CN203191515U - 测试治具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及一种测试治具，包括上治具和下治具，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定多个探针的针盘和将多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，针盘位于被测电路板与转接板之间，本实用新型使用这种测试治具对被测电路板进行测试，能够减少测试治具制作的工作量，避免出现绕/焊线错误及接触不良，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及制作效率。
Description
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试治具。
背景技术
在生产印刷电路板的过程中需要对电路板的电性能及电气连接进行测试，主要检测各个元器件的信号及线路的开短路情况，测试工具是一种以电路板为模型而设计的一套专门的测试治具。传统的测试治具制作时一般是通过探针连接电路板的测试点，而从探针到排插采用绕/焊线的方式，最后通过排插连接到外部的测试设备上进行测试。
上述方法制作的测试治具适用于线路较为简单的电路板的测试，而对于高精密线路的电路板的测试，由于测试点很多，人工进行绕/焊线的工作量很大，又由于电路板过于细密，人工绕/焊线可能会产生不良接触，且容易出现绕/焊线错误，降低测试治具准确率及测试效率，人工绕/焊线由于线材的长度及质量因素，容易导致电信号的损耗及衰减。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种测试治具，旨在提高测试治具的准确率及制作效率。
为了达到上述目的，本实用新型提出一种测试治具，包括下治具，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定所述多个探针的针盘和将所述多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，所述针盘位于所述被测电路板与转接板之间。
优选地，所述转接板一侧设有排插，所述排插通过排线将所述多个探针的另一端对应电连接至所述外部测试设备。
优选地，所述转接板内对应所述多个探针布有线路，每一线路的一端对应连接所述多个探针的中的一个探针，所述线路的另一端对应连接至所述排插的一端口。
优选地，所述探针为双头探针。
优选地，所述针盘对应所述多个探针设有多个通孔，所述多个探针穿套并固定在相应的所述通孔中。
优选地，所述下治具还包括护板，所述护板穿套于所述多个探针上并贴近设置于所述多个探针的端点上，将所述多个探针之间隔离。
优选地，所述护板包括上护板和下护板，所述上护板贴近设置于所述多个探针连接所述被测电路板的一端，所述下护板贴近设置于所述多个探针连接所述转接板的另一端。
优选地，所述下治具还包括一箱体和固定机构，所述针盘及所述转接板通过所述固定机构固定于所述箱体上。
优选地，所述固定机构包括用于将所述针盘固定于箱体的第一固定支架以及用于将所述转接板固定于箱体的第二固定支架。
优选地，还包括位于所述下治具上方的上治具，所述被测电路板位于所述上治具与所述下治具之间，所述上治具与所述下治具通过弹力机构连接，所述上治具包括上针板，所述上针板压缩所述弹力机构对所述被测电路板施加压力，以使所述被测电路板的测试点与所述多个探针导通。
本实用新型提出的一种测试治具，当对被测电路板进行测试时，通过使用双头探针和预先布设好线路的转接板，使待测电路板上的测试点的测试信号通过探针传导至转接板上，再经转接板上的线路传导至排插，以通过排插将测试信号输出至测试设备上，使用这种测试治具对被测电路板进行测试，能够减少测试治具制作者的工作量，避免出现绕/焊线错误，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及测试治具制作效率。
附图说明
图1是本实用新型实施例测试治具的主视图；
图2是本实用新型实施例测试治具的纵向剖视图；
图3是本实用新型实施例测试治具中针盘的横向剖视图；
图4是本实用新型实施例测试治具的外形立体示意图。
具体实施方式
请结合参阅图1、图2及图3，图1为本实用新型实施例测试治具的主视图，图2为本实用新型实施例测试治具的纵向剖视图，图3为本实用新型实施例测试治具中针盘的横向剖视图。
如图1、图2及图3所示，本实用新型测试治具包括下治具10，下治具10包括多个探针101、针盘102及转接板103。
被测电路板30位于下治具10之上，多个探针101一端与被测电路板30的测试点一一对应电连接，另一端通过转接板103对应电连接至外部测试设备。本实施方式中，多个探针101都为双头探针，双头探针的两端都具有导电性，多个探针101将被测电路板30的测试点的测试信号通过其中间针体部分传导至连接转接板103的一端，再通过转接板103对应电连接至外部测试设备。
在具体实施例中，外部测试设备可以是ICT测试仪、ATE(自动化测试设备)或者示波器等。由于多个探针101的两端分别连接被测电路板30和转接板103，容易发生晃动或倾斜而导致被测电路板30的测试点与探针接触不良或者相邻探针短路，故设计一位于被测电路板30与转接板103之间的针盘102，针盘102对应多个探针101设有多个通孔1041，具体地，针盘102上密布有网格状纵横交错排列的通孔1041，多个探针101穿套并固定在相应的通孔1041中。
进一步地，转接板103一侧设有排插1031，排插1031通过排线将多个探针101的另一端对应电连接至外部测试设备。转接板103内对应多个探针101预先布设好线路，每一线路的一端对应连接多个探针101的中的一个探针，线路的另一端对应连接至排插1031的一端口。转接板103对应每一被测电路板30而专门设计，在具体实施例中，排插1031可以是牛角排插，转接板103可以预先设计好电路，被测电路板30的测试点对应在转接板103上设计连接点，并通过多个探针101将被测电路板30的测试点和转接板103的连接点对应地连接，进而连接点通过预先设计好电路将测试信号传导至排插1031中。
