WO2018198215A1 - 狭帯域化モジュール - Google Patents
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- H01S3/2251—ArF, i.e. argon fluoride is comprised for lasing around 193 nm
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- H01S3/2256—KrF, i.e. krypton fluoride is comprised for lasing around 248 nm
Definitions
- This disclosure relates to a narrowband module.
- the semiconductor exposure apparatus As semiconductor integrated circuits are miniaturized and highly integrated, improvement in resolving power is demanded in semiconductor exposure apparatuses.
- the semiconductor exposure apparatus is simply referred to as “exposure apparatus”. For this reason, the wavelength of light output from the light source for exposure is being shortened.
- a gas laser device As a light source for exposure, a gas laser device is used instead of a conventional mercury lamp.
- a gas laser apparatus for exposure a KrF excimer laser apparatus that outputs ultraviolet light with a wavelength of 248 nm and an ArF excimer laser apparatus that outputs ultraviolet light with a wavelength of 193 nm are used.
- the spectral line width in natural oscillation of KrF and ArF excimer laser devices is as wide as about 350 to 400 pm, the chromatic aberration of laser light (ultraviolet light) projected on the wafer by the projection lens on the exposure device side is generated, resulting in high resolution. descend. Therefore, it is necessary to narrow the spectral line width of the laser light output from the gas laser device until the chromatic aberration becomes negligible.
- the spectral line width is also called the spectral width.
- a narrow band module (Line Narrow) Module) having a narrow band element is provided in the laser resonator of the gas laser device, and the narrow band of the spectral width is realized by this narrow band module.
- the band narrowing element may be an etalon, a grating, or the like.
- Such a laser device having a narrowed spectral width is called a narrow-band laser device.
- a narrowband module includes a prism that refracts laser light in a first plane and a grating that disperses laser light in the first plane, and narrows the laser light in a narrowband.
- the narrowband module includes a first element, a rotation mechanism, a second element, a third element, and a fourth element, the second element between the first element and the fourth element And the rotation mechanism is configured to rotate the second element relative to the first element about an axis intersecting the first plane, and the prism is
- the second element is located between the second element and the fourth element, and is supported by the second element so as to rotate together with the second element by a rotation mechanism.
- the third element has elasticity, and is a prism.
- the fourth element are in a compressed state, the fourth element receives a reaction force from the compressed third element, and the second element is in the direction of rotation by the rotation mechanism. It is mechanically independent from the fourth element.
- a band-narrowing module includes a prism that refracts laser light in a first plane, and a grating that disperses laser light in the first plane. Narrow the band.
- the narrowband module includes a first element, a rotation mechanism, a second element, a third element, a fourth element, and a fifth element, wherein the second element includes the first element and the fourth element.
- the rotation mechanism is configured to rotate the second element relative to the first element about an axis intersecting the first plane.
- the prism is positioned between the second element and the fourth element, and is supported by the second element so as to rotate with the second element by a rotation mechanism, and the third element is elastic And is positioned in a compressed state between the prism and the fourth element, the fourth element receives a reaction force from the compressed third element, and the fifth element
- the fourth element has a hole for receiving a part of the fifth element, and the hole and the fifth element inside the hole In, and there is a gap in the rotational direction by the rotation mechanism.
- a band-narrowing module includes a prism that refracts laser light in a first plane, and a grating that disperses laser light in the first plane. Narrow the band.
- the band narrowing module includes a first element, a rotation mechanism, a second element, a third element, a fourth element, and a sixth element.
- the second element includes the first element and the fourth element.
- the rotation mechanism is configured to rotate the second element relative to the first element about an axis intersecting the first plane.
- the prism is positioned between the second element and the fourth element, and is supported by the second element so as to rotate with the second element by a rotation mechanism, and the third element is elastic And is positioned in a compressed state between the prism and the fourth element, the fourth element receives a reaction force from the compressed third element, and the sixth element
- the first element and the fourth element are fixed to each other.
- FIG. 1 schematically shows a configuration of a laser apparatus including a narrowband module according to a comparative example.
- FIG. 2 schematically shows a configuration of a laser apparatus including a narrowband module according to a comparative example.
- FIG. 3 is an enlarged perspective view showing the configuration of the prism 14c and the holder 16c in the comparative example.
- FIG. 4 is a plan view of the prism 14c and the holder 16c in the comparative example.
- 5A to 5C are sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the comparative example.
- FIG. 1 schematically shows a configuration of a laser apparatus including a narrowband module according to a comparative example.
- FIG. 2 schematically shows a configuration of a laser apparatus including a narrowband module according to a comparative example.
- FIG. 3 is an enlarged perspective view showing the configuration of the prism 14c and the holder 16c in the comparative example.
- FIG. 4 is a plan view of
- FIG. 6 is a gain diagram showing frequency characteristics of rotation control of the prism 14c in the comparative example.
- 7A to 7C are sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band narrowing module according to the first embodiment.
- FIG. 8 is a gain diagram showing the frequency characteristics of rotation control of the prism 14c in the first embodiment.
- 9A to 9C are sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band narrowing module according to the second embodiment.
- FIG. 10 is a side view of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band narrowing module according to the third embodiment.
- FIG. 11 is a gain diagram showing frequency characteristics of rotation control of the prism 14c in the third embodiment.
- 12A and 12B are cross-sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band narrowing module according to the fourth embodiment.
- FIGS. 1 and 2 schematically illustrate the configuration of a laser device including a narrowband module according to a comparative example.
- the laser device in the comparative example includes a laser chamber 10, a pair of discharge electrodes 11 a and 11 b, a band narrowing module 14, and an output coupling mirror 15.
- the laser device further includes a beam splitter 22, a wavelength monitor 46, a control unit 47, and a driver 48.
- the band narrowing module 14 and the output coupling mirror 15 constitute an optical resonator.
- the laser chamber 10 is disposed in the optical path of the optical resonator.
- the laser device is a master oscillator that outputs laser light to be incident on an exposure device (not shown).
- FIG. 1 shows the internal configuration of the laser device viewed from a direction substantially parallel to the discharge direction between the pair of discharge electrodes 11a and 11b.
- the internal configuration of the laser device is viewed from a direction substantially perpendicular to the discharge direction between the pair of discharge electrodes 11 a and 11 b and substantially perpendicular to the traveling direction of the laser light output from the output coupling mirror 15. It is shown.
- the traveling direction of the laser light output from the output coupling mirror 15 is defined as the Z direction.
- a discharge direction between the pair of discharge electrodes 11a and 11b is defined as a V direction.
- a direction perpendicular to both of these directions is taken as an H direction.
- the ⁇ V direction substantially coincides with the direction of gravity.
- the laser chamber 10 is a chamber in which a laser gas as a laser medium is enclosed.
- the laser gas includes, for example, argon gas or krypton gas as a rare gas, fluorine gas as a halogen gas, neon gas as a buffer gas, and the like.
- Windows 10 a and 10 b are provided at both ends of the laser chamber 10.
- the laser chamber 10 is supported by a holder 20.
- the pair of discharge electrodes 11a and 11b are arranged in the laser chamber 10 as electrodes for exciting the laser medium by discharge.
- a pulsed high voltage is applied to the pair of discharge electrodes 11a and 11b from a pulse power module (not shown).
- the windows 10 a and 10 b are arranged such that the light incident surfaces and the HZ surfaces with respect to these windows are substantially parallel, and the light incident angle is substantially a Brewster angle. Yes.
- the narrowband module 14 includes at least one prism, a grating 14e, holders 16a to 16e, and a housing 12.
- the at least one prism includes four prisms 14a to 14d.
- Each of the four prisms 14a to 14d is made of calcium fluoride crystals.
- Each of the four prisms 14a to 14d has two surfaces 18 and 19 through which the beam passes. These prisms are arranged so that the beam passing through the surface 18 is non-perpendicular to the surface 18 and the beam passing through the surface 19 is substantially perpendicular to the surface 19. The beam is refracted on the surface 18, and the refraction of the beam is suppressed on the surface 19.
- the surface 18 is coated with a film that suppresses reflection of P-polarized light.
- the surface 19 is coated with a film that suppresses reflection of light.
- the grating 14e is an shale grating in which a surface includes a highly reflective material and a large number of grooves are formed at predetermined intervals.
- the housing 12 houses prisms 14a to 14d and a grating 14e.
- the prism 14a is supported by the holder 16a
- the prism 14b is supported by the holder 16b
- the prism 14c is supported by the holder 16c
- the prism 14d is supported by the holder 16d
- the grating 14e is supported by the holder 16e.
- the holder 16 c that supports the prism 14 c includes a lower plate 31, a support plate 32, and a rotation mechanism 36.
- a lower plate 31 is fixed to the housing 12.
- the prism 14 c is supported on the support plate 32.
- the rotation mechanism 36 includes a lever 361, a housing 40 (see FIG. 1), and a bearing 362 (see FIG. 2).
- the lever 361 passes through the side wall of the housing 12, and the tip of the lever 361 is located inside the housing 40.
- the bearing 362 is located between the lower plate 31 and the support plate 32 and is supported by the lower plate 31.
- the housing 12 is connected to the laser chamber 10 by an optical path tube 21a.
- the inside of the optical path tube 21a and the inside of the housing 12 are communicated with each other.
- An inert gas introduction tube 12c (see FIG. 1) is connected to the housing 12 at a position away from the optical path tube 21a.
- An inert gas discharge pipe 21c (see FIG. 2) is connected to the optical path pipe 21a.
- An inert gas is introduced from the inert gas introduction pipe 12c into the housing 12 and the optical path pipe 21a, and is discharged from the inert gas discharge pipe 21c. In this way, the inert gas is purged into the housing 12 and the optical path tube 21a.
- the output coupling mirror 15 is accommodated in the housing 13.
- the output coupling mirror 15 is supported by a holder 17 inside the housing 13.
- the surface of the output coupling mirror 15 is coated with a partial reflection film.
- the housing 13 is connected to the laser chamber 10 by an optical path tube 21b.
- the inside of the optical path tube 21b and the inside of the housing 13 are communicated with each other.
- An inert gas introduction tube and an inert gas discharge tube (not shown) are connected to the optical path tube 21b or the housing 13.
- An inert gas is purged inside the optical path tube 21b and inside the housing 13.
- the beam splitter 22 is disposed in the optical path of the laser light output from the output coupling mirror 15.
- the beam splitter 22 is coated with a partial reflection film that reflects part of the laser light and transmits the other part.
- a wavelength monitor 46 is disposed in the optical path of the laser light reflected by the beam splitter 22.
- the wavelength monitor 46 includes a spectroscope such as an etalon (not shown) and an image sensor (not shown).
- the light generated in the laser chamber 10 is emitted to the outside of the laser chamber 10 through the windows 10a and 10b.
