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WO2009099183A1 - プローブ針およびその製造方法 - Google Patents

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Publication number
WO2009099183A1
WO2009099183A1 PCT/JP2009/052053 JP2009052053W WO2009099183A1 WO 2009099183 A1 WO2009099183 A1 WO 2009099183A1 JP 2009052053 W JP2009052053 W JP 2009052053W WO 2009099183 A1 WO2009099183 A1 WO 2009099183A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
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probe needle
manufacturing
grinding
metal wire
tip
Prior art date
Application number
PCT/JP2009/052053
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Fumihiko Yoshimura
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Toshiba
Toshiba Materials Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kabushiki Kaisha Toshiba, Toshiba Materials Co., Ltd. filed Critical Kabushiki Kaisha Toshiba
Priority to US12/866,397 priority Critical patent/US20100321057A1/en
Priority to JP2009552538A priority patent/JP5498173B2/ja
Publication of WO2009099183A1 publication Critical patent/WO2009099183A1/ja
Priority to US13/619,417 priority patent/US8888558B2/en

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    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B24—GRINDING; POLISHING
    • B24B—MACHINES, DEVICES, OR PROCESSES FOR GRINDING OR POLISHING; DRESSING OR CONDITIONING OF ABRADING SURFACES; FEEDING OF GRINDING, POLISHING, OR LAPPING AGENTS
    • B24B19/00—Single-purpose machines or devices for particular grinding operations not covered by any other main group
    • B24B19/16—Single-purpose machines or devices for particular grinding operations not covered by any other main group for grinding sharp-pointed workpieces, e.g. needles, pens, fish hooks, tweezers or record player styli
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733—Geometry aspects
    • G01R1/0675—Needle-like
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00—Metal working
    • Y10T29/49—Method of mechanical manufacture

Definitions

  • the present invention relates to a probe needle and a method for manufacturing the probe needle, in particular, during the bending process of the tip portion, and effectively suppressing breakage of the tip portion of the probe needle when used as a product, the product yield of the probe needle,
  • the present invention relates to a probe needle capable of greatly improving quality and durability and a method for manufacturing the probe needle.
  • a wafer test performed in a semiconductor integrated circuit wafer test process
  • a card is used, and a wafer test is performed in which the probe needle of the probe card is brought into contact with the semiconductor integrated circuit at a predetermined contact pressure to confirm conduction and confirm the normal operation of each circuit.
  • a metal material mainly composed of a tungsten-based material, a noble metal material, a noble metal alloy material or the like is generally widely used.
  • a high-strength and high-hardness rhenium tungsten (Re-W) containing about 1 to 30% by mass of rhenium is used.
  • the probe needle is made of various materials as described above, and a metal wire having a diameter of about 70 ⁇ m to 400 ⁇ m is cut to a length of about 30 mm to 100 mm, and its tip is sharply machined, and then shown in FIG. As described above, the probe needle 1 is processed into a predetermined shape having a bent portion 7 by bending near the distal end portion 2 and attached to the probe card. (For example, refer to Patent Document 1).
  • the bending process for forming into a predetermined shape is generally performed by applying a stress in the bending direction to the metal wire with the tip fixed, or by molding or the like. It has been implemented.
  • the diameter of the main part of the metal wire is several hundreds ⁇ m, the diameter of the needle-like part of the tip is processed to an extremely thin state of only a few tens of ⁇ m, so the metal wire is bent.
  • the needle-like processed portion is easily broken, the manufacturing yield in the probe needle bending process is likely to be lowered, and further, when it is incorporated and used in a probe card, it is broken in a short time. It is easy to cause a short life.
  • JP-A-6-50989 JP-A-6-50989
  • the present invention relates to a probe needle in which a tip portion of a metal wire is machined to form a taper portion, and a direction of a machining groove produced by machining in the taper portion of the tip portion of the probe needle and a length direction of the wire
  • the probe needle can be prevented from breaking during the probe needle bending process or when used as a product. It is an object of the present invention to provide a probe needle and a method for manufacturing the probe needle that can greatly improve the manufacturing yield, quality, and durability of the probe needle.
