CN103728515A - 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 - Google Patents
一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN103728515A CN103728515A CN201310753642.4A CN201310753642A CN103728515A CN 103728515 A CN103728515 A CN 103728515A CN 201310753642 A CN201310753642 A CN 201310753642A CN 103728515 A CN103728515 A CN 103728515A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- signal
- array base
- base palte
- grid line
- control device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/58—Testing of lines, cables or conductors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/281—Specific types of tests or tests for a specific type of fault, e.g. thermal mapping, shorts testing
- G01R31/2813—Checking the presence, location, orientation or value, e.g. resistance, of components or conductors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,所述的线路检测设备包括生成用于阵列基板线路情况的检测信号的信号发生装置和用于接收所述检测信号并进行处理的信号接收装置;所述的检测设备还包括用于控制信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在与阵列基板平行的平面上沿垂直于阵列基板的栅线方向移动的控制装置。本发明提高了线路检测的准确性。
Description
技术领域
本发明涉及检测设备领域,更具体的说,涉及一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法。
背景技术
阵列基板有许多的种类,其中某些种类相对于其他类型的阵列基板拥有更加密集的布线,这类密集布线的阵列基板,其阵列线路情况检测存在明显的困难,由于走线太过密集,其线间距超过了现有的检测设备的分辨极限,且金属线之间存在干扰,这大大的影响线路情况的检出率。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种能提高判断准确率的针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的:
一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,所述的检测设备包括生成用于检测阵列基板线路情况的检测信号的信号发生装置和用于接收所述检测信号并进行处理的信号接收装置;所述的检测设备还包括用于控制信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在与阵列基板平行的平面上沿垂直于阵列基板的栅线方向移动的控制装置。
进一步的,所述的信号发生装置包括信号输入器,信号接收装置包括信号输出器,所述的信号输入器用于将信号发生装置生成的检测信号送到待检测线路中,而信号输出器将检测后的检测信号送到信号接收装置,所述的信号输入器和信号输出器由所述的控制装置独立控制移动和定位。不同于现如今的检测设备的输入端和输出端只能在平行于栅线的方向上相对移动,本方案中的检测设备能够做到让信号输入器和信号输出器分别做不同方向上的定位调整,能够适用于更多种的布线方式的阵列基板。
进一步的,所述的控制装置包括用于控制信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在平行于阵列基板栅线的方向上移动的水平控制装置; 用于控制信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在平行于阵列基板且其投影垂直于阵列基板中的栅线的方向上移动的垂直控制装置,所述的水平控制装置和垂直控制装置独立工作。本方案的检测设备能够使得信号发生器和信号接收装置分别做水平或垂直运动,使得本方案的检测设备不仅能够适用于设置在同一水平线或同一垂直线的待检测线路,同时,还能够适用于阵列基板中的待检测线路不在同一水平线或同一垂直线上的布线方式。
进一步的,所述的水平控制装置包括水平平衡杆;所述的垂直控制装置包括垂直平衡杆;所述的垂直平衡杆和水平平衡杆活动连接。本方案的检测设备的垂直控制装置或水平控制装置能够在水平平衡杆或垂直平衡杆上运动和定位,且水平控制装置和垂直控制装置能够分别做水平和垂直运动,故而能够并通过同时水平和垂直运动的幅度做倾斜运动,且根据水平和垂直运动的幅度的不同能够做倾斜度不同的运动,因而能够使用于布线复杂的阵列基板中,线路布线不甚规则的线路的检测。
进一步的,所述的水平平衡杆包括滑轨或滑槽结构,所述的垂直平衡杆包括与水平平衡杆的滑轨或滑槽相配合的滑槽或滑轨结构,所述的水平平衡杆或垂直平衡杆包括检测载台,所述的信号发生装置和信号接收装置连接于所述的检测载台。通过本方案的检测设备,信号发生装置生成的用于检测待检测线路的检测信号,能够通过检测载台的强大的多方向定位到所需要的线路检测接入点,并通过检测载台将与检测信号的检测接入点在同一栅线或不同栅线的检测输出点送出的检测后的检测信号送到信号接收装置,这就使得本方案的检测设备适用于多种布线方式的阵列基板,因而,在换一种阵列基板检测的时候,不需要换检测设备也能够完成检测,这大大降低了检测成本。
进一步的,所述的水平平衡杆和垂直平衡杆还包括刻度,以及用于锁紧定位垂直平衡杆和水平平衡杆的锁紧螺丝部件。虽然,控制装置本身有电力驱动,但电力驱动并不是万能的,由于检测时存在着一些电力控制无法完全满足的定位需求,因而设置了刻度和能够手动控制的锁紧螺丝部件,通过刻度,以及用于锁紧垂直平衡杆和水平平衡杆的锁紧螺丝部件,检测设备能够通过电力控制和手动控制的配合完成一些特别需求的定位需求,同时通过刻度,以及用于锁紧垂直平衡杆的运动通道和水平平衡杆的移动通道的锁紧螺丝部件,能够在检测设备安装和校准的时候,手动辅助,使 得检测设备达到更好的校准效果。