- the light emitted from the window 10a of the laser chamber 10 is refracted in the HZ plane by the prisms 14a to 14d so that the beam width in the H direction is expanded and enters the grating 14e.
- the light incident on the grating 14e from the prisms 14a to 14d is reflected by the plurality of grooves of the grating 14e and diffracted in the direction corresponding to the wavelength of the light.
- the light reflected by the plurality of grooves of the grating 14e is dispersed in the HZ plane.
- the grating 14e is arranged in a Littrow arrangement so that the incident angle of light incident on the grating 14e from the prisms 14a to 14d matches the diffraction angle of diffracted light having a desired wavelength.
- light in the vicinity of the desired wavelength is returned to the laser chamber 10 via the prisms 14a to 14d.
- the prisms 14a to 14d reduce the beam width in the H direction of the diffracted light from the grating 14e and return the light to the laser chamber 10 through the window 10a.
- the output coupling mirror 15 transmits and outputs part of the light emitted from the window 10b of the laser chamber 10, and reflects the other part back into the laser chamber 10.
- the light emitted from the laser chamber 10 reciprocates between the band narrowing module 14 and the output coupling mirror 15, and is amplified every time it passes through the discharge space between the discharge electrodes 11a and 11b.
- This light is narrowed every time it is turned back by the band narrowing module 14.
- the polarization component in the H direction is selected by the arrangement of the windows 10a and 10b and the coating of the prisms 14a to 14d.
- the amplified light is output from the output coupling mirror 15 as laser light.
- This laser beam has a wavelength in the vacuum ultraviolet region.
- the beam splitter 22 transmits a part of the laser beam output from the output coupling mirror 15 with a high transmittance and reflects the other part.
- the laser light transmitted through the beam splitter 22 enters an exposure apparatus (not shown).
- the laser beam reflected by the beam splitter 22 enters a spectroscope (not shown) included in the wavelength monitor 46.
- the spectroscope forms interference fringes of laser light on a light receiving surface of an image sensor (not shown) included in the wavelength monitor 46.
- the image sensor generates image data of interference fringes and transmits this image data to the control unit 47.
- the control unit 47 receives target wavelength data from a control unit of an exposure apparatus (not shown).
- the control unit 47 receives image data from the wavelength monitor 46, and calculates the wavelength of the laser light based on the image data.
- the controller 47 transmits a control signal to the driver 48 based on the target wavelength data and the calculated wavelength of the laser beam.
- the driver 48 receives a control signal from the control unit 47.
- the driver 48 transmits a drive signal to the rotation mechanism 36 based on the control signal.
- the rotation mechanism 36 rotates the lever 361 included in the rotation mechanism 36 clockwise or counterclockwise in FIG. 1 according to the drive signal from the driver 48.
- the support plate 32 rotates with respect to the lower plate 31 around an axis perpendicular to the HZ plane, and thereby the prism 14c rotates in the HZ plane.
- the prism 14c By rotating the prism 14c and adjusting the posture of the prism 14c, the incident angle of light to the grating 14e is adjusted, and the oscillation wavelength is adjusted.
- FIG. 3 is an enlarged perspective view showing the configuration of the prism 14c and the holder 16c in the comparative example described above.
- FIG. 4 is a plan view of the prism 14c and the holder 16c in the comparative example. However, the casing 40 and the plunger 41 are shown in cross section.
- 5A to 5C are sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the comparative example.
- FIG. 5A corresponds to a cross section taken along line VA-VA in FIG.
- FIG. 5B corresponds to a cross section taken along line VB-VB in FIG.
- FIG. 5C corresponds to a cross section taken along line VC-VC in FIG.
- all or a part of the bolts shows the surface rather than the cross section.
- the holder 16 c includes the lower plate 31, the rotation mechanism 36, and the support plate 32 described above.
- the holder 16c further includes a plurality of springs 33 (see FIGS. 5A to 5C), an upper plate 34, a plurality of high head bolts 351, and a prism retainer 37.
- the rotation mechanism 36 includes a rotation plate 360 (see FIGS. 5A and 5B).
- the rotating plate 360 is supported so that it can rotate inside the bearing 362 described above.
- the support plate 32 described above is fixed to the upper surface of the rotating plate 360.
- the above-described lever 361 (see FIGS. 1, 3, and 4) is fixed to the rotating plate 360.
- a first end of the lever 361 is fixed to the rotating plate 360.
- the second end of the lever 361 is located inside the housing 40 described above.
- the housing 40 is fixed to the lower plate 31.
- the first end and the second end of the lever 361 are connected below the bearing 362. With the above configuration, the lever 361 can rotate integrally with the rotating plate 360.
- the rotation mechanism 36 further includes a plunger 41, an automatic micrometer 43, and a piezoelectric element 45.
- the plunger 41 and the automatic micrometer 43 are attached to the housing 40.
- the plunger 41 includes a spring 42 and a screw 46.
- the automatic micrometer 43 includes a micrometer head 44.
- the piezoelectric element 45 is attached to the lever 361 inside the housing 40.
- the micrometer head 44 is in contact with the piezoelectric element 45 inside the housing 40. Between the micrometer head 44 and the plunger 41, the piezoelectric element 45 and the lever 361 are located.
- the support plate 32 includes a thick portion 321 (see FIGS. 5B and 5C) and a protrusion 322.
- An elastic member such as a spring 324 is attached to the support plate 32.
- a plurality of bolt holes 320 are formed in the support plate 32.
- the thickness of the support plate 32 in the thick portion 321 is larger than the thickness of the support plate 32 in other portions, and a step portion is formed between the thick portion 321 and the other portions.
- the prism 14c is placed on the support plate 32 so that the first surface of the prism 14c is in contact with the stepped portion, and the second surface of the prism is in contact with the protrusion 322. Thereby, the prism 14 c is positioned and supported with respect to the support plate 32.
- the first surface of the prism 14c is, for example, the surface 18 described with reference to FIG. 1, and the second surface of the prism 14c is, for example, the surface 19 described with reference to FIG.
- the first end of the spring 324 is fixed to the support plate 32 by a support portion 325.
- a pressing member 323 is disposed between the second end of the spring 324 and the third surface of the prism 14c.
- the spring 324 presses the third surface of the prism 14 c via the pressing member 323. As a result, the first surface of the prism 14 c is pressed against the step portion of the support plate 32, and the second surface of the prism 14 c is pressed against the protrusion 322.
- the plurality of high head bolts 351 includes two high head bolts.
- the high head bolt 351 is a bolt having a long head. A part of the head of the high head bolt 351 is cut so that two substantially parallel surfaces (not shown) for applying a spanner are formed.
- each of the two high head bolts 351 is fixed to the support plate 32 by screwing the screw portion at the lower end thereof into the bolt hole 320 of the support plate 32.
- a bolt hole 350 is formed at the upper end of the high head bolt 351.
- Bolts 352 are screwed into the bolt holes 350 and fixed.
- the upper plate 34 is sandwiched and fixed between the upper end of the high head bolt 351 and the head of the bolt 352.
- the two high head bolts 351 define the distance between the support plate 32 and the upper plate 34.
- the prism 14 c is located between the two high head bolts 351.
- the upper plate 34 has through holes in the vicinity of both ends thereof, and both ends of the upper plate 34 are fixed to the high head bolts 351 by bolts 352 passing through the through holes, respectively.
- a plurality of through holes 342 are formed near the center of the upper plate 34.
- the plurality of through holes 342 include two through holes.
- recesses 341 are formed at positions overlapping with the plurality of through holes 342, respectively.
- the inner diameter of the recess 341 is larger than the inner diameter of the through hole 342.
- the prism holder 37 is disposed in contact with the upper surface of the prism 14c.
- a plurality of bolt holes 370 are formed in the prism holder 37.
- the plurality of bolt holes 370 include two bolt holes.
- the plurality of springs 33 includes two springs.
- the two springs 33 each have elasticity and are arranged in a compressed state between the prism retainer 37 and the upper plate 34. A part of each of the two springs 33 is located inside the recess 341.
- the spring 33 in the compressed state presses the prism 14 c downward via the prism holder 37.
- the upper plate 34 receives a reaction force in the upward direction by the spring 33 in a compressed state.
- a plurality of bolts 331 pass through the through hole 342 and the spring 33, respectively, and are screwed into the bolt holes 370 of the prism retainer 37. As a result, the spring 33 is prevented from being removed from the recess 341. Since the outer diameter of the shaft portion excluding the head of the bolt 331 is smaller than the inner diameter of the through hole 342, the position of the through hole 342 does not strictly define the position of the bolt 331. .
- the above-described automatic micrometer 43 pushes the micrometer head 44 in the direction toward the current position of the lever 361 according to the drive signal from the driver 48, or retracts it in the opposite direction.
- the micrometer head 44 is pushed out in the direction toward the current position of the lever 361, the lever 361 rotates counterclockwise in FIG. 4 and the spring 42 of the plunger 41 is compressed.
- the micrometer head 44 is retracted in the direction away from the current position of the lever 361, the lever 361 rotates clockwise in FIG. 4 by the restoring force of the compressed spring 42.
- the screw 46 By restoring the screw 46, the restoring force of the spring 42 can be adjusted.
- the piezoelectric element 45 expands and contracts according to the drive signal from the driver 48. Similarly to when the automatic micrometer 43 is driven, the lever 361 is rotated by the expansion and contraction of the piezoelectric element 45.
- the automatic micrometer 43 is suitable for a movement having a large stroke and a low frequency compared to the piezoelectric element 45
- the piezoelectric element 45 is suitable for a movement having a small stroke and a large frequency compared to the automatic micrometer 43. Yes.
- the lever 361 rotates integrally with at least the rotating plate 360, the support plate 32, the prism 14c, the high head bolt 351, and the upper plate 34.
- FIG. 6 is a gain diagram showing frequency characteristics of rotation control of the prism 14c in the comparative example described above.
- 6 represents the frequency of the drive signal transmitted to the rotation mechanism 36 of the holder 16c.
- the vertical axis in FIG. 6 indicates the gain of rotation control of the prism 14c.
- the gain is a value obtained by measuring the ratio of the amplitude indicating the rotation angle of the prism 14c to the amplitude of the drive signal transmitted to the rotation mechanism 36 of the holder 16c and converting it to decibels.
- the gain is almost 1 in the frequency band of the drive signal from 0 Hz to around 500 Hz. That is, in the control with relatively low frequency, the rotation angle of the prism 14c corresponds to the amplitude of the drive signal almost faithfully, so it can be said that the control state is good.
- the gain may be higher than 1 dB.
- This state is a state where the rotation angle of the prism 14c is excessive with respect to the amplitude of the drive signal.
- the frequency of the drive signal substantially matches the natural frequency of any one of the components constituting the prism 14c and the holder 16c, or the natural frequency of a component obtained by combining two or more of them, or almost It is an integer multiple and it is considered that resonance has occurred.
