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TWI402594B - 主動元件陣列基板 - Google Patents

主動元件陣列基板 Download PDF

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TWI402594B
TWI402594B TW096115026A TW96115026A TWI402594B TW I402594 B TWI402594 B TW I402594B TW 096115026 A TW096115026 A TW 096115026A TW 96115026 A TW96115026 A TW 96115026A TW I402594 B TWI402594 B TW I402594B
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electrically connected
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circuit board
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TW096115026A
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Inventor
Chin Hai Huang
Huei Chung Yu
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Chunghwa Picture Tubes Ltd
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Description

主動元件陣列基板
本發明是有關於一種元件陣列基板，且特別是有關於一種用於液晶顯示器之主動元件陣列基板。
現今社會多媒體技術相當發達，多半受惠於半導體元件與顯示裝置的進步。就顯示器而言，具有高畫質、空間利用效率佳、低消耗功率、無輻射等優越特性之液晶顯示器已逐漸成為市場之主流。
以薄膜電晶體液晶顯示模組(TFT－LCD module)而言，其主要由一液晶顯示面板(liquid crystal display panel)及一背光模組(backlight module)所構成。其中，液晶顯示面板通常是由一薄膜電晶體陣列基板(thin film transistor array substrate)、一彩色濾光基板(color filter substrate)與配置於此兩基板間之一液晶層所構成，而背光模組用以提供此液晶顯示面板所需之面光源，以使液晶顯示模組達到顯示的效果。
薄膜電晶體陣列基板可分為顯示區(display region)與週邊線路區(peripheral circuit region)，其中在顯示區上配置有以陣列排列之多個畫素單元，而每一畫素單元包括薄膜電晶體以及與薄膜電晶體電性連接之畫素電極(pixel electrode)。另外，在週邊線路區與顯示區上配置有多條掃瞄配線(scan line)與資料配線(data line)，其中每一個畫素單元之薄膜電晶體由對應之掃瞄配線與資料配線所控制。
在完成薄膜電晶體陣列基板的製程後，通常會對薄膜電晶體陣列基板上的畫素單元進行電性檢測，以判斷畫素單元可否正常運作。當畫素單元無法正常運作時，便可對於不良的元件(如薄膜電晶體或畫素電極等)或線路進行修補。
電性檢測的方式通常是以探針測試週邊線路。詳細來說，週邊線路具有多個電性連接至掃瞄配線與資料配線之測試墊，而探針接觸各測試墊並發出一測試訊號即可測出各畫素單元是否可正常運作。由於考慮到探針檢測裝置的與檢測效率，目前的檢測技術採用由PHOTON DYNAMICS INC.(PDI)所發展的具有六探針架構檢測技術。當面板採覆晶玻璃(chip on glass,COG)晶片設計時，薄膜電晶體陣列只經由六條檢測線而連接至檢測線路。因此，當靜電放電發生時，除了內部靜電防護環(inner shorter ring)外，即無其他傳導路徑，容易對於線路造成靜電破壞。
本發明提供一種主動元件陣列基板，以降低靜電放電破壞線路的可能性。
為解決上述問題，本發明提出一種主動元件陣列基板，其包括一基板、一主動元件陣列、一檢測線路、多個驅動晶片接墊、多個軟性電路板接墊、多條連接線與一內部靜電防護環，其中主動元件陣列與檢測線路配置於基板上，且檢測線路電性連接至主動元件陣列。驅動晶片接墊與軟性電路板接墊配置於基板上，其中驅動晶片接墊電性連接至主動元件陣列。這些連接線配置於基板上，且各連接線分別連接至任一軟性電路板接墊與檢測線路。內部靜電防護環配置於基板上，且內部靜電防護環分別電性連接至主動元件陣列與任一軟性電路板接墊。
在本發明之一實施例中，主動元件陣列基板更包括多個單向開關元件，其配置於部分軟性電路板接墊與連接線之間，且各單向開關元件連接至任一軟性電路板接墊與任一連接線。各單向開關元件包括一閘極、一源極與一汲極，其中閘極電性連接至任一軟性電路板接墊。源極電性連接至閘極，而汲極電性連接至連接線。
在本發明之一實施例中，檢測線路包括多個測試墊與分別電性連接這些測試墊之多個測試線，其中這些測試墊包括偶數掃瞄線測試墊、奇數掃瞄線測試墊、偶數資料線測試墊、奇數資料線測試墊與開關測試墊。
