CN113804237B - 一种电子设备的侦测距离测试方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子设备的侦测距离测试方法及装置，测试方法包括：在磁元件形成的磁场功能区内，使第一旋转部与第二旋转部之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值；在作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值时，获取第一旋转部和第二旋转部上参考位置之间的相对距离；判断相对距离是否满足预设的标准距离条件，获得判断结果。本发明在通过模拟屏幕开合的过程，在作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值时，获取电子设备的切换至休眠或唤醒状态时的侦测距离，使实际的侦测距离与模拟的侦测距离相符，达到确保产品的质量的目的。

Description

一种电子设备的侦测距离测试方法及装置

技术领域

本发明涉及电子设备技术领域，尤其涉及一种电子设备的侦测距离测试方法及装置。

背景技术

在一些具有翻盖功能的电子设备中设有距离侦测组件，以笔记本电脑为例，在打开笔记本电脑，直至距离侦测组件侦测到屏幕与主机之间的距离达到唤醒距离时，笔记本电脑唤醒；在闭合笔记本电脑，直至离侦测组件侦测到屏幕与主机之间的距离达到休眠距离时，笔记本电脑休眠；唤醒距离和休眠距离统称为笔记本电脑的侦测距离。

现有技术中，实现距离侦测的组件通常包括分设于屏幕和主机的磁铁和霍尔传感器；侦测距离虽然可以通过磁场分析的方法模拟出来以应用至具有翻盖功能的电子设备中，但由于磁铁工艺及理论模拟本身的引入存在公差，导致实际的侦测距离与模拟的侦测距离不相符，造成实际侦测距离不满足要求。

发明内容

针对现有技术的不足，本发明提供一种电子设备的侦测距离测试方法及装置，解决现有技术中由于磁铁工艺及理论模拟本身的引入存在公差，导致实际的侦测距离与模拟的侦测距离不相符，造成实际侦测距离不满足要求的问题。

为实现上述目的，本发明提供以下的技术方案：

一种电子设备的侦测距离测试方法，提供一屏幕开合模拟机构，包括：第一旋转部，设有磁元件；第二旋转部，设有霍尔元件；所述第一旋转部可受驱相对于所述第二旋转部旋转；

所述测试方法包括：

在所述磁元件形成的磁场功能区内，使所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值；

在作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值时，获取所述第一旋转部和所述第二旋转部上参考位置之间的相对距离；

判断所述相对距离是否满足预设的标准距离条件，获得判断结果。

可选地，所述霍尔元件的切换触发门限值包括唤醒门限值和休眠门限值，当穿过霍尔元件的磁通量达到唤醒门限值或休眠门限值时，所述霍尔元件上输出的电平状态发生切换；

所述使所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值，包括：

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部张开，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至唤醒门限值；或

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部闭合，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至休眠门限值。

可选地，所述判断所述相对距离是否满足预设的标准距离条件，包括：

当所述穿过霍尔元件的磁通量达到唤醒门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的唤醒距离条件；

当所述穿过霍尔元件的磁通量达到休眠门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的休眠距离条件。

可选地，所述的电子设备的侦测距离测试方法，还包括：

根据所述判断结果，调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量。

可选地，所述调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量，包括：

调整磁元件和霍尔元件的安装位置与旋转轴之间的距离。

可选地，所述磁元件为生磁线圈；

所述测试方法还包括：

控制所述磁元件产生目标磁通量，形成磁场功能区；

所述调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量，还包括：

调整通过所述磁元件的电流，以增大或减小所述目标磁通量。

本发明还提供了一种电子设备的侦测距离测试装置，用于实现如上任一项所述的电子设备的侦测距离测试方法，包括：

所述屏幕开合模拟机构；

控制单元，连接所述屏幕开合模拟机构，用于在所述磁元件形成的磁场功能区内，使所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值；

获取单元，用于在作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值时，获取所述第一旋转部和所述第二旋转部上参考位置之间的相对距离；