进一步的,所述的信号发生装置包括设置有输入导体的信号输入器,信号接收装置包括设置有输出导体的信号输出器,所述的输入导体用于将信号发生装置生成的检测信号送到待检测线路中,而输出导体将检测后的检测信号送到信号接收装置,所述的输入导体和输出导体由所述的控制装置独立控制移动和定位;所述的控制装置包括=两套垂直控制装置和至少一套水平控制装置,所述的垂直控制装置包括垂直平衡杆,所述的水平控制装置包括水平平衡杆;所述的水平平衡杆设置有滑轨或滑槽,所述的垂直平衡杆设置有与水平平衡杆相配合的滑槽或滑轨,所述的两套垂直平衡杆通过所述滑轨和滑槽的配合结构平行设置在水平平衡杆上,所述的两套垂直平衡杆在水平平衡杆上做水平运动和定位;所述的水平平衡杆和垂直平衡杆上设置有刻度,以及用于锁紧垂直平衡杆和水平平衡杆的锁紧螺丝部件,并且两套垂直控制装置在与水平平衡杆配合处,向外延伸出有延伸部,在所述的延伸部上设置有用于避免垂直平衡杆重力倾斜的重力平衡部件;所述的两套垂直控制装置还分别包括检测载台,所述的输入导体和输出导体分别设置在检测载台上,所述的输入导体和输出导体,靠近待检测的线路,形成电容,检测信号非接触的接入到待检测线路。通过强大的定位方式,将检测信号接入到待检测线路的两端,且不同时将其他与之靠近的线路接入检测回路,如此可以有效的提高检出率,防止现有技术条件下,经常出现的,将两条线路接入检测回路,使得线路问题难以被检出,以及由于同时接入两条紧靠的金属线路,使得两者之间的电流电压以及其他信号互相干扰,影响检测结果的情况发生;同时,检测设备设置有电力驱动控制装置的方式,也设置有能够手动控制和调整,自动和手动的控制配合方式能够使得检测设备的定位能力适用于更多种的阵列基板;由于垂直控制装置设置在水平控制装置上,两者滑轨和滑槽的配合处受到压力,而垂直控制装置的重心不在水平控制装置上,由于杠杆作用,配合处受到的压力极大,而且由于重力倾斜的原因,其配合处可能有倾角,倾角的出现,将使得配合处的接触面变小,继而造成压强增大,这将使得配合处很容易由于压强过大而损坏;重力平衡部件的设置,将使得垂直控制装置的重心压在水平控制装置,避免杠杆作用和倾角的出现,使得配合处受到的压强变小,增长设备的使用寿命。
一种针对密集布线的阵列基板的线路检测方法,包括步骤:
安装检测设备并安置待检测的阵列基板,完成检测前的位置调整和校准工作;
将信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在与阵列基板平行的平面上沿垂直于阵列基板的栅线方向移动,信号发生装置的接入端和信号接收装置的接收端通过阵列基板的一条线路形成回路;
信号接收装置分析接收到的检测信号,并和检测前的检测信号进行比较,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则判断检测的线路存在问题,若检测结果小于预设的误差阀值,则判断检测的线路正常。
现有的检测方法使用于该种类的阵列基板时,由于信号发生装置和信号接收装置的接入点是位于同一水平线上,且两者不能在平行于阵列基板而其投影垂直于阵列基板中的栅线的方向上相对错开运动,这使得每次接入的时候,其实是充电线和共享线分别形成一条回路,并同时接入检测的,这使得其中一条回路存在问题时,检测设备无法检测出来问题,而且由于两线路布线太过紧贴,其中流通的电流、电压、电磁等互相影响,很可能造成检测信号的波动,并直接影响到检测结果,使检测结果不可靠;而本方法中的信号发生装置和信号接收装置将检测的接入点错开到两条栅线上,这样使得原来过于紧贴的同一栅线的充电线和共享线,能够不相影响的形成一条回路进行检测,这将使得检测这类密集布线的阵列基板的检测结果,能够得到保证;而且,由于该检测方法在检测不同跨度的阵列基板时,只需要将其错开的间距进行调整即可使用,这避免了换一种阵列基板检测即需要配套的换另一种检测设备的麻烦和花费的高额的成本。
进一步的,所述阵列基板包括栅线,每一条栅线包括相邻的充电线和共享线,所述共享线与另一条栅线的充电线连接,所述的检测方法中检测共享线的步骤包括:
将信号发生装置和信号接收装置分列设置在阵列基板中栅线轴向的两侧,将信号接收装置与栅线的共享线耦合;
移动信号发生装置,使得信号发生装置跟与该共享线连接的另一条栅线的充电线耦合。
这样的检测共享线的检测方法,避免其同时检测两条回路,使得在检测共享线时,在与其紧贴的充电线中不会存在检测信号对其进行干扰,提高了检测的精度和可靠程度。
进一步的,所述阵列基板包括栅线,每一条栅线包括相邻的充电线和共享线,所述共享线与另一条栅线的充电线连接,所述的检测方法中检测充电线的步骤包括:
将信号发生装置和信号接收装置分列设置在阵列基板中栅线轴向的两侧,将信号接收装置与栅线的充电线耦合;
移动信号发生装置,使得信号发生装置跟与该充电线连接的另一条栅线的共享线耦合。
这样的检测充电线的检测方法,将检测设备的输入和输出端错开,避免其同时,检测两条回路,使得在检测充电线时,在与其紧贴的共享线中不会存在检测信号对其进行干扰,提高了检测的精度和可靠程度。
经研究发现,现在存在的密集布线的阵列基板,由于其中金属线太过密集的布线,使用现有的检测设备,很可能在检测的时候将紧贴的线路形成两条回路以上的接入到检测设备中,如此,很可能其中一条回路存在问题,但是因为其他回路正常的原因而无法检测出来,也有可能多条回路都正常,但是由于线路太过紧贴,其中流过的检测信号以及电压、电流等因素的影响而造成检测信号的波动,影响检测结果。发明人进一步研究发现,对于密集布线的阵列基板,相邻两条线路会沿垂直于阵列基板中的栅线的方向连接到其他线路。因此本发明增加了控制装置,将控制信号发生装置或信号接收装置一端与待测线路耦合,然后将信号接收装置或信号发生装置移动到跟该线路连接的其他线路耦合,这样就避免了信号接收装置和信号发生装置同时跟相邻的两条线路耦合,两者错开后就能确保信号接收装置和信号发生装置通过阵列基板的一条待测线路形成回路,而不会将其他的线路接入回路,提高了线路检测的准确性。
附图说明
图1所示为N+4栅扫描线布线的阵列基板的布线图;
图2所示为现有检测设备的检测示意图;
图3所示为本发明的检测设备的电路示意图;
图4所示为本发明的检测设备的检测机台简图;
图5所示为本发明的检测设备中的水平控制装置与垂直控制装置的配合处结构图;
图6所示为本发明一种检测设备检测N+4栅扫描线布线的阵列基板中共享线的检测示意图;
图7所示为本发明一种检测设备检测N+4栅扫描线布线的阵列基板中充电线的检测示意图;
图8所示为本发明一种检测方法的流程图;
图9所示为本发明一种检测方法检测共享线的流程图;
图10所示为本发明一种检测方法检测共享线的流程图。