為解決上述問題，本發明提出一種主動元件陣列基板，其包括一基板、一主動元件陣列、多個驅動晶片接墊、多個軟性電路板接墊、多條連接線與一內部靜電防護環，其中主動元件陣列配置於基板上。驅動晶片接墊、軟性電路板接墊與連接線配置於基板上，其中驅動晶片接墊電性連接至主動元件陣列。各連接線分別連接至軟性電路板接墊，且連接線延伸至基板的邊緣。內部靜電防護環配置於基板上，且內部靜電防護環分別電性連接至主動元件陣列與軟性電路板接墊其中之至少一。
在本發明之一實施例中，主動元件陣列基板更包括多個單向開關元件，分別電性連接至部分軟性電路板接墊與基板的邊緣。各單向開關元件包括一閘極、一源極與一汲極，其中閘極電性連接至任一連接線。源極電性連接至閘極，而汲極電性連接至連接線。
為解決上述問題，本發明提出一種主動元件陣列基板，其包括一基板、多個主動元件陣列、一檢測線路、多個驅動晶片接墊、多個軟性電路板接墊、多條連接線與多個內部靜電防護環，其中基板劃分出多個面板區域。主動元件陣列分別配置這些面板區域上，且檢測線路電性連接至這些主動元件陣列。驅動晶片接墊分別配置這些面板區域上，並分別電性連接至任一主動元件陣列。軟性電路板接墊分別配置這些面板區域上。這些連接線分別配置面板區域上，且各連接線分別連接至各面板區域上之任一軟性電路板接墊與檢測線路。這些內部靜電防護環分別配置面板區域上，且各內部靜電防護環電性連接同一面板區域上之主動元件陣列與同一面板區域上之軟性電路板接墊其中之至少一。
在本發明之一實施例中，主動元件陣列基板更包括多個單向開關元件，其配置於各面板區域上之部分軟性電路板接墊與連接線之間，且各單向開關元件連接至任一軟性電路板接墊與任一連接線。各單向開關元件包括一閘極、一源極與一汲極，其中閘極電性連接至任一軟性電路板接墊。源極電性連接至閘極，而汲極電性連接至連接線。
在本發明之一實施例中，檢測線路包括多個測試墊與分別電性連接這些測試墊之多個測試線，其中這些測試墊包括偶數掃瞄線測試墊、奇數掃瞄線測試墊、偶數資料線測試墊、奇數資料線測試墊與開關測試墊。
基於上述，本發明將主動元件陣列經由內部靜電防護環、軟性電路板接墊與連接線而電性連接至檢測線路，因此檢測線路可以做為外部靜電防護環，以降低靜電放電對於線路產生破壞的可能性。
為讓本發明之上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉數個實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
 第一實施例
圖1為本發明第一實施例之主動元件陣列基板於切割前的示意圖。請參照圖1，本實施例之主動元件陣列基板10包括一基板110、一主動元件陣列120、一檢測線路130、多個驅動晶片接墊140、多個軟性電路板接墊150、多條連接線160與一內部靜電防護環170，其中基板110的材質可以是玻璃、石英或其他透明材質。主動元件陣列120配置於基板110上，而主動元件陣列120包括多條掃瞄線122、多條資料線124與多個畫素結構126，其中各畫素結構126藉由任一掃瞄線122與任一資料線124所控制。此外，各畫素結構126包括一主動元件126a與一畫素電極126b，其中主動元件126a電性連接至掃瞄線122與資料線124，而畫素電極126b與主動元件126a電性連接。在本實施例中，主動元件126a為薄膜電晶體，但主動元件126a也可以是雙載子電晶體(Bipolar Junction Transistor,BJT)或其他具有三端子的主動元件。
檢測線路130配置於基板110上，並電性連接至主動元件陣列120。更詳細而言，檢測線路130包括多個測試墊132a、132b、132c、132d、132e與分別電性連接這些測試墊132a、132b、132c、132d、132e之多個測試線134a、134b、134c、134d、134e。其中，測試線134a與測試墊132a電性連接，且測試線134a連接至奇數條資料線124。測試線134b與測試墊132b電性連接，且測試線134b連接至偶數條資料線124。測試線134c與測試墊132c電性連接，且測試線134c連接至奇數條掃瞄線122。測試線134d與測試墊132d電性連接，且測試線134d連接至偶數條掃瞄線122。測試線134e與測試墊132e電性連接。換言之，這些測試墊132a、132b、132c、132d、132e包括偶數掃瞄線測試墊、奇數掃瞄線測試墊、偶數資料線測試墊、奇數資料線測試墊與開關測試墊。
更詳細而言，檢測線路130更包括多個開關元件136，其藉由測試線134e所控制。此外，這些開關元件136分別連接測試線這些測試線134a、134b、134c、134d與主動元件陣列120之間。各開關元件136包括一閘極136g、一源極136s與一汲極126d，其中閘極136g與測試線134e電性連接。源極136s電性連接至任一測試線134a、134b、134c及134d，而汲極126d連接至主動元件陣列120的掃瞄線122或資料線124。
驅動晶片接墊140配置於基板110上，且驅動晶片接墊140電性連接至主動元件陣列120。更詳細而言，驅動晶片(未繪示)乃是配置於驅動晶片接墊140上，以控制主動元件陣列120的運作。此外，驅動晶片乃是以覆晶玻璃(COG)接合技術接合於驅動晶片接墊140上。值得一提的是，主動元件陣列基板10通常具有多組驅動晶片接墊140，但為了簡化說明，本實施例僅繪示一組驅動晶片接墊140。
