理化学研究所（理研）創発物性科学研究センター量子機能システム研究グループの中島峻研究員、野入亮人特別研究員、樽茶清悟グループディレクター（東京大学大学院工学系研究科教授（研究当時））、量子システム理論研究チームのダニエル・ロスチームリーダー（バーゼル大学物理学科教授）、ルール大学ボーフム校のアンドレアス・ウィック教授らの国際共同研究グループ※は、半導体量子ドット[1]デバイスにおいて、電子スピン[2]量子ビット[3]の量子非破壊測定[4]に成功しました。 本研究成果は、半導体量子コンピュータ[5]の必須要素である「量子ビットの低エラー読み出し」と「量子エラー訂正[6]」の実現に道筋を示したといえます。 汎用量子コンピュータの実現には、量子ビットの高精度な制御と読み出しを用いて、量子エラー訂正回路を実装することが必要不可欠と考えられています。しかし、従来の電子スピン量子ビット読み出し手法では