltkreises von Fig. 6;
Fig. 8 ein Schaltdiagramm eines anderen Teils der Ausfüh
rungsform des Treiberkreises, mit Darstellung
insbesondere des Entkodierkreises zur Entkodierung
der Verriegelungstaktsignale, welche von dem Schalt
kreis von Fig. 6 abgegeben und dem Schaltkreis von
Fig. 4 zugeführt werden;
Fig. 9 ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise des Schaltkreises von Fig. 8;
Fig. 10 ein Schaltdiagramm eines weiteren Teils der Aus
führungsform des Treiberkreises unter Darstellung
insbesondere des Schaltkreises zur Erzeugung der
Taktsignale zum Antreiben des Schaltkreises von
Fig. 4;
und
Fig. 11 ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise des Schaltkreises von Fig. 10.
Fig. 3 zeigt ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise einer Ausführungsform des Treiberkreises zum Trei
ben eines gemeinsamen Abtastverstärkers. Die Grundstruktur
des Schaltkreises eines derartigen gemeinsamen Abtastver
stärkers kann dabei identisch wie in Fig. 1 ausgebildet
sein. Im Wartezustand befinden sich die Vorladungstaktsi
gnale Φ 1L und Φ 1R auf einem hohen Signalwert, so daß die
Bitleitungen 3 R , 4 R , 3 L und 4 L auf die entsprechenden Vor
ladungsspannungen V R und V L aufgeladen werden. Die Span
nungswerte V R und V L sind dabei gleich eingestellt, so daß
dieselben im folgenden mit V REF bezeichnet werden sollen.
Zu dem betreffenden Zeitpunkt sind die Spannungswerte der
Steuertaktsignale Φ 2L und Φ 2R höher als die Gesamtheit der
Bitleitungs-Vorladungsspannung V REF und der Schwellwert
spannung der Transfertransistoren eingestellt. Alle Trans
fertransistoren 7 L , 8 L , 7 R und 8 R befinden sich demzufolge
im angeschalteten Zustand, während die Abtastpunkte 9 und
10 auf das Potential V REF aufgeladen sind. Die besondere
Eigenschaft einer derartigen Ansteuerung besteht darin,
daß der Wert des Steuertaktsignales Φ 2L auf der nicht ge
wählten Seite nicht vollkommen auf einen niedrigen Span
nungswert reduziert wird, sondern auf eine Bitleitungs-
Vorladungsspannung V REF festgelegt ist, bevor bei der
Adressierung der Speicherzellen ein entsprechender Span
nungsanstieg auf den entsprechenden Wortleitungen zustan
de kommt. Die Bitleitungen 3 R , 3 L , 4 R und 4 L und die Ab
tastpunkte 9 und 10 befinden sich demzufolge auf dem Po
tentialwert des Signals V REF , so daß die Transfertransisto
ren 7 L und 8 L abgeschaltet sind, wobei die Abflußquellen
und Gatterelektroden durch die Verriegelung des Steuertakt
signals Φ 2L auf den Wert V REF denselben Spannungswert er
halten. Ein derartiger Abschaltvorgang kann dabei durch
Verriegelung des Spannungswertes des Steuertaktsignales
Φ 2L auf den Wert V REF mit höherer Geschwindigkeit erreicht
werden als wenn derselbe auf den niedrigen Spannungswert
reduziert wird.
Wenn beispielsweise die einen niedrigen Spannungswert
speichernde Speicherzelle MC 1R adressiert wird, erfolgt
der Betriebsablauf in der folgenden Weise: Gemäß Fig. 3
bedeuten die Symbole V 3R und V 3L die Potentialwerte auf
den Bitleitungen 3 R und 3 L , während das Symbol V 9 den Po
tentialwert an dem Abtastpunkt 9 angibt. Zum Zeitpunkt
T 1 erreichen die Vorladungstaktsignale Φ 1R und Φ 1L ihre nied
rigen Spannungswerte, während die Potentialwerte V 3R und
V 3L auf dem Potentialwert V REF verbleiben. Zum Zeitpunkt
T 2 wird das Steuertaktsignal Φ 2L auf dem Spannungswert
V REF verriegelt, so daß die Transfertransistoren 7 L und 8 L
wie beschrieben abgeschaltet werden und die Bitleitung 3 L
elektrisch von dem Abtastpunkt 9 abgetrennt wird. Auf der
anderen Seite behält das Steuertaktsignal Φ 2R seinen hohen
Spannungswert, so daß die Bitleitung 3 R mit dem Abtastpunkt
9 verbunden bleibt. Zum Zeitpunkt T 3 wird das auf der Wort
leitung WL 1R befindliche Potential erhöht und die inner
halb der Speicherzelle MC 1R befindliche Information auf
der Bitleitung 3 R ausgelesen. Zu diesem Zeitpunkt wird das
auf der Bitleitung 3 R befindliche Potential V 3R geringfügig
reduziert, wobei die Größe des Potentials durch das
Kapazitätsverhältnis der Speicherzelle MC 1R gegenüber der
Bitleitung 3 R bestimmt ist. Das auf dem Abtastpunkt 9 be
findliche Potential wird in Abhängigkeit dieser Tatsache
geringfügig reduziert, wobei jedoch der Transfertransistor
7 L nicht angeschaltet wird, da der verringerte Potential
wert im allgemeinen kleiner als die Schwellwertspannung
V TH der Transistoren ist. Zum Zeitpunkt T 5 erreicht das
Taktsignal Φ 3 seinen niedrigeren Spannungswert, wodurch
der Abtastverstärker aktiviert und der auf dem Abtastpunkt
9 vorhandene Potentialwert anfängt, sich zu verringern.
Zu diesem Zeitpunkt wird das Steuertaktsignal Φ 2R auf den
Wert V REF reduziert und die Bitleitung 3 R kurzzeitig von
dem Abtastpunkt 9 abgetrennt, so daß auf diese Weise die
kapazitive Belastung reduziert und die Verstärkungsempfind
lichkeit verbessert wird. Nach einem Zeitintervall Δ T
nach dem Zeitpunkt T 5 reduziert sich der Potentialwert V 9
auf den Wert V REF -V TH , so daß die Transfertransistoren
7 L und 7 R anfangen, in ihren eingeschalteten Zustand zu
gelangen, während die Bitleitungen 3 L und 3 R automatisch
mit dem Abtastpunkt 9 wieder verbunden werden. In der Fol
ge erreichen die Steuertaktsignale Φ 2R und Φ 2L ihre hohen
Spannungswerte, welche zum Zeitpunkt T 6 höher sind als
der Spannungswert V REF , wodurch die Leitfähigkeit der Trans
fertransistoren 7 R und 7 L erhöht wird. Die aus der Spei
cherzelle ausgelesene Information wird demzufolge in zu
friedenstellender Weise während des Auslesevorganges den
Lese-/Schreibleitungen zugeführt.
Die auf der nicht gewählten Seite befindlichen Bitleitun
gen werden, wie bereits beschrieben, durch Festklemmen
der Gatterspannung der Transfertransistoren auf der nicht
gewählten Seite mit Hilfe einer Bitleitung-Vorladungsspan
nung abgetrennt, bevor ein Anstieg der Potentialwerte auf
den Wortleitungen bei der Adressierung der Speicherzelle
während des beschriebenen Vorganges auftritt, so daß auf
diese Weise ein Abschaltvorgang mit höherer Geschwindig
keit erreicht werden kann als in jenem Fall, in welchem
die Gatter-Spannungswerte der Transfertransistoren voll
kommen auf den niedrigeren Spannungswert reduziert werden.
