DE3307756A1 - Halbleiterspeicher - Google Patents
HalbleiterspeicherInfo
- Publication number
- DE3307756A1 DE3307756A1 DE19833307756 DE3307756A DE3307756A1 DE 3307756 A1 DE3307756 A1 DE 3307756A1 DE 19833307756 DE19833307756 DE 19833307756 DE 3307756 A DE3307756 A DE 3307756A DE 3307756 A1 DE3307756 A1 DE 3307756A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transistor
- main electrode
- clock signal
- gate
- pull
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
- G11C11/4085—Word line control circuits, e.g. word line drivers, - boosters, - pull-up, - pull-down, - precharge
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Read Only Memory (AREA)
Description
ft O Λ β · β C
O ι» D
O ι» D
Halbleiterspeicher
BESCHREIBUNG
Die Erfindung betrifft einen Halbleiterspeicher und insbesondere
einen Schaltkreis, zum Herunterziehen des Potentials, im folgenden Pull-Down-Schaltkreis genannt, der mit
einer Wortleitung in einem RAM-Speicher verbunden ist und einen Feldeffekttransistor (im folgenden vereinfacht Transistor
genannt) benutzt.
Fig. 1 zeigt einen Teil eines RAM-Speichers mit einem konventionellen
Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreis, bei dem
zwei Bits von Speicherzellen mit jeweils einem Transistor und einem Kondensator pro Bit, zwei Dekoder zum Wählen dieser
Speicherzellen, einem Leseverstärker zum Verstärken von Speicherzellendaten und zwei Pull-Down-Schaltkreisen für
zwei Wortleitungen gezeigt werden.
In Fig. 1 weist eine Speicherzelle 1 für ein Bit einen Speicherkondensator 2 zum Speichern von Daten einer logischen
"1" oder "0" (in dieser Beschreibung bedeuten "1" oder "0" logische Werte), wobei eine Seite des Kondensators 2
mit Masse verbunden ist, und einen Schalttransistor 3, bei dem die erste Hauptelektrode mit der anderen Seite des
Speicherkondensators 2 verbunden ist und der liest, schreibt oder die Daten in dem Speicherkondensator 2 aufrechterhält,
auf. Die Speicherzelle 1 weist weiter eine dem Transistor 3 zugeordnete parasitäre Kapazität 4 auf. Eine Bit-Leitung
:. . : :ψ V:":. "; 3 3 U 7 7 b
5, die mit einer zweiten Hauptelektrode des Schalttransistors 3 verbunden ist, überträgt die Daten in der Speicherzelle
1. Ein Leseverstärker 6 zum Verstärken der Speicherzellendaten, die in die Bit-Leitung .5 ausgelesen werden,
wird ebenfalls gezeigt. Ein Signal (JL zum Steuern des
Leseverstärkers 6 liegt am Anschluß 7 an. Eine Wortleitung 8 ist mit dem Gate des Schalttransistors 3 verbunden, so
daß ein Signal zur Kontrolle des ein- und abgeschalteten Zustandes des Schalttransistors 3 an der Wortleitung 8 anliegt.
Die parasitäre Kapazität 9 ist zur Wortleitung 8 zugehörig. Ein Dekoderschaltkreis 10 zum Dekodieren von Adressensignalen
Al, Al, A2, A2, ... An, An, der zum Wählen der
Speicherzelle 1 angewendet wird, weist Anschlüsse 11, ...
11, an die Adressensignale gelegt werden, Transistoren 12, ... 12, von denen jeder mit dem zugehörigen Anschluß 11
zum vom Adressensignal abhängigen Schalten verbunden ist, wobei die Transistoren 12, ... 12 jeweils parallel zueinander
geschaltet sind, und einen Ladetransistor 14, dessen eine Hauptelektrode mit einer Seite jedes Transistors 12 verbunden
ist zum Aufladen eines Ausgangsknotenpunktes 13 des Dekoderschaltkreises 10, der eine Verbindung zwischen einer
Hauptelektrode des Transistors 14 und einer Seite des Transistors 12 ist, auf. Die Gate-Elektrode des Ladetransistors
14 ist mit einem Anschluß 15 verbunden, an den ein Ladesignal φ zur Steuerung des Ladetransistors 14 angelegt ist,
und die andere Hauptelektrode des Ladetransistors 14 ist mit einem Anschluß 16 verbunden, an den eine Quellenspannung
V angelegt ist. Zwischen der Wortleitung 8 und einem Anschluß 19, an den ein Clock-Signal φ angelegt ist,
ist ein Transistor 17 angeordnet, wobei das Gate des Transistors 17 mit dem Ausgangsknoten 13 im Dekoder 10 verbunden
ist. Der Transistor 17 verknüpft das Clock-Signal φ mit der Wortleitung 8 abhängig von dem Pegel des Ausgang-
knotens 13 in dem Dekoderschaltkreis 10. Ein Kondensator
18 liegt zwischen dem Ausgangsknoten 13 in dem Dekoderschal tkreis 10 und der Wortleitung 8. Der Kondensator 18
dient als Kapazität zum Verstärken des Pegels, wenn der Ausgangsknoten 13 im Dekoderschaltkreis 10 den Pegel "1"
aufweist und zum Übermitteln des Pegels "1" des Clock-Signal es Φ zur Wortleitung 8 ohne Abfall wegen einer Schwellenspannung
V„H des Transistors 17. Ein Pull-Down-Schaltkreis
20 zum Erden einer Spannung in einer nichtgewählten Wortleitung umfaßt einen Transistor 21 zwischen der Wortleitung
8 und Masse und einen mit dem Transistor 21 über Kreuz angeordneten Transistor 22, d.h., eine Hauptelektrode (in
diesem Fall eine Drain-Elektrode) ist mit dem Gate des Transistors 21 verbunden und die andere Hauptelektrode (in diesem
Fall eine Source-Elektrode) ist mit Masse verbunden und ein Gate ist mit der Wortleitung 8 verbunden, und einen Ladetransistor
23 zwischen einem Anschluß 16 mit einer anliegenden Quellenspannung V und einer Hauptelektrode des
Transistors 22, wobei ein Gate mit einem Anschluß 15, an dem ein Clock-Signal φ anlegbar ist, verbunden ist.
Der Ladetransistor 23 schaltet einen Transistor 21 leitend oder in den ON-Zustand zur Verbindung der Wortleitung 8
mit Masse, wenn die Speicherzelle 1 in einem nichtgewählten Zustand ist. Ein Dekoderschaltkreis 24 zum Wählen der
der oben beschriebenen Speicherzelle 1 gleichen Speicherzelle 28 hat die gleiche Struktur wie der oben beschriebene
Dekoderschaltkreis 10, reagiert jedoch anders auf ein
Adressensignal. Das Bezugszeichen 25 bezeichnet einen Ausgangsknotenpunkt des Dekoderschaltkreises 24 und das Bezugszeichen
26 bezeichnet einen zwischen einem Anschluß 19, an den ein Clock-Signal φ anlegbar ist, und einer Wortleitung
27 angeordneten Transistor, der wie der oben beschriebene Transistor 17 betrieben wird. Der Transistor 26 ver-
bindet die Wortleitung 27 der Speicherzelle 28 mit dem Clock-Signal φ abhängig von dem Pegel des Ausgangsknotenpunktes
25 im Dekoderschaltkreis 24. Das Bezugszeichen 29 bezeichnet einen Speicherknotenpunkt in der Speicherzelle
28, das Bezugszeichen 30 eine parasitäre Kapazität der Wortleitung 27, und das Bezugszeichen 31 einen Pull-Down-Schaltkreis
für die Wortleitung 27, der die gleiche Struktur hat, wie der oben beschriebene Pull-Down-Schaltkreis
■ 20.