判断单元，用于判断所述相对距离是否满足预设的标准距离条件，获得判断结果。

可选地，所述霍尔元件的切换触发门限值包括唤醒门限值和休眠门限值，当穿过霍尔元件的磁通量达到唤醒门限值或休眠门限值时，所述霍尔元件上输出的电平状态发生切换；

所述控制单元还用于：

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部张开，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至唤醒门限值；或

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部闭合，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至休眠门限值；

所述判断单元用于：

当所述穿过霍尔元件的磁通量变化至唤醒门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的唤醒距离条件；

当所述穿过霍尔元件的磁通量变化至休眠门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的休眠距离条件。

可选地，所述的电子设备的侦测距离测试装置，还包括调整单元，所述调整单元用于：

根据所述判断结果，调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量。

可选地，所述磁元件为生磁线圈；所述控制单元用于控制所述磁元件产生目标磁通量，以形成磁场功能区；

所述第一旋转部和所述第二旋转部上均设有滑轨，所述磁元件和所述霍尔元件分别可滑动地安装于所述第一旋转部和所述第二旋转部的所述滑轨上；

所述调整单元用于：

根据所述判断结果，使所述磁元件和所述霍尔元件于滑轨上滑动，以调整磁元件和霍尔元件的安装位置与旋转轴之间的距离；和/或

调整通过所述磁元件的电流，以增大或减小所述目标磁通量。

与现有技术相比，本发明具有以下有益效果：

本发明提供了一种电子设备的侦测距离测试方法及装置，通过模拟屏幕开合的过程，在作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值时，获取电子设备切换至休眠或唤醒状态时的侦测距离，使实际的侦测距离与模拟的侦测距离相符，达到确保产品的质量的目的。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。

图1为本发明提供的屏幕开合模拟机构的结构示意图；

图2为本发明提供的一种电子设备的侦测距离测试方法的流程图；

图3为本发明提供的一种电子设备的侦测距离测试方法的又一流程图；

图4为本发明提供的一种电子设备的侦测距离测试方法中步骤S4的流程图；

图5为本发明提供的一种电子设备的侦测距离测试方法的再一流程图；

图6为本发明提供的一种电子设备的侦测距离测试方法中步骤S4的又一流程图；

图7为本发明提供的一种电子设备的侦测距离测试装置的结构示意图。

上述图中：10、屏幕开合模拟机构；11、第一旋转部；111、磁元件；12、第二旋转部；121、霍尔元件；20、控制单元；30、获取单元；40、调整单元。

具体实施方式

为使得本发明的目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，下面所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

在本发明的描述中，需要理解的是，当一个组件被认为是“连接”另一个组件，它可以是直接连接到另一个组件或者可能同时存在居中设置的组件。当一个组件被认为是“设置在”另一个组件，它可以是直接设置在另一个组件上或者可能同时存在居中设置的组件。

此外，术语“长”“短”“内”“外”等指示方位或位置关系为基于附图所展示的方位或者位置关系，仅是为了便于描述本发明，而不是指示或暗示所指的装置或原件必须具有此特定的方位、以特定的方位构造进行操作，以此不能理解为本发明的限制。

唤醒距离和休眠距离统称为电子设备的侦测距离，距离侦测的组件通常包括分设于屏幕和主机的磁铁和霍尔传感器。根据联想标准，电子设备的休眠距离须大于20mm，唤醒距离须小于100mm。现有技术中常通过降低磁铁磁通量，以满足唤醒距离小于100mm的要求，但磁铁的磁通量过小，无法同时保证休眠距离大于20mm的要求，甚至会出现合盖不息屏的不良现象，因此需要在生产时模拟电子设备的侦测距离，以确定是否符合要求。

侦测距离虽然可以通过磁场分析的方法模拟出来以应用至电子设备产品中，但由于磁铁工艺及理论模拟本身的引入存在公差，导致实际的侦测距离与模拟的侦测距离不相符，造成实际侦测距离超标，不满足实际需求。

