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DE19643287A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten - Google Patents

Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten

Info

Publication number
DE19643287A1
DE19643287A1 DE19643287A DE19643287A DE19643287A1 DE 19643287 A1 DE19643287 A1 DE 19643287A1 DE 19643287 A DE19643287 A DE 19643287A DE 19643287 A DE19643287 A DE 19643287A DE 19643287 A1 DE19643287 A1 DE 19643287A1
Authority
DE
Germany
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frequency
receiver
measurement
radiation
measuring
Prior art date
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Withdrawn
Application number
DE19643287A
Other languages
English (en)
Inventor
Kurt Giger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Geosystems AG
Original Assignee
Leica AG Switzerland
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Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=7809267&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE19643287(A1) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Leica AG Switzerland filed Critical Leica AG Switzerland
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/497Means for monitoring or calibrating

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  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
  • Radar Systems Or Details Thereof (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten entsprechend den Merkmalen im Oberbegriff der Ansprüche 1 und 2.
Entfernungsmeßgeräte der genannten Art sind als Handmeßgeräte im Handel. Ihr Entfernungsmeßbereich beträgt einige 10 m und sie werden hauptsächlich in der Bauvermessung, z. B. zum 3-dimensionalen Vermessen von Räumen eingesetzt. Der Sender emittiert eine intensitätsmodulierte Strahlung. Meist werden Wellenlängen im sichtbaren Bereich verwendet, was die Anzielung der Meßpunkte erleichtert. Die Strahlung wird vom Meßobjekt reflektiert bzw. gestreut und vom Empfänger aufgenommen. Aufgrund der Phasenlage der modulierten Strahlung gegenüber dem Sender ergibt sich die Entfernung zum Meßobjekt.
Es ist bekannt, daß die Meßgenauigkeit dieser Entfernungsmeßgeräte stark von Umwelteinflüssen und gerätebedingten Einflüssen bestimmt wird. Beispielsweise wirken sich wechselnde Umgebungstemperaturen, der große Dynamikbereich der Reflexion des beleuchteten Meßobjekts, aber insbesondere eine bauteilbedingte Temperaturdrift der Elektronik auf die Entfernungsmessung aus. Um diese Einflüsse zu verringern wird eine geräteinterne Referenzstrecke bekannter Länge zur Kalibrierung verwendet.
Aus der DE 40 02 358 C1 ist ein Abstandsmeßgerät bekannt, das eine Sendeeinrichtung mit zwei elektronisch komplementär schaltbaren Laserdioden enthält. Die eine Laserdiode schickt ihre Lichtwellenzüge auf die Meßstrecke, die andere auf die Referenzstrecke. Beide Lichtwellenzüge werden vom gleichen Fotoempfänger abwechselnd empfangen.
In der CH 589 856 A5 wird eine elektrooptische Distanzmeßeinrichtung beschrieben, die ebenfalls nach dem Phasenmeßprinzip arbeitet. Die von einer LED emittierte modulierte Strahlung wird an einem ersten Strahlenteiler aufgeteilt und auf einen Meßweg und auf einen Kurzweg geschickt. Im Strahlengang des Kurzweges befindet sich ein weiterer Strahlenteiler, der einen Teil dieser Strahlung auf einen Referenzempfänger führt. Der andere Teil dieser auf dem Kurzweg befindlichen Strahlung wird mit Hilfe einer steuerbaren Blende wechselweise mit der über den Meßweg kommenden Strahlung auf einen Meßempfänger gerichtet, so daß dieser abwechselnd ein Kalibrier- und Meßsignal empfängt. Diese beiden Signale werden jeweils gegen das im Referenzempfänger erzeugte Bezugssignal gemessen, wodurch die gegenseitige Beeinflussung von Sende- und Empfangselektronik vermindert und eine Entkopplung erreicht wird.
In der DE 43 16 348 A1 wird eine Vorrichtung zur Distanzmessung beschrieben, bei der mit Hilfe einer schaltbaren Strahlenumlenkeinrichtung eine interne Referenzstrecke erzeugt wird. Dabei wird die Strahlenumlenkeinrichtung um eine Achse motorisch in den Meßlichtstrahlengang eingeschwenkt, wo sie das Meßlichtjetzt als Referenzlicht zur Kalibrierung auf die Empfangseinrichtung lenkt. Durch die mechanische Umschaltung der Strahlenumlenkeinrichtung gelangen somit Referenzlicht und Meßlicht abwechselnd auf die Empfangs­ einrichtung. Diese Umschaltung kann während eines Entfernungsmeß­ vorganges mehrmals erfolgen.
In den genannten Schriften zum Stand der Technik wird die aufgewendete Meßzeit aufgrund der zeitlich nacheinander erfolgenden Messung von Meß- und Referenzstrahlung für die Entfernungsbestimmung nicht optimal ausgenutzt. Dies gilt sowohl für die Distanzmeßgeräte mit einer mechanischen Umschaltvorrichtung als auch für die mit einer komplementären elektronischen Umschaltung zweier Senderdioden. So ist während des Empfangs der Meßstrahlung eine Detektion der Referenzstrahlung durch den Meßempfänger nicht möglich und umgekehrt.
Weiterhin verändern sich während der Meßzeit, also auch noch während der einzelnen Zeitbereiche der Detektion von Meß- und Referenzstrahlung, die Driftzustände der elektronischen Bauteile. Alle elektronischen Bauteile und Leitungen bewirken im Signalpfad eines optischen Entfernungsmeßgerätes Signalverzögerungen. Diese sind nicht nur statischer Natur sondern sie ändern sich auch zeitlich, insbesondere aufgrund der Temperatur der elektronischen Bauteile. Neben Temperaturänderungen der Umgebung ist hauptsächlich die Eigenerwärmung der Elektronik, hier vor allem der Senderelektronik, für die Drift der Signale verantwortlich. Ein Phasenmesser registriert diese Signalverzögerungen als Phasenverschiebungen, die zusätzlich zu der eigentlich zu bestimmenden entfernungsabhängigen Phasenverschiebung hinzukommen.
Besonders ausgeprägt ist dieser Effekt direkt nach dem Einschalten des Entfernungsmeßgerätes, da in diesem Zustand die Temperaturänderungen der elektronischen Bauteile durch ihre Eigenerwärmung am größten sind. Dadurch kommt es zu besonders großen Signalverzögerungen, die eine Phasenverschiebung der Signale und somit Fehler in der Entfernungsmessung bewirken. Aber gerade für batteriebetriebene Handmeßgeräte besteht die Forderung, daß sofort nach Einschalten des Gerätes mit der spezifizierten Genauigkeit gemessen werden soll. Durch mehrmaliges Umschalten zwischen Meß- und Referenzstrahlung während einer Messung wird die thermische Drift der Elektronik zu einem Teil kompensiert. Eine hohe Meßgenauigkeit bei kurzen Meßzeiten unmittelbar nach dem Einschalten des Geräts wird dabei allerdings nicht erreicht.
Zudem sind die Geräte so eingerichtet, daß sich am Ende einer Entfernungsmessung nach einer kurzen Wartezeit zumindest die Hochfrequenzelektronik des Senders automatisch abschaltet, da diese besonders viel elektrische Energie verbraucht. Durch die automatische Abschaltung wird der Akkumulator des Handmeßgerätes geschont. Bei einer erneuten Meßanforderung schaltet sich das Gerät dann automatisch wieder ein, wobei sich die damit verbundenen thermischen Driftprobleme, wie oben geschildert, wiederholen.
Einen weiteren Anteil zur Meßungenauigkeit liefert auch die üblicherweise als Meßempfänger eingesetzte Avalanche-Fotodiode. Diese besitzt zwar den Vorteil einer hohen Verstärkung, dafür muß aber eine hohe, von der Temperatur der Diode abhängige Arbeitsspannung in Kauf genommen werden. Da jedoch die Arbeitsspannung in Abhängigkeit von der Diodentemperatur nachgeregelt werden muß, verändert sich zwangsläufig auch die Phasenlage des Empfangssignals und damit der Meßwert der Entfernung.
Schließlich ergeben sich bei mechanischen Mehrfachumschaltungen während eines Meßvorganges hohe mechanische Beanspruchungen und somit eine hohe Abnutzung der bewegten Teile. Entsprechend aufwendige Konstruktionen bedeuten andererseits wiederum hohe Herstellkosten und meistens ein großes Gewicht und Volumen.
Es ist die Aufgabe der Erfindung, bei der optoelektronischen Entfernungsmessung ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Kalibrierung anzugeben, mit denen hohe Entfernungsmeßgenauigkeiten bei kurzen Meßzeiten und insbesondere unmittelbar nach Einschalten des Geräts erzielt werden, die Zuverlässigkeit des Geräts erhöht wird und mit denen eine einfache und kompakte Konstruktion mit niedrigen Herstellkosten ermöglicht wird.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im Kennzeichen des Anspruchs 1 (Verfahren) und des Anspruchs 2 (Vorrichtung) angegebenen Merkmale gelöst.
Erfindungsgemäß wird aus dem Senderstrahlengang des Entfernungsmeßgeräts permanent ein Teil der hochfrequent modulierten Senderstrahlung ausgekoppelt und über eine als Kalibrierstrecke dienende interne Referenzstrecke einem Referenzempfänger, z. B. einer PIN-Diode, zugeführt. Diese ist mit einem Frequenzmischer verbunden. Dieser Frequenzmischer wiederum ist direkt mit der als Meßempfänger der Meßstrahlung eingesetzten Avalanche-Fotodiode verbunden. In diese Verbindung wird ein hochfrequentes elektrisches Signal, das als Mischerfrequenz bezeichnet werden soll, eingekoppelt. Diese Mischerfrequenz wird somit einerseits über den Frequenzmischer mit dem hochfrequenten Modulationssignal der von dem Referenzempfänger empfangenen Referenzstrahlung gemischt, wodurch ein niederfrequentes Kalibriersignal entsteht. Andererseits wird die Mischerfrequenz mit dem hochfrequenten Modulationssignal der von der Avalanche-Fotodiode empfangenen Meßstrahlung gemischt, wodurch ein niederfrequentes Meßsignal entsteht. Die Avalanche-Fotodiode stellt dabei einen sogenannten Direktmischer dar. Das niederfrequente Kalibrier- und das niederfrequente Meßsignal werden der Phasenmessung zugeführt. Dabei können zwei separate Phasenmesser zur gleichzeitigen Phasenmessung eingesetzt werden. Die Phasenmessung ist aber auch mit nur einem Phasenmesser durch sukzessives Messen möglich.
Entscheidend ist, daß durch die Verbindung zwischen dem dem Referenzempfänger zugeordneten Frequenzmischer und der Avalanche-Foto­ diode sich die Signalverzögerungen, die sich aufgrund der variierenden Arbeitsspannung der Avalanche-Fotodiode ergeben, gleichermaßen auf das niederfrequente Kalibrier- und Meßsignal auswirken. Damit wird exakt dieselbe Phasenverschiebung bei dem niederfrequenten Kalibrier- und Meßsignal hervorgerufen und tritt deshalb bei der Phasenmessung mit Subtraktion der Meß- und Kalibrierphase nicht mehr auf.
Im Detail weisen Avalanche-Fotodioden gegenüber anderen Fotodioden eine etwa 100fach höhere Verstärkung und somit eine entsprechend hohe Empfindlichkeit auf. Sie benötigen dafür im Betrieb eine sehr viel höhere und temperaturabhängige Arbeitsspannung. Deswegen müssen Avalanche-Foto­ dioden mit variabler, von der Temperatur abhängigen Vorspannung betrieben werden. Dies hat zur Folge, daß sich die Kapazität einer Avalanche-Foto­ diode mit der variierenden Vorspannung verändert, wodurch unerwünschte Phasenverschiebungen hervorgerufen werden. Diese Phasenverschiebungen sind jedoch sowohl für das von der Avalanche-Fotodiode gelieferte niederfrequente Meßsignal als auch für das niederfrequente Kalibriersignal wegen der Verbindung zwischen Frequenzmischer und Avalanche-Fotodiode gleich groß. Somit ist die temperaturabhängig variierende Vorspannung der Avalanche-Fotodiode als Fehlerquelle für den aus der Phasenmessung ermittelten Entfernungswert eliminiert.
Ebenso werden auch die Temperaturdriften des Senders, insbesondere der Senderdiode und der zugehörigen Treiberelektronik kurz nach dem Einschalten des Geräts durch den erfindungsgemäßen Kalibriervorgang kompensiert. Die Detektion von Meß- und Referenzstrahlung erfolgt zeitgleich, indem ständig ein Teil der Senderstrahlung des Referenzempfängers zugeführt wird. Diese Zuführung kann beispielsweise durch Auskoppeln der Referenzstrahlung mittels eines teildurchlässigen Spiegels aus dem Senderstrahlengang erfolgen. Die ausgekoppelte Strahlung gelangt über die Referenzstrecke auf den Referenzdetektor. Dabei kann auch immer eine ausreichende Intensität der zum Meßobjekt führenden Meßstrahlung gewährleistet werden, da mit Hilfe der heutigen leistungsstarken Halbleiterlaser als Sender die Stärke ihrer Strahlungsemission entsprechend geregelt werden kann.
Dadurch, daß Referenz- und Meßstrahlung nicht zeitlich hintereinander sondern zeitgleich empfangen werden und ihre gegenseitige Phasenlage gemessen wird, kalibriert sich eine Drift des Senders bei der Differenzbildung der Phasen heraus.
Insgesamt wird durch diese opto-elektronische Kalibrierung die Genauigkeit der Entfernungsmessung erhöht, und zwar unter den Anforderungen, daß nur kurze Meßzeiten zugelassen sind und daß sofort nach Einschalten des Geräts die erhöhte Meßgenauigkeit erreicht wird. Außerdem werden im Vergleich zu den herkömmlichen sukzessiven Meßmethoden die Meßzeiten auf etwa auf die Hälfte verkürzt, da Umschaltvorgänge entfallen. Auch die Gerätezuverlässigkeit wird durch die Erfindung verbessert, da keine mechanisch beweglichen Bauteile notwendig sind. Darüber hinaus wirkt sich der Wegfall der mechanischen Umschaltvorrichtung durch geringeres Gewicht und Volumen für ein Handmeßgerät positiv aus. Ebenso sind auch die damit verbundenen niedrigeren Herstellkosten von Vorteil. Schließlich ist mit den kurzen Meßzeiten eine deutlich größere Anzahl von Messungen bei einer vorgegebenen Akkumulatorladung möglich.
Im folgenden werden Ausführungsbeispiele der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine schematische Darstellung des Erfindungsgegenstandes und
Fig. 2 eine Kombination des Erfindungsgegenstandes mit einer herkömmlichen mechanischen Umschaltung.
In Fig. 1 ist schematisch ein erfindungsgemäßes Entfernungsmeßgerät dargestellt. Die vom Sender 1 emittierte und von einer Kollimationsoptik 10 kollimierte optische Strahlung wird durch einen Strahlenteiler 11 in ein Meßstrahlenbündel und in eine Referenzstrahlenbündel aufgeteilt. Die Meßstrahlung gelangt zu einem Meßobjekt, dessen Entfernung bestimmt werden soll. Die vom Meßobjekt reflektierte oder gestreute Strahlung wird in üblicher Weise über eine Empfangsoptik 15 auf einen Meßempfänger 2 geleitet.
Die Referenzstrahlung wird nach Durchlaufen eines Referenzweges 14, der über den Strahlenteiler 11, einen Umlenkspiegel 12 und eine Optik 13 führt, von einem Referenzempfänger 3 empfangen. Der Referenzweg 14 stellt die optische Kalibrierstrecke des Entfernungsmeßgerätes dar. Selbstverständlich kann der Referenzweg 14 je nach Platzverhältnissen im Gerät auch anders gestaltet und beispielsweise der Referenzempfänger 3 direkt dem Strahlenteiler 11 nachgeordnet werden. Als Referenzempfänger 3 wird vorzugsweise eine PIN-Diode eingesetzt. Die elektrischen Signale des Referenzempfängers 3 werden an einen Frequenzmischer 4 weitergeleitet. Wird statt der PIN-Diode als Referenzempfänger 3 eine Avalanche-Fotodiode eingesetzt und diese als Direktmischer betrieben, so ersetzt sie zugleich den Frequenzmischer 4.
Dem Sender 1 wird eine hochfrequente Modulationsfrequenz aufgeprägt, mit der die emittierte Strahlung intensitätsmoduliert wird. Mit einer ähnlich großen Frequenz als Mischerfrequenz werden gleichzeitig über eine elektrische Verbindungsleitung 5 der Meßempfänger 2 und der Frequenzmischer 4 versorgt. Dabei wird als Meßempfänger 2 eine Avalanche-Fotodiode eingesetzt, die als Direktmischer betrieben wird und die über einen Vorwiderstand 6 an einer variablen Vorspannung Uv liegt.
Die Mischung der vom Meßempfänger 2 empfangenen Meßsignale mit den Signalen der Mischerfrequenz führt zu einem niederfrequenten Signal NF-MESS. Die bei der Mischung - oder mathematisch gesehen einer Multiplikation - der Signale ebenfalls entstehenden hochfrequenten Signalanteile werden mit üblichen Filtern ausgefiltert. Zugleich werden die Signale der Mischerfrequenz auch mit den von dem Referenzempfänger 3 empfangenen Referenzsignalen im Frequenzmischer 4 gemischt und führen zu einem niederfrequenten Signal NF-CAL. Die gegenseitige Phasenlage von NF-MESS und NF-CAL wird mit Hilfe je eines Phasenmessers gleichzeitig gemessen. Es wird die Phasendifferenz dieser niederfrequenten Signale gebildet, woraus sich die Entfernung zum Meßobjekt ergibt.
Erfindungsgemäß sind der Meßempfänger 2 und Mischer 4 über die Verbindungsleitung 5, die mit der hochfrequenten Mischerfrequenz beaufschlagt wird, elektrisch miteinander verbunden. Dies hat den entscheidenden Vorteil, daß die vom Meßempfänger 2 erzeugten unerwünschten Phasenverschiebungen, die unvermeidbar aufgrund der temperaturabhängigen Spannungsnachführung der Vorspannung Uv entstehen, gleichzeitig und in gleichem Ausmaß die Signale NF-MESS und NF-CAL beeinflussen. Dadurch werden bei der Differenzbildung dieser beiden Signale die unerwünschten Phasenverschiebungen durch den Meßempfänger 2 vollständig ausgeglichen. Somit wird letztlich mit Hilfe der Verbindungsleitung 5 gemäß der Schaltungsanordnung in Fig. 1 eine sehr genaue Kalibrierung für die Entfernungsmessung ermöglicht.
Darüber hinaus werden zugleich auch die Driften des Senders 1 und seiner Treiberelektronik aufgrund des zeitgleichen Empfangs der Referenz- und Meßstrahlung während der laufenden Entfernungsmessung kompensiert. Somit ist die Phasendifferenz von Referenz- und Meßstrahlung unabhängig von der Drift des Senders 1. Die Phasendifferenz enthält im wesentlichen nur noch die Entfernungsinformation.
Mit dieser opto-elektronischen Kalibrierung erhöht sich die Entfernungsmeßgenauigkeit des Geräts bei kurzen Meßzeiten und kurz nach Einschalten des Geräts im Vergleich zu der Kalibrierung mit mechanischer Umschaltung deutlich. Zudem sind Gewicht und Kosten verringert, die Zuverlässigkeit des Geräts erhöht und eine größere Anzahl von Messungen mit nur einer Akkuladung möglich.
Für den Sender 1 ist gemäß Fig. 1 eine Laserdiode mit einer nach vorn gerichteten Strahlungsemission eingesetzt. Statt dessen können auch kommerziell erhältliche Laserdioden verwendet werden, die ihre Strahlung zugleich in zwei entgegengesetzte Richtungen emittieren. Dabei läßt sich die nach vorn gerichtete Strahlung als Meßstrahlung und die rückwärts gerichtete Strahlung als Referenzstrahlung nutzen. Die Referenzstrahlung kann direkt auf den Referenzempfänger 3 gerichtet werden. Somit braucht in diesem Fall die Referenzstrahlung nicht aus dem Meßstrahlengang ausgekoppelt werden und es erübrigen sich der Strahlenteiler 11 und gegebenenfalls auch der Umlenkspiegel 12.
Weiterhin sind auch Laserdioden erhältlich, in denen zusätzlich eine Empfangsdiode integriert ist, die die rückwärts emittierte Laserstrahlung empfangen kann. Diese Empfangsdiode dient normalerweise zur Regelung der Laserlichtleistung. Sie kann aber für den erfindungsgemäßen Zweck auch den Referenzempfänger 3 darstellen. Damit wird in einem einzigen elektronischen Baustein die Strahlungserzeugung und die Detektion der Referenzstrahlung realisiert. Bei dieser platzsparenden und kostengünstigen Variante müssen allerdings die Leistungsgrenzen der integrierten Empfangsdiode berücksichtigt werden.
Eine weitere Schaltungsvariante betrifft den Frequenzmischer 4. Üblicherweise werden die für den Sender 1 benötigte Modulationsfrequenz und die für den Meßempfänger 2 und den Frequenzmischer 4 benötigte Mischerfrequenz durch einen fest eingestellten und einen steuerbaren Quarzoszillator und mit Hilfe eines Frequenzmischers erzeugt. Dieser Frequenzmischer kann identisch sein mit dem Frequenzmischer 4. In einem solchen Fall regeln die Phasenmesser automatisch stets die Differenz aus der Phase der Modulationsfrequenz und der Phase der Mischerfrequenz auf einen konstanten Wert. Wird dieser Wert durch eine Kalibrierung bei der Gerätefertigung ermittelt und im Gerät abgespeichert, so kann einer der beiden Phasenmesser entfallen. Somit kann die kontinuierliche, zeitgleiche opto-elektronische Kalibrierung während der Distanzmessung sogar mit nur einem Phasenmesser durchgeführt werden.
Weiterhin kann für eine weitere Ausgestaltungsvariante eine zusätzliche LED eingesetzt werden, mit deren Hilfe zu Beginn einer jeden Entfernungsmessung der Meßempfänger 2 mit einer bekannten Lichtintensität beleuchtet wird. Damit kann der Arbeitspunkt des Meßempfängers 2 eingestellt werden, d. h. es wird die Vorspannung Uv der als Meßempfänger 2 dienenden Avalanche-Fotodiode eingeregelt. Dazu wird mit den im Entfernungsmeßgerät bereits vorhandenen und erfindungsgemäßen Mitteln die zusätzliche LED niederfrequent moduliert, um vom Hintergrundlichtpegel unabhängig zu sein, die modulierte Lichtemission vom Meßempfänger 2 gemessen und damit die Vorspannung Uv eingeregelt. Dieser Vorgang läuft innerhalb weniger Millisekunden ab, wodurch die gesamte Meßzeit nur unerheblich beeinflußt wird. Vorteilhafterweise liefert diese anfängliche Einregelung der Vorspannung Uv auf ihren Arbeitspunkt bei jeder Entfernungsmessung einen zusätzlichen Beitrag zur Verbesserung der Meßgenauigkeit. Darüber hinaus kann sogar die sonst grundsätzliche Bestimmung des spezifischen Temperaturkoeffizienten einer jeden Avalanche-Fotodiode entfallen.
Schließlich kann der Erfindungsgegenstand auch mit einem aus dem Stand der Technik bekannten Entfernungsmeßgerät kombiniert und verbunden werden. Fig. 2 zeigt schematisch eine solche Kombination der erfindungsgemäßen opto­ elektronischen Kalibrierung mit einer herkömmlichen Kalibrierung mit Strahlumschaltung. Dabei kann die Meßstrahlung mit Hilfe der Strahlumschaltvorrichtung 20a, 20b über einen Strahlenteiler 12' und einen Spiegel 21 direkt auf den Meßempfänger 2 gelangen. Die Strahlumschaltvorrichtung 20a, 20b kann wie in Fig. 2 dargestellt mechanisch ausgeführt sein. Natürlich ist auch eine elektro-optische Ausführung möglich, z. B. mit Hilfe von Kerrzellen. Mit Hilfe der Strahlumschaltvorrichtung 20a, 20b wird somit alternierendem Kalibrier- und Meßsignal vom Meßempfänger 2 erzeugt, wobei beide Signale von den bereits beschriebenen Vorteilen der Verbindung 5 profitieren, und zugleich liegt auch das opto-elektronische Kalibriersignal des Referenzempfängers 3 vor. Insgesamt wird durch diese zweifache Kalibrierung die Meßgenauigkeit noch weiter gesteigert und übertrifft die Meßgenauigkeiten der Meßgeräte mit jeweils der einzelnen Kalibrierart. Für die Kombination und Verbindung der beiden Kalibrierarten müssen dann allerdings wieder lange Meßzeiten und ein aufwendigeres Meßinstrument in Kauf genommen werden.

Claims (8)

1. Verfahren zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten mit einem Sender (1), der eine hochfrequent modulierte optische Strahlung emittiert und ein Meßobjekt beleuchtet, und mit einem Meßempfänger (2) und einem Referenzempfänger (3), wobei die Entfernungsmessung nach dem Phasenmeßprinzip erfolgt, dadurch gekennzeichnet, daß stets ein Teil der vom Sender (1) emittierten Strahlung zur Kalibrierung verwendet wird und eine interne Referenzstrecke (14) als Kalibrierstrecke durchläuft, sodann im Referenzempfänger (3) nachgewiesen wird und gleichzeitig mit der vom Meßobjekt reflektierten und im Meßempfänger (2) detektierten Strahlung zur Entfernungsbestimmung ausgewertet wird, und daß als Meßempfänger (2) eine Avalanche-Fotodiode verwendet wird, deren Vorspannung Uv mit einer hochfrequenten Mischerfrequenz überlagert wird, die zugleich auch auf einen mit dem Referenzempfänger (3) verbundenen Frequenzmischer (4) gegeben wird, und daß die gegenseitige Phasenlage des im Frequenzmischer (4) erzeugten niederfrequenten Kalibriersignals (NF-CAL) und des in der Avalanche-Fotodiode erzeugten niederfrequenten Meßsignals (NF-MESS) bestimmt wird.
2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1 mit einem Sender (1), der eine hochfrequent modulierte optische Strahlung emittiert und ein Meßobjekt beleuchtet, einem Meßempfänger (2), der die vom Meßobjekt reflektierte Strahlung detektiert, und einem Referenzempfänger (3), gekennzeichnet durch eine interne Referenzstrecke (14), die als Kalibrierstrecke dient und über die stets ein Teil der vom Sender (1) emittierten Strahlung auf den Referenzempfänger (3) gelenkt wird, und durch eine Verbindung (5) zwischen einem die elektrischen Signale des Referenzempfängers (3) empfangenden Frequenzmischer (4) und einer als Meßempfänger (2) dienende Avalanche-Fotodiode, wobei in die Verbindung (5) eine hochfrequente Mischerfrequenz eingespeist wird.
3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Referenz­ empfänger (3) eine PIN-Fotodiode eingesetzt ist.
4. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Referenzempfänger (3) im Sender (1) integriert ist.
5. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß als Referenz­ empfänger (3) eine als Direktmischer betriebene Avalanche-Fotodiode eingesetzt ist, wodurch der Frequenzmischer (4) ersetzt ist.
6. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Frequenzmischer (4) zugleich auch als Mischer zur Erzeugung der Mischerfrequenz und der Modulationsfrequenz des Senders (1) vorgesehen ist.
7. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 6, dadurch gekennzeichnet, daß zur Arbeitspunktermittlung des Meßempfängers (2) eine separate, niederfrequent modulierte LED vorgesehen ist, die zu Beginn einer jeden Entfernungsmessung den Meßempfänger (2) mit einer bekannten Lichtintensität für eine sehr kurze Zeit beleuchtet.
8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 2 bis 7, dadurch gekennzeichnet, daß eine Strahlumschaltvorrichtungen (20a, 20b) vorgesehen ist, die so eingestellt werden kann, daß die Strahlung des Senders (1) statt zum Meßobjekt direkt auf den Meßempfänger (2) gelangt.
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JP51894498A JP3161738B2 (ja) 1996-10-21 1997-10-17 距離測定器械の校正のための装置
AU48678/97A AU719134B2 (en) 1996-10-21 1997-10-17 Device for calibrating distance-measuring apparatuses
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DE59702217T DE59702217D1 (de) 1996-10-21 1997-10-17 Vorrichtung zur kalibrierung von entfernungsmessgeräten
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US09/284,473 US6463393B1 (en) 1996-10-21 1997-10-17 Device for calibrating distance-measuring apparatus
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WO (1) WO1998018019A1 (de)

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10006493A1 (de) * 2000-02-14 2001-08-30 Hilti Ag Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung
EP1158264A2 (de) * 2000-05-25 2001-11-28 Diehl Munitionssysteme GmbH & Co. KG Verfahren zum Abgleich eines optronischen Zündsystems
DE10025834A1 (de) * 2000-05-25 2001-12-06 Hilti Ag Einrichtung und Verfahren zur Erzeugung von Hochspannung aus einer Niedervolt-Versorgungsquelle
WO2002016964A1 (de) * 2000-08-25 2002-02-28 Kurt Giger Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung
WO2002027352A1 (de) * 2000-09-27 2002-04-04 Kurt Giger Vorrichtung und verfahren zur signalerfassung bei einem entfernungsmessgerät
EP1195617A1 (de) * 2000-10-06 2002-04-10 Kurt Giger Entfernungsmessgerät
US6373559B1 (en) 1999-01-23 2002-04-16 Carl-Zeiss-Stiftung Optoelectronic mixer
WO2002044754A1 (de) * 2000-11-30 2002-06-06 Kurt Giger Verfahren und vorrichtung zur frequenzsynthese in einem entfernungsmessgerat
DE10114782A1 (de) * 2001-03-26 2002-10-31 Sick Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Entfernungsmesswerten
DE10112834C1 (de) * 2001-03-16 2002-11-28 Hilti Ag Einrichtung zur direkten Signalmischung eines modulierten Lichtempfangssignals mit einer hochfrequenten Wechselspannung
DE10112833C1 (de) * 2001-03-16 2003-03-13 Hilti Ag Verfahren und Einrichtung zur elektrooptischen Distanzmessung
EP1106963A3 (de) * 1999-12-07 2003-08-06 Kabushiki Kaisha TOPCON Abstandsmessgerät und Verfahren zur Regelung der Photodetektoreinheit
WO2004018968A1 (de) * 2002-08-03 2004-03-04 Robert Bosch Gmbh Verfahren und vorrichtung zur optischen distanzmessung
DE10350489A1 (de) * 2003-10-29 2005-06-02 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Sensor
DE10065353B4 (de) * 2000-07-31 2006-04-13 Hilti Ag Lokaloszillator zur Erzeugung eines HF-Signals zur Direktmischung mittels Avalanche-Fotodioden
DE10051302C5 (de) * 2000-10-13 2007-12-27 Jenoptik Ag Laserentfernungsmessgerät für den Nah- und Fernbereich mit speziellem Empfänger
DE102006047333B3 (de) * 2006-10-06 2008-04-03 Sick Ag Anordnung mit einem optoelektronischen Entfernungsmessgerät
DE102009045323A1 (de) * 2009-10-05 2011-04-07 Robert Bosch Gmbh Optisches Entfernungsmessgerät mit Kalibrierungseinrichtung
EP2458325A2 (de) 2010-11-30 2012-05-30 HILTI Aktiengesellschaft Distanzmessgerät und Vermessungssystem
DE10394168B4 (de) * 2002-12-18 2013-12-05 Conti Temic Microelectronic Gmbh Verfahren zur Kalibrierung von 3D-Bildaufnehmern
CN108732578A (zh) * 2016-03-14 2018-11-02 查尔斯·朱 测距仪系统及对其校准并确定到外部对象的距离的方法
EP3312632A4 (de) * 2015-12-10 2018-11-07 Hongkong Sndway Instrument Company Limited Kalibrierungsverfahren auf der grundlage von einzelwellenlängen- und doppellaser-röhrenphasenmessung und vorrichtung dafür

Families Citing this family (51)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6703241B1 (en) * 1999-11-15 2004-03-09 Cyrano Sciences, Inc. Referencing and rapid sampling in artificial olfactometry
DE10025594A1 (de) * 2000-05-24 2001-11-29 Diehl Munitionssysteme Gmbh Empfindlichkeitsabgleichung eines optronischen Zünders
US7009167B2 (en) 2000-05-25 2006-03-07 Diehl Munitionssysteme Gmbh Method of adjusting an optronic fuse system
AU2002239608A1 (en) * 2000-12-11 2002-06-24 Canesta, Inc. Cmos-compatible three-dimensional image sensing using quantum efficiency modulation
DE10163925A1 (de) * 2001-12-22 2003-07-03 Conti Temic Microelectronic Verfahren zur Abstandsmessung
EP1388739A1 (de) * 2002-08-09 2004-02-11 HILTI Aktiengesellschaft Laserdistanzmessgerät mit Phasenlaufzeitmessung
EP1450128A1 (de) 2003-02-19 2004-08-25 Leica Geosystems AG Verfahren und Vorrichtung zur Ableitung geodätischer Entfernungsinformationen
EP1672383A1 (de) * 2004-12-18 2006-06-21 Leica Geosystems AG Elektronisches Messverfahren
JP4617434B2 (ja) * 2004-12-28 2011-01-26 独立行政法人産業技術総合研究所 距離測定装置
US7808644B2 (en) * 2005-03-24 2010-10-05 Obe Ohnmacht & Baumgartner Gmbh & Co. Kg Device for optically measuring the shapes of objects and surfaces
JP4828167B2 (ja) * 2005-06-16 2011-11-30 株式会社 ソキア・トプコン 距離測定装置及びその方法
EP1752789A1 (de) * 2005-08-08 2007-02-14 Leica Geosystems AG Vorrichtung und Verfahren zur Kalibrierung von Entfernungsmessgeräten
EP1757956A1 (de) * 2005-08-24 2007-02-28 Leica Geosystems AG Mehrzielfähiges Distanzmessverfahren nach dem Phasenmessprinzip
DE102005054131A1 (de) * 2005-11-14 2007-05-16 Bosch Gmbh Robert Entfernungsmessgerät und Verfahren zum Bestimmen einer Entfernung
CN1804658B (zh) * 2006-01-13 2010-06-02 中国科学院安徽光学精密机械研究所 便携式测风激光雷达多普勒校准方法
CN100394211C (zh) * 2006-04-07 2008-06-11 哈尔滨工业大学 多频同步调制激光测距方法与装置
EP2053353A1 (de) 2007-10-26 2009-04-29 Leica Geosystems AG Distanzmessendes Verfahren und ebensolches Gerät
CN201130251Y (zh) * 2007-11-27 2008-10-08 南京德朔实业有限公司 光电测距装置
CN101482619B (zh) * 2008-01-08 2012-07-25 亚洲光学股份有限公司 距离测量方法及距离测量系统
US8269612B2 (en) 2008-07-10 2012-09-18 Black & Decker Inc. Communication protocol for remotely controlled laser devices
US9482755B2 (en) 2008-11-17 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Measurement system having air temperature compensation between a target and a laser tracker
US8659749B2 (en) 2009-08-07 2014-02-25 Faro Technologies, Inc. Absolute distance meter with optical switch
CN101762809B (zh) * 2009-12-29 2012-08-08 江苏徕兹光电科技有限公司 基于液晶光阀原理相位测量的校准方法、校准装置和测距装置
US9400170B2 (en) 2010-04-21 2016-07-26 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data within an acceptance region by a laser tracker
US9377885B2 (en) 2010-04-21 2016-06-28 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for locking onto a retroreflector with a laser tracker
US9772394B2 (en) 2010-04-21 2017-09-26 Faro Technologies, Inc. Method and apparatus for following an operator and locking onto a retroreflector with a laser tracker
US8619265B2 (en) 2011-03-14 2013-12-31 Faro Technologies, Inc. Automatic measurement of dimensional data with a laser tracker
US9109877B2 (en) 2010-05-21 2015-08-18 Jonathan S. Thierman Method and apparatus for dimensional measurement
US8615376B2 (en) 2010-05-21 2013-12-24 Sure-Shot Medical Device Inc. Method and apparatus for dimensional measurement
US8401816B2 (en) 2010-05-21 2013-03-19 Sure-Shot Medical Device Inc. Apparatus and method for geometric measurement
DE102010041390B4 (de) * 2010-07-28 2017-12-07 pmdtechnologies ag Lichtlaufzeitkamera mit Signalpfadüberwachung
US8902408B2 (en) 2011-02-14 2014-12-02 Faro Technologies Inc. Laser tracker used with six degree-of-freedom probe having separable spherical retroreflector
DE112012001082B4 (de) 2011-03-03 2015-12-03 Faro Technologies Inc. Verfahren zum Messen von Zielen
US9482529B2 (en) 2011-04-15 2016-11-01 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
US9686532B2 (en) 2011-04-15 2017-06-20 Faro Technologies, Inc. System and method of acquiring three-dimensional coordinates using multiple coordinate measurement devices
US9164173B2 (en) 2011-04-15 2015-10-20 Faro Technologies, Inc. Laser tracker that uses a fiber-optic coupler and an achromatic launch to align and collimate two wavelengths of light
WO2012141868A1 (en) 2011-04-15 2012-10-18 Faro Technologies, Inc. Enhanced position detector in laser tracker
USD688577S1 (en) 2012-02-21 2013-08-27 Faro Technologies, Inc. Laser tracker
EP2607924A1 (de) 2011-12-23 2013-06-26 Leica Geosystems AG Entfernungsmesser-Justage
JP6099675B2 (ja) 2012-01-27 2017-03-22 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド バーコード識別による検査方法
US9908182B2 (en) 2012-01-30 2018-03-06 Black & Decker Inc. Remote programming of a power tool
CN102540170B (zh) * 2012-02-10 2016-02-10 江苏徕兹光电科技股份有限公司 基于双波长激光管相位测量的校准方法及其测距装置
US9041914B2 (en) 2013-03-15 2015-05-26 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional coordinate scanner and method of operation
CN104515997B (zh) * 2013-09-26 2017-08-25 江苏徕兹测控科技有限公司 基于单个液晶光阀相位测量的校准方法及其测距装置
CA2931055C (en) * 2013-11-22 2022-07-12 Ottomotto Llc Lidar scanner calibration
US9395174B2 (en) 2014-06-27 2016-07-19 Faro Technologies, Inc. Determining retroreflector orientation by optimizing spatial fit
DE102014111431B4 (de) * 2014-08-11 2024-07-11 Infineon Technologies Ag Flugzeitvorrichtungen
US10203400B2 (en) * 2015-07-31 2019-02-12 Avago Technologies International Sales Pte. Limited Optical measurement system incorporating ambient light component nullification
CN108387902B (zh) * 2017-12-30 2021-01-05 武汉灵途传感科技有限公司 一种光测距方法及设备
CN109283546B (zh) * 2018-12-12 2024-08-20 深圳市镭米科技有限公司 一种相位式激光测距装置及方法
CN114938662B (zh) * 2021-10-13 2023-04-04 深圳市速腾聚创科技有限公司 激光雷达及激光雷达的控制方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH589856A5 (de) * 1975-12-29 1977-07-15 Kern & Co Ag
DE2229339B2 (de) * 1972-05-02 1980-10-16 Kern & Co Ag, Aarau (Schweiz) Zur Fein- und Grobmessung umschaltender elektrooptischer Entfernungsmesser
DE3710041C2 (de) * 1987-03-27 1991-02-14 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De
DE4002356C1 (de) * 1990-01-26 1991-02-28 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De
DE4316348A1 (de) * 1993-05-15 1994-11-17 Wild Heerbrugg Ag Vorrichtung zur Distanzmessung

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH498374A (de) * 1968-05-28 1970-10-31 Wild Heerbrugg Ag Elektrooptischer Entfernungsmesser
US3778159A (en) * 1970-03-10 1973-12-11 Laser Systems & Electronics Distance measuring apparatus and method utilizing phase comparison of modulated light beams
DE2235318C3 (de) * 1972-07-19 1980-02-14 Ito-Patent Ag, Zuerich (Schweiz) Verfahren zur opto-elektronischen Messung der Entfernung und der Höhendifferenz und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens
CH634419A5 (de) * 1978-10-11 1983-01-31 Kern & Co Ag Verfahren zur elektrooptischen distanzmessung, sowie vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens.
GB2066015B (en) 1979-10-23 1984-02-15 South African Inventions Distance measurment
JPS5838880A (ja) 1981-08-31 1983-03-07 Tokyo Optical Co Ltd 光波距離計
EP0336027A1 (de) 1988-04-05 1989-10-11 Pandel Instruments, Inc Verfahren und Gerät zur Präzisionsabstandsmessung
US5125736A (en) 1990-11-13 1992-06-30 Harris Corporation Optical range finder
US5430537A (en) * 1993-09-03 1995-07-04 Dynamics Research Corporation Light beam distance encoder
DE19520993A1 (de) * 1995-06-08 1996-12-12 Sick Optik Elektronik Erwin Verfahren und Vorrichtung zur Abstandsmessung
US5737085A (en) * 1997-03-19 1998-04-07 Systems & Processes Engineering Corporation Precision optical displacement measurement system

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2229339B2 (de) * 1972-05-02 1980-10-16 Kern & Co Ag, Aarau (Schweiz) Zur Fein- und Grobmessung umschaltender elektrooptischer Entfernungsmesser
CH589856A5 (de) * 1975-12-29 1977-07-15 Kern & Co Ag
DE3710041C2 (de) * 1987-03-27 1991-02-14 Fraunhofer-Gesellschaft Zur Foerderung Der Angewandten Forschung Ev, 8000 Muenchen, De
DE4002356C1 (de) * 1990-01-26 1991-02-28 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De
DE4316348A1 (de) * 1993-05-15 1994-11-17 Wild Heerbrugg Ag Vorrichtung zur Distanzmessung

Cited By (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6373559B1 (en) 1999-01-23 2002-04-16 Carl-Zeiss-Stiftung Optoelectronic mixer
EP1106963A3 (de) * 1999-12-07 2003-08-06 Kabushiki Kaisha TOPCON Abstandsmessgerät und Verfahren zur Regelung der Photodetektoreinheit
DE10006493C2 (de) * 2000-02-14 2002-02-07 Hilti Ag Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung
DE10006493A1 (de) * 2000-02-14 2001-08-30 Hilti Ag Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung
DE10025834B4 (de) * 2000-05-25 2005-07-14 Hilti Ag Einrichtung zur Erzeugung einer rauscharmen geregelten Hochspannung aus einer Niedervolt-Versorgungsquelle
EP1158264A2 (de) * 2000-05-25 2001-11-28 Diehl Munitionssysteme GmbH & Co. KG Verfahren zum Abgleich eines optronischen Zündsystems
DE10025834A1 (de) * 2000-05-25 2001-12-06 Hilti Ag Einrichtung und Verfahren zur Erzeugung von Hochspannung aus einer Niedervolt-Versorgungsquelle
EP1158264A3 (de) * 2000-05-25 2004-01-02 Diehl Munitionssysteme GmbH & Co. KG Verfahren zum Abgleich eines optronischen Zündsystems
DE10065353B4 (de) * 2000-07-31 2006-04-13 Hilti Ag Lokaloszillator zur Erzeugung eines HF-Signals zur Direktmischung mittels Avalanche-Fotodioden
US6864966B2 (en) 2000-08-25 2005-03-08 Leica Geosystems Ag Method and device for measuring distances
WO2002016964A1 (de) * 2000-08-25 2002-02-28 Kurt Giger Verfahren und vorrichtung zur entfernungsmessung
US6727985B2 (en) 2000-09-27 2004-04-27 Leica Geosystems Ag System and method for signal acquisition in a distance meter
WO2002027352A1 (de) * 2000-09-27 2002-04-04 Kurt Giger Vorrichtung und verfahren zur signalerfassung bei einem entfernungsmessgerät
EP1195617A1 (de) * 2000-10-06 2002-04-10 Kurt Giger Entfernungsmessgerät
DE10051302C5 (de) * 2000-10-13 2007-12-27 Jenoptik Ag Laserentfernungsmessgerät für den Nah- und Fernbereich mit speziellem Empfänger
US6859744B2 (en) 2000-11-30 2005-02-22 Leica Geosystems Ag Method and device for carrying out frequency synthesis in a distance measuring device
WO2002044754A1 (de) * 2000-11-30 2002-06-06 Kurt Giger Verfahren und vorrichtung zur frequenzsynthese in einem entfernungsmessgerat
DE10112833C1 (de) * 2001-03-16 2003-03-13 Hilti Ag Verfahren und Einrichtung zur elektrooptischen Distanzmessung
DE10112834C1 (de) * 2001-03-16 2002-11-28 Hilti Ag Einrichtung zur direkten Signalmischung eines modulierten Lichtempfangssignals mit einer hochfrequenten Wechselspannung
DE10114782B4 (de) * 2001-03-26 2008-09-04 Sick Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Entfernungsmesswerten
DE10114782A1 (de) * 2001-03-26 2002-10-31 Sick Ag Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung von Entfernungsmesswerten
WO2004018968A1 (de) * 2002-08-03 2004-03-04 Robert Bosch Gmbh Verfahren und vorrichtung zur optischen distanzmessung
DE10394168B4 (de) * 2002-12-18 2013-12-05 Conti Temic Microelectronic Gmbh Verfahren zur Kalibrierung von 3D-Bildaufnehmern
DE10350489B4 (de) * 2003-10-29 2005-10-13 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Sensor
DE10350489A1 (de) * 2003-10-29 2005-06-02 Leuze Electronic Gmbh & Co Kg Optischer Sensor
DE102006047333B3 (de) * 2006-10-06 2008-04-03 Sick Ag Anordnung mit einem optoelektronischen Entfernungsmessgerät
DE102009045323A1 (de) * 2009-10-05 2011-04-07 Robert Bosch Gmbh Optisches Entfernungsmessgerät mit Kalibrierungseinrichtung
US8891068B2 (en) 2009-10-05 2014-11-18 Robert Bosch Gmbh Optical distance measuring device with calibration device
EP2458325A2 (de) 2010-11-30 2012-05-30 HILTI Aktiengesellschaft Distanzmessgerät und Vermessungssystem
DE102010062161A1 (de) 2010-11-30 2012-05-31 Hilti Aktiengesellschaft Distanzmessgerät und Vermessungssystem
US8797511B2 (en) 2010-11-30 2014-08-05 Hilti Aktiengesellschaft Distance measuring device and surveying system
EP3312632A4 (de) * 2015-12-10 2018-11-07 Hongkong Sndway Instrument Company Limited Kalibrierungsverfahren auf der grundlage von einzelwellenlängen- und doppellaser-röhrenphasenmessung und vorrichtung dafür
CN108732578A (zh) * 2016-03-14 2018-11-02 查尔斯·朱 测距仪系统及对其校准并确定到外部对象的距离的方法
CN108732578B (zh) * 2016-03-14 2022-06-10 查尔斯·朱 测距仪系统及对其校准并确定到外部对象的距离的方法

Also Published As

Publication number Publication date
AU4867897A (en) 1998-05-15
AU719134B2 (en) 2000-05-04
EP0932835B1 (de) 2000-08-16
EP0932835B2 (de) 2005-03-09
US6463393B1 (en) 2002-10-08
CN1134673C (zh) 2004-01-14
ATE195588T1 (de) 2000-09-15
JP2000505901A (ja) 2000-05-16
CN1241261A (zh) 2000-01-12
JP3161738B2 (ja) 2001-04-25
EP0932835A1 (de) 1999-08-04
DE59702217D1 (de) 2000-09-21
WO1998018019A1 (de) 1998-04-30
KR20000052660A (ko) 2000-08-25
KR100484345B1 (ko) 2005-04-20

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