  • a probe needle according to the present invention is a probe needle in which a tip portion of a metal wire is machined to form a tapered portion, and a direction of forming a machining groove generated by machining of the tip portion and The angle formed by the length direction of the metal wire is 45 ° or less.
  • the surface roughness Ra of the tip portion of the probe needle is 5 ⁇ m or less.
  • the probe needle manufacturing method includes a preparation step of preparing a probe needle material by cutting a metal wire, and a processing step of forming a tapered portion by machining the tip portion of the probe needle material,
  • the machining is a grinding process in which the tip portion of the probe needle material is brought into contact with the grinding surface of the rotary grinding wheel, and the traveling direction of the grinding surface of the grinding wheel and the length direction of the metal wire are formed.
  • the angle is 45 degrees or less.
  • the traveling direction of the grinding surface of the grinding wheel and the length direction of the metal wire are substantially parallel.
  • the number of revolutions of the grinding wheel is 100 rpm or more and 20000 rpm or less.
  • the cutting speed of the grinding wheel with respect to the metal wire is 0.01 mm / sec or more and 5 mm / sec or less.
  • the mesh size of the abrasive grains contained in the grinding wheel it is preferable to adjust the mesh size of the abrasive grains contained in the grinding wheel to 120 or more and 2000 or less.
  • the grinding step is performed in a state where a grinding liquid is applied to the grinding surface of the metal wire.
  • the probe needle having the above configuration is preferably used for a probe card.
  • the invention's effect According to the probe needle and the manufacturing method thereof according to the present invention, it is possible to effectively suppress the breakage of the probe needle tip during the bending process of the tip of the probe needle or when used as a product, and manufacture of the probe needle. Yield, quality and durability can be greatly improved.
  • an angle formed by the forming direction of the machining groove generated by the machining of the tip portion and the length direction of the metal wire is 45. It is characterized by being less than or equal to the degree.
  • tungsten such as doped tungsten containing a small amount of aluminum, potassium, silicon or the like as a doping material, or rhenium tungsten (Re-W) containing about 30 to 30% by mass of rhenium.
  • a system material, a metal wire material made of a noble metal or an alloy thereof, and the like are preferably used.
  • the probe needle is made of the material as described above, a metal wire having a diameter of about 70 ⁇ m to 400 ⁇ m is cut into a length of about 30 mm to 100 mm, and the tip portion is subjected to machining such as grinding to obtain a tip portion. Is processed into a sharp shape.
  • the probe needle according to the present invention is characterized in that the angle formed by the machining groove generated at the tip and the length direction of the wire is 45 ° or less. On the surface of the probe needle generated by machining the tip, a fine recess is formed due to an impact load caused by the machining. Since the probe needle is formed into a predetermined shape after the tip is processed into a needle shape, a bending stress is applied to the wire wire with the tip fixed, or bending is performed by molding or the like. At the time of this bending process, the diameter of the main part of the wire wire is several hundred ⁇ m, whereas the diameter of the needle-like part at the tip is processed to an extremely thin state of only several tens of ⁇ m. There is a problem that a thin needle-like tip portion is likely to break due to a notch (notch) effect starting from a fine concave portion generated by machining.
  • the wire wire is bent and easily breaks starting from this concave portion.
  • the angle formed by the direction of the machining groove generated in the tip portion by machining and the length direction of the wire is set to 45 ° or less, so even when the concave portion exists on the surface, Since the forming direction exists in a direction that does not become a notch, it is possible to effectively suppress the breakage of the probe needle starting from the recess even when a pressure is applied by bending.
  • the angle formed by the forming direction of the processing groove at the tip and the length direction of the wire exceeds 45 °, the concave portion of the surface generated by processing is generated in a direction perpendicular to the bending direction.
  • the recess acts as a notch, and breakage due to the bending process tends to occur from the recess, which is not preferable.
  • the angle formed by the forming direction of the processing groove at the tip and the length direction of the wire is more preferably 20 degrees or less, and further preferably 5 degrees or less.
  • the surface roughness Ra of the tip of the probe needle according to the present invention is preferably 5 ⁇ m or less.
