CN101339748A - 用于显示面板的数据线驱动器电路以及对其进行测试的方法 - Google Patents

Abstract

一种用于显示面板的数据线驱动器电路包括数－模(D/A)转换器电路，其被配置为将所要提供的两个显示数据转换为第一和第二极性的灰度级电压。该D/A转换器电路包括第一灰度级电压选择电路，其被配置为控制第一组晶体管，以根据两个显示数据中的第一个显示数据来选择第一极性的灰度级电压之一；第二灰度级电压选择电路，其被配置为控制第二组晶体管，以根据两个显示数据中的第二个显示数据来选择第二极性的灰度级电压之一；第一灰度级电压信号线，其被配置为传送由第一灰度级电压选择电路选择的第一极性灰度级电压；第二灰度级电压信号线，其被配置为传送由第二灰度级电压选择电路选择的第二极性灰度级电压；以及测试开关电路，其被配置为响应于测试信号而工作。该测试开关电路响应于测试信号而在第一和第二灰度级电压信号线之间形成短路，以允许测量第一组的一个或多个晶体管以及第二组的一个或多个晶体管中每一个中的漏极与源极之间的泄漏电流。

Description

用于显示面板的数据线驱动器电路以及对其进行测试的方法

技术领域

本发明涉及一种显示面板的数据线驱动器电路，以及对其进行测试的方法。

背景技术

下面将参照图1来描述液晶显示设备。该液晶显示设备100被用作显示设备，比如移动电话，移动终端设备，笔记本型个人计算机，台式个人计算机，以及电视。如图1中所示，该液晶显示设备100包括液晶显示面板101，数据线驱动器电路102，扫描线驱动电路103，电源104，以及控制电路105。该液晶显示面板101包括被布置为沿着纵向延伸的数据线106，以及被布置为沿着横向延伸的扫描线107。每个像素都包括TFT(薄膜晶体管)，像素电容器109，以及液晶元件110。TFT 108的栅极端与扫描线107相连，并且它的源(漏)极与数据线106相连。此外，像素电容器109和液晶元件110中的每一个都与TFT 108的漏(源)极相连。在该像素电容器109与液晶元件110中，没有与TFT 108相连的一端111被连接到公共电极(未示出)。该数据线驱动器电路102输出具有根据显示数据确定的电压的图像信号，用以驱动该数据线106。该扫描线驱动电路103输出TFT 108的选择/非选择电压，用以驱动扫描线107。该控制电路105控制该扫描线驱动电路103和数据线驱动器电路102的驱动时序。该电源104生成从数据线驱动器电路102输出的信号电压、以及用于生成从扫描线驱动电路103输出的选择/非选择电压的电源电压，并提供给各个驱动电路102和103。

在这种类型的液晶显示设备中，场反转、行反转、列反转、以及点反转都是已知的交替驱动(或反向驱动)显示面板的方法。场反转方法是这样的方法，其将显示面板的整个屏幕设置为相同的极性，并对于每一帧对其进行反转。行反转方法是为每一列(扫描线)设置相反极性并进行反转的方法。列反转方法是为每一行(数据线)设置相反极性并进行反转的方法。点反转方法将行反转和列反转组合起来并按照棋盘格的图案进行反转的方法。在这些方法中，通常，列反转和点反转是通过公共恒定驱动方法来交替驱动的。该公共恒定驱动方法是这样一种驱动方法，其将像素的公共电极的电压保持为恒定，并且只反转来自数据线驱动器电路的图像信号的极性。此外，在列反转和点反转的情况下，该数据线驱动器电路具有如下功能，即其将具有不同极性的两种图像信号同时加到多个数据线上。该图像信号的极性被定义为相对于预定参考电压(下文中，被称为“公共电平”)的正极性和负极性。该公共电平通常被设置为接近于与数据线驱动器电路的高电源电压VDD的1/2相等的电压。应当注意的是，为了显示面板的整场校正，公共电极的电压被设置为与该公共电平不同。

图2示出了在点反转方法中使用的数据线驱动器电路。图2中的数据线驱动器电路包括移位寄存器电路112，数据寄存器电路113，数据锁存电路114，电平转换电路115，D/A(数字/模拟)转换器电路116，以及输出电路117。图2中所示数据线驱动器电路这样一种电路，其中提供了2系统电路，用于交替地输出正电压和负电压。也就是说，根据极性反转信号，在奇数输出端和偶数输出端交替地输出相对于公共电平的正电压和负电压，以交替地驱动该液晶显示面板，同时保持正负振幅之间的关系。在图2中，该数据寄存器电路113响应于来自移位记寄存器电路112的输出，并行锁存m(自然数)位显示数据(Dm，Dm-1，...，Dk，...，D2和D1)。该数据锁存电路114响应于数据锁存信号，共同地锁存来自数据寄存器电路113的m位显示数据。图2所示类型的数据线驱动器电路根据所锁存的m位显示数据(Dm，Dm-1，...，Dk，...，D2和D1)，生成2m位的双位显示数据(Dm，DmB，Dm-1，Dm-1B，...，Dk，DkB，...，D2，D2B，D1和D1B)。这里，当Dk＝“H”时，DkB＝“L”，并且当Dk＝“L”时，DkB＝“H”。因此，作为信息量，仍然是m位(K＝1，2，...，m)。对于2m位双位显示数据，电平转换电路115提升电压值。D/A转换器电路116根据2m位双位显示数据，从2^m个灰度级电压中选择所希望的灰度级电压。在输出电路117中，被选中的灰度级电压被运算放大器放大并被输出。在图2中，2n个m位显示数据被提供给数据线驱动器电路，并且输出2n个图像信号S2n，S2n-1，S2n-2，...，S2和S1。在这种具有正负2系统电路的类型中，存在偶数个显示数据和输出图像信号。

图3示出了D/A转换器电路116。从电源104提供的灰度级电压被转换为灰度级电压，其中液晶元件110的透射率的非线性被γ校正电阻部分118校正。在图3中，生成了2^m个正灰度级电压以及2^m个负灰度级电压。由用于接收2m位双位显示数据的正灰度级电压选择电路(PchDAC)119来选择生成的正灰度级电压中的任何一个。此外，由用于接收2m位双位显示数据的负灰度级电压选择电路(NchDAC)120选择生成的负灰度级电压中的任何一个。选中的灰度级电压从输出电路117经开关121以及运算放大器122和123被输出。当开关121处于直线状态时，在奇数输出S2n-1，S2n-3，S2n-5，...，S1中出现正灰度级电压，并且在偶数输出S2n，S2n-2，S2n-4，...，S2中出现负灰度级电压。此外，当开关121处于交叉状态时，在奇数输出S2n-1，S2n-3，S2n-5，...，S1中出现负灰度级电压，并且在偶数输出S2n，S2n-2，S2n-4，...，S2中出现正灰度级电压。为每个扫描线107选择灰度级电压，并作为图像信号而被输出给数据线106。当驱动扫描线107达一个周期时，显示一帧(一屏)。

当对数据线驱动器电路进行特性测试时，电路规模很大的灰度级电压选择电路中的泄漏电流就会出问题。对于灰度级电压选择电路的特性测试，已经知道日本专利申请公开文献(JP-A-特开平11-264855)。该传统示例含有梯形电阻，其中预定数量的电阻串联连接，校正电源电压被提供到电阻之间的至少一个连接点，以在所有的连接点中生成灰度级电压。还有，其还包括ROM译码器，用于提供数据，以及从梯形电阻中选择灰度级电压之一。还有，该传统示例含有测试电路，用于测量来自ROM译码器的泄漏电流。并且，该传统示例具有短路电路，用于当测试电路测量泄漏电流时对预定数量的电阻进行电短路。