軟性電路板接墊150配置於基板110上，且一軟性電路板(未繪示)適於與軟性電路板接墊150電性連接。此外，軟性電路板更連接至一控制電路板(未繪示)，而此控制電路板用以控制配置在驅動晶片接墊140上的驅動晶片運作，而驅動晶片用以控制主動元件陣列120的運作。這些連接線160配置於基板110上，且各連接線160分別連接至任一軟性電路板接墊150與檢測線路130。更詳細而言，各連接線160可以是連接至測試線134a。內部靜電防護環170配置於基板110上，且內部靜電防護環170分別電性連接至主動元件陣列120與任一軟性電路板接墊150。
由於內部靜電防護環170電性連接至軟性電路板接墊150，且軟性電路板接墊150經由連接線160電性連接至檢測線路130，因此當主動元件陣列120內發生靜電放電時，電流便可經由內部靜電防護環170、軟性電路板接墊150與連接線160而流入檢測線路130，以降低靜電放電對於線路產生破壞的可能性。換言之，檢測線路130可以做為外部靜電防護環。
圖2為本發明第一實施例之主動元件陣列基板於切割後的示意圖。請同時參照圖1與圖2，當檢測完畢後，便切斷連接線160，以形成主動元件陣列基板10。此時，連接線160延伸至基板110的邊緣。
第二實施例
圖3為本發明第二實施例之主動元件陣列基板於切割前的局部放大圖。請參考圖3，本實施例與第一實施例相似，其不同之處在於：為了避免檢測訊號干擾主動元件陣列120的運作，本實施例之主動元件陣列基板更包括多個單向開關元件180，其配置於部分軟性電路板接墊150與連接線160之間，且各單向開關元件180連接至軟性電路板接墊150與連接線160。
各單向開關元件180包括一閘極180g、一源極180s與一汲極180d，其中閘極180g電性連接至任一軟性電路板接墊150。源極180s電性連接至閘極180g，而汲極180d電性連接至連接線160。在本實施例中，部分軟性電路板接墊150經由兩個單向開關元件180電性連接至連接線160。然而，本實施例也可以僅用一個單向開關元件180。更詳細而言，各單向開關元件180更包括一半導體層182與一透明導體層184，其中半導體層182配置於閘極180g上方。此外，源極180s經由接觸窗186a、186b與透明導體層184電性連接至閘極180g。
由於在部分軟性電路板接墊150與連接線160之間配置單向開關元件180，因此在進行檢測的過程中，檢測訊號較不易干擾主動元件陣列120的運作。此外，當靜電放電發生時，電流可以直接通過單向開關元件180而流入檢測線路130中，以達到靜電放電防護的功能。
圖4為本發明第二實施例之主動元件陣列基板於切割後的局部放大圖。請同時參照圖3與圖4，如同第一實施例，當檢測完畢後，便切斷連接線160。此時，連接線160延伸至基板110的邊緣。
第三實施例
圖5為本發明第三實施例之主動元件陣列基板於切割前的示意圖。請參考圖5，本實施例與第一實施例相似，其不同之處在於：在本實施例之主動元件陣列基板10’中，基板上110區分出多個面板區域110a，而多個主動元件陣列120分別配置於這些面板區域110a上。此外，各個面板區域110a上部分軟性電路板接墊150經由連接線160電性連接至檢測線路130。
簡單而言，各個主動元件陣列120均是經由內部靜電防護環170、軟性電路板接墊150與連接線160而電性連接至檢測線路130。因此，當靜電放電發生時，電流便可流入檢測線路130中，以降低靜電放電對於線路產生破壞的可能性。同樣地，第二實施例的單向開關元件180也可以應用於本實施例中。
綜上所述，相較於先前技術，本發明至少具有下列優點：一、本發明將內部靜電防護環電性連接至軟性電路板接墊，且軟性電路板接墊再經由連接線電性連接至檢測線路，因此檢測線路可以做為外部靜電防護環，以降低靜電放電對於線路產生破壞的可能性。
二、本發明將單向開關元件配置於部分軟性電路板接墊與連接線之間，因此在進行檢測的過程中，檢測訊號較不易干擾主動元件陣列的運作。
雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10、10’．．．主動元件陣列基板
110．．．基板
110a．．．面板區域
120．．．主動元件陣列
122．．．掃瞄線
124．．．資料線
126．．．畫素結構
126a．．．主動元件
126b．．．畫素電極
130．．．檢測線路
132a、132b、132c、132d、132e．．．測試墊
134a、134b、134c、134d、134e．．．測試線
136．．．開關元件
136g．．．閘極
136s．．．源極
136d．．．汲極
140．．．驅動晶片接墊
150．．．軟性電路板接墊
160．．．連接線
170．．．內部靜電防護環
180．．．單向開關元件
180g．．．閘極
180s．．．源極
180d．．．汲極
182．．．半導體層
184．．．透明導體層
186a、186b．．．接觸窗
圖1為本發明第一實施例之主動元件陣列基板於切割前的示意圖。
圖2為本發明第一實施例之主動元件陣列基板於切割後的示意圖。
圖3為本發明第二實施例之主動元件陣列基板於切割前的局部放大圖。
圖4為本發明第二實施例之主動元件陣列基板於切割後的局部放大圖。
圖5為本發明第三實施例之主動元件陣列基板於切割前的示意圖。
10．．．主動元件陣列基板
110．．．基板
120．．．主動元件陣列
122．．．掃瞄線
124．．．資料線