Die Gatterspannungswerte der Transfertransistoren werden
dabei mit Hilfe der Bitleitung-Vorladungsspannung derart
verriegelt, daß die Transfertransistoren automatisch durch
die Verstärkerfunktion des Abtastverstärkers abgeschaltet
werden, während die auf der nicht gewählten Seite befind
lichen Bitleitungen automatisch mit dem Abtastverstärker
erneut verbunden werden, so daß auf diese Weise die zur
erneuten Verbindung der Bitleitungen mit der nicht gewähl
ten Seite erforderlichen Zeitintervalle sehr kurz gemacht
werden können. Der innerhalb der Speicherzelle befindliche
Speicherinhalt kann unmittelbar nach der Verstärkung durch
den Abtastverstärker nach außen abgegeben werden, so daß
auf diese Weise ein Auslesevorgang mit hoher Geschwindig
keit durchführbar ist. Die an den Transfertransistoren
anliegenden Gatter-Spannungswerte sind fernerhin höher als
die Summe der Bitleitung-Vorladungsspannung und der Schwell
wertspannungswerte der Transfertransistoren beim Auslesen
des Inhalts der Speicherzelle, so daß auf diese Weise ein
ausreichender Auslesespannungswert bei der beschriebenen
Ausführungsform erreicht wird. Der Anstieg der Gatterspan
nung kann in diesem Fall innerhalb eines kürzeren Zeit
raumes durchgeführt werden als dies in dem Falle möglich
ist, wenn die Gatter-Spannungswerte der Transfertransisto
ren vollkommen auf die niedrigeren Spannungswerte reduziert
werden, worauf dann in der Folge eine erneute Anhebung auf
die höheren Spannungswerte vorgenommen werden muß. Diese
Maßnahme stellt ebenfalls einen Faktor dar, welcher zur
Erzielung eines Auslesevorganges mit hoher Geschwindigkeit
beiträgt.
Im folgenden soll nunmehr eine Ausführungsform eines Trei
berkreises zur Erzielung des in Fig. 3 beschriebenen Ab
laufes beschrieben werden. Im Rahmen der folgenden Be
schreibung wird angenommen, daß die Bitleitung-Vorladungs
spannung V REF gleich der Speisespannung V CC gemacht ist.
Fig. 4 zeigt ein Schaltdiagramm zur Erzeugung des Steuer
taktsignales Φ 2L von Fig. 3. Der in Fig. 4 dargestellte
Schaltkreis umfaßt Transistoren Q 1 bis Q 8 sowie Kondensa
toren C 1 bis C 5. Der Abflußelektrode des Transistors Q 1
wird die Speisespannung V CC zugeführt, während der Steuer-
Elektrode das Vorladungstaktsignal Φ 1L zugeführt wird.
Die Quellen-Elektrode ist hingegen mit einem Klemmenpunkt
N 2 verbunden. Der Abflußelektrode des Transistors Q 2
wird das invertierte Vorladungstaktsignal 1L zugeführt,
welches das invertierte Signal des Vorladungstaktsignales
Φ 1L ist. Der Steuer-Elektrode wird hingegen die Speise
spannung V CC zugeführt, während die Quellen-Elektrode mit
dem Klemmenpunkt N 1 verbunden ist. Der Abflußelektrode
des Transistors Q 3 wird die Speisespannung V CC zugeführt,
während die Steuer-Elektrode mit dem Klemmenpunkt N 1 und
die Quellen-Elektrode mit dem Klemmenpunkt N 2 verbunden
sind. Der Abflußelektrode des Transistors Q 4 wird die Spei
sespannung V CC zugeführt, während die Steuerelektrode mit
dem Klemmenpunkt N 2 und die Quellen-Elektrode mit der Aus
gangsklemme 13 verbunden sind, wobei letztere der Abgabe
des Steuertaktsignales Φ 2L dient. Der Abflußelektrode des
Transistors Q 5 wird die Speisespannung V CC zugeführt,
während die Steuerelektrode mit einem Klemmenpunkt N 3 und
die Quellen-Elektrode mit der Ausgangsklemme 13 verbunden
sind. Der Abflußelektrode des Transistors Q 6 wird die
Speisespannung V CC zugeführt, während die Steuerelektrode
mit einem Klemmenpunkt N 4 und die Quellen-Elektrode mit
dem Klemmenpunkt N 3 verbunden sind. Der Abflußelektrode
des Transistors Q 7 wird das invertierte Vorladungs-Takt
signal 1L zugeführt, während der Steuerelektrode die Spei
sespannung V CC zugeführt ist. Die Quellen-Elektrode ist
hingegen mit dem Klemmenpunkt N 4 verbunden. Der Abflußelek
trode des Transistors Q 8 wird die Speisespannung V CC zuge
führt, während der Steuerelektrode das Vorladungstaktsi
gnal Φ 1L zugeführt ist. Die Quellen-Elektrode ist hingegen
mit dem Klemmenpunkt N 3 verbunden. Der eine Anschluß des
Kondensators C 1 ist mit dem Klemmenpunkt N 1 verbunden, wäh
rend dem anderen Anschluß das invertierte Verzögerungstakt
signal 3′ zugeführt wird, das ein invertiertes verzöger
tes Signal des Taktsignales Φ 3 ist. Der eine Anschluß des
Kondensators C 2 ist mit dem Klemmenpunkt N 2 verbunden,
während dem anderen Anschluß das im folgenden noch zu be
schreibende Verriegelungstaktsignal Φ 5L zugeführt wird.
Der eine Anschluß des Kondensators C 3 ist mit der Ausgangs
klemme 13 verbunden, während dem anderen Anschluß das eben
falls noch zu beschreibende Taktsignal Φ 6L zugeführt wird.
Der eine Anschluß des Kondensators C 4 ist mit dem Klemmen
punkt N 3 verbunden, während dem anderen Anschluß das in
vertierte Taktsignal 3 zugeführt wird, welches das inver
tierte Signal des Taktsignales Φ 3 ist. Der eine Anschluß
des Kondensators C 5 ist mit dem Klemmenpunkt N 4 verbunden,
während dem anderen Anschluß das invertierte verzögerte
Taktsignal 3′ zugeführt wird.
Der zur Erzeugung des Steuertaktsignales Φ 2R erforderliche
Schaltkreis ist ähnlich wie der zur Erzeugung des Steuer
taktsignales Φ 2L erforderliche Schaltkreis ausgebildet,
mit der Ausnahme, daß anstelle der Vorladungstaktsignale
Φ 1L und des invertierten Vorladungstaktsignales 1L ein
Vorladungstaktsignal Φ 1R und ein invertiertes Vorladungs
taktsignal 1R zugeführt werden, während auf der anderen
Seite anstelle des Verriegelungstaktsignales Φ 5L ein Ver
riegelungstaktsignal Φ 5R und anstelle eines Taktsignales
Φ 6L ein Taktsignal Φ 6R zugeführt werden.