其中:1、显示区;2、充电线;3、共享线;10、检测机台;11、信号发生装置;12、信号接收装置;13、水平控制装置;14、垂直控制装置;15检测载台;111、输入导体20、控制装置;100、阵列基板;121、输出导体;131、水平平衡杆;132、滑轨;141垂直平衡杆;142、滑槽;143、锁紧螺丝;144、重力平衡装置;200、待检测线路。
具体实施方式
下面结合附图和较佳的实施例对本发明作进一步说明。
图1为N+4栅扫描线布线的阵列基板的布线图,现有的阵列基板有一些具有密集型布线的特点,本图所示便是其中一种,如图1所示,阵列基板包括显示区1和1088条栅线G1~G1088,每一条栅线包括充电线2和共享线3,充电线2和共享线3紧贴布线,但在一端部分相错开,比如:第五栅线的充电线在第五栅线G5处,但是第五栅线的共享线的一端在第一栅线G1处,即第N根栅线的共享线的一端在第N-4根栅线处;所述的显示区1包括栅线G5~G1084,其中栅线G5布置有像素#1,栅线G6布置有像素#2、、、依次类推,栅线G1084布置有像素#1080;其中栅线G1~G4只包括充电线,栅G1085~G1088只包括共享线,这八根栅线为冗余栅线,只为了方便布线而设置,不参与成像显示。
图2为现有检测设备的检测示意图,检测设备包括检测机台10,所述的检测设备还包括输入导体111和输出导体121,所述的输入导体111和 输出导体121设置在所述的检测机台10上,检测时,阵列基板100放置在现有检测机台10上,检测设备的输入导体111连接到栅线的一端,而栅线的另一端连接到检测设备的输出导体121,所述的输入导体111用于将检测设备的检测信号接入待检测线路,而输出导体用于接收检测信号并送到检测设备;输入导体111和输出导体121能够相对的在平行于栅线的方向上移动靠近和远离,以方便对线路进行检测以及确认线路不良点;但是,在针对密集布线的阵列基板,比如图中所示的N+4的栅扫描线布线的阵列基板时,由于充电线2和共通线3紧贴布线,输入导体111和输出导体121的接入时,将同时形成充电线和共通线两条回路,其结果是,若其中一条回路有问题而另一条回路正常,则很可能检测结果是没有问题,另外,即使两条回路都是好的,由于两条紧贴的线路中流通的电压电流以及由此产生的磁场等之间的互相影响很可能会影响检测信号,并影响到检测结果的判断,使检测结果不准确。
如图3至图5为本发明的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备的示意图。
如图3所示为本发明的检测设备的电路示意图,检测设备包括有生成用于阵列基板线路情况检测的检测信号的信号发生装置11、用于接收所述检测信号进行处理的信号接收装置12和用于控制信号发生装置11、信号接收装置12任意一个或两个在与阵列基板平行的平面上沿垂直于阵列基板的栅线方向移动的控制装置;其中信号发生装置11包括信号发生器110和信号输入器,即输入导体111,而信号接收装置12包括信号接收器120和信号输出器,即输出导体121,所述信号发生器11生成线路检测需要的检测信号,输入导体111用于将信号发生器11生成的检测信号送到待检测线路200当中,而输出导体121用于采集待检测线路200送出的检测信号,并将检测信号送给信号接收器120,分析和比较得出检测结果。
如上所述的输入导体和输出导体非接触的靠近待检测的线路时,导体与待检测的线路形成电容,则高频的交变的检测信号能够非接触的接入待检测线路,然后由信号接收装置接受检测信号,并进行分析和判断;当然, 输入导体和输出导体在适当的条件下也可以是接触式的接入待检测线路。
如图4所示为本发明的检测设备的检测机台简图,结合图3所示可知,检测机台10包括信号发生装置11、信号接收装置12和控制装置20,控制装置20包括用于控制输入导体111和输出导体121在平行于阵列基板100中的栅线的方向上移动的水平控制装置13,用于控制输入导体111和输出导体121在平行于阵列基板且其投影垂直于阵列基板100中的栅线的方向上移动的垂直控制装置14,和与水平控制装置13以及垂直控制装置14相连接的驱动模块(未示出),所述的驱动模块驱动水平控制装置13和垂直控制装置14运动;所述的垂直控制装置14由驱动模块驱动沿水平控制装置13做平行于阵列基板100中的栅线的方向上移动;另外,垂直控制装置14还包括检测载台15,所述的输入导体111和输出导体121设置在所述的检测载台15上,所述的检测载台15由垂直控制装置14和驱动模块驱动在水平于阵列基板而其投影垂直于阵列基板中的栅线的方向上移动。
如上所述的所述的垂直控制装置14有两套,平行设置在水平控制装置13上,垂直控制装置在所述的驱动装置的驱动下沿水平控制装置移动和定位;而水平控制装置13至少有一套,当设置两套水平控制装置13时,将两套水平平行安置,两套平行设置的垂直控制装置的两端分别连接;当然,所述的水平控制装置和垂直控制装置相对于阵列基板的位置可以调换,并不影响使用。
由于垂直控制装置或水平控制装置能够在水平平衡杆或垂直平衡杆上运动和定位,且水平控制装置和垂直控制装置能够分别做水平和垂直运动,故而能够并通过同时水平和垂直运动的幅度做倾斜运动,且根据水平和垂直运动的幅度的不同能够做倾斜度不同的运动,因而能够使用于布线复杂的阵列基板中,线路布线不甚规则的线路的检测。
因而通过本方案的检测设备,信号发生装置生成的用于检测待检测线路的检测信号,能够通过检测载台的强大的多方向定位到所需要的线路检测接入点,并通过检测载台将与检测信号的检测接入点在同一栅线或不同栅线的检测输出点送出的检测后的检测信号送到信号接收装置,这就使得本方案的检测设备适用于多种布线方式的阵列基板,因而,在换一种阵列 基板检测的时候,不需要换检测设备也能够完成检测,这大大降低了检测成本。
如图5所示为水平控制装置与垂直控制装置的配合处结构图,结合图4所示可知,水平控制装置13包括水平平衡杆131和滑轨132,垂直控制装置14包括垂直平衡杆141和与滑轨132相配合的滑槽142,所述的垂直控制装置11通过滑轨132和滑槽142配合滑动。
如上所述的垂直控制装置14还包括延伸至水平控制装置13另一侧的垂直平衡杆141的延伸部上设置有重力平衡部件144;垂直控制装置14设置在水平控制装置13上,滑轨132和滑槽142的配合处受到压力,而垂直控制装置14的重心不在水平控制装置13上,由于杠杆作用,配合处受到的压力极大,而且由于重力倾斜的原因,其配合处可能有倾角,倾角的出现,将使得配合处的接触面变小,继而造成压强增大,这将使得配合处很容易由于压强过大而损坏;重力平衡部件的设置,将使得垂直控制装置的重心压在水平控制装置,避免杠杆作用和倾角的出现,使得配合处受到的压强变小,增长设备的使用寿命。
