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CN111596200A - 一种集成电路测试仪 - Google Patents

一种集成电路测试仪 Download PDF

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CN111596200A
CN111596200A CN202010450830.XA CN202010450830A CN111596200A CN 111596200 A CN111596200 A CN 111596200A CN 202010450830 A CN202010450830 A CN 202010450830A CN 111596200 A CN111596200 A CN 111596200A
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CN
China
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test
speed
delay unit
time delay
tested chip
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CN202010450830.XA
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English (en)
Inventor
徐龙华
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LiLang semiconductor technology (Qidong) Co.,Ltd.
Original Assignee
Shanghai Daisi Ic Co ltd
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Publication date
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    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/31722—Addressing or selecting of test units, e.g. transmission protocols for selecting test units
    • G—PHYSICS
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    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
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Abstract

本发明公开了一种集成电路测试仪，该测试仪包括主处理器、主控模块、被测试芯片接口，还包括供电单元,时延单元，主控模块经过时延单元把产生的被测试芯片所需要的数据信号提供给被测试芯片，或者主控模块通过时延单元读取被测试芯片提供的数据信号，时延单元同地址信号配合控制读写被测试芯片数据信号的速度。本发明的集成电路测试仪能便捷地进行实现速度实时变动测试。

Description

一种集成电路测试仪
技术领域
本发明属于大规模集成电路生产测试技术领域，涉及SOC(系统级芯片),NVM(非挥发性存储器件)的测试,特别涉及一种集成电路测试仪。
背景技术
在大规模集成电路产品测试开发过程中，均涉及到使用测试平台的选择问题。针对SOC(系统级芯片)，NVM(非挥发性存储器件)的测试，目前市场上的主流测试仪有泰瑞达的J750系列，爱德万的93000系列，T2000，IMS，T6/T5系列等等。这些测试仪针对测试速度方面，基本要靠改变测试仪内部CPU的运行速度来实现测试速度的提升。在进行产品的速度测试时，根据测试仪CPU所能提供的速度，在程序中设定相应的Timing set(时序设置)来进行针对产品的速度测试。测试仪一般只能在一个测试向量中定义多组不同的Timing set，实现不同速度的测试；或者在不同的测试向量中定义不同的Timing set，实现不同速度的测试；又或者在测试向量中定义相同的Timing set，在主程序测试不同的项目中，改变Timingset的值，实现不同速度的测试。不能做到在整个测试程序所有测试项目实现任意时间点实时变动速度的测试。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种集成电路测试仪，所述集成电路测试仪能便捷实现任意时间点读写速度变动的测试。可真实的模拟芯片在实际使用中的各种恶劣条件。
为解决上述技术问题，本发明地集成电路测试仪，包括主处理器、主控模块、被测试芯片接口，供电单元，时延单元。
时延单元同地址信号配合控制读写被测试芯片数据信号的速度，其速度变动范围及每次变动的时间间隔在测试程序主程序中定义。
当测试程序下载并开始测试时，主处理器通过对时延单元的操控实现测试中测试速度实时变动的控制。
在整个测试程序的测试流程中均可实现测试项目速度变动的测试。改动测试速度变动测试只要在测试程序的主程序控制，无需修改测试向量。
在一个测试程序的测试流程中，当监控到有测试速度变动的触发信号时，印加到被测试芯片的读写速度实时变动，直到测试速度变动的触发信号消失。
本发明采用了简易的设计理念，可以方便的实现实时速度变动测试。
附图说明
下面结合附图及具体实施方式对本发明作进一步详细说明。
图1是本发明的集成电路测试仪一实施方式示意图。
具体实施方式
本发明的集成电路测试仪一实施方式如图1所示，常见的测试仪包括主处理器(MCU)、主控模块(I/O bus,Addrbus,control Gen)、缓冲器(Buffer)、输入输出总线转换单元(I/O BUS invert)、地址总线转换单元(Addr BUS invert)、供电单元(Power supply)、被测试芯片接口(Device Under Test port),通过主处理器控制时延单元实现在整个测试流程中任意时间点动态速度实时变动的测试。
测试设备上电后，整个系统处于待机状态，在被测试芯片接口相应端口放好被测试芯片(DUT)，通过控制测试仪上的开始测试按钮开始测试，MCU运行测试程序，首先MCU控制供电单元，设置好测试电压，接着通过控制主控模块(I/O bus,Addrbus,control Gen)，产生数据总线信号、地址总线信号及控制信号。其中产生的控制信号直接连接到被测试芯片接口处，直接控制被测试芯片(DUT)，产生的地址总线信号经过地址总线转换单元(AddrBUS invert)通过地址总线把地址信号印加到被测试芯片(DUT)的相应地址上。
在测试程序主程序部分定义好被测试芯片在整个测试流程中读速度变动的范围Rs1，Rs2及读速度变动的触发信号Rflag；读速度每次变动的时间间隔Rgap。
在测试程序主程序部分定义好被测试芯片在整个测试流程中写速度变动的范围Ws1，Ws2及写速度变动的触发信号Wflag；写速度每次变动的时间间隔Wgap。
在一个测试程序的测试流程中，当监控到有读速度变动的触发信号Rflag为有效时，印加到被测试芯片的读速度实时变动，直到读速度变动的触发信号为无效。速度变动期间，在每个时间间隔Rgap，实现读速度变动一次。
在一个测试程序的测试流程中，当监控到有写速度变动的触发信号Wflag为有效时，印加到被测试芯片的写速度实时变动，直到写速度变动的触发信号为无效。速度变动期间，在每个时间间隔Wgap，实现写速度变动一次。

Claims (3)

1.一种集成电路测试仪，包括主处理器，其特征在于，还包括主控模块、被测试芯片接口，供电单元，时延单元；通过主处理器控制时延单元实现在整个测试流程中任意时间点动态速度实时变动的测试；所述的时延单元同地址信号配合控制读写被测试芯片数据信号的速度，其速度变动范围及每次变动的时间间隔在测试程序主程序中定义；当测试程序下载并开始测试时，主处理器通过对时延单元的操控实现测试中测试速度实时变动的控制。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试仪，其特征在于，在整个测试程序的测试流程中均可实现测试项目速度变动的测试，改动测试速度变动测试只要在测试程序的主程序控制，无需修改测试向量。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试仪，其特征在于，在一个测试程序的测试流程中，当监控到有测试速度变动的触发信号时，印加到被测试芯片的读写速度实时变动，直到测试速度变动的触发信号消失。
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