Fig. 5 zeigt ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise des Schaltkreises von Fig. 4. Die Beschreibung er
folgt dabei für jenen Fall, in welchem die auf der rech
ten Seite von Fig. 4 befindliche Speicherzelle mit Hilfe
des in Fig. 1 dargestellten Abtastverstärkers adressiert
wird.
Im Wartezustand zum Zeitpunkt T 1 weisen das Vorladungstakt
signal Φ 1L und das Taktsignal Φ 3 hohe Spannungswerte auf,
während die Ausgangsklemme 13 und demzufolge das Steuer
taktsignal Φ 2L eine Vorladung auf höhere Werte als die
Speisespannung V CC erhalten, was durch die im folgenden
noch zu beschreibende kapazitive Kopplung des Kondensa
tors C 3 erreicht wird. Zu diesem Zeitpunkt werden die Klem
menpunkte N 2 und N 3 auf die Speisespannung V CC vorgela
den, indem die Transistoren Q 1 und Q 8 angeschaltet werden.
Die Transistoren Q 4 und Q 5 bleiben jedoch gesperrt, weil
die an den Quellen-Elektroden anliegenden Potentialwerte
höher sind als die an den Steuerelektroden. Das invertier
te Vorladungstaktsignal 1L befindet sich fernerhin auf
einem niedrigen Spannungswert, so daß die Klemmenpunkte
N 1 und N 4 über die entsprechenden Transistoren Q 2 und Q 7
ebenfalls niedrige Spannungswerte aufweisen. Beide Tran
sistoren Q 3 und Q 6 befinden sich demzufolge im abgeschalte
ten Zustand.
Zum Zeitpunkt T 1 erhält das Vorladungstaktsignal Φ 1L einen
niedrigen Spannungswert, während das invertierte Vorladungs
taktsignal 1L einen hohen Spannungswert erreicht. Die
Klemmenpunkte N 1 und N 4 erhalten somit über die Transisto
ren Q 2 und Q 7 hohe Spannungswerte. Zum Zeitpunkt T 2 erhält
das Verriegelungstaktsignal Φ 5L einen hohen Spannungswert,
wobei der Klemmenpunkt N 2 aufgrund der kapazitiven Kopp
lung mit dem Kondensator C 2 auf einen Wert angehoben wird,
welcher ausreichend höher als die Speisespannung V CC ist.
Der Transistor Q 4 wird demzufolge sehr rasch angeschaltet
und das Steuertaktsignal Φ 2L mit hoher Geschwindigkeit
von dem hohen Spannungswert oberhalb der Speisespannung
V CC auf den Wert der Speisespannung V CC festgeklemmt. Zum
selben Zeitpunkt erhält das Taktsignal Φ 6L einen niedri
gen Spannungswert, wodurch der Wert des Steuertaktsignales
Φ 2L auf einen niedrigen Wert heruntergezogen wird, bei
welchem eine Verriegelung auf dem Wert der Speisespannung
V CC erfolgt, wobei dieser Vorgang mit hoher Geschwindigkeit
aufgrund der kapazitiven Kopplung mit dem Kondensator C 3
bewirkt wird. Zum Zeitpunkt T 5 gelangt das Taktsignal Φ 3
auf einen niedrigen Spannungswert, während das invertierte
Taktsignal 3 seinen hohen Spannungswert erhält. Der Klem
menpunkt N 3 wird demzufolge auf einen Potentialwert ange
hoben, welcher erheblich höher als die Speisespannung V CC
ist, wobei dieser Anstieg aufgrund der kapazitiven Kopplung
mit dem Kondensator C 4 zustande kommt. Der Transistor Q 5
wird demzufolge sehr rasch eingeschaltet, wobei jedoch kei
ne Ladung auftritt, da das Steuertaktsignal Φ 2L bereits
auf dem Wert der Speisespannung V CC festgeklemmt ist. Zum
Zeitpunkt T 5′ wird das invertierte verzögerte Taktsignal
3′ auf einen hohen Spannungswert gebracht, so daß auf
diese Weise die Spannungspunkte N 1 und N 4 Spannungswerte
erhalten, welche ausreichend höher als die Speisespannung
V CC ist, wobei dieser Vorgang durch die kapazitive Kopp
lung mit den Kondensatoren C 1 und C 5 bewirkt wird. Die
Transistoren Q 3 und Q 6 werden demzufolge sehr rasch ange
schaltet, während die Klemmenpunkte N 2 und N 3 auf dem Wert
der Speisespannung V CC verriegelt werden, so daß auf diese
Weise die Transistoren Q 4 und Q 5 abgeschaltet werden.
Zum Zeitpunkt T 6 erhält das Taktsignal Φ 6L erneut seinen
hohen Spannungswert, wodurch erreicht wird, daß das Steuer
taktsignal Φ 2L einen hohen Spannungswert erreicht, welcher
oberhalb der Speisespannung V CC liegt, wobei dieser Vor
gang mit Hilfe der kapazitiven Kopplung des Kondensators
C 3 bewirkt wird.
Bei dem der Erzeugung des Steuertaktsignales Φ 2R dienenden
Schaltkreis verbleibt das Verriegelungstaktsignal Φ 5R hin
gegen auf einem niedrigeren Spannungswert, während das
Taktsignal Φ 6R zum Zeitpunkt T 2 einen hohen Signalwert ein
nimmt. Der Klemmenpunkt N 2 verbleibt demzufolge auf dem
Wert der Speisespannung V CC , während das Steuertaktsignal
Φ 2R auf einem hohen Signalwert verbleibt, welcher oberhalb
der Speisespannung V CC liegt. Zum Zeitpunkt T 5 erhält das
invertierte Taktsignal 3 einen hohen Signalwert, während
das Taktsignal Φ 6R einen niedrigen Spannungswert erreicht.
Der Transistor Q 5 wird demzufolge sehr rasch mit Hilfe des
Kondensators C 4 eingeschaltet, so daß auf diese Weise das
Steuertaktsignal Φ 2R auf dem Wert der Speisespannung V CC
festgeklemmt wird. Dieses Festklemmen erfolgt dabei auf
grund des Vorhandenseins des Kondensators C 3 mit erhöhter
Geschwindigkeit. Der Ablauf ist dabei im wesentlichen iden
tisch mit dem bei dem Schaltkreis zur Erzeugung des Takt
signales Φ 2L .
Im Fall, in welchem die auf der linken Seite befindliche
Speicherzelle des Abtastverstärkers von Fig. 1 adressiert
wird, wird der Funktionsablauf des Schaltkreises zur Er
zeugung des Taktsignales Φ 2L durch den Ablauf des Schalt
kreises zur Erzeugung des Taktsignales Φ 2R ersetzt.
Mit Hilfe des in Fig. 4 gezeigten Schaltkreises werden,
wie erwähnt, die Steuertaktsignale Φ 2L und Φ 2R erzeugt,
welche den in Fig. 1 dargestellten gemeinsamen Abtastver
stärker mit hoher Geschwindigkeit ansteuern.