- the gain when the frequency of the drive signal exceeds 1500 Hz, the gain may be lower than 1 dB. This state is a state in which the rotation angle of the prism 14c is too small with respect to the amplitude of the drive signal, and is called non-resonance. Furthermore, when the frequency of the drive signal exceeds 2500 Hz, the gain may be higher than 1 dB. It is considered that resonance occurs even in a band exceeding 2500 Hz.
- FIGS. 7A to 7C are cross-sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band narrowing module according to the first embodiment.
- FIG. 7A corresponds to a cross section taken along line VA-VA in FIG.
- FIG. 7B corresponds to a cross section taken along line VB-VB of FIG.
- FIG. 7C corresponds to a cross section along the line VC-VC in FIG.
- the whole or part of the bolts shows the surface, not the cross section.
- the band narrowing module according to the first embodiment is different from the comparative example described above in that the upper plate 34a is supported by the support 35a including the high head bolt 353 and the stepped bolt 354. About another point, it is the same as that of a comparative example.
- embodiments similar to those shown in FIGS. 1 to 4 may be described with reference to FIGS. 1 to 4.
- the high-head bolt 353 is fixed to the support plate 32 by screwing the lower end thread portion into the bolt hole 320 of the support plate 32.
- the stepped bolt 354 is a bolt having a shoulder portion between the upper end head portion and the lower end screw portion. The screw portion of the stepped bolt 354 is screwed into the bolt hole 350 formed at the upper end of the high head bolt 353 and fixed.
- Through holes 340 are formed in the vicinity of both ends of the upper plate 34a.
- the inner diameter of the through hole 340 is smaller than the outer diameter of the head of the high head bolt 353 and smaller than the outer diameter of the head of the stepped bolt 354. Further, the inner diameter of the through hole 340 is larger than the outer diameter of the shoulder portion of the stepped bolt 354.
- the cross section perpendicular to the penetration direction of the through hole 340 may not be circular, and may be an oval shape long in the rotation direction of the rotary plate 360. It is desirable that at least the inner diameter of the through hole 340 in the rotating direction of the rotating plate 360 is larger than the outer diameter of the shoulder portion of the stepped bolt 354 in the rotating direction of the rotating plate 360.
- the stepped bolt 354 can move relative to the upper plate 34 a inside the through hole 340.
- the stepped bolt 354 can move in the rotational direction of the rotary plate 360 relative to the upper plate 34a.
- the upper plate 34 a receives a reaction force upward by the spring 33, and the upper surface around the through hole 340 of the upper plate 34 a is pressed against the head of the stepped bolt 354. Therefore, the distance between the support plate 32 and the upper plate 34a is defined by the two high head bolts 353 and the two stepped bolts 354.
- the lower plate 31 corresponds to a first element in the present disclosure.
- the support plate 32 corresponds to the second element in the present disclosure.
- the spring 33 corresponds to the third element in the present disclosure.
- the upper plate 34a corresponds to a fourth element in the present disclosure.
- the column 35a including the high head bolt 353 and the stepped bolt 354 corresponds to the fifth element in the present disclosure.
- the support plate 32 and the support column 35a may be an integral member. That is, the second element and the fifth element may be an integral member.
- the upper plate 34a, the high head bolt 353, and the stepped bolt 354 in the first embodiment are the same as the upper plate 34, the high head bolt 351, and the bolt 352 in the comparative example, respectively, except for the points described above. .
- the prism 14c, the support plate 32, the rotating plate 360, and the support column 35a are mechanically independent from the upper plate 34a. That is, the prism 14c and the like can move independently with respect to the upper plate 34a within the range of the dimensional difference between the outer diameter of the shoulder of the stepped bolt 354 and the inner diameter of the through hole 340.
- the prism 14c can start rotating while the upper plate 34a is stationary due to inertia. Therefore, compared to the case where the prism 14c and the upper plate 34 are integrally rotated in the comparative example, the responsiveness of the rotation control of the prism 14c can be improved in the first embodiment.
- the upper plate 34a When the inertial force acting on the upper plate 34a with respect to the stepped bolt 354 is smaller than the frictional force between the head of the stepped bolt 354 and the upper surface of the upper plate 34a, the upper plate 34a has the stepped bolt 354. And rotate together.
- the inertial force also acts on the prism retainer 37.
- the prism retainer 37 rotates integrally with the prism 14c.
- the prism 14 c is independent of the prism holder 37. Can move.
- FIG. 8 is a gain diagram showing the frequency characteristics of the rotation control of the prism 14c in the first embodiment.
- the frequency characteristic in the comparative example is also indicated by a broken line.
- a resonance state in which the gain exceeds 1 dB is hardly seen in the frequency band of 2500 Hz or more and 3000 Hz or less. It is considered that the resonance in this band is reduced because the prism 14c and the like are mechanically independent from the upper plate 34a.
- the gain is stable in the range from about 0.6 dB to about 1.0 dB in the frequency band of 2000 Hz to 3000 Hz.
- the driving of the piezoelectric element 45 based on the measurement result of the wavelength of the laser beam may be performed at a frequency of 2000 Hz or more and 3000 Hz or less.
- the first embodiment exhibits a particularly great effect when the prism 14c is rotationally controlled at a frequency of 2000 Hz or more and 3000 Hz or less.
- FIGS. 9A to 9C are cross-sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band narrowing module according to the second embodiment.
- FIG. 9A corresponds to a cross section taken along line VA-VA in FIG.
- FIG. 9B corresponds to a cross section taken along line VB-VB in FIG.
- FIG. 9C corresponds to a cross section along line VC-VC in FIG.
- all or part of the bolts are not cross-sections but surfaces.
- a bolt 355 and a nut 356 are used in the band narrowing module according to the second embodiment.
- the inner diameter of the through-holes 340 formed near both ends of the upper plate 34a is larger than the outer diameter of the shaft portion excluding the head of the bolt 355.
- the cross section perpendicular to the penetration direction of the through hole 340 may not be circular, and may be an oval shape long in the rotation direction of the rotary plate 360. It is desirable that at least the inner diameter of the through hole 340 in the rotation direction of the rotation plate 360 is larger than the outer diameter of the shaft portion of the bolt 355 in the rotation direction of the rotation plate 360. Alternatively, it is desirable that a gap exists in at least the rotation direction of the rotating plate 360 between the through hole 340 and the shaft portion of the bolt 355 inserted into the through hole 340. As a result, the bolt 355 can move relative to the upper plate 34 a inside the through hole 340.
- the bolt 355 is screwed into the nut 356 and further screwed into a bolt hole 350 formed at the upper end of the high head bolt 353.
- the column 35b including the high head bolt 353, the bolt 355, and the nut 356 corresponds to the fifth element in the present disclosure. About another point, it is the same as that of 1st Embodiment.
- FIG. 10 is a side view of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band-narrowing module according to the third embodiment.
- the direction in which the prism 14c and the holder 16c are viewed in FIG. 10 is the same as the direction in which the prism 14c and the holder 16c are viewed in FIG. 5C.
- the lower plate 31b, the support plate 32b, the upper plate 34b, and the high head bolt 357 are provided. It is used.
- the length of the upper plate 34b in the third embodiment is larger than the length of the upper plate 34 in the comparative example. Compared with the length of the high head bolt 351 in the comparative example, the length of the high head bolt 357 in the third embodiment is large.
- the bolt hole 320 formed in the support plate 32 of the comparative example is not formed in the support plate 32b of the third embodiment. Instead, bolt holes (not shown) are formed in the lower plate 31b of the third embodiment.
- the screw portion at the lower end of the high head bolt 357 is not fixed to the support plate 32b, but is screwed into the bolt hole of the lower plate 31b and fixed to the lower plate 31b.
- a bolt 352 is screwed into a bolt hole (not shown) formed at the upper end of the high head bolt 357 and fixed.
- the upper plate 34 b is sandwiched and fixed between the upper end of the high head bolt 357 and the head of the bolt 352.
- the two high head bolts 357 define the distance between the lower plate 31b and the upper plate 34b. Further, two high head bolts 357 fix the posture of the upper plate 34b so that the upper plate 34b does not rotate with respect to the lower plate 31b.
- a through hole 342 (see FIG. 5A) and a recess 341 (see FIG. 5A) are formed in the upper plate 34b.
- a through hole 342 (see FIG. 5A) and a recess 341 (see FIG. 5A) are formed in the upper plate 34b.
- the lever 361 rotates integrally with at least the rotation plate 360, the support plate 32b, and the prism 14c. Since neither the upper plate 34b nor the high head bolt 357 rotates, the prism 14c and the like are mechanically independent from the upper plate 34b and the high head bolt 357.
- the prism holder 37 rotates integrally with the prism 14c.
- the prism 14 c is independent of the prism holder 37. Can move.
- the lower plate 31b corresponds to a first element in the present disclosure.
- the support plate 32b corresponds to the second element in the present disclosure.
- the upper plate 34b corresponds to a fourth element in the present disclosure.
- the column 35c including the high head bolt 357 and the bolt 352 corresponds to the sixth element in the present disclosure.
- the present disclosure is not limited to this.
- the lower plate 31b and the support column 35c may be an integral member. That is, the first element and the sixth element may be an integral member.
- the upper plate 34b and the support column 35c may be an integral member. That is, the fourth element and the sixth element may be an integral member.
- the lower plate 31b, the upper plate 34b, and the support column 35c may be an integral member. That is, the first element, the fourth element, and the sixth element may be an integral member. About another point, it is the same as that of the above-mentioned comparative example.
- FIG. 11 is a gain diagram showing frequency characteristics of rotation control of the prism 14c in the third embodiment.
- the frequency characteristics in the first embodiment are also indicated by broken lines.
- FIG. 12A and FIG. 12B are cross-sectional views of a part of the prism 14c and the holder 16c in the band narrowing module according to the fourth embodiment.
- 12A corresponds to a cross section taken along line VA-VA in FIG.
- FIG. 12B corresponds to a cross section taken along the line VC-VC of FIG.
- the bottom plate 31c of the housing 12 and the top plate 34c of the housing 12 are used instead of the lower plate 31b and the upper plate 34b in the third embodiment.
- the high head bolt 357 in the third embodiment is not used in the fourth embodiment.
- the housing 12 has the same configuration as the housing 12 described with reference to FIGS. 1 and 2.
- the bottom plate 31 c of the housing 12 defines the lower surface of the housing 12, and the top plate 34 c of the housing 12 defines the upper surface of the housing 12.
- the top plate 34 c of the housing 12 may be an upper lid of the housing 12.
- the support plate 32 b and the prism 14 c can be rotated with respect to the bottom plate 31 c of the housing 12 by the rotation mechanism 36.
- a plurality of indentations 343 are formed on the lower surface of the top plate 34 c of the housing 12.