  • the surface roughness Ra is preferably 3 ⁇ m or less.
  • the probe needle according to the present invention is preferably manufactured by moving the grinding wheel relatively in a direction parallel to the length direction of the wire.
  • the tip of the probe needle is processed while rotating the wire in the circumferential direction.
  • the tip processing is preferably performed by grinding in order to reduce the surface roughness.
  • the grinding wheel is movable in a direction parallel to the length direction of the wire.
  • the parallel direction means that the moving direction of the grinding wheel is within 45 ° with respect to the length direction of the wire.
  • the probe needle according to the present invention is preferably manufactured by setting the traveling direction of the grinding surface of the grinding wheel in a direction parallel to the length direction of the wire.
  • the parallel direction means a direction in which the rotation direction of the grinding wheel is within 45 ° with respect to the length direction of the wire.
  • the number of revolutions of the grinding wheel is 100 (rpm) to 20000 (rpm). If the number of revolutions of the grinding wheel is less than 100 (rpm), the resistance of the probe needle for grinding increases, and the surface roughness increases, which is not preferable. On the other hand, when the rotational speed of the grinding wheel is 20000 (rpm) or more, the load on the machine increases, which is not preferable. A more preferable range of the rotation speed of the grinding wheel is 500 (rpm) or more and 5000 (rpm).
  • the cutting speed of the metal wire is preferably 0.01 mm / sec or more and 5 mm / sec or less.
  • the processing speed becomes slow and the manufacturing cost increases, which is not preferable.
  • the cutting speed of the metal wire exceeds 5 mm / sec, the cutting resistance increases, so that the roughness of the surface becomes rough and it is not preferable because it causes a recess.
  • the generated recess becomes deep and large.
  • a more preferable range of the wire cutting speed is 0.01 mm / sec or more and 1 mm / sec.
  • the mesh size of the abrasive grains contained in the grinding wheel used in the grinding process is preferably in the range of 120 or more and 2000 or less.
  • the mesh size of the abrasive grains is less than 120, the surface roughness becomes large, which is not preferable because it causes cracks.
  • the mesh size exceeds 2000, the workability deteriorates, so the processing speed becomes slow and the efficiency of the manufacturing process decreases, which is not preferable.
  • a more preferable range of the mesh size of the abrasive grains is 500 or more and 1500 or less.
  • the grinding process of the probe needle of the present invention is performed using a grinding fluid.
  • the grinding fluid it is possible to reduce the resistance to the wire wire in the grinding process, to suppress the occurrence of seizure, and to reduce the recesses generated on the surface.
  • grinding waste generated by grinding can be efficiently removed, the processing accuracy can be maintained over a long period even when continuous processing is performed.
  • the direction of the minute concave portion generated by the processing of the tip portion is substantially parallel to the length direction of the wire. It is possible to effectively reduce breakage starting from the recess at the time.
  • Such a probe needle improves the yield in the manufacturing process of the probe needle, has high quality and durability, and is suitably used for a probe card.
  • the wire diameter is 0.3 mm and the length is 50 mm.
  • the materials shown in Table 1 are tungsten (W) wire, rhenium tungsten (Re-W) wire, thorium tungsten (Th- W) Metal wires made of various materials such as wires, noble metals (gold, silver, platinum, ruthenium, rhodium, osmium, iridium) wires and noble metal alloy wires were prepared.
  • probe needle materials Using these metal wires (probe needle materials), a probe needle having a diameter of 5 ⁇ m at the tip of the needle and an opening angle of 3.3 ° from the tip was processed.
  • a rotary disk-type grinding wheel 5 as shown in FIG. 6 was used as a means for forming a tapered portion at the tip of the metal wire (probe needle material). That is, when the grinding wheel 5 is rotated while the tip of the probe needle material 6 is brought into contact with the surface of the rotary disk-type grinding wheel 5, the probe needle material 6 is rotated around the axis at the same time. Probe needles 1a, 1b, and 1d having truncated cone-shaped tip portions 3a, 3b, and 3d as shown in 1, 2, and 4 were prepared.