Im folgenden soll nunmehr ein Ausführungsbeispiel eines
Schaltkreises zur Erzeugung des Verriegelungstaktsignales
Φ 5L bzw. Φ 5R beschrieben werden, welches dem Schaltkreis
von Fig. 4 zugeführt wird. Dieser Verriegelungstaktgenera
torkreis besteht aus zwei Teilen eines zur Erzeugung eines
Φ 5-Signales dienenden Generatorkreises, wodurch ein Ver
riegelungstaktsignal Φ 5 mit hoher Ansprechgeschwindigkeit
zur Adressierung der Speicherzellen mit Hilfe eines Adres
siersignales erzeugt wird und wobei ein Entkodierkreis
vorgesehen ist, mit welchem eine Entkodierung des Verrie
gelungstaktsignales Φ 5 durchgeführt wird, um auf diese
Weise die beiden Arten von Verriegelungstaktsignalen Φ 5L
und Φ 5R zu erzeugen.
Der in Fig. 6 dargestellte Schaltkreis dient zur Erzeugung
des erwähnten Verriegelungstaktsignales Φ 5. Gemäß Fig. 6
umfaßt der betreffende Generatorkreis Transistoren M 1 bis
M 11 sowie einen Kondensator C 6 (Boosterkondensator). Der Abflußelektrode des
Transistors M 1 wird die Speisespannung V CC zugeführt,
während die Steuerelektrode das Vorladungstaktsignal Φ 1
erhält und die Quellen-Elektrode mit dem Klemmenpunkt N 5
verbunden ist. Die Abflußelektrode des Transistors M 2 ist
mit dem Klemmenpunkt N 5 verbunden, während der Steuerelek
trode ein erstes Adressiertaktsignal Φ A zugeführt ist und
die Quellen-Elektrode geerdet ist. Die Abflußelektrode
des Transistors M 3 ist hingegen mit dem Klemmenpunkt N 5
verbunden, während der Steuerelektrode ein zweites Adres
siertaktsignal A zugeführt ist und die Quellen-Elektrode
geerdet ist. Der Abflußelektrode des Transistors M 4 wird
ein invertiertes Vorladungstaktsignal 1 zugeführt, welches
dem invertierten Signal des Vorladungstaktsignales Φ 1 ent
spricht. Die Steuerelektrode ist dagegen mit dem Klemmen
punkt N 5 verbunden, während die Quellen-Elektrode mit dem
Klemmenpunkt N 6 verbunden ist. Die Abflußelektrode des
Transistors M 5 ist mit dem Klemmenpunkt N 6 verbunden, wäh
rend der Steuerelektrode das invertierte verzögerte Takt
signal 3′ zugeführt wird und die Quellen-Elektrode geer
det ist. Der Abflußelektrode des Transistors M 6 wird die
Speisespannung V CC zugeführt, während die Steuerelektrode
mit dem Klemmenpunkt N 6 und die Quellen-Elektrode mit dem
Klemmenpunkt N 7 verbunden sind. Die Abflußelektrode des
Transistors M 7 ist mit dem Klemmenpunkt N 7 verbunden, wäh
rend der Steuerelektrode das invertierte verzögerte Takt
signal 3′ zugeführt wird und die Quellen-Elektrode geer
det ist. Die Abflußelektrode des Transistors M 8 ist mit
dem Klemmenpunkt N 7 verbunden, während die Steuerelektrode
mit dem Klemmenpunkt N 5 verbunden ist und die Quellen-
Elektrode geerdet ist. Der Abflußelektrode des Transistors
M 9 wird die Speisespannung V CC zugeführt, während die
Steuerelektrode mit dem Klemmenpunkt N 7 und die Quellen-
Elektrode mit der Ausgangsklemme 14 verbunden sind, wobei
an letzterer das Verriegelungstaktsignal Φ 5 abnehmbar ist.
Die Abflußelektrode des Transistors M 10 ist mit der Aus
gangsklemme 14 verbunden, während die Steuerelektrode mit
dem Klemmenpunkt N 5 verbunden ist und die Quellen-Elektrode
geerdet ist. Die Abflußelektrode des Transistors M 11 ist
mit der Ausgangsklemme 14 verbunden, während der Steuer
elektrode das invertierte verzögerte Taktsignal 3′ zuge
führt ist und die Quellen-Elektrode geerdet ist. Der eine
Anschluß des Kondensators C 6 ist mit dem Klemmenpunkt N 6
verbunden, während der andere Anschluß mit dem Klemmenpunkt
N 7 verbunden ist.
Eines der Vorladungstaktsignale Φ 1L und Φ 1R von Fig. 1
kann als Vorladungstaktsignal Φ 1 verwendet werden. Anstel
le des Vorladungstaktsignales Φ 1 kann jedoch ebenfalls ein
Adressiermarkierungssignal eingesetzt werden. Die beiden
Adressiersignale Φ A und A werden durch partiale Bits er
zeugt, welche von dem Adressiersignal zur Adressierung
der Speicherzelle extrahiert werden, wobei das erste Adres
siertaktsignal Φ A die Adressierung der Speicherzelle auf
der rechten Seite des Abtastverstärkers von Fig. 1 angibt,
während das zweite Adressiertaktsignal A die Adressierung
der auf der linken Seite befindlichen Speicherzelle des
Abtastverstärkers von Fig. 1 anzeigt. Das erste Adressier
taktsignal Φ A erhält dabei einen hohen Spannungswert, so
bald die auf der rechten Seite befindliche Adressierzelle
adressiert wird, während das zweite Adressiersignal A
einen hohen Signalwert erhält, sobald eine Adressierung
der auf der linken Seite befindlichen Speicherzelle vor
genommen wird.
Fig. 7 zeigt ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise des Schaltkreises von Fig. 6. Die Funktionsweise die
ses Schaltkreises soll im folgenden anhand der Fig. 7 be
schrieben werden. Im Wartezustand bis zum Zeitpunkt T 1 weist
das Vorladungstaktsignal Φ 1 einen hohen Signalwert auf,
so daß der Klemmenpunkt N 5 über den Transistor M 1 auf einen
hohen Signalwert aufgeladen wird. Die Transistoren M 4, M 8
und M 10 befinden sich dabei in ihren angeschalteten Zu
ständen, während die Klemmenpunkte N 6 und N 7 sowie das
Verriegelungstaktsignal Φ 5 einen niedrigen Spannungswert
aufweisen. Zum Zeitpunkt T 1 erhält das Vorladungstaktsi
gnal Φ 1 einen niedrigen Signalwert, während das invertier
te Vorladungstaktsignal 1 einen hohen Signalwert aufweist.
