DE2639979A1 - Halbleiterbaueinheit - Google Patents
HalbleiterbaueinheitInfo
- Publication number
- DE2639979A1 DE2639979A1 DE19762639979 DE2639979A DE2639979A1 DE 2639979 A1 DE2639979 A1 DE 2639979A1 DE 19762639979 DE19762639979 DE 19762639979 DE 2639979 A DE2639979 A DE 2639979A DE 2639979 A1 DE2639979 A1 DE 2639979A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- base plate
- semiconductor
- components
- insulating
- arrangement
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/34—Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
- H01L23/36—Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L25/00—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
- H01L25/03—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
- H01L25/04—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
- H01L25/07—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00
- H01L25/072—Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L29/00 the devices being arranged next to each other
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)
- Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
- Led Device Packages (AREA)
- Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
Description
SEMIKRON
Gesellschaft für Gleichrichterbau und EleKtronik m.b
8500 Nürnberg, Wiesentalstraße 40 Telefon 0911 / 37781 - Telex 06 -22155
3. September 1976 PA - Bu/au K 17605
HALBLEITERBAUEINHEIT
Die Erfindung betrifft eine Halbleiterbaueinheit mit den Merkmalen
gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Derartige Halbleiterbaueinheiten sind aus dem DT-GBM 75 12 573 bekannt.
Sie zeigen einen kompakten Aufbau und ermöglichen in vorteilhafter
Weise eine Anordnung zu mehreren in gewünschter elektrischer
Verschaltung, weisen jedoch auch einige Nachteile auf. So erfordert
die Halterung der Isolierstoffscheibe und der mit Halbleiterplättchen
versehenen Kontaktbauteile zu ihrer jeweiligen Befestigung durch Löten einen unerwünschten Verfahrensaufwand. Weiter ist die
zur festen flächenhaften Auflage auf einem Kühlbauteil vorgesehene,
metallische Grundplatte nicht in gewünschtem Maße plan, weil bereits
bei ihrer Herstellung unvermeidliche mechanische Spannungen auftreten,
die aus unterschiedlicher Wärmedehnung aneinandergrenzender Materialien
resultieren. Dadurch ist der Wärmeübergang zum Kühlbauteil beeinträchtigt.
Schließlich ergeben sich infolge der Wölbung der als Gehäuseteil
dienenden Grundplatte beim Verbinden derselben mit dem Gehäuseoberteil durch Kleben unterschiedlich dicke Klebeschichten, wodurch
beim Füllen des Gehäuses mit Isoliermasse und beim Aushärten derselben
an der Klebefuge unerwünschte Spannungen entstehen, die zu
einer weiteren Wölbung der Grundplatte führen.
8 0 9810/0369
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Halbleiterbaueinheit
der eingangs erwähnten Art zu schaffen, deren Bauteile einen gegenüber der bekannten Anordnung rationelleren Zusammenbau ermöglichen,
und deren Gehäuse eine einwandfreie gegenseitige Verbindung seiner
Teile aufweist sowie einwandfreie Ableitung der Verlustwärme auf ein Kühlbauteil gewährleistet.
Die Lösung der Aufgabe besteht in den kennzeichnenden Merkmalen des
Anspruchs 1.
Anhand der in den Figuren 1 bis 4 dargestellten Ausführungsbeispiele
wird der Gegenstand der Erfindung aufgezeigt und erläutert. In Figur 1 ist eine Halbleiterbaueinheit im Schnitt dargestellt. Figur 2 zeigt
in Draufsicht die erfindungsgemäß besonders ausgebildete Grundplatte der Baueinheit, Figur 3 im Ausschnitt einen Aufbau zur lagebestimmten
Anordnung von Isolierstoffscheibe und Kontaktbauteil auf der Grundplatte, und in Figur 4 ist eine Halbleiteranordnung mit Baueinheiten
gemäß der Erfindung in Drehstrombrückenschaltung auf einem Kühlbauteil
dargestellt. Für gleiche Teile sind in allen Figuren gleiche Bezeichnungen gewählt.