与现有技术相比，本实施例无需从探针到排插采用人工操作一根一根地进行绕/焊线，而是通过两端都具有导电性的多个探针将测试信号从探针传导至转接板上，再经转接板布设好的线路传导至排插，进而传导至外部测试设备。
通过上述描述可以看出：当对被测电路板进行测试时，通过使用双头探针和预先布设好线路的转接板，使待测电路板上的测试点的测试信号通过探针传导至转接板上，再经转接板上的线路传导至排插，以通过排插将测试信号输出至测试设备上，使用这种测试治具对被测电路板进行测试，能够减少测试治具制作者的工作量，避免出现绕/焊线错误，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及测试治具制作效率。
请继续参阅图2，下治具10还包括护板104，护板104穿套于多个探针101上并贴近设置于多个探针101的端点上，将多个探针101之间隔离。护板104包括上护板和下护板，而针盘102位于上护板和下护板之间，上护板贴近设置于多个探针101连接被测电路板30的一端，下护板贴近设置于多个探针101连接转接板103的另一端。当被测电路板30的线路较为细密时，各个测试点之间的空间很小，多个探针101之间如果发生轻微移动，容易使测试点的连接发生错误，使用护板104贴近设置在多个探针101的端点上，可以最大限度地避免多个探针101之间发生轻微移动，进而将多个探针101进一步固定和隔离。
下治具10还包括一箱体105和固定机构106，针盘102及转接板103通过固定机构106固定于箱体105上。进一步地，固定机构106包括用于将针盘102固定于箱体105的第一固定支架以及用于将转接板103固定于箱体105的第二固定支架。在具体实施例中，固定机构106可以是固定柱、固定孔和螺栓等，固定机构106内部通过螺栓或者卡合进行固定，此处不做过多限制。
请继续结合参阅图4，测试治具还包括位于下治具10上方的上治具20，被测电路板30位于上治具20与下治具10之间，上治具20与下治具10通过弹力机构107连接。在具体实施例中，弹力机构107可以是弹簧，或者其他的具有弹性的装置等，此处不做过多限制。上治具20包括上针板201，以及位于上针板201上方的与上针板201通过连杆连接的上板。上针板201压缩弹力机构107对被测电路板30施加压力，以使被测电路板30的测试点与多个探针101对应导通。
进一步地，当上针板201压缩弹力机构107对被测电路板30施加压力时，连接转接板103的多个探针101的一端也因此受力，多个探针101对转接板103施加压力，进而多个探针101的一端对应地与转接板103导通。
本实用新型的测试治具，无需从探针101到排插1031采用人工操作一根一根地进行绕/焊线，当对被测电路板进行测试时，通过使用双头探针和预先布设好线路的转接板103，使待测电路板30上的测试点的测试信号通过探针101传导至转接板103上，再经转接板103上的线路传导至排插1031，以通过排插1031将测试信号输出至测试设备上，使用这种测试治具对被测电路板30进行测试，能够减少测试治具制作者的工作量，避免出现焊线错误，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及测试效率。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并非因此限制本实用新型，凡在实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种测试治具，包括下治具，其特征在于，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定所述多个探针的针盘和将所述多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，所述针盘位于所述被测电路板与转接板之间。
2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述转接板一侧设有排插，所述排插通过排线将所述多个探针的另一端对应电连接至所述外部测试设备。
3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述转接板内对应所述多个探针布有线路，每一线路的一端对应连接所述多个探针的中的一个探针，所述线路的另一端对应连接至所述排插的一端口。
4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述探针为双头探针。
5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述针盘对应所述多个探针设有多个通孔，所述多个探针穿套并固定在相应的所述通孔中。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述下治具还包括护板，所述护板穿套于所述多个探针上并贴近设置于所述多个探针的端点上，将所述多个探针之间隔离。
7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述护板包括上护板和下护板，所述上护板贴近设置于所述多个探针连接所述被测电路板的一端，所述下护板贴近设置于所述多个探针连接所述转接板的另一端。
8.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述下治具还包括一箱体和固定机构，所述针盘及所述转接板通过所述固定机构固定于所述箱体上。
9.根据权利要求8所述的测试治具，其特征在于，所述固定机构包括用于将所述针盘固定于箱体的第一固定支架以及用于将所述转接板固定于箱体的第二固定支架。
10.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括位于所述下治具上方的上治具，所述被测电路板位于所述上治具与所述下治具之间，所述上治具与所述下治具通过弹力机构连接，所述上治具包括上针板，所述上针板压缩所述弹力机构对所述被测电路板施加压力，以使所述被测电路板的测试点与所述多个探针导通。
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