DE3241175C2 - - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft ein Prüfsystem der im Gattungsbe­ griff das Patentanspruches 1 beschriebenen Art.

Es ist für solche Baugruppen kennzeichnend, daß ihre Re­ aktion auf eingegebene Anreize nicht ohne weiteres vorher­ sehbar ist, da diese Anreize Entscheidungsprozesse auslö­ sen, die von der Programmierung des Prüflings, d.h. vom Inhalt seines Programmspeichers und von anderen Speicher­ inhalten abhängig sind. Damit unterscheiden sich solche Baugruppen grundsätzlich von "reinen" Logikbaugruppen, die ausschließlich aus Gattern aufgebaut sind und deren Ant­ wortsignale aufgrund der realisierten logischen Verknüp­ fung eindeutig determiniert sind. Weitere Probleme erge­ ben sich durch das dynamische Verhalten der dem Prozessor zugeordneten oder mit ihm in Wechselwirkung stehenden Speicherbausteine, welches durch die Eigenschaften und das spezifische Verhalten der übrigen Bausteine beein­ flußbar ist und z. B. durch Umladungsvorgänge im Bussystem verändert werden kann.

Nach alle dem versteht sich von selbst, daß durch das statische Anlegen von Signalen und das statische Abfra­ gen der sprechenden Antwortmuster Aussagen über eine ein­ wandfreie Funktion des Prüflings nicht gewonnen werden können. Die Prüfung muß deshalb dynamisch erfolgen. Da­ bei darf die Prüfgeschwindigkeit nicht von der Geschwin­ digkeit abweichen, mit welcher der Prüfling im praktischen Betrieb arbeitet, da anderenfalls die Gefahr besteht, daß bestimmte Fehlerarten nicht auftreten und daher selbstver­ ständlich auch nicht erkannt werden können.

Die einem Prozessor zugeordneten oder mit ihm zusammenwir­ kenden Speicher können unter Umständen anders reagieren als ihr an sich korrekter Speicherinhalt es erwarten läßt bzw. es kann der Fall auftreten, daß der Prozessor die Speicherinhalte falsch rezipiert. Die Gründe hierfür kön­ nen in Pegelveränderungen, in der Flankensteilheit der Da­ tensignale oder im timing liegen. Zu berücksichtigen sind ferner die endlichen Laufzeiten im Bussystem und auf den Steuerleitungen.

Zu bedenken ist schließlich auch, daß das Verhalten des Prüflings von der Anwendersoftware beeinflußt wird.

Aus alle dem ergibt sich, daß die Prüfung von Steuerwerks­ baugruppen vom Prüfpersonal detaillierte Kenntnisse der zu prüfenden Baugruppe und zwar sowohl ihrer Schaltungstech­ nik als auch der in ihr niedergelegten Software - und zwar in Maschinensprache - verlangt.

Es ist bekannt, Mikroprozessor-Baugruppen mit Hilfe von sogenannten Großautomaten zu prüfen. Diese bekannte Lö­ sung ist mit folgenden Nachteilen verbunden: Im Regel­ fall sind keine Echtzeitbedingungen gegeben, wobei un­ ter "Echtzeit" im folgenden nicht nur der normierte Re­ ziprokwert der Arbeitsgeschwindigkeit sondern auch cha­ rakteristische Werte der im praktischen Betrieb gegebenen originalen Bit-Strom-Sequenzen verstanden sein sollen. Weiterhin bedingt die Prüfung auf Großautomaten hohen ge­ rätetechnischen und Programmieraufwand. Selbstverständ­ lich eignet sich ein solches Prüfverfahren auch nicht zur Prüfung von Baugruppen beim Geräteservice am Einsatzort, z. B. in einer Fernsprechvermittlungsstelle.

Schließlich bedarf es zur Prüfung qualifizierten Perso­ nals mit ausreichender Kenntnis der Automatenfunktion.

Es ist weiter bekannt, zur Prüfung von Mikroprozessor- Baugruppen sogenannte µP-System-Analyzer einzusetzen. Ein entsprechendes Testgerät ist beispielsweise in dem Auf­ satz "Universelles Testgerät für Entwicklung, Prüfung und Reparatur von Mikroprozessor-Baugruppen" in der Fachzeit­ schrift "Der Elektroniker" Nr. 6/81, Seiten 8 bis 11 be­ schrieben. Derartige Testgeräte bringen wesentliche Vorteile bei der Prüfung mit sich. Eine Echtzeitprüfung im oben de­ finierten Wortsinn ist mit ihnen jedoch nicht möglich, wenn auch die Funktionstests zum Großteil in Echtzeit ablaufen, weil mit dem "Original-timing" des Prüflings gearbeitet wird. Es kann ferner als ein Nachteil betrachtet werden, daß derartige Testgeräte einen nicht unerheblichen speziellen Software-Aufwand benötigen und daß trotzdem eine vollstän­ dige Funktionsprüfung einer Steuerwerksbaugruppe nicht möglich ist.

Durch DD 1 55 215 ist ein Test- und Servicegerät für Mikro­ rechnersysteme bekannt, bei dem das Anwendersystem des Prüf­ lings durch das angeschlossene Testgerät in keiner Weise be­ einflußt sondern nur beobachtet wird, wobei dieses Beobach­ ten auch das Lesen von Speicherinhalten des Anwendersystems durch direkten Speicherzugriff und das Beschreiben von Spei­ cherzellen des Anwendersystems ermöglicht.

Durch GB 20 86 103 A ist ein Testgerät in Form eines trag­ baren Mikroprozessorsystems mit steckbaren Programmspei­ chermodulen bekannt, das zum Prüfen vom Computer-Peripherie­ geräten dient. Das System stellt somit einen spezialisier­ ten Computer dar, das eine Prüfung der Peripheriegeräte un­ abhängig von ihrem Host-Computer ermöglicht, wobei durch Austausch des Programmspeichermoduls an die jeweiligen Pe­ ripheriegeräte angepaßte Testroutinen durchgeführt werden können.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein System der im Oberbegriff von Anspruch 1 beschriebenen Art zu schaffen, das eine direkte Prüfung von Steuerwerksbaugruppen ermög­ licht, wobei man in diese Prüfung sowohl die Prozessoren der Steuerwerksbaugruppe als auch ihre peripheren Ergänzungen, wie z. B. Programmspeicherbaugruppen und dgl., einbeziehen kann. Dabei soll der prüfungsspezifische Software-Aufwand des Systems so gering wie möglich und das System selbst sehr preiswert zu realisieren sein.

Die Lösung dieser Aufgabe ergibt sich aus Patentanspruch 1.

Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Er­ findung sind Gegenstand der Unteransprüche, auf die hier­ mit zur Verkürzung der Beschreibung ausdrücklich verwie­ sen wird.

Einer der Hauptvorteile des Prüfsystems gemäß der Erfindung besteht darin, daß durch die Übernahme von für den Prüfling entwickelter Software in das Prüfsystem der zusätzliche Programmieraufwand sehr gering ist. Aus dieser Software- Übernahme ergibt sich weiter der Vorteil, daß bei Änderung der Prüflingssoftware keine Änderung des Betriebsprogrammes des Prüfsystems erforderlich ist. Mit dem Prüfsystem gemäß der Erfindung ist es möglich, durch Nachbildung der origi­ nalen Baugruppen-"Umgebung" echte Betriebsbedingungen her­ zustellen, also eine Echtzeitprüfung im obigen Wortsinn auszuführen. Ein Merkmal dieser echten Funktionsprüfung ist es auch, daß die Speicherplätze der Speicherbausteine mit den auch im praktischen Betrieb verwendeten originalen Bitmustern beschrieben werden. Ein weiterer Vorteil besteht darin, daß bei der Funktionsprüfung im Servicefall kunden­ spezifische Daten, die in den Speichern niedergelegt sind, konserviert und nach erfolgter Prüfung wieder zurückgeschrie­ ben werden können. Weiterhin ermöglicht das Prüfsystem ge­ mäß der Erfindung sehr kurze Prüfzeiten und eine große Prüf­ tiefe. Die bei der Prüfung ermittelten Fehler können auf einem Display angezeigt werden. Falls die entsprechende Fehleraussage zur Lokalisierung nicht ausreicht, ist eine Fehlersuche mittels "Katalog" möglich, in dem vorgeschrie­ bene Analyseabläufe niedergelegt sind und der eine Fehlerver­ folgung durch Anlegen von in dem Prüfsystem erzeugten Trig­ gersignalmustern und durch Beobachten der zugeordneten Reaktionen (z. B. auf einem Oszillographen) ermöglicht.

Es ist für die Technik elektronischer Geräte kennzeichnend, daß die Typenvielfalt der Baugruppen sich durch das Vordrin­ gen von Halbleiterschaltkreisen mit großer Integrations­ dichte und von programmierbaren Bausteinen drastisch ver­ ringert hat. Das bedeutet umgekehrt, daß die verbleibenden Baugruppentypen in großer Stückzahl verwendet werden. Das Prüfsystem gemäß der Erfindung besteht im wesentlichen aus einem Spezialprüfgerät, das einem bestimmten Baugruppentyp "gewidmet" ist. Eine solche Spezialisierung rechtfertigt sich einerseits dadurch, daß der betreffende Baugruppentyp in großer Zahl vorhanden ist und andererseits durch die geringen Kosten des Prüfgerätes. Unterschiedliche Funktionen ein und desselben Baugruppentyps werden durch unterschied­ liche Programmierung der entsprechenden programmierbaren Bausteine realisiert. Das Prüfgerät im Prüfsystem gemäß der Erfindung trägt dem dadurch Rechnung, daß entsprechende unterschiedliche Programmodule, z. B. durch Steckverbinder, adaptierbar sind.

Im folgenden sei die Erfindung anhand der Zeichnungen nä­ her erläutert:

Fig. 1 zeigt ein Blockschaltbild eines Prüfsystems gemäß der Erfindung, wobei im linken Teil der Zeichnung das Prüfgerät und im rechten Teil der Prüfling an­ gedeutet sind,

Fig. 2 zeigt einen Prüfkoffer für das Prüfsystem gemäß der Erfindung in perspektivischer Ansicht.

Das in Fig. 1 dargestellte Blockschaltbild ist durch eine strichpunktierte Linie in zwei Bereiche unterteilt. Der rechte Bereich stellt einen Prüfling dar, der linke Be­ reich ein Prüfgerät. Die strichpunktierte Linie entspricht der z. B. als Steckverbinder ausgebildeten Kontaktierungs­ vorrichtung, mit welcher der Prüfling bei seinem bestim­ mungsgemäßen Einsatz an das Gerät angeschlossen wird, von dem er einen Bestandteil bildet. Der Prüfling, der im vor­ liegenden Fall eine Steuerwerksbaugruppe für eine Fern­ sprechvermittlungsanlage ist, besitzt eine als CPU bezeich­ nete Zentralprozessoreinheit 1 mit einem Taktgeber 2. Die Zentralprozessoreinheit 1 steht über ein Bussystem 3 mit Speicherbausteinen 4, 5, 6 und 7 in Verbindung. Der Spei­ cherbaustein 4 stellt den Arbeitsspeicher dar und ist dem­ entsprechend ein Speicher mit wahlfreiem Zugriff. Die Spei­ cherbausteine 5 und 6 beinhalten die spezifische Software des Prüflings, durch welche dessen Funktion bestimmt ist. Diese Speicherbausteine 5 und 6 sind vorzugsweise als soge­ nannte EPROM′s, d. h. als löschbare und programmierbare Le­ sespeicher ausgebildet. Der Speicherbaustein 7 dient zum Einschreiben kundenspezifischer Daten und besteht beim Aus­ führungsbeispiel aus einem CMOS-RAM. In ihn können im vor­ liegenden Anwendungsfall Daten beispielsweise über die von einzelnen Teilnehmerstellen einer Fernsprechvermittlungsan­ lage verursachten Fernmeldegebühren eingeschrieben werden.

Die Zentralprozessoreinheit 1 steht mit einem Prozessor 8 in Verbindung, über welchen ihm Steuersignale zuführbar sind, die über ein Leitungssystem 10 eintreffen. Diese Steuersignale sind im vorliegenden Fall beispielsweise Wählinformationen für den Aufbau von Fernsprechverbindun­ gen. Dem Prozessor 8 ist eine eigene Taktversorgung 9 zu­ geordnet.

In die Verbindung zwischen der Zentralprozessoreinheit 1 und dem Bussystem 3 ist ein mit LATCH bezeichneter Signal­ speicher 11 eingefügt, durch den die Bitströme des Bus­ systems 3 an das Zeitmuster der Zentralprozessoreinheit 1 angepaßt werden.

Ein ähnlicher Signalspeicher 12 ist zwischen dem Bussystem 3 und einen zu der von der erwähnten strichpunktierten Linie repräsentierten Kontaktierungsvorrichtung führenden Adreß-, Daten- und Steuerleitungssystem 13 angeordnet.

Weiter sind zwei monostabile Kippstufen 14 und 15 darge­ stellt, die ebenfalls über das Bussystem 3 ansteuerbar sind und mittels derer mit der Steuerungsbaugruppe verbindbare Aktoren, z. B. Relais eines Relaiskoppelfeldes, betätigbar sind. Diese monostabilen Kippstufen 14 und 15 stehen stell­ vertretend für eine Vielzahl gleichartiger Einrichtungen.

Es ist ferner ein Decoder 16 dargestellt, der in eine nach außen geführte Busleitung eingefügt ist.

Ein Eingabe-Ausgabebaustein 17 dient zur Abtrennung des Bussystems 3 von der Zentralprozessoreinheit 1 bzw. zur Ver­ bindung der peripheren Einheiten des Prüflings mit dem Prüf­ gerät. Dieser Baustein 17 ist ein Tristate-Halbleiterbau­ stein. Er stellt eine in dem Prüfling erbrachte Vorleistung für Prüfzwecke dar. Durch ihn läßt sich - wie erwähnt - die Verbindung zwischen der Zentralprozessoreinheit 1 und den peripheren Einheiten unterbrechen, so daß letztere von dem Prüfgerät separat geprüft werden können, ohne daß die Zen­ tralprozessoreinheit - wie es bei herkömmlichen Testgeräten üblich ist - aus der Schaltung entfernt werden muß. Dadurch ist es möglich, die Verbindung zwischen Prüfgerät und Prüf­ ling tatsächlich ausschließlich über die durch die erwähnte strichpunktierte Linie repräsentierte für den normalen Be­ trieb vorgesehene Kontaktierungsvorrichtung herzustellen.

Das auf der linken Seite von Fig. 1 angedeutete Prüfgerät beinhaltet als wesentlichen Bestandteile mustergleiche Bauteile des Prüflings. Das Prüfgerät ist somit zwar in einigen Punkten modifiziert, im übrigen jedoch in gleicher Weise ausgebildet und mit denselben Funktionseinheiten ver­ sehen wie der Prüfling. Insbesondere ist die mit 1′ bezeich­ nete Zentralprozessoreinheit des Prüfgerätes baugleich mit derjenigen des Prüflings. Die an das Bussystem 3′ des Prüf­ gerätes angeschlossenen EPROM-Speicherbausteine 5′ und 6′ enthalten die Softwere-Programme des Prüflings, d. h. ihr Speicherinhalt ist identisch mit demjenigen der Speicher­ bausteine 5 und 6, (falls letzterer fehlerfrei ist). Ein weiterer EPROM-Speicherbaustein 16′ enthält das zusätzliche Programm, mittels dessen die einzelnen Schritte des Prüf­ vorganges gesteuert werden.

Ein über einen Eingabe-Ausgabebaustein 17′ mit dem Bussy­ stem 3′ verbundener Mikroprozessor 18 mit einer Taktver­ sorgung 19 und einem Signalspeicher 20 stellt eine Ein­ richtung zur Simulation von Steuerbefehlen für den Prüf­ ling dar. Er ist über das bereits erwähnte Daten-Steuer­ leitungssystem 10 mit dem Mikroprozessor 8 des Prüflings verbindbar. Eingabe-Ausgabebausteine 21 bis 24, die wie­ derum als Tristate-Bausteine ausgebildet sind, dienen zur wahlweisen An- oder Abschaltung des Bussystems 3′ an die bzw. von den Leitungen des Prüflings.

Eine Anzeigevorrichtung 25, die über einen Eingabe-Ausga­ bebaustein 26 mit dem Bussystem 3′ verbunden ist, dient zur Anzeige der Prüfergebnisse.

Schließlich ist noch ein Speicher 7′ vorgesehen, der dem Speicher 7 des Prüflings entspricht und in welchen die in letzteren eingeschriebenen kundenspezifischen Daten während einer Prüfung übernommen und konserviert werden können.

Es sei noch erwähnt, daß die Speicherbausteine 5′ bis 6′, in denen die Mustersoftware des Prüflings enthalten ist, zusammen mit dem die Prüfsoftware enthaltenden Spei­ cherbaustein 16′ vorzugsweise auf einer steckbaren Bau­ einheit angeordnet und somit in Anpassung an die Soft­ ware des Prüflings austauschbar sind.

Fig. 2 zeigt eine mögliche konstruktive Ausbildungsform des Prüfgerätes. Es besteht aus einem Koffer 27, mit einer Basisplatte 28. An dieser Platte 28 sind eine Tastatur 29 zur Eingabe von Prüfbefehlen sowie die bereits erwähnte Anzeigevorrichtung 25 angebracht. Weiterhin ist eine Kon­ taktierungsvorrichtung 30 für die Steckverbindung mit dem Prüfling vorgesehen, über die sämtliche elektrischen Ver­ bindungen verlaufen. Diese Kontaktierungsvorrichtung 30 entspricht der durch die strichpunktierte Linie in Fig. 1 angedeuteten Schnittstelle zwischen Prüfgerät und Prüfling. Es ist selbstverständlich möglich und vorgesehen, zwischen die Kontaktierungsvorrichtung 30 des Prüfgerätes und dem entsprechenden Gegenstück des Prüflings geeignete Adapter­ einrichtungen einzufügen, um eine Anpassung an unterschied­ liche konstruktive Ausführungen zu ermöglichen.

Eine weitere Kontaktierungsvorrichtung 31 dient zum An­ schluß der die Speicherbausteine 5′ bis 6′ und 16 enthal­ tenden Baueinheit.

Unterhalb der die Bedien- und Anzeigeelemente 29 bzw. 25 tragenden Basisplatte 28 befindet sich eine (in der Zeich­ nung nicht sichtbare) Leiterplatte, auf der die elektroni­ schen Komponenten des Prüfgerätes angeordnet sind.

Das Prüfgerät enthält ferner eine Stromversorgung für den eigenen Energiebedarf sowie eine vorzugsweise davon ge­ trennte Stromversorgung für den Prüfling. Es ist damit autark.

Die Prüfung läuft prinzipiell in zwei Schritten ab:

Durch entsprechende Betätigung der Eingabe-Ausgabebau­ steine ist während des ersten Prüfschrittes die Zentral­ prozessoreinheit 1 des Prüflings elektrisch von ihren peripheren Einheiten abgetrennt. Die Zentralprozessor­ einheit 1′ des Prüfgerätes ist über das Bussystem 3′ mit dem Bussystem 3 des Prüflings verbunden. In diesem Be­ triebszustand können alle peripheren Einheiten des Prüf­ lings einem Funktionstest unterworfen werden, wobei Umge­ bungsbedingungen bestehen, die denen des echten Einsatzes voll und ganz entsprechen. Kundenspezifische Daten, die in dem Speicherbaustein 7 abgelegt waren, werden durch Über­ nahme in den Speicherbaustein 7′ des Prüfgerätes "konser­ viert" und nach erfolgter Prüfung zurückgeschrieben.

In einem zweiten Schritt ist die Zentralprozessoreinheit 1 des Prüflings wirksam. Sie erhält Funktionsanreize vom Prüfgerät, die die Arbeitsweise der späteren Einsatzumge­ bung des Prüflings simulieren.

Beim ersten Schritt werden dementsprechend Fehler der Pro­ zessorumgebung festgestellt, während beim zweiten Schritt das Verhalten der Zentralprozessoreinheit 1 des Prüflings selbst kontrolliert wird.

Während des Prüfvorganges werden in der Anzeigevorrich­ tung 25 des Prüfgerätes der Prüfschritt, Soll- und Ist- Daten sowie Bedienungs- und Fehlersuchhinweise angezeigt.

Zur Fehlerverfolgung dienen speziell aufbereitete Trig­ gersignale, die im Prüfgerät erzeugt werden.

Claims (8)