Im folgenden wird der Betrieb eines Schaltkreises nach Fig. 1 mit Bezug auf die Darstellung der Fig. 2 beschrieben,
Dabei wird angenommen, daß die Information "0" in der Speicherzelle
1, die Information "1" in der Speicherzelle 28 gespeichert wird und die in der Speicherzelle 1 gespeicherte
Information "0" ausgelesen werden soll.
Ein Zeitraum von t~ bis t. in Fig. 2 ist für das Speichersystem
ein Vorladungszeitraum. Während des Vorladungszeitraumes werden die jeweiligen Ausgangsknotenpunkte 13 und
der Dekoderschaltkreise 10 und 24 und die Gate-Elektroden der Transistoren 21 in den Pull-Down-Schaltkreisen 20 und
31 abhängig vom Clock-Signal <f vorgeladen. Da in diesem
Zeitpunkt das Clock-Signal φ den Pegel "0" aufweist, werden die Wortleitungen 8 und 27 durch die Transistoren 17 und
und die Transistoren 21 in den Pull-Down-Schaltkreisen jeweils geerdet. Folglich ist jeder Schalttransistor 3 in
beiden Speicherzellen 1 und 28 in einem OFF-Zustand und deshalb ist die Speicherzelleninformation in einem Haltezustand.
Wenn an die jeweiligen Anschlüsse 11 der Dekoderschaltkreise 10 und 24 ein Adresseneingangssignal zum Zeitpunkt
tp, nachdem das Clock-Signal φ zum Zeitpunkt t1 "0"
wird, angelegt wird, wird die Speicherzelle 1 gewählt. Folglich nimmt der Ausgangsknotenpunkt 25 im Dekoderschaltkreis
24 über den Transistor 12 den Pegel "0" an, und der Ausgangsknotenpunkt 13 im Dekoderschaltkreis 10 wird
weiter auf dem Pegel "1" gehalten. Demzufolge geht der Transistor 26 in den OFF-Zustand, während der Transistor
17 weiter in dem ON-Zustand gehalten wird. Gleichzeitig weisen die Wortleitungen 8 und 27 den Pegel "0" auf, da das
Clock-Signal φ den Pegel "0" hat und jeder Transistor 21
in den Pull-Down-Schaltkreisen. 20 und 31 im ON-Zustand
ist.
' Zum Zeitpunkt t3 nimmt das Clock-Signal φ den Pegel "1" an
und infolgedessen wird die Wortleitung 8 über den Transistor 17 aufgeladen. Gleichzeitig nimmt trotz der Erdung
der Wortleitung 8 durch den Transistor 21 in dem Pull-Down-Schaltkreis
20 die Spannung in der Wortleitung 8 mit Zunahme des Clock-Signales zu, da der Widerstand im ON-Zustand des
Transistors 17 kleiner als der Widerstand im ON-Zustand des Transistors 21 des Pull-Down-Schaltkreises 20 gemacht
wurde. Wenn die Spannung in der Wortleitung 8 die Schwellenspannung Vm„ des Transistors 22 überschreitet, wird der
J. π
Transistor 22 leitend und der Transistor 21 wird nichtleitend oder geht in den OFF-Zustand, wodurch die Spannung in
der Wortleitung 8 der Änderung des Clock-Signales ψ folgt und infolgedessen ansteigt. Wenn die Spannung in der Wortleitung
8 zunimmt, wird der Ausgangsknotenpunkt 13 des Dekoderschal tkreises 10 durch die Bootstrap-Kapazität 18 des
Dekoderschaltkreises 10 auf über V + V_H angehoben, wodurch
die Spannung in der Wortleitung 8 bis zum Pegel "1" (= V) des Clock-Signales φ ohne Spannungsabfall in Höhe der
Schwellenspannung des Transistors 17 zunimmt. Andererseits bleibt die Wortleitung 27 durch den Transistor 21 geerdet,
- ίο -
da der Transistor 26 in einem OFF-Zustand ist. Dann wird
der Transistor 3, auf die Spannung in der Wortleitung 8 reagierend, leitfähig, so daß die Information "0" in der Speicherzelle
1 an die Datenleitung 5 ausgelesen wird. Eine Veränderung der Spannung in der Datenleitung zu diesem Zeitpunkt
ist in Fig. 2 gezeigt. Insbesondere sind die Wortleitung 8 und die Datenleitung 5 durch eine parasitäre Kapazität
4 in der Speicherzelle 1 miteinander verbunden, und die Spannung in der Datenleitung 5 nimmt während der Anstiegszeit
der Wortleitung 8 zu und nimmt danach allmählich ab als Folge eines Lesesignales von der Speicherzelle 1.
Wenn das Clock-Signal (JL zum Zeitpunkt t. angelegt wird,
wird eine Feinamplitude der in der Datenleitung 5 erscheinenden Spannung von dem Leseverstärker 6 verstärkt und
der Pegel der Datenleitung 5 wird "0", d.h. nimmt Massepotential an.
Zum Zeitpunkt t^ ist ein Auslesevorgang der Zelle beendet
und das Clock-Signal φ wird "0". Gleichzeitig wird die Spannung in der Wortleitung 8 "0". Jedoch werden zu dieser Zeit
die Wortleitung 8 und die Datenleitung 5 durch die parasitäre Kapazität 4 in der Speicherzelle 1 miteinander verbunden,
wodurch die Spannung in der Datenleitung 5 abnimmt. Die Spannung wird weniger als -V^, wie in Fig. 2 gezeigt
ist. Falls die Spannung tiefer als -VmtT ist, was mit dem
Iri Zustand gleichbedeutend ist,bei dem eine Spannung,die größer
als die Schwellenspannung V~„ des Schalttransistors 3 der
Speicherzelle 28 ist, zwischen Gate-Elektrode (Wortleitung 27) und einer Hauptelektrode (in diesem Fall einer Source-Elektrode)
(Datenleitung 5) des Schalttransistors 3 der Speicherzelle 28 angelegt wird, wird der Schalttransistor
3 leitend und infolgedessen wird die in dem Speicherknotenpunkt 29 der Speicherzelle 28 gespeicherte Ladung durch den
Schalttransistor 3 entladen, so daß die Spannung im Speicherknotenpunkt 29 abnimmt (siehe Δ V in Fig. 2). Wenn der
- li -
oben beschriebene Ablauf wiederholt wird, nimmt die Spannung in dem Speicherknotenpunkt 29 der Speicherzelle 28
allmählich ab, bis schließlich die Information "1" in 11O"
geändert ist. Um das zu verhindern, wäre es vorteilhaft, die Schwellenspannung des Schalttransistors 3 größer zu
machen, so daß der Schalttransistor 3 nur schwierig leitfähig gesteuert werden kann. Jedoch wird bei Vergrößerung
der Schwellenspannung eine in die Speicherzelle geschriebene Spannung um einen Betrag, der gleich der Erhöhung der
Schwellenspannung ist, kleiner. Infolgedessen tritt ein Nachteil ein, bei dem ein Signalpegel zur Zeit des Auslesens
der Daten abnimmt.
Aufgabe der Erfindung ist es, einen Halbleiterspeicher zu schaffen, der in der Lage ist, nachteilige Effekte als FoI-ge
einer Störspannung von der Speicherzelle in einem gewählten Zustand zu reduzieren, ohne die Schwellenspannung
VTH des Schalttransistors in der Speicherzelle zu ändern.
Diese Aufgabe wird durch einen Halbleiterspeicher der eingangs beschriebenen Art gelöst, der gemäß der Erfindung
gekennzeichnet ist durch eine Mehrzahl von Speicherzellen mit jeweils einem Schalttransistor und einem mit der ersten
Hauptelektrode des Schalttransistors verbundenen Speicherkondensator, Datenleitungen zur Übermittlung von in dem
Speicherkondensator gespeicherten Daten, wobei jede Datenleitung mit einer zweiten Hauptelektrode des zugehörigen
Schalttransistors der Speicherzelle verbunden ist, und eine Wortleitung zur Übermittlung eines Clock-Signales zum
Steuern eines ON/OFF-Zustandes beim Schalttransistor, die mit der Gate-Elektrode des Schalttransistors verbunden ist.
Der Halbleiterspeicher ist ferner gekennzeichnet durch Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreise mit einem Pull-Down-
K « u ■<
- 12 -
Transistor, wobei jeder Pull-Down-Schaltkreis zu jeder der
Mehrzahl von Speicherzellen zugehörig vorgesehen ist. Der Pull-Down-Transistor eines jeden Pull-Down-Schaltkreises
hat eine erste mit der Wortleitung verbundene Hauptelektrode und eine zweite mit der Spannungsquelle, die eine tiefere
Spannung als der logische "O"-Pegel der durch die Datenleitung
übermittelten Daten hat, verbundenen Hauptelektrode. Ein Steuersignal zur Steuerung des ON/OFF-Zustandes des
Pull-Down-Transistors wird an die Gate-Elektrode des zugehörigen Pull-Down-Transistors angelegt.
In einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird ein an eine Wortleitung angelegtes Clock-Signal so adaptiert,
daß der "O"-Pegel von hoher Impedanz ist.
Weitere Merkmale und Zweckmäßigkeiten der Erfindung ergeben sich aus der Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand
der Figuren. Von den Figuren zeigen:
Fig. 1 einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises eines RAM-Speichersystemes mit zwei Bit Speicherzellen
nach einer konventionellen Technik; ■.
Fig. 2 ein Zeitdiagramm, das den Signalverlauf in jedem Teil des in Fig. 1 gezeigten Schaltkreises zeigt;
Fig. 3 einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises eines RAM-Speichersystemes mit zwei Bit Speicherzellen
nach einer Ausführungsform der Erfindung;
Fig. 4 ein Zeitdiagramm, das den Signalablauf in jedem Teil des Schaltkreises der Fig. 3 zeigt;
Fig. 5 ein Schaltbild mit einem Beispiel zur Herstellung einer vorbestimmten Spannung V"M in Fig. 3;
Fig. 6 ein Schaltbild mit einem Beispiel für die Erzeu-
gung eines Clock-Signals φ' in Fig. 3;
Fig. 7 ein Zeitdiagramm, das den Signalverlauf in jedem Teil des Schaltkreises nach Fig. 6 zeigt;
Fig. 8 einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises mit
einer anderen Ausführungsform der Erfindung; und
Fig. 9 ein Schaltbild mit einer weiteren Ausführungsform
der Erfindung.
Die folgende bevorzugte Ausführungsform der Erfindung wird anhand der Fig. 3 beschrieben. Obwohl in der Ausführungsform
nur zwei Speicherzellen benutzt werden, soll damit ein Prinzip der Erfindung ohne Begrenzung auf solch eine Ausführungsform
verdeutlicht werden.
In Fig. 3 bedeuten gleiche Bezugszahlen wie in Fig. 1 gleiche oder ähnliche Teile. Die Unterschiede zur Struktur
nach Fig. 1 ergeben sich dadurch, daß jede einzelne Hauptelektrode (in diesem Fall eine Source-Elektrode) eines jeden
in dem Pull-Down-Schaltkreis 20 enthaltenen Transistors
und 22 mit einem Anschluß 32 verbunden ist, der mit einer Spannungsquelle zum Liefern einer vorbestimmten Spannung V„
(in diesem Fall -Vmzj), die unter Massepotential liegt und
In
daß auf ähnliche Weise jede Hauptelektrode (in diesem Fall eine Source-Elektrode) jedes der in dem Pull-Down-Schaltkreis
31 enthaltenen Transistoren 21 und 22 mit dem Anschluß 32 verbunden ist, und daß das Clock-Signal φ1 ein Clock-Signal
mit dem gleichen Zeitverhalten wie das des Clock-Signals φ von Fig. 1 ist, und daß der "O"-Pegel von hoher
Impedanz ist.
Der Betrieb eines so strukturierten Speichers wird anhand der Darstellung von Fig. 4 beschrieben.
Es wird auch angenommen, daß die Information "O" in der Speicherzelle
1 gespeichert wird, die Information "1" in der Speicherzelle 28 gespeichert wird und die in der Speicherzelle
1 gespeicherte Information "0" ausgelesen werden soll. Deshalb werden, da der Betrieb des grundlegenden Schaltkreises
im wesentlichen der gleiche wie in Fig. 1 ist, nur die Unterschiede, d.h. die Spannungen in den Wortleitungen
8 und 27, beschrieben.
Während eines Zeitraumes zwischen den Zeitpunkten t_ und t1
in Fig. 4 sind die Wortleitungen 8 und 27 auf dem Pegel -Vmrj, was eine von einer Spannungsquelle gelieferte Spannung
ist, da jeder Transistor 21 des Pull-Down-Schaltkreises 20
und 31 in einem ON-Zustand ist. Gleichzeitig nimmt auch das Clock-Signal φ1 den Pegel -V^0 an, da die Transistoren 17
und 26 auch in einem ON-Zustand sind. Der Grund dafür ist, daß das Clock-Signal φ' in einem Zustand "0" von hoher Impedanz
während dieses Zeitraumes ist.
Während eines Zeitraumes von t1 bis t„ läuft der gleiche
Betrieb wie in Fig. 1 ab. Beim Wechsel des Pegels des Clock-Signales
φ1 von "0" nach 11I" zum Zeitpunkt tg nimmt die
Spannung in der Wortleitung 8 allmählich über den Transistor mit Zunahme des Clock-Signales φ1 zu. Sobald die Spannung
in der Wortleitung 8 die Schwellenspannung des Transistors des Pull-Down-Schaltkreises 20 überschreitet, wird der
Transistor 22 leitend und der Transistor 21 nichtleitend, so daß die Spannung der Wortleitung 8 dem Clock-Signal φ'
folgend auf "1" ansteigt. Obwohl die Spannung V der Spannungsquelle
durch den Transistor 21 im Pull-Down-Schaltkreis umgehend erhöht wird ehe der Pegel des Clock-Signales φ1
von "0" nach "1" ansteigt, dient die der Wortleitung 27 zugeordnete mit der nichtgewählten Speicherzelle 28 verbundene
parasitäre Kapazität 30 (obwohl nur eine parasitäre Kapazi-
tat gezeigt wird, gibt es eine große Zahl von einer Anzahl
von Wortleitungen zugeordneten parasitären Kapazitäten, z.B. 256 Wortleitungen in einem 64 K-Speicher) als große
Entkopplungskapazität über den Transistor 21 im Pull-Down-Schaltkreis
31 und infolgedessen ändert sich die Spannung V1,. .kaum vom Wert -Vmrj. Demzufolge wird die Spannung der
JN 1x1
Wortleitung 27 auf -Vmu gehalten in Anbetracht der Tatsache,
In
daß der Transistor 26 im OFF-Zustand ist. Wenn die Information "O" in der Speicherzelle 1 ausgelesen wird und das
Clock-Signal φ1 von "1" zu 11O" zum Zeitpunkt t5 geändert
wird, geht die Wort leitung 8 danach auf einen Massepegel von hoher Impedanz durch den Transistor 17. Obwohl zu dieser
Zeit die Spannung auf der Datenleitung 5 auf weniger als -V1710. abnimmt, da die Wortleitung 8 und die Datenleitung 5
in
über die parasitäre Kapazität 4 der Speicherzelle 1 miteinander verbunden sind, schaltet der Schalttransistor 3 der
Speicherzelle 28 nicht in den ON-Zustand, da die Spannung auf der Wortleitung 27 -Vmrr ist. Infolgedessen tritt keine
Abnahme der Spannung in dem Speicherknotenpunkt 29 der Speicherzelle 28 auf und die Speicherzelle 28 speichert
weiter die Information "1".
Immer wenn das Clock-Signal φ sich von "0" nach "1" zum
Zeitpunkt t verändert, wird danach der Transistor 14 des Dekoderschaltkreises 24 leitend, ebenso der Transistor 26
und der Transistor 23 des Pull-Down-Schaltkreises 20. Deshalb
wird auch der Transistor 21 leitend und infolgedessen ändert sich das Clock-Signal φ1 und die Wortleitung 8 vom
Massepegel nach -VTH· Auf diese Weise kommt der Speicher in
eine Wartestellung für eine darauffolgende Operation.
Wie schon beschrieben, weist der Halbleiterspeicher einen Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreis mit einem Transistor auf,
dessen eine Hauptelektrode mit der Wortleitung und dessen andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle zur Lieferung
einer vorbestimmten Spannung, die tiefer als Massepegel ist, verbunden ist. Deshalb nimmt eine Spannung auf der
Wortleitung in einer nichtgewählten Speicherzelle eine vorbestimmte Spannung tiefer als Massepotential an. Demzufolge
wird ein nachteiliger Effekt auf eine nichtgewählte Speicherzelle infolge von Störspannungen von einer gewählten
Speicherzelle reduziert. Damit in Einklang kann eine Schwellenspannung des Schalttransistors der Speicherzelle klein
gehalten werden und ein aus der Speicherzelle ausgelesenes Signal groß gemacht werden.
Fig. 5 zeigt detailliert einen Schaltkreis für eine Spannungsquelle
nach Fig. 3, zum Erzeugen einer vorbestimmten Spannung V^, die unter Massepegel liegt. Die Spannungsquelle
kann auf dem gleichen Träger zusammen mit Speicherzellen, Dekoderschaltkreisen und Pull-Down-Schaltkreisen ausgebildet
werden. Die Spannungsquelle nach Fig. 5 weist einen zwischen einem Ausgang 32 und Masse angeordneten Klemmtransistor
33 zur Pegelhaltung einer Ausgangsspannung auf
-Vm„, wobei die Gate-Elektrode des Transistors 33 mit Masse
in
verbunden ist, einen ersten gleichrichtenden Transistor 34, dessen eine Hauptelektrode und eine Gate-Elektrode mit dem
Ausgang 32 verbunden ist, einen zweiten gleichrichtenden Transistor 35, dessen eine Hauptelektrode und eine Gate-Elektrode
mit der anderen Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors 34 verbunden ist und bei dem die andere
Hauptelektrode mit Masse verbunden ist, und eine zwischen dem Anschluß 38, an den ein Clock-Signal φ~ anlegbar
ist und der anderen Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors 34 angeordnete Kopplungskapazität 37 auf.
Im folgenden wird eine Betriebsweise der Spannungsquelle
nach Fig. 5 beschrieben. Eine Schaltungsanordnung ohne Klemmtransistor
33 ist wohlbekannt. Für den Fall, daß eine Amplitude der Spannung des Clock-Signales φ» V ist und die Schwellenspannungen
des ersten und zweiten gleichrichtenden Transistors 34 und 35 V„,„ sind, erscheint am Ausgang 32 eine
negative Spannung von - (V - 2VTH). Immer wenn der Klemmtransistor
33 mit dem Ausgang 32 verbunden ist, wie in Fig. 5, fließt von Masse her ein elektrischer Strom durch den
Klemmtransistor 33 wenn die Spannung des Ausganges 32 negativer als -Vmo ist; dadurch wird die Spannung des Ausganges
in
32 auf dem Pegel - ¥„„ gehalten. Insbesondere wird eine konstante
Spannung -Vn,.. am Ausgang 32 geliefert.
in
Zusätzlich zeigt Fig. 6 ein Beispiel eines Clock-Signal-erzeugenden
Schaltkreises zum Erzeugen eines Clock-Signales φ1, wie in Fig. 3 gezeigt, das das gleiche Zeitverhalten
aufweist, wie das Clock-Signal in Fig. 1; jedoch ist der Pegel "0" von hoher Impedanz. In Fig. 6 ist ein Lasttransistor
41 zwischen einer Stromquelle 65 und einem Ausgang 40 zur Ausgabe eines Clock-Signales φ1 angeordnet. Ein
Treiber-Transistor 42 einer Ausgangsstufe ist zwischen dem Ausgang 40 und Masse angeordnet. Ein Transistor 43 zum Aufladen
einer Gate-Elektrode des Lasttransistors 41 ist zwischen der Stromquelle und einem Knotenpunkt 45 angeordnet
und wird von dem Clock-Signal φβ gesteuert. Ein Transistor
44 zum Entladen der Gate-Elektrode des Lasttransistors 41 ist zwischen dem Knotenpunkt 45 und Masse angeordnet. Ein
Ausgangsknotenpunkt 45 ist ein Knotenpunkt für einen Lade- und Entladeschaltkreis mit Transistoren 43 und 44. Ein
Bootstrap-Kondensator 46 zum Anheben der Gate-Elektrode des Lasttransistors 41 ist zwischen dem Knotenpunkt 45 und einem
Knotenpunkt 49 angeordnet. Ein Lasttransistor 47 ist ein Transistor für eine Bootstrap-Schaltung, die die Gate-Elektrode
des Lasttransistors ^l anhebt und ist zwischen einer
Stromversorgung und dem Knotenpunkt 49 angeordnet. Ein Treiber-Transistor
48 ist zwischen dem Knotenpunkt 49 und Masse angeordnet. Ein Lasttransistor 50 ist in einem 'Verzögerungsschaltkreis
enthalten, der zum effektiven Betrieb des Bootstrap-Schaltkreises beiträgt. Der Lasttransistor 50 wird
von einem Clock-Signal (JL gesteuert und liegt zwischen der Stromversorgung und dem Knotenpunkt 52. Ein Treiber-Transistor
51 ist zwischen einem Ausgangsknotenpunkt 52 und Masse angeordnet. Bezugszeichen 53 bezeichnet einen Ausgangsknotenpunkt
eines Schaltkreises zum Bilden eines Signales, das den Treiber-Transistor 52 zeitweise leitend schaltet.
Ein Lasttransistor ist zwischen das Clock-Signal Φο
und dem Knotenpunkt 53 angeordnet. Ein Treiber-Transistor 55 ist zwischen dem Knotenpunkt 53 und Masse angeordnet.
Ein Transistor 56 zum Aufladen der Gate-Elektrode des Lasttransistors
54 wird von dem Clock-Signal Φο gesteuert und
ist zwischen der Stromversorgung und dem Knotenpunkt 58 angeordnet. Ein Transistor 57 zum Entladen der Gate-Elektrode
des Lasttransistors 54 ist zwischen Masse und dem Knotenpunkt 58 für den Lade- und Entladeschaltkreis mit den Transistoren
56 und 57 angeordnet. Ein Transistor 59 zur Steuerung des Treiber-Transistors 55 und des Transistors 57 in
Abhängigkeit vom Clock-Signal (JL ist zwischen einer Stromquelle und einem Knotenpunkt 62 angeordnet. Transistor 60
zum Entladen des Knotenpunktes 62 wird in Abhängigkeit vom Clock-Signal φ« gesteuert und ist zwischen dem Knotenpunkt
62 und Masse angeordnet. Ein Transistor 61 zum Entladen des Knotenpunktes 62 wird in Abhängigkeit von dem Clock-Signal
ψ' gesteuert und ist zwischen dem Knotenpunkt 62 und Masse
angeordnet. 63 ist ein Anschluß, an den ein Clock-Signal φ0
angelegt wird, 64 ist ein Anschluß, an den ein Clock-Signal (L angelegt wird und 65 ist ein Anschluß, an den eine
Stromquelle V angeschlossen ist.
Für den so strukturierten Clock-Signal-erzeugenden Schaltkreis
wird nun eine Betriebsweise zum Erhalten eines Clock-Signales φ' anhand der Darstellung in Fig. 7 beschrieben.
Da zuerst während eines Zeitraumes zwischen den Zeitpunkten tQ und t1 ein Clock-Signal (JL den Pegel "1" und ein Clock-Signal
Φο den Pegel 11O" haben, hat der Knotenpunkt 45 den
Pegel "0". Der Knotenpunkt 62 wird deshalb durch den Transistor 59 geladen und nimmt den Pegel "1" an, dadurch nimmt
der Knotenpunkt 53 den Pegel "0" und der Knotenpunkt 52 den Pegel "1" an. Da die Transistoren 41 und 42 nichtleitend
werden, ist der Ausgangsknotenpunkt 40 (als Funktion des Clock-Signales φ1) in einem Zustand hoher Impedanz und nimmt
den Pegel "0" an, wenn der Pegel vor t„ "0" ist.
Sogar wenn zum Zeitpunkt t1 das Clock-Signal (jL den Pegel
"0" annimmt, werden die Knotenpunkte 52 und 62 in einen Pegelzustand
"1" gehalten. Immer wenn zum Zeitpunkt t? das Clock-Signal
Φο "1" wird, wird der Transistor 43 in Abhängigkeit
vom Clock-Signal Φο leitfähig gesteuert und der Knotenpunkt
45 wird demzufolge aufgeladen, der Transistor 41 wird leitfähig gesteuert und der Pegel des Knotenpunktes 40 nimmt zu,
so daß der Transistor 51 leitfähig gesteuert wird und der Knotenpunkt 52 vom Zustand "1" zum Zustand "0" wechselt.
Folglich wird der Transistor 48 in den OFF-Zustand gesteuert und der Pegel des Knotenpunktes 49 wechselt von "0" zu "1".
Dieser Wechsel wird durch den Kondensator 46 zu dem Knotenpunkt 45 übermittelt, so daß der Pegel des Knotenpunktes 45
auf über V + VTH ansteigt. Folglich steigt der Pegel des
Clock-Signales φ1 auf V an. Andererseits wird der Knotenpunkt
58 auf den Zustand "1" durch den Transistor 56 aufgeladen und der Transistor 54 wird leitfähig gesteuert, da
der Knotenpunkt 62 über den Transistor 60 den Pegel "0" annimmt, so daß die Transistoren 55 und 57 nichtleitend ge-
steuert werden. Da jedoch das Clock-Signal (])_ zu dieser Zeit
den Pegel "0" hat, hat der Knotenpunkt 53 immer noch den Zustand "0". Da der Transistor 44 sogar bei einem Clock-Signal
φη vom Pegel "0" zum Zeitpunkt t„ in einem OFF-Zustand
verbleibt, entlädt sich der Knotenpunkt 45 nicht und infolgedessen bleibt das Clock-Signal φ1 auf V. Immer wenn das
Clock-Signal (JL. den Zustand "1" zum Zeitpunkt t. annimmt,
nimmt der Knotenpunkt 45 über den Transistor 44 den Zustand "0" an, der Transistor 42 wird leitend gesteuert als Funktion
des Clock-Signales φ» über den Transistor 54 und das Clock-Signal
φ1 wird geerdet. Immer wenn das Clock-Signal φ1 den
Zustand "0" annimmt, wird der Transistor 61 nichtleitend gesteuert, so daß der von dem Transistor 61 erniedrigte Pegel
des Knotenpunktes 62 ansteigt und die Transistoren 55 und 57 leitend gesteuert werden zum Zeitpunkt t5, wodurch der
Knotenpunkt 53 den Pegel "0" annimmt. Dann nimmt das Clock-Signal φ1 als Reaktion auf den Zustand "0" des Knotenpunktes
53 einen Zustand "0" von hoher Impedanz (siehe gestrichelte Linie in Fig. 7) an". Als Ergebnis wird ein Clock-Signal mit
dem gleichen Zeitverhalten wie das Clock-Signal φ in Fig. 1 erhalten, das aber den "O"-Pegel von hoher Impedanz aufweist.
Wenn der Clock-Signal φ'-erzeugende Schaltkreis in dem
Schaltkreis nach Fig. 3 benutzt wird, nimmt der Spannungspegel des Clock-Signales φ1 auf -VTH ab (bis zum Zeitpunkt
t„ und einem Zeitraum nach dem Zeitpunkt tn in Fig. 4). Da
jedoch die Transistoren 41 und 42 in einem Zwischenzustand zwischen dem ON- und OFF-Zustand sind, und auf die Weise
kaum elektrischer Strom fließt, entsteht das Problem eines Anstieges der verbrauchten Leistung nicht.
Fig. 8 zeigt einen wesentlichen Teil eines Schaltkreises mit einer anderen Ausführungsform der Erfindung, in dem nur
ein Wortleitungsschaltkreis gezeigt wird.
In Fig. 8 weist ein Pull-Down-Schaltkreis 71 einen Pull-Down-Transistor
72, dessen eine Hauptelektrode mit einer Wortleitung 8 und dessen andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle
zum Erzeugen einer vorbestimmten Spannung V„ mit niedrigerem Potential als Masse, verbunden ist, auf.
Ein Ladetransistor 73 ist zwischen einer Stromquelle V und einem Knotenpunkt 76 der ein Ende der Gate-Elektrode des
Pull-Down-Transistors 72 ist, angeordnet und wird in Abhängigkeit von dem Clock-Signal (ji gesteuert; ein Lasttransistor
74 ist zwischen der Stromversorgung und dem Knotenpunkt • angeordnet.Ein Treiber-Transistor ist zwischen Masse und
dem Knoten 76 angeordnet. Es werden auch ein Stromversorgungsanschluß 77, ein Anschluß 78 für ein Clock-Signal (j) und
ein Anschluß 79 für ein Clock-Signal (J>0 gezeigt.
Bei der so strukturierten Ausführungsform ist der Betrieb
sehr ähnlich zu dem der Ausführungsform von Fig. 4. Während das Clock-Signal (JT den Pegel "1" annimmt, d.h. während
einer Vorlaufzeit, wird der Ladetransistor 73 leitend gesteuert
und infolgedessen nimmt der Knotenpunkt 73 den Pegel "1" mit V--VmTT an, so daß der Pull-Down-Transistor 72 leitend
gesteuert wird und die Wortleitung 8 eine vorbestimmte Spannung V (in diesem Fall -VTH) aufweist. Dann, beim Auslesen
der Speicherzelle 1, nimmt das Clock-Signal φη den
Pegel "1" an, kurz bevor eine gewählte Wortleitung 8 den Zustand "1", nachdem das Clock-Signal (J) vom Zustand "1" zum
Zustand "0" wechselt, annimmt. Dadurch wird die Spannung
des Knotenpunktes 76 geringfügig höher als Massepotential, was durch das Verhältnis der ON-Widerstände des Lasttransistors
74 und des Treiber-Transistors 75 festgelegt wird. Demzufolge ist die Impedanz des Pull-Down-Transistors 72
relativ hoch, obwohl der Pull-Down-Transistor 72 geringfügig leitend wird, ein Zustand, der sehr nahe an dem OFF-Zustand
liegt. Als Ergebnis nimmt die Spannung zum Auslesen der gewählten Wortleitung 8 auf ungefähr den Pegel V zu, so daß
die in der Speicherzelle 1 gespeicherte Information ausgelesen werden kann. Die Spannung an der nichtgewählten Wortleitung
ist -V™,^. Dadurch kann ein nachteiliger Effekt auf
die nichtgewählten Speicherzellen als Folge von Störsignalen von der gewählten Speicherzelle nach Vollendung des Auslesevorganges
in der gleichen Weise wie in Fig. 3 reduziert werden, und zusätzlich kann ein von der Speicherzelle ausgelesenes
Signal größer gemacht werden.
Fig. 9 ist ein wesentlicher Teil eines Schaltkreises mit einer anderen Ausführungsform der Erfindung, in dem nur ein
Wortleitungsschaltkreis gezeigt wird.
In Fig. 9 weist ein Pull-Down-Schaltkreis 80 einen Pull-Down-Transistor
81, dessen eine Hauptelektrode mit der Wortleitung 8 und dessen andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle zur Erzeugung einer vorbestimmten Spannung Vn, die
niedriger als der Massepegel ist, verbunden ist, und einen Transistor 83, dessen eine Hauptelektrode mit der Gate-Elektrode
des Pull-Down-Transistors 81, dessen andere Hauptelektrode mit einem Anschluß 84 für das Clock-Signal (L und dessen
Gate mit einem Ausgangsknotenpunkt 13 des Dekoderschaltkreises 10 verbunden ist, auf. Das Clock-Signal (L wechselt vom
Zustand "1" zum Zustand "0" nachdem ein Ausgangssignal des Dekoderschaltkreises sich ändert.
Der Betrieb des in Fig. 9 gezeigten Schaltkreises ist ähnlich dem in Fig. 4 gezeigten. Während einer Vorlaufzeit
sind der Ausgangsknotenpunkt 13 und das Clock-Signal (L beide im Zustand "1" und der Zustand "1" erscheint im
Knotenpunkt 82 über den Transistor 83. Als Ergebnis wird
der Pull-Down-Transistor 81 leitfähig gesteuert und infolgedessen nimmt die Wortleitung 8 eine vorbestimmte Spannung
Vn, (in diesem Fall -Vmtr) an. Im folgenden wird der Fall, bei
dem die mit der Wortleitung 8 verbundene Speicherzelle gewählt wird und der Fall, bei dem die Speicherzelle nicht
gewählt wird, beschrieben. Bei Wahl der Speicherzelle nimmt der Ausgangsknotenpunkt des Dekoderschaltkreises 10 den Zustand
"1" an. Falls das Clock-Signal (JL vom Zustand "1" zum Zustand "0" zu jener Zeit wechselt, nimmt der Knotenpunkt
Massepotential über den Transistor 83 an, und der PuIl-
Down-Transistor 81 nimmt einen Zwischenzustand zwischen den ON- und OFF-Zuständen an, so daß sein ON-Widerstand sehr
hoch ist. Bei Wechsel des Clock-Signal-tß-Pegels vom Zustand "0" zum Zustand "1" zu jener Zeit, ändert sich auch der Zustand der Wortleitung 8 vom Zustand 11O" zum Zustand "1" über den Transistor 17. Demzufolge wird die in der Speicherzelle gespeicherte Information ausgelesen. Wenn die Speicherzelle nicht gewählt wird, wechselt der Ausgangsknotenpunkt des
Dekoderschaltkreises 10 von "1" zu "0". Da der Transistor
hoch ist. Bei Wechsel des Clock-Signal-tß-Pegels vom Zustand "0" zum Zustand "1" zu jener Zeit, ändert sich auch der Zustand der Wortleitung 8 vom Zustand 11O" zum Zustand "1" über den Transistor 17. Demzufolge wird die in der Speicherzelle gespeicherte Information ausgelesen. Wenn die Speicherzelle nicht gewählt wird, wechselt der Ausgangsknotenpunkt des
Dekoderschaltkreises 10 von "1" zu "0". Da der Transistor
83 sogar dann nichtleitend gesteuert wird, wenn das Clock-Signal φ., vom Zustand "1" zum Zustand "0" zu jener Zeit
wechselt, behält der Knotenpunkt 82 den "1"-Pegel und der
Pull-Down-Transistor 81 bleibt im OW-Zustand. Weiter hat die Spannung der Wortleitung 8 den Pegel -VmtJ, da der Transistor
wechselt, behält der Knotenpunkt 82 den "1"-Pegel und der
Pull-Down-Transistor 81 bleibt im OW-Zustand. Weiter hat die Spannung der Wortleitung 8 den Pegel -VmtJ, da der Transistor
in
17 nichtleitend gesteuert wird.
Deshalb kann, da die Spannung auf der gewählten Wortleitung 8 -VTH ist, ein nachteiliger Effekt auf die nichtgewählte
Speicherzelle infolge von Störspannungen von der gewählten
Speicherzelle reduziert werden und zusätzlich ein aus der
Speicherzelle ausgelesenes Signal größer gemacht werden.
Speicherzelle infolge von Störspannungen von der gewählten
Speicherzelle reduziert werden und zusätzlich ein aus der
Speicherzelle ausgelesenes Signal größer gemacht werden.
Da ein Transistor, dessen eine Hauptelektrode mit einer mit einer Mehrzahl von Speicherzellen verbundenen Wortleitung,
dessen andere Hauptelektrode mit einer Spannungsquelle zum Liefern einer vorbestimmten Spannung, die niedriger als
Massepotential ist, und dessen Gate-Elektrode mit einer Steuersignalquelle verbunden ist, vorgesehen ist, die im
vorhergehenden beschrieben wurde, hat die Erfindung einen besonders vorteilhaften Effekt, nämlich, daß eine Spannung
auf einer Wortleitung für eine Speicherzelle in nichtgewähltem Zustand eine vorbestimmte Spannung kleiner als
Massepotential annehmen kann, und infolgedessen ein nachteiliger Effekt auf eine Speicherzelle in einem nichtgewählten
Zustand infolge von Storspannungen von einer gewählten
Speicherzelle reduziert werden kann.
Lee rseite
Claims (6)
- ρζPATENTANWALT DIPL.-PHYS. LUTZ H. PRÜFER · D-800O MÜNCHENFO 22-2689 P/M/huMitsubishi Denki Kabushiki Kaisha, Tokyo, JapanHalbleiterspeicherPATENTANSPRÜCHEIy Halbleiterspeicher mit einer Mehrzahl von Speicherzellen, von denen jede einen Schalttransistor mit erster und zweiter Hauptelektrode und Gate-Elektrode, und eine mit der ersten Hauptelektrode des Schalttransistors verbundene Speicherkapazität aufweist, einer mit der zweiten Hauptelektrode des Schalttransistors verbundene Datenleitung zum Übertragen der in der Speicherkapazität gespeicherten Information, einer Clock-Signal-Quelle zum Erzeugen eines die ON/OFF-Zustände des Schalttransistors steuernden Clock-Signales, mit dem Gate des Schalttransistors verbundenen Wortleitungen zum Übermitteln des Clock-Signales, einem Dekoderschaltkreis zum Auswählen einer der Wortleitungen zum Beaufschlagen des Gates des entsprechenden Schalttran-PATENTANWALT DIPL.-PHYS. LUTZ H. PRÜFER · D-8000 MÜNCHEN 90 . WILLROIDERSTR. S ■ TEL. (089)640640sistors mit dem Clock-Signal,gekennzeichnet durch eine Spannungsquelle zum Erzeugen einer Spannung, die tiefer als der Pegel einer logischen "0" der durch die Datenleitung (5) zu übertragenden Daten ist,Wortleitungs-Pull-Down-Schaltkreise (20, 31) mit jeweils einem Pull-Down-Transistor (21), dessen erste Hauptelektrode mit der zugehörigen Wortleitung (8, 27) und dessen zweite Hauptelektrode mit der Spannungsquelle verbunden ist, und einer ein Steuersignal liefernden Einrichtung zum Liefern eines Steuersignales zum Steuern der Impedanz des Pull-Down-Transistors (21) an das Gate des Pull-Down-Transistors.
- 2. Halbleiterspeicher nach Anspruch 1,dadurch gekennzeichnet, daß das an die Wortleitungen angelegte Clock-Signal so angepaßt ist, daß der Pegel der logischen "0" von hoher Impedanz ist.
- 3. Halbleiterspeicher nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Spannungsquelle einen Klemmtransistor (33), dessen erste Hauptelektrode mit einem Ausgangsanschluß (32) der Spannungsquelle und dessen zweite Hauptelektrode und dessen Gate mit Masse verbunden sind, einen ersten gleichrichtenden Transistor (34), dessen erste Hauptelektrode und dessen Gate mit dem Ausgangsanschluß (32) verbunden sind,einen zweiten gleichrichtenden Transistor (35), dessen erste Hauptelektrode und dessen Gate mit der zweiten Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors (34) verbunden sind, und dessen zweite Hauptelektrode mit Masse verbunden ist, undeine Kopplungskapazität (37) zwischen einem Eingangsan-mc ocSchluß (38) der Spannungsquelle, an den ein Clock-Signal mit einer geeigneten Spannungsamplitude angelegt wird, und der zweiten Hauptelektrode des ersten gleichrichtenden Transistors (34), aufweist.
- 4. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die steuersignalliefernde Einrichtung zum Liefern des Steuersignales an das Gate des Pull-Down-Transistors (21) einen
Treibertransistor (22), dessen erste Hauptelektrode mit dem Gate des Pull-Down-Transistors (21), dessen zweite Hauptelektrode mit der Spannungsquelle und dessen Gate mit der Wortleitung (8, 27) verbunden ist und einen Ladetransistor (23), dessen erste Hauptelektrode mit einer Konstantspannungsquelle (16), dessen zweite Hauptelektrode mit der ersten Hauptelektrode des Treibertransistors (22) verbunden ist und dessen Gate mit einem invertierten Clock-Signal des Clock-Signales gekoppelt ist, aufweist. - 5. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die steuersignalliefernde Einrichtung einen Treibertransistor (75), dessen erste Hauptelektrode mit dem Gate des Pull-Down-Transistors (72), · dessen zweite Hauptelektrode mit Masse verbunden ist, und dessen Gate mit einem gewünschten Clock-Signal (79) gekoppelt ist, undeinen Ladetransistor (73), dessen erste Hauptelektrode mit einer Konstantspannungsquelle, dessen zweite Hauptelektrode mit der ersten Hauptelektrode des Treibertransistors (75) verbunden ist, und dessen Gate an ein invertiertes Clock-Signal (78) des Clock-Signales gekoppelt ist, und einen Lasttransistor (74), dessen erste Hauptelektrode-A-und dessen Gate mit der Konstantspannungsquelle verbunden sind und dessen zweite Hauptelektrode mit der zweiten Hauptelektrode des Ladetransistors (73) verbunden ist, aufweist.
- 6. Halbleiterspeicher nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die steuersignalliefernde Einrichtung einen Transistor (83), dessen erste Hauptelektrode mit dem Gate des Pull-Down-Transistors (81), dessen zweite Hauptelektrode mit einem Anschluß (84) für ein Clock-Signal, dessen Gate mit dem Ausgangsknotenpunkt des Dekoderschaltkreises verbunden ist, aufweist, wobei das Clock-Signal von der logischen "0" zur logischen "1" wechselt, nachdem das Ausgangssignal des Dekoderschaltkreises wechselt, während es an die zweite Hauptelektrode des Transistors angelegt ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57035361A JPS58153294A (ja) | 1982-03-04 | 1982-03-04 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3307756A1 true DE3307756A1 (de) | 1983-09-15 |
DE3307756C2 DE3307756C2 (de) | 1988-02-04 |
Family
ID=12439744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19833307756 Granted DE3307756A1 (de) | 1982-03-04 | 1983-03-04 | Halbleiterspeicher |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4513399A (de) |
JP (1) | JPS58153294A (de) |
DE (1) | DE3307756A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0210454A2 (de) * | 1985-07-01 | 1987-02-04 | Nec Corporation | Speicherschaltung mit Wortzeilenrauschunterdrückungsschaltungen |
DE3635344A1 (de) * | 1985-12-10 | 1987-06-11 | Mitsubishi Electric Corp | Wortzeilen-treiberschaltung |
US5289432A (en) * | 1991-04-24 | 1994-02-22 | International Business Machines Corporation | Dual-port static random access memory cell |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2688976B2 (ja) * | 1989-03-08 | 1997-12-10 | 三菱電機株式会社 | 半導体集積回路装置 |
JP3667787B2 (ja) | 1994-05-11 | 2005-07-06 | 株式会社ルネサステクノロジ | 半導体記憶装置 |
EP0797211A1 (de) * | 1996-03-01 | 1997-09-24 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Halbleiterspeichergerät mit Klemmschaltung zur Fehlfunktionsvermeidung |
US6826112B2 (en) * | 2003-01-21 | 2004-11-30 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Low power logic gate |
US8054696B1 (en) * | 2008-03-20 | 2011-11-08 | Netlogic Microsystems, Inc. | System and method to improve reliability in memory word line |
WO2013137888A1 (en) * | 2012-03-15 | 2013-09-19 | Intel Corporation | Negative bitline write assist circuit and method for operating the same |
US9070432B2 (en) * | 2013-11-12 | 2015-06-30 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Negative bitline boost scheme for SRAM write-assist |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3810124A (en) * | 1972-06-30 | 1974-05-07 | Ibm | Memory accessing system |
DE3030654A1 (de) * | 1979-08-17 | 1981-03-26 | Hitachi Ltd | Sperrvorspannungsgenerator |
DE3035260A1 (de) * | 1979-09-19 | 1981-04-02 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Dynamischer monolithischer speicher |
EP0036245A1 (de) * | 1980-03-17 | 1981-09-23 | Tecumseh Products Company | Verfahren zum Wickeln von Spulen |
-
1982
- 1982-03-04 JP JP57035361A patent/JPS58153294A/ja active Pending
-
1983
- 1983-02-23 US US06/468,879 patent/US4513399A/en not_active Expired - Lifetime
- 1983-03-04 DE DE19833307756 patent/DE3307756A1/de active Granted
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3810124A (en) * | 1972-06-30 | 1974-05-07 | Ibm | Memory accessing system |
DE3030654A1 (de) * | 1979-08-17 | 1981-03-26 | Hitachi Ltd | Sperrvorspannungsgenerator |
DE3035260A1 (de) * | 1979-09-19 | 1981-04-02 | Hitachi, Ltd., Tokyo | Dynamischer monolithischer speicher |
EP0036245A1 (de) * | 1980-03-17 | 1981-09-23 | Tecumseh Products Company | Verfahren zum Wickeln von Spulen |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
US-Z: Electronics, 13.9.73, S. 116-121 * |
US-Z: Electronics, Sept.16, 1976,S.42+44 * |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0210454A2 (de) * | 1985-07-01 | 1987-02-04 | Nec Corporation | Speicherschaltung mit Wortzeilenrauschunterdrückungsschaltungen |
EP0210454A3 (en) * | 1985-07-01 | 1988-08-10 | Nec Corporation | Memory circuit with improved word line noise preventing circuits |
DE3635344A1 (de) * | 1985-12-10 | 1987-06-11 | Mitsubishi Electric Corp | Wortzeilen-treiberschaltung |
US4788664A (en) * | 1985-12-10 | 1988-11-29 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Word line drive circuit |
US5289432A (en) * | 1991-04-24 | 1994-02-22 | International Business Machines Corporation | Dual-port static random access memory cell |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4513399A (en) | 1985-04-23 |
JPS58153294A (ja) | 1983-09-12 |
DE3307756C2 (de) | 1988-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2525225C2 (de) | Lese-Differentialverstärker für durch elektrische Ladungen dargestellte Bits speichernde Halbleiterspeicher | |
DE2430690C3 (de) | Integrierter Halbleiterspeicher | |
DE3041176A1 (de) | Halbleiterspeichervorrichtung | |
DE2659248A1 (de) | Dynamisches speichersystem mit wahlfreiem zugriff | |
DE3424765A1 (de) | Integrierter mikrocomputer mit nichtfluechtigem ram-speicher | |
DE2740700B2 (de) | ||
DE2707456C3 (de) | ||
DE3618572A1 (de) | Halbleiterspeicherelement | |
DE69028616T2 (de) | Nichtflüchtiger Halbleiterspeicher in dem Blindzellen verwendet werden, um eine Spannung zu erzeugen, während Daten gelesen werden | |
DE3307756C2 (de) | ||
DE69121967T2 (de) | Datenbus-Klemmschaltung einer Halbleiterspeicheranordnung | |
DE2646653C3 (de) | ||
DE3329096C2 (de) | ||
DE2012090C3 (de) | Feldeffekt-Transistor-Speicher | |
DE3939849A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung mit einem geteilten leseverstaerker und verfahren zu deren betrieb | |
DE69223427T2 (de) | Leseverstärkerschaltung | |
DE4138102A1 (de) | Halbleiterspeichereinrichtung mit zwei speicherfeldern, zwischen denen eine uebertragung und entgegennahme von daten ausgefuehrt wird | |
DE3888294T2 (de) | Eingangsschaltung, die in eine Halbleiteranlage eingegliedert ist. | |
DE4234667A1 (de) | Spannungserzeugungseinrichtung zum erzeugen einer spannung mit konstantem pegel und betriebsverfahren dafuer | |
DE69521066T2 (de) | Halbleiterspeicheranordnung | |
DE69517264T2 (de) | Steuerung einer kapazitiven Last | |
DE3430734C2 (de) | ||
DE3323284C2 (de) | Verzögerungsschaltung | |
DE3529476C2 (de) | ||
DE2247553A1 (de) | Speicherzelle mit zweifacher zeitsteuerung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OR8 | Request for search as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law | ||
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) |