为解决前述问题，本发明提供了一种电子设备的侦测距离测试方案，下面以笔记本电脑为例，并结合附图并通过具体实施方式来进一步说明本发明的技术方案。

实施例一

请结合参考图1和图2，本发明实施例提供了一种电子设备的侦测距离测试方法，提供一屏幕开合模拟机构10，该屏幕开合模拟机构10包括：第一旋转部11，设有磁元件111；第二旋转部12，设有霍尔元件121；第一旋转部11与第二旋转部12通过旋转件连接，使得第一旋转部11可受驱相对于第二旋转部12旋转。

本实施例中，测试方法包括：

S1、在磁元件111形成的磁场功能区内，使第一旋转部11与第二旋转部12之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件121的磁通量变化至霍尔元件121的切换触发门限值。

可以理解的是，本实施例中，将第一旋转部11视作笔记本电脑的屏幕，将第二旋转部12视作笔记本电脑的主机，使第一旋转部11相对于第二旋转部12张开用于模拟笔记本电脑的屏幕打开动作，使第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合则模拟笔记本电脑的屏幕闭合动作。

具体地，霍尔元件121的切换触发门限值包括唤醒门限值和休眠门限值，当穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值或休眠门限值时，霍尔元件121上输出的电平状态发生切换。

基于此，步骤S1中，使第一旋转部11与第二旋转部12之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件121的磁通量变化至霍尔元件121的切换触发门限值，包括：

使第一旋转部11相对于第二旋转部12张开，直至穿过霍尔元件121的磁通量变化至到唤醒门限值；或，在张开的过程中，穿过霍尔元件121的磁通量逐渐衰减，当衰减至霍尔元件121的感应下限值时，即达到唤醒门限值。

使第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合，直至穿过霍尔元件121的磁通量变化至休眠门限值；在闭合的过程中，穿过霍尔元件121的磁通量逐渐增强，当增强至霍尔元件121的感应上限值时，即达到休眠门限值。

其中，穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值时，霍尔元件121由低电平切换为高电平，用于模拟笔记本电脑在屏幕打开过程中的唤醒动作；穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值时，霍尔元件121由高电平切换为低电平，用于模拟笔记本电脑在屏幕闭合过程中的休眠动作。

可以理解的是，旋转件为转轴，该转轴可相对于第二旋转部12旋转，并在旋转时带动第一旋转部11旋转；转轴的旋转可以通过电机的驱动加以实现。

S2、在作用于霍尔元件121的磁通量变化至霍尔元件121的切换触发门限值时，获取第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置之间的相对距离。

使第一旋转部11相对于第二旋转部12张开的过程中，在作用于霍尔元件121的磁通量变化至霍尔元件121的切换触发门限值时，所获取到的第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置之间的相对距离，为触发笔记本电脑唤醒的唤醒距离；

使第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合的过程中，在作用于霍尔元件121的磁通量变化至霍尔元件121的切换触发门限值时，所获取到的第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置之间的相对距离，为触发笔记本电脑休眠的休眠距离。

第一旋转部11和第二旋转部12上的参考位置可以根据需求确定，具体是对应于所模拟的笔记本电脑的前沿的位置，从而能够模拟笔记本电脑的侦测距离。

可以理解的是，参考位置可以位于第一旋转部11和第二旋转部12上，也可以位于第一旋转部11和第二旋转部12的延长线上，具体位置可以根据笔记本电脑的具体尺寸确定，此时第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置基于相似三角形获得。具体可以在参考位置处设置测距元件，该测距元件可以为激光测距器，用于获取第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置之间的相对距离。

S3、判断相对距离是否满足预设的标准距离条件，获得判断结果。

具体地，步骤S3中：

当穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值时，判断相对距离是否满足预设的唤醒距离条件；当相对距离小于或等于预设的唤醒距离阈值时，满足预设的唤醒距离条件。

当穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值时，判断相对距离是否满足预设的休眠距离条件；当相对距离大于或等于预设的休眠距离阈值时，满足预设的休眠距离条件。

进一步地，当相对距离满足预设的唤醒距离条件时，以及当相对距离满足预设的休眠距离条件时，分别记录当前的相对距离、穿过霍尔元件121的磁通量和霍尔元件121的工作电压，以便应用于笔记本电脑产品中。