如上所述的滑轨132和滑槽142,两者可通过连接于两者的驱动模块控制滑动,也可以手动控制滑动;另外,所述的垂直控制装置14还包括设置在其与水平控制装置配合处的锁紧螺丝143。虽然,控制装置本身有电力驱动,但电力驱动并不是万能的,由于检测时存在着一些电力控制无法完全满足的定位需求,而电力驱动控制和手动控制并利用锁紧螺丝143定位的结合可以使检测设备适用于更多的需求情况。
如上所述的水平平衡杆和垂直平衡杆上还设置有刻度,该刻度能够配合电力驱动和手动控制的方法更好进行检测设备的调零校准工作,达到更好的校准效果,同时可以配合锁紧螺丝完成一些电力驱动无法独立完成的定位需求。
图6所示为本发明一种检测设备在检测N+4栅扫描线布线的阵列基板中共享线的检测示意图,该种类的阵列基板包括栅线,每一条栅线包括相邻的充电线和共享线,其中栅线GN的共享线和栅线GN-4的充电线连接, 检测时:信号发生装置接入到共享线3连接于栅线GN-4的充电线2的一端处,而信号接收装置接入待测的共享线3栅线GN的另一端,则信号发生装置和信号接收装置之间形成一条回路,该回路包括该共享线3与充电线2紧贴的部分,和该共享线3外接至另一栅线的延伸部分;将信号发生装置的输入端111将产生的检测信号送到待检测的共享线,并由信号接收装置的接收端121接收完成检测后的检测信号;信号接收装置分析接收到的检测信号,并和检测信号进行比较,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则该共享线存在问题,若检测结果小于预设的误差阀值,则该共享线正常;首先可以将整条共享纳入检测回路,可以检测整条线路是否正常,若出现问题,需要确定故障的位置,可以水平移动信号接收装置一端,以确定故障点。这样的检测共享线的检测方法,将检测设备的输入端和输出端错开,避免其同时检测两条回路,使得在检测栅线GN处的共享线时,在栅线GN处与其紧贴的充电线中不会存在检测信号对其进行干扰,提高了检测的精度和可靠程度;同时,若是共享线检测出问题,那么只需要信号发生装置接入端不动,水平于该共享线所在栅线方向由栅线输出端向输入端移动信号接收装置的接收端,即可对共享线进行排查故障点检测,当检测结果由有问题向正常转变时,可以知道刚刚经过的地方便是该共享线线路问题的所在。
这将使得检测这类密集布线的阵列基板的检测结果,能够得到保证,而且,由于该检测方法在对于不同跨度的N+X栅扫描线布线的阵列基板,只需要将其错开的间距进行调整即可使用,这避免了换一种阵列基板检测即需要配套的换另一种检测设备的麻烦和花费的高额的成本。
图7所示为本发明一种检测设备在检测N+4栅扫描线布线的阵列基板中共享线的检测示意图,检测时:信号发生装置接入至该充电线2连接的共享线3栅线GN的一端,而信号接收装置接入待测的充电线2栅线GN-4的另一端,则信号发生装置和信号接收装置之间形成一条回路,该回路包括该充电线2以及与该充电线2连接的共享线3的延伸部分;将信号发生装置产生的检测信号送到待检测的充电线2,并由信号接收装置接收完成 检测后的检测信号;信号接收装置分析接收到的检测信号,并和检测信号进行比较,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则该充电线2存在问题,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则该充电线2存在问题,若小于误差阀值,则线路正常。
同理,首先可以将整条共享纳入检测回路,可以检测整条线路是否正常,若出现问题,需要确定故障的位置,可以水平移动信号接收装置一端,以确定故障点。
图8至图10所示为本发明一种检测方法的流程图。
图8所示为本发明一种检测方法的原理流程图,该检测方法,包括步骤:
A1、安装检测设备并安置待检测的阵列基板,完成检测前的位置调整和校准工作;
A2、将信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在与阵列基板平行的平面上沿垂直于阵列基板中的栅线方向移动,信号发生装置的接入端和信号接收装置的接收端通过阵列基板的一条线路形成回路;
A3、信号接收装置分析接收到的检测信号,并和检测前的检测信号进行比较,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则判断检测的线路存在问题,若检测结果小于预设的误差阀值,则判断检测的线路正常。
现有的检测方法使用于该种类的阵列基板时,由于信号发生装置和信号接收装置的接入点是位于同一水平线上,且两者不能在平行于阵列基板而其投影垂直于阵列基板中的栅线的方向上相对错开运动,这使得每次接入的时候,其实是充电线和共享线分别形成一条回路,并同时接入检测的,这使得其中一条回路存在问题时,检测设备无法检测出来问题,而且由于两线路布线太过紧贴,其中流通的电流、电压、电磁等互相影响,很可能造成检测信号的波动,并直接影响到检测结果,使检测结果不可靠;而本方法中的信号发生装置和信号接收装置将检测的接入点错开到两条栅线上,这样使得原来过于紧贴的同一栅线的充电线和共享线,能够不相影响的形成一条回路进行检测,这将使得检测这类密集布线的阵列基板的检测 结果,能够得到保证;而且,由于该检测方法在检测不同跨度的阵列基板时,只需要将其错开的间距进行调整即可使用,这避免了换一种阵列基板检测即需要配套的换另一种检测设备的麻烦和花费的高额的成本。
图9所示为本发明一种检测方法检测共享线的流程图,所应用于的阵列基板包括栅线,每一条栅线包括相邻的充电线和共享线,所述共享线与另一条栅线的充电线连接,该检测方法中检测共享线的步骤包括:
B1、将信号发生装置和信号接收装置分列设置在阵列基板两侧,将信号接收装置与栅线的共享线耦合;
B2、移动信号发生装置,使得信号发生装置跟与该共享线连接的另一条栅线的充电线耦合;
B3、信号接收装置分析接收到的检测信号,并和检测前的检测信号进行比较,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则判断共享线存在问题,若检测结果小于预设的误差阀值,则判断共享线正常。
这样的检测共享线的检测方法,避免其同时检测两条回路,使得在检测共享线时,在与其紧贴的充电线中不会存在检测信号对其进行干扰,提高了检测的精度和可靠程度;同时,若是共享线检测出问题,那么只需要信号发生装置接入端不动,水平于该共享线所在栅线方向由栅线输出端向输入端移动信号接收装置的接收端,即可对共享线进行排查故障点检测,当检测结果由有问题向正常转变时,可以知道刚刚经过的地方便是该共享线线路问题的所在。
图10所示本发明一种检测方法检测共享线的流程图,所应用于的阵列基板包括栅线,每一条栅线包括相邻的充电线和共享线,所述共享线与另一条栅线的充电线连接,该检测方法中检测充电线的步骤包括:
C1、将信号发生装置和信号接收装置分列设置在阵列基板中栅线轴向的两侧,将信号接收装置与栅线的充电线耦合;
C2、移动信号发生装置,使得信号发生装置跟与该充电线连接的另一条栅线的共享线耦合。
C3、信号接收装置分析接收到的检测信号,并和检测前的检测信号进行比较,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则判断充电线存在问题, 若检测结果小于预设的误差阀值,则判断充电线正常。
这样的检测充电线的检测方法,将检测设备的输入和输出端错开,避免其同时,检测两条回路,使得在检测充电线时,在与其紧贴的共享线中不会存在检测信号对其进行干扰,提高了检测的精度和可靠程度;同时,若是充电线检测出问题,那么只需要信号发生装置接入端不动,水平于该充电线线所在栅线方向由栅线输出端向输入端移动信号接收装置的接收端,即可对充电线进行排查故障点检测,当检测结果由有问题向正常转变时,可以知道刚刚经过的地方便是该充电线线路问题的所在。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明,不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干简单推演或替换,都应当视为属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,其特征在于,所述的线路检测设备包括生成用于检测阵列基板线路情况的检测信号的信号发生装置和用于接收所述检测信号并进行处理的信号接收装置;所述的检测设备还包括用于控制信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在与阵列基板平行的平面上沿垂直于阵列基板的栅线方向移动的控制装置。
2.如权利要求1所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,其特征在于,所述的信号发生装置包括信号输入器,信号接收装置包括信号输出器,所述的信号输入器用于将信号发生装置生成的检测信号送到待检测线路中,而信号输出器将检测后的检测信号送到信号接收装置,所述的信号输入器和信号输出器由所述的控制装置独立控制移动和定位。
3.如权利要求1所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,其特征在于,所述的控制装置包括用于控制信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在平行于阵列基板栅线的方向上移动的水平控制装置;用于控制信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在平行于阵列基板且其投影垂直于阵列基板中的栅线的方向上移动的垂直控制装置,所述的水平控制装置和垂直控制装置独立工作。
4.如权利要求3所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,其特征在于,所述的水平控制装置包括水平平衡杆;所述的垂直控制装置包括垂直平衡杆;所述的垂直平衡杆和水平平衡杆活动连接。
5.如权利要求4所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,其特征在于,所述的水平平衡杆包括滑轨或滑槽结构,所述的垂直平衡杆包括与水平平衡杆的滑轨或滑槽相配合的滑槽或滑轨结构,所述的水平平衡杆或垂直平衡杆包括检测载台,所述的信号发生装置和信号接收装置连接于所述的检测载台。
6.如权利要求4所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,其特征在于,所述的水平平衡杆和垂直平衡杆还包括刻度,以及用于锁紧定位垂直平衡杆和水平平衡杆的锁紧螺丝部件。
7.如权利要求1所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备,其特征在于,所述的信号发生装置包括设置有输入导体的信号输入器,信号接收装置包括设置有输出导体的信号输出器,所述的输入导体用于将信号发生装置生成的检测信号送到待检测线路中,而输出导体将检测后的检测信号送到信号接收装置,所述的输入导体和输出导体由所述的控制装置独立控制移动和定位;所述的控制装置包括两套垂直控制装置和至少一套水平控制装置,所述的垂直控制装置包括垂直平衡杆,所述的水平控制装置包括水平平衡杆;所述的水平平衡杆设置有滑轨或滑槽,所述的垂直平衡杆设置有与水平平衡杆相配合的滑槽或滑轨,所述的两套垂直平衡杆通过所述滑轨和滑槽的配合结构平行设置在水平平衡杆上,所述的两套垂直平衡杆在水平平衡杆上做水平运动和定位;所述的水平平衡杆和垂直平衡杆上设置有刻度,以及用于锁紧垂直平衡杆和水平平衡杆的锁紧螺丝部件,并且两套垂直控制装置在与水平平衡杆配合处,向外延伸出有延伸部,在所述的延伸部上设置有用于避免垂直平衡杆重力倾斜的重力平衡部件;所述的两套垂直控制装置还分别包括检测载台,所述的输入导体和输出导体分别设置在检测载台上;所述的输入导体和输出导体,靠近待检测的线路,形成电容,检测信号非接触的接入到待检测线路。
8.一种针对密集布线的阵列基板的线路检测方法,包括步骤:
安装检测设备并安置待检测的阵列基板,完成检测前的位置调整和校准工作;
将信号发生装置、信号接收装置任意一个或两个在与阵列基板平行的平面上沿垂直于阵列基板的栅线方向移动,信号发生装置的接入端和信号接收装置的接收端通过阵列基板的一条线路形成回路;
信号接收装置分析接收到的检测信号,并和检测前的检测信号进行比较,若检测结果大于或等于预设的误差阀值,则判断检测的线路存在问题,若检测结果小于预设的误差阀值,则判断检测的线路正常。
9.如权利要求8所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测方法,其特征在于,所述阵列基板包括栅线,每一条栅线包括相邻的充电线和共享线,所述共享线与另一条栅线的充电线连接,所述的检测方法中检测共享线的步骤包括:
将信号发生装置和信号接收装置分列设置在阵列基板中栅线轴向的两侧,将信号接收装置与栅线的共享线耦合;
移动信号发生装置,使得信号发生装置跟与该共享线连接的另一条栅线的充电线耦合。
10.如权利要求8所述的一种针对密集布线的阵列基板的线路检测方法,其特征在于,所述阵列基板包括栅线,每一条栅线包括相邻的充电线和共享线,所述共享线与另一条栅线的充电线连接,所述的检测方法中检测充电线的步骤包括:
将信号发生装置和信号接收装置分列设置在阵列基板中栅线轴向的两侧,将信号接收装置与栅线的充电线耦合;
移动信号发生装置,使得信号发生装置跟与该充电线连接的另一条栅线的共享线耦合。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310753642.4A CN103728515B (zh) | 2013-12-31 | 2013-12-31 | 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 |
US14/241,081 US9267979B2 (en) | 2013-12-31 | 2014-01-13 | Line testing device for array substrate having dense number of wires and method for testing line of the array substrate having the dense number of wires |
PCT/CN2014/070522 WO2015100792A1 (zh) | 2013-12-31 | 2014-01-13 | 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201310753642.4A CN103728515B (zh) | 2013-12-31 | 2013-12-31 | 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN103728515A true CN103728515A (zh) | 2014-04-16 |
CN103728515B CN103728515B (zh) | 2017-01-18 |
Family
ID=50452676
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201310753642.4A Active CN103728515B (zh) | 2013-12-31 | 2013-12-31 | 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9267979B2 (zh) |
CN (1) | CN103728515B (zh) |
WO (1) | WO2015100792A1 (zh) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110095704A (zh) * | 2019-04-17 | 2019-08-06 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 检测阵列基板中电路缺陷的装置及方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1831550A (zh) * | 2006-04-26 | 2006-09-13 | 广辉电子股份有限公司 | 显示面板的非接触式检测装置 |
CN101281073A (zh) * | 2008-05-21 | 2008-10-08 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种力学传感器阵列标定装置及其工作方法 |
US20100066383A1 (en) * | 2008-09-12 | 2010-03-18 | Te-Chen Chung | Array substrate and defect-detecting method thereof |
JP2010127829A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Seiko Epson Corp | 集積回路装置及び電子機器 |
CN103091918A (zh) * | 2013-01-18 | 2013-05-08 | 北京京东方光电科技有限公司 | 阵列基板、显示装置及检测方法 |
Family Cites Families (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4823078A (en) * | 1987-11-16 | 1989-04-18 | Raychem Corporation | Device for A.C. voltage testing using a voltage multiplier and LCD display |
US5285150A (en) * | 1990-11-26 | 1994-02-08 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for testing LCD panel array |
US5081687A (en) * | 1990-11-30 | 1992-01-14 | Photon Dynamics, Inc. | Method and apparatus for testing LCD panel array prior to shorting bar removal |
US5465052A (en) * | 1991-09-10 | 1995-11-07 | Photon Dynamics, Inc. | Method of testing liquid crystal display substrates |
US5546013A (en) * | 1993-03-05 | 1996-08-13 | International Business Machines Corporation | Array tester for determining contact quality and line integrity in a TFT/LCD |
US5852480A (en) * | 1994-03-30 | 1998-12-22 | Nec Corporation | LCD panel having a plurality of shunt buses |
KR100205382B1 (ko) * | 1996-07-22 | 1999-07-01 | 구자홍 | 액정 표시 장치 |
US5999012A (en) * | 1996-08-15 | 1999-12-07 | Listwan; Andrew | Method and apparatus for testing an electrically conductive substrate |
KR100252308B1 (ko) * | 1997-01-10 | 2000-04-15 | 구본준, 론 위라하디락사 | 박막트랜지스터 어레이 |