  • the probe needle 1a shown in FIG. 1 has an angle formed by the direction of the processed groove 4a and the length direction C of the wire of 90 degrees, and corresponds to Comparative Examples 1 to 4.
  • the probe needle 1b shown in FIG. 2 has an angle formed by the direction of the processed groove 4b and the length direction C of the wire of 45 degrees, which corresponds to the first embodiment.
  • the probe needles 1c and 1d shown in FIGS. 3 and 4 have an angle formed by the direction of the processing grooves 4c and 4d and the length direction C of the wire of 5 degrees or less, and correspond to Examples 3 to 12.
  • the tip portion is fixed to a 30 ⁇ m hole and subjected to bending stress by applying a bending stress, as shown in FIG.
  • the bent portion 7 was formed in the vicinity of the tip portion 2. Then, the incidence of defects due to breakage was measured and evaluated during the bending process, and the results shown in Table 1 below were obtained.
  • the probe needles according to the respective examples in which the angle formed by the forming direction of the machining groove 4 and the length direction C of the wire was 45 degrees or less were generated by grinding. It was confirmed that since the processing groove 4 was not greatly displaced with respect to the length direction C of the wire, or both directions were substantially parallel, breakage during the bending process was reduced and the quality was greatly improved.
  • the probe needle and the manufacturing method thereof according to the present invention it is possible to effectively suppress the breakage of the probe needle tip during the bending process of the tip of the probe needle or when used as a product, and manufacture of the probe needle. Yield, quality and durability can be greatly improved.

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Abstract