Demzufolge wird der Transistor M 1 abgeschaltet, während
der Klemmenpunkt N 5 einen hohen Signalwert beibehält, so
daß der Transistor M 5 in seinem angeschalteten Zustand
erhalten wird. Das einen hohen Signalwert aufweisende in
vertierte Vorladungstaktsignal 1 wird demzufolge dem
Klemmenpunkt N 6 zugeführt, welcher demzufolge einen hohen
Signalwert erreicht, so daß der Transistor M 6 angeschaltet
wird. Da der Klemmenpunkt N 5 jedoch einen hohen Signalwert
beibehält, wird der Transistor M 8 in dem angeschalteten
Zustand gehalten, während der Klemmenpunkt N 7 seinen nied
rigen Spannungswert beibehält. Zum Zeitpunkt T 2 wird eines
der beiden Adressiertaktsignale Φ A bzw. A auf einen hohen
Signalwert gebracht, so daß einer der beiden Transistoren
M 2 oder M 3 angeschaltet wird, um auf diese Weise den Klem
menpunkt N 5 auf einen niedrigen Wert zu bringen. Der Tran
sistor M 4 wird demzufolge abgeschaltet, und der Klemmenpunkt
N 6 erhält einen hohen schwimmenden Spannungswert. Auf der
anderen Seite werden die Transistoren M 8 und M 10 abgeschal
tet, wodurch der Spannungswert des Klemmenpunktes N 7 anfängt
anzusteigen. Der Klemmenpunkt N 6 wird demzufolge aufgrund der kapaziti
ven Kopplung des Kondensators C 6 auf einen höheren Span
nungswert angehoben, wodurch der Transistor M 6 sehr rasch
angeschaltet wird, um auf diese Weise die Spannung an dem
Klemmenpunkt N 7 bis auf einen Wert der Speisespannung V CC
mit hoher Geschwindigkeit anzuheben. Der Transistor M 9
wird demzufolge angeschaltet, um auf diese Weise das Ver
riegelungstaktsignal Φ 5 mit hoher Geschwindigkeit auf einen
hohen Spannungswert zu bringen. Zum Zeitpunkt T 5′ wird das
invertierte verzögerte Taktsignal 3′ auf einen hohen Span
nungswert gebracht, wodurch die Transistoren M 5, M 7 und
M 11 angeschaltet werden, so daß auf diese Weise die Klem
menpunkte N 6 und N 7 sowie das Verriegelungstaktsignal Φ 5
einen niedrigen Spannungswert erhalten. Obwohl das inver
tierte verzögerte Taktsignal 3′ bei der beschriebenen Aus
führungsform zur Rückstellung des Schaltkreises verwendet ist,
so kann eine derartige Rückstellung ebenfalls mit Hilfe
anderer Arten von Rückstelltaktsignalen erreicht werden.
In dem in Fig. 6 dargestellten Schaltkreis wird das Ver
riegelungstaktsignal Φ 5 wie beschrieben erzeugt, welches
mit hoher Geschwindigkeit dem ersten oder zweiten Adressier
taktsignal Φ A bzw. A entspricht.
Fig. 8 zeigt eine Ausführungsform des erwähnten Entkodier
kreises, mit welchem insbesondere das Verriegelungstakt
signal Φ 5L erzeugt wird. Der Schaltkreis von Fig. 8 umfaßt
dabei die Transistoren M 12 bis M 18. Der Abflußelektrode
des Transistors M 12 wird die Speisespannung V CC zugeführt,
während der Steuerelektrode das Vorladungstaktsignal Φ 1
zugeführt ist und die Quellen-Elektrode mit dem Klemmen
punkt N 8 verbunden ist. Die Abflußelektrode des Transistors
M 13 ist mit dem Klemmenpunkt N 8 verbunden, während der
Steuer-Elektrode das zweite Adressiertaktsignal A zuge
führt ist und die Quellen-Elektrode geerdet ist. Der Ab
flußelektrode des Transistors M 14 wird das Verriegelungs
taktsignal Φ 5 des in Fig. 6 dargestellten Schaltkreises zu
geführt, während die Steuerelektrode mit dem Klemmenpunkt
N 8 und die Quellen-Elektrode mit einer Ausgangsklemme 15
verbunden sind, wobei an letzterer das Verriegelungstakt
signal Φ 5L ableitbar ist. Die Abflußelektrode des Transi
stors M 15 ist mit der Ausgangsklemme 15 verbunden, während
die Steuerelektrode mit dem Klemmenpunkt N 6 verbunden ist
und die Quellen-Elektrode geerdet ist. Der Abflußelektrode
des Transistors M 16 wird die Speisespannung V CC zugeführt,
während die Steuerelektrode das Vorladungstaktsignal Φ 1
erhält, und die Quellen-Elektrode mit dem Klemmenpunkt N 9
verbunden ist. Die Abflußelektrode des Transistors M 17 ist
mit dem Klemmenpunkt N 9 verbunden, während die Steuerelek
trode zu der Ausgangsklemme 19 führt und die Quellen-Elek
trode geerdet ist. Die Abflußelektrode des Transistors M 18
ist schließlich mit der Ausgangsklemme 15 verbunden, wäh
rend der Steuerelektrode das Verriegelungstaktsignal Φ 5R
zugeführt ist und die Quellen-Elektrode geerdet ist.
Der zur Erzeugung des Verriegelungstaktsignales Φ 5R dienen
de Schaltkreis, welcher ebenfalls innerhalb des Entkodier
kreises vorgesehen ist, ist ähnlich wie der in Verbindung
mit Fig. 8 beschriebene Schaltkreis aufgebaut mit der Aus
nahme, daß anstelle des zweiten Adressiertaktsignales A
das erste Adressiertaktsignal Φ A zugeführt wird, während
gleichzeitig anstelle des Verriegelungstaktsignales Φ 5R
das Verriegelungstaktsignal Φ 5L zugeführt wird.
Fig. 9 zeigt ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funktions
weise des Schaltkreises von Fig. 8. Im folgenden soll die
Funktionsweise dieses Schaltkreises unter Bezugnahme auf
Fig. 9 beschrieben werden, und zwar für den Fall, daß die
auf der rechten Seite des Abtastverstärkers von Fig. 1 vor
handene Speicherzelle adressiert wird.
In dem Wartezustand zum Zeitpunkt T 1 befindet sich das
Vorladungstaktsignal Φ 1 auf einem hohen Signalwert. Die
Transistoren M 12 und M 16 befinden sich somit im angeschal
teten Zustand, während die Klemmenpunkte N 8 und N 9 auf hohe
Signalwerte aufgeladen sind. Die Transistoren M 14 und M 15
werden demzufolge angeschaltet, so daß die Ausgangsklemme
15 und damit das Verriegelungstaktsignal Φ 5L niedrige Span
nungswerte annehmen. Falls die auf der rechten Seite von
Fig. 1 dargestellte Speicherzelle zum Zeitpunkt T 2 adres
siert wird, erhält das erste Adressiertaktsignal Φ A einen
hohen Signalwert, während das zweite Adressiertaktsignal
A einen niedrigen Signalwert beibehält. Der Klemmenpunkt
N 8 wird demzufolge zum Zeitpunkt T 2 auf einem hohen Signal
wert gehalten, so daß der Transistor M 14 seinen leitenden
Zustand beibehält. Der Signalwert des Verriegelungstakt
signales Φ 5 wird demzufolge direkt der Ausgangsklemme 15
zugeführt, so daß das Verriegelungstaktsignal Φ 5L diesel
be Wellenform aufweist wie das Verriegelungstaktsignal
Φ 5. In der Folge wird dann der Transistor M 17 angeschal
tet, so daß der Klemmenpunkt N 9 einen niedrigen Signalwert
erhält. Der Transistor M 15 wird demzufolge in seinen abge
schalteten Zustand gebracht.