126．．．畫素結構
126a．．．主動元件
126b．．．畫素電極
130．．．檢測線路
132a、132b、132c、132d、132e．．．測試墊
134a、134b、134c、134d、134e．．．測試線
136．．．開關元件
136g．．．閘極
136s．．．源極
136d．．．汲極
140．．．驅動晶片接墊
150．．．軟性電路板接墊
160．．．連接線
170．．．內部靜電防護環

Claims (5)

  1. 一種主動元件陣列基板，包括一基板；一主動元件陣列，配置於該基板上；一檢測線路，配置於該基板上，並電性連接至該主動元件陣列；多個驅動晶片接墊，配置於該基板上，並電性連接至該主動元件陣列；多個軟性電路板接墊，配置於該基板上；多條連接線，配置於該基板上，且各該連接線分別連接至任一該些軟性電路板接墊與該檢測線路；以及一內部靜電防護環，配置於該基板上，且該內部靜電防護環分別電性連接至該主動元件陣列與任一該些軟性電路板接墊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列基板，更包括多個單向開關元件，配置於部分該些軟性電路板接墊與該些連接線之間，而各該單向開關元件連接至任一該些軟性電路板接墊與任一該些連接線，且各該單向開關元件包括：一閘極，電性連接至任一該些軟性電路板接墊；一源極，電性連接至該閘極；以及一汲極，電性連接至該連接線。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之主動元件陣列基板，其中該檢測線路包括多個測試墊與分別電性連接該些測試 墊之多個測試線，該些測試墊包括偶數掃瞄線測試墊、奇數掃瞄線測試墊、偶數資料線測試墊、奇數資料線測試墊與開關測試墊。
  4. 一種主動元件陣列基板，包括一基板，劃分出多個面板區域；多個主動元件陣列，分別配置該些面板區域上；一檢測線路，配置於該基板上，並電性連接至該些主動元件陣列；多個驅動晶片接墊，分別配置該些面板區域上，並分別電性連接至任一該些主動元件陣列；多個軟性電路板接墊，分別配置該些面板區域上；多條連接線，分別配置該些面板區域上，且各該連接線分別連接至各該面板區域上之任一該些軟性電路板接墊與該檢測線路；以及多個內部靜電防護環，分別配置該些面板區域上，且各該內部靜電防護環分別電性連接至同一面板區域上之該主動元件陣列與同一面板區域上之任一該些軟性電路板接墊，所述主動元件陣列基板更包括：多個單向開關元件，配置於各該面板區域上之部分該些軟性電路板接墊與該些連接線之間，而各該單向開關元件連接至任一該些軟性電路板接墊與任一該些連接線，且各該單向開關元件包括：一閘極，電性連接至任一該些軟性電路板接墊；一源極，電性連接至該閘極；以及 一汲極，電性連接至該連接線。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之主動元件陣列基板，其中該檢測線路包括多個測試墊與分別電性連接該些測試墊之多個測試線，該些測試墊包括偶數掃瞄線測試墊、奇數掃瞄線測試墊、偶數資料線測試墊、奇數資料線測試墊與開關測試墊。
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Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI393969B (zh) * 2009-05-27 2013-04-21 Au Optronics Corp 一種具有迴轉訊號傳輸線路之顯示基板及其製造方法
TWI412766B (zh) * 2009-09-04 2013-10-21 Wintek Corp 主動元件陣列以及檢測方法
TWI385456B (zh) * 2009-11-02 2013-02-11 Wintek Corp 主動元件陣列基板以及顯示面板
DE112010005672B4 (de) 2010-06-18 2015-02-12 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Systeme und Verfahren zum Bestimmen einer elektrischen Konnektivität
CN102629008B (zh) * 2011-03-30 2014-08-27 京东方科技集团股份有限公司 一种薄膜晶体管液晶显示面板及其制作方法
CN103163669B (zh) * 2011-12-16 2016-02-24 上海中航光电子有限公司 液晶显示装置
KR101959976B1 (ko) * 2012-05-16 2019-03-21 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 단락 불량 검출 방법
US9588387B2 (en) * 2013-07-10 2017-03-07 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd Fast testing switch device and the corresponding TFT-LCD array substrate
US9601607B2 (en) * 2013-11-27 2017-03-21 Qualcomm Incorporated Dual mode transistor
CN103728515B (zh) * 2013-12-31 2017-01-18 深圳市华星光电技术有限公司 一种针对密集布线的阵列基板的线路检测设备和检测方法
US9263477B1 (en) * 2014-10-20 2016-02-16 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co., Ltd. Tri-gate display panel
KR20160099891A (ko) * 2015-02-13 2016-08-23 에스케이하이닉스 주식회사 정전기 방지 회로 및 이를 포함하는 반도체 장치
CN104880880B (zh) 2015-06-23 2018-01-26 合肥京东方光电科技有限公司 一种阵列基板、显示面板及其制备方法
CN206370279U (zh) * 2017-01-03 2017-08-01 京东方科技集团股份有限公司 电荷释放电路、显示基板、显示面板及显示装置
CN108873506B (zh) * 2017-05-10 2021-01-22 京东方科技集团股份有限公司 母板和母板的测试方法
CN107505747A (zh) * 2017-07-25 2017-12-22 武汉华星光电技术有限公司 一种阵列基板、显示面板及基板的制备方法
CN109102768B (zh) * 2018-09-26 2022-01-28 京东方科技集团股份有限公司 一种阵列基板母板及其检测方法
CN109188743A (zh) * 2018-11-14 2019-01-11 惠科股份有限公司 显示面板的制作方法及显示装置

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6043971A (en) * 1998-11-04 2000-03-28 L.G. Philips Lcd Co., Ltd. Electrostatic discharge protection device for liquid crystal display using a COG package
JP2001166327A (ja) * 1999-12-10 2001-06-22 Seiko Epson Corp 素子基板装置、その製造方法及びそれを備えた電気光学装置
JP2005122209A (ja) * 1998-03-27 2005-05-12 Sharp Corp アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09329796A (ja) 1996-06-10 1997-12-22 Hitachi Ltd 液晶表示基板
US5936687A (en) 1997-09-25 1999-08-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Liquid crystal display having an electrostatic discharge protection circuit and a method for testing display quality using the circuit
JP4583052B2 (ja) * 2004-03-03 2010-11-17 株式会社 日立ディスプレイズ アクティブマトリクス型表示装置
KR101129618B1 (ko) * 2005-07-19 2012-03-27 삼성전자주식회사 액정 표시 패널 및 이의 검사 방법과 이의 제조방법
US20070290375A1 (en) * 2006-06-01 2007-12-20 Chin-Hai Huang Active device array mother substrate
TWI339285B (en) * 2007-01-29 2011-03-21 Chimei Innolux Corp Liquid crystal display device
US20080204618A1 (en) * 2007-02-22 2008-08-28 Min-Kyung Jung Display substrate, method for manufacturing the same, and display apparatus having the same

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005122209A (ja) * 1998-03-27 2005-05-12 Sharp Corp アクティブマトリクス型液晶表示パネル及びその検査方法
US6043971A (en) * 1998-11-04 2000-03-28 L.G. Philips Lcd Co., Ltd. Electrostatic discharge protection device for liquid crystal display using a COG package
JP2001166327A (ja) * 1999-12-10 2001-06-22 Seiko Epson Corp 素子基板装置、その製造方法及びそれを備えた電気光学装置

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