JP4260250B2 (ja) * | 1997-09-25 | 2009-04-30 | 三星電子株式会社 | 静電気保護回路を有する液晶表示装置及びこの回路を利用した表示検査方法 |
KR100281058B1 (ko) * | 1997-11-05 | 2001-02-01 | 구본준, 론 위라하디락사 | 액정표시장치 |
KR100353955B1 (ko) * | 2000-12-20 | 2002-09-28 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 신호라인 검사를 위한 액정표시장치 |
KR100800330B1 (ko) * | 2001-12-20 | 2008-02-01 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 라인 온 글래스형 신호라인 검사를 위한 액정표시패널 |
KR100841613B1 (ko) * | 2001-12-28 | 2008-06-27 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막 트랜지스터 검사용 단락 배선을 갖는 액정 표시장치 |
CN1720458B (zh) * | 2002-11-30 | 2010-06-23 | Oht株式会社 | 电路图案检查装置及电路图案检查方法 |
KR100528695B1 (ko) * | 2003-05-06 | 2005-11-16 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 평판표시장치의 검사방법 및 장치 |
CN100357752C (zh) | 2004-03-26 | 2007-12-26 | 广辉电子股份有限公司 | 线路缺陷检测维修设备及方法 |
KR100630005B1 (ko) | 2004-05-18 | 2006-09-27 | 엘지전자 주식회사 | 비파괴 검사 장치 및 검사 방법 |
US7038484B2 (en) * | 2004-08-06 | 2006-05-02 | Toshiba Matsushita Display Technology Co., Ltd. | Display device |
TWI312087B (en) * | 2005-08-26 | 2009-07-11 | Au Optronics Corporatio | Test circuit for flat panel display device |
US7714589B2 (en) * | 2005-11-15 | 2010-05-11 | Photon Dynamics, Inc. | Array test using the shorting bar and high frequency clock signal for the inspection of TFT-LCD with integrated driver IC |
JP2007183165A (ja) * | 2006-01-06 | 2007-07-19 | Nec Kagoshima Ltd | 配線不良検査方法及び配線不良検査装置 |
US7683606B2 (en) * | 2006-05-26 | 2010-03-23 | Sipix Imaging, Inc. | Flexible display testing and inspection |
US7468611B2 (en) * | 2006-10-20 | 2008-12-23 | Photon Dynamics, Inc. | Continuous linear scanning of large flat panel media |
KR20080049216A (ko) * | 2006-11-30 | 2008-06-04 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정 표시 장치 및 그 검사 방법 |
TWI357981B (en) * | 2007-01-30 | 2012-02-11 | Au Optronics Corp | Testing system and method of liquid crystal displa |
TWI402594B (zh) * | 2007-04-27 | 2013-07-21 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | 主動元件陣列基板 |
TWI372276B (en) * | 2007-06-20 | 2012-09-11 | Au Optronics Corp | Liquid crystal display and method for making the same |
FR2920907B1 (fr) * | 2007-09-07 | 2010-04-09 | Thales Sa | Circuit de commande des lignes d'un ecran plat a matrice active. |
TWI371636B (en) * | 2008-01-18 | 2012-09-01 | Chimei Innolux Corp | Display panel, assembling method thereof and liquid crystal display |
KR101458910B1 (ko) * | 2008-03-28 | 2014-11-10 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR101550251B1 (ko) * | 2009-02-03 | 2015-09-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널의 테스트 방법 및 이를 수행하기 위한 테스트 장치 |
US20110050756A1 (en) * | 2009-09-02 | 2011-03-03 | Ntera, Inc. | Use of displays in low-power and low-cost electronic systems |
CN102236179B (zh) * | 2010-05-07 | 2014-03-19 | 北京京东方光电科技有限公司 | Tft-lcd阵列基板及其制造方法 |
TWI480655B (zh) * | 2011-04-14 | 2015-04-11 | Au Optronics Corp | 顯示面板及其測試方法 |