　先端部が折り曲がり形状を有するプローブ針の先端の機械加工を実施した際に発生する加工溝の方向を、金属ワイヤの長さ方向に対して４５°以下の角度または略平行とすることにより、プローブカードに用いられるプローブ針の先端部分の折り曲げ加工時に発生する加工表面に存在する凹部を起点とした破断による歩留まり低下を抑制する。

Description

プローブ針およびその製造方法
　本発明はプローブ針およびその製造方法に係り、特に先端部の折り曲げ加工工程中や、製品として用いられている際のプローブ針の先端部の破断を効果的に抑制し、プローブ針の製品歩留り、品質および耐久性を大幅に向上させることができるプローブ針およびその製造方法に関する。
　従来から半導体集積回路のウエハテスト工程で実施される電気試験（以下、ウエハテストと称す）においては、例えば直径が５０μｍ～３００μｍの針状に加工されたタングステン系材料から成るプローブ針を装着したプローブカードが用いられ、このプローブカードのプローブ針を半導体集積回路に所定の接触圧力で接触させることによって導通を確認し、各回路の正常動作を確認するウエハテストが実施されている。
　上記プローブ針の構成材としては、主にタングステン系材料、貴金属材料、貴金属合金材料等から成る金属材が一般に広く用いられ、特にアルミニウム、カリウム、シリコン等をドープ材として微量に含有するドープタングステンや１～３０質量％程度のレニウムを含有する、高強度・高硬度なレニウムタングステン（Ｒｅ－Ｗ）などが用いられている。
　上記プローブ針は、上記のような各種材料から成り、直径が７０μｍ～４００μｍ程度の金属ワイヤを３０ｍｍ～１００ｍｍ程度の長さに切断し、その先端部を尖鋭に機械加工した後、図５に示すようにプローブ針１の先端部２付近の折り曲げ加工によって曲折部７を有する所定形状に加工され、プローブカードに装着されている。（例えば、特許文献１参照）。
　上記のように先端部を研削加工した後に、所定形状に成形するための折り曲げ加工は、一般的に先端部を固定した状態で金属線に曲げ方向の応力を付加したり、金型成形などにより実施されている。しかしながら、金属線の本体部分の径が数百μｍであるのに対して、先端部の針状部分の径は僅か数十μｍという極端に細い状態に加工されているため、金属ワイヤの折り曲げ加工の際に、この針状加工部分で破断し易く、プローブ針の折り曲げ加工工程における製造歩留りの低下が起こり易く、さらにはプローブカードに組み込まれて使用されている際に短時間での破断が起こり易く寿命が短いなどの原因となっている。
特開平６－５０９８９号公報
発明の開示
　本発明は、金属ワイヤの先端部を機械加工してテーパ部を形成したプローブ針において、プローブ針の先端部のテーパ部に機械加工によって生じた加工溝の方向とワイヤの長さ方向とが成す角度を４５度からほぼゼロ度の範囲にし、好ましくは両方向が略平行とすることにより、プローブ針の折り曲げ加工工程中や、製品として使用されている際のプローブ針の破断を抑制し、プローブ針の製造歩留り、品質および耐久性を大幅に向上させることを可能とするプローブ針およびその製造方法を提供することを目的とするものである。
　上記目的を達成するために、本発明に係るプローブ針は、金属ワイヤの先端部を機械加工してテーパ部を形成したプローブ針において、上記先端部の機械加工によって発生した加工溝の形成方向と金属ワイヤの長さ方向とが成す角度が４５°以下であることを特徴とするものである。
　また上記プローブ針において、プローブ針の先端部の表面粗さＲａが５μｍ以下であることが好ましい。
　本発明に係るプローブ針の製造方法は、金属ワイヤを切断してプローブ針素材を調製する調製工程と、このプローブ針素材の先端部を機械加工してテーパ部を形成する加工工程とを備え、上記機械加工は上記プローブ針素材の先端部を回転式研削砥石の研削面に当接させて研削する研削加工であり、上記研削砥石の研削面の走行方向と金属ワイヤの長さ方向とが成す角度を４５度以下とすることを特徴とする。
　また、上記プローブ針の製造方法において、前記研削砥石の研削面の走行方向と金属ワイヤの長さ方向とがほぼ平行であることが好ましい。
　さらに、上記プローブ針の製造方法において、前記研削砥石の回転数が１００ｒｐｍ以上２００００ｒｐｍ以下であることが好ましい。
　また、上記プローブ針の製造方法において、前記金属ワイヤに対する研削砥石の切り込み速度が０．０１ｍｍ／ｓｅｃ以上５ｍｍ／ｓｅｃ以下であることが好ましい。
　さらに上記プローブ針の製造方法において、前記研削砥石に含有される砥粒のメッシュサイズを１２０以上２０００以下に調整することが好ましい。