- the plurality of indentations 343 includes two indentations.
- a part of each of the two springs 33 is located inside the recess 343.
- a plurality of pins 332 are respectively located inside the spring 33, and a part of each pin 332 is embedded in the pin hole 371 of the prism holder 37.
- the side wall 12d of the housing 12 defines the distance of the top plate 34c with respect to the bottom plate 31c. Further, the side wall 12d of the housing 12 fixes the posture of the top plate 34c so that the top plate 34c does not rotate with respect to the bottom plate 31c.
- the bottom plate 31c corresponds to a first element in the present disclosure.
- the top plate 34c corresponds to the fourth element in the present disclosure.
- the side wall 12d corresponds to a sixth element in the present disclosure.
- the other points are the same as in the third embodiment. Similar to the third embodiment, also in the fourth embodiment, the responsiveness of the rotation control of the prism 14c can be improved.
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Abstract
狭帯域化モジュールは、第1の面内でレーザ光を屈折させるプリズムと、第1の面内でレーザ光を分散させるグレーティングと、を備え、レーザ光を狭帯域化する。狭帯域化モジュールは、第1の要素、回転機構、第2の要素、第3の要素、及び第4の要素を含み、第2の要素は、第1の要素と第4の要素との間で第1の要素に支持されており、回転機構は、第1の面と交差する軸を中心に第2の要素を第1の要素に対して回転させるように構成されており、プリズムは、第2の要素と第4の要素との間に位置し、回転機構によって第2の要素とともに回転するように第2の要素に支持されており、第3の要素は、弾性を有し、プリズムと第4の要素との間に圧縮状態で位置しており、第4の要素は、圧縮状態の第3の要素から反力を受けており、第2の要素は、回転機構による回転方向において第4の要素から機械的に独立している。
Description
本開示は、狭帯域化モジュールに関する。
半導体集積回路の微細化、高集積化につれて、半導体露光装置においては解像力の向上が要請されている。半導体露光装置を以下、単に「露光装置」という。このため露光用光源から出力される光の短波長化が進められている。露光用光源には、従来の水銀ランプに代わってガスレーザ装置が用いられている。現在、露光用のガスレーザ装置としては、波長248nmの紫外線を出力するKrFエキシマレーザ装置ならびに、波長193nmの紫外線を出力するArFエキシマレーザ装置が用いられている。
現在の露光技術としては、露光装置側の投影レンズとウエハ間の間隙を液体で満たして、当該間隙の屈折率を変えることによって、露光用光源の見かけの波長を短波長化する液浸露光が実用化されている。ArFエキシマレーザ装置を露光用光源として用いて液浸露光が行われた場合は、ウエハには水中における波長134nmの紫外光が照射される。この技術をArF液浸露光という。ArF液浸露光はArF液浸リソグラフィーとも呼ばれる。
KrF、ArFエキシマレーザ装置の自然発振におけるスペクトル線幅は約350~400pmと広いため、露光装置側の投影レンズによってウエハ上に縮小投影されるレーザ光(紫外線光)の色収差が発生して解像力が低下する。そこで色収差が無視できる程度となるまでガスレーザ装置から出力されるレーザ光のスペクトル線幅を狭帯域化する必要がある。スペクトル線幅はスペクトル幅とも呼ばれる。このためガスレーザ装置のレーザ共振器内には狭帯域化素子を有する狭帯域化モジュール(Line Narrow Module)が設けられ、この狭帯域化モジュールによりスペクトル幅の狭帯域化が実現されている。なお、狭帯域化素子はエタロンやグレーティング等であってもよい。このようにスペクトル幅が狭帯域化されたレーザ装置を狭帯域化レーザ装置という。
本開示の1つの観点に係る狭帯域化モジュールは、第1の面内でレーザ光を屈折させるプリズムと、第1の面内でレーザ光を分散させるグレーティングと、を備え、レーザ光を狭帯域化する。狭帯域化モジュールは、第1の要素、回転機構、第2の要素、第3の要素、及び第4の要素を含み、第2の要素は、第1の要素と第4の要素との間で第1の要素に支持されており、回転機構は、第1の面と交差する軸を中心に第2の要素を第1の要素に対して回転させるように構成されており、プリズムは、第2の要素と第4の要素との間に位置し、回転機構によって第2の要素とともに回転するように第2の要素に支持されており、第3の要素は、弾性を有し、プリズムと第4の要素との間に圧縮状態で位置しており、第4の要素は、圧縮状態の第3の要素から反力を受けており、第2の要素は、回転機構による回転方向において第4の要素から機械的に独立している。
本開示の他の1つの観点に係る狭帯域化モジュールは、第1の面内でレーザ光を屈折させるプリズムと、第1の面内でレーザ光を分散させるグレーティングと、を備え、レーザ光を狭帯域化する。狭帯域化モジュールは、第1の要素、回転機構、第2の要素、第3の要素、第4の要素、及び第5の要素を含み、第2の要素は、第1の要素と第4の要素との間で第1の要素に支持されており、回転機構は、第1の面と交差する軸を中心に第2の要素を第1の要素に対して回転させるように構成されており、プリズムは、第2の要素と第4の要素との間に位置し、回転機構によって第2の要素とともに回転するように第2の要素に支持されており、第3の要素は、弾性を有し、プリズムと第4の要素との間に圧縮状態で位置しており、第4の要素は、圧縮状態の第3の要素から反力を受けており、第5の要素は、第2の要素に固定されており、第4の要素は、第5の要素の一部を受け入れる穴を有し、穴と、穴の内部における第5の要素との間に、回転機構による回転方向に隙間が存在する。
本開示の他の1つの観点に係る狭帯域化モジュールは、第1の面内でレーザ光を屈折させるプリズムと、第1の面内でレーザ光を分散させるグレーティングと、を備え、レーザ光を狭帯域化する。狭帯域化モジュールは、第1の要素、回転機構、第2の要素、第3の要素、第4の要素、及び第6の要素を含み、第2の要素は、第1の要素と第4の要素との間で第1の要素に支持されており、回転機構は、第1の面と交差する軸を中心に第2の要素を第1の要素に対して回転させるように構成されており、プリズムは、第2の要素と第4の要素との間に位置し、回転機構によって第2の要素とともに回転するように第2の要素に支持されており、第3の要素は、弾性を有し、プリズムと第4の要素との間に圧縮状態で位置しており、第4の要素は、圧縮状態の第3の要素から反力を受けており、第6の要素は、第1の要素と第4の要素とにそれぞれ固定されている。
本開示のいくつかの実施形態を、単なる例として、添付の図面を参照して以下に説明する。
図1は、比較例に係る狭帯域化モジュールを含むレーザ装置の構成を模式的に示す。
図2は、比較例に係る狭帯域化モジュールを含むレーザ装置の構成を模式的に示す。
図3は、比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの構成を拡大して示す斜視図である。
図4は、比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの平面図である。
図5A~図5Cは、比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。
図6は、比較例におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。
図7A~図7Cは、第1の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。
図8は、第1の実施形態におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。
図9A~図9Cは、第2の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。
図10は、第3の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の側面図である。
図11は、第3の実施形態におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。
図12A及び図12Bは、第4の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。
<内容>
1.比較例
1.1 レーザ装置の構成
1.1.1 レーザチャンバ
1.1.2 狭帯域化モジュール
1.1.3 出力結合ミラー
1.2 動作
1.3 ホルダの詳細
1.4 課題
2.上プレートを回転方向にフリーに支持したホルダ
2.1 構成
2.2 作用
3.段付きボルトの代替構成
4.高頭ボルトを第1のプレートに固定したホルダ
4.1 構成
4.2 作用
5.筐体と一体化したホルダ
6.その他
1.比較例
1.1 レーザ装置の構成
1.1.1 レーザチャンバ
1.1.2 狭帯域化モジュール
1.1.3 出力結合ミラー
1.2 動作
1.3 ホルダの詳細
1.4 課題
2.上プレートを回転方向にフリーに支持したホルダ
2.1 構成
2.2 作用
3.段付きボルトの代替構成
4.高頭ボルトを第1のプレートに固定したホルダ
4.1 構成
4.2 作用
5.筐体と一体化したホルダ
6.その他
以下、本開示の実施形態について、図面を参照しながら詳しく説明する。以下に説明される実施形態は、本開示のいくつかの例を示すものであって、本開示の内容を限定するものではない。また、各実施形態で説明される構成及び動作の全てが本開示の構成及び動作として必須であるとは限らない。なお、同一の構成要素には同一の参照符号を付して、重複する説明を省略する。
1.比較例
1.1 レーザ装置の構成
図1及び図2は、比較例に係る狭帯域化モジュールを含むレーザ装置の構成を模式的に示す。比較例におけるレーザ装置は、レーザチャンバ10と、一対の放電電極11a及び11bと、狭帯域化モジュール14と、出力結合ミラー15と、を含んでいる。レーザ装置は、さらに、ビームスプリッタ22と、波長モニタ46と、制御部47と、ドライバ48と、を含んでいる。狭帯域化モジュール14と出力結合ミラー15とが、光共振器を構成する。レーザチャンバ10は、光共振器の光路に配置されている。レーザ装置は、図示しない露光装置に入射させるレーザ光を出力するマスターオシレータである。
1.1 レーザ装置の構成
図1及び図2は、比較例に係る狭帯域化モジュールを含むレーザ装置の構成を模式的に示す。比較例におけるレーザ装置は、レーザチャンバ10と、一対の放電電極11a及び11bと、狭帯域化モジュール14と、出力結合ミラー15と、を含んでいる。レーザ装置は、さらに、ビームスプリッタ22と、波長モニタ46と、制御部47と、ドライバ48と、を含んでいる。狭帯域化モジュール14と出力結合ミラー15とが、光共振器を構成する。レーザチャンバ10は、光共振器の光路に配置されている。レーザ装置は、図示しない露光装置に入射させるレーザ光を出力するマスターオシレータである。
図1においては、一対の放電電極11a及び11bの間の放電方向に略平行な方向からみたレーザ装置の内部構成が示されている。図2においては、一対の放電電極11a及び11bの間の放電方向に略垂直で、且つ、出力結合ミラー15から出力されるレーザ光の進行方向に略垂直な方向からみたレーザ装置の内部構成が示されている。出力結合ミラー15から出力されるレーザ光の進行方向を、Z方向とする。一対の放電電極11a及び11bの間の放電方向を、V方向とする。これらの両方に垂直な方向を、H方向とする。-V方向は、重力の方向とほぼ一致している。
1.1.1 レーザチャンバ
レーザチャンバ10は、レーザ媒質としてのレーザガスが封入されるチャンバである。レーザガスは、例えばレアガスとしてアルゴンガス又はクリプトンガス、ハロゲンガスとしてフッ素ガス、バッファガスとしてネオンガス等を含む。レーザチャンバ10の両端にはウインドウ10a及び10bが設けられている。レーザチャンバ10は、ホルダ20によって支持されている。