具体地，第一旋转部11或第二旋转部12上设置有测距元件，该测距元件可以为激光测距器，用于获取第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置之间的相对距离。

同时，霍尔元件121上连接有电压计和高斯计，以实现穿过霍尔元件121的磁通量和霍尔元件121的工作电压的获取。

请参考图3，进一步地，本实施例提供的电子设备的侦测距离测试方法，还包括：

S4、根据判断结果，调整第一旋转部11与第二旋转部12之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件121的磁通量的单位变化量。

可以理解的是，该作用于霍尔元件121的磁通量变化量具体为：在第一旋转部11相对于第二旋转部12旋转的过程中，单位位移下的磁通量变化量。

请参考图4，具体地，可以通过如下方式以调整穿过霍尔元件121的磁通量的变化量：

S41、调整磁元件111和霍尔元件121的安装位置与旋转轴之间的距离，以调整作用于霍尔元件121的磁通量变化量。

例如，使第一旋转部11相对于第二旋转部12张开，若穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值时，相对距离大于预设的唤醒距离阈值，则将磁元件111和霍尔元件121的安装位置向远离旋转轴的方向调整，以增大张开过程中穿过霍尔元件121的磁通量的变化量。

同理地，使第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合，若穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值时，相对距离小于预设的休眠距离阈值，则将磁元件111和霍尔元件121的安装位置向远离旋转轴的方向调整，以增大张开过程中穿过霍尔元件121的磁通量的变化量。

可以理解的是，磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离可以相等，也可以不相等；本实施例中，以磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离相等的情况为例进行阐述。

此外，第一旋转部11和第二旋转部12上可以分别设置用于安装磁元件111和霍尔元件121的滑轨，以便于实现磁元件111和霍尔元件121的位置调整；同时，对应于导轨的延伸方向还可以设置刻度，以便于获取磁元件111和霍尔元件121分别与旋转轴之间的距离。

在其中一种可选的实施方式中，可以针对第一旋转部11相对于第二旋转部12的张开和闭合动作，分别设置一组磁元件111和霍尔元件121，并分别设置磁元件111的磁通量和霍尔元件121的感应参数，从而获取两组磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离数据。

在另一种可选的实施方式中，第一旋转部11相对于第二旋转部12的张开和闭合动作，采用同一组磁元件111和霍尔元件121实现，在张开和闭合的测试过程中分别获取一个磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离数据，再取两个距离数据的加权平均值作为最终应用于笔记本电脑产品的数据。

进一步地，本实施例中，磁元件111为生磁线圈；利用生磁线圈能够灵活地调整磁场功能区中的磁场强度，以模拟不同类型的磁铁。一般来说，磁铁打样周期为7-14天，本实施例采用生磁线圈替代磁铁，能够省去磁铁打样的步骤，从而缩短了测试的时间周期，以确保生产进度。

请参考图5，基于此，本实施例所提供的测试方法还包括：

S01、控制磁元件111产生目标磁通量，形成磁场功能区。

该步骤中，通过控制通过磁元件111的电流，以使得磁元件111产生目标磁通量，进而形成磁场功能区。

进一步地，步骤S4中，还可以通过如下步骤，以调整作用于霍尔元件121的磁通量变化量：

请参考图6，S42、调整通过磁元件111的电流，以增大或减小目标磁通量。

可以理解的是，步骤S41和S42可以同时用于实现穿过霍尔元件121的磁通量的变化量的调整，也可以采取其一实现。

例如，当磁元件111和霍尔元件121的安装位置固定时，可以通过步骤S42调整通过磁元件111的电流，直至相对距离满足预设的标准距离条件为止，从而获得最佳的目标磁通量，并基于该目标磁通量定制应用于笔记本电脑的磁铁；

当应用于笔记本电脑的磁铁型号一定时，可以通过步骤S41调整磁元件111和霍尔元件121的安装位置与旋转轴之间的距离，直至相对距离满足预设的标准距离条件为止，从而获得最佳的磁元件111和霍尔元件121的安装位置，并基于该安装位置在笔记本电脑中安装磁铁和霍尔传感器。