在上述传统示例中，在γ校正电阻部分与灰度级电压选择电路之间提供有开关，并且该开关被用于将γ校正电阻部分分离开，并进行灰度级电压选择电路的测试。但是，虽然该测试能够测量该灰度级电压选择电路中的晶体管的栅极与源极之间的泄漏电流，但是该测试无法测量漏极与源极之间的泄漏电流。

发明内容

本发明的一个目标就是提供一种方法，用于测量灰度级电压选择电路中晶体管的漏极与源极之间的泄漏电流。

在本发明的一个方面中，一种用于显示面板的数据线驱动器电路包括数-模(D/A)转换器电路，其被配置为将所要提供的两个显示数据转换为第一和第二极性的灰度级电压。该D/A转换器电路包括第一灰度级电压选择电路，其被配置为控制第一组晶体管，以根据两个显示数据中的第一显示数据来选择第一极性的灰度级电压之一；第二灰度级电压选择电路，其被配置为控制第二组晶体管，以根据两个显示数据中的第二显示数据来选择第二极性的灰度级电压之一；第一灰度级电压信号线，其被配置为传送由第一灰度级电压选择电路选择的第一极性灰度级电压；第二灰度级电压信号线，其被配置为传送由第二灰度级电压选择电路选择的第二极性灰度级电压；以及测试开关电路，其被配置为响应于测试信号而工作。该测试开关电路响应于测试信号而在第一和第二灰度级电压信号线之间形成短路，以允许测量第一组的一个或多个晶体管以及第二组的一个或多个晶体管中每一个的漏极与源极之间的泄漏电流。

在本发明的另一个方面中，提供了一种用于显示面板的数据线驱动器电路的测试方法。该方法包括提供数-模(D/A)转换器电路，其被配置为将所要提供的两个显示数据转换为第一和第二极性的灰度级电压，其中该D/A转换器电路包括第一灰度级电压选择电路，其被配置为根据第一个显示数据来选择第一极性的灰度级电压之一；第二灰度级电压选择电路，其被配置为根据第二个显示数据来选择第二极性的灰度级电压之一；将第一极性的测试电压提供给第一灰度级电压选择电路，并将第二极性的测试电压提供给第二灰度级电压选择电路；以及响应于测试信号通过使用第一和第二灰度级电压选择电路中的一个来测量第一和第二灰度级电压选择电路中的另一个中的输入与输出之间的泄漏电流。

在本发明的仍旧另一个方面中，一种显示设备包括显示面板；数据线驱动器电路，包括数-模(D/A)转换器电路，其被配置为将所要提供的两个显示数据转换为第一和第二极性的灰度级电压。该D/A转换器电路包括第一灰度级电压选择电路，其被配置为控制第一组晶体管，以根据两个显示数据中的第一个显示数据来选择第一极性的灰度级电压之一；第二灰度级电压选择电路，其被配置为控制第二组晶体管，以根据两个显示数据中的第二个显示数据来选择第二极性的灰度级电压之一；第一灰度级电压信号线，其被配置为传送由第一灰度级电压选择电路选择的第一极性灰度级电压；第二灰度级电压信号线，其被配置为传送由第二灰度级电压选择电路选择的第二极性灰度级电压；以及测试开关电路，其被配置为响应于测试信号而工作。该测试开关电路响应于测试信号而在第一和第二灰度级电压信号线之间形成短路，以允许测量第一组的一个或多个晶体管以及第二组的一个或多个晶体管中每一个的漏极与源极之间的泄漏电流。

根据本发明，可以测量灰度级电压选择电路中晶体管的漏极与源极之间的泄漏电流。

附图说明

本发明的上述和其他目标，特征和优点将会通过下面参照附图对某些实施例的说明而变得更加清晰，其中：

图1示出了液晶显示设备；

图2示出了点反转方法中使用的数据线驱动器电路；

图3示出了D/A转换器电路；

图4示出了根据本发明第一实施例的数据线驱动器电路的结构；

图5示出了在m＝2且n＝1情况下第一实施例中数据线驱动器电路的结构；

图6示出了正测试双位显示数据生成电路的结构；

图7示出了负测试双位显示数据生成电路的结构；

图8说明了D/A转换器电路的细节；

图9示出了m＝2且n＝1的情况下根据本发明第二实施例的数据线驱动器电路的结构；

图10示出了正测试双位显示数据生成电路的结构；

图11示出了负测试双位显示数据生成电路的结构；以及

图12示出了D/A转换器电路。

具体实施方式

下文中，将参照附图来详细地描述根据本发明实施例的数据线驱动器电路。

【第一实施例】

图4示出了根据本发明第一实施例的数据线驱动器电路的结构的框图。在图4中，该数据线驱动器电路采用点反转方法，并属于如下类型：其中提供2系统电路，用于交替地输出正输出和负输出。如图4所示，根据本发明第一实施例的数据线驱动器电路包括移位寄存器电路112，数据寄存器电路113，数据锁存电路114，测试状态设置电路10，电平转换电路115，D/A(数字/模拟)转换器电路11，以及输出电路117。当测试信号被接通时，该测试状态设置电路10生成测试双位显示数据。还有，当测试信号被接通时，将该D/A转换器电路11从正常工作状态切换至测试状态。下文中，为了易于理解，以m＝2和n＝1为例来说明用于接收2n个m位显示数据并输出2n个图像信号的数据线驱动器电路。

图5示出了在m＝2且n＝1的情况下第一实施例中的数据线驱动器电路的结构的框图。在图5中，该数据线驱动器电路包括数据寄存器131，数据锁存电路132，测试状态设置电路20，电平转换电路133，D/A转换器电路21，以及输出电路135。该数据寄存器131根据来自移位寄存器电路(未示出)的2级的输出，并行锁存2位显示数据(D2，D1)。该数据锁存电路132响应于数据锁存信号，将来自数据寄存器131的2位显示数据一起锁存。该测试状态设置电路20包含正测试双位显示数据生成电路22和负测试双位显示数据生成电路23。当测试信号被断开时，各个生成电路22和23根据所锁存的2位显示数据(D2，D1)生成4位双位显示数据(D2，D2B，D1和D1B)。这里，当Dk＝“H”时，DkB＝“L”，当Dk＝“L”时，DkB＝“H”(K＝1，2)。还有，当测试信号被接通时，各个生成电路22和23根据所锁存的2位显示数据(D2，D1)中生成4位测试双位显示数据(D21，D22，D11和D12)。对于该4位双位显示数据，该电平转换电路133提升该显示数据的电压。该D/A转换器电路21根据该4位双位显示数据，从四个灰度级电压中选择所希望的灰度级电压。在输出电路135中，被选中的灰度级电压被运算放大器放大并被输出。

在图5中，两个2位显示数据被提供给数据线驱动器电路，并且两个图像信号S2和S1被输出。在图5中，由极性反转信号来控制开关电路140中的第一开关和第二开关。当极性反转信号被断开时，第一开关和第二开关是直线的。这时，在与提供给图5左侧电路组的第一显示数据对应的图像信号S1中出现正灰度级电压，并且在与提供给右侧电路组的第二显示数据对应的图像信号S2中出现负灰度级电压。另一方面，当极性反转信号被接通时，该第一开关和第二开关处于交叉状态。这时，在与提供给图5左侧电路组的第一显示数据对应的图像信号S1中出现负灰度级电压，并且在与提供给右侧电路组的第二显示数据对应的图像信号S2中出现正灰度级电压。

在图5中，该D/A转换器21包含正灰度级电压生成电路142，正灰度级电压选择电路143，负灰度级电压生成电路144，负灰度级电压选择电路145，以及测试开关电路24。该正灰度级电压生成电路142根据灰度级参考电压，生成正的4级灰度级电压。该正灰度级电压选择电路143根据4位双位显示数据来选择正灰度级电压中的任何一个。该负灰度级电压生成电路144根据灰度级参考电压，生成负的4级灰度级电压。该负灰度级电压选择电路145根据4位双位显示数据来选择负灰度级电压中的任何一个。当测试信号断开时，该测试开关电路24被设置为开路状态，并且当测试信号接通时，该测试开关电路24处于闭合状态。

下面将参照图6和7来描述该测试状态设置电路20。图6是示出正测试双位显示数据生成电路22的结构的框图。首先，将描述测试信号被断开时该正测试双位显示数据生成电路22的操作。当测试信号被断开时，AND电路AND1被断开，并且反相器INV1的输出变为高。结果，晶体管P1和N1导通，并且晶体管P2和N2断开。这样，通过反相器INV2以及晶体管P1和N1，输出节点D22被设置为输入数据D2的反相输出。也就是说，D21＝D2并且D22＝D2B。还有，当测试信号被断开时，AND电路AND1被断开，并且反相器INV1的输出变为高。结果，晶体管P3和N3导通，并且晶体管P4和N4断开。这样，通过反相器INV3以及晶体管P3和N3，输出节点D12被设置为输入数据D1的反相输出。也就是说，D11＝D1并且D12＝D1B。

接下来，将描述当测试信号被接通时该正测试双位显示数据生成电路22的操作。当极性反转信号被断开时，AND电路AND1被断开。因此，输出节点D21，D22，D11和D12就被设置为与测试信号断开时的状态相同的状态。也就是说，D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1，并且D12＝D1B。当极性反转信号被接通时，AND电路AND1被接通，并且反相器INV1的输出变为低。结果，晶体管P1和N1断开，并且晶体管P2和N2导通。这样，输入数据D2就通过晶体管P2和N2出现在输出节点D22中。也就是说，D21＝D22＝D2。还有，当极性反转信号被接通时，AND电路AND1被接通，并且反相器INV1的输出变为低。结果，晶体管P3和N3断开，并且晶体管P4和N4导通。这样，输入数据D1就通过晶体管P4和N4出现在输出节点D12中。也就是说，D11＝D12＝D1。如上所述，当测试信号和极性反转信号都被接通时，该正测试双位显示数据生成电路22输出D21＝D22＝D2以及D11＝D12＝D1，并且当它们之中任何一个断开时，输出D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1，以及D12＝D1B。

图7示出了负测试双位显示数据生成电路23的结构。首先，将描述测试信号被断开时该负测试双位显示数据生成电路23的操作。当测试信号被断开时，AND电路AND2被断开，并且反相器INV5的输出变为高。结果，晶体管P5和N5被接通，并且晶体管P6和N6被断开。这样，通过晶体管P5和N5将输出节点D21设置为输入数据D2。同时，通过反相器INV7将输出节点D22设置为数据D2B。也就是说，D21＝D2并且D22＝D2B。还有，当测试信号被断开时，AND电路AND2被断开，并且反相器INV5的输出变为高。结果，晶体管P7和N7被接通，并且晶体管P8和N8被断开。这样，通过晶体管P7和N7将输出节点D11设置为输入数据D1。同时，通过反相器INV9将输出节点D12设置为数据D1B。也就是说，D11＝D1并且D12＝D1B。

接下来，将描述当测试信号被接通时该负测试双位显示数据生成电路23的操作。当极性反转信号被接通时，反相器INV4的输出为低，并且AND电路AND2的输出为低。这样，输出节点D21，D22，D11和D12就被设置为与测试信号断开时的状态相同的状态。也就是说，D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1，并且D12＝D1B。当极性反转信号被断开时，反相器INV4的输出为高，并且AND电路AND2的输出为高。结果，反相器INV5的输出变为低，晶体管P5和N5断开，并且晶体管P6和N6导通。这样，输入数据D2B就通过反相器INV6以及晶体管P6和N6，出现在输出节点D21中。也就是说，D21＝D22＝D2B。还有，当极性反转信号被断开时，反相器INV4的输出变为高，并且AND电路AND2变为高。结果，反相器INV5的输出变为低，并且晶体管P7和N7被断开，并且晶体管P8和N8导通。因此，输入数据D1B就通过反相器INV8以及晶体管P8和N8，出现在输出节点D12中。同时，通过反相器INV9将输出节点D12设置为数据D1B。也就是说，D11＝D12＝D1B。如上所述，当测试信号被接通且极性反转信号被断开时，该负测试双位显示数据生成电路23输出D21＝D22＝D2B以及D11＝D12＝D1B，并且当测试信号断开或者极性反转信号接通时，输出D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1，并且D12＝D1B。

随后，将参照图8来描述D/A转换器电路21。在图8中，该D/A转换器21包含正灰度级电压生成电路142，正灰度级电压选择电路143，负灰度级电压生成电路144，负灰度级电压选择电路145，以及测试开关电路24。该正灰度级电压生成电路142具有梯形电阻R1，R2和R3。当测试信号处于断开状态时，该正灰度级电压生成电路142在端子V1和V2(使用与电压相同的符号来表示)接收灰度级参考电压V1和V2(V1＞V2)，并提供4个(＝2²)灰度级电平的正灰度级电压γp1-γp4。还有，当测试信号处于接通状态时，该正灰度级电压生成电路142在端子V1和V2中的任一端子处接收测试电压VTESTVP，并从4个(＝2²)灰度级电平的正灰度级电压γp1-γp4的输出端提供该测试电压VTESTVP。

该负灰度级电压生成电路144具有梯形电阻R3，R2和R1。当测试信号处于断开状态时，该负灰度级电压生成电路144在端子V3和V4(使用与电压相同的符号来表示)处接收灰度级参考电压V3和V4(V1＞V2＞V3＞V4)，并提供4个(＝2²)灰度级电平的负灰度级电压。还有，当测试信号处于接通状态时，该负灰度级电压生成电路144在端子V3和V4中的任一端子或两个端子处接收测试电压VTESTVN(VTESTVP＞VTESTVN)，并从4个(＝2²)灰度级电平的负灰度级电压γn1-γn4的输出端提供该测试电压VTESTVN。

该正灰度级电压选择电路143具有晶体管Mp1-Mp6。当测试信号处于断开状态时，该正灰度级电压选择电路143根据由4(＝2×2)个比特构成的正双位显示数据来选择正灰度级电压中的任何一个。稍后将描述测试信号被接通时的情形。

该负灰度级电压选择电路145具有晶体管Mp1-Mp6。当测试信号处于断开状态时，该负灰度级电压选择电路145根据由4(＝2×2)个比特构成的负双位显示数据来选择负灰度级电压中的任何一个。稍后将描述测试信号被接通时的情形。

