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DE102008036928B3 - Vorrichtung zur winkelaufgelösten Streulichtmessung mit einem teilhemisphärischen elliptischen Hohlspiegel - Google Patents

Vorrichtung zur winkelaufgelösten Streulichtmessung mit einem teilhemisphärischen elliptischen Hohlspiegel Download PDF

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DE102008036928B3
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Cornelius Dr.-Ing. Hahlweg
Hendrik Prof. Dr.-Ing. Rothe
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HELMUT SCHMIDT UNI UNI DER BUN
Helmut Schmidt Universitaet
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HELMUT SCHMIDT UNI UNI DER BUN
Helmut Schmidt Universitaet
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Abstract

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung (40) zur winkelaufgelösten Streulichtmessung für die Untersuchung von Oberflächen (42), mit einem teilhemisphärischen elliptischen Hohlspiegel (2), der einen ersten Brennpunkt (A) und einen davon beabstandeten zweiten Brennpunkt (B) aufweist, mit einer Beleuchtungslichtquelle (41), die angeordnet und ausgebildet ist, einen Teilbereich (45) der zu untersuchenden Oberfläche (42) unter einem schrägen Winkel parallel oder quasi-parallel mit Beleuchtungslicht (44) zu beleuchten, wobei der beleuchtete Teilbereich (45) im ersten Brennpunkt (A) angeordnet bzw. anordenbar ist, mit einer Messeinrichtung (4, 51) zur Erfassung des von der Oberfläche (42) gestreuten und am Hohlspiegel (2) reflektierten Streulichtes, wobei die Messeinrichtung (4, 51) eine Messfläche (50) aufweist, mit einer abbildenden Linse (6, 47), deren katakaustikseitiger Brennpunkt im Wesentlichen mit dem zweiten Brennpunkt (B) des Hohlspiegels (2) zusammenfällt und die ausgebildet ist zur Abbildung der Katakaustik auf die Messfläche (50).

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur winkelaufgelösten Streulichtmessung nach Anspruch 1.
  • Streulichtmessung hat sich als wirkungsvolle und schnelle Methode zur Oberflächencharakterisierung etabliert. Auf der winkelaufgelösten Streulichtmessung basierende Vorrichtungen werden vielfach verwendet, um die Oberflächen von Objekten zu inspizieren oder zu klassifizieren. Die Grundprinzipien sind gut untersucht und hinlänglich im Stand der Technik beschrieben.
  • Eine wesentliche Aufgabe bei der winkelaufgelösten Streulichtmessung ist die Abbildung zumindest eines Teilbereichs der Hemisphäre auf einen ebenen Sensor, ohne dass mechanische Bewegungen auszuführen sind. Diese Abbildung kann z. B. mit dioptrischen, katoptrischen oder katadioptrischen Systemen erfolgen.
  • Grundlage der als katadioptrische Anordnungen zu bezeichnenden Vorrichtungen ist die Abbildung eines Streubildes auf eine planare Messfläche einer Messeinrichtung, wobei das Streubild erzeugt wird durch definiertes Beleuchten einer Oberfläche unter einem schrägen Winkel mit geeignetem Licht. Als Lichtquellen sind im Stand der Technik je nach gewünschtem Frequenzbereich z. B. Laser, UV-Lampen, Schwarze Strahler etc. bekannt. Das Licht kann monochromatisch sein, muß es aber nicht. Charakteristisch für diese Vorrichtungen ist weiterhin, dass das Streubild über einen elliptischen Hohlspiegel und weitere abbildende Linsen und/oder Spiegel auf die planare Messfläche abgebildet wird. Dabei ordnet man die beleuchtete Oberfläche im ersten Brennpunkt des elliptischen Hohlspiegels an, so dass das vom elliptischen Spiegel reflektierte Streulicht im zweiten Brennpunkt gebündelt wird. Der Begriff Messeinrichtung soll in diesem Zusammenhang alle im Stand der Technik bekannten Nachweismittel für die Streulichtverteilung umfassen, also z. B. sowohl eine Leinwand, einen Bildchip, ein Diodenarray oder sonstige Einrichtungen aus dem Stand der Technik, auf die Streubilder in Streulichtmessvorrichtungen abgebildet werden.
