TWI408375B - 電流測量裝置以及電腦系統 - Google Patents

Description

電流測量裝置以及電腦系統

本發明係有關於一種電腦系統，特別是有關於一種可測量一負載裝置的電流量的電腦系統。

在現有的電流測量技術中，通常係利用電流計或電流勾表測量流經一負載單元的電流量。在使用電流計時，需將電流計串聯負載單元。電流計根據流經本身的電流量，告知流經負載單元的電流量。若使用電流勾表測量電流時，需將電流勾表圍繞負載單元。電流勾表根據所感應到的電流磁場，推出流經待測物的電流量。

然而，不論是利是電流計或電流勾表測量電流，均需改變負載單元原本的連接關係。在習知的做法中，係先拔除負載單元，再將負載單元與電流測量裝置(電流計或電流勾表)相連接。在測量過後，需先移除負載單元與電流測量裝置的連接，再回復負載單元與其它元件之間的連接關係。因此，將造成電流測量時間大幅地增加。

另外，在負載單元的拔除或是回復的過程中，很有可能會使得負載單元與其它元件形成異常的連接關係，如不正常的短路(short)或開路(open)。因此，測試人員需再花費時間，對負載單元進行除錯(debug)的程序。

本發明提供一種電流測量裝置，用以測量流經一第一負載單元的電流量。電流測量裝置包括，一第一阻抗單元、一第一偵測單元以及一處理單元。第一阻抗單元具有一第一輸入端以及一第一輸出端。第一輸入端接收一輸入電壓。第一輸出端與第一負載單元耦接於一第一節點。第一偵測單元根據輸入電壓與第一節點的電壓，產生一第一偵測信號。處理單元處理第一偵測信號，用以得知流經第一負載單元之電流量。

本發明另提供一種電腦系統，包括一第一負載裝置以及一電流測量裝置。第一負載裝置具有一第一負載單元。電流測量裝置測量流經該第一負載單元的電流量，並包括一第一阻抗單元、一第一偵測單元以及一處理單元。第一阻抗單元具有一第一輸入端以及一第一輸出端。第一輸入端接收一輸入電壓。第一輸出端與第一負載單元耦接於一第一節點。第一偵測單元根據輸入電壓與第一節點的電壓，產生一第一偵測信號。處理單元處理第一偵測信號，用以得知流經第一負載裝置之電流量。

為讓本發明之特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉出較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

第1圖係為本發明之電腦系統之示意圖。如圖所示，電腦系統100包括，負載裝置110、電流測量裝置130以及處理裝置150。負載裝置110具有負載單元111。電流測量裝置130用以測量流經負載單元111的電流量，並將測量後的結果傳送至處理裝置150。處理裝置150根據電流測量裝置130的測量結果，執行一特定動作。稍後將詳細說明特定動作。

在本實施例中，電流測量裝置130透過傳輸介面171，與負載裝置110進行測量信號的傳送，然後再透過傳輸介面191，與處理裝置150進行測量結果的傳送。本發明並不限制傳輸介面171與191的種類。傳輸介面171與191可為通用序列匯流排(Universal Serial Bus；USB)介面、電路內部整合電路滙流排(Inter-Integrated Circuit Bus；I2C Bus)介面、或是其它匯流排介面。在一可能實施例中，傳輸介面171與191可為不同種類的傳輸介面。

在本實施例中，負載裝置110係透過傳輸介面172、192以及電流測量裝置130，與處理裝置150進行信號傳送，其中所傳送的信號與測量信號無關。在其它實施例中，負載裝置110可僅透過單一傳輸介面(不透過電流測量裝置130)，直接地與處理裝置150進行資料傳輸。

本發明並不限定傳輸介面172與192的種類。在一可能實施例中，傳輸介面172與192均為一週邊裝置元件互連(Peripheral Component Interconnect；PCI)介面，但並非用以限制本發明。在其它可能實施例中，傳輸介面172與192可為相同或不同的介面。

如圖所示，電流測量裝置130與負載裝置110各自獨立於不同的電路板。在一可能實施例中，電流測量裝置130可整合於負載裝置110之中，亦即電流測量裝置130與負載裝置110設置在同一電路板。在其它實施例中，負載裝置110、電流測量裝置130與處理裝置150設置在同一電路板。