实施例二

请结合参考图1和图7，基于实施例一，本发明还提供了一种电子设备的侦测距离测试装置，包括：

屏幕开合模拟机构10；该屏幕开合模拟机构10包括：第一旋转部11，设有磁元件111；第二旋转部12，设有霍尔元件121；第一旋转部11与第二旋转部12通过旋转件连接；

控制单元20，用于在磁元件111形成的磁场功能区内，使第一旋转部11与第二旋转部12之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件121的磁通量变化至霍尔元件121的切换触发门限值；

获取单元30，用于在作用于霍尔元件121的磁通量变化至霍尔元件121的切换触发门限值时，获取第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置之间的相对距离；

判断单元，用于判断相对距离是否满足预设的标准距离条件，获得判断结果。

其中，旋转件为转轴，该转轴可相对于第二旋转部12旋转，并在旋转时带动第一旋转部11旋转；转轴的旋转可以通过电机的驱动加以实现。控制单元20用于实现对电机的启停及旋转方向的控制，以使第一旋转部11与第二旋转部12之间形成相对旋转。

具体地，控制单元20还用于：

使第一旋转部11相对于第二旋转部12张开，直至穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值；使第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合，直至穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值。

可以理解的是，控制单元20可以通过控制电机的旋转方向，以使得第一旋转部11相对于第二旋转部12张开或闭合。

可以理解的是，本实施例中，将第一旋转部11视作笔记本电脑的屏幕，将第二旋转部12视作笔记本电脑的主机，使第一旋转部11相对于第二旋转部12张开用于模拟笔记本电脑的屏幕打开动作，使第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合则模拟笔记本电脑的屏幕闭合动作。

基于此，使第一旋转部11相对于第二旋转部12张开，直至穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值；在张开的过程中，穿过霍尔元件121的磁通量逐渐衰减，当衰减至霍尔元件121的感应下限值时，即达到唤醒门限值；

使第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合，直至穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值；在闭合的过程中，穿过霍尔元件121的磁通量逐渐增强，当增强至霍尔元件121的感应上限值时，即达到休眠门限值。

其中，当穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值时，霍尔元件121由低电平切换为高电平，用于模拟笔记本电脑在屏幕打开过程中的唤醒动作；当穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值时，霍尔元件121由高电平切换为低电平，用于模拟笔记本电脑在屏幕闭合过程中的休眠动作。

具体地，霍尔元件121的切换触发门限值包括唤醒门限值和休眠门限值，当穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值或休眠门限值时，霍尔元件121上输出的电平状态发生切换。

进一步地，判断单元用于：

当穿过霍尔元件121的磁通量变化至唤醒门限值时，判断相对距离是否满足预设的唤醒距离条件；

当穿过霍尔元件121的磁通量变化至休眠门限值时，判断相对距离是否满足预设的休眠距离条件。

具体地，当穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值时，判断单元判断相对距离是否满足预设的唤醒距离条件；当相对距离小于或等于预设的唤醒距离阈值时，判断为满足预设的唤醒距离条件。

当穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值时，判断单元判断相对距离是否满足预设的休眠距离条件；当相对距离大于或等于预设的休眠距离阈值时，判断为满足预设的休眠距离条件。

其中，第一旋转部11或第二旋转部12上设置有测距元件，该测距元件可以为激光测距器，用于获取第一旋转部11和第二旋转部12上参考位置之间的相对距离。同时，霍尔元件121上连接有电压计和高斯计，以实现穿过霍尔元件121的磁通量和霍尔元件121的工作电压的获取。

当相对距离满足预设的唤醒距离条件时，以及当相对距离满足预设的休眠距离条件时，分别记录当前的相对距离、穿过霍尔元件121的磁通量和霍尔元件121的工作电压，以便应用于笔记本电脑产品中。

进一步地，本实施例中所提供的电子设备的侦测距离测试装置，还包括调整单元40，调整单元40用于：

根据判断结果，调整第一旋转部11与第二旋转部12之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件121的磁通量的单位变化量。