JP5432213B2 (ja) | 2011-05-20 | 2014-03-05 | 株式会社ユニオンアロー・テクノロジー | パターン検査装置 |
CN103268029B (zh) * | 2013-05-24 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种显示模组及显示器 |
CN103308817B (zh) | 2013-06-20 | 2015-11-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板线路检测装置及检测方法 |
-
2013
- 2013-12-31 CN CN201310753642.4A patent/CN103728515B/zh active Active
-
2014
- 2014-01-13 US US14/241,081 patent/US9267979B2/en active Active
- 2014-01-13 WO PCT/CN2014/070522 patent/WO2015100792A1/zh active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1831550A (zh) * | 2006-04-26 | 2006-09-13 | 广辉电子股份有限公司 | 显示面板的非接触式检测装置 |
CN101281073A (zh) * | 2008-05-21 | 2008-10-08 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种力学传感器阵列标定装置及其工作方法 |
US20100066383A1 (en) * | 2008-09-12 | 2010-03-18 | Te-Chen Chung | Array substrate and defect-detecting method thereof |
JP2010127829A (ja) * | 2008-11-28 | 2010-06-10 | Seiko Epson Corp | 集積回路装置及び電子機器 |
CN103091918A (zh) * | 2013-01-18 | 2013-05-08 | 北京京东方光电科技有限公司 | 阵列基板、显示装置及检测方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110095704A (zh) * | 2019-04-17 | 2019-08-06 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 检测阵列基板中电路缺陷的装置及方法 |
CN110095704B (zh) * | 2019-04-17 | 2022-02-22 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | 检测阵列基板中电路缺陷的装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103728515B (zh) | 2017-01-18 |
US20150309102A1 (en) | 2015-10-29 |
US9267979B2 (en) | 2016-02-23 |
WO2015100792A1 (zh) | 2015-07-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101477066B (zh) | 基于超分辨率图像重建的电路板元件安装/焊接质量检测方法及系统 | |
CN103063677A (zh) | 多功能pcb测试系统 | |
KR101786948B1 (ko) | 지중송전선로 접속점별 고장구간 검출장치 | |
JPS61280629A (ja) | 電気接続用コネクタピンを自動的に検査する装置ならびに方式 | |
CN103308817B (zh) | 阵列基板线路检测装置及检测方法 | |
CN203069520U (zh) | 多功能pcb自动测试系统 | |
CN105093012B (zh) | 一种点灯检测装置及点灯检测系统 | |
US20170084016A1 (en) | Method and system for diagnosing a semiconductor wafer | |
TWI287097B (en) | Circuit pattern inspection apparatus, circuit pattern inspection method, and recording medium | |
CN209071280U (zh) | 晶圆的检测设备 | |
CN101782616A (zh) | 一种触摸屏测试装置 | |
CN205643630U (zh) | Pcba定位检测装置及检测机构 | |
RU2634755C2 (ru) | Способ и устройство диагностики технических параметров подземного трубопровода | |
CN202974890U (zh) | 多功能pcb测试系统 | |
CN102472788A (zh) | 导电图检查装置及检查方法 | |
CN103728515A (zh) | 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法 | |
CN105329258B (zh) | 适用于磁钢在线故障诊断的信号获取电路、装置及系统 | |
JP2015056418A (ja) | 太陽電池の検査装置および太陽電池の検査方法 | |
WO2004057350A1 (ja) | 回路パターン検査装置及びパターン検査方法 | |
CN105738734A (zh) | 一种用于静电放电测试的耦合板组件及静电放电测试装置 | |
CN113504439A (zh) | 一种基于超声波定位技术的开关柜局部放电监测系统 | |
RU2633018C2 (ru) | Способ диагностического контроля технических параметров подземного трубопровода | |
CN105954620A (zh) | 一种电力故障诊断系统与诊断方法 | |
KR101551341B1 (ko) | 케이블 확인 장치 | |
CN105841691A (zh) | 一种电磁导航装置及系统 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant |