DE10161578C2 - Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen und Vorrichtung - Google Patents

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Durch­ führen von Tests und Simulationen zur Überprüfung einer funk­ tionalen Korrektheit einer Schaltungseinheit und betrifft insbesondere ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchele­ menten und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens.

Testbenches sind beispielsweise Modelle, welche die Umgebung eines Schaltungsentwurfs und entsprechende Eingangssignale nachbilden und von diesen Eingangssignalen abhängige Aus­ gangssignale, beispielsweise Signalantworten, überprüfen.

Derartige Modelle sind beispielsweise, aber nicht ausschließ­ lich, in Hardware-Beschreibungssprachen wie VERILOG und VHDL ausgeführt. In vielen Fällen ist eine Co-Simulation von Hard­ ware- und Software-Einheiten realisierbar, wie beispielsweise in "Matthias Bauer, Wolfgang Ecker: Hardware/Software Co- Simulation in a VHDL-based Test Bench Approach, DAC 97, Ana­ heim, California, U.S.A." beschrieben.

In einer Testbench wird beispielsweise ein Modell einer Schaltungsanordnung bzw. eines Schaltungs-/Schaltkreis- Entwurfs simuliert, wobei in vielen Fällen neben einer Funk­ tionalität des Schaltungsentwurfs auch ein Zeitverhalten zu berücksichtigen ist.

Eine bekannte Testumgebung zur Untersuchung elektronischer Systeme und ein bekanntes Verfahren zum Testen von Systemen durch eine Testumgebung sind beispielsweise in der WO 01/37089 A2 beschrieben.

Hierbei ist die Testumgebung in voneinander verschiedene Tei­ le aufgeteilt, wobei wenigstens ein Teil eine Kommunikation mit einem Haupt-Controller aufrecht erhält und wenigstens ein weiterer Teil Befehle für das zu testende elektronische Sys­ tem erzeugt.

Zwar ist in der WO 01/37089 A2 offenbarten Testumgebung, wie in der dortigen Fig. 8 gezeigt, ein Haupt-Controller über "Testelemente" mit einem zu testenden System verbunden, je­ doch ist ein Durchschalten von Schnittstellendatenströmen bzw. Befehls- und Datensequenzen in nachteiliger Weise unfle­ xibel und nicht an unterschiedliche Testaufgaben anpassbar. In nachteiliger Weise kann auch eine Überwachung, Steuerung und/oder Kontrolle einer Kommunikation mindestens eines Test­ elementes mit dem zu testenden System nicht bereitgestellt werden.

Testbenches nach dem Stand der Technik sind beispielsweise derart ausgebildet, dass ein oder mehrere Testbenchelemente als logische Schnittstellen zwischen einem Testbench- Controller und einer zu verifizierenden Schaltungseinheit be­ reitgestellt werden. Ein Testbenchelement kann beispielsweise als ein Transaktor oder als ein Protokollgenerator ausgeführt sein, wobei das jeweilige Testbenchelement die für eine logi­ sche Schnittstelle benötigten Signalwertverläufe erzeugt. Ei­ ne Verknüpfung der Signale sowie eine Festlegung der entspre­ chenden Signalwertverläufe entspricht einem Protokoll, wobei spezifische Abfolgen von Signalwertverläufen zu Protokollope­ rationen, wie beispielsweise die Operationen:

• - "Speicher lesen";
• - "ATM (asynchroner Transfer Modus)-Zelle schicken;
• - etc.

zusammengefasst werden, und derartige Protokolloperationen wiederum ineinander geschachtelt sein können, um beispiels­ weise folgende Operationen auszuführen:

• - "DMA-Übertragung durchführen";
• - "ATM-Zellensequenz schicken", um ATM-Schalter umzuprogram­ mieren,
• - etc.

Eine derartige protokolloperations-bezogene Beschreibung er­ leichtert eine Auslegung von Testbenchelementen, welche wie­ derum mehrfach bei einer Durchführung von Tests wiederverwen­ det werden können.

Teilen sich mehrere protokollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle, welche dann selbst nur alternativ benutzbar ist, oder befindet sich auf der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit ein programmierbarer Protokollgenerator, der un­ terschiedliche Protokolle erzeugen kann, dann kann ein Testbenchelement, das nur ein Protokoll erzeugt, in nachtei­ liger Weise nicht direkt eingesetzt bzw. angeschlossen wer­ den.

Um spezifische Schnittstellen und/oder spezifische Schnitt­ stellensignale bzw. Schnittstellendatenströme auf entspre­ chende Testbenchelemente durchschalten zu können, müssen un­ terschiedliche Arten von Schnittstellen bzw. Schnittstellen­ signale berücksichtigt werden, wie beispielsweise:
serielle Schnittstellen,
parallele Schnittstellen, sowie
Einzelbits oder Gruppen von Bits, die zu setzen und/oder zu lesen sind,

Die zu verifizierende Schaltungseinheit kann durch eine be­ liebige Schaltungseinheit, wie beispielsweise einen Mikropro­ zessor, eine Mikrochip-Grafikkarte, etc. ausgebildet sein, wobei vorherrschend digitale Signale, gegebenenfalls aber auch analoge und digitale Signale verarbeitet werden.

In sinnvoller Weise sind Testbenchelemente derart ausgelegt, dass sie unter möglichst vielen Test- und Simulationsbedin­ gungen bei möglichst vielen zu verifizierenden Schaltungsein­ heiten eingesetzt werden können. Herkömmlicherweise wird ein Testbench-Controller als ein zentrales Steuerelement einge­ setzt, durch welchen es ermöglicht wird, den Gesamtablauf ei­ nes Tests und/oder einer Simulation zu steuern. Der Testbench-Controller wird herkömmlicherweise mit einem Test- und Simulationsprogramm beaufschlagt, das zentral oder dezen­ tral bereitgestellt wird.

Weiterhin kommuniziert der Testbench-Controller mit jedem einzelnen Testbenchelement über einen Steuerdatenstrom, wobei eine Verbindung zwischen dem Testbench-Controller und dem je­ weiligen Testbenchelement bereitgestellt ist. Eine Abfolge von Protokolloperationen kann beispielsweise in einem Testbenchelement spezifiziert sein, wobei diese entweder fest in einem Modell codiert sind oder eine gewünschte Abfolge von Protokolloperationen aus einer Datei eingelesen wird.

In manchen Fällen können die Testbenchelemente untereinander synchronisiert werden. Hierbei müssen bei einer Simulation von übergreifenden Tests, bei welcher sämtliche Protokollope­ rationen sämtlicher Testbenchelemente auszuführen sind, zeit­ gleich ablaufende Protokolloperationen an unterschiedlichen Stellen, d. h. in einem jeweiligen Testbenchelement, spezifi­ ziert werden.

Herkömmliche Test- und Simulationsverfahren verwenden somit überwiegend Testbench-Architekturen, welche von einem Testbench-Controller als zentrale Einheit gesteuert werden, wobei den einzelnen Testbenchelementen übermittelt wird, wel­ che Protokolloperationen auszuführen sind. Weiterhin muss si­ chergestellt sein, dass die Testbenchelemente dem Testbench- Controller mitteilen können, mit welchem Erfolg und mit wel­ chen Daten ein Ablauf der spezifischen Protokolloperationen ausgeführt bzw. beendet wurde.

Fig. 4 zeigt ein herkömmliches Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 mittels eines in einem Steuerelement 104 abgelegten Simulati­ onsprogramms. Wie in Fig. 4 gezeigt, ist das Steuerelement 104, welches ein spezifisches Simulationsprogramm enthält, an den Testbench-Controller 103 angeschlossen, wobei ein Cont­ roller-Datenstrom 114 von dem Steuerelement 104 zu dem Testbench-Controller 103 übermittelt wird.

Ein Anschluss von Testbenchelementen 102a-102n erfolgt in herkömmlicher Weise mittels Steuerdatenströmen 111a-111n.

Es sei darauf hingewiesen, dass ein oder mehrere Testbenche­ lemente 102a, . . . 102i, . . . 102n vorhanden sein können, wobei i einen Laufindex darstellt.

Beispielhaft sind in Fig. 4 fünf unterschiedliche Testben­ chelemente dargestellt, wobei das Testbenchelement 102a bei­ spielsweise einer seriellen Schnittstelle entspricht, die Da­ ten mittels eines seriellen Testdatenstroms 112 mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 austauscht. Als weite­ res Beispiel ist das Testbenchelement 102n als parallele Schnittstelle dargestellt, die Testdaten mit der zu verifi­ zierenden Schaltungseinheit 101 mittels eines parallelen Testdatenstroms 113 austauscht.

In gleicher Weise erfolgt ein Datenaustausch zwischen den üb­ rigen Testbenchelementen und der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit 101, wobei spezifizierte Datenströme (nicht ge­ zeigt) ausgetauscht werden. Beispielhaft sind in Fig. 4 fünf Testbenchelemente 102a, 102b, 102i, 102i + 1 und 102n darge­ stellt, es können jedoch weniger oder mehr Testbenchelemente bereitgestellt werden. Es ist klar erkennbar, dass die Anzahl der Steuerdatenströme 111a, . . . 111i, (i = Laufindex), . . . 111n der Anzahl von Testbenchelementen 102a-102n entsprechen muss.

Dieser herkömmliche Anschluss von Testbenchelementen 102a-­ 102n an einen zentralen Testbench-Controller 103 als zentra­ les Steuerelement weist eine Reihe von Nachteilen auf.

Ein Hauptnachteil eines herkömmlichen Verfahrens zum An­ schließen von Testbenchelementen 102a-102n an den Testbench- Controller 103 besteht darin, dass ein Testbenchelement, das nur ein Protokoll erzeugt, nicht direkt eingesetzt bzw. ange­ schlossen werden kann, wenn sich mehrere protokollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle, welche dann selbst nur alterna­ tiv benutzbar ist, teilen, oder wenn sich auf der zu verifi­ zierenden Schaltungseinheit ein programmierbarer Protokollge­ nerator, der unterschiedliche Protokolle erzeugen kann, be­ findet.

Eine herkömmliche Stimuli-Erzeugung erfolgt auf einer Bit- Ebene und nicht auf einer Protokoll-Ebene, was zwar das Anle­ gen unterschiedlicher Protokolle erlaubt, aber den Nachteil aufweist, dass eine transaktionsbasierte Beschreibung der Schnittstellenprotokolle nicht bereitgestellt werden kann.

Ein weiterer Nachteil herkömmlicher Verfahren zum Anschluss von Testbenchelementen besteht darin, dass eine effektive und auf eine Wiederverwendung hin gerichtete Unterstützung eines Anschlusses von Testbenchelementen nicht bereitgestellt wer­ den kann.

Noch ein weiterer Nachteil herkömmlicher Verfahren zum An­ schluss von Testbenchelementen besteht darin, dass für jede Konfiguration einer Schnittstelle eine eigene Umgebung er­ stellt werden muss, da für jede mögliche Ausprägung einer Schnittstelle eine eigene Test- und Simulationseinrichtung erforderlich ist, wobei in jeder dieser Test- /Simulationseinrichtungen genau eine Ausprägung der Schnitt­ stelle funktional überprüft werden muss, indem ein entspre­ chendes Testbenchelement direkt an die zu verifizierende Schaltungseinheit angeschlossen wird.

In nachteiliger Weise muss weiterhin bei Verfahren zum An­ schließen von Testbenchelementen nach dem Stand der Technik jede Konfiguration einer Schnittstelle durch eine spezifische Simulation überprüft werden, was insbesondere bei einem Ein­ satz von Hardwarebeschleunigern und bei einer Simulation von Schnittstellen und/oder von Schnittstellensignalen bzw. Schnittstellendatenströmen, die im Betrieb ihre spezifische Konfiguration oder ihren Verlauf ändern können, beispielswei­ se mittels dynamisch umschaltbarer Pins, äußerst nachteilige Eigenschaften darstellt.

Weiterhin kann es vorkommen, dass unterschiedliche Testben­ chelemente mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit gleichzeitig, d. h. in dem gleichen Zeitintervall, kommunizie­ ren, obwohl dies in dem Testablauf und/oder Simulationsablauf nicht vorgesehen ist. Hierbei entsteht das Problem, dass eine funktional vollkommen korrekt funktionierende und funktionsfähige Schaltungseinheit ein Fehlverhalten aufzeigen kann, welches in nachteiliger Weise nur schwer interpretierbar und damit üblicherweise nur mit großem Aufwand behebbar ist.

Weiterhin können durch diese Mehrfach-Kommunikation unter­ schiedlicher Testbenchelemente mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit in nachteiliger Weise Informationen, die u. a. in den zu übertragenden Datenströmen vorhanden sind, verloren gehen. Hierbei ist es unter Umständen unzweckmäßig­ erweise möglich, dass die Schaltung fehlerfrei oder ohne Aus­ gabe einer Fehlermeldung weiterläuft, obwohl sie mit der Aus­ führung abbrechen müsste oder eine Meldung ausgeben müsste.

Weiterhin ist es unzweckmäßig, dass die Schaltungslogik in undefinierte, nicht reproduzierbare Zustände gerät. Ein Nach­ teil besteht vor allem auch darin, dass diese Zustände in vielen Fällen nicht mehr behebbar sind.

Weiterhin ist es bei herkömmlichen Verfahren problematisch, dass unterschiedliche Testbenchelemente auf eine Schnittstel­ le zugreifen. Hierbei können in nachteiliger Weise Treiber­ konflikte auftreten, wenn ein Testbenchelement in unzulässi­ ger Weise versucht, auf die zu verifizierende Schaltungsein­ heit zuzugreifen.

Es ist somit eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen vorzusehen, welches es gestattet, dass sich mehrere protokollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle teilen, wobei unterschiedliche Arten von Schnittstellen berücksichtigt werden, und wobei ei­ ne Kontrolle eines Zustands; und/oder eine Steuerung mindes­ tens eines Testbenchelementes; und/oder eine Überwachung, Steuerung und/oder Kontrolle einer Kommunikation mindestens eines Testbenchelements mit der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit; und/oder eine Modifikation, eine Umleitung, eine Zuweisung, eine Steuerung und/oder eine Überwachung einer Verbindungsstruktur von Schnittstellensignalen bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen mittels Testben­ chelementschalen bereitgestellt werden.

Diese Aufgabe wird durch ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen nach Anspruch 1 und eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 37 gelöst.

Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

Kern der Erfindung ist ein Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen, wobei eine zu verifizierende Schaltungs­ einheit in eine Test-/Simulationseinrichtung eingebracht wird, mit mindestens einer Testbenchelementschale zum Durch­ leiten von Schnittstellendatenströmen verbunden wird, wobei die mindestens eine Testbenchelementschale mit Testbenchele­ menten zum Durchleiten von Testdatenströmen verbunden wird, so dass ein Durchschalten von Schnittstellendatenströmen zu entsprechenden Testbenchelementen ermöglicht wird.

Ein wesentlicher Gedanke der Erfindung besteht weiterhin dar­ in, dass eine Steuerung und/oder eine Überwachung von Zustän­ den und Betriebsweisen von Testbenchelementen durch mindes­ tens eine Testbenchelement-Kontrollschale bereitgestellt wird, wobei weiterhin eine Überwachung, Steuerung und/oder Kontrolle einer Kommunikation mindestens eines Testbenchele­ ments mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit bereitge­ stellt werden, und eine und/oder eine Modifikation, eine Um­ leitung, eine Zuweisung, eine Steuerung und/oder eine Überwa­ chung einer Verbindungsstruktur von Schnittstellensignalen bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen mit­ tels der mindestens einen Testbenchelement-Verbindungsschalen bereitgestellt werden.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Anschließen von Testben­ chelementen nach Anspruch 1 und die Vorrichtung mit den Merk­ malen des Anspruchs 37 weisen folgende Vorteile auf.

Ein wesentlicher Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens zum Anschließen von Testbenchelementen besteht darin, dass ein Testbenchelement, welches nur ein Protokoll erzeugt, auch dann angeschlossen werden kann, wenn sich mehrere proto­ kollerzeugende Einheiten eine Schnittstelle teilen.

In vorteilhafter Weise kann ein Testbenchelement, das nur ein Protokoll erzeugt, auch dann angeschlossen werden, wenn sich auf der zu verifizierenden Schaltungseinheit ein programmier­ barer Protokollgenerator befindet, mit welchem unterschiedli­ che Protokolle erzeugbar sind.

Ein weiterer Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens zum An­ schließen von Testbenchelementen besteht darin, dass Schnitt­ stellen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit aufgrund von Signalwerten an bestimmten Anschlusselementen der zu ve­ rifizierenden Schaltungseinheit konfiguriert werden können, wobei ein bestimmter Signalwert beispielsweise entscheidet, ob eine Schnittstelle in einem Modus X oder in einem Modus Y betrieben wird.

Vorteilhafterweise kann das erfindungsgemäße Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen eine korrekte Funktions­ weise von Testbenchelementen und eine Kommunikation von Testbenchelementen überwachen.

Ferner besteht ein Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens darin, dass eine Verbindungsstruktur von Schnittstellensigna­ len bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen während einer Simulation oder während eines Tests der zu verifizierenden Schaltungseinheit vorgebbar modifizierbar ist. Hierbei können insbesondere Schnittstellensignale bzw. -busse und/oder Ein-/Ausgangssignale bzw. -busse temporär oder auch längerfristig verbunden, umgeleitet oder einander gegenseitig zugewiesen werden.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit, bei dem Schnitt­ stellen der zu verifizierenden Schaltungseinheit an unter­ schiedliche Testbenchelemente einer Test- /Simulationseinrichtung anschließbar sind, weist im wesentli­ chen die folgenden Schritte auf:

• a) Anschließen der zu verifizierenden Schaltungseinheit an mindestens eine Testbenchelementschale der Test- /Simulationseinrichtung zum Durchleiten und zum Umschalten von Schnittstellendatenströmen, die von der zu verifizie­ renden Schaltungseinheit an die zugehörigen Testbenchele­ mente entsprechend abgegeben werden;
• b) Anschließen der mindestens einen Testbenchelementschale an die Testbenchelemente zum Durchleiten von Testdaten­ strömen, die von den Testbenchelementen an die zu verifi­ zierende Schaltungseinheit abgegeben werden;
• c) Steuern eines Durchleitens von Signalsequenzen und/oder Befehlssequenzen durch mindestens einer Testbenchelement- Schale (401, 402) mittels eines von einem Testbench- Controller (103) bereitgestellten Schalen- Steuerdatenstroms (403) derart, dass vorgebbare Signalse­ quenzen und/oder Befehlssequenzen in einer vorgebbaren Priorisierung zwischen der zu verifizierenden Schaltungs­ einheit (101) und entsprechenden Testbenchelementen (102a-­ 102n) ausgetauscht werden; und
• d) Auswerten der Schnittstellendatenströme durch eine an die Testbenchelemente angeschlossene Testbenchelementscha­ le zur Überprüfung der Funktionsfähigkeit der zu verifi­ zierenden Schaltungseinheit.

In den Unteransprüchen finden sich vorteilhafte Weiterbildun­ gen und Verbesserungen des jeweiligen Gegenstandes der Erfin­ dung.

Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfin­ dung wird eine Testbenchelementschale vollständig um eine zu verifizierende Schaltungseinheit gelegt, um ein Durchschalten von Schnittstellendatenströmen zu entsprechenden Testbenche­ lementen bereitzustellen.

Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegen­ den Erfindung wird eine Testbenchelementschale teilweise um eine zu verifizierende Schaltungseinheit herumgelegt, um ein teilweises Durchschalten von Schnittstellendatenströmen zu entsprechenden Testbenchelementen bereitzustellen.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung ist eine Testbenchelementschale in min­ destens zwei Testbenchelementteilschalen unterteilt, damit Testbenchelemente unterschiedlicher Ausprägungen mit Schnitt­ stellendatenströmen beaufschlagt werden können.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird die mindestens eine Testbenchele­ mentschale bzw. die mindestens eine Testbenchelementteilscha­ le als eine Testbenchelement-Kontrollschale zur Kontrolle, Überwachung und Analyse von Datenströmen zwischen Testbenche­ lementen und der zu verifizierenden Schaltungseinheit bereit­ gestellt.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird die mindestens eine Testbenchele­ mentschale bzw. die mindestens eine Testbenchelementteilscha­ le als eine Testbenchelement-Verbindungsschale zur Modifika­ tion, Umleitung, Zuweisung, Steuerung und/oder Überwachung einer Verbindungsstruktur bereitgestellt.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird in einer Testbenchelementteilschale eine Konfiguration bereitgestellt, welche Schnittstellenda­ tenströme der zu verifizierenden Schaltungseinheit mit einem entsprechenden Testbenchelement verbindet.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Verbindungen von Testbenchelemen­ ten mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit zu Beginn oder während einer Simulation und/oder eines Tests ausgebil­ det und bleiben dann fest.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Verbindungen von Testbenchelemen­ ten mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit während ei­ ner Simulation/eines Tests modifiziert.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung erfolgt eine Konfiguration einer Testben­ chelementschale und/oder einer Testbenchelementteilschale und/oder einer Testbenchelement-Kontrollschale und/oder einer Testbenchelement-Verbindungsschale über einen zentralen Testbench-Controller.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung erfolgt eine Konfiguration einer Testben­ chelementschale und/oder einer Testbenchelementteilschale und/oder einer Testbenchelement-Kontrollschale und/oder einer Testbenchelement-Verbindungsschale unabhängig über Tabel­ len/Datenstrukturen oder Dateien.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Testbenchelemente mit einer Testbenchelementschale oder mindestens zwei Testbenchelement­ teilschalen nicht nur auf oberster Ebene strukturell verbun­ den, sondern auch in einer eigenen Untereinheit verbunden, wobei mindestens ein Testbenchelement in eine Testbenchele­ mentschale bzw. eine Testbenchelementteilschale integriert ist.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Schnittstellen einer zu verifizie­ renden Schaltungseinheit über Signalwerte an bestimmten An­ schlusselementen der zu verifizierenden Schaltungseinheit konfiguriert, wobei beispielsweise ein bestimmter Signalwert an einem Anschlusselement der zu verifizierenden Schaltungs­ einheit während einer Reset-Phase darüber entscheidet, ob ei­ ne Schnittstelle in einem Modus X oder einem Modus Y betrie­ ben wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden die Testbenchelementschale und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale zum Setzen und/oder Analysieren von Signalwerten bereitgestellt, die zum Konfigurieren von Schnittstellen der zu verifizieren­ den Schaltungseinheit bereitgestellt werden.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden mehrere oder sämtliche Signale, die durch eine Testbenchelementschale und/oder mindestens ei­ ne Testbenchelementteilschale laufen, protokolliert, wobei eine Speicherung in einer Datei, einer Datenstruktur und/oder einer Tabelle bereitgestellt wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung ist die Testbenchelementschale und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale als ein Daten­ multiplexer ausgebildet, um gemultiplexte Signale aufzulösen.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird die Testbenchelementschale und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale durch mindes­ tens ein Testbenchelement angesteuert.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine strukturelle Komposition von protokollerzeugenden Testbenchelementen bereitgestellt, wobei eine Instanziierung von Testbenchelementen auf einer unteren Ebene innerhalb einer Testbenchelementschale ermöglicht wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Konfigurationssignale an die zu verifizierende Schaltungseinheit angelegt, um Anschlussele­ mente zu konfigurieren.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Konfigurationssignale an die zu verifizierende Schaltungseinheit angelegt, um die mindestens eine Testbenchelementschale bzw. die mindestens eine Testben­ chelementteilschale bzw. die Testbenchelement-Kontrollschale bzw. die Testbenchelement-Verbindungsschale zu konfigurieren.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung werden Konfigurationssignale an die min­ destens eine Testbenchelementschale bzw. Testbenchelement­ teilschale bzw. Testbenchelement-Kontrollschale bzw. Testben­ chelement-Verbindungsschale angelegt, um dieselbe vorgebbar zu konfigurieren.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bereitgestellt, um transaktionsbasierte Vektoren Fertigungstest-gerecht zu erstellen.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bereitgestellt, mit welcher einzelne Bits oder Gruppen von Bits gesetzt, rückge­ setzt oder gelesen werden.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bereitgestellt, mit welcher nicht nur strukturelle Hierarchien, sondern in vor­ teilhafter Weise auch logische Hierarchien wie beispielsweise eine Klassenhierarchie, eine Aufrufhierarchie, etc. bereitge­ stellt werden.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung in der Form mindes­ tens einer Testbenchelement-Kontrollschale bereitgestellt, welche Datenströme sowohl Anlegen bzw. Schreiben als auch Auswerten bzw. Analysieren kann.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Vorrichtung bzw. mindestens ei­ ne Testbenchelement-Kontrollschale bereitgestellt, welche Testbenchelementen sowohl ein Anlegen bzw. Schreiben als auch ein Auswerten bzw. Analysieren von Datenströmen gestattet bzw. dieses vorgebbar ausschließt.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Analyse und/oder eine Auswer­ tung von Datenströmen innerhalb der mindestens einen Testben­ chelement-Kontrollschale durch Auswerteeinheiten bereitgestellt, die schnittstellenspezifisch ausgebildet sind. In vorteilhafter Weise sind diese Auswerteeinheiten daher für eine entsprechende Schnittstelle in beliebig unterschiedli­ chen Testbenchelement-Kontrollschalen variabel implementier­ bar und somit wiederverwendbar.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen unterschied­ licher Testbenchelemente auf einen einzigen Schnittstellenda­ tenstrom verhindert wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen unterschied­ licher Testbenchelemente auf jeweils einen Schnittstellenda­ tenstrom verhindert wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen einer belie­ bigen Anzahl von Testbenchelementen auf eine beliebige Anzahl von Schnittstellendatenströme verhindert wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass eine gleichzeitige Übertragung von Befehlssequenzen unter­ schiedlicher Testbenchelemente verhindert wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale derart bereitgestellt, dass dem mindestens einen Testbenchelement jeweils ein Zeitfenster zugeordnet wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme in der Testben­ chelement-Kontrollschale selbst bereitgestellt.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung verhindert eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale mittels eines Schalen- Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme eine Übertragung spezi­ fischer Befehlssequenzen und/oder Datensequenzen von dem min­ destens einen Testbenchelement zu der zu verifizierenden Schaltungseinheit.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement-Kontrollschale mittels eines Schalen- Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme derart bereitgestellt, dass ausschließlich vorgebbare Befehlssequenzen und/oder Da­ tensequenzen von dem mindestens einen Testbenchelement zu der zu verifizierenden Schaltungseinheit übertragen werden.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Überwachung von über die min­ destens eine Testbenchelement-Kontrollschale übertragenen Testdatenströmen mittels eines Schalen-Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen über­ tragener Datenströme derart bereitgestellt, dass eine Warnmeldung bei einer nicht zugelassenen Übertragung von dem min­ destens einen Testbenchelement ausgegeben wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Überwachung von über die min­ destens eine Testbenchelement-Kontrollschale übertragenen Testdatenströmen mittels eines Schalen-Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen über­ tragener Datenströme derart bereitgestellt, dass eine Priori­ sierung beispielsweise sowohl der zugreifenden Testbenchele­ mente als auch der zu übertragenden Daten- und/oder Befehls­ sequenzen bzw. der Daten- und/oder Befehlsströme durchgeführt wird.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor­ liegenden Erfindung wird eine Steuerung und/oder eine Überwa­ chung von über die mindestens eine Testbenchelement- Kontrollschale übertragenen Testdatenströmen mittels eines Schalen-Steuerdatenstroms und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme für eine beliebig vorgebbare Anzahl von an die mindestens eine Testbenchele­ ment-Kontrollschale angeschlossenen Testbenchelementen be­ reitgestellt.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung zum Anschluss von Testben­ chelementen weist weiterhin auf:

• a) eine zu verifizierende Schaltungseinheit in einer Test- /Simulationseinrichtung;
• b) mindestens ein Testbenchelement; und
• c) mindestens eine Testbenchelementschale zur Verbindung der zu verifizierenden Schaltungseinheit mit dem mindes­ tens einen Testbenchelement zur Durchleitung und zur Umschaltung von Schnittstellendatenströmen und von Testda­ tenströmen.

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher er­ läutert.

In den Zeichnungen zeigen:

Fig. 1 eine zwischen einer zu verifizierenden Schaltungs­ einheit und entsprechenden Testbenchelementen ange­ ordnete Testbenchelementschale gemäß einer bevor­ zugten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;

Fig. 2 eine Testbenchelementschale, die eine zu verifizie­ rende Schaltungseinheit teilweise umgibt, gemäß ei­ ner weiteren bevorzugten Ausführungsform der vor­ liegenden Erfindung;

Fig. 3 eine in eine erste Testbenchelementteilschale und eine zweite Testbenchelementteilschale aufgeteilte Testbenchelementschale gemäß einem weiteren Ausfüh­ rungsbeispiel der vorliegenden Erfindung;

Fig. 4 ein herkömmliches Verfahren zum Anschließen von Testbenchelementen an eine zu verifizierende Schal­ tungseinheit;

Fig. 5 zwei zwischen der zu verifizierenden Schaltungsein­ heit und entsprechenden Testbenchelementen angeord­ nete Testbenchelement-Kontrollschalen gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der vorliegen­ den Erfindung; und

Fig. 6 eine zwischen der zu verifizierenden Schaltungsein­ heit und entsprechenden Testbenchelementen angeord­ nete Testbenchelement-Verbindungsschale gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der vorliegen­ den Erfindung.

Fig. 1 zeigt eine zwischen einer zu verifizierenden Schal­ tungseinheit und entsprechenden Testbenchelementen angeordne­ te Testbenchelementschale gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.

Bei der in Fig. 1 gezeigten Anordnung sind beispielhaft drei Testbenchelemente 102a, 102b und 102c gezeigt, wobei die Testbenchelemente 102a und 102b serielle Schnittstellen auf­ weisen, um über eine Testbenchelementschale 201 serielle Testdatenströme 112 mit der zu verifizierenden Schaltungsein­ heit 101 auszutauschen, und das Testbenchelement 102c mit ei­ ner parallelen Schnittstelle versehen ist, um einen paralle­ len Testdatenstrom 113 über die Testbenchelementschale 201 mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 auszutau­ schen.

Es sei jedoch darauf hingewiesen, dass mehr als drei oder we­ niger als drei Testbenchelemente an die Testbenchelementscha­ le 201 anschließbar sind. In dem in Fig. 1 gezeigten Ausfüh­ rungsbeispiel ist die Testbenchelementschale 201 wiederum mit einer zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 über Schnitt­ stellendatenströme P0(0)-P0(7) verbunden, wobei hier insge­ samt acht Leitungen für einen Austausch von Datenströmen zwi­ schen Schnittstellen bereitgestellt sind. Weitere Schnitt­ stellendatenströme 202 können prinzipiell mit der zu verifi­ zierenden Schaltungseinheit 101 ausgetauscht werden. Jedes einzelne Testbenchelement 102a-102c enthält spezifische Steu­ erdatenströme 111a-111c von einem Testbench-Controller 103.

Weiterhin wird, wie durch eine gestrichelte Linie 111d ange­ zeigt, ein Steuerdatenstrom direkt von dem Testbench- Controller 103 zu der Testbenchelementschale 201 geleitet, um ein Festlegen spezifischer Konfigurationen von Schnittstellen zu ermöglichen. Weitere Steuerdatenströme, wie durch einen gestrichelten Pfeil 111i angezeigt (i = Laufindex), verdeut­ lichen, dass mehr als drei Testbenchelemente 102a-102c von dem Testbench-Controller 103 angesteuert werden können. Zur Übersichtlichkeit, und um eine überlappende Beschreibung zu vermeiden, sind der Testbench-Controller 103 und Verbindungen zwischen dem Testbench-Controller 103 und entsprechenden Testbenchelementen 102a-102g in den folgenden Fig. 2 und 3 weggelassen, wobei in den Fig. 2 und 3 lediglich Steuerda­ tenströme 111a-111g in Form von Doppelpfeilen angezeigt sind.

Die in Fig. 1 gezeigte Testbenchelementschale 201 wird nach­ folgend unter Bezugnahme auf die Fig. 2 und 3 näher erläu­ tert.

Fig. 2 veranschaulicht eine Testbenchelementschale, die eine zu verifizierende Schaltungseinheit teilweise umgibt, gemäß einer Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.

Bei der in Fig. 2 gezeigten Anordnung umgibt eine Testben­ chelementschale 201 eine zu verifizierende Schaltungseinheit 101 fast vollständig, so dass die Testbenchelemente 102a-102f mit der Testbenchelementschale 201 verbindbar sind. Lediglich ein siebtes Testbenchelement 102g ist über einen Testdaten­ strom 203g direkt mit der zu verifizierenden Schaltungsein­ heit 101 verbunden.

Es sei darauf hingewiesen, dass in dem in Fig. 2 gezeigten Ausführungsbeispiel sechs Testbenchelemente 102a-102f direkt mit der Testbenchelementschale 201 verbunden sind, während ein Testbenchelement 102g direkt mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 verbunden ist, dass aber eine unter­ schiedliche Anzahl als die in Fig. 2 gezeigte Anzahl von Testbenchelementen direkt mit der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit 101 bzw. der Testbenchelementschale 201 verbun­ den werden kann. Testdatenströme 203a-203f laufen jeweils zwischen den Testbenchelementen 102a-102f und der Testbenche­ lementschale 201. Ein Testdatenstrom 203g läuft zwischen ei­ nem Testbenchelement 102g und der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit 101.

Während der Anschluss des Testbenchelementes 102g nach dem in Fig. 4 gezeigten Stand der Technik erfolgt, ist der An­ schluss der Testbenchelemente 102a-102f in Fig. 2 über die Testbenchelementschale 201 nach einem Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung ausgebildet. Die eine zu verifizieren­ de Schaltungseinheit 101 umgebende Testbenchelementschale 201 ist wiederum über Schnittstellendatenströme 204a, 204b und 204c mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 verbun­ den. In dem Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfah­ rens zum Anschließen von Testbenchelementen, das in Fig. 2 gezeigt ist, sorgt die Testbenchelementschale 201 nun dafür, dass jeweils ein bestimmtes Protokoll mit zugehörigen Opera­ tionen ablauffähig ist, wobei je nach Konfiguration eine Schnittstelle Schnittstellendatenströme der zu verifizieren­ den Schaltungseinheit mit dem entsprechenden Testbenchelement verbindet. Verbindungen von Testbenchelementen mit der zu ve­ rifizierenden Schaltungseinheit 101 können zu Beginn einer Simulation oder eines Tests aufgebaut werden und dann fest bleiben, sie können aber auch während einer Simulation oder eines Tests modifiziert werden.

Die Konfiguration einer Testbenchelementschale 201 kann somit über einen zentralen Testbench-Controller 103 erfolgen, oder dezentral über weitere Testbenchelemente 102a-102g oder vollständig unabhängig über extern vorgebbare Tabellen, Daten­ strukturen oder Dateien erfolgen.

Fig. 3 stellt eine in eine erste Testbenchelementteilschale 301 und eine zweite Testbenchelementteilschale 302 aufgeteil­ te Testbenchelementschale gemäß einem weiteren Ausführungs­ beispiel der vorliegenden Erfindung dar.

Das in Fig. 3 gezeigte Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung weist eine modifizierte Testbenchelementschale auf, wobei die Testbenchelementschale in eine erste Testbenchele­ mentteilschale 301 und eine zweite Testbenchelementteilschale 302 aufgesplittet ist. Es sei darauf hingewiesen, dass die Testbenchelementschale auch in mehr als zwei Testbenchele­ mentteilschalen aufgesplittet werden kann. Wie in Fig. 3 ge­ zeigt, sind die vier Testbenchelemente 102a-102d mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 über die erste Testben­ chelementteilschale 301 verbunden, während die Testbenchele­ mente 102e und 102f in die zweite Testbenchelementteilschale 302 integriert sind. Das siebte Testbenchelement 102g ist, wie in Fig. 2 gezeigt, in herkömmlicher Weise über einen Testdatenstrom 203g direkt mit der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit 101 verbunden.

Die übrigen in Fig. 3 gezeigten Verbindungen entsprechen den in Fig. 2 gezeigten Verbindungen, die hier nicht erneut be­ schrieben werden, um eine überlappende Beschreibung zu ver­ meiden.

Bei der in Fig. 3 gezeigten Anordnung sind die Testbenchele­ mente 102e und 102f nicht nur auf der obersten Ebene struktu­ rell verbunden, sondern sind in einer eigenen Testbenchele­ mentteilschale 302 strukturell verbunden, um eine Wiederver­ wendbarkeit und eine Strukturierbarkeit von Testbenches mit dem Testbenchelementschalen-Konzept zu verbessern. Somit können die Testbenchelemente 102e und 102f in dem Ausführungs­ beispiel der vorliegenden Erfindung in einer eigenen Testben­ chelementteilschale 302 auf einer unteren Ebene instanziiert werden.

Fig. 5 zeigt zwei zwischen der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit 101 und entsprechenden Testbenchelementen 102a-­ 102n angeordnete Testbenchelement-Kontrollschalen, d. h. eine erste Testbenchelement-Kontrollschale 401 und eine zweite Testbenchelement-Kontrollschale 402.

In dem in Fig. 5 gezeigten Blockbild ist eine Anordnung ge­ mäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht. Die zu verifizierende Schaltungs­ einheit 101 ist über erste Schnittstellendatenströme P0(0)-­ P0(3) mit der ersten Testbenchelement-Kontrollschale 401 ver­ bunden, welche mit den Testbenchelementen 102a, 102b serielle Testdatenströme 112 austauscht, sowie über zweite Schnitt­ stellendatenströme P1(0)-P1(7) mit einer zweiten Testbenche­ lement-Kontrollschale 402 verbunden, welche parallele Testda­ tenströme 113 mit den Testbenchelementen 102i und 102n aus­ tauscht.

Es sei darauf hingewiesen, dass grundsätzlich mehr als zwei Testbenchelement-Kontrollschalen 401, 402 vorhanden sein kön­ nen. Gemäß dem in Fig. 5 gezeigten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung weisen die Testbenchelement- Kontrollschalen 401 bzw. 402 spezifische Merkmale auf, die es erlauben, Signale unidirektional und bidirektional zu kon­ trollieren bzw. zu überwachen und zu steuern.

Weiterhin ist in der Fig. 5 veranschaulicht, dass die zweite Testbenchelement-Kontrollschale 402 einen Schalen- Steuerdatenstrom 403 von dem Testbench-Controller 103 erhält, während die erste Testbenchelement-Kontrollschale 401 unabhängig von dem Testbench-Controller 103 auf durchgeleitete Signalverläufe bzw. Datenströme anspricht.

Eine Kontrolle bzw. eine Überwachung oder eine Steuerung ei­ nes Zustands von Testbenchelementen 102a-102n bzw. von Be­ triebsweisen der Testbenchelemente 102a-102n führt nun erfin­ dungsgemäß zu unterschiedlichen Konsequenzen.

Erstens wird durch die Testbenchelement-Kontrollschale 401 eine Warnmeldung bzw. eine Fehlermeldung ausgegeben, wenn mehrere unterschiedliche Testbenchelemente 102a-102n gleich­ zeitig auf jeweils eine und/oder auf insgesamt eine einzige Schnittstelle zugreifen bzw. wenn spezifische, nicht zugelas­ sene Abfolgen von Signalsequenzen bzw. Befehlssequenzen auf­ treten.

Zweitens kann mindestens eine Testbenchelement-Kontrollschale 401 bzw. 402 eine vorgebbare Priorisierung durchführen, wel­ che es erlaubt, dass durch die Testbenchelemente 102a-102n auf die entsprechende Schnittstelle in einer vorgebbaren Ab­ folge zugegriffen wird oder bei gleichzeitigem Zugriff ein Konflikt vermieden wird.

Schließlich können durch die Testbenchelement-Kontrollschalen 401, 402 eine oder mehrere Befehlssequenzen in den übertrage­ nen Datenströmen blockiert werden, so dass nur zugelassene Befehlssequenzen übertragbar sind.

Fig. 6 veranschaulicht eine zwischen der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 und entsprechenden Testbenchelementen 102a-102n angeordnete Testbenchelement-Verbindungsschale 601 gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform der vorlie­ genden Erfindung.

Die zu verifizierende Schaltungseinheit 101 ist über erste Schnittstellendatenströme P0(0)-P0(3) sowie über zweite Schnittstellendatenströme P1(0)-P1(7) mit der Testbenchele­ ment-Verbindungsschale 601 verbunden, wobei in diesem Bei­ spiel mit den Testbenchelementen 102a, 102b serielle Testda­ tenströme 112 und mit den Testbenchelementen 102i und 102n parallele Testdatenströme 113 ausgetauscht werden.

Weiterhin ist in Fig. 6 verdeutlicht, dass die Testbenchele­ ment-Verbindungsschale 601 einen Schalen-Steuerdatenstrom 403 von dem Testbench-Controller 103 erhält. Darüber hinaus spricht Testbenchelement-Verbindungsschale 601 unabhängig von dem Testbench-Controller 103 auf durchgeleitete Signalverläu­ fe bzw. Datenströme an.

Um eine mit Fig. 5 überlappenden Beschreibung zu vermeiden, wird im folgenden auf die speziellen Eigenschaften der Testbenchelement-Verbindungsschale 601 der Fig. 6 deteail­ lierter eingegangen.

Die Testbenchelement-Verbindungsschale 601 dient insbesondere einer - in Fig. 6 beispielhaft gezeigten - Schnittstellenverbindung 602 zwischen Schnittstellensignalen bzw. -bussen und/oder Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101. Weiterhin können unterschiedliche Schnittstellenverbindungen 602 gleichzeitig vorhanden sein und beliebige Verbindungsstrukturen zwischen den entsprechenden Schnittstellen ausbilden.

Es sei darauf hingewiesen, dass sämtliche der o. a. Ausprägun­ gen einer Testbenchelementschale (beispielsweise eine Testbenchelement-Kontrollschale, eine Testbenchelement- Verbindungsschale etc.) sowie deren Betriebsweisen beliebig kombinierbar, verschachtelbar, zusammenfassbar und/oder in­ tegrierbar sind. So kann beispielsweise eine Testbenchelement-Verbindungsschale sowohl die Datenströme analysieren, als auch die Verbindungsstruktur modifizieren und die Kommu­ nikation eines Testbenchelements überwachen. Jedwede unter­ schiedlichen Kombinationen sind ausführbar und können ent­ sprechend den jeweiligen Erfordernissen bereitgestellt wer­ den.

Bezüglich des in Fig. 4 dargestellten herkömmlichen Verfah­ rens zum Anschließen von Testbenchelementen an eine zu veri­ fizierende Schaltungseinheit wird auf die Beschreibungsein­ leitung verwiesen.

Bezugszeichenliste

In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche Komponenten.

101

Zu verifizierende Schaltungseinheit

102

a, . . .

102

i, . . .

102

n Testbenchelemente (i = Laufindex)

103

Testbench-Controller

104

Steuerelement

111

a, . . .

111

i, . . .

111

n Steuerdatenstrom (i = Laufindex)

112

Serieller Testdatenstrom

113

Paralleler Testdatenstrom

114

Controller-Datenstrom

201

Testbenchelementschale

202

Weitere Schnittstellendatenströme

203

a, . . .,

203

g Testdatenströme

204

a,

204

b,

204

c Schnittstellendatenströme

301

Erste Testbenchelementteilschale

302

Zweite Testbenchelementteilschale
P0(0), . . ., P0(7), P0(0), . . ., P0(3) P1(0), . . ., P1(7) Schnittstellendatenströme

401

Erste Testbenchelement-Kontrollschale

402

Zweite Testbenchelement-Kontrollschale

403

Steuerdatenstrom

601

Testbenchelement-Verbindungsschale

602

Schnittstellenverbindung

Claims (41)

1. Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifi­ zierenden Schaltungseinheit (101), bei dem Schnittstellenda­ tenströme (P0(0)-P0(7), P1(0)-P1(7), (203a-204c) der zu veri­ fizierenden Schaltungseinheit (101) mit Testbenchelementen (102a-102n) in einer Test-/Simulationseinrichtung ausge­ tauscht werden, mit den Schritten:

• a) Anschließen der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) an mindestens eine Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402) der Test-/Simulationseinrichtung zum Durchleiten und zum Umschalten von Schnittstellendatenströmen (204a, 204b, 204c), die von der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) an die zugehörigen Testbenchelemente (102a-102n) ent­ sprechend abgegeben werden;
• b) Anschließen der mindestens einen Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402) an die Testbenchelemente (102a-­ 102n) zum Durchleiten von Testdatenströmen (203a-203n), die von den Testbenchelementen (102a-102n) an die zu verifizierende Schaltungseinheit (101) abgegeben werden;
• c) Steuern eines Durchleitens von Signalsequenzen und/oder Befehlssequenzen durch mindestens eine Testbenchelement- Schale (401, 402) mittels eines von einem Testbench- Controller (103) bereitgestellten Schalen-Steuerdatenstroms (403) derart, dass vorgebbare Signalsequenzen und/oder Be­ fehlssequenzen in einer vorgebbaren Priorisierung zwischen der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) und entspre­ chenden Testbenchelementen (102a-102n) ausgetauscht werden; und
• d) Auswerten der Schnittstellendatenströme (P0(0)-P0(7), P1(0)-P1(7), 204a, 204b, 204c) durch eine an die Testbenche­ lemente (102a-102n) angeschlossene Testbenchelementschale zur Überprüfung der korrekten Funktionsfähigkeit der zu veri­ fizierenden Schaltungseinheit (101).

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Testbenchelementschale (201) vollständig um eine zu verifizierende Schaltungseinheit (101) herum angeordnet wird, um ein Durchschalten von Schnittstellendatenströmen (204a-­ 204c) zu entsprechenden Testbenchelementen (102a-102n) be­ reitzustellen.

3. Verfahren nach einem oder beiden der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine Testbenchelementschale (201) teilweise um eine zu verifizierende Schaltungseinheit (101) herum angeordnet wird, um ein teilweises Durchschalten von Schnittstellendatenströ­ men (204a-204c) zu entsprechenden Testbenchelementen (102a­ -102n) bereitzustellen.

4. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass eine Testbenchelementschale (201) in mindestens zwei Testbenchelementteilschalen (301, 302) unterteilt wird, damit Testbenchelemente unterschiedlicher Ausprägungen mit Schnitt­ stellendatenströmen (204a-204c) beaufschlagt werden können.

5. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 4, dadurch gekennzeichnet, dass in einer Testbenchelementteilschale (301, 302) eine Konfiguration bereitgestellt wird, welche Schnittstellenda­ tenströme (204a-204c) der zu verifizierenden Schaltungsein­ heit (101) mit einem entsprechenden Testbenchelement (102a-­ 102n) verbindet.

6. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass Verbindungen von Testbenchelementen (102a-102n) mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) zu Beginn oder während einer Simulation und/oder eines Tests ausgebildet werden und dann fest bleiben.

7. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass Verbindungen von Testbenchelementen (102a-102n) mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) während einer Simulation und/oder eines Tests modifiziert werden.

8. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass eine Konfiguration einer Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) über einen zentralen Testbench- Controller (103) bereitgestellt wird.

9. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass eine Konfiguration einer Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) dezentral über mindestens ein Testbenchelement (102a-102n) bereitgestellt wird.

10. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass Testbenchelemente mit einer Testbenchelementschale (201) oder mindestens zwei Testbenchelementteilschalen (301, 302) in einer eigenen Untereinheit verbunden werden, wobei mindes­ tens ein Testbenchelement in eine Testbenchelementschale (201) bzw. eine Testbenchelementteilschale (301, 302) integ­ riert ist.

11. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass Schnittstellen einer zu verifizierenden Schaltungsein­ heit (101) über Signalwerte an bestimmten Anschlusselementen der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) und die ent­ sprechende Schale konfiguriert werden, wobei ein vorgebbarer Signalwert an einem Anschlusselement der zu verifizierenden Schaltungseinheit während einer Reset-Phase festlegt, ob eine Schnittstelle in einem Modus X oder einem Modus Y betrieben wird.

12. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Testbenchelementschale (201) und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale (301, 302) zum Setzen und/oder Analysieren von Signalwerten bereitgestellt werden, die zum Konfigurieren von Schnittstellen der zu verifizieren­ den Schaltungseinheit (101) bereitgestellt werden.

13. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass eine Vorrichtung bereitgestellt wird, mit welcher ein­ zelne Bits gesetzt, rückgesetzt oder gelesen werden.

14. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass mehrere oder sämtliche Signale, die durch eine Testben­ chelementschale (201) und/oder mindestens eine Testbenchele­ mentteilschale (301, 302) laufen, protokolliert werden, wobei eine Speicherung der protokollierten Signale in einer Datei, einer Tabelle und/oder einer Datenstruktur bereitgestellt wird.

15. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass die Testbenchelementschale (201) und/oder die mindestens eine Testbenchelementteilschale (301, 302) als ein Datenmul­ tiplexer ausgebildet werden, um gemultiplexte Signale aufzu­ lösen.

16. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass eine Konfiguration der Testbenchelementschale (201) und/oder der mindestens einen Testbenchelementteilschale (301, 302) über extern vorgebbare Tabellen, Datenstrukturen und/oder Dateien bereitgestellt wird.

17. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass eine strukturelle Komposition von protokollerzeugenden Testbenchelementen (102a-102n) bereitgestellt wird, wobei eine Instanziierung von Testbenchelementen (102a-102n) auf einer unteren Ebene innerhalb einer Testbenchelementschale (201, 301, 302) bereitgestellt wird.

18. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass Konfigurationssignale an die mindestens eine Testbenche­ lementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) angelegt werden, um dieselbe vorgebbar zu konfigurieren.

19. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass Konfigurationssignale an die zu verifizierende Schal­ tungseinheit (101) angelegt werden, um eine Testbenchelement­ schale (201) und/oder mindestens eine Testbenchelementteil­ schale (301, 302) zu konfigurieren.

20. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) bereitgestellt wird, mit welcher strukturelle Hierarchien und/oder logische Hierarchien wie beispielsweise eine Klassenhierarchie, eine Aufrufhierarchie, etc. bereitge­ stellt werden.

21. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) bereitgestellt wird, um transaktionsbasierte Vektoren Fertigungstest-gerecht zu erstellen.

22. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) bereitgestellt wird, wobei zugelassen oder verhindert wird, dass Testbenchelemente (102a-102n) Daten­ ströme sowohl anlegen bzw. schreiben, als auch auswerten bzw. analysieren.

23. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement- Kontrollschale (401, 402) derart bereitgestellt wird, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen (112, 113) unterschiedlicher Testbenchelemente (102a-102n) auf jeweils eine einzige Schnittstelle verhindert wird.

24. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement- Kontrollschale (401, 402) derart bereitgestellt wird, dass eine gleichzeitige Übertragung von Befehlssequenzen unter­ schiedlicher Testbenchelemente (102a-102n) verhindert wird.

25. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Steuerung mindestens einer Testbenchelement- Kontrollschale (401, 402) derart bereitgestellt wird, dass dem mindestens einen Testbenchelement (102a-102n) jeweils ein Zeitfenster zugeordnet wird.

26. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 25, dadurch gekennzeichnet, dass eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement- Kontrollschale (401, 402) durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme in der Testbenchele­ ment-Kontrollschale (401) selbst bereitgestellt wird.

27. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 23 bis 26, dadurch gekennzeichnet, dass eine Überwachung von über die mindestens eine Testben­ chelement-Kontrollschale (401, 402) übertragenen Testdaten­ strömen (112, 113) mittels eines Schalen-Steuerdatenstroms (403) und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme derart bereitgestellt wird, dass eine Warnmeldung bei einer nicht zugelassenen Übertragung von dem mindestens einen Testbenchelement (102a-102n) ausgegeben wird.

28. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 23 bis 27, dadurch gekennzeichnet, dass eine Steuerung und/oder eine Überwachung von über die mindestens eine Testbenchelement-Kontrollschale (401, 402) übertragenen Testdatenströmen (112, 113) mittels eines Scha­ len-Steuerdatenstroms (403) und/oder durch ein Analysieren bzw. durch ein Erkennen übertragener Datenströme für eine beliebig vorgebbare Anzahl von an die mindestens eine Testbenchelement-Kontrollschale (401, 402) angeschlossenen Testbenchelementen (102a-102n) bereitgestellt wird.

29. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 28, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) bereitgestellt wird, mit welcher Datenströme sowohl angelegt bzw. geschrieben als auch ausgewertet bzw. analysiert werden können.

30. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass in mindestens einer Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) mindestens eine Auswerteeinheit schnitt­ stellenspezifisch und beliebig wiederverwendbar bereitge­ stellt wird, um Datenströme zu analysieren und auszuwerten.

31. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 23, dadurch gekennzeichnet, dass eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement- Kontrollschale (401, 402) derart bereitgestellt wird, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen (112, 113) mehrerer Testbenchelemente (102a-102n) auf insgesamt eine einzige Schnittstelle verhindert wird.

32. Verfahren nach den Ansprüchen 1, 23 und 31, dadurch gekennzeichnet, dass eine Steuerung von mindestens einer Testbenchelement- Kontrollschale (401, 402) derart bereitgestellt wird, dass ein gleichzeitiger Zugriff von Testdatenströmen (112, 113) einer beliebigen Anzahl von Testbenchelementen (102a-102n) auf eine beliebige Anzahl von Schnittstellen verhindert wird.

33. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass eine Testbenchelement-Verbindungsschale (601) bereitge­ stellt wird, welche vorgebbare Verbindungsstrukturen als Schnittstellenverbindungen (602) aufbaut, um eine Verbindung und/oder Umleitung und/oder Zuweisung von Schnittstellensig­ nalen bzw. -bussen sowie Ein-/Ausgangssignalen bzw. -bussen der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) auszubilden.

34. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 33, dadurch gekennzeichnet, dass eine Testbenchelement-Verbindungsschale (601) bereitge­ stellt wird, welche vorgebbare Verbindungsstrukturen als Schnittstellenverbindungen (602) temporär während einer Simu­ lation oder eines Tests aufbaut oder dauerhaft bereitstellt, um eine Verbindung und/oder Umleitung und/oder Zuweisung von Schnittstellensignalen bzw. -bussen sowie Ein- /Ausgangssignalen bzw. -bussen der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit (101) flexibel auszubilden.

35. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass Konfigurationssignale an die zu verifizierende Schal­ tungseinheit (101) angelegt werden, um Anschlusselemente zu konfigurieren.

36. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass schnittstellenspezifisch mindestens eine spezielle, beliebig wiederverwendbare und beliebig häufig einsetzbare Auswerteeinheit, die in die mindestens eine Testbenchelement­ schale integriert ist, zur Analyse und Auswertung der Daten­ ströme bereitgestellt wird.

37. Vorrichtung zum Simulieren und zum Testen einer zu veri­ fizierenden Schaltungseinheit (101), mit:

• a) einer zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) in einer Test-/Simulationseinrichtung;
• b) mindestens einem Testbenchelement (102a-102n); und
• c) mindestens einer Testbenchelementschale (201, 301, 302, 401, 402, 601) zur Verbindung der zu verifizierenden Schal­ tungseinheit (101) mit dem mindestens einen Testbenchelement (102a-102n) zur Durchleitung und zur Umschaltung von Schnitt­ stellendatenströmen (P0(0)-P0(7), P1(0)-P1(7), 204a, 204b, 204c) und von Testdatenströmen (112, 113).

38. Vorrichtung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, dass die Testbenchelementschale (201) in mindestens zwei Testbenchelementteilschalen (301, 302) unterteilt ist.

39. Vorrichtung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, dass die Testbenchelementschale (201) in mindestens zwei Testbenchelement-Kontrollschalen (401, 402) unterteilt ist.

40. Vorrichtung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, dass eine Einrichtung zum Anlegen bzw. Schreiben und/oder zum Auswerten bzw. Analysieren von Datenströmen bereitgestellt ist, welche in beliebig vorgebbare Testbenchelementschalen integrierbar ist.

41. Vorrichtung nach Anspruch 37, dadurch gekennzeichnet, dass die Testbenchelementschale (201) in mindestens zwei Testbenchelement-Verbindungsschalen unterteilt ist.