具体地，磁元件111为生磁线圈；控制单元20用于通过控制通过磁元件111的电流，以使得磁元件111产生目标磁通量，进而形成磁场功能区；第一旋转部11和第二旋转部12上均设有滑轨，磁元件111和霍尔元件121分别可滑动地安装于第一旋转部11和第二旋转部12的滑轨上。对应于导轨的延伸方向还可以设置刻度，以便于获取磁元件111和霍尔元件121分别与旋转轴之间的距离。

基于此，调整单元40用于：

根据判断结果，在控制单元20的控制下使磁元件111和霍尔元件121于滑轨上滑动，以调整磁元件111和霍尔元件121的安装位置与旋转件之间的距离；和/或

调整通过磁元件111的电流，以增大或减小目标磁通量。

可以理解的是，调整单元40包括气缸。

在控制单元20的控制下，第一旋转部11相对于第二旋转部12张开，当穿过霍尔元件121的磁通量达到唤醒门限值，且相对距离大于预设的唤醒距离阈值时，在气缸的推动下使磁元件111和霍尔元件121的安装位置向远离旋转轴的方向调整，以增大张开过程中穿过霍尔元件121的磁通量的变化量。

同理地，在控制单元20的控制下，第一旋转部11相对于第二旋转部12闭合，当穿过霍尔元件121的磁通量达到休眠门限值，且相对距离小于预设的休眠距离阈值时，在气缸的推动下使磁元件111和霍尔元件121的安装位置向远离旋转轴的方向调整，以增大张开过程中穿过霍尔元件121的磁通量的变化量。

此外，第一旋转部11和第二旋转部12的导轨内设有弹性伸缩定位件，该弹性伸缩定位件以一定的间隔均匀布置，从而在气缸推动磁元件111和霍尔元件121的过程中，磁元件111和霍尔元件121可以在弹性伸缩定位件的作用下定位于预定位置。

可以理解的是，磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离可以相等，也可以不相等；本实施例中，以磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离相等的情况为例进行阐述。

此外，第一旋转部11和第二旋转部12上可以分别设置用于安装磁元件111和霍尔元件121的滑轨，以便于实现磁元件111和霍尔元件121的位置调整；同时，对应于导轨的延伸方向还可以设置刻度，以便于获取磁元件111和霍尔元件121分别与旋转轴之间的距离。

在其中一种可选的实施方式中，可以针对第一旋转部11相对于第二旋转部12的张开和闭合动作，分别设置一组磁元件111和霍尔元件121，从而获取两组磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离数据。

在另一种可选的实施方式中，第一旋转部11相对于第二旋转部12的张开和闭合动作，采用同一组磁元件111和霍尔元件121实现，在张开和闭合的测试过程中分别获取一个磁元件111和霍尔元件121与旋转轴之间的距离数据，再取两个距离数据的加权平均值作为最终应用于笔记本电脑产品的数据。

进一步地，本实施例中，磁元件111为生磁线圈；利用生磁线圈能够灵活地调整磁场功能区中的磁场强度，以模拟不同类型的磁铁。一般来说，磁铁打样周期为7-14天，本实施例采用生磁线圈替代磁铁，能够省去磁铁打样的步骤，从而缩短了测试的时间周期，以确保生产进度。

可以理解的是，前述的两种调整方案可以同时用于实现穿过霍尔元件121的磁通量的变化量的调整，也可以采取其一实现。

例如，当磁元件111和霍尔元件121的安装位置固定时，可以通过调整通过磁元件111的电流，直至相对距离满足预设的标准距离条件为止，从而获得最佳的目标磁通量，并基于该目标磁通量定制应用于笔记本电脑的磁铁；

当应用于笔记本电脑的磁铁型号一定时，可以通过调整磁元件111和霍尔元件121的安装位置与旋转轴之间的距离，直至相对距离满足预设的标准距离条件为止，从而获得最佳的磁元件111和霍尔元件121的安装位置，并基于该安装位置在笔记本电脑中安装磁铁和霍尔传感器。