　また、上記プローブ針の製造方法において、前記金属ワイヤの研削面に研削液を塗布した状態で研削工程を実施することが好ましい。
　上記のような構成を有するプローブ針はプローブカードに好適に用いられる。
[発明の効果]
　本発明に係るプローブ針およびその製造方法によれば、プローブ針の先端の折り曲げ加工工程中や、製品として用いられている際のプローブ針先端部の破断を効果的に抑制でき、プローブ針の製造歩留り、品質および耐久性を大幅に向上させることができる。
　以下、本発明について詳細に説明する。
　本発明は、金属ワイヤの先端部を機械加工してテーパ部を形成したプローブ針において、上記先端部の機械加工によって発生した加工溝の形成方向と金属ワイヤの長さ方向とが成す角度が４５度以下であることを特徴とするものである。
　プローブ針を構成する材料としては、一般的にアルミニウム、カリウム、シリコン等をドープ材として微量に含有するドープタングステン、１～３０質量％程度のレニウムを含有するレニウムタングステン（Ｒｅ－Ｗ）等のタングステン系素材や、貴金属やその合金から成る金属ワイヤ素材等が好適に用いられている。上記プローブ針は、上記のような材料から成り、径が７０μｍ～４００μｍ程度の金属ワイヤを３０ｍｍ～１００ｍｍ程度の長さに切断し、その先端部に研削などの機械加工を実施することにより先端部を尖鋭形状に加工する。
　本発明に係るプローブ針は、先端部に発生した加工溝とワイヤの長さ方向とが成す角度が４５°以下であることを特徴としている。先端部の機械加工により生じるプローブ針の表面には、加工による衝撃負荷によって微細な凹部が形成されてしまう。プローブ針は先端を針状に加工した後、所定形状に成形するため、先端を固定した状態でワイヤ線材に曲げ方向の応力を付加したり、金型成形などにより折り曲げ加工が実施される。この折り曲げ加工の際、ワイヤ線の本体部分の径が数百μｍであるのに対して、先端の針状部分の径は僅か数十μｍという極端に細い状態に加工されているため、前記した機械加工によって生じた微細な凹部を起点として細い針状の先端部分がノッチ（切欠）効果により破断し易い問題がある。
　この凹部が折り曲げ加工方向に対して略垂直方向に発生していると、ワイヤ線が折り曲げられることに伴いこの凹部を起点として破断し易い。本発明に係るプローブ針は機械加工により先端部分に生じる加工溝の方向とワイヤの長さ方向とが成す角度を４５°以下としているため、表面に凹部が存在している場合においても、凹部の形成方向が切欠とならない方向に存在するため、折り曲げ加工による圧力を負荷した場合でも凹部を起点としたプローブ針の破断を効果的に抑制することが可能となる。
　先端部の加工溝の形成方向とワイヤの長さ方向とが成す角度が４５°を超える場合、加工によって生じた表面の凹部が折り曲げ方向に対して垂直方向に発生している状態となるため、凹部が切欠として作用し、凹部を起点として折り曲げ加工による破断が発生し易くなり、好ましくない。上記先端部の加工溝の形成方向とワイヤの長さ方向とが成す角度は、より好ましくは、２０度以下が好ましく、さらには５度以下がさらに好ましい。
　本発明に係るプローブ針の先端部の表面粗さＲａは５μｍ以下であることが好ましい。表面粗さＲａが５μｍを超えると先端部表面において発生した機械加工による凹部が大きい状態となり、先端部の折り曲げ加工による破断が発生しやすくなるため、好ましくない。表面粗さＲａは好ましくは３μｍ以下である。
　本発明に係るプローブ針は研削砥石がワイヤの長さ方向に対して平行な方向に相対的に移動することにより製造されることが好ましい。通常プローブ針の先端加工は、ワイヤを周方向に回転しながら加工を行う。先端加工は表面粗さを小さくするために研削加工により実施されることが好ましい。
　さらに、研削砥石がワイヤの長さ方向に対して平行な方向に移動自在であることが好ましい。ここで、平行な方向とは、ワイヤの長さ方向に対して、研削砥石の移動方向が４５°以内の方向であることをいう。このような方向で研削砥石が移動することにより、先端部に生じる加工溝がワイヤの長さ方向に対して４５°以内の略平行な方向となり、表面に発生した凹部の方向が折り曲げ方向に平行な方向となり、折り曲げ加工時の凹部を起点とした破断を低減することが可能となる。
　本発明に係るプローブ針は研削砥石の研削面の走行方向がワイヤの長さ方向に対して平行な方向に設定されることにより製造されることが好ましい。ここで、平行な方向とは、ワイヤの長さ方向に対して研削砥石の回転方向が４５°以内となる方向であることをいう。このような方向で研削砥石が回転することにより、先端部に生じる加工溝がワイヤの長さ方向に対して４５°以内の略平行な方向となり、表面に発生した凹部の方向が折り曲げ方向に平行な方向となるため、折り曲げ加工時の凹部を起点とした破断を低減することが可能となる。
　本発明に係るプローブ針の製造方法においては、研削砥石の回転数が１００（ｒｐｍ）以上２００００（ｒｐｍ）以下であることが好ましい。研削砥石の回転数が１００（ｒｐｍ）未満であると、プローブ針の研削加工の抵抗が大きくなり、表面粗さが大きくなるため好ましくない。一方、研削砥石の回転数が２００００（ｒｐｍ）以上である場合は、機械への負荷が大きくなるため、好ましくない。研削砥石の回転数のより好ましい範囲は５００（ｒｐｍ）以上５０００（ｒｐｍ）である。
　本発明に係るプローブ針の製造方法においては、金属ワイヤの切り込み速度が０．０１ｍｍ／ｓｅｃ以上５ｍｍ／ｓｅｃ以下であることが好ましい。金属ワイヤの切り込み速度が０．０１ｍｍ／ｓｅｃ未満であると、加工速度が遅くなり、製造コストを増大させるため好ましくない。一方、金属ワイヤの切り込み速度が５ｍｍ／ｓｅｃを越える場合は切削抵抗が増大するため、表面の粗さが粗くなり、凹部を発生させる原因となり好ましくない。また、発生した凹部が深く大きくなる。ワイヤの切り込み速度のより好ましい範囲は、０．０１ｍｍ／ｓｅｃ以上１ｍｍ／ｓｅｃである。
　また、研削工程で使用される研削砥石に含有される砥粒のメッシュサイズは１２０以上２０００以下の範囲であることが好ましい。砥粒のメッシュサイズが１２０未満の場合は、表面粗さが大きくなり、亀裂を発生させる原因となり好ましくない。一方、メッシュサイズが２０００を越えると、加工性が低下するため、加工スピードが遅くなり、製造工程の効率を低下させるため好ましくない。砥粒のメッシュサイズのより好ましい範囲は、５００以上１５００以下である。
　さらに、本発明のプローブ針の研削工程においては、研削液を使用して行うことが好ましい。研削液を使用することにより、研削工程のワイヤ線に対する抵抗を低減することが可能となり、焼き付きなどの発生を抑え、表面に発生する凹部を低減することが可能となる。また、研削により発生した研削屑を効率よく除去することができるため、連続加工を実施した場合においても、加工精度を長期間に亘り維持することが可能となる。
　以上のような本発明に係るプローブ針およびその製造方法によれば、先端部の加工によって生じた微細な凹部の方向がワイヤの長さ方向と略平行となるため、プローブ針の先端の折り曲げ加工時における、凹部を起点とした破断を効果的に低減することが可能となる。このようなプローブ針は、プローブ針の製造工程における歩留りを向上させ、高い品質および耐久性を有し、プローブカードに好適に用いられる。
従来のプローブ針の先端部の加工後における表面状態を示す側面図である。 本発明方法によって形成した一実施例に係るプローブ針の表面状態を示す側面図である。 本発明方法によって形成した他の実施例に係るプローブ針の表面状態を示す側面図である。 本発明方法によって形成したその他の実施例に係るプローブ針の表面状態を示す側面図である。 本発明方法によって先端部を加工した後に、先端部近傍で曲折したプローブ針の外形を示す斜視図である。 本発明方法によって回転式研削装置を使用して先端部を加工している状態を示す斜視図である。
　次に本発明の実施形態について以下の実施例および比較例に基づき、具体的に説明する。
（実施例１～１２および比較例１～４）
　プローブ針を加工するために、線径が０．３ｍｍであり長さが５０ｍｍであり、表１に示す材質であるタングステン（Ｗ）ワイヤ，レニウムタングステン（Ｒｅ－Ｗ）ワイヤ，トリウムタングステン（Ｔｈ－Ｗ）ワイヤ，貴金属（金、銀、白金、ルテニウム、ロジウム、オスミウム、イリジウム）ワイヤならびに貴金属合金ワイヤなど各種材質から成る金属ワイヤを用意した。
　これらの金属ワイヤ（プローブ針素材）を用いて針部の先端部の径が５μｍであり、先端部からの開き角度が３．３°のプローブ針を加工した。
　上記金属ワイヤ（プローブ針素材）の先端部にテーパ部を形成する手段として、図６に示すような回転式円盤型研削砥石５を使用した。すなわち、回転式円盤型研削砥石５の表面にプローブ針素材６の先端部を当接せしめた状態で、研削砥石５を回転させると同時に、プローブ針素材６を軸周りに回転することにより、図１,２,４に示すような円錐台形状でテーパ状の先端部３ａ、３ｂ,３ｄを有するプローブ針１ａ、１ｂ、１ｄを調製した。
　一方、研削砥石５は回転させるが、プローブ針素材６を軸周りに回転させずに、先端部の３ｃの４つの傾斜した平面のみを研削して図３に示すような四角錘台形状でテーパ状の先端部３ｃを有するプローブ針１ｃを調製することもできる。
　ここで上記研削加工において、図６に示すように、研削砥石５の研削面の走行方向Ｇと金属ワイヤ（プローブ針素材）の長さ方向Ｃとの成す角度θを変化させることにより、先端部３に発生した加工溝４a、４ｂ、４ｃ、４ｄの方向とワイヤの長さ方向Ｃとが成す角度θを表１に示した角度に調整した。
　図１に示すプローブ針１ａは、加工溝４ａの方向とワイヤの長さ方向Ｃとが成す角度が９０度であり、比較例１～４に相当する。
　図２に示すプローブ針１ｂは、加工溝４ｂの方向とワイヤの長さ方向Ｃとが成す角度が４５度であり、実施例１に相当する。
　図３、４に示すプローブ針１ｃ、１ｄは、加工溝４ｃ、４ｄの方向とワイヤの長さ方向Ｃとが成す角度が５度以下であり、実施例３～１２に相当する。
　このように調製した各実施例および比較例に係るプローブ針１について、先端部を３０μｍの孔に固定し、曲げ応力を負荷することにより、先端部近傍で折り曲げ加工を実施し、図５に示すように、先端部２の近傍で曲折部７を形成した。そして、上記折り曲げ加工の際に破断による不良の発生率を測定評価して下記表１に示す結果を得た。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
　上記表１に示す結果から明らかなように、加工溝４の形成方向とワイヤの長さ方向Ｃとが成す角度を４５度以下とした各実施例に係るプローブ針においては、研削加工により発生した加工溝４がワイヤの長さ方向Ｃに対して大きく変位せず、または両方向が略平行であるため、折り曲げ加工時の破断が低減され、品質が大幅に向上したことが確認された。
　本発明に係るプローブ針およびその製造方法によれば、プローブ針の先端の折り曲げ加工工程中や、製品として用いられている際のプローブ針先端部の破断を効果的に抑制でき、プローブ針の製造歩留り、品質および耐久性を大幅に向上させることができる。

Claims (8)

  1. 金属ワイヤの先端部を機械加工してテーパ部を形成したプローブ針において、上記先端部の機械加工によって発生した加工溝の形成方向と金属ワイヤの長さ方向とが成す角度が４５度以下であることを特徴とするプローブ針。
  2. 請求項１記載のプローブ針において、先端部の表面粗さＲａが５μｍ以下であることを特徴とするプローブ針。
  3. 請求項１または請求項２のいずれか１項に記載のプローブ針の製造方法であって、
    金属ワイヤを切断してプローブ針素材を調製する調製工程と、このプローブ針素材の先端部を機械加工してテーパ部を形成する加工工程とを備え、上記機械加工は上記プローブ針素材の先端部を回転式研削砥石の研削面に当接させて研削する研削加工であり、上記研削砥石の研削面の走行方向と金属ワイヤの長さ方向とが成す角度を４５度以下とすることを特徴とするプローブ針の製造方法。
  4. 請求項３に記載のプローブ針の製造方法において、前記研削砥石の研削面の走行方向と金属ワイヤの長さ方向とがほぼ平行であることを特徴とするプローブ針の製造方法。
  5. 請求項３または請求項４に記載のプローブ針の製造方法において、前記研削砥石の回転数が１００ｒｐｍ以上２００００ｒｐｍ以下であることを特徴とするプローブ針の製造方法。
  6. 請求項３ないし請求項５のいずれか１項に記載のプローブ針の製造方法において、前記金属ワイヤに対する研削砥石の切り込み速度が０．０１ｍｍ／ｓｅｃ以上５ｍｍ／ｓｅｃ以下であることを特徴とするプローブ針の製造方法。
  7. 請求項３ないし請求項６のいずれか１項に記載のプローブ針の製造方法において、前記研削砥石に含有される砥粒のメッシュサイズが１２０以上２０００以下に調整することを特徴とするプローブ針の製造方法。
  8. 請求項３ないし請求項７のいずれか１項に記載のプローブ針の製造方法において、前記金属ワイヤの研削面に研削液を塗布した状態で研削工程を実施することを特徴とするプローブ針の製造方法。
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