当测试信号处于接通状态时，该测试开关电路24将用于传送由正灰度级电压选择电路143选择的正灰度级电压的灰度级分压信号线、以及用于传送由负灰度级电压选择电路145选择的负灰度级电压的灰度级分压信号线电短路。

下面将描述当测试信号处于断开状态时，该D/A转换器电路21的操作。这时，在测试开关电路24中，由于反相器INV10的输出变为高，因此由晶体管P9和N9构成的测试开关TESTSW1被断开。这样，被选中的正灰度级电压以及被选中的负灰度级电压被从D/A转换器电路21传送到输出电路135。应当注意的是，当测试信号被断开时，该测试状态设置电路20输出D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1以及D12＝D1B，作为正双位显示数据和负双位显示数据。

下面将描述当极性反转信号处于断开状态时的情形。这时，根据第一显示数据生成的双位显示数据表现为正双位显示数据，并且根据第二显示数据生成的双位显示数据表现为负双位显示数据。

在正灰度级电压选择电路143中，当第一显示数据的数据D2为“H”时，晶体管Mp2和Mp4导通，并且晶体管Mp1和Mp3断开。因此，灰度级电压γp2和γp4被选择，并且灰度级电压γp1和γp3没有被选择。当第一显示数据的数据D1为“H”，并且第一显示数据的数据D2为“H”时，晶体管Mp6导通，并且晶体管Mp5断开。因此，灰度级电压γp4被选择，并且灰度级电压γp1，γp2和γp3没有被选择。当第一显示数据的数据D2为“H”，并且第一显示数据的数据D1为“L”时，晶体管Mp5导通，并且晶体管Mp6断开。因此，灰度级电压γp2被选择，并且灰度级电压γp1，γp3和γp4没有被选择。另一方面，当第一显示数据的数据D2为“L”时，晶体管Mp1和Mp3导通，并且晶体管Mp2和Mp4断开。这样，灰度级电压γp1和γp3被选择，并且灰度级电压γp2和γp4没有被选择。当第一显示数据的数据D2为“L”，并且第一显示数据的数据D1为“H”时，晶体管Mp6导通，并且晶体管Mp5断开。这样，灰度级电压γp3被选择，并且灰度级电压γp1，γp2和γp4没有被选择。当第一显示数据的数据D2为“L”，并且第一显示数据的数据D1为“L”时，晶体管Mp5导通，并且晶体管Mp6断开。这样，灰度级电压γp1被选择，并且灰度级电压γp2，γp3和γp4没有被选择。如上所述，在第一显示数据(D2，D1)＝(L，L)时，灰度级电压γp1被选择，在第一显示数据(D2，D1)＝(H，L)时，灰度级电压γp2被选择，在第一显示数据(D2，D1)＝(L，H)时，灰度级电压γp3被选择，并且在第一显示数据(D2，D1)＝(H，H)时，灰度级电压γp4被选择。

在负灰度级电压选择电路145中，当第二显示数据的数据D2为“H”时，晶体管Mn1和Mn3导通，并且晶体管Mn2和Mn4断开。这样，灰度级电压γn2和γn4被选择，并且灰度级电压γn1和γn3没有被选择。当第二显示数据的数据D2为“H”，并且第二显示数据的数据D1为“H”时，晶体管Mn5导通，并且晶体管Mn6断开。这样，灰度级电压γn4被选择，并且灰度级电压γn1，γn2和γn3没有被选择。当第二显示数据的数据D2为“H”，并且第二显示数据的数据D1为“L”时，晶体管Mn6导通，并且晶体管Mn5断开。这样，灰度级电压γn2就被选择，并且灰度级电压γn1，γn3和γn4没有被选择。另一方面，当第二显示数据的数据D2为“L”时，晶体管Mn2和Mn4导通，并且晶体管Mn1和Mn3断开。这样，灰度级电压γn1和γn3被选择，并且灰度级电压γn2和γn4没有被选择。当第二显示数据的数据D2为“L”，并且第二显示数据的数据D1为“H”时，晶体管Mn5导通，并且晶体管Mn6断开。这样，灰度级电压γn3被选择，并且灰度级电压γn1，γn2和γn4没有被选择。当第二显示数据的数据D2为“L”，并且第二显示数据的数据D1为“L”时，晶体管Mn6导通，并且晶体管Mn5断开。这样，灰度级电压γn1被选择，并且灰度级电压γn2，γn3和γn4没有被选择。如上所述，在第二显示数据(D2，D1)＝(L，L)时，灰度级电压γn1被选择，在第二显示数据(D2，D1)＝(H，L)时，灰度级电压γn2被选择，在第二显示数据(D2，D1)＝(L，H)时，灰度级电压γn3被选择，并且在第二显示数据(D2，D1)＝(H，H)时，灰度级电压γn4被选择。

下面将描述当极性反转信号被接通时的情形。这时，根据第二显示数据生成的双位显示数据表现为为正双位显示数据，并且根据第一显示数据生成的双位显示数据表现为负双位显示数据。在正灰度级电压选择电路143中，当第二显示数据(D2，D1)＝(L，L)时，灰度级电压γp1被选择，当第二显示数据(D2，D1)＝(H，L)时，灰度级电压γp2被选择，当第二显示数据(D2，D1)＝(L，H)时，灰度级电压γp3被选择，并且当第二显示数据(D2，D1)＝(H，H)时，灰度级电压γp4被选择。还有，在负灰度级电压选择电路145中，当第一显示数据(D2，D1)＝(L，L)时，灰度级电压γn1被选择，当第一显示数据(D2，D1)＝(H，L)时，灰度级电压γn2被选择，当第一显示数据(D2，D1)＝(L，H)时，灰度级电压γn3被选择，并且当第一显示数据(D2，D1)＝(H，H)时，灰度级电压γn4被选择。

下面将更详细地描述当测试信号处于接通状态时该D/A转换器电路21的操作。测试电压VTESTVP(比如电源电压VDD2)被施加到端子V1和V2中的至少一个上，并且测试电压VTESTVN(比如接地电压)被施加到端子V3和V4中的至少一个上。测试电压VTESTVP和VTESTVN之一是经由电流表来提供的。这时，在测试开关电路24中，由于反相器INV10的输出变为低，因此由晶体管P1和N9构成的测试开关TESTSW1被接通。这样，用于传送由正灰度级电压选择电路143选择的正灰度级电压的灰度级电压信号线、以及用于传送由负灰度级电压选择电路145选择的负灰度级电压的灰度级电压信号线被电短路。

下面将描述当极性反转信号被断开时的操作。这时，测试状态设置电路20输出D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1以及D12＝D1B，作为正测试双位显示数据。另一方面，测试状态设置电路20输出D21＝D22＝D2B以及D11＝D12＝D1B，作为负测试双位显示数据。还有，根据第一显示数据生成双位显示数据表现为正双位显示数据，并且根据第二显示数据生成的双位显示数据表现为负双位显示数据。在本例中，该测试是在如下的假定下进行的：假设在测试时，第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)。

测试每个晶体管Mn1至Mn4中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(H，L)被提供给数据线驱动器电路。在正灰度级电压选择电路143中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(H，L，L，H)作为正测试双位显示数据。这样，晶体管Mp2、Mp4和Mp5导通，并且晶体管Mp1、Mp3和Mp6断开。结果，选择了一条用于在通常状态下输出灰度级电压γp2的路径。因此，经由该被选择的路径以及测试开关电路24，将测试电压VTESTVP施加到用于传送由负灰度级电压选择电路145选择的负灰度级电压的灰度级电压信号线。在负灰度级电压选择电路145中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(L，L，H，H)作为负测试双位显示数据。这样，晶体管Mn5和Mn6导通，并且晶体管Mn1、Mn2、Mn3和Mn4断开。结果，经过晶体管Mn5和Mn6的测试电压VTESTVP、以及经过负灰度级电压生成电路144的测试电压VTESTVN被施加在每个晶体管Mn1至Mn4的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mn1至Mn4的漏极和源极之间的泄漏电流。

测试每个晶体管Mn5和Mn6中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(L，H)被提供给数据线驱动器电路。在正灰度级电压选择电路143中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(L，H，H，L)作为正测试双位显示数据。这样，晶体管Mp1、Mp3和Mp6导通，并且晶体管Mp2、Mp4和Mp5断开。结果，选择了一条在通常状态下输出灰度级电压γp3的路径。因此，经由该被选择的路径以及测试开关电路24，将测试电压VTESTVP施加到用于传送由负灰度级电压选择电路145选择的负灰度级电压的灰度级电压信号线。在负灰度级电压选择电路145中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(H，H，L，L)作为负测试双位显示数据。这样，晶体管Mn1、Mn2、Mn3和Mn4导通，并且晶体管Mn5和Mn6断开。结果，经过负灰度级电压生成电路144以及晶体管Mn1至Mn4的测试电压VTESTVP和测试电压VTESTVN被施加在每个晶体管Mn5和Mn6的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mn5和Mn6的漏极和源极之间的泄漏电流。

下面将描述当极性反转信号被接通时的操作。这时，测试状态设置电路20输出D21＝D22＝D2以及D11＝D12＝D1作为正测试双位显示数据。另一方面，测试状态设置电路20输出D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1，以及D12＝D1B作为负测试双位显示数据。还有，根据第二显示数据生成的双位显示数据表现为正双位显示数据，并且根据第一显示数据生成的双位显示数据表现为负双位显示数据。还有，在该例中，与极性反转信号被断开时的操作类似，该测试是在如下假定下进行的：假设当测试时，第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)。

测试每个晶体管Mp1至Mp4中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(H，L)被提供给数据线驱动器电路。在负灰度级电压选择电路145中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(H，L，L，H)作为负测试双位显示数据。这样，晶体管Mn1、Mn3和Mn6导通，并且晶体管Mn2、Mn4和Mn5断开。结果，选择了一条在通常状态下输出灰度级电压γn2的路径。因此，经由该被选择的路径以及测试开关电路24，将测试电压VTESTVN施加到用于传送由正灰度级电压选择电路143选择的正灰度级电压的灰度级电压信号线。在正灰度级电压选择电路143中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(H，H，L，L)作为正测试双位显示数据。这样，晶体管Mp5和Mp6导通，并且晶体管Mp1、Mp2、Mp3和Mp4断开。结果，经过正灰度级电压生成电路142的测试电压VTESTVP、以及经过晶体管Mp5和Mp6的测试电压VTESTVN被施加在每个晶体管Mp1至Mp4的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mp1至Mp4中的漏极和源极之间的泄漏电流。

测试每个晶体管Mp5和Mp6中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(L，H)被提供给数据线驱动器电路。在负灰度级电压选择电路145中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(L，H，H，L)作为负测试双位显示数据。这样，晶体管Mn2、Mn4和Mn5导通，并且晶体管Mn1、Mn3和Mn6断开。结果，选择了一条在通常状态下输出灰度级电压γn3的路径。因此，经由该被选择的路径以及测试开关电路24，将测试电压VTESTVN施加到用于传送由正灰度级电压选择电路143选择的正灰度级电压的灰度级电压信号线。在正灰度级电压选择电路143中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(L，L，H，H)作为正测试双位显示数据。这样，晶体管Mp1、Mp2、Mp3和Mp4导通，并且晶体管Mp5和Mp6断开。结果，经过正灰度级电压生成电路142和晶体管Mp1、Mp2、Mp3以及Mp4的测试电压VTESTVP、以及测试电压VTESTVN被施加在每个晶体管Mp5和Mp6的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mp5和Mp6的漏极和源极之间的泄漏电流。

【第二实施例】

图9是示出了m＝2且n＝1的情况下根据本发明第二实施例的数据线驱动器电路的结构的框图。在图9中，根据该第二实施例的数据线驱动器电路的结构与第一实施例类似，但测试状态设置电路30不同于第一实施例中的测试状态设置电路20。该测试状态设置电路30含有正测试双位显示数据生成电路32和负测试双位显示数据生成电路33。当测试信号被断开时，各生成电路32和33根据2位显示数据(D2，D1)生成4位双位显示数据(D2，D2B，D1，和及D1B)。这里，当Dk＝“H”时，DkB＝“L”，并且当Dk＝“L”时，DkB＝“H”(K＝1，2)。还有，当测试信号被接通时，各生成电路32和33根据2位显示数据(D2，D1)生成4位测试双位显示数据(D21，D22，D11，和D12)。D/A转换器电路31根据该4位双位显示数据，从4个灰度级电压中选择所希望的灰度级电压。如将在下文描述的，在该D/A转换器电路31中的正灰度级电压生成电路34中提供了测试开关TESTSW2，并且在负灰度级电压生成电路35中提供了测试开关TESTSW3。

下面将参照图10和图11来详细地描述该测试状态设置电路30。图10是示出正测试双位显示数据生成电路32的结构的电路图。首先，将描述当测试信号被断开时该正测试双位显示数据生成电路32的操作。当测试信号被断开时，反相器INV11的输出变为高，并且OR电路OR1的输出变为高。这样，AND电路AND5的一个输入变为高。还有，作为AND电路AND5的另一个输入的数据D2被输出作为输出D21。还有，由于反相器INV11的输出为高并且晶体管P10和N10导通，因此数据D2被INV12反相，并且数据D2B经由晶体管P10和N10输出作为数据D22。还有，由于反相器INV11的输出为高，因此OR电路OR1的输出变为高并且AND电路AND6的一个输入变为高。这样，作为AND电路AND6的另一个输入的数据D1被输出作为数据D11。还有，反相器INV11的输出为高并且晶体管P12和N12导通。这样，数据D1就被反相器INV13反相。然后，数据D1B经过晶体管P12和N12输出作为数据D12。也就是说，D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1，以及D12＝D1B。

接下来，将描述当测试信号被接通时该正测试双位显示数据生成电路32的操作。当极性反相信号被断开时，反相器INV11的输出变为低，OR电路OR1的输出变为低，并且AND电路AND5的输出变为低。这样，D21＝“L”。还有，反相器INV11的输出为低，晶体管P10和N10断开，晶体管P11和N11被接通，并且接收该极性反转信号的AND电路AND3的输出变为低。这样，D22＝“L”。还有，反相器INV11的输出为低，OR电路OR1的输出为低，并且AND电路AND6的输出变为低。这样，D11＝“L”。还有，反相器INV11的输出为低，晶体管P12和N12断开，晶体管P13和N13导通，并且接收极性反转信号的AND电路AND4的输出变为低。这样，D12＝“L”。也就是说，D21＝D22＝D11＝D12＝“L”。

当极性反相信号被接通时，OR电路OR1的输出变为高，并且AND电路AND5的一个输入为低。这样，D21＝D2。还有，反相器INV11的输出为低，晶体管P10和N10断开，晶体管P11和N11导通，并且AND电路AND3的一个输入为高。这样，D22＝D2。还有，由于OR电路OR1的输出为高，并且AND电路AND6的一个输入为高，因此D11＝D1。还有，由于反相器INV11的输出为低，晶体管P12和N12断开，晶体管P13和N13导通，并且AND电路AND4的一个输入为高。这样，D12＝D1。也就是说，D21＝D22＝D2并且D11＝D12＝D1。

如上所述，当测试信号被断开时，该正测试双位显示数据生成电路32输出D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1以及D12＝D1B，而当测试信号被接通并且极性反转信号被断开时，输出D21＝D22＝D11＝D12＝“L”，而当测试信号和极性反转信号都被接通时，输出D21＝D22＝D2以及D11＝D12＝D1。

图11是示出了负测试双位显示数据生成电路33的结构的电路图。首先，将描述测试信号被断开时该负测试双位显示数据生成电路33的操作。当测试信号被断开时，反相器INV15的输出变为高，晶体管P14和N14导通，并且晶体管P15和N15断开。这样，D21＝D2。还有，反相器INV15的输出为高，OR电路OR2的输出变为高，并且NAND电路NAND3的一个输入变为高。这样，D22＝D2B。还有，反相器INV15的输出为高，晶体管P16和N16导通，并且晶体管P17和N17断开。这样，D11＝D1。还有，反相器INV15的输出为高，OR电路OR2的输出为高，并且NAND电路NAND4的一个输入变为高。这样，D12＝D1B。也就是说，D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1，以及D12＝D1B。

接下来，将描述当测试信号被接通时该负测试双位显示数据生成电路33的操作。当极性反相信号被断开时，反相器INV15的输出变为低，晶体管P14和N14断开，并且晶体管P15和N15导通，反相器INV14的输出为高并且NAND电路NAND1的一个输入被接通。这样，D21＝D2B。还有，反相器INV14的输出为高，OR电路OR2的输出为高，并且NAND电路NAND3的一个输入为高。这样，D22＝D2B。还有，反相器INV15的输出为低，晶体管P16和N16断开，并且晶体管P17和N17导通，反相器INV14的输出为高，以及NAND电路NAND2的一个输入变为高。这样，D11＝D1B。还有，反相器INV14的输出为高，OR电路OR2为高，并且NAND电路NAND4的一个输入变为高。这样，D12＝D1B。也就是说，D21＝D2B，D22＝D2B，D11＝D1B，以及D12＝D1B。

当极性反相信号被接通时，反相器INV15的输出变为低，晶体管P14和N14被断开，并且晶体管P15和N15被接通，反相器INV14的输出为低并且NAND电路NAND1的一个输入为低。这样，D21＝“H”。还有，反相器INV14的输出为低，反相器INV15的输出为低，OR电路OR2的输出为低，并且NAND电路NAND3的一个输入为低。这样，D22＝“H”。还有，反相器INV15的输出为低，晶体管P16和N16断开，并且晶体管P17和N17导通，反相器INV14的输出为低，以及NAND电路NAND2的一个输入为低。这样，D11＝“H”。还有，反相器INV14的输出为低，反相器INV15的输出为低，OR电路OR2的输出为低，并且NAND电路NAND4的一个输入为低。这样，D12＝“H”。也就是说，D21＝D22＝D11＝D12＝“H”。

如上所述，当测试信号被断开时，该负测试双位显示数据生成电路33输出D21＝D2，D22＝D2B，D11＝D1以及D12＝D1B，而当测试信号被接通并且极性反转信号被断开时，输出D21＝D2B，D22＝D2B，D11＝D1B以及D12＝D1B，而当测试信号和极性反转信号都被接通时，输出D21＝D22＝D11＝D12＝“H”。

接下来，将参照图12来描述该D/A转换器电路31。在图12中，该D/A转换器电路31含有正灰度级电压生成电路34，正灰度级电压选择电路143，负灰度级电压生成电路35，负灰度级电压选择电路145，以及测试开关电路24。该正灰度级电压生成电路34具有梯形电阻R1，R2和R3。当测试信号处于断开状态时，该正灰度级电压生成电路34接收灰度级参考电压V1和V2(V1＞V2)，并提供4个(＝2²)灰度级电平的正灰度级电压γp1-γp4。还有，当测试信号处于接通状态时，该正灰度级电压生成电路34在端子V1和V2中的至少一个端子处接收测试电压VTESTVP，并从4个(＝2²)灰度级电平的正灰度级电压γp1-γp4的输出端提供该测试电压VTESTVP。这时，由于反相器INV16的输出为低，则测试开关TESTSW2被接通。这样，该正灰度级电压生成电路34从正灰度级电压γp1-γp4的所有输出端提供该测试电压VTESTVP，而不需要梯形电阻R1、R2和R3的任何介入。该负灰度级电压生成电路35具有梯形电阻R3，R2和R1。当测试信号处于断开状态时，该负灰度级电压生成电路35接收灰度级参考电压V3和V4(V3＞V4)，并提供4个(＝2²)灰度级电平的负灰度级电压γn4-γn1。还有，当测试信号处于接通状态时，该负灰度级电压生成电路35在端子V3和V4中的至少一个端子处接收测试电压VTESTVN，并从负灰度级电压γn1-γn4的输出端提供该测试电压VTESTVN。这时，由于反相器INV17的输出为低，所以测试开关TESTSW3被接通。这样，该负灰度级电压生成电路35从负灰度级电压γn1-γn4的所有输出端提供该测试电压VTESTVN，而不需要梯形电阻R1、R2和R3的任何介入。

当测试信号处于断开状态时的D/A转换器电路31的操作与图2中D/A转换器电路21的操作类似。这样，省略掉了对于该操作的描述。

下面将描述当测试信号处于接通状态时该D/A转换器电路31的操作。与第一实施例类似，该测试电压VTESTVP被提供给正灰度级电压生成电路34，并且测试电压VTESTVN被提供给负灰度级电压生成电路35。这时，在测试开关电路24中，由于测试开关TESTSW1被接通，因此用于传送由正灰度级电压选择电路143选择的正灰度级电压的灰度级电压信号线、以及用于传送由负灰度级电压选择电路145选择的负灰度级电压的灰度级电压信号线被电短路。还有，测试开关TESTSW2和TESTSW3被接通。这样，该测试电压VTESTVP被从正灰度级电压生成电路34的正灰度级电压γp1-γp4的所有输出端提供到正灰度级电压选择电路143，而不需要梯形电阻R1、R2和R3的任何介入。该测试电压VTESTVN被从负灰度级电压生成电路35的负灰度级电压γn1-γn4的所有输出端提供到负灰度级电压选择电路145，而不需要梯形电阻R1、R2和R3的任何介入。

下面将描述极性反转信号被断开时的操作。这时，该测试状态设置电路30输出D21＝D22＝D11＝D12＝“L”作为正测试双位显示数据。另一方面，测试状态设置电路30输出D21＝D2B，D22＝D2B，D11＝D1B以及D12＝D1B作为负测试双位显示数据。还有，根据第一显示数据生成的双位显示数据表现为正双位显示数据，并且根据第二显示数据生成的双位显示数据表现为负双位显示数据。在该例中，该测试是在如下假定下进行：假设在测试时，第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)。

测试每个晶体管Mn1至Mn4中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(H，L)被提供给数据线驱动器电路。在正灰度级电压选择电路143中，接收(D21，D22，D11，D12)＝(L，L，L，L)作为正测试双位显示数据。这样，晶体管Mp1至Mp6导通。结果，选择了在通常状态下用于输出灰度级电压γp1至γp1的所有路径。因此，经由所有被选择的路径以及测试开关电路24，将测试电压VTESTVP施加到用于传送由负灰度级电压选择电路145选择的负灰度级电压的灰度级电压信号线。在负灰度级电压选择电路145中，接收(D21，D22，D11，D12)＝(L，L，H，H)作为负测试双位显示数据。这样，晶体管Mn5和Mn6导通，并且晶体管Mn1、Mn2、Mn3和Mn4断开。结果，经过晶体管Mn5和Mn6的测试电压VTESTVP、以及经过负灰度级电压生成电路35的测试电压VTESTVN被施加在每个晶体管Mn1至Mn4的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mn1至Mn4的漏极和源极之间的泄漏电流。在该例中，经由正灰度级电压选择电路143中的所有路径，在每个晶体管Mn1至Mn4中漏极与源极之间提供测试电压，而不需要正灰度级电压生成电路34和负灰度级电压生成电路35中的梯形电阻R3、R2和R1的任何介入。因此，能够进行精度高于第一实施例情形的泄漏电流测试。

测试每个晶体管Mn5和Mn6中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(L，H)被提供给数据线驱动器电路。与测试每个晶体管Mn1至Mn4中的漏极与源极之间的泄漏电流的情况类似，测试电压VTESTVP被施加到用于传送由负灰度级电压选择电路145选择的负灰度级电压的灰度级电压信号线。在负灰度级电压选择电路145中，接收(D21，D22，D11，D12)＝(H，H，L，L)作为负测试双位显示数据。这样，晶体管Mn1、Mn2、Mn3和Mn4导通，并且晶体管Mn5和Mn6断开。结果，经过负灰度级电压生成电路35以及晶体管Mn1至Mn4的测试电压VTESTVP以及测试电压VTESTVN被施加在每个晶体管Mn5和Mn6的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mn5和Mn6的漏极和源极之间的泄漏电流。在该例中，经由正灰度级电压选择电路143中的所有路径，在每个晶体管Mn5和Mn6中的漏极与源极之间提供测试电压，而不需要正灰度级电压生成电路34和负灰度级电压生成电路35中的梯形电阻R3、R2和R1的任何介入。因此，就能够测试泄漏电流，其精度高于第一实施例的情况。

下面将描述当极性反转信号被接通时的操作。这时，测试状态设置电路30输出D21＝D22＝D2以及D11＝D12＝D1作为正测试双位显示数据。另一方面，测试状态设置电路30输出D21＝D22＝D11＝D12＝“H”作为负测试双位显示数据。还有，根据第二显示数据生成双位显示数据表现为正双位显示数据，并且根据第一显示数据生成的双位显示数据表现为负双位显示数据。还有，在该例中，与极性反转信号被断开时的操作类似，该测试是在如下假定下进行的：假设在测试时，第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)。

测试晶体管Mp1至Mp4中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(H，L)被提供给数据线驱动器电路。在负灰度级电压选择电路145中，接收(D21，D22，D11，D12)＝(H，H，H，H)作为负测试双位显示数据。这样，晶体管Mn1至Mn6导通。结果，选择了在通常状态下用于输出灰度级电压γn1至γn4的所有路径。因此，经由该被选择的路径以及测试开关电路24，将测试电压VTESTVN施加到用于传送由正灰度级电压选择电路143选择的正灰度级电压灰度级电压信号线。在正灰度级电压选择电路143中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(H，H，L，L)作为正测试双位显示数据。这样，晶体管Mp5和Mp6导通，并且晶体管Mp1、Mp2、Mp3、和Mp4断开。结果，经过正灰度级电压生成电路34的测试电压VTESTVP、以及经过晶体管Mp5和Mp6的测试电压VTESTVN被施加在每个晶体管Mp1至Mp4的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mp1至Mp4的漏极和源极之间的泄漏电流。在该例中，通过负灰度级电压选择电路145中的所有路径，在每个晶体管Mp1至Mp4中的漏极与源极之间提供测试电压，而不需要正灰度级电压生成电路34和负灰度级电压生成电路35中的梯形电阻R3、R2和R1的任何介入。因此，就能够进行精度高于第一实施例情形的泄漏电流测试。

测试每个晶体管Mp5和Mp6中的漏极与源极之间的泄漏电流。第一显示数据(D2，D1)＝第二显示数据(D2，D1)＝(L，H)被提供给数据线驱动器电路。与测试晶体管Mp1至Mp4中的DS之间的泄漏电流的情况类似，测试电压被施加到用于传送由该正灰度级电压选择电路143选择的正灰度级电压的灰度级电压信号线。在正灰度级电压选择电路143中，提供(D21，D22，D11，D12)＝(L，L，H，H)作为正测试双位显示数据。这样，晶体管Mp1、Mp2、Mp3和Mp4导通，并且晶体管Mp5和Mp6断开。结果，经过正灰度级电压生成电路34以及晶体管Mp1至Mp4的测试电压VTESTVN和测试电压VTESTVP被施加在每个晶体管Mp5和Mp6中的漏极和源极之间。通过测量这时的电流值，就能够测试每个晶体管Mp5和Mp6的漏极和源极之间的泄漏电流。在该例中，经由负灰度级电压选择电路145中的所有路径，在每个晶体管Mp5和Mp6中的漏极与源极之间提供测试电压，而不需要正灰度级电压生成电路34和负灰度级电压生成电路35中的梯形电阻R3、R2和R1的任何介入。因此，就能够进行精度高于第一实施例情形的泄漏电流测试。

虽然上面已经参照了多个实施例来描述本发明，但是本领域内的技术人员可以意识到的是，提供这些实施例仅仅是用于说明本发明，并不应该依据它在有限范围内解释所附权利要求。

Claims (17)

1.一种用于显示面板的数据线驱动器电路，包括：

数-模(D/A)转换器电路，其被配置为将所要提供的两个显示数据转换为第一和第二极性的灰度级电压，

其中所述D/A转换器电路包括：

第一灰度级电压选择电路，其被配置为控制第一组晶体管，以根据两个显示数据中的第一显示数据来选择第一极性的灰度级电压之一；

第二灰度级电压选择电路，其被配置为控制第二组晶体管，以根据两个显示数据中的第二显示数据来选择第二极性的灰度级电压之一；

第一灰度级电压信号线，其被配置为传送由所述第一灰度级电压选择电路选择的第一极性的灰度级电压；

第二灰度级电压信号线，其被配置为传送由所述第二灰度级电压选择电路选择的第二极性的灰度级电压；以及

测试开关电路，其被配置为响应于测试信号而工作，

其中所述测试开关电路响应于测试信号而在所述第一和第二灰度级电压信号线之间形成短路，以允许测量在所述第一组的一个或多个所述晶体管以及所述第二组的一个或多个所述晶体管中的每一个中的漏极与源极之间的泄漏电流。

2.根据权利要求1的数据线驱动器电路，还包括：

第一测试显示数据生成电路，其被配置为响应于测试信号而生成第一测试显示数据；以及

第二测试显示数据生成电路，其被配置为响应于测试信号而生成第二测试显示数据，

其中所述第一灰度级电压选择电路接收该第一测试显示数据并控制所述第一组的所述晶体管，以及

所述第二灰度级电压选择电路接收该第二测试显示数据并控制所述第二组的所述晶体管。

3.根据权利要求2的数据线驱动器电路，其中所述第一测试显示数据生成电路响应于测试信号，根据预定逻辑生成该第一测试显示数据，以及

所述第二测试显示数据生成电路响应于测试信号，根据预定逻辑生成该第二测试显示数据。

4.根据权利要求2的数据线驱动器电路，其中当第一显示数据为m位时，所述第一灰度级电压选择电路控制所述第一组的所述晶体管，使得根据m位中一位的逻辑电平来断开所述第一组的所述一个或多个晶体管中的全部，以及根据其余(m-1)位中的每一位的逻辑电平来接通所述第一组的所述一个或多个晶体管中的全部。

5.根据权利要求1至4中任何一个的数据线驱动器电路，还包括：

第一灰度级电压生成电路，其被配置为根据第一参考电压生成所述第一极性灰度级电压，并提供给所述第一灰度级电压选择电路；以及

第二灰度级电压生成电路，其被配置为根据第二参考电压生成所述第二极性灰度级电压，以提供给所述第二灰度级电压选择电路，

所述第一灰度级电压生成电路响应于测试信号，将第一极性的测试电压提供给第一参考电压的至少一个输入端，以及

所述第二灰度级电压生成电路响应于测试信号，将第二极性的测试电压提供给第二参考电压的至少一个输入端。

6.根据权利要求5的数据线驱动器电路，其中所述第一灰度级电压生成电路包括第一测试开关，其被配置为响应于测试信号而工作，

所述第一测试开关响应于测试信号而在信号线之间形成短路，其中所述信号线传送从所述第一灰度级电压生成电路提供的所述第一极性灰度级电压，

所述第二灰度级电压生成电路包括第二测试开关，其被配置为响应于测试信号而工作，以及

所述第二测试开关响应于测试信号而在信号线之间形成短路，其中所述信号线传送从所述第二灰度级电压生成电路提供的所述第二极性灰度级电压。

7.一种用于显示面板的数据线驱动器电路的测试方法，所述测试方法包括：

提供数-模(D/A)转换器电路，其被配置为将所要提供的两个显示数据转换为第一和第二极性的灰度级电压，其中所述D/A转换器电路包括第一灰度级电压选择电路，其被配置为根据第一个显示数据来选择第一极性的灰度级电压之一；以及第二灰度级电压选择电路，其被配置为根据第二个显示数据来选择第二极性的灰度级电压之一；

将第一极性的测试电压提供给所述第一灰度级电压选择电路，并将第二极性的测试电压提供给所述第二灰度级电压选择电路；以及

响应于测试信号，通过使用所述第一和第二灰度级电压选择电路中的一个，测量所述第一和第二灰度级电压选择电路中的另一个的输入与输出之间的泄漏电流。

8.根据权利要求7的测试方法，其中所述测量包括：

响应于所述测试信号而生成第一和第二测试显示数据；以及

根据第一和第二测试显示数据来控制所述第一和第二灰度级电压生成电路。

9.根据权利要求8的测试方法，其中所述测量还包括：

响应于该测试信号，将所述第一和第二灰度级电压选择电路的输出短路。

10.根据权利要求9的测试方法，其中所述测量还包括：

接通第一组所述第一灰度级电压选择电路以及所述第二组所述第二灰度级电压选择电路之一中的至少一个晶体管；以及

响应于测试信号而断开另一组中的所述晶体管的其余晶体管。

11.根据权利要求10的测试方法，其中所述测量包括：

响应于测试信号，根据具有相反逻辑电平的双位的第一和第二双位显示数据，控制所述第一和第二组的所述晶体管；以及

响应于测试信号，根据具有相同逻辑电平的双位的第一和第二双位显示数据，控制所述第一和第二组的所述晶体管。

12.一种显示设备，包括：

显示面板；

数据线驱动器电路，包括数-模(D/A)转换器电路，其被配置为将所要提供的两个显示数据转换为第一和第二极性的灰度级电压，

其中所述D/A转换器电路包括：

第一灰度级电压选择电路，其被配置为控制第一组晶体管，以根据两个显示数据中的第一显示数据来选择第一极性的灰度级电压之一；

第二灰度级电压选择电路，其被配置为控制第二组晶体管，以根据两个显示数据中的第二显示数据来选择第二极性的灰度级电压之一；

第一灰度级电压信号线，其被配置为传送由所述第一灰度级电压选择电路选择的第一极性灰度级电压；

第二灰度级电压信号线，其被配置为传送由所述第二灰度级电压选择电路选择的第二极性灰度级电压；以及

测试开关电路，其被配置为响应于测试信号而工作，

其中所述测试开关电路响应于测试信号而在所述第一和第二灰度级电压信号线之间形成短路，以允许测量所述第一组的一个或多个所述晶体管以及所述第二组的一个或多个所述晶体管中的每一个中的漏极与源极之间的泄漏电流。

13.根据权利要求12的显示设备，还包括：

第一测试显示数据生成电路，其被配置为响应于测试信号而生成第一测试显示数据；以及

第二测试显示数据生成电路，其被配置为响应于测试信号而生成第二测试显示数据，

其中所述第一灰度级电压选择电路接收该第一测试显示数据并控制所述第一组的所述晶体管，以及

所述第二灰度级电压选择电路接收该第二测试显示数据并控制所述第二组的所述晶体管。

14.根据权利要求13的显示设备，其中所述第一测试显示数据生成电路响应于测试信号，根据预定逻辑生成该第一测试显示数据，以及

所述第二测试显示数据生成电路响应于测试信号，根据预定逻辑生成该第二测试显示数据。

15.根据权利要求13的显示设备，其中当第一显示数据为m位时，所述第一灰度级电压选择电路控制所述第一组的所述晶体管，使得根据m位中的一位的逻辑电平来断开所述第一组的所述一个或多个晶体管中的全部，以及根据其余(m-1)位中的每一位的逻辑电平来接通所述第一组的所述一个或多个晶体管中的全部。

16.根据权利要求12至15中任何一个的显示设备，还包括：

第一灰度级电压生成电路，其被配置为根据第一参考电压生成所述第一极性灰度级电压，并提供给所述第一灰度级电压选择电路；以及

第二灰度级电压生成电路，其被配置为根据第二参考电压生成所述第二极性灰度级电压，并提供给所述第二灰度级电压选择电路，

所述第一灰度级电压生成电路响应于测试信号，将第一极性的测试电压提供给第一参考电压的至少一个输入端，以及

所述第二灰度级电压生成电路响应于测试信号将第二极性的测试电压提供给第二参考电压的至少一个输入端。

17.根据权利要求16的显示设备，其中所述第一灰度级电压生成电路包括第一测试开关，其被配置为响应于测试信号而工作，

所述第一测试开关响应于测试信号而在信号线之间形成短路，其中所述信号线传送从所述第一灰度级电压生成电路提供的所述第一极性灰度级电压，

所述第二灰度级电压生成电路包括第二测试开关，其被配置为响应于测试信号而工作，以及

所述第二测试开关响应于测试信号而在信号线之间形成短路，其中所述信号线传送从所述第二灰度级电压生成电路提供的所述第二极性灰度级电压。

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