本發明並不限定負載裝置110的種類。在一可能實施例中，負載裝置110係為一顯示卡(Video Graphics Array；VGA)，或是其它週邊裝置。以顯示卡為例，顯示卡一般具有許多元件，每一元件均可作為負載單元111。在本實施例中，負載單元111可為顯示卡的繪圖處理器(Graphic Processing Unit；GPU)或/及記憶體。由於顯示卡為本領域人士所深知，故不再贅述顯示卡的動作原理。

處理裝置150根據電流測量裝置130的測量結果，執行一特定動作，如顯示流經負載單元111的電流量，或是調整負載裝置110或負載單元111的操作頻率等等。本發明並不限制處理裝置150的種類。在一可能實施例中，處理裝置150係為一主機板(motherboard；MB)。在其實施例中，處理裝置150係為一外部儀器。

假設，負載裝置110為一顯示卡，處理裝置150係為一主機板時，顯示卡與主機板便可透過傳輸介面(如PCI介面)172、192以及電流測量裝置130，相互傳送信號。因此，主機板便可處理顯示卡的輸出信號，或是提供信號予顯示卡。

此時，若需測量顯示卡內的某一負載單元的電流量，則電流測量裝置130透過傳輸介面171，將測量信號傳送至負載單元，並根據負載單元的回傳結果，求得測量結果。電流測量裝置130再透過傳輸介面191，將測量結果傳送至主機板。主機板便可根據電流測量結果，執行一特定動作，如調整負載單元的操作頻率，或是將測量結果呈現於螢幕。

在本實施例中，處理裝置150係透過不同的傳輸介面(如USB及PCI)，分別接收測量信號以及與電流測量無關的信號，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，處理裝置150可透過單一傳輸介面，同時接收測量信號以及與電流測量無關的信號。

另外，如第1圖所示，負載裝置110接收輸入電壓V_IN1 ，電流測量裝置130接收輸入電壓V_IN2 ，並與負載單元111耦接於一節點(未顯示)。輸入電壓V_IN1 與輸入電壓V_IN2 可來自相同或不同的電壓源。另外，輸入電壓V_IN1 與輸入電壓V_IN2 可具有相同或不同的位準。在測量模式下，負載單元111停止接收輸入電壓V_IN1 。不在測量模式時，負載單元111根據輸入電壓V_IN1 而運作。

第2圖為本發明之電流測量裝置130之一可能實施例。如圖所示，電流測量裝置130接收輸入電壓V_IN2 ，並與負載單元111耦接於節點ND。在本實施例中，電流測量裝置130具有，阻抗單元210、偵測單元230以及處理單元250。

阻抗單元210的一端接收輸入電壓V_IN2 ，其另一端與負載單元110耦接於節點ND。在本實施例中，阻抗單元210係為電阻器。偵測單元230根據輸入電壓V_IN2 與節點ND的電壓，產生偵測信號S_DEC 。處理單元250根據偵測信號S_DEC ，得知流經負載單元111的電流量。在本實施例中，偵測信號S_DEC 係為一電壓位準。

為了得知流經負載單元111的電流量，處理單元250具有電壓至電流轉換功能。在處理單元250將偵測信號S_DEC 由電壓位準轉換成電流位準後，藉由轉換後的結果，便可得知流經負載單元111的電流量。

第3A圖為偵測單元230之一可能實施例。如圖所示，偵測單元230具有差動放大器(differential amplifier)310。差動放大器310根據輸入電壓V_IN2 與節點ND的電壓V_ND 之間的壓差，產生一壓差信號。在本實施例中，差動放大器310所產生的壓差信號即為偵測信號S_DEC 。

由於差動放大器310所產生的壓差信號係為一類比信號，因此，在另一可能實施例中，第2圖所示的處理單元250需具有類比至數位的轉換功能。當差動放大器310所產生的壓差信號(類比信號)被傳送至處理單元250時，處理單元250會將所接收到的壓差信號由類比格式轉換成數位格式的電流位準。在本實施例中，處理單元250所產生的電流位準即為流經負載單元111的電流量。

第3B圖為偵測單元230之另一可能實施例。第3B圖相似第3A圖，不同之處在於，第3B圖之偵測單元230具有一類比數位轉換器(ADC)330。類比數位轉換器330轉換差動放大器310所產生的壓差信號，並將轉換後的結果傳送至第2圖所示的處理單元250。

在本實施例中，類比數位轉換器330所轉換後的壓差信號即為偵測信號S_DEC 。由於第2圖所示的處理單元250具有電壓轉電流的功能，因此當處理單元250接收到類比數位轉換器330的輸出信號時，便可產生一相對應的電流位準，其中此電流位準即為流經負載裝置110的電流量。

另外，在第2圖中，電流測量裝置130更具有一開關270，用以選擇性地傳送節點ND的電壓V_ND 予偵測單元230。在測量模式下，導通開關270，故可將節點ND的電壓V_ND 傳送至偵測單元230。不在測量模式時，不導通開關270。因此，節點ND的電壓V_ND 並不會被傳送至偵測單元230。在一可能實施例中，不在測量模式時，負載單元111可能係接收輸入電壓V_IN1 ，並根據輸入電壓V_IN1 而運作。

第4圖為處理裝置150之一可能實施例。如圖所示，處理裝置150包括，控制單元410、溫度測量單元430、儲存單元450以及顯示電路470，但並非用以限制本發明。在其它實施例中，處理裝置150的部份或全部元件可整合於電流測量裝置130或負載裝置110之中。另外，根據處理裝置150所需執行的特定動作的種類，可將其它元件整合於處理裝置150之中。

控制單元410根據傳輸介面191的信號(即電流測量裝置130的測量結果)，執行一特定動作。在本實施例中，控制單元410所執行的特定動作係，驅動顯示電路470，使得一顯示面板可顯示流經負載單元111的電流量。在其它實施例中，若不需顯示負載單元111的電流量，則可省略顯示電路470。

在另一可能實施例中，控制單元410可透過一電路內部整合電路滙流排(Inter-Integrated Circuit Bus；I2C Bus)或是USB匯流排，接收電流測量裝置130的測量結果。也就是說，傳輸介面191係為電路內部整合電路滙流排(I2C Bus)或是USB匯流排。

當傳輸介面191係為電路內部整合電路滙流排時，電流測量裝置130需具有一電路內部整合電路(I2C)，用以將偵測信號S_DEC 轉換成一時脈信號以及一資料信號，然後將轉換後的結果，透過傳輸介面191傳送至控制單元410。

在另一可能實施例中，控制單元410所執行的特定動作係根據電流測量裝置130的測量結果，調整負載裝置110或負載單元111的操作頻率。舉例而言，若流經負載單元111的電流量小於一預設值時，則控制單元410逐漸地增加負載單元111的操作頻率。相反地，若流經負載單元111的電流量大於該預設值時，則控制單元410逐漸地減少負載單元111的操作頻率。

在其它可能實施例中，負載單元111可能具有一第一負載以及一第二負載。第一負載並聯第二負載，其中第一負載具有一第一操作頻率，第二負載具有一第二操作頻率。在此例中，控制單元410所執行的特定動作可為，調整第一及第二操作頻率之至少一者。

首先，電流測量裝置130測量負載單元111，用以得到一第一測量結果。接著，在調整第一及第二操作頻率之至少一者後，電流測量裝置130再次測量負載單元111，用以得到一第二測量結果。控制單元410根據第一及第二測量結果，便可分別求得流經第一負載的第一電流量以及流經該第二負載的第二電流量。

舉例而言，第一測量結果CUR_total如下式所示：

CUR_total=I_L1 +I_L2 …………………………(1)

其中，I_L1 為流經第一負載的第一電流量，I_L2 為流經第一負載的第二電流量。

假設，第一負載的第一操作頻率被減少20%，則第二測量結果CUR_total’如下式所示：

CUR_total’=0.8I_L1 +I_L2 …………………………(2)

由於第一及第二測量結果已知，故根據式(1)及(2)，便可分別求得流經第一負載的第一電流量I_L1 以及流經第二負載的第二電流量I_L2 。

在本實施例中，僅調降第一負載的第一操作頻率。在其它實施例中，可調降/調升第一及/或第二負載的第一及/或第二操作頻率。本發明並不限制調整的幅度。在一可能實施例中，第一操作頻率被調整的幅度可等於或不等於第一操作頻率被調整的幅度。舉例而言，第一操作頻率可能被調降20%，而第二操作頻率可能被調升10%或被調降10%、20%或30%。

另外，可利用監視狗(watch dog)監控負載單元111的運作情況。若負載單元111因調整後的操作頻率而無法正常運作時(如當機)，則重新啟動電腦系統100。在重新啟動後，控制單元410可再次調整負載單元111的操作頻率，或是改測試負載裝置110的其它功能。在本實施例中，監視狗的相關軟體係儲存在儲存單元450中，但並非用以限制本發明。

在其它可能實施例中，儲存單元450可儲存其它測試負載裝置110的測試軟體。控制單元410載入儲存單元450所儲存的資料，測試負載裝置110或是負載單元111的性能。在一可能實施例中，測試後的結果可呈現於一顯示面板之中。另外，儲存單元450亦可儲存電流測量裝置130的測量結果。

在本實施例中，處理裝置150更包括溫度測量單元430。在一可能實施例中，溫度測量單元430係為一熱電二極體(thermo diode)，用以測量負載裝置110、負載單元111、或是電腦系統100的環境溫度。測量後溫度結果可顯示於一顯示面板之中。因此，使用者便可得知，流經負載單元111的電流量與溫度之間的關聯。本發明並不限制溫度測量單元430的設置位置。在其它可能實施例中，溫度測量單元430可整合於負載裝置110或電流測量裝置130之中。

在另一可能實施例中，處理裝置150內的儲存單元450、溫度測量單元430以及顯示電路470並非必要。根據控制單元410所執行的特定動作，選擇性地設計處理裝置150內的元件。

另外，儲存單元450、溫度測量單元430以及顯示電路470並非一定要設計在處理裝置150之內。在其它實施例中，可選擇性地將儲存單元450、溫度測量單元430或/及顯示電路470設計在負載裝置110或是電流測量裝置130之中。

第5A圖為本發明之電流測量裝置之另一可能實施例。在本實施例中，電流測量裝置530可測量負載單元111及112的電流量，其中負載單元112可為另一負載裝置的元件或是負載裝置110的另一元件。

在本實施例中，阻抗單元531a及531b分別由電阻R1及R2所構成。在一可能實施例中，電阻R1的阻抗係大於、小於或等於電阻R2的阻抗。由於第5A圖的動作原理與第2圖相同，故不再述贅。

在測量模式下，開關537a及537b分別將節點ND1及ND2的電壓傳送至偵測單元533a及533b。在非測量模式下，開關537a及537b停止傳送節點ND1及ND2的電壓。此時，負載單元111及112可能接收輸入電壓V_IN1 。在另一可能實施例中，負載單元111及112接收不同的輸入電壓。

第5B圖為本發明之電流測量裝置之另一可能實施例。第5B圖相似第5A圖，不同之處在於，第5B圖具有切換單元539。切換單元539根據處理單元535所產生的控制信號S_C1 及S_C2 ，選擇性地將偵測信號S_DEC1 及S_DEC2 傳送至處理單元535。在一可能實施例中，處理單元535可利用USB或是I2C匯流排，輸出處理後的結果。

在一可能實施例中，處理單元535係為一微控制器(micro-controller)，具有許多轉換功能。舉例而言，處理單元535不但可將類比信號轉換成數位信號的功能，更具有將電壓位準轉換成一相對應的電流位準的功能。

在另一可能實施例中，處理單元535可為繪圖處理器(GPU)。假設，負載單元111為繪圖處理器時，則繪圖處理器可根據偵測信號S_DEC1 ，求得流經本身的電流量。另外，處理單元535可利用通用型之輸入輸出(General Purpose I/O)端，輸出控制信號S_C1 及S_C2 。在本實施例中，輸出控制信號S_C1 的通用型之輸入輸出端稱為第一通用型之輸入輸出端。輸出控制信號S_C2 的通用型之輸入輸出端稱為第二通用型之輸入輸出端。

藉由本發明之電流測量裝置，可在不改變負載單元與其它元件原本的連接關係的情況下，測量出流經負載單元的電流量。因此，可大幅降低除錯時間。另外，藉由儲存裝置記錄流經負載單元的電流量，並透過顯示面板顯示流經負載單元的電流量，便可使測試人員更加了解負載單元的性能。

當處理裝置150的控制單元410載入儲存單元450所儲存的資料時，便可利用所載入的資料，長時間監控流經負載單元的電流變化。因而提供工程作分析，並評估負載單元是否異常。若本發明應用於工廠端，則在出貨前，先將異常的負載單元攔下，以提高出貨的良率。

另外，可藉由儲存單元450所儲存的應用程式，自動地調整負載單元的操作頻率。因此，負載單元便可操作在最佳頻率。若在調整操作頻率後，發生當機的情形，則可自動地重新啟動電腦系統。因此，工程人員不需隨時監控電腦系統的狀態，進而提高工作效率。

雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧電腦系統

110‧‧‧負載裝置

111、112‧‧‧負載單元

150‧‧‧處理裝置

130‧‧‧電流測量裝置

410‧‧‧控制單元

430‧‧‧溫度測量單元

450‧‧‧儲存單元

470‧‧‧顯示電路

310‧‧‧差動放大器

171、172、191、192‧‧‧傳輸介面

210、531a、531b‧‧‧阻抗單元

230、533a、533b‧‧‧偵測單元

250、535‧‧‧處理單元

270、537a、537b‧‧‧開關

330‧‧‧類比數位轉換器

第1圖係為本發明之電腦系統之示意圖。

第2圖為本發明之電流測量裝置之一可能實施例。

第3A圖為偵測單元之一可能實施例。

第3B圖為偵測單元之另一可能實施例。

第4圖為本發明之處理裝置之一可能實施例。

第5A及5B圖為本發明之電流測量裝置之其它可能實施例。

100．．．電腦系統

110．．．負載裝置

111．．．負載單元

130．．．電流測量裝置

150．．．處理裝置

Claims (54)

1. 一種電腦系統，包括：一第一負載裝置，具有一第一負載單元；以及一電流測量裝置，用以測量流經該第一負載單元的電流量，並包括：一第一阻抗單元，具有一第一輸入端以及一第一輸出端，該第一輸入端接收一輸入電壓，該第一輸出端與該第一負載單元耦接於一第一節點；一第一偵測單元，在一測量模式下，根據該輸入電壓與該第一節點的電壓，產生一第一偵測信號，在一第二模式下，不接收該第一節點的電壓；以及一處理單元，處理該第一偵測信號，用以得知流經該第一負載單元之電流量；以及一處理裝置，根據流經該第一負載單元之電流量，執行一特定動作。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，更包括：一開關，耦接於該第一負載單元與該第一阻抗單元之間之間，在該第一模式下，傳送該第一節點的電壓予該第一偵測單元，在該第二模式下，停止傳送該第一節點的電壓予該第一偵測單元。
3. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，更包括一儲存單元，用以記錄流經該第一負載單元的電流量。
4. 如申請專利範圍第3項所述之電腦系統，其中該儲存單元更儲存一測試軟體，該處理裝置所執行的該特定動作係為，載入該儲存單元所儲存的該測試軟體，用以測試該第一負載單元之性能。
5. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，更包括一 控制單元，根據流經該第一負載單元的電流量，執行該特定動作。
6. 如申請專利範圍第5項所述之電腦系統，其中該特定動作係將流經該第一負載單元的電流量，顯示於一顯示面板上。
7. 如申請專利範圍第5項所述之電腦系統，更包括一溫度測量單元，該特定動作係將該電流測量裝置以及該溫度測量單元的測量結果，顯示於一顯示面板上。
8. 如申請專利範圍第7項所述之電腦系統，其中該溫度測量單元用以測量該第一負載單元的溫度。
9. 如申請專利範圍第7項所述之電腦系統，其中該溫度測量單元係為一熱電二極體(thermo diode)。
10. 如申請專利範圍第5項所述之電腦系統，其中該特定動作係根據流經該第一負載單元的電流量，調整該第一負載單元之操作頻率。
11. 如申請專利範圍第5項所述之電腦系統，其中該第一負載單元具有一第一負載以及一第二負載，該第一負載並聯該第二負載，該第一負載係為一繪圖處理器，該第二負載係為一記憶體，該繪圖處理器具有一第一操作頻率，該記憶體具有一第二操作頻率。
12. 如申請專利範圍第11項所述之電腦系統，其中該特定動作係調整該第一及第二操作頻率之至少一者。
13. 如申請專利範圍第12項所述之電腦系統，其中在調整該第一及第二操作頻率之至少一者後，該偵測單元再次根據該輸入電壓與該第一節點的電壓，用以產生一第二偵測信號，該處理單元處理該第一及第二偵測信號，求得 流經該第一負載的一第一電流量以及流經該第二負載的一第二電流量。
14. 如申請專利範圍第5項所述之電腦系統，其中該控制單元係透過一通用序列匯流排(Universal Serial Bus；USB)，接收該電流測量裝置的測量結果。
15. 如申請專利範圍第5項所述之電腦系統，其中該控制單元係透過一電路內部整合電路滙流排(Inter-Integrated Circuit Bus；I2C Bus)，接收該電流測量裝置的測量結果。
16. 如申請專利範圍第15項所述之電腦系統，其中電流測量裝置更包括一電路內部整合電路，用以將該偵測信號轉換成一時脈信號以及一資料信號。
17. 如申請專利範圍第16項所述之電腦系統，其中該第一負載單元係為一繪圖處理器(Graphic Processing Unit；GPU)。
18. 如申請專利範圍第17項所述之電腦系統，其中該繪圖處理器係為該處理單元，該繪圖處理器根據該第一偵測信號，求得流經本身的電流量。
19. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，其中該第一阻抗單元係為一電阻。
20. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，其中該第一負載裝置係為一顯示卡，該第一負載單元係為一繪圖處理器或是一記憶體。
21. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，其中該第一偵測單元包括：一差動放大器，根據該輸入電壓以及該第一節點的電壓之差異，產生一壓差信號。
22. 如申請專利範圍第21項所述之電腦系統，其中該壓差信號係為該第一偵測信號。
23. 如申請專利範圍第21項所述之電腦系統，其中該第一偵測單元更包括：一類比數位轉換器，用以轉換該壓差信號。
24. 如申請專利範圍第23項所述之電腦系統，其中轉換後的壓差信號係為該第一偵測信號。
25. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，更包括一第二負載裝置，該第二負載裝置具有一第二負載單元，其中該電流測量裝置更包括：一第二阻抗單元，具有一第二輸入端以及一第二輸出端，該第二輸入端接收該輸入電壓，該第二輸出端與該第二負載單元耦接於一第二節點；以及一第二偵測單元，根據該測試電壓與該第二節點的電壓，產生一第二偵測信號。
26. 如申請專利範圍第25項所述之電腦系統，其中該處理單元根據該第二偵測信號，得知流經該第二負載單元之電流量。
27. 如申請專利範圍第25項所述之電腦系統，其中該第一負載單元係為一繪圖處理器，該第二負載單元係為一記憶體。
28. 如申請專利範圍第25項所述之電腦系統，其中該電流測量裝置更包括：一切換單元，用以選擇性地傳送該第一及第二偵測信號予該處理單元，當該處理單元致能一第一控制信號時，該切換單元將該第一偵測信號傳送至該處理單元，當該處 理單元致能一第二控制信號時，該切換單元將該第二偵測信號傳送至該處理單元。
29. 如申請專利範圍第28項所述之電腦系統，其中該處理單元具有一第一通用型之輸入輸出(General Purpose I/O)端以及一第二通用型之輸入輸出，該第一通用型之輸入輸出端用以輸出該第一控制信號，該第二通用型之輸入輸出端用以輸出該第二控制信號。
30. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，其中該第一負載單元係設置在一第一電路板之中，該電流測量裝置係設置在一第二電路板之中，該第一電路板透過一週邊裝置元件互連(Peripheral Component Interconnect；PCI)匯流排，與該第二電路板進行傳輸。
31. 如申請