レーザチャンバ10は、レーザ媒質としてのレーザガスが封入されるチャンバである。レーザガスは、例えばレアガスとしてアルゴンガス又はクリプトンガス、ハロゲンガスとしてフッ素ガス、バッファガスとしてネオンガス等を含む。レーザチャンバ10の両端にはウインドウ10a及び10bが設けられている。レーザチャンバ10は、ホルダ20によって支持されている。
一対の放電電極11a及び11bは、レーザ媒質を放電により励起するための電極として、レーザチャンバ10内に配置されている。一対の放電電極11a及び11bには、図示しないパルスパワーモジュールからパルス状の高電圧が印加される。
図1に示されるように、ウインドウ10a及び10bは、これらのウインドウに対する光の入射面とHZ面とが略平行となり、かつ、この光の入射角度が略ブリュースター角となるように配置されている。
1.1.2 狭帯域化モジュール
狭帯域化モジュール14は、少なくとも1つのプリズムと、グレーティング14eと、ホルダ16a~16eと、筐体12とを含んでいる。少なくとも1つのプリズムは、4つのプリズム14a~14dを含む。
4つのプリズム14a~14dの各々は、フッ化カルシウムの結晶で構成されている。4つのプリズム14a~14dの各々は、ビームが通過する2つの面18及び19を有している。面18を通過するビームが面18に対して非垂直となり、面19を通過するビームが面19に対して略垂直となるように、これらのプリズムが配置されている。面18においては、ビームが屈折し、面19においては、ビームの屈折が抑制される。面18には、P偏光の反射を抑制する膜がコーティングされている。面19には、光の反射を抑制する膜がコーティングされている。グレーティング14eは、表面に高反射率の材料を含み、多数の溝が所定間隔で形成されたエシェールグレーティングである。
狭帯域化モジュール14は、少なくとも1つのプリズムと、グレーティング14eと、ホルダ16a~16eと、筐体12とを含んでいる。少なくとも1つのプリズムは、4つのプリズム14a~14dを含む。
4つのプリズム14a~14dの各々は、フッ化カルシウムの結晶で構成されている。4つのプリズム14a~14dの各々は、ビームが通過する2つの面18及び19を有している。面18を通過するビームが面18に対して非垂直となり、面19を通過するビームが面19に対して略垂直となるように、これらのプリズムが配置されている。面18においては、ビームが屈折し、面19においては、ビームの屈折が抑制される。面18には、P偏光の反射を抑制する膜がコーティングされている。面19には、光の反射を抑制する膜がコーティングされている。グレーティング14eは、表面に高反射率の材料を含み、多数の溝が所定間隔で形成されたエシェールグレーティングである。
筐体12は、プリズム14a~14d及びグレーティング14eを収容している。プリズム14aはホルダ16aに支持され、プリズム14bはホルダ16bに支持され、プリズム14cはホルダ16cに支持され、プリズム14dはホルダ16dに支持され、グレーティング14eはホルダ16eに支持されている。
プリズム14cを支持するホルダ16cは、下プレート31と、支持プレート32と、回転機構36と、を含む。筐体12に下プレート31が固定されている。支持プレート32に、プリズム14cが支持されている。回転機構36は、後述するように、レバー361及び筐体40(図1参照)と、軸受362(図2参照)とを含む。レバー361は、筐体12の側壁を貫通しており、レバー361の先端は筐体40の内部に位置している。軸受362は、下プレート31と支持プレート32との間に位置し、下プレート31に支持されている。
筐体12は、光路管21aによってレーザチャンバ10に接続されている。光路管21aの内部と筐体12の内部とは連通するようになっている。筐体12には、光路管21aから離れた位置に不活性ガス導入管12c(図1参照)が接続されている。光路管21aには、不活性ガス排出管21c(図2参照)が接続されている。不活性ガスが、不活性ガス導入管12cから筐体12の内部及び光路管21aの内部に導入され、不活性ガス排出管21cから排出される。このようにして不活性ガスが筐体12の内部及び光路管21aの内部にパージされる。
1.1.3 出力結合ミラー
出力結合ミラー15は、筐体13に収容されている。出力結合ミラー15は、筐体13の内部で、ホルダ17によって支持されている。出力結合ミラー15の表面には、部分反射膜がコーティングされている。
出力結合ミラー15は、筐体13に収容されている。出力結合ミラー15は、筐体13の内部で、ホルダ17によって支持されている。出力結合ミラー15の表面には、部分反射膜がコーティングされている。
筐体13は、光路管21bによってレーザチャンバ10に接続されている。光路管21bの内部と筐体13の内部とは連通するようになっている。光路管21b又は筐体13には図示しない不活性ガス導入管及び不活性ガス排出管が接続されている。光路管21bの内部及び筐体13の内部には、不活性ガスがパージされる。
ビームスプリッタ22は、出力結合ミラー15から出力されたレーザ光の光路に配置されている。ビームスプリッタ22には、レーザ光の一部を反射し、他の一部を透過させる部分反射膜がコーティングされている。
ビームスプリッタ22によって反射されたレーザ光の光路に、波長モニタ46が配置されている。波長モニタ46は、図示しないエタロン等の分光器と、図示しないイメージセンサとを含む。
ビームスプリッタ22によって反射されたレーザ光の光路に、波長モニタ46が配置されている。波長モニタ46は、図示しないエタロン等の分光器と、図示しないイメージセンサとを含む。
1.2 動作
一対の放電電極11a及び11b間に高電圧が印加されると、一対の放電電極11a及び11b間に放電が起こる。この放電のエネルギーにより、レーザチャンバ10内のレーザ媒質が励起されて高エネルギー準位に移行する。励起されたレーザ媒質が、その後低エネルギー準位に移行するとき、そのエネルギー準位差に応じた波長の光を放出する。
一対の放電電極11a及び11b間に高電圧が印加されると、一対の放電電極11a及び11b間に放電が起こる。この放電のエネルギーにより、レーザチャンバ10内のレーザ媒質が励起されて高エネルギー準位に移行する。励起されたレーザ媒質が、その後低エネルギー準位に移行するとき、そのエネルギー準位差に応じた波長の光を放出する。
レーザチャンバ10内で発生した光は、ウインドウ10a及び10bを介してレーザチャンバ10の外部に出射する。レーザチャンバ10のウインドウ10aから出射した光は、プリズム14a~14dによってHZ面内で屈折させられることにより、H方向のビーム幅を拡大させられて、グレーティング14eに入射する。
プリズム14a~14dからグレーティング14eに入射した光は、グレーティング14eの複数の溝によって反射されるとともに、光の波長に応じた方向に回折させられる。これにより、グレーティング14eの複数の溝によって反射された光はHZ面内で分散させられる。グレーティング14eは、プリズム14a~14dからグレーティング14eに入射する光の入射角と、所望波長の回折光の回折角とが一致するようにリトロー配置されている。これにより、所望波長付近の光がプリズム14a~14dを介してレーザチャンバ10に戻される。
プリズム14a~14dは、グレーティング14eからの回折光のH方向のビーム幅を縮小させるとともに、その光を、ウインドウ10aを介して、レーザチャンバ10内に戻す。
出力結合ミラー15は、レーザチャンバ10のウインドウ10bから出射した光のうちの一部を透過させて出力し、他の一部を反射させてレーザチャンバ10内に戻す。
このようにして、レーザチャンバ10から出射した光は、狭帯域化モジュール14と出力結合ミラー15との間で往復し、放電電極11a及び11bの間の放電空間を通過する度に増幅される。この光は、狭帯域化モジュール14で折り返される度に狭帯域化される。さらに、上述したウインドウ10a及び10bの配置とプリズム14a~14dのコーティングとによって、H方向の偏光成分が選択される。こうして増幅された光が、出力結合ミラー15からレーザ光として出力される。このレーザ光は、真空紫外域の波長を有する。
ビームスプリッタ22は、出力結合ミラー15から出力されたレーザ光の一部を高い透過率で透過させ、他の一部を反射する。ビームスプリッタ22を透過したレーザ光は、例えば、図示しない露光装置に入射する。ビームスプリッタ22によって反射されたレーザ光は、波長モニタ46に含まれる図示しない分光器に入射する。分光器は、レーザ光の干渉縞を、波長モニタ46に含まれる図示しないイメージセンサの受光面に形成する。イメージセンサは、干渉縞の画像データを生成し、この画像データを制御部47に送信する。
制御部47は、図示しない露光装置の制御部から目標波長のデータを受信する。また、制御部47は、波長モニタ46から画像データを受信し、この画像データに基づいて、レーザ光の波長を計算する。制御部47は、目標波長のデータと計算されたレーザ光の波長とに基づいて、ドライバ48に制御信号を送信する。ドライバ48は、制御部47から制御信号を受信する。ドライバ48は、制御信号に基づいて、回転機構36に駆動信号を送信する。
回転機構36は、ドライバ48からの駆動信号に従って、回転機構36に含まれるレバー361を図1の時計回り又は反時計回りに回転させる。レバー361が回転すると、HZ面に垂直な軸を中心として、支持プレート32が下プレート31に対して回転し、これによりプリズム14cがHZ面内で回転する。プリズム14cが回転させられてプリズム14cの姿勢が調整されることにより、グレーティング14eへの光の入射角が調整され、発振波長が調整される。
1.3 ホルダの詳細
図3は、上述の比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの構成を拡大して示す斜視図である。図4は、比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの平面図である。但し、筐体40及びプランジャ41については断面を示す。図5A~図5Cは、比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図5Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図5Bは、図4のVB-VB線断面に相当する。図5Cは、図4のVC-VC線断面に相当する。但し、図5A及び図5Bにおいて、ボルト類の全部又は一部については断面ではなく表面を示す。
図3は、上述の比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの構成を拡大して示す斜視図である。図4は、比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの平面図である。但し、筐体40及びプランジャ41については断面を示す。図5A~図5Cは、比較例におけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図5Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図5Bは、図4のVB-VB線断面に相当する。図5Cは、図4のVC-VC線断面に相当する。但し、図5A及び図5Bにおいて、ボルト類の全部又は一部については断面ではなく表面を示す。
ホルダ16cは、上述の下プレート31と、回転機構36と、支持プレート32とを含む。ホルダ16cは、さらに、複数のバネ33(図5A~図5C参照)と、上プレート34と、複数の高頭ボルト351と、プリズム押さえ37と、を含む。
回転機構36は、回転プレート360(図5A及び図5B参照)を含む。回転プレート360は、上述の軸受362の内側で回転できるように支持されている。回転プレート360の上面には、上述の支持プレート32が固定されている。回転プレート360には、上述のレバー361(図1、図3及び図4参照)が固定されている。レバー361の第1の端部は回転プレート360に固定されている。レバー361の第2の端部は上述の筐体40の内部に位置する。筐体40は下プレート31に固定されている。図示を省略するが、レバー361の第1の端部と第2の端部とは軸受362の下方で繋がっている。以上の構成により、レバー361は、回転プレート360と一体で回転することができる。
回転機構36は、さらに、プランジャ41と、自動マイクロメータ43と、圧電素子45とを含む。プランジャ41及び自動マイクロメータ43は、筐体40に取り付けられている。プランジャ41は、バネ42と、ねじ46と、を含む。自動マイクロメータ43は、マイクロメータヘッド44を含む。圧電素子45は、筐体40の内部において、レバー361に取り付けられている。マイクロメータヘッド44は、筐体40の内部で、圧電素子45に接触している。マイクロメータヘッド44とプランジャ41との間に、圧電素子45とレバー361とが位置している。