1. System zum Prüfen von Steuerwerksbaugruppen, die Prozessoren enthalten, und der periphere Ergänzungen solcher Steuerwerks­ baugruppen bildenden Speicherbaugruppen,
mit einem Prüfgerät, das einen dem Prozessor des Prüflings entsprechenden Prozessor besitzt,
sowie mit einer Einrichtung, durch die der Prozessor des Prüflings durch den Prozessor des Prüfgeräts in der Weise er­ setzt werden kann, daß die übrigen Bestandteile des Prüflings durch den Prozessor des Prüfgeräts entsprechend einem in letzterem enthaltenen Steuerprogramm geprüft werden können, dadurch gekennzeichnet,
daß das Prüfgerät außer dem dem Prozessor (1) des Prüflings entsprechenden Prozessor (1′) weitere Schaltungsteile ent­ hält, die mit entsprechenden Schaltungsteilen des Prüflings mustergleich sind,
daß das Prüfgerät ferner eine Einrichtung (18, 19, 20) zur Nachbildung von Steuerbefehlen für den Prüfling enthält, die einen Signalaustausch bewirken können, der dem Signalaustausch entspricht, der beim bestimmungsgemäßen Einsatz des Prüflings zwischen diesem und seiner Umgebung stattfindet,
daß Speichermittel (5′, 6′) vorgesehen sind, die Bestandteil des Prüfgeräts sind oder mit diesem verbindbar sind, in denen ein Muster der Programmsoftware des Prüflings gespeichert ist und die mit dem Prozessor (1′) des Prüfgeräts in derselben Weise zusammenwirken wie entsprechende Speichermittel (5, 6) mit dem in dem Prüfling vorgesehenen Prozessor (1),
daß das Prüfgerät ferner einen Speicher (16) besitzt bzw. mit einem solchen verbindbar ist, in dem ein Prüfprogramm gespei­ chert ist, das eine Ersatzschaltung von Schaltungsteilen des Prüflings durch mustergleiche Schaltungsteile des Prüfgeräts ermöglicht,
und daß diese Ersatzschaltung durch in dem Prüfgerät und in dem Prüfling vorgesehene elektrische Umschalteinrichtungen (21 bis 24 bzw. 17) durchführbar ist.

2. System nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Prüfgerät eine Kontaktierungs­ vorrichtung (30) besitzt, an welche der Prüfling mit seiner für seinen bestimmungsgemäßen Einsatz vorgesehenen Kontak­ tierungsvorrichtung direkt oder unter Zwischenfügung einer Adaptereinrichtung anschließbar ist.

3. System nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die elektrischen Umschalteeinrichtun­ gen (17, bzw. 21 bis 24) tristate-Halbleiterbausteine sind.

4. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß die ein Mu­ ster der Programmsoftware des Prüflings enthaltenden Spei­ cherbausteine (5′, 6′) sowie der das Prüfprogramm enthal­ tende Speicher (16) auf einer separaten Baueinheit ange­ ordnet sind, die steckbar (über 31) mit dem Prüfgerät ver­ bindbar ist.

5. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß das Prüfge­ rät einen Speicher (7′) besitzt, in welchen in einem flüchtigen Speicher (7) des Prüflings enthaltene Daten vor Beginn einer Funktionsprüfung einschreibar und aus welchem diese Daten nach erfolgter Prüfung in den entsprechenden Speicher (7) des Prüflings zurückschreibbar sind.

6. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet,

• - daß bei einem ersten Prüfstadium der Prozessor (1) des Prüflings durch Betätigung einer oder mehrerer der ge­ nannten elektrischen Umschalteeinrichtungen elektrisch von dem Bussystem (3) des Prüflings abgetrennt und letz­ teres mit dem Prozessor (1′) des Prüfgerätes verbunden ist, derart daß das Bussystem (3) des Prüflings und die mit diesem verbundenen Speichermittel (4, 5, 6) des Prüflings unter Verwendung der in dem Prüfgerät (in 5′, 6′) enthaltenen Mustersoftware des Prüflings prüfbar sind,
• - und daß in einem zweiten Prüfstadium durch Betätigung der entsprechenden elektrischen Umschalteeinrichtungen der Prozessor (1) des Prüflings mit seinem Bussystem (3) verbunden ist, derart daß er (1) unter Stimulation durch den bestimmungsgenmäßen Einsatz des Prüflings entsprechende Funktionsanreize des Prüfgerätes in sei­ nem Reaktionsverhalten prüfbar ist.

7. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß das Prüfge­ rät eine Anzeigevorrichtung (25) zur Anzeige des jeweili­ gen Prüfschrittes, von Soll- und Ist-Daten sowie von Be­ dienungs- und Fehlersuchhinweisen besitzt.

8. System nach einem der vorhergehenden Ansprüche, da­ durch gekennzeichnet, daß das Prüfge­ rät eine Einrichtung zur Erzeugung von Triggersignalen zur Verfolgung und schrittweisen Eingrenzung von Funk­ tionsfehlern des Prüflings besitzt.