  • Solche Streulichtmessvorrichtungen sind aus der US 5,637,873 , der US 6,982,794 B1 und der DE 10034048 A1 bekannt. Da diese Vorrichtungen auf eine zu untersuchende Oberfläche aufgelegt werden sollen, ist der Hohlspiegel teilhemisphärisch ausgebildet, und die Hauptachse des elliptischen Spiegels steht schräg zur beleuchteten Oberfläche. Im Ergebnis erhält man dadurch eine extrem asymmetrische ”off-axis”-Anordnung.
  • Aus der DE 43 04 815 A1 ist eine Vorrichtung zur Streulichtmessung für die Untersuchung von Oberflächen bekannt, nämlich zur Vermessung von deren Höhenprofilen, mit einer Beleuchtungslichtquelle, die angeordnet und ausgebildet ist, einen Teilbereich der zu untersuchenden Oberfläche unter einem schrägen Winkel parallel oder quasi-parallel mit Beleuchtungslicht zu beleuchten, wobei eine Leuchtzeile der Beleuchtungslichtquelle auf eine Beleuchtungsebene senkrecht zur Oberfläche abgebildet wird, mit einer Messeinrichtung zur Erfassung des von der Oberfläche gestreuten Streulichts, wobei die Messeinrichtung eine Messfläche aufweist und eine abbildende Linse, die ausgebildet ist zur Abbil dung der Beleuchtungsebene auf die Messfläche, wobei die Messfläche so zur Beleuchtungsebene geneigt steht, dass sich die von der Messfläche aufgespannte Ebene, die Hauptebene der Linse und die Beleuchtungsebene in einer Geraden schneiden.
  • Es wird als nachteilig dieses Standes der Technik angesehen, dass praktische und theoretische Untersuchungen ergeben, dass diese bekannten Anordnungen nicht befriedigend arbeiten, insbesondere kann das gesamte Streubild bei hoher Winkelauflösung nicht überall scharf auf der Messfläche abgebildet werden. Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, hier eine konstruktiv und apparativ einfache Verbesserung zur Verfügung zu stellen.
  • Die Lösung dieser Aufgabe ist in Anspruch 1 angegeben, während in den Unteransprüchen vorteilhafte Weiterbildungen angegeben sind.
  • Der Erfindung liegt die Erkenntnis zu Grunde, dass das primäre Ziel der Verbesserung sein muß, die Katakaustik des elliptischen Hohlspiegels besser auf die ebene Meßfläche abzubilden. Da allerdings die Katakaustik keine ebene Fläche ist, sondern eine gekrümmte Fläche im Raum, die bei den ”off-axis”-Anordnungen zudem asymmetrisch zur optischen Achse des abbildenden Systems steht, ist Sorgfalt auf die Tiefenschärfe bei deren Abbildung geboten. Mag bei symmetrischen Streulichtanordnungen die Katakaustik noch mit ausreichendem Ergebnis näherungsweise als Ebene senkrecht zur optischen Achse betrachtet werden, so trifft dies bei den hier vorliegenden ”off-axis”-Anordnungen jedenfalls nicht mehr zu. Hier setzt die Erfindung an, indem der Katakaustik eine Ebene zugeordnet wird, die Katakaustikebene, z. B. rechnerisch oder zeichnerisch-konstruktiv, und das aus anderen Bereichen bekannte Scheimpflug-Prinzip angewendet wird. Es ist dadurch möglich, auch für stark asymmetrische katadioptrische Vorrichtungen zufriedenstellende Ergebnisse zu erhalten.
  • Das Scheimpflug-Prinzip besagt vereinfacht, daß sich bei Neigung der Objektebene gegen das Lot zur optischen Achse auch die Bildebene neigt, wie man leicht durch punktweise Konstruktion des Bildes eines geneigten Objektes nach den Regeln der geometrischen Optik sehen kann. Um das geneigte Objekt dennoch scharf aufzunehmen muss eine das Bild aufnehmende Filmebene entsprechend der Bildebene geneigt sein. Es ist das auf Scheimpflug zurückgehende Kriterium zu erfüllen, daß sich Linsenebene, Filmebene und Objektebene in einer Geraden schneiden.
  • Die Erfindung sieht vor, zu der im Raum gekrümmten Katakaustik des elliptischen Hohlspiegels eine Ebene zu ermitteln (Katakaustikebene), und die Mess fläche so zu kippen, daß sich die Ebene der Messfläche, die Hauptebene der Linse, die die Katakaustik auf die Messebene abbildet und deren objektseitiger Brennpunkt mit dem zweiten Brennpunkt des Hohlspiegels zusammenfällt, und die Katakaustikebene in einer Geraden schneiden. Dann liegt die Bildebene in der Ebene der Messfläche.
  • Wenn an der Abbildung der Katakaustik auf die Messfläche auch ein Umlenkspiegel beteiligt ist, muss diese Konstruktionsanweisung modifiziert werden: statt der Katakaustik ist das virtuelle Bild der Katakaustik aus Sicht der abbildenden Linse hinter dem Umlenkspiegel für die Konstruktion zu verwenden, besser gesagt die virtuelle Katakaustikebene.
  • Grundsätzlich kann die Katakaustikebene (auch die virtuelle) nach irgendeinem Kriterium aus der Katakaustik abgeleitet werden. Da es allerdings um die optimale Abbildung auf die Messebene geht, wird mit Vorteil nach Anspruch 2 vorgeschlagen, die Ebene nach dem Minimum der Abstandsquadrate als Mittelwertebene zu der Katakaustik zu bestimmen.
  • Mit Vorteil werden die Merkmale nach Anspruch 3 vorgeschlagen. Je größer die numerische Exzentrizität, desto größer ist der Abstand zwischen den beiden Brennpunkten A und B. Das führt auch dazu, dass der Abstand der abbildenden Linse zum abzubildenden Objekt wächst, nämlich zur Katakaustik, so dass von der Linse ein kleinerer Winkelbereich zu erfassen und abzubilden ist, wodurch Abbildungsfehler klein gehalten werden.
  • Mit den Merkmalen des Anspruchs 4 wird mit Vorteil erreicht, dass die Neigung der Messfläche noch justierbar ist. Dies kann gemäß Anspruch 5 mit Vorteil automatisiert erfolgen, indem z. B. auf die Optimierung der Bildschärfe auf der Messfläche geregelt wird, das heißt die Neigung der Messfläche wird so gewählt, dass die Bildschärfe einen optimalen Wert erfährt.
  • Schließlich werden die vorteilhaften Merkmale des Anspruchs 6 vorgeschlagen. Bei asymmetrischen katadioptrischen Anordnungen ist die Katakaustik und damit auch deren Bild asymmetrisch zur Ellipsenhauptachse, so dass ein symmetrisch zu dieser Hauptachse liegendes abbildendes System die Messfläche nur teilweise beleuchtet, z. B. nur die untere Hälfte, wie z. B. in der später erläuterten 2 erkennbar ist. Durch die Merkmale des Anspruchs 7 wird erreicht, dass die Messfläche vollständiger für die Abbildung des Streubildes ausgenutzt wird, Messfläche und Bild also räumlich besser koinzidieren.
  • Nachfolgend soll die Erfindung anhand von Abbildungen näher erläutert werden, die grundlegende Prinzipien und Ausführungsbeispiele darstellen. Es zeigen:
  • 1a eine Darstellung der vollen Katakaustik eines hemisphärischen elliptischen Hohlspiegels;
  • 1b eine symmetrische Messanordnung nach dem Stand der Technik;
  • 2 eine Darstellung der paraxialen Konstruktion des Bildes einer Katakaustik;
  • 3 eine asymmetrische Messanordnung nach einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung; und
  • 4 ein zweites Ausführungsbeispiel einer erfindungsgemäßen Streulichtmessvorrichtung.
  • 1a zeigt die geometrische Form der vollen Katakaustik 1 eines hemisphärischen elliptischen Hohlspiegels 2 in einer Schnittebene xy, wobei die Beleuch tungsquelle als im ersten Brennpunkt A sitzend angenommen wird. Die Geometrie der Katakaustik 1 zeigt eine typische Ei-Form.
  • 1b zeigt in der linken Bildhälfte eine Detailansicht dazu für eine zur optischen Achse 5 symmetrische (teil-)hemisphärische Konfiguration. Ein Beobachter in Brennpunkt B, und nur in B, kann die gesamte Katakaustik 1 des Hohlspiegels 2 beobachten. Deswegen ist in der rechten Bildhälfte eine Kamera 4 so angeordnet, dass die Apertur 3 der (nicht dargestellten) Kameralinse in den zweiten Brennpunkt B fällt. Der nicht gezeigte Kamerafilm oder Bildchip steht dabei senkrecht zur optischen Achse 5.
  • Die Abbildungssituation für eine asymmetrische Anordnung zeigt 2. Die Abbildung der asymmetrischen Katakaustik 1 des teilhemisphärischen Hohlspiegels 2 erfolgt durch eine Kameralinse 6 mit katakaustikseitigem Brennpunkt in B. Es ergibt sich ein Bild 1' von der Katakaustik 1 hinter der Linse 6. Während die Katakaustik 1 vollständig oberhalb der optischen Achse 5 liegt, ist deren Bild 1' vollständig unterhalb der optischen Achse 5. Weiterhin sind die Linsenebene 7 sowie die Filmebene bzw. Bildchipebene 8 eingezeichnet. Sie stehen parallel zueinander, während die Tiefenschärfeebene wie das Bild 1' schräg dazu verläuft. Die weiteren Linien der 2 sind Hilfslinien und dienen lediglich zur Verdeutlichung der optischen Abbildung.
  • 3 zeigt zum einen die geometrische Konstruktion der Abbildung der Katakaustik 1 in ihr Abbild 1' in einer typischen katadioptrischen Anordnung. Es ist hier zusätzlich gegenüber 2 anzumerken, dass die optische Achse 5' der abbildenden Linse 6 gegenüber der optischen Achse 5 des Hohlspiegels 2 um den zweiten Brennpunkt B leicht verkippt ist. Daher steht auch die Linsenebene 7 nicht exakt senkrecht auf der optischen Achse 5 des Hohlspiegels 2, sondern leicht geneigt dazu. Weiterhin zeigt die 3 das geometrische Grundprinzip der Erfindung. Zur Verbesserung der Tiefenschärfe ist der das Katakaustikbild 1' aufnehmende Detektor 10 mit seiner Detektorfläche schräg zur optischen Achse 5 des Hohlspiegels stehend angeordnet. Die Schrägstellung ist dabei so gewählt, dass dem Scheimpflug-Prinzip genügt wird. Die Ebene 8 der Detektorfläche 14 schneidet die Linsenebene 7 und eine aus der Katakaustik 1 hergeleitete Ebene 9 in einer Geraden 11, die hier wegen der 2-dimensionalen Darstellung nur als Punkt erscheint, wie auch die Ebenen 7, 8, 9 aufgrund der 2-D-Darstellung nur als Geraden erscheinen.
  • Die Katakaustik-Ebene 9 ist im gezeigten Beispiel rechnerisch ermittelt worden als Mittelwertebene nach der least-square methode. Es können auch andere Mittelwertebenen gewählt werden, die Katakaustik-Ebene kann aber auch auf andere Weise aus der Katakaustik abgeleitet werden, z. B. als Ebene durch die äußeren Punkte der Katakaustik 1 oder durch andere definierte Punkte.
  • Die Streulichmessvorrichtung 40 der 4 weist eine Lichtquelle 41 auf, die auf eine zu untersuchende Oberfläche 42 eines Objektes 43 unter einem definierten schrägen Winkel einen Lichtstrahl 44 richtet. Das Licht 44 beleuchtet einen Teilbereich 45 der Oberfläche 42, der unmittelbar im ersten Brennpunkt A des den beleuchteten Teilbereich 45 teilhemisphärisch umgebenden elliptischen Hohlspiegels 2 angeordnet ist. Der Hohlspiegel 2 reflektiert das vom beleuchteten Teilbereich 45 in seine Richtung gestreute Licht und bündelt es im zweiten Brennpunkt B, wo eine Blende 46 angeordnet ist zur Unterdrückung von störendem Fremdlicht. Das Streulicht soll möglichst ungehindert die Blende 46 passieren können.
  • Eine Abbildungslinse 47, deren objektseitiger Brennpunkt mit dem zweiten Ellipsenbrennpunkt B zusammenfällt, bildet das im Punkt B gesammelte Streulicht auf die Sensorfläche 50 eines Sensors 51 ab. Das auf den Sensor 51 fallende Streulicht kann dann z. B. ausgewertet werden, was aber nicht erfindungserheblich ist und daher hier nicht näher zu beschreiben ist.
  • In 4 sind die für die Anwendung des Scheimpflug-Prinzips benötigten Ebenen nur als Linien dargestellt aus Gründen der leichteren zeichnerischen Darstellbarkeit. Es ist in 4 erkennbar, daß die Ebene der Sensorfläche 50 schräg zur Linsenebene 52 verläuft und diese in einer Geraden 53 schneidet.
  • Nicht dargestellt ist die Katakaustik der Ellipsenspiegels 2. Einzig die Katakaustik-Ebene 54, z. B. errechnet nach der least-square-Abstandsmethode, ist als Linie eingezeichnet. Sie schneidet die Linsenebene 52 und die Sensorflächenebene 50 ebenfalls in der gemeinsamen Schnittgeraden 53.
  • Der Sensor 51 ist um eine Achse 56 drehbar an dieser befestigt, so daß die Sensorflächenebene 50 gedreht werden kann, z. B. um Neigungsänderungen des beleuchteten Teilbereiches 45 der Oberfläche 42 beim Scannen des Objektes 43 auszugleichen. Dies kann z. B. automatisiert erfolgen, indem die Drehachse 56 automatisiert motor- oder aktorgetrieben ausgestaltet wird, und der optimale Kontrast des auf die Sensorfläche 50 abgebildeten Streubildes als Regelgröße für die Steuerung und Einstellung der Sensorflächenebene 50 verwendet wird.
  • Die gezeigten Ausführungsbeispiele von Streulichtmessanordnungen weisen keine Umlenkspiegel auf, ohne dass dies als Einschränkung zu verstehen ist. Die vorweg beschriebenen Prinzipien sind analog anwendbar für Anordnungen mit zusätzlichen Umlenkspiegeln, wobei ggf. zu berücksichtigen ist, welche Ebenen bei der Konstruktion nach dem Scheimpflug-Prinzip anzusetzen sind: die reelle Katakaustikebene oder die Katakaustikebene des virtuellen Bildes der Katakaustik hinter dem Umlenkspiegel aus Sicht der abbildenden Linse 47.

Claims (6)

  1. Vorrichtung (40) zur winkelaufgelösten Streulichtmessung für die Untersuchung von Oberflächen (42), mit einem teilhemisphärischen elliptischen Hohlspiegel (2), der einen ersten Brennpunkt (A) und einen davon beabstandeten zweiten Brennpunkt (B) aufweist, mit einer Beleuchtungslichtquelle (41), die angeordnet und ausgebildet ist, einen Teilbereich (45) der zu untersuchenden Oberfläche (42) unter einem schrägen Winkel parallel oder quasi-parallel mit Beleuchtungslicht (44) zu beleuchten, wobei der beleuchtete Teilbereich (45) im ersten Brennpunkt (A) angeordnet bzw. anordenbar ist, mit einer Messeinrichtung (4, 51) zur Erfassung des von der Oberfläche (42) gestreuten und am Hohlspiegel (2) reflektierten Streulichtes, wobei die Messeinrichtung (4, 51) eine Messfläche (50) aufweist, mit einer abbildenden Linse (6, 47), deren katakaustigseitiger Brennpunkt im wesentlichen mit dem zweiten Brennpunkt (B) des Hohlspiegels (2) zusammenfällt und die ausgebildet ist zur Abbildung der Katakaustik auf die Messfläche (50), dadurch gekennzeichnet, daß die Messfläche (50) so zur Verbindungslinie A–B der Brennpunkte geneigt steht, daß sich die von der Messfläche (50) aufgespannte Ebene, die Hauptebene (7, 52) der Linse (6, 47) und eine aus der Katakaustik (1) des Hohlspiegels (2) hergeleitete Ebene (9, 54) im wesentlichen in einer Geraden (11, 53) schneiden, oder dass für den Fall, daß die Abbildung der Katakaustik (1) auf die Messfläche (50) unter anderem über einen Umlenkspiegel erfolgt, die Messfläche (50) so zur Verbindungslinie A–B der Brennpunkte geneigt steht, dass sich die von der Messfläche (50) aufgespannte Ebene, die Hauptebene (7, 52) der Linse (6, 47) und eine aus dem von der abbildenden Linse aus gesehenen virtuellen Bild der Katakaustik (1) hinter dem Umlenkspiegel hergeleitete Ebene (9, 54) im wesentlichen in einer Geraden (11, 53) schneiden.
  2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die aus der Katakaustik (1) oder dem virtuellen Bild der Katakaustik (1) hergeleitete Ebene (9, 54) die nach dem Minimum der Abstandsquadrate ermittelte Mittelwertebene ist.
  3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die numerische Exzentrizität des elliptischen Hohlspiegels (2) größer 0,5 ist, bevorzugt größer 0,75, bevorzugt größer 0,8.
  4. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Messeinrichtung (51) relativ zur Verbindungslinie A–B kippbar gehalten ist.
  5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung (51) in einer automatisiert und motor- oder aktorgetrieben drehbaren Halterung gehalten ist.
  6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die optische Achse der abbildenden Linse (6, 46) gegenüber der Verbindungslinie A–B um den zweiten Brennpunkt B gekippt ist.
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