支持プレート32は、肉厚部321(図5B、図5C参照)と、突起部322とを含む。支持プレート32には、バネ324等の弾性部材が取り付けられている。支持プレート32には、複数のボルト穴320が形成されている。肉厚部321における支持プレート32の厚さは他の部分における支持プレート32の厚さよりも大きくなっており、肉厚部321と他の部分との間に段差部が形成されている。この段差部にプリズム14cの第1の面が接し、さらに、突起部322にプリズムの第2の面が接するように、支持プレート32にプリズム14cが載せられる。これにより、支持プレート32に対してプリズム14cが位置決め及び支持される。プリズム14cの第1の面は、例えば図1を参照しながら説明した面18であり、プリズム14cの第2の面は、例えば図1を参照しながら説明した面19である。
バネ324の第1の端部は支持部325によって支持プレート32に固定されている。バネ324の第2の端部とプリズム14cの第3の面との間には、押圧部材323が配置されている。バネ324は、押圧部材323を介してプリズム14cの第3の面を押圧している。これにより、支持プレート32の段差部にプリズム14cの第1の面が押し付けられ、突起部322にプリズム14cの第2の面が押し付けられる。
複数の高頭ボルト351は、2つの高頭ボルトを含む。高頭ボルト351は、頭部の長さが長いボルトである。高頭ボルト351の頭部の一部には、スパナをかけるための略平行な2面(図示せず)が形成されるように切削加工されている。
図5Bに示されるように、2つの高頭ボルト351の各々は、その下端のネジ部が支持プレート32のボルト穴320にねじ込まれて、支持プレート32に固定されている。高頭ボルト351の上端には、ボルト穴350が形成されている。ボルト穴350には、ボルト352がねじ込まれて固定されている。高頭ボルト351の上端と、ボルト352の頭部との間に、上プレート34が挟まれて固定されている。2つの高頭ボルト351は、支持プレート32と上プレート34との間の距離を規定する。2つの高頭ボルト351の間に、プリズム14cが位置している。
上プレート34は、その両端付近にそれぞれ貫通孔を有しており、上プレート34の両端が、それぞれ貫通孔を貫通したボルト352によって高頭ボルト351に固定されている。
図5Aに示されるように、上プレート34の中心付近には複数の貫通孔342が形成されている。複数の貫通孔342は、2つの貫通孔を含む。上プレート34の下面には、複数の貫通孔342とそれぞれ重なる位置に、くぼみ341が形成されている。くぼみ341の内径は、貫通孔342の内径より大きい。
プリズム押さえ37は、プリズム14cの上面に接して配置されている。プリズム押さえ37には複数のボルト穴370が形成されている。複数のボルト穴370は2つのボルト穴を含む。
複数のバネ33は、2つのバネを含む。2つのバネ33は、それぞれ弾性を有し、プリズム押さえ37と上プレート34との間に圧縮状態で配置されている。2つのバネ33の各々の一部が、くぼみ341の内部に位置している。圧縮状態のバネ33は、プリズム押さえ37を介してプリズム14cを下方に押圧している。上プレート34は、圧縮状態のバネ33によって上方向に反力を受けている。複数のボルト331が、それぞれ、貫通孔342とバネ33とを貫通し、プリズム押さえ37のボルト穴370にねじ込まれている。これにより、バネ33がくぼみ341から外れないようになっている。なお、ボルト331の頭部を除いた軸部の外径は、貫通孔342の内径よりも小さいので、貫通孔342の位置がボルト331の位置を厳密に規定することはないようになっている。
上述の自動マイクロメータ43は、ドライバ48からの駆動信号に従って、マイクロメータヘッド44をレバー361の現在位置へ向かう方向に押し出し、あるいはその逆方向に退避させる。マイクロメータヘッド44をレバー361の現在位置へ向かう方向に押し出すと、レバー361が図4の反時計周りに回転し、プランジャ41のバネ42が圧縮される。マイクロメータヘッド44をレバー361の現在位置から離れる方向に退避させると、圧縮されたバネ42の復元力により、レバー361が図4の時計周りに回転する。ねじ46を回すことにより、バネ42の復元力を調整できる。
圧電素子45は、ドライバ48からの駆動信号に従って伸縮する。自動マイクロメータ43を駆動したときと同様に、圧電素子45の伸縮により、レバー361が回転する。自動マイクロメータ43は、圧電素子45と比べて、ストロークが大きく振動数が小さい動きに適しており、圧電素子45は、自動マイクロメータ43と比べて、ストロークが小さく振動数が大きい動きに適している。レバー361は、少なくとも、回転プレート360、支持プレート32、プリズム14c、高頭ボルト351、及び上プレート34と一体的に回転する。
1.4 課題
図6は、上述の比較例におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。図6の横軸はホルダ16cの回転機構36に送信される駆動信号の周波数を示す。図6の縦軸はプリズム14cの回転制御のゲインを示す。ここで、ゲインとは、ホルダ16cの回転機構36に送信される駆動信号の振幅に対するプリズム14cの回転角度を示す振幅の比率を測定し、デシベルに換算した値である。
図6は、上述の比較例におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。図6の横軸はホルダ16cの回転機構36に送信される駆動信号の周波数を示す。図6の縦軸はプリズム14cの回転制御のゲインを示す。ここで、ゲインとは、ホルダ16cの回転機構36に送信される駆動信号の振幅に対するプリズム14cの回転角度を示す振幅の比率を測定し、デシベルに換算した値である。
図6に示されるように、駆動信号の周波数が0Hzから500Hz付近までの帯域においては、ゲインはほぼ1となっている。すなわち、比較的低頻度の制御においては、駆動信号の振幅に対してプリズム14cの回転角度がほぼ忠実に対応しているので、良好な制御状態と言える。
しかしながら、駆動信号の周波数が500Hzを超えると、ゲインが1dBより高くなる場合がある。この状態は、駆動信号の振幅に対して、プリズム14cの回転角度が過大となっている状態である。例えば、プリズム14c及びホルダ16cを構成するいずれか1つの部品の固有振動数、あるいはそれらの2つ以上を組み合わせた構成要素の固有振動数に対して、駆動信号の周波数がほぼ一致し、又はほぼ整数倍となり、共振が発生していると考えられる。
さらに、駆動信号の周波数が1500Hzを超えると、ゲインが1dBより低くなる場合がある。この状態は、駆動信号の振幅に対して、プリズム14cの回転角度が過小となっている状態であり、非共振と呼ばれる。
さらに、駆動信号の周波数が2500Hzを超えると、ゲインが1dBより高くなる場合がある。2500Hzを超える帯域においても共振が発生していると考えられる。
さらに、駆動信号の周波数が2500Hzを超えると、ゲインが1dBより高くなる場合がある。2500Hzを超える帯域においても共振が発生していると考えられる。
このように、プリズム14cの姿勢を高頻度で調整するときに、共振又は非共振が発生すると、制御の応答性が悪化し、プリズム14cの姿勢を高精度で調整することが困難になる。その結果、パルスレーザ光の波長を高精度で制御することが困難になり、波長の安定性が損なわれる場合がある。
以下に説明する実施形態においては、例えば、上プレート34を回転方向にフリーに支持することにより、共振又は非共振を抑制し、高精度な波長制御を実現する。
2.上プレートを回転方向にフリーに支持したホルダ
2.1 構成
図7A~図7Cは、第1の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図7Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図7Bは、図4のVB-VB線断面に相当する。図7Cは、図4のVC-VC線断面に相当する。但し、図7A及び図7Bにおいて、ボルト類の全部又は一部については断面ではなく表面を示す。
2.1 構成
図7A~図7Cは、第1の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図7Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図7Bは、図4のVB-VB線断面に相当する。図7Cは、図4のVC-VC線断面に相当する。但し、図7A及び図7Bにおいて、ボルト類の全部又は一部については断面ではなく表面を示す。
第1の実施形態に係る狭帯域化モジュールは、高頭ボルト353及び段付きボルト354を含む支柱35aによって上プレート34aを支持する構造が上述の比較例と異なる。他の点については比較例と同様である。本開示においては、図1~図4に示される構成と同様の構成については、図1~図4を参照しながら実施形態を説明することがある。
高頭ボルト353は、その下端のネジ部が支持プレート32のボルト穴320にねじ込まれて、支持プレート32に固定されている。段付きボルト354は、上端の頭部と下端のネジ部との間に肩部を有するボルトである。高頭ボルト353の上端に形成されたボルト穴350に、段付きボルト354のネジ部がねじ込まれて固定されている。
上プレート34aの両端付近にそれぞれ貫通孔340が形成されている。貫通孔340の内径は、高頭ボルト353の頭部の外径より小さく、段付きボルト354の頭部の外径より小さい。さらに、貫通孔340の内径は、段付きボルト354の肩部の外径より大きい。貫通孔340の貫通方向に垂直な断面は、円形状でなくてもよく、回転プレート360の回転方向に長い長円形状であってもよい。少なくとも、回転プレート360の回転方向における貫通孔340の内径が、回転プレート360の回転方向における段付きボルト354の肩部の外径より大きいことが望ましい。あるいは、貫通孔340と、貫通孔340に差し込まれた段付きボルト354の肩部との間に、少なくとも回転プレート360の回転方向に隙間が存在することが望ましい。これにより、段付きボルト354は、貫通孔340の内部で、上プレート34aに対して相対的に動くことができる。特に、段付きボルト354は、上プレート34aに対して、回転プレート360の回転方向に動くことができる。但し、上プレート34aは、バネ33によって上方向に反力を受け、上プレート34aの貫通孔340の周囲の上面が段付きボルト354の頭部に押し付けられている。従って、2つの高頭ボルト353と、2つの段付きボルト354とで、支持プレート32と上プレート34aとの間の距離が規定される。
下プレート31は、本開示における第1の要素に相当する。支持プレート32は、本開示における第2の要素に相当する。バネ33は、本開示における第3の要素に相当する。上プレート34aは、本開示における第4の要素に相当する。高頭ボルト353及び段付きボルト354を含む支柱35aは、本開示における第5の要素に相当する。ここでは、第1~第5の要素がそれぞれ互いに別の部材である場合について説明したが、本開示はこれに限定されない。例えば、支持プレート32と支柱35aとは一体の部材であってもよい。すなわち、第2の要素と第5の要素とは一体の部材であってもよい。
第1の実施形態における上プレート34a、高頭ボルト353、段付きボルト354は、上述の点以外の点については、それぞれ、比較例における上プレート34、高頭ボルト351、ボルト352と同様である。
2.2 作用
以上の構成によれば、プリズム14c、支持プレート32、回転プレート360、及び支柱35aが、上プレート34aから機械的に独立している。すなわち、段付きボルト354の肩部の外径と貫通孔340の内径との間の寸法差の範囲内で、プリズム14c等が上プレート34aに対して独立して動くことができる。例えば、静止しているプリズム14cの回転を開始する場合に、上プレート34aは慣性により静止した状態で、プリズム14cが回転を始めることが可能である。従って、比較例においてプリズム14cと上プレート34とを一体的に回転させる場合に比べて、第1の実施形態においては、プリズム14cの回転制御の応答性を改善することができる。
以上の構成によれば、プリズム14c、支持プレート32、回転プレート360、及び支柱35aが、上プレート34aから機械的に独立している。すなわち、段付きボルト354の肩部の外径と貫通孔340の内径との間の寸法差の範囲内で、プリズム14c等が上プレート34aに対して独立して動くことができる。例えば、静止しているプリズム14cの回転を開始する場合に、上プレート34aは慣性により静止した状態で、プリズム14cが回転を始めることが可能である。従って、比較例においてプリズム14cと上プレート34とを一体的に回転させる場合に比べて、第1の実施形態においては、プリズム14cの回転制御の応答性を改善することができる。
なお、段付きボルト354を基準として上プレート34aに作用する慣性力が、段付きボルト354の頭部と上プレート34aの上面との摩擦力より小さい場合には、上プレート34aは段付きボルト354と一体的に回転する。
慣性力は、プリズム押さえ37にも作用する。プリズム14cを基準としてプリズム押さえ37に作用する慣性力が、プリズム14cの上面とプリズム押さえ37の下面との摩擦力より小さい場合には、プリズム押さえ37はプリズム14cと一体的に回転する。逆に、プリズム14cを基準としてプリズム押さえ37に作用する慣性力が、プリズム14cの上面とプリズム押さえ37の下面との摩擦力より大きい場合には、プリズム押さえ37に対してプリズム14cは独立して動くことができる。
図8は、第1の実施形態におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。図8には、比較例との対比のために、比較例における周波数特性(図6参照)も破線で示されている。
図8に示されるように、第1の実施形態においては、周波数が2500Hz以上、3000Hz以下の帯域で、ゲインが1dBを超える共振状態はほぼ見られなくなっている。プリズム14c等が上プレート34aから機械的に独立したことにより、この帯域での共振が低減されたものと考えられる。
また、第1の実施形態においては、周波数が2000Hz以上、3000Hz以下の帯域においては、ゲインが約0.6dBから約1.0dBまでの範囲で安定している。レーザ光の波長の計測結果に基づく圧電素子45の駆動は、周波数2000Hz以上、3000Hz以下で行われることがある。第1の実施形態は、周波数2000Hz以上、3000Hz以下でプリズム14cを回転制御する場合に、特に大きな効果を発揮する。
3.段付きボルトの代替構成
図9A~図9Cは、第2の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図9Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図9Bは、図4のVB-VB線断面に相当する。図9Cは、図4のVC-VC線断面に相当する。但し、図9A及び図9Bにおいて、ボルト類の全部又は一部については断面ではなく表面を示す。
第1の実施形態における段付きボルト354の代わりに、第2の実施形態に係る狭帯域化モジュールは、ボルト355及びナット356が用いられている。
図9A~図9Cは、第2の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図9Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図9Bは、図4のVB-VB線断面に相当する。図9Cは、図4のVC-VC線断面に相当する。但し、図9A及び図9Bにおいて、ボルト類の全部又は一部については断面ではなく表面を示す。
第1の実施形態における段付きボルト354の代わりに、第2の実施形態に係る狭帯域化モジュールは、ボルト355及びナット356が用いられている。
上プレート34aの両端付近にそれぞれ形成された貫通孔340の内径は、ボルト355の頭部を除いた軸部の外径より大きい。貫通孔340の貫通方向に垂直な断面は、円形状でなくてもよく、回転プレート360の回転方向に長い長円形状であってもよい。少なくとも、回転プレート360の回転方向における貫通孔340の内径が、回転プレート360の回転方向におけるボルト355の軸部の外径より大きいことが望ましい。あるいは、貫通孔340と、貫通孔340に差し込まれたボルト355の軸部との間に、少なくとも回転プレート360の回転方向に隙間が存在することが望ましい。これにより、ボルト355は、貫通孔340の内部で、上プレート34aに対して相対的に動くことができる。
ボルト355は、ナット356にねじ込まれ、さらに、高頭ボルト353の上端に形成されたボルト穴350にねじ込まれている。ボルト355がボルト穴350に所定深さまでねじ込まれた状態でナット356を締めることにより、ボルト穴350に対するボルト355の位置が固定される。これにより、支持プレート32と上プレート34aとの間の距離が規定される。高頭ボルト353とボルト355とナット356とを含む支柱35bは、本開示における第5の要素に相当する。
他の点については、第1の実施形態と同様である。
他の点については、第1の実施形態と同様である。
4.高頭ボルトを第1のプレートに固定したホルダ
4.1 構成
図10は、第3の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の側面図である。図10においてプリズム14c及びホルダ16cを見る方向は、図5Cにおいてプリズム14c及びホルダ16cを見る方向と同様である。
4.1 構成
図10は、第3の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の側面図である。図10においてプリズム14c及びホルダ16cを見る方向は、図5Cにおいてプリズム14c及びホルダ16cを見る方向と同様である。
比較例における下プレート31、支持プレート32、上プレート34、及び高頭ボルト351の代わりに、第3の実施形態においては、下プレート31b、支持プレート32b、上プレート34b、及び高頭ボルト357が用いられている。
比較例における上プレート34の長さに比べて、第3の実施形態における上プレート34bの長さが大きい。比較例における高頭ボルト351の長さに比べて、第3の実施形態における高頭ボルト357の長さが大きい。比較例の支持プレート32に形成されているボルト穴320は、第3の実施形態の支持プレート32bにおいては形成されていない。その代わりに、第3の実施形態の下プレート31bには図示しないボルト穴が形成されている。高頭ボルト357の下端のネジ部は、支持プレート32bには固定されずに、下プレート31bのボルト穴にねじ込まれて、下プレート31bに固定されている。
高頭ボルト357の上端に形成された図示しないボルト穴には、ボルト352がねじ込まれて固定されている。高頭ボルト357の上端と、ボルト352の頭部との間に、上プレート34bが挟まれて固定されている。2つの高頭ボルト357は、下プレート31bと上プレート34bとの間の距離を規定する。さらに、下プレート31bに対して上プレート34bが回転しないように、2つの高頭ボルト357が、上プレート34bの姿勢を固定している。
上プレート34bには、貫通孔342(図5A参照)及びくぼみ341(図5A参照)が形成されている。これらの構成、及びボルト331、バネ33等の構成については、上述の比較例と同様である。
レバー361は、少なくとも、回転プレート360、支持プレート32b、及びプリズム14cと一体的に回転する。上プレート34b及び高頭ボルト357はいずれも回転しないので、プリズム14c等は上プレート34b及び高頭ボルト357から機械的に独立している。
プリズム14cを基準としてプリズム押さえ37に作用する慣性力が、プリズム14cの上面とプリズム押さえ37の下面との摩擦力より小さい場合には、プリズム押さえ37はプリズム14cと一体的に回転する。逆に、プリズム14cを基準としてプリズム押さえ37に作用する慣性力が、プリズム14cの上面とプリズム押さえ37の下面との摩擦力より大きい場合には、プリズム押さえ37に対してプリズム14cは独立して動くことができる。
下プレート31bは、本開示における第1の要素に相当する。支持プレート32bは、本開示における第2の要素に相当する。上プレート34bは、本開示における第4の要素に相当する。高頭ボルト357及びボルト352を含む支柱35cは、本開示における第6の要素に相当する。ここでは、第1~第4の要素及び第6の要素がそれぞれ互いに別の部材である場合について説明したが、本開示はこれに限定されない。例えば、下プレート31bと支柱35cとは一体の部材であってもよい。すなわち、第1の要素と第6の要素とは一体の部材であってもよい。また、例えば、上プレート34bと支柱35cとは一体の部材であってもよい。すなわち、第4の要素と第6の要素とは一体の部材であってもよい。下プレート31bと上プレート34bと支柱35cとが一体の部材であってもよい。すなわち、第1の要素と第4の要素と第6の要素とは一体の部材であってもよい。
他の点については、上述の比較例と同様である。
他の点については、上述の比較例と同様である。
4.2 作用
図11は、第3の実施形態におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。図11には、第1の実施形態との対比のために、第1の実施形態における周波数特性(図8参照)も破線で示されている。
図11は、第3の実施形態におけるプリズム14cの回転制御の周波数特性を示すゲイン線図である。図11には、第1の実施形態との対比のために、第1の実施形態における周波数特性(図8参照)も破線で示されている。
図11に示されるように、第3の実施形態においては、周波数が1500Hz付近の帯域でのゲインが1dBより小さい非共振状態がほぼ見られなくなっている。上プレート34b及び高頭ボルト357が下プレート31bに対して固定されたことにより、この帯域での非共振が低減されたものと考えられる。これによれば、高い応答性が得られる周波数帯域幅が、第1の実施形態よりもさらに拡大する。従って、プリズム14cの回転制御の応答性を改善することができる。
5.筐体と一体化したホルダ
図12A及び図12Bは、第4の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図12Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図12Bは、図4のVC-VC線断面に相当する。
図12A及び図12Bは、第4の実施形態に係る狭帯域化モジュールにおけるプリズム14c及びホルダ16cの一部の断面図である。図12Aは、図4のVA-VA線断面に相当する。図12Bは、図4のVC-VC線断面に相当する。
第3の実施形態における下プレート31b及び上プレート34bの代わりに、第4の実施形態においては、筐体12の底板31c及び筐体12の天板34cが用いられている。第3の実施形態における高頭ボルト357は、第4の実施形態においては用いられていない。
筐体12は、図1及び図2を参照しながら説明した筐体12と同様の構成を有している。筐体12の底板31cは、筐体12の下面を規定し、筐体12の天板34cは、筐体12の上面を規定する。筐体12の天板34cは、筐体12の上蓋でもよい。
支持プレート32b及びプリズム14cは、回転機構36により、筐体12の底板31cに対して回転することができる。
支持プレート32b及びプリズム14cは、回転機構36により、筐体12の底板31cに対して回転することができる。
筐体12の天板34cの下面には、複数のくぼみ343が形成されている。複数のくぼみ343は、2つのくぼみを含む。2つのバネ33の各々の一部が、くぼみ343の内部に位置している。複数のピン332が、それぞれバネ33の内側に位置し、それぞれのピン332の一部がプリズム押さえ37のピン穴371に埋め込まれている。これにより、バネ33がくぼみ343から外れないようになっている。
筐体12の側壁12dが、底板31cに対する天板34cの距離を規定している。さらに、底板31cに対して天板34cが回転しないように、筐体12の側壁12dが天板34cの姿勢を固定している。
筐体12の側壁12dが、底板31cに対する天板34cの距離を規定している。さらに、底板31cに対して天板34cが回転しないように、筐体12の側壁12dが天板34cの姿勢を固定している。
底板31cは、本開示における第1の要素に相当する。天板34cは、本開示における第4の要素に相当する。側壁12dは、本開示における第6の要素に相当する。
他の点については、第3の実施形態と同様である。第3の実施形態と同様に、第4の実施形態においても、プリズム14cの回転制御の応答性を改善することができる。
他の点については、第3の実施形態と同様である。第3の実施形態と同様に、第4の実施形態においても、プリズム14cの回転制御の応答性を改善することができる。
6.その他
上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図したものである。従って、添付の特許請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかであろう。
上記の説明は、制限ではなく単なる例示を意図したものである。従って、添付の特許請求の範囲を逸脱することなく本開示の実施形態に変更を加えることができることは、当業者には明らかであろう。
本明細書及び添付の特許請求の範囲全体で使用される用語は、「限定的でない」用語と解釈されるべきである。例えば、「含む」又は「含まれる」という用語は、「含まれるものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。「有する」という用語は、「有するものとして記載されたものに限定されない」と解釈されるべきである。また、本明細書及び添付の特許請求の範囲に記載される修飾句「1つの」は、「少なくとも1つ」又は「1又はそれ以上」を意味すると解釈されるべきである。
Claims (19)
- 第1の面内でレーザ光を屈折させるプリズムと、
前記第1の面内でレーザ光を分散させるグレーティングと、
を備え、レーザ光を狭帯域化する狭帯域化モジュールであって、
第1の要素、回転機構、第2の要素、第3の要素、及び第4の要素を含み、
前記第2の要素は、前記第1の要素と前記第4の要素との間で前記第1の要素に支持されており、
前記回転機構は、前記第1の面と交差する軸を中心に前記第2の要素を前記第1の要素に対して回転させるように構成されており、
前記プリズムは、前記第2の要素と前記第4の要素との間に位置し、前記回転機構によって前記第2の要素とともに回転するように前記第2の要素に支持されており、
前記第3の要素は、弾性を有し、前記プリズムと前記第4の要素との間に圧縮状態で位置しており、
前記第4の要素は、圧縮状態の前記第3の要素から反力を受けており、
前記第2の要素は、前記回転機構による回転方向において前記第4の要素から機械的に独立している、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
第5の要素をさらに含み、
前記第5の要素は、前記軸の方向における前記第2の要素と前記第4の要素との距離を規定するように構成された、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
第5の要素をさらに含み、
前記第5の要素は、前記第2の要素に固定されており、
前記第4の要素は、前記第5の要素の一部を受け入れる少なくとも1つの穴を有し、
前記穴に対して前記第5の要素が前記回転方向に移動可能である、狭帯域化モジュール。 - 請求項3に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第2の要素と前記第5の要素とは一体の部材である、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
第5の要素をさらに含み、
前記第5の要素は、前記第2の要素に固定されており、
前記第4の要素は、前記第5の要素の一部を受け入れる少なくとも1つの穴を有し、
前記穴と、前記穴の内部における前記第5の要素との間に、前記回転方向に隙間が存在する、狭帯域化モジュール。 - 請求項5に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第5の要素は、前記プリズムを挟んで位置する第1の支柱及び第2の支柱を含み、
前記少なくとも1つの穴は、前記第1の支柱の一部を受け入れる第1の穴と、前記第2の支柱を受け入れる第2の穴と、を含む、狭帯域化モジュール。 - 請求項6に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第1の支柱は、前記第2の要素に第1の端部が固定された第1のボルトと、前記第1の穴に挿入されて前記第1のボルトの第2の端部に固定された第2のボルトと、を含み、
前記第2の支柱は、前記第2の要素に第3の端部が固定された第3のボルトと、前記第2の穴に挿入されて前記第3のボルトの第4の端部に固定された第4のボルトと、を含む、狭帯域化モジュール。 - 請求項7に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第2のボルトは前記第1のボルトの頭部の径よりも小径の肩部を有する段付きボルトであり、前記第4のボルトは前記第3のボルトの頭部の径よりも小径の肩部を有する段付きボルトである、狭帯域化モジュール。 - 請求項7に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第2のボルトは前記第4の要素の前記第1の穴の周囲に接する第1の頭部を有し、
前記第4のボルトは前記第4の要素の前記第2の穴の周囲に接する第2の頭部を有する、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記回転機構は、
前記第1の要素と前記第2の要素との間に位置する回転プレートと、
前記回転プレートを前記軸と異なる位置で前記回転方向に押す圧電素子と、
を含む、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第2の要素は、
前記プリズムの側面の一部が接する段差部と、
前記プリズムを前記段差部に押し付ける弾性部材と、
を含む、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
プリズム押さえをさらに含み、
前記プリズム押さえは、前記プリズムと前記第3の要素との間に位置する、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
第6の要素をさらに含み、
前記第6の要素は、前記第1の要素と前記第4の要素とにそれぞれ固定されている、狭帯域化モジュール。 - 請求項13に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第1の要素と前記第6の要素とは一体の部材である、狭帯域化モジュール。 - 請求項13に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記第4の要素と前記第6の要素とは一体の部材である、狭帯域化モジュール。 - 請求項1に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記プリズムを収容する筐体を含み、
前記第1の要素は前記筐体の一部であり、前記第4の要素は前記筐体の別の一部である、狭帯域化モジュール。 - 第1の面内でレーザ光を屈折させるプリズムと、
前記第1の面内でレーザ光を分散させるグレーティングと、
を備え、レーザ光を狭帯域化する狭帯域化モジュールであって、
第1の要素、回転機構、第2の要素、第3の要素、第4の要素、及び第5の要素を含み、
前記第2の要素は、前記第1の要素と前記第4の要素との間で前記第1の要素に支持されており、
前記回転機構は、前記第1の面と交差する軸を中心に前記第2の要素を前記第1の要素に対して回転させるように構成されており、
前記プリズムは、前記第2の要素と前記第4の要素との間に位置し、前記回転機構によって前記第2の要素とともに回転するように前記第2の要素に支持されており、
前記第3の要素は、弾性を有し、前記プリズムと前記第4の要素との間に圧縮状態で位置しており、
前記第4の要素は、圧縮状態の前記第3の要素から反力を受けており、
前記第5の要素は、前記第2の要素に固定されており、
前記第4の要素は、前記第5の要素の一部を受け入れる穴を有し、
前記穴と、前記穴の内部における前記第5の要素との間に、前記回転機構による回転方向に隙間が存在する、狭帯域化モジュール。 - 第1の面内でレーザ光を屈折させるプリズムと、
前記第1の面内でレーザ光を分散させるグレーティングと、
を備え、レーザ光を狭帯域化する狭帯域化モジュールであって、
第1の要素、回転機構、第2の要素、第3の要素、第4の要素、及び第6の要素を含み、
前記第2の要素は、前記第1の要素と前記第4の要素との間で前記第1の要素に支持されており、
前記回転機構は、前記第1の面と交差する軸を中心に前記第2の要素を前記第1の要素に対して回転させるように構成されており、
前記プリズムは、前記第2の要素と前記第4の要素との間に位置し、前記回転機構によって前記第2の要素とともに回転するように前記第2の要素に支持されており、
前記第3の要素は、弾性を有し、前記プリズムと前記第4の要素との間に圧縮状態で位置しており、
前記第4の要素は、圧縮状態の前記第3の要素から反力を受けており、
前記第6の要素は、前記第1の要素と前記第4の要素とにそれぞれ固定されている、狭帯域化モジュール。 - 請求項18に記載の狭帯域化モジュールであって、
前記プリズムを収容する筐体を含み、
前記第1の要素は前記筐体の一部であり、前記第4の要素は前記筐体の別の一部であり、前記第6の要素は前記筐体のさらに別の一部である、狭帯域化モジュール。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201780087905.9A CN110383606B (zh) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | 窄带化模块 |
PCT/JP2017/016482 WO2018198215A1 (ja) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | 狭帯域化モジュール |
JP2019514937A JP6856745B2 (ja) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | 狭帯域化モジュール |
US16/571,390 US10916910B2 (en) | 2017-04-26 | 2019-09-16 | Line narrowing module |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/016482 WO2018198215A1 (ja) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | 狭帯域化モジュール |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
US16/571,390 Continuation US10916910B2 (en) | 2017-04-26 | 2019-09-16 | Line narrowing module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
WO2018198215A1 true WO2018198215A1 (ja) | 2018-11-01 |
Family
ID=63918122
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
PCT/JP2017/016482 WO2018198215A1 (ja) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | 狭帯域化モジュール |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10916910B2 (ja) |
JP (1) | JP6856745B2 (ja) |
CN (1) | CN110383606B (ja) |
WO (1) | WO2018198215A1 (ja) |
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- 2017-04-26 WO PCT/JP2017/016482 patent/WO2018198215A1/ja active Application Filing
- 2017-04-26 JP JP2019514937A patent/JP6856745B2/ja active Active
- 2017-04-26 CN CN201780087905.9A patent/CN110383606B/zh active Active
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- 2019-09-16 US US16/571,390 patent/US10916910B2/en active Active
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN110383606B (zh) | 2021-11-09 |
CN110383606A (zh) | 2019-10-25 |
JP6856745B2 (ja) | 2021-04-14 |
US20200014168A1 (en) | 2020-01-09 |
US10916910B2 (en) | 2021-02-09 |
JPWO2018198215A1 (ja) | 2020-03-05 |
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Date | Code | Title | Description |
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121 | Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application |
Ref document number: 17907006 Country of ref document: EP Kind code of ref document: A1 |
|
ENP | Entry into the national phase |
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|
NENP | Non-entry into the national phase |
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|
122 | Ep: pct application non-entry in european phase |
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