Die Bauform I nach Figur 1 ist auf einer wannenförmigen Grundplatte
aus einem zur Wärmeleitung besonders geeigneten Metall, beispielsweise Kupfer oder Aluminium, oder aus einer Verbindung dieser Metalle
oder aus einer Legierung aus diesen Metallen aufgebaut. Die Kontaktbauteile 3 und 13 als Trägerkörper je eines Halbleiterbauelements
sind in gegenseitigem Abstand über eine gemeinsame, elektrisch isolierende, thermisch leitende Schicht 2, beispielsweise aus Oxidkeramik,
auf der inneren Bodenfläche der Grundplatte 1 durch Löten fest aufgebracht. Es kann auch für jedes Kontaktbauteil eine derartige
Schicht vorgesehen sein. Zur rationellen, lagebestimmten Anordnung
809810/0369
der Scheibe aus Oxidkeramik 2 auf einem vorbestimmten Flächenabschnitt
ist die Bodenfläche der Grundplatte mit Erhebungen 111 versehen, zwischen
welchen die Scheibe 2 eingelegt ist. Grundplatte 1, Scheibe 2 und Kontaktbauteile 3, 13 sind in dieser Reihenfolge gestapelt und
gegenseitig durch Löten fest verbunden. Sie weisen zu diesem Zweck jeweils einen lötfähigen metallischen Überzug auf.
Die Seitenwand la der Grundplatte 1 ist an ihrem oberen Rand durch
Bördeln an der beispielsweise abgeschrägten oder in anderer Form ausgebildeten, zugeordneten Randzone des Isolierstoffgehäuseteils 12
fest angebracht. Dazu ist das als Hohlkörper ohne Boden- und Deckplatte vorliegende Gehäuseteil 12 in seiner maximalen Ausdehnung der
lichten Weite an der inneren Bodenfläche der Grundplatte 1 entsprechend angepaßt ausgebildet, so daß es, beim Zusammenbau, durch Einstecken
innerhalb der Seitenwand la gehaltert ist. Die untere Randzone 12a des
Gehäuseteils 12 kann zur Gewährleistung der mechanischen Stabilität bei der Herstellung der Bördelverbindung mit der Grundplatte 1 verstärkt
oder beispielsweise als flanschförmiger Ansatz ausgebildet sein.
Die Erhebungen 111 auf der Bodenfläche der Grundplatte können jeweils
soweit verlaufen, daß sie gleichzeitig auch, zusammen mit der Seitenwand
la der Grundplatte, zur Halterung des Gehäuseteils 12 dienen und damit zur festen Anordnung des letzteren bei der Verbindung mit der
Grundplatte beitragen.
Die Kontaktbauteile 3, 13 können, gemäß der Darstellung in Figur 1,
aus einem plattenförmigen Abschnitt zur Auflage auf der Oxidkeramikscheibe 2, aus einem dazu im Winkel, beispielsweise senkrecht zur
Grundplatte, verlaufenden Abschnitt 3b bzw. 13b, jeweils an der Stirnseite der Baueinheit, und aus einem daran anschließenden weiteren, zur
Mitte der Baueinheit hin abgewinkelten Abschnitt 3c bzw. 13c als
• 809810/0369
-JT-
Plattform für je einen Kontaktbolzen 7 bestehen. Beide Kontaktbauteile
3, 13 weisen mit ihren vorbeschriebenen Abschnitten L-förmigen Querschnitt auf. Die Abschnitte 3b, 13b und 3c, 13c dienen jeweils als
Stromleiterteile für die der Grundplatte zugewandte Kontaktelektrode der Halbleiterplättchen 4 zum als Stromanschlußteil vorgesehenen Kontaktbolzen
7.
Die elektrische Reihenschaltung der beiden Halbleiterbauelemente ist
dadurch hergestellt, daß das Kontaktbauteil 13 des zweiten Halbleiterbauelements
13-4-6 an seinem stegförmig ausgebildeten und treppenförmig
abgewinkelten, zum ersten Halbleiterbauelement 3-4-5 gerichteten Ansatz 13a mit dem oberen Stromleiter 5 des ersten Halbleiterbauelements
fest verbunden ist.