以上所述，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (5)

1.一种电子设备的侦测距离测试方法，其特征在于，提供一屏幕开合模拟机构，包括：设有磁元件的第一旋转部，以及设有霍尔元件的第二旋转部，所述第一旋转部可受驱相对于所述第二旋转部旋转；

所述测试方法包括：

在所述磁元件形成的磁场功能区内，使所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值；

在作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值时，获取所述第一旋转部和所述第二旋转部上参考位置之间的相对距离；

判断所述相对距离是否满足预设的标准距离条件，获得判断结果；

所述霍尔元件的切换触发门限值包括唤醒门限值和休眠门限值，当穿过霍尔元件的磁通量达到唤醒门限值或休眠门限值时，所述霍尔元件上输出的电平状态发生切换；

所述使所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值，包括：

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部张开，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至唤醒门限值；或

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部闭合，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至休眠门限值；

所述判断所述相对距离是否满足预设的标准距离条件，包括：

当所述穿过霍尔元件的磁通量达到唤醒门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的唤醒距离条件；

当所述穿过霍尔元件的磁通量达到休眠门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的休眠距离条件；

根据所述判断结果，调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量，直至相对距离满足预设的标准距离条件为止。

2.根据权利要求1所述的电子设备的侦测距离测试方法，其特征在于，所述调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量，包括：

调整磁元件和霍尔元件的安装位置与旋转轴之间的距离。

3.根据权利要求1所述的电子设备的侦测距离测试方法，其特征在于，所述磁元件为生磁线圈；

所述测试方法还包括：

控制所述磁元件产生目标磁通量，形成磁场功能区；

所述调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量，还包括：

调整通过所述磁元件的电流，以增大或减小所述目标磁通量。

4.一种电子设备的侦测距离测试装置，用于实现如权利要求1至3任一项所述的电子设备的侦测距离测试方法，其特征在于，包括：

所述屏幕开合模拟机构；

控制单元，连接所述屏幕开合模拟机构，用于在所述磁元件形成的磁场功能区内，使所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转，直至作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值；

获取单元，用于在作用于霍尔元件的磁通量变化至霍尔元件的切换触发门限值时，获取所述第一旋转部和所述第二旋转部上参考位置之间的相对距离；

判断单元，用于判断所述相对距离是否满足预设的标准距离条件，获得判断结果；

所述霍尔元件的切换触发门限值包括唤醒门限值和休眠门限值，当穿过霍尔元件的磁通量达到唤醒门限值或休眠门限值时，所述霍尔元件上输出的电平状态发生切换；

所述控制单元还用于：

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部张开，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至唤醒门限值；或

使所述第一旋转部相对于所述第二旋转部闭合，直至穿过霍尔元件的磁通量变化至休眠门限值；

所述判断单元用于：

当所述穿过霍尔元件的磁通量变化至唤醒门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的唤醒距离条件；

当所述穿过霍尔元件的磁通量变化至休眠门限值时，判断所述相对距离是否满足预设的休眠距离条件；

所述的电子设备的侦测距离测试装置还包括调整单元，所述调整单元用于：

根据所述判断结果，调整所述第一旋转部与所述第二旋转部之间形成相对旋转时，作用于霍尔元件的磁通量的单位变化量，直至相对距离满足预设的标准距离条件为止。

5.根据权利要求4所述的电子设备的侦测距离测试装置，其特征在于，

所述磁元件为生磁线圈；所述控制单元用于控制所述磁元件产生目标磁通量，以形成磁场功能区；

所述第一旋转部和所述第二旋转部上均设有滑轨，所述磁元件和所述霍尔元件分别可滑动地安装于所述第一旋转部和所述第二旋转部的所述滑轨上；

所述调整单元用于：

根据所述判断结果，使所述磁元件和所述霍尔元件于滑轨上滑动，以调整磁元件和霍尔元件的安装位置与旋转轴之间的距离；和/或

调整通过所述磁元件的电流，以增大或减小所述目标磁通量。