Bei einem Schaltkreis zur Erzeugung des Verriegelungstakt
signales Φ 5R nimmt das erste Adressiertaktsignal Φ A zum
Zeitpunkt T 2 einen hohen Signalwert an, so daß auf diese
Weise der Transistor M 13 angeschaltet wird und der Klem
menpunkt N 8 einen niedrigen Signalwert erhält, aufgrund
welcher Tatsache der Transistor M 14 abgeschaltet wird. Der
Signalwert des Verriegelungstaktsignales Φ 5 wird demzufol
ge nicht an die Ausgangsklemme 15 weitergeleitet, während der
Transistor M 17 nicht angeschaltet wird. Der Transistor M 15
verbleibt somit im angeschalteten Zustand, während das Ver
riegelungstaktsignal Φ 5R auf einem niedrigen Signalwert
gehalten wird. Während des Zeitraumes, während welchem
das Verriegelungstaktsignal Φ 5L einen hohen Signalwert
aufweist, ist der Transistor M 18 im angeschalteten Zustand,
wodurch erreicht werden kann, daß das Verriegelungstakt
signal Φ 5R mit Sicherheit auf einem niedrigen Spannungswert
gehalten wird, und zwar wenigstens während der Periode eines
hohen Signalwertes des Verriegelungstaktsignales Φ 5L .
Im Fall, in welchem die auf der linken Seite des Schalt
kreises von Fig. 1 vorhandene Speicherzelle gewählt wird,
wird der Betrieb des Schaltkreises zur Erzeugung des Ver
riegelungstaktsignales Φ 5L durch den Betrieb des Schalt
kreises zur Erzeugung des Verriegelungstaktsignales Φ 5R
ersetzt.
Im folgenden soll nunmehr ein Ausführungsbeispiel eines
Schaltkreises zur Erzeugung des Taktsignales Φ 6L beschrie
ben werden, das dem Schaltkreis von Fig. 4 zugeführt wird.
Fig. 10 zeigt dabei einen derartigen Schaltkreis zur Erzeu
gung des Taktsignales Φ 6L . Der Schaltkreis von Fig. 10 um
faßt dabei die Transistoren M 19 bis M 27. Der Abflußelek
trode des Transistors M 19 wird die Speisespannung V CC zuge
führt, während die Steuerelektrode das Vorladungstaktsi
gnal Φ 1 erhält und die Quellen-Elektrode mit dem Klemmen
punkt N 10 verbunden ist. Die Abflußelektrode des Transistors
M 20 ist mit dem Klemmenpunkt N 10 verbunden, während die
Steuer-Elektrode das invertierte verzögerte Taktsignal 3′
erhält und die Quellen-Elektrode geerdet ist. Der Abfluß
elektrode des Transistors M 21 wird das invertierte Takt
signal O 3 zugeführt, während die Steuerelektrode mit dem
Klemmenpunkt N 10 und die Quellen-Elektrode mit dem Klem
menpunkt N 11 verbunden sind. Die Abflußelektrode des Tran
sistors M 22 ist mit dem Klemmenpunkt N 11 verbunden, während
die Steuerelektrode das invertierte verzögerte Taktsignal
3′ erhält und die Quellen-Elektrode geerdet ist. Die Ab
flußelektrode des Transistors M 23 ist hingegen mit dem
Klemmenpunkt N 11 verbunden, während der Steuerelektrode
das Vorladungstaktsignal Φ 1 zugeführt ist und die Quellen-
Elektrode geerdet ist. Die Abflußelektrode des Transistors
M 24 erhält die Speisespannung von V CC , während der Steuer
elektrode das Vorladungstaktsignal Φ 1 zugeführt ist. Die
Quellen-Elektrode ist hingegen mit einer Ausgangsklemme
16 verbunden, an welcher das Taktsignal Φ 6L abgeleitet
werden kann. Der Abflußelektrode des Transistors M 25 wird
die Speisespannung V CC zugeführt, während der Steuerelek
trode das invertierte verzögerte Taktsignal 3″ zugeführt
wird und die Quellen-Elektrode mit der Ausgangsklemme 16
verbunden ist. Die Abflußelektrode des Transistors M 26
ist mit der Ausgangsklemme 16 verbunden, während die Steuer
elektrode zu dem Klemmenpunkt N 11 führt und die Quellen-
Elektrode geerdet ist. Die Abflußelektrode des Transistors
M 27 ist mit der Ausgangsklemme 16 verbunden, während der
Steuerelektrode das Verriegelungstaktsignal Φ 5L zugeführt
ist und die Quellen-Elektrode geerdet ist.
Das invertierte verzögerte Taktsignal 3″ wird dadurch er
halten, indem das invertierte verzögerte Taktsignal 3′
erneut um ein bestimmtes Zeitintervall verzögert wird.
Der Schaltkreis zur Erzeugung des Taktsignales Φ 6R ist
ähnlich wie der Schaltkreis von Fig. 10 ausgebildet, mit
der Ausnahme, daß das Verriegelungstaktsignal Φ 5R anstelle
des Verriegelungstaktsignales Φ 5L zugeführt wird.
Fig. 11 zeigt ein Zeitdiagramm zur Erläuterung der Funk
tionsweise des Schaltkreises von Fig. 10. Die Funktions
weise des betreffenden Schaltkreises soll im folgenden an
hand der Fig. 11 beschrieben werden.
Im Wartezustand bis zum Zeitpunkt T 1 befindet sich das Vorla
dungstaktsignal Φ 1 auf einem hohen Signalwert, wobei die
Transistoren M 19, M 23 und M 24 sich im angeschalteten Zu
stand befinden. Der Klemmenpunkt N 10 weist somit einen
hohen Spannungswert auf, während der Klemmenpunkt N 11
einen niedrigen Spannungswert besitzt. Die Ausgangsklemme
16 und demzufolge auch das Taktsignal Φ 6L besitzen demzu
folge einen hohen Spannungswert. Zum Zeitpunkt T 1 erhält
das Vorladungstaktsignal Φ 1 einen niedrigen Spannungswert,
so daß auf diese Weise die Transistoren M 19, M 23 und M 24
abgeschaltet werden. Die Klemmenpunkte N 10 und N 11 sowie
die Ausgangsklemme 16 werden demzufolge schwimmend gehal
ten, wobei keine Veränderung der Potentialwerte eintritt.
Zum Zeitpunkt T 2 erhält das Verriegelungstaktsignal Φ 5L
einen hohen Spannungswert, so daß auf diese Weise der Tran
sistor M 27 angeschaltet wird. Die Ausgangsklemme 16 erhält
demzufolge einen niedrigen Spannungswert, so daß das Takt
signal Φ 6L ebenfalls einen niedrigen Spannungswert erhält.
Zum Zeitpunkt T 5 erhält das Taktsignal Φ 3 einen niedrigen
Spannungswert, während das invertierte Taktsignal 3
einen hohen Spannungswert aufweist. Da der Klemmpunkt N 10
einen hohen Spannungswert besitzt, erhält der Klemmpunkt
N 11 über den Transistor M 21 ebenfalls einen hohen Spannungs
wert. Der Transistor M 26 wird demzufolge angeschaltet,
während das Taktsignal Φ 6L keine Veränderung aufweist, da
die Ausgangsklemme 16 bereits einen niedrigen Spannungswert
besitzt. Zum Zeitpunkt T 5′ erhält das invertierte verzöger
te Taktsignal 3′ einen hohen Spannungswert, während das
Verriegelungstaktsignal Φ 5L einen niedrigen Spannungswert
annimmt. Die Transistoren M 20 und M 22 werden demzufolge
angeschaltet, während der Transistor M 27 abgeschaltet wird.
Die Klemmenpunkte N 10 und N 11 erhalten somit niedrige Span
nungswerte, so daß auf diese Weise die Transistoren M 21
und M 26 abgeschaltet werden. Zum Zeitpunkt T 6 wird das in
vertierte verzögerte Taktsignal 3″ auf einen hohen Signal
wert gebracht, so daß der Transistor M 25 angeschaltet wird,
und auf diese Weise die Ausgangsklemme 16 einen hohen
Spannungswert erhält. Das Taktsignal Φ 6L wird demzufolge
ebenfalls auf einen hohen Spannungswert angehoben.
Bei dem Schaltkreis zur Erzeugung des Taktsignales Φ 6R be
hält das Verriegelungstaktsignal Φ 5R zum Zeitpunkt T 2 sei
nen niedrigen Spannungswert, so daß das Taktsignal Φ 6R
auf einem hohen Spannungswert verbleibt. Zum Zeitpunkt T 5
erreicht das invertierte Taktsignal Φ 3 einen hohen Span
nungswert, so daß der Transistor M 26 angeschaltet wird.
Dies wiederum hat zur Folge, daß die Ausgangsklemme 16 und
damit das Taktsignal Φ 6R niedrige Spannungswerte aufwei
sen. Die Funktionsweise in der Folge ist dann im wesentli
chen identisch mit der Funktionsweise des Schaltkreises
von Fig. 10.
Bei dem beschriebenen Schaltkreis von Fig. 10 werden dem
zufolge Taktsignale Φ 6L bzw. Φ 6R erzeugt, welche zum Trei
ben des Schaltkreises von Fig. 4 verwendet werden.
Der Treiberkreis des gemeinsamen Abtastverstärkers gemäß
der Erfindung wird durch die beschriebenen Schaltkreise
der Fig. 4, 6, 8 und 10 gebildet, um auf diese Weise Steuer
signale Φ 2L bzw. Φ 2R zu erzeugen, welche zum Ansteuern
des gemeinsamen Abtastverstärkers mit hoher Geschwindigkeit
verwendet werden können.
Obwohl in der obigen Beschreibung ein gemeinsamer Abtast
verstärker mit gefalteten Bitleitungen beschrieben worden
ist, können jedoch ebenfalls offene Bitleitungen einge
setzt werden. In diesem Fall werden die in Fig. 1 gezeigten
Bitleitungen 3 L und 3 R als ein Paar von offenen Bitleitun
gen ausgebildet, während die Bitleitungen 4 L und 4 R als
ein anderes Paar von offenen Bitleitungen ausgebildet wer
den. Ein entsprechendes Taktsignal, welches dem Steuertakt
signal Φ 2L entspricht, wird in diesem Fall den Steuerelek
troden der Transfertransistoren 7 L und 7 R zugeführt, wäh
rend ein dem Steuertaktsignal Φ 2R entsprechendes Taktsi
gnal den Steuerelektroden der Transfertransistoren 8 L und 8 R
zugeführt wird.
Die Bitleitungen 3 L und 4 R können ebenfalls als ein Paar
von offenen Bitleitungen eingesetzt werden, in welchem Fall
die Bitleitungen 3 R und 4 L das andere Paar von offenen Bit
leitungen bilden. In diesem Fall wird ein dem Steuertakt
signal Φ 2R entsprechendes Taktsignal den Steuerelektroden
der Transfertransistoren 7 L und 8 R zugeführt, während ein
dem Steuertaktsignal Φ 2R entsprechendes Taktsignal den
Steuerelektroden der Transfertransistoren 8 L und 7 R zuge
führt wird.
Claims (4)
1. Treiberkreis für einen zwischen zwei Paaren von Bitleitungen
(3 R , 4 R und 3 L , 4 L ) angeordneten Abtastverstärker (1, 2),
welcher die von entsprechenden Speicherzellen (MC 1R , MC NR und
MC 1L , MC NL ) ausgelesene Information verstärkt und der von
beiden Paaren von Bitleitungen (3 R , 4 R und 3 L , 4 L ) gemeinsam
verwendet wird,
mit einer ersten Transfertransistorgruppe (7 R , 8 R ; 7 L , 8 L ), welche zwischen einem der Paare von Bitleitungen (3 R , 4 R bzw. 3 L , 4 L ) und dem Abtastverstärker angeordnet ist;
einer zweiten Transfertransistorgruppe (7 L , 8 L ; 7 R , 8 R ), welche zwischen dem anderen Paar von Bitleitungen (3 L , 4 L bzw. 3 R , 4 R ) und dem Abtastverstärker (1, 2) angeordnet ist;
einem Verriegelungstaktgeneratorkreis zum Erzeugen eines Ver riegelungstaktsignales (Φ 5) mit hoher Geschwindigkeit in Ab hängigkeit der Adressierung der Speicherzellen;
einem Dekoder zum Dekodieren des Verriegelungstaktsignales (Φ 5) und Erzeugen eines Teilverriegelungstaktsignales (Φ 5R , Φ 5L ) in Abhängigkeit von der Adressierung der Speicherzellen und des Verriegelungstaktsignales (Φ 5);
einem Ein-/Aus-Steuerkreis zum Erzeugen eines Steuertaktsigna les (Φ 2L , Φ 2R ) mit Hilfe des Teilverriegelungstaktsignales (Φ 5R , Φ 5L ) des Dekoders und einer Vorladungsspannung (V REF , V CC , V R ), zum Steuern der Ein- und Aus-Zustände der beiden Transfertransistorgruppen (7 R , 8 R ; 7 L , 8 L ), welcher einen Schaltkreis aufweist zum Einstellen der Gatterspannungspegel der Transfertransistorgruppen in einem Wartezustand vor der Adressierung der Speicherzellen auf einen höheren Wert, als den der Summe des Vorladungsspannungspegels der entsprechenden Bitleitungen und des Schwellwertspannungspegels der entspre chenden Transfertransistorgruppen, so daß die entsprechenden Transfertransistorgruppen eingeschaltet sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Gatterspannung der Transfer transistorgruppe, welche zwischen den Bitleitungen, die nicht mit einer adressierten Speicherzelle verbunden sind, und dem Abtastverstärker (1, 2) angebracht ist, auf der Vorladungs spannung der Bitleitungen während der Adressierung der Spei cherzellen verriegelt ist, so daß diese Transfertransistorgrup pe abgeschaltet ist.
mit einer ersten Transfertransistorgruppe (7 R , 8 R ; 7 L , 8 L ), welche zwischen einem der Paare von Bitleitungen (3 R , 4 R bzw. 3 L , 4 L ) und dem Abtastverstärker angeordnet ist;
einer zweiten Transfertransistorgruppe (7 L , 8 L ; 7 R , 8 R ), welche zwischen dem anderen Paar von Bitleitungen (3 L , 4 L bzw. 3 R , 4 R ) und dem Abtastverstärker (1, 2) angeordnet ist;
einem Verriegelungstaktgeneratorkreis zum Erzeugen eines Ver riegelungstaktsignales (Φ 5) mit hoher Geschwindigkeit in Ab hängigkeit der Adressierung der Speicherzellen;
einem Dekoder zum Dekodieren des Verriegelungstaktsignales (Φ 5) und Erzeugen eines Teilverriegelungstaktsignales (Φ 5R , Φ 5L ) in Abhängigkeit von der Adressierung der Speicherzellen und des Verriegelungstaktsignales (Φ 5);
einem Ein-/Aus-Steuerkreis zum Erzeugen eines Steuertaktsigna les (Φ 2L , Φ 2R ) mit Hilfe des Teilverriegelungstaktsignales (Φ 5R , Φ 5L ) des Dekoders und einer Vorladungsspannung (V REF , V CC , V R ), zum Steuern der Ein- und Aus-Zustände der beiden Transfertransistorgruppen (7 R , 8 R ; 7 L , 8 L ), welcher einen Schaltkreis aufweist zum Einstellen der Gatterspannungspegel der Transfertransistorgruppen in einem Wartezustand vor der Adressierung der Speicherzellen auf einen höheren Wert, als den der Summe des Vorladungsspannungspegels der entsprechenden Bitleitungen und des Schwellwertspannungspegels der entspre chenden Transfertransistorgruppen, so daß die entsprechenden Transfertransistorgruppen eingeschaltet sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Gatterspannung der Transfer transistorgruppe, welche zwischen den Bitleitungen, die nicht mit einer adressierten Speicherzelle verbunden sind, und dem Abtastverstärker (1, 2) angebracht ist, auf der Vorladungs spannung der Bitleitungen während der Adressierung der Spei cherzellen verriegelt ist, so daß diese Transfertransistorgrup pe abgeschaltet ist.
2. Treiberkreis nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Paare von Bitleitungen
in Form von gefalteten Bitleitungen (3 R , 4 R und 3 L , 4 L ) ausge
bildet sind.
3. Treiberkreis nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Paare von Bitleitungen
als offene Bitleitungen ausgebildet sind.
4. Treiberkreis nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß der Verriegelungstaktgeneratorkreis
eine erste Potentialquelle (V CC ),
eine zweite Potentialquelle (Erde), welche einen von der ersten Potentialquelle unterschiedlichen Potentialwert aufweist,
einen ersten Transistor (M 6), welcher mit einem Anschluß mit der ersten Potentialquelle verbunden ist,
einen zweiten Transistor (M 8), welcher zwischen der anderen An schlußklemme des ersten Transistors (M 6) und der zweiten Poten tialquelle zwischengeschaltet ist,
einen ersten Schaltkreis (M 1-M 4), welcher in Abhängigkeit einer Adressierung von der Speicherzelle den ersten Transistor (M 6) leitfähig und den zweiten Transistor (M 8) nichtleitend macht,
einen Boosterkondensator (C 6), welcher zwischen der anderen An schlußklemme des ersten Transistors (M 6) und dem Steueranschluß des ersten Transistors (M 6) angeschlossen ist und auf diese Weise eine Leitbarmachung des ersten Transistors (M 6) mit hoher Geschwindigkeit ermöglicht und
einen zweiten Schaltkreis (M 9), welcher auf der Basis einer Potentialveränderung des anderen Anschlusses des ersten Tran sistors (M 6) das Verriegelungstaktsignal (Φ 5) erzeugt, aufweist.
eine zweite Potentialquelle (Erde), welche einen von der ersten Potentialquelle unterschiedlichen Potentialwert aufweist,
einen ersten Transistor (M 6), welcher mit einem Anschluß mit der ersten Potentialquelle verbunden ist,
einen zweiten Transistor (M 8), welcher zwischen der anderen An schlußklemme des ersten Transistors (M 6) und der zweiten Poten tialquelle zwischengeschaltet ist,
einen ersten Schaltkreis (M 1-M 4), welcher in Abhängigkeit einer Adressierung von der Speicherzelle den ersten Transistor (M 6) leitfähig und den zweiten Transistor (M 8) nichtleitend macht,
einen Boosterkondensator (C 6), welcher zwischen der anderen An schlußklemme des ersten Transistors (M 6) und dem Steueranschluß des ersten Transistors (M 6) angeschlossen ist und auf diese Weise eine Leitbarmachung des ersten Transistors (M 6) mit hoher Geschwindigkeit ermöglicht und
einen zweiten Schaltkreis (M 9), welcher auf der Basis einer Potentialveränderung des anderen Anschlusses des ersten Tran sistors (M 6) das Verriegelungstaktsignal (Φ 5) erzeugt, aufweist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59172005A JPS6150284A (ja) | 1984-08-17 | 1984-08-17 | シエアドセンスアンプ回路の駆動方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3529476A1 DE3529476A1 (de) | 1986-02-27 |
DE3529476C2 true DE3529476C2 (de) | 1990-06-13 |
Family
ID=15933751
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853529476 Granted DE3529476A1 (de) | 1984-08-17 | 1985-08-16 | Treiberkreis fuer einen gemeinsamen signalabtastverstaerker |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4710901A (de) |
JP (1) | JPS6150284A (de) |
KR (1) | KR900008613B1 (de) |
DE (1) | DE3529476A1 (de) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6280897A (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-14 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体記憶装置 |
US5058073A (en) * | 1988-03-10 | 1991-10-15 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | CMOS RAM having a complementary channel sense amplifier |
US5148399A (en) * | 1988-06-28 | 1992-09-15 | Oki Electric Industry Co., Ltd. | Sense amplifier circuitry selectively separable from bit lines for dynamic random access memory |
US4969125A (en) * | 1989-06-23 | 1990-11-06 | International Business Machines Corporation | Asynchronous segmented precharge architecture |
US5270591A (en) * | 1992-02-28 | 1993-12-14 | Xerox Corporation | Content addressable memory architecture and circuits |
US5721875A (en) * | 1993-11-12 | 1998-02-24 | Intel Corporation | I/O transceiver having a pulsed latch receiver circuit |
JPH08171796A (ja) * | 1994-12-16 | 1996-07-02 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US4053873A (en) * | 1976-06-30 | 1977-10-11 | International Business Machines Corporation | Self-isolating cross-coupled sense amplifier latch circuit |
JPS5457921A (en) * | 1977-10-18 | 1979-05-10 | Fujitsu Ltd | Sense amplifier circuit |
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JPS6045499B2 (ja) * | 1980-04-15 | 1985-10-09 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US4363111A (en) * | 1980-10-06 | 1982-12-07 | Heightley John D | Dummy cell arrangement for an MOS memory |
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JPS5873095A (ja) * | 1981-10-23 | 1983-05-02 | Toshiba Corp | ダイナミツク型メモリ装置 |
JPS5995728A (ja) * | 1982-11-24 | 1984-06-01 | Sanyo Electric Co Ltd | Most出力回路 |
-
1984
- 1984-08-17 JP JP59172005A patent/JPS6150284A/ja active Pending
-
1985
- 1985-05-14 KR KR1019850003292A patent/KR900008613B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1985-08-16 DE DE19853529476 patent/DE3529476A1/de active Granted
- 1985-08-19 US US06/767,193 patent/US4710901A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR860002098A (ko) | 1986-03-26 |
KR900008613B1 (ko) | 1990-11-26 |
US4710901A (en) | 1987-12-01 |
JPS6150284A (ja) | 1986-03-12 |
DE3529476A1 (de) | 1986-02-27 |
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8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
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