Die Kontaktbolzen 7 sind jeweils'mit einer Gewindebohrung 27 zum
Schraubanschluß von Stromleiterteilen versehen. Die Abschnitte 3c, 13c der Kontaktbauteile liegen z.B. in der Ebene parallel zu derjenigen
der Grundplatte 1 und bilden je eine Stützfläche für eine beide verbindende Anschlußplatte 8 aus Isoliermaterial. Diese weist Lot- und/
oder Steckanschlußteile 31, 33 auf, die zur Verbindung der Anschlußleitungen
von Schalt- und Steuerbauteilen mit den Halbleiterbauelementen dienen, in ihrer Lage durch diejenige der Halbleiterbauelemente
festgelegt sind und aus der fertigen Baueinheit entsprechend herausragen.
Schließlich ist auf der Anschlußplatte 8 auch der Kontaktbolzen 9 mit dem Kontaktbügel 10 für den oberen Stromleiter 6 des zweiten Halbleiterbauelements
13-4-6 befestigt.
Die Kontaktbauteile und Anschlußteile können beliebige Form aufweisen
und beliebig angeordnet sein, da ihre Ausbildung und Anordnung nicht Gegenstand der Erfindung ist.
809810/0369
Der aufgezeigte Aufbau ist in dem aus Gehäuseteil 12 und Grundplatte
1 bestehenden, oben offenen Gehäuse untergebracht und in Gießmasse 22
soweit eingebettet, daß die Anschlußteile der Baueinheit herausragen.
In Figur 2 ist die erfindungsgemäße Grundplatte in Draufsicht auf die
innere Bodenfläche dargestellt. Sie kann gemäß dem linken Teil der
Figur streifenförmige Erhebungen 1Π aufweisen, die jeweils parallel
zur Längsachse angeordnet sind. Es können Erhebungen lila an den Längsseiten und solche (HIb) an den Schmalseiten vorgesehen sein.
Sie dienen zur Verhinderung einer Seitenbewegung der Oxidkeramikscheibe 2 bei deren Lötkontaktierung mit der Grundplatte 1 . An den Längsseiten
der Grundplatte 1 sollen die Erhebungen geringstmögliche Breite aufweisen, die Breite der Erhebungen 111b ist unkritisch. Die Höhe der
Erhebungen 111 ist gleich der oder kleiner als die Dicke der Keramikscheibe.
Um bei unterschiedlichem Potential der Grundplatte 1 und der Kontaktbauteile 3, 13 eine ausreichende Überschlagsfestigkeit zwischen
beiden Bauteilen zu gewährleisten, ragt die Oxidkeramikscheibe 2 an allen Seiten über die Kontaktbauteile 3,13 hinaus. Die Länge aller Erhebungen
111 ist unkritisch. Je eine Erhebung lila und 111b können
auch zu einer Erhebung 111c kombiniert sein, wie dies ebenfalls in Figur 2 dargestellt ist.
.Anstelle der Erhebungen 111 können stift- oder höckerförmige Ansätze
112 vorgesehen sein (rechte Hälfte der Figur), gegen welche sich Oxidkeramikscheibe
2 und Gehäuseteil 12 beim Einbringen abstützen.
Eine andere Ausführungsform der Grundplatte 1 besteht darin, daß der
zur Auflage der Oxidkeramikscheibe 2 vorgesehene Flächenabschnitt 113
vertieft ausgebildet ist. Die dadurch erzielte Verringerung der Dicke der Grundplatte 1 ergibt eine zusätzliche Verbesserung des Wärmeübergangs
zwischen den Kontaktbauteilen 3, 13 und dem an der äußeren Bodenfläche anliegenden Kühlbauteil.
80 9 810/0369
Die Grundplatte 1 kann beispielsweise durch Kaltfließpressen in der
Weise hergestellt sein, daß die an die innere Bodenfläche angrenzende Schicht aus Kupfer besteht und damit eine vorteilhafte Verbindung
mit der Oxidkeramikscheibe 2 ermöglicht, und daß die an die äußere
Bodenfläche angrenzende Schicht aus Aluminium besteht, und damit eine vorteilhafte Verbindung mit einem angrenzenden Kühlbauteil aus
Aluminium ermöglicht. Dabei ist die Dicke der Kupferteilschicht stets größer als die Tiefe der Vertiefung Π 3 zur Aufnahme der Oxidkeramikscheibe
2, und die Aluminiumteilschicht ist in einer nur durch die mechanische Festigkeit der Grundplatte 1 bestimmten, minimalen Dicke
ausgebildet.
Die Grundplatte kann auch aus einer an sich bekannten Aluminium-Magnesium-Legierung
bestehen und ist dann auf ihrer inneren Bodenfläche mit einem Überzug aus Nickel zur Erzielung einer Lötverbindung
mit der Oxidkeramikscheibe 2 versehen.
In Figur 3 ist im Ausschnitt eine weitere Ausführungsform des Gegenstandes
der Erfindung dargestellt. Anstelle von Erhebungen weist die Grundplatte 1 Bohrungen 114 auf, durchgehend oder als Vertiefungen
ausgebildet. Diese dienen zur Aufnahme von bolzenförmigen Begrenzungsteilen
115, die aus elastischem Kunststoff bestehen und mit
Haftsitz in den Bohrungen 114 angebracht sind. Die Begrenzungsteile 115 sind so bemessen, daß sie mit einem ersten herausragenden Längenabschnitt
etwa entsprechend der Dicke der Oxidkeramikscheibe 2 diese haltern und mit einem anschließenden Längenabschnitt mit größerem
Querschnitt das im Stapel folgende Kontaktbauteil justieren. Das Material der Begrenzungsteile 115 ist bei den angewandten Weichlöttemperaturen
beständig und im übrigen von solcher Elastizität, daß Formänderungen beim Stapelaufbau der Bauteile unschädlich sind. Die Begrenzungsteile
115 können nach Herstellung der Lötverbindungen im Aufbau verbleiben.
809810/0369
Mit Ausbildungen der Grundplatte 1 und mit einem Aufbau jeweils gemäß
der Erfindung ist eine besonders einfache Herstellung und ein einwandfreier Zusammenbau einer Halbleiterbaueinheit mit optimalem Betriebsverhalten
und für vielseitigen Einsatz gewährleistet.
Figur 4 zeigt ein Beispiel für die Anwendung von Halbleiterbaueinheiten
nach der Erfindung. Auf einem Kühlbauteil 20, vorzugsweise aus Strangpressmaterial und mit gewünschtem Profil, sind mithilfe
von in der Auflagefläche für die Baueinheiten angebrachten, schlitzförmigen
Aussparungen 21 drei Baueinheiten gemäß der Erfindung befestigt. Zu diesem Zweck kann das Gehäuseteil 12 der Baueinheit an
seinen Schmalseiten je eine Einbuchtung 12b senkrecht zur Grundplatte
aufweisen, und in Fortsetzung derselben ist dann in der Grundplatte 1 je eine Durchbohrung zur Durchführung von Schrauben
23 angebracht. Die Baueinheiten können jedoch auch in der Weise ausgebildet sein, daß die Grundplatte 1 an ihren Stirnseiten über das
Gehäuseteil 12 hinausragt und in dem freien Flächenabschnitt jeweils wenigstens eine Durchbohrung zur Befestigung aufweist. Weiterhin
kann die Grundplatte an allen Seiten über das Gehäuseteil hinausragen und dadurch eine Rundum-Befestigung mittels Spannflansch ermöglichen.
Aufgrund der besonderen Anordnung der Stromleiter (17) der Halbleiterbauelemente jeder Baueinheit sind in überraschend einfacher Weise
drei Baueinheiten, die insgesamt 6 Halbleiterbauelemente jeweils in
Reihenschaltung aufweisen, lediglich durch die beiden Stromschienen
22 zu einer Drehstrombrückenschaltung verbunden. Nachdem an jeder Baueinheit auch Anschlußmittel für Steuer- und Beschaltungsleitungen
vorgesehen sind oder angebracht werden können (31, 33), ist bei geeignetem
Profil des Kühlbauteils auf einer weiteren Seite desselben beispielsweise auf wenigstens einer im Kühlmittelstrom liegenden,
mithilfe von Befestigungsnuten angebrachten Schaltungsplatte 25 aus
8 0 9810/0369
Λ%
Isoliermaterial auch die zusätzliche Anbringung von Schaltungsbauteilen
(27) mit Steuer- und Beschaltungsfunktionen für die Halbleiterbaueinheiten sowie die Verbindung mit besonderen Steuersätzen
in einfacher Weise möglich, beispielsweise über an sich bekannte Lot- und/oder Steckanschlußteile 28.
Der Einsatz der erfindungsgemäßen Halbleiterbaueinheit ist nicht auf
die dargestellte Schaltung beschränkt. Die Halbleiterbaueinheiten können Halbleiterbauelemente mit zwei oder mehr Elektroden und mit
beliebiger Struktur enthalten. Es können Baueinheiten in beliebiger Anzahl auf einem gemeinsamen Kühlbauteil verschaltet oder getrennt
für Einzelschaltung angeordnet sein. Der Austausch einer Baueinheit ist in besonders einfacher Weise ohne Maßnahmen an und mit anderen
Baueinheiten möglich. Weiter sind beliebige Schaltungen mit einer oder mehreren Baueinheiten je Zweig in Reihe oder parallel auch mit
Anordnung von Beschaltungsgliedern erzielbar.
809810/0369
Leerseite
Claims (10)
- ί 1) JHalbleiterbaueinheit, bei der zwei Halbleiterbauelemente auf einer gemeinsamen metallischen Grundplatte elektrisch isoliert und thermisch leitend in elektrischer Reihenschaltung so angeordnet sind, daß je ein dem Eingang und dem Ausgang der Reihenschaltung zugeordneter sowie ein dritter, dem Verbindungsleiter zwischen den Ha IbJ eiterbauelementen zugeordneter Stromleitungsanschluß in einer Reihe und der dritte an einem Ende der Reihe angeordnet und jeder der beiden äußeren Stromleitungsanschlüsse zusammen mit dem zugeordneten Halbleiterbauelement jeweils auf einem gemeinsamen Kontaktbauteil fest aufgebracht und mit diesem über eine Isolierstoffscheibe auf der Grundplatte befestigt sindy und bei der die Halbleiterbauelemente mit ihren Kontakt- und Anschlußbauteilen in einem aus der Grundplatte und aus einem Kunststoffteil bestehenden Gehäuse untergebracht sind, d.g.daß eine wannenförmlge, an ihrer äußeren Bodenfläche plane Grundplatte (l) vorgesehen ist, die an ihrer inneren Bodenfläche Ausbildungen (111, 112, 113, 114) zur Anordnung und Halterung der Isolierscheibe (2) und Kontaktbauteile (3,13) in der für den Zusammenbau der Baueinheit bestimmten Lage aufweist,daß die der Grundplatte (1) zugewandte Randzone (12a) des Gehäuseteils (12) eine zur Verbindung mit der Grundplatte durch Bördeln geeignete Ausbildung aufweist und die Seitenwand (la) der Grundplatte (1) durch Bördeln mit der Randzone (12a) fest verbunden ist, unddaß die Grundplatte (1) aus einem Material besteht, das sowohl mit Bauteilen aus Kupfer, zum Aufbau der Baueinheit, als auch mit Bauteilen aus Leichtmetall, insbesondere zur Kühlung der Baueinheit, eine dauerhaft feste Verbindung ermöglicht. 8098 10/0369ORIQiNAL INSPECTS
- 2) Halbleiterbauemheit nach Anspruch 1, d.g.daß die Grundplatte auf einer durch die Auflage der Isolierstoff scheibe (2) bestimmten Flächenumfangslinie ihrer inneren Bodenfläche Erhebungen (111, 112) zur Halterung bei Herstellung der Lötverbindung der Isolierstoffscheibe (2) mit der Grundplatte aufweist.
- 3) Halbleiterbaueinheit nach Anspruch 2, d.g.daß die Erhebungen streifenförmig (111) oder höckerförmig (112) ausgebildet sind und eine Höhe gleich der oder kleiner als diejenige der Isolierstoffscheibe (2) aufweisen.
- 4) Halbleiterbaueinheit nach Anspruch 1, d.g.daß die Grundplatte (1) auf ihrer inneren Bodenfläche eine derjenigen der Isolierstoffscheiben (2) entsprechende Anzahl von der Ausdehnung und Dicke der Isolierstoffscheiben angepassten Vertiefungen (113) zur Aufnahme je einer Isolierstoff scheibe (2) aufweist.
- 5) Halbleiterbaueinheit nach Anspruch 1, d.g.daß die Grundplatte (l) auf einer durch die Auflage der Isolierstoffscheiben (2) bestimmten Flächenumfangsiinie ihrer inneren Bodenfläche Vertiefungen (114) zur festen An ordnung von bolzenförmigen Begrenzungsteilen (115) für die lagebestimmte Anbringung von Bauteilen aufweist, daß die Begrenzungsteile (115) aus einem elastischen Kunststoff be stehen und im Verlauf ihrer über die Grundplatte herausragenden Längenabschnitte zuerst einen kleineren Querschnitt zur lagebestimmten Anordnung der Isolierstoffscheibe (2) und dann einen größeren Querschnitt zur lagebestimmten Anordnung der geringere Flächenausdehnung aufweisenden Kontaktbauteile (3, 13) auf der Isolierstoffscheibe (2) auf-809810/0369weisen.
- 6) Halbleiterbauelemente nach Anspruch 5, d.g.daß die Begrenzungsteile (115) aus einem bei der vorgesehenen Temperatur zum Weichlöten von Grundplatte (l), Isolierstoffscheibe (2) und Kontaktbauteilen (3, 13) beständigen Material bestehen.
- 7) Halbleiterbaueinheit nach einem der Ansprüche 1 bis 5, d.g. daß die Grundplatte (1) aus einer an sich bekannten Aluminium- Magnesium-Legierung besteht und auf ihrer inneren Bodenfläche einen Überzug aus Nickel zur Erzielung einer Lötverbindung mit der metallisierten Isolierstoffscheibe (2) aufweist.
- 8) Halbleiterbaueinheit nach einem der Ansprüche 1 bis 5, d.g. daß die Grundplatte auf ihrer zur Isolierstoffscheibe (2) gerichteten Seite aus Kupfer und auf der gegenüberliegenden Seite aus Aluminium besteht, daß die Dicke der Kupferteilschicht größer ist als die Tiefe der Vertiefung (113) zur Aufnahme der Isolierstoffscheibe (2), und daß die AIuminiumteilschicht eine nur durch die mechanische Festigkeit der Grundplatte bestimmte, minimale Dicke aufweist.
- 9) Halbleiteranordnung mit Halbleiterbaueinheiten nach den Ansprüchen 1 bis 7, d.g.daß die Halbleiterbaueinheiten mit ihrer Grundplatte (l) auf einem Kühlbauteil (20) befestigt und bei einer Anordnung zu mehreren aneinandergereiht durch Stromschienen (22) zu einer gewünschten Halbleiterschaltung elektrisch verbunden sind.80981 0/0369τ Jf-
- 10) Halbleiteranordnung mit Halbleiterbaueinheiten nach Anspruch 9, d.g.daß auf wenigstens einer weiteren Seite des Kühlbauteils (20) wenigstens eine Schaltungsplatte (25) aus Isoliermaterial vorgesehen und mit Hilfe von Befestigungsnuten am Kühlbauteil (20) befestigt ist, auf welcher Schaltungsbauteile (27) mit Steuer- und Beschaltungsfunktionen für die auf dem Kühlbauteil· befestigte(n) Halbleiterbaueinheit(en) sowie an sich bekannte Lot- und/oder Steckanschlußteile (28) zur Herstellung von Schaltverbindungen zwischen Schaltungsbauteilen und Halbleiterbaueinheiten angebracht sind.809810/0369
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762639979 DE2639979C3 (de) | 1976-09-04 | 1976-09-04 | Halbleiterbaueinheit |
CH1036777A CH621435A5 (en) | 1976-09-04 | 1977-08-24 | Semiconductor module |
AT617777A AT377386B (de) | 1976-09-04 | 1977-08-25 | Halbleiterbaueinheit |
US05/829,911 US4106052A (en) | 1975-04-19 | 1977-09-01 | Semiconductor rectifier unit having a base plate with means for maintaining insulating wafers in a desired position |
JP10426877A JPS5332673A (en) | 1976-09-04 | 1977-09-01 | Semiconductor constituting units |
FR7726655A FR2363893A1 (fr) | 1976-09-04 | 1977-09-02 | Composant a semi-conducteur avec socle durablement fixable a du metal leger, notamment pour refroidissement |
GB3694077A GB1584783A (en) | 1976-09-04 | 1977-09-05 | Semiconductor assemblies |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19762639979 DE2639979C3 (de) | 1976-09-04 | 1976-09-04 | Halbleiterbaueinheit |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2639979A1 true DE2639979A1 (de) | 1978-03-09 |
DE2639979B2 DE2639979B2 (de) | 1979-08-23 |
DE2639979C3 DE2639979C3 (de) | 1980-05-14 |
Family
ID=5987203
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19762639979 Expired DE2639979C3 (de) | 1975-04-19 | 1976-09-04 | Halbleiterbaueinheit |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5332673A (de) |
AT (1) | AT377386B (de) |
CH (1) | CH621435A5 (de) |
DE (1) | DE2639979C3 (de) |
FR (1) | FR2363893A1 (de) |
GB (1) | GB1584783A (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2805019A1 (de) * | 1978-02-06 | 1979-08-09 | Siemens Ag | Spannungsversorgungsgeraet fuer werkzeugmaschinenantriebe |
EP0004293A2 (de) * | 1978-03-23 | 1979-10-03 | BROWN, BOVERI & CIE Aktiengesellschaft Mannheim | Anordnung von Scheibenthyristoren in thermischer und elektrischer Kontaktierung auf Kühlkörpern |
DE2819327A1 (de) * | 1978-05-03 | 1979-12-13 | Semikron Gleichrichterbau | Halbleiterbaueinheit |
DE2829300A1 (de) * | 1978-07-04 | 1980-01-17 | Bbc Brown Boveri & Cie | Stromrichter-geraet, bestehend aus laenglichen halbleitermoduln |
DE3143339A1 (de) * | 1981-10-31 | 1983-05-19 | SEMIKRON Gesellschaft für Gleichrichterbau u. Elektronik mbH, 8500 Nürnberg | Halbleiteranordnung |
DE3336979A1 (de) * | 1982-10-12 | 1984-04-26 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Abschalt-thyristor modul |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3005313C2 (de) * | 1980-02-13 | 1986-05-28 | SEMIKRON Gesellschaft für Gleichrichterbau u. Elektronik mbH, 8500 Nürnberg | Halbleiteranordnung |
JPS56132760U (de) * | 1980-03-06 | 1981-10-08 | ||
JPS5710959A (en) * | 1980-06-23 | 1982-01-20 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor device |
FR2503526A1 (fr) * | 1981-04-03 | 1982-10-08 | Silicium Semiconducteur Ssc | Boitier et procede de montage et d'interconnexion de composants semiconducteurs de moyenne puissance en boitier unique. |
JPS5823469A (ja) * | 1981-08-03 | 1983-02-12 | Mitsubishi Electric Corp | 複合パワ−トランジスタ |
DE3345285A1 (de) * | 1983-12-14 | 1985-06-27 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Leistungs-halbleiteranordnung |
KR900003012Y1 (ko) * | 1986-02-21 | 1990-04-10 | 아루프스 덴기 가부시끼가이샤 | Rf 모듈레이터 |
DE3837920A1 (de) * | 1988-11-09 | 1990-05-10 | Semikron Elektronik Gmbh | Halbleiterelement |
DE3915707A1 (de) * | 1989-05-13 | 1990-11-22 | Asea Brown Boveri | Kunststoffgehaeuse und leistungshalbleitermodul mit diesem gehaeuse |
DE3940933C2 (de) * | 1989-12-12 | 1996-08-01 | Eupec Gmbh & Co Kg | Verfahren zum Verformen einer Basisplatte für Halbleitermodule und Vorrichtung zum Durchführen des Verfahrens |
DE4305439C2 (de) * | 1993-02-23 | 1999-10-21 | Eldo Elektronik Service Gmbh | Umkapselung für einen elektronischen Sensor zur Feldstärkemessung |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5316672B2 (de) * | 1971-09-16 | 1978-06-02 |
-
1976
- 1976-09-04 DE DE19762639979 patent/DE2639979C3/de not_active Expired
-
1977
- 1977-08-24 CH CH1036777A patent/CH621435A5/de not_active IP Right Cessation
- 1977-08-25 AT AT617777A patent/AT377386B/de not_active IP Right Cessation
- 1977-09-01 JP JP10426877A patent/JPS5332673A/ja active Pending
- 1977-09-02 FR FR7726655A patent/FR2363893A1/fr not_active Withdrawn
- 1977-09-05 GB GB3694077A patent/GB1584783A/en not_active Expired
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2805019A1 (de) * | 1978-02-06 | 1979-08-09 | Siemens Ag | Spannungsversorgungsgeraet fuer werkzeugmaschinenantriebe |
EP0004293A2 (de) * | 1978-03-23 | 1979-10-03 | BROWN, BOVERI & CIE Aktiengesellschaft Mannheim | Anordnung von Scheibenthyristoren in thermischer und elektrischer Kontaktierung auf Kühlkörpern |
EP0004293A3 (en) * | 1978-03-23 | 1979-10-17 | Brown, Boveri & Cie Aktiengesellschaft Mannheim | Array of disc-type thyristors in thermal and electrical contact on cooling bodies |
DE2819327A1 (de) * | 1978-05-03 | 1979-12-13 | Semikron Gleichrichterbau | Halbleiterbaueinheit |
DE2829300A1 (de) * | 1978-07-04 | 1980-01-17 | Bbc Brown Boveri & Cie | Stromrichter-geraet, bestehend aus laenglichen halbleitermoduln |
DE3143339A1 (de) * | 1981-10-31 | 1983-05-19 | SEMIKRON Gesellschaft für Gleichrichterbau u. Elektronik mbH, 8500 Nürnberg | Halbleiteranordnung |
DE3336979A1 (de) * | 1982-10-12 | 1984-04-26 | Mitsubishi Denki K.K., Tokio/Tokyo | Abschalt-thyristor modul |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2639979B2 (de) | 1979-08-23 |
ATA617777A (de) | 1984-07-15 |
CH621435A5 (en) | 1981-01-30 |
GB1584783A (en) | 1981-02-18 |
DE2639979C3 (de) | 1980-05-14 |
JPS5332673A (en) | 1978-03-28 |
FR2363893A1 (fr) | 1978-03-31 |
AT377386B (de) | 1985-03-11 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2639979A1 (de) | Halbleiterbaueinheit | |
EP0920055B1 (de) | Kühlvorrichtung für ein auf einer Leiterplatte angeordnetes, wärmeerzeugendes Bauelement | |
DE102012213573B3 (de) | Halbleitermodulanordnung und verfahren zur herstellung und zum betrieb einer halbleitermodulanordnung | |
DE3643288C2 (de) | ||
DE1937664C3 (de) | Halbleiterbauelement | |
DE7512573U (de) | Halbleitergleichrichteranordnung | |
DE4218112B4 (de) | Elektrisches Gerät, insbesondere Schalt- und Steuergerät für Kraftfahrzeuge | |
DE2819327C2 (de) | Halbleiterbaueinheit | |
DE2314247A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE1815989A1 (de) | Halbleiter-Anordnung | |
DE4004737A1 (de) | Elektronische baueinheit mit elektrisch isolierter waermeableitung | |
DE2938712A1 (de) | Bedruckte schaltungsplatte | |
DE4335946A1 (de) | Anordnung bestehend aus einer Leiterplatte | |
DE2638909A1 (de) | Halbleiteranordnung | |
DE10103084B4 (de) | Halbleitermodul und Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE10217214B4 (de) | Kühlanordnung für eine Schaltungsanordnung | |
DE3147789A1 (de) | Leistungsmodul und verfahren zu seiner herstellung | |
DE9200624U1 (de) | Elektrisches Gerät, insbesondere Schalt- und Steuergerät für Kraftfahrzeuge | |
DE19731858A1 (de) | Kontaktstecker mit einer Mehrzahl von Kontaktelementen | |
DE9319473U1 (de) | Hybridschaltungsanordnung | |
DE3837618A1 (de) | Elektrische oder elektronische anordnung | |
DE2363725C3 (de) | Halbleitergleichrichteranordnung | |
EP0224483A1 (de) | Schaltungshybrid für elektronische schaltungen. | |
EP0368133A2 (de) | Trägerkörper zur elektrisch isolierten Anordnung von Bauteilen | |
DE2038070C3 (de) | Halbleiter-Hochspannungsgleichrichter |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OAM | Search report available | ||
OAP | Request for examination filed | ||
OC | Search report available | ||
OD | Request for examination | ||
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |