[go: up one dir, main page]
More Web Proxy on the site http://driver.im/

DE10350489B4 - Optischer Sensor - Google Patents

Optischer Sensor Download PDF

Info

Publication number
DE10350489B4
DE10350489B4 DE10350489A DE10350489A DE10350489B4 DE 10350489 B4 DE10350489 B4 DE 10350489B4 DE 10350489 A DE10350489 A DE 10350489A DE 10350489 A DE10350489 A DE 10350489A DE 10350489 B4 DE10350489 B4 DE 10350489B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
frequency
optical sensor
signal
sensor according
light beams
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Revoked
Application number
DE10350489A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10350489A1 (de
Inventor
Tilo Wolf
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leuze Electronic GmbH and Co KG
Original Assignee
Leuze Electronic GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=34529876&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE10350489(B4) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Leuze Electronic GmbH and Co KG filed Critical Leuze Electronic GmbH and Co KG
Priority to DE10350489A priority Critical patent/DE10350489B4/de
Publication of DE10350489A1 publication Critical patent/DE10350489A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10350489B4 publication Critical patent/DE10350489B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Revoked legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target
    • G01S17/08Systems determining position data of a target for measuring distance only
    • G01S17/32Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated
    • G01S17/36Systems determining position data of a target for measuring distance only using transmission of continuous waves, whether amplitude-, frequency-, or phase-modulated, or unmodulated with phase comparison between the received signal and the contemporaneously transmitted signal
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/491Details of non-pulse systems
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01SRADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
    • G01S7/00Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
    • G01S7/48Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
    • G01S7/491Details of non-pulse systems
    • G01S7/4912Receivers
    • G01S7/4915Time delay measurement, e.g. operational details for pixel components; Phase measurement

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

Optischer Sensor zur Bestimmung von Distanzen von Objekten in einem Überwachungsbereich, mit einem Sendelichtstrahlen emittierenden Sender, mit einem Empfänger zum Empfang der als Empfangslichtstrahlen von einem Objekt zurückreflektierten Sendelichtstrahlen und mit einer Modulationseinheit umfassend einen ersten Frequenzgenerator (9) zur Generierung einer Modulationsfrequenz (f1), mit welcher die Sendelichtstrahlen (3) amplitudenmoduliert sind, einen zweiten Frequenzgenerator (10) zur Generierung eines Taktsignals mit einer Modulationsfrequenz (f2), welche um eine Zwischenfrequenz (Δf) bezüglich der Modulationsfrequenz (f1) verschoben ist, wobei durch Mischen des Taktsignals mit den im Empfänger (6) durch die auftreffenden Empfangslichtstrahlen (5) erzeugten Empfangssignalen ein die Phasenverschiebungen (φ) der Sendelichtstrahlen (3) und der Empfangslichtstrahlen (5) enthaltendes Messsignal (M) mit der Zwischenfrequenz (Δf) generiert wird, welches in einer Auswerteeinheit zur Bestimmung der Objektdistanzen ausgewertet wird, gekennzeichnet durch eine elektrische Referenzstrecke zur Generierung eines Referenzphasenbezugs für die in der Auswerteeinheit registrierten Phasenverschiebungen (φ) umfassend einen Mischer (16), welchem ein im ersten Frequenzgenerator (9) erzeugtes Frequenzsignal mit...

Description

  • Die Erfindung betrifft einen optischen Sensor.
  • Derartige optische Sensoren dienen zur Bestimmung von Distanzen von Objekten in einem Überwachungsbereich. Die Distanzbestimmung erfolgt dabei nach der Phasendifferenzmethode. Der optische Sensor weist hierzu einen Sendelichtstrahlen emittierenden Sender und einen Empfangslichtstrahlen empfangenden Empfänger auf. Zur Durchführung der Phasenmessung wird den Sendelichtstrahlen eine Amplitudenmodulation mit einer vorgegebenen Frequenz aufgeprägt. Die von einem Objekt reflektierten Empfangslichtstrahlen weisen eine entsprechende Amplitudenmodulation auf, jedoch ist diese entsprechend der Lichtlaufzeit von dem optischen Sensor zum Objekt und zurück zum optischen Sensor phasenversetzt zur Amplitudenmodulation der Sendelichtstrahlen. In einer Auswerteeinheit wird die Phasendifferenz der Sendelichtstrahlen und der Empfangslichtstrahlen bestimmt. Aus dieser Phasendifferenz wird dann die Distanz des Objektes zum optischen Sensor berechnet.
  • Aus der DE 198 11 550 C2 ist ein derartiger nach der Phasendifferenzmethode arbeitender optischer Sensor bekannt. Dieser optische Sensor weist eine aus digitalen Schaltungskomponenten bestehende Schaltungsanordnung zur Erzeugung von Frequenzsignalen auf, die zur Durchführung der Phasenmessung benötigt werden.
  • Die mit dem Sender und Empfänger durchgeführten Distanzmessungen werden jeweils auf eine Referenzmessung bezogen, wobei hierzu die Sendelichtstrahlen über eine optische Referenzstrecke zum Empfänger geführt sind. Die optische Referenzstrecke weist einen optischen Umschalter auf, mittels dessen in einem vorgegebenen Takt die Sendelichtstrahlen zur Durchführung von Referenzmessungen dem Empfänger zugeführt werden.
  • Nachteilig hierbei ist der hohe konstruktive Aufwand des optischen Sensors zur Durchführung der Distanzmessung. Insbesondere erfordert die fortlaufend für jede Distanzmessung durchzuführende optische Referenzmessung einen unerwünscht hohen Aufwand.
  • Aus der CH 333 562 ist ein Verfahren und eine Anordnung zur Entfernungsmessung bekannt. Zur Durchführung der Entfernungsmessung wird dem von einer Lichtquelle emittierten Licht eine Modulationsschwingung aufgeprägt. Die Modulationsschwingung des von einem Objekt reflektierten Lichts wird mit einer Vergleichsschwingung verglichen, woraus ein Maß für die Objektdistanz abgeleitet wird. Dabei werden die beiden zu vergleichenden Schwingungen durch Mischung mit einer Hilfsschwingung in ihrer Frequenz transponiert.
  • Aus der DE 40 02 356 C1 ist ein nach einem Lichtlaufzeitverfahren arbeitendes Abstandsmessgerät bekannt. Das Abstandsmessgerät weist einen photoelektrischen Lichtsender und einen photoelektrischen Lichtempfänger auf die Licht abwechselnd über eine Messtrecke und eine Referenzstrecke zu einem einzigen Photoempfänger lenken. Durch Messung der Laufzeitdifferenzen über die Messstrecke einerseits und die Referenzstrecke andererseits wird der Abstand von einem Ziel ermittelt. Der Lichtsender enthält zwei elektronisch komplementär schaltbare Laserdioden, von denen die eine die Lichtwellenzüge auf die Messstrecke, die andere die Lichtwellenzüge auf die Referenzstrecke schickt. Beide Lichtwellenzüge werden vom gleichen Photoempfänger abwechselnd empfangen, der an eine Auswerteelektronik angeschlossen ist.
  • Die DE 196 43 287 A1 betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmessgeräten. Ein Sender emittiert eine hochfrequent modulierte optische Strahlung, die von einem Messobjekt reflektiert und von einem Messempfänger empfangen wird. Ein Teil der Senderstrahlung wird stets als Referenzstrahlung ausgekoppelt und über einen Kalibrierweg auf einen Referenzempfänger geführt, dessen elektrische Signale einem Frequenzmischer zugeleitet werden. Der Frequenzmischer und die als Messempfänger der Messstrahlung dienende Avalanche-Fotodiode sind über eine mit einer Mischerfrequenz beaufschlagten Verbindung direkt miteinander verbunden. Dadurch wird eine optoelektronische Kalibrierung ermöglicht, die die temperaturabhängigen Phasenverschiebungen der Avalanche-Fotodiode vollständig kompensiert. Da sich zudem auch die durch die Temperaturdriften des Senders erzeugten Phasenverschiebungen im Referenz- und Empfangssignal gegenseitig kompensieren, ergibt sich insgesamt eine erhöhte Entfernungsmessgenauigkeit insbesondere für kurze Messzeiten und unmittelbar nach Einschalten des Geräts. Weiterhin ergeben sich im Vergleich zu einer sukzessiven mechanischen Kalibrierung halbierte Messzeiten und zudem Gewichts-, Kosten- und Zuverlässigkeitsvorteile durch den Wegfall einer mechanischen Umschaltvorrichtung.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde einen optischen Sensor der eingangs genannten Art derart weiterzubilden, dass mit diesem bei möglichst geringem konstruktiven Aufwand eine genaue Distanzbestimmung ermöglicht wird.
  • Zur Lösung dieser Aufgabe sind die Merkmale des Anspruchs 1 vorgesehen. Vorteilhafte Ausführungsformen und zweckmäßige Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
  • Der erfindungsgemäße optische Sensor dient zur Bestimmung von Distanzen von Objekten in einem Überwachungsbereich. Der Sensor umfasst einen Sendelichtstrahlen emittierenden Sender, einen Empfänger zum Empfang der als Empfangslichtstrahlen von einem Objekt zurückreflektierten Sendelichtstrahlen und einer Modulationseinheit. Die Modulationseinheit umfasst einen ersten Frequenzgenerator zur Generierung einer Modulationsfrequenz, mit welcher die Sendelichtstrahlen amplitudenmoduliert sind, einen zweiten Frequenzgenerator zur Generierung eines Taktsignals mit einer Modulationsfrequenz, welche um eine Zwischenfrequenz bezüglich der Modulationsfrequenz verschoben ist, wobei durch Mischen des Taktsignals mit den im Empfänger durch die auftreffenden Empfangslichtstrahlen erzeugten Empfangssignalen ein die Phasenverschiebungen der Sendelichtstrahlen und der Empfangslichtstrahlen enthaltendes Messsignal mit der Zwischenfrequenz generiert wird, welches in einer Auswerteeinheit zur Bestimmung der Objektdistanzen ausgewertet wird. Weiterhin ist eine elektrische Referenzstrecke zur Generierung eines Referenzphasenbezugs für die in der Auswerteeinheit registrierten Phasenverschiebungen vorgesehen, umfassend einen Mischer, welchem ein im ersten Frequenzgenerator erzeugtes Frequenzsignal mit der Frequenz und das im zweiten Frequenzgenerator generierte Taktsignal zur Generierung eines Referenzsignals zugeführt werden.
  • Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen optischen Sensors besteht darin, dass durch die elektrische Referenzierung der Phasenmessung optische Bauelemente zur Ausbildung einer optischen Referenzstrecke und damit notwendige Mittel zur elektrooptischen Wandlung von Signalen zur Durchführung einer Referenzmessung entfallen.
  • Die so ausgebildete elektrische Referenzstrecke weist dabei einen äußerst einfachen und kostengünstigen Aufbau auf. Mit der erfindungsgemäßen elektrischen Referenzierung wird somit eine erhebliche Bauteilreduzierung und damit eine entsprechende Kostenreduzierung bei der Herstellung des optischen Sensors erzielt. Da das Referenzsignal aus denselben Frequenzen f1 und f2 generiert wird, welche auch zur Generierung des Messsignals verwendet werden, werden zudem Fehler aufgrund eines Driftens bei der Erzeugung der Frequenzen f1 und f2 eliminiert.
  • Die Erfindung wird im Nachstehenden anhand der Zeichnungen erläutert. Es zeigen:
  • 1: Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels des erfindungsgemäßen optischen Sensors.
  • 2: Zeitlicher Verlauf des im optischen Sensor gemäß 1 generierten Messsignals und Referenzsignals.
  • 3: Schematische Darstellung der Ermittlung der Phasenverschiebung des Messsignals gemäß 2.
  • 1 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines nach dem Phasenmessprinzip arbeitenden optischen Sensors 1 zur Bestimmung von Distanzen von Objekten 2 innerhalb eines Überwachungsbereichs. Der optische Sensor 1 weist einen Sendelichtstrahlen 3 emittierenden Sender 4 sowie einen Empfangslichtstrahlen 5 empfangenden Empfänger 6 auf. Der Sender 4 besteht aus einer Laserdiode, die an einer Spannung Ud liegt und mit einem Strom Id gespeist wird. Der Empfänger 6 besteht im vorliegenden Fall aus einer Avalanche-Fotodiode, die an einem Widerstand 7 angeschlossen ist und mit einer Spannung Ur versorgt wird.
  • Zur Durchführung der Phasenmessung wird den Sendelichtstrahlen 3 eine Amplitudenmodulation mit einer Frequenz f1 aufgeprägt. Die von einem Objekt 2 zurückreflektierten Empfangslichtstrahlen 5 weisen eine Amplitudenmodulation mit derselben Frequenz f1 auf. Entsprechend der Objektdistanz des jeweiligen Objekts 2 weisen die am Empfänger 6 auftreffenden Empfangslichtstrahlen 5 eine Phasenverschiebung φ bezüglich den vom Sender 4 emittierten Sende lichtstrahlen 3 auf. Aus dieser Phasenverschiebung φ wird die Objektdistanz berechnet und als Ausgabegröße vom optischen Sensor 1 ausgegeben.
  • Wie aus 1 ersichtlich, weist der optische Sensor 1 einen an einen Oszillator 8 angeschlossenen ersten Frequenzgenerator 9 auf, der die Modulationseinheit zur Modulation der Sendelichtstrahlen 3 bildet. Weiterhin ist an den Oszillator 8 ein zweiter Frequenzgenerator 10 angeschlossen.
  • Der erste und zweite Frequenzgenerator 9, 10 bestehen aus digitalen Bauelementen und weisen einen im Wesentlichen entsprechenden Aufbau auf. Insbesondere sind in den Frequenzgeneratoren 9, 10 Teiler integriert, mittels derer durch Teilung der in dem Oszillator 8 generierten Grundfrequenz f0 definierte und einen eindeutigen Bezug zu dieser Grundfrequenz f0 aufweisende Frequenzsignale generiert werden.
  • Durch Teilung der Grundfrequenz f0 des Oszillators 8 wird im ersten Frequenzgenerator 9 ein Frequenzsignal mit der Frequenz f1 generiert. Dieses Frequenzsignal wird zur Modulation der Sendelichtstrahlen 3 über einen Kondensator 11 in den Sender 4 eingespeist.
  • Der zweite Frequenzgenerator 10 ist über eine Steuerleitung S1 mit dem ersten Frequenzgenerator 9 verbunden. Über diese Steuerleitung S1 wird ein im ersten Frequenzgenerator 9 generiertes Frequenzsignal mit der Frequenz fv in den zweiten Frequenzgenerator 10 eingelesen. Die Frequenz fv gibt einen Takt vor, mittels dessen das Frequenzsignal f1 weitergeschaltet, wodurch das Taktsignal mit der Frequenz f2 generiert wird. Dabei nimmt die Frequenz f2 den Wert f2 = f1 + Δf an, das heißt die Frequenz f2 ist bezüglich der Frequenz f1 von einer Zwischenfrequenz Δf verschoben.
  • Das im zweiten Frequenzgenerator 10 generierte Taktsignal mit der Frequenz f2 wird über einen weiteren Kondensator 12 in den Empfänger 6 eingekoppelt. In den als Avalanche-Fotodiode ausgebildeten Empfänger 6 erfolgt somit eine Mischung der durch die Empfangslichtstrahlen 5 generierten Empfangssignale, die mit der Frequenz f1 moduliert sind, und des Taktsignals mit der Frequenz f2. Durch diese Signalmischung und eine anschließende Filterung in einem dem Empfänger 6 nachgeordneten Tiefpassfilter 13 wird ein niederfrequentes Messsignal M mit der Zwischenfrequenz Δf generiert, welches die Phasenverschiebung φ der Sendelichtstrahlen 3 und der Empfangslichtstrahlen 5 und damit die Information über die Objektdistanz enthält. Zur Auswertung des Messsignals M wird dieses über eine nicht dargestellte Verstärkerstufe in eine Auswerteeinheit eingelesen. Die Auswerteeinheit besteht im vorliegenden Fall aus einem Analog-Digital-Wandler 14 und einer nachgeordneten Rechnereinheit 15, welche von einem Microcontroller oder dergleichen gebildet ist.
  • In einer alternativen Ausführungsform kann der Empfänger 6 von einer PIN-Diode gebildet sein. In diesem Fall erfolgt die Mischung der Empfangssignale und des Taktsignals in einem nicht dargestellten, separaten Mischer, der dem Empfänger 6 nachgeordnet ist.
  • Im vorliegenden Fall wird zur Generierung des Messsignals M eine Frequenz f1 zur Modulation der Sendelichtstrahlen 3 sowie ein zugeordnetes Taktsignal mit der Frequenz f2 verwendet. Zur Erhöhung des Eindeutigkeitsbereichs der Phasenmessung und damit des Distanzmessbereichs des optischen Sensors 1 können die Sendelichtstrahlen 3 auch mit mehreren verschiedenen Modulationsfrequenzen moduliert werden, wobei dann jeder Modulationsfrequenz ein separates Taktsignal zugeordnet ist.
  • Zur Referenzierung des Messsignals M weist der optische Sensor 1 eine elektrische Referenzstrecke auf. Die elektrische Referenzstrecke weist einen Mischer 16 auf, auf welchen das im ersten Frequenzgenerator 9 generierte Frequenzsignal mit der Frequenz f1 sowie das Taktsignal mit der Frequenz f2 geführt sind. Durch Mischen dieser beiden Signale im Mischer 16 und eine an schließende Filterung in einem dem Mischer 16 nachgeordneten Tiefpassfilter 17, welches ebenfalls Bestandteil der elektrischen Referenzstrecke ist, wird ein Referenzsignal R mit der Zwischenfrequenz Δf generiert. Dieses Referenzsignal R wird zur Referenzierung des Messsignals M in den Analog-Digital-Wandler 14 eingelesen. Dem Tiefpassfilter 17 kann prinzipiell eine nicht dargestellte Verstärkerstufe zur Verstärkung des Referenzsignals R nachgeordnet sein.
  • In dem Analog-Digital-Wandler 14 erfolgt eine Abtastung und digitale Quantisierung des Messsignals M und des Referenzsignals R. Dabei ist der Analog-Digital-Wandler 14 über eine weitere Steuerleitung S2 an den zweiten Frequenzgenerator 10 angeschlossen. Ein im zweiten Frequenzgenerator 10 generiertes Frequenzsignal mit der Frequenz fA wird über diese Steuerleitung S2 in den Analog-Digital-Wandler 14 eingelesen. Die Frequenz fA, die wiederum von der Grundfrequenz f0 des Oszillators 8 abgeleitet ist, gibt die Abtastfrequenz bei der Abtastung des Messsignals M und des Referenzsignals R vor.
  • Da somit sämtliche Frequenzen f1, f2, fv und fA von derselben Grundfrequenz f0 des Oszillators 8 abgeleitet sind, wird ein definierter Bezug des Messsignals M zum Referenzsignal R erhalten, so dass ein eindeutiger Bezugspunkt bei der Referenzierung des Messsignals M auf das Referenzsignal R gegeben ist.
  • Im vorliegenden Fall sind die Frequenzen fv und fA identisch gewählt. Prinzipiell kann die Frequenz fA ein ganzzahliges Vielfaches der Frequenz fA sein.
  • 2 zeigt den zeitlichen Verlauf des Messsignals M und des Referenzsignals R. Das Messsignal M sowie das Referenzsignal R, welches durch die Mischung von Signalen mit den Frequenzen f1 und f2 und nachfolgende Tiefpassfilterung generiert wurden, weisen jeweils einen sinusförmigen Verlauf auf. Wie in 2 dargestellt, weist das Messsignal M die Phasenverschiebung φ auf, welche ein Maß für die jeweilige Objektdistanz bildet. Als Bezugspunkt für die Phasenverschiebung φ des Messsignals M dient das Referenzsignal R.
  • In dem Analog-Digital-Wandler 14 wird durch Mehrfachabtastung des Amplitudenverlaufs des sinusförmigen Messsignals M die Phasenverschiebung φ des Messsignals M ermittelt, wonach aus der Phasenverschiebung φ in der Rechnereinheit 15 der jeweilige Distanzwert errechnet und über einen nicht dargestellten Ausgang des optischen Sensors 1 als Ausgabegröße ausgegeben wird.
  • 3 zeigt schematisch die Abtastung einer Periode des sinusförmigen Messsignals M mit einer Abtastgruppe mit vier Abtastwerten. Generell wird die Anzahl der Abtastwerte innerhalb einer Periode des Messsignals M durch die Abtastfrequenz fA bestimmt. Das rechte Diagramm zeigt den zeitlichen Verlauf des sinusförmigen Messsignals M mit der Phasenverschiebung φ. Die Amplitude des Messsignals M ist dabei mit U bezeichnet. Das linke Diagramm stellt das entsprechende Zeigerdiagramm für das Messsignal M in der komplexen Ebene dar, wobei Im den Imaginärteil und Re den Realteil der entsprechenden komplexen Funktion für das Messsignal M bildet. Dass das sinusförmige Messsignal M um die Phasenverschiebung φ bezüglich des Nullpunkts als Bezugspunkt verschoben ist, ergibt sich durch dieselbe Phasenverschiebung φ in der komplexen Funktion Z im Zeigerdiagramm gemäß der Beziehung Z = |Z|e–jφ wobei j = √-1.
  • Dementsprechend ergibt sich die Phasenverschiebung φ gemäß der Beziehung
    Figure 00090001
  • Um aus dem sinusförmigen Verlauf des Messsignals M die Phasenverschiebung φ zu erhalten, wird diese Beziehung ausgenutzt und dementsprechend werden vier um jeweils 90° versetzte Abtastwerte definiert, mit welchen die Phasenverschiebung φ ermittelt werden kann. Wie in 3 (rechtes Diagramm) dargestellt sind die vier Abtastwerte durch die Amplitudenwerte U(0), U(1), U(2), U(3) definiert, wobei diese Amplitudenwerte jeweils um 90° zueinander versetzt innerhalb einer Periode des Messsignals M liegen.
  • Wie aus dem Vergleich mit dem Zeigerdiagramm in 3 folgt, stellt die Differenz D1 = ½(U(1) – U(3)) den Realteil und die Differenz D2 = ½(U(0) – U(2)) den Imaginärteil der komplexen Funktion des Zeigerdiagramms dar.
  • Dementsprechend errechnet sich die Phasendifferenz φ aus den Abtastwerten U(0), U(1), U(2), U(3) gemäß der Beziehung φ = arc tan [(U(0) – U(2))/(U(1) – U(3))]
  • Prinzipiell könnte die Phasenverschiebung φ auch nur mit zwei um 90° versetzten Abtastwerten innerhalb einer Periode des Messsignals M berechnet werden. Durch die Abtastung mit vier Abtastwerten ist jedoch gewährleistet, dass DC-Pegelschwankungen des sinusförmigen Messsignals M nicht zu Fehlern in der Bestimmung der Phasendifferenz führen.
  • Durch die gewählte Symmetrie der vier über die Periode des Messsignals M jeweils um 90° versetzten vier Abtastwerte wird zudem erreicht, dass die Phasenverschiebung φ exakt auch dann bestimmt wird, wenn dem idealen sinusförmigen Messsignal M als Grundwelle harmonische Oberschwingungen geradzahliger Ordnung überlagert sind.
  • Damit wird durch die Abtastung gemäß 3 erreicht, dass DC-Pegelschwankungen und Verzerrungen des Messsignals M gegenüber dem ide alen sinusförmigen Verlauf durch Überlagerungen mit Oberschwingungen geradzahliger Ordnung nicht zu einem systematischen Messfehler bei der Bestimmung der Phasenverschiebung φ führen.
  • Um auch Effekte von Oberwellen ungeradzahliger Ordnungen systematisch zu eliminieren, kann das Messsignal M nicht nur wie in 3 dargestellt mit einer Abtastgruppe, sondern mit mehreren Abtastgruppen abgetastet werden. In diesem Fall ist die Abtastfrequenz fA erhöht und beträgt ein ganzzahliges Vielfaches der Frequenz fv.
  • 1
    Optischer Sensor
    2
    Objekt
    3
    Sendelichtstrahlen
    4
    Sender
    5
    Empfangslichtstrahlen
    6
    Empfänger
    7
    Widerstand
    8
    Oszillator
    9
    Frequenzgenerator
    10
    Frequenzgenerator
    11
    Kondensator
    12
    Kondensator
    13
    Tiefpassfilter
    14
    Analog-Digital-Wandler
    15
    Rechnereinheit
    16
    Mischer
    17
    Tiefpassfilter
    S1
    Steuerleitung
    S2
    Steuerleitung

Claims (19)

  1. Optischer Sensor zur Bestimmung von Distanzen von Objekten in einem Überwachungsbereich, mit einem Sendelichtstrahlen emittierenden Sender, mit einem Empfänger zum Empfang der als Empfangslichtstrahlen von einem Objekt zurückreflektierten Sendelichtstrahlen und mit einer Modulationseinheit umfassend einen ersten Frequenzgenerator (9) zur Generierung einer Modulationsfrequenz (f1), mit welcher die Sendelichtstrahlen (3) amplitudenmoduliert sind, einen zweiten Frequenzgenerator (10) zur Generierung eines Taktsignals mit einer Modulationsfrequenz (f2), welche um eine Zwischenfrequenz (Δf) bezüglich der Modulationsfrequenz (f1) verschoben ist, wobei durch Mischen des Taktsignals mit den im Empfänger (6) durch die auftreffenden Empfangslichtstrahlen (5) erzeugten Empfangssignalen ein die Phasenverschiebungen (φ) der Sendelichtstrahlen (3) und der Empfangslichtstrahlen (5) enthaltendes Messsignal (M) mit der Zwischenfrequenz (Δf) generiert wird, welches in einer Auswerteeinheit zur Bestimmung der Objektdistanzen ausgewertet wird, gekennzeichnet durch eine elektrische Referenzstrecke zur Generierung eines Referenzphasenbezugs für die in der Auswerteeinheit registrierten Phasenverschiebungen (φ) umfassend einen Mischer (16), welchem ein im ersten Frequenzgenerator (9) erzeugtes Frequenzsignal mit der Frequenz (f1) und das im zweiten Frequenzgenerator (10) generierte Taktsignal (f2) zur Generierung eines Referenzsignals (R) zugeführt werden.
  2. Optischer Sensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Referenzsignal (R) zur Referenzierung des Messsignals (M) in die Auswerteeinheit eingelesen wird.
  3. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Referenzstrecke ein dem Mischer (16) nachgeordnetes Tiefpassfilter (17) aufweist.
  4. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 1–3, dadurch gekennzeichnet, dass in dem Empfänger (6) eine Mischung des Taktsignals und der Empfangssignale zur Generierung des Messsignals (M) erfolgt.
  5. Optischer Sensor nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Empfänger (6) von einer Avalanche-Fotodiode gebildet ist.
  6. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 1–5, dadurch gekennzeichnet, dass die Mischung des Taktsignals und der Empfangssignale zur Generierung des Messsignals (M) in einem dem Empfänger (6) nachgeordneten Mischer erfolgt.
  7. Optischer Sensor nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Empfänger (6) von einer PIN-Diode gebildet ist.
  8. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 4–7, dadurch gekennzeichnet, dass dem Empfänger (6) oder dem Mischer ein Tiefpassfilter (13) nachgeordnet ist.
  9. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 1–8, dadurch gekennzeichnet, dass die Modulationseinheit mit dem ersten Frequenzgenerator (9) und der zweite Frequenzgenerator (10) aus digitalen Bauelementen bestehen.
  10. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 1–9, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenzgeneratoren (9, 10) an einen Oszillator (8) angeschlossen sind, und dass die Frequenzen (f1) und (f2) aus der im Oszillator (8) generierten Grundfrequenz (f0) abgeleitet sind.
  11. Optischer Sensor nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass der erste und zweite Frequenzgenerator (9, 10) jeweils wenigstens einen Teiler aufweisen, wobei mittels der Teiler die Frequenzen (f1) und (f2) aus der Grundfrequenz (f0) generiert werden.
  12. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 1–11, dadurch gekennzeichnet, dass die Auswerteeinheit einen Analog-Digital-Wandler (14) und eine diesem nachgeordnete Rechnereinheit (15) aufweist.
  13. Optischer Sensor nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass mittels des Analog-Digital-Wandlers (14) eine Abtastung und Digitalisierung des Messsignals (M) und des Referenzsignals (R) erfolgt.
  14. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 12 oder 13, dadurch gekennzeichnet, dass der erste und zweite Frequenzgenerator (9, 10) sowie der Analog-Digital-Wandler (14) über Steuerleitungen (S1, S2) verbunden sind.
  15. Optischer Sensor nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass über eine erste Steuerleitung (S1) ein Frequenzsignal (fv) von dem ersten Frequenzgenerator (9) in den zweiten Frequenzgenerator (10) eingelesen wird, wobei das Frequenzsignal (fv) ein Triggersignal zur Generierung der Frequenz (f2) bildet.
  16. Optischer Sensor nach einem der Ansprüche 14 oder 15, dadurch gekennzeichnet, dass über eine zweite Steuerleitung (S2) ein Frequenzsignal (fA) von dem zweiten Frequenzgenerator (10) in den Analog-Digital-Wandler (14) eingelesen wird, wobei das Frequenzsignal (fA) ein Triggersignal für die Abtastung des Messsignals (M) und des Referenzsignals (R) bildet.
  17. Optischer Sensor nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenzsignale (fv) und (fA) aus der Grundfrequenz (f0) des Oszillators (8) abgeleitet sind.
  18. Optischer Sensor nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenzen (fv) und (fA) identisch sind.
  19. Optischer Sensor nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Frequenz (fA) ein ganzzahliges Vielfaches der Frequenz (fv) ist.
DE10350489A 2003-10-29 2003-10-29 Optischer Sensor Revoked DE10350489B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10350489A DE10350489B4 (de) 2003-10-29 2003-10-29 Optischer Sensor

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10350489A DE10350489B4 (de) 2003-10-29 2003-10-29 Optischer Sensor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10350489A1 DE10350489A1 (de) 2005-06-02
DE10350489B4 true DE10350489B4 (de) 2005-10-13

Family

ID=34529876

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10350489A Revoked DE10350489B4 (de) 2003-10-29 2003-10-29 Optischer Sensor

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10350489B4 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2680034A1 (de) 2012-06-26 2014-01-01 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Entfernungsmessung von Objekten

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005054131A1 (de) 2005-11-14 2007-05-16 Bosch Gmbh Robert Entfernungsmessgerät und Verfahren zum Bestimmen einer Entfernung
DE102006003269A1 (de) * 2006-01-24 2007-07-26 Mechaless Systems Gmbh Verfahren zur Lichtlaufzeitmessung
DE102009035337A1 (de) * 2009-07-22 2011-01-27 Faro Technologies, Inc., Lake Mary Verfahren zum optischen Abtasten und Vermessen eines Objekts
DE102016214167B4 (de) * 2016-08-01 2021-07-01 Ifm Electronic Gmbh Lichtlaufzeitkamerasystem

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH333562A (de) * 1954-08-28 1958-10-31 Arne Prof Bjerhammar Verfahren und Anordnung zur Entfernungsmessung
DE4002356C1 (de) * 1990-01-26 1991-02-28 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De
DE19643287A1 (de) * 1996-10-21 1998-04-23 Leica Ag Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten
DE19811550C2 (de) * 1998-03-18 2002-06-27 Bosch Gmbh Robert Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erzeugung von Frequenzsignalen

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CH333562A (de) * 1954-08-28 1958-10-31 Arne Prof Bjerhammar Verfahren und Anordnung zur Entfernungsmessung
DE4002356C1 (de) * 1990-01-26 1991-02-28 Erwin Sick Gmbh Optik-Elektronik, 7808 Waldkirch, De
DE19643287A1 (de) * 1996-10-21 1998-04-23 Leica Ag Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung von Entfernungsmeßgeräten
DE19811550C2 (de) * 1998-03-18 2002-06-27 Bosch Gmbh Robert Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erzeugung von Frequenzsignalen

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2680034A1 (de) 2012-06-26 2014-01-01 Sick Ag Optoelektronischer Sensor und Verfahren zur Entfernungsmessung von Objekten
JP2014006257A (ja) * 2012-06-26 2014-01-16 Sick Ag 光電子センサおよび対象物の測距方法

Also Published As

Publication number Publication date
DE10350489A1 (de) 2005-06-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1825294B1 (de) Einkanal-heterodyn-distanzmessverfahren
EP0932835B1 (de) Vorrichtung zur kalibrierung von entfernungsmessgeräten
DE602005001664T2 (de) Optischer Entfernungsmesser
DE19811550C2 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zur Erzeugung von Frequenzsignalen
EP0010064B1 (de) Verfahren zur elektrooptischen Distanzmessung sowie Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP1337875B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur frequenzsynthese in einem entfernungsmessgerät
EP0895604B1 (de) Verfahren und messeinrichtung zur bestimmung der lage eines objekts
EP1529194B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur optischen distanzmessung
DE102012208308A1 (de) Optisches Entfernungsmessgerät mit Kalibriereinrichtung zum Berücksichtigen von Übersprechen
DE10022054B4 (de) Optischer Distanzsensor
DE10006493A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur optoelektronischen Entfernungsmessung
EP1813965B1 (de) PMD-System und Verfahren zur Abstandsmessung von einem Objekt
DE102012223689B3 (de) Messvorrichtung und Verfahren zur Referenzierung für einen digitalen Laserentfernungsmesser, sowie Laserentfernungsmesser
EP3339901A1 (de) Laserdistanzmessmodul mit adc-fehlerkompensation durch variation der samplingzeitpunkte
EP1825293B1 (de) Elektronisches messverfahren
DE112010002587B4 (de) Elektrooptischer Abstandsmesser
DE10350489B4 (de) Optischer Sensor
DE10233604A1 (de) Parametrische Verstärkungstechnik als Verfahren zur hochempfindlichen Phasenmessung in Vorrichtungen und Geräten als universelle Sensor- und Brückenverstärker
EP3736601A1 (de) Optoelektronische bestimmung der entfernung eines objekts unter berücksichtigung von kantentreffern
DE10331376B3 (de) Optischer Sensor
DE10348104B3 (de) Optischer Sensor
EP1752789A1 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Kalibrierung von Entfernungsmessgeräten
EP1174729A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Entfernungsmessung
DE19810980A1 (de) Anordnung zum Messen von Abständen zwischen optischen Grenzflächen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8363 Opposition against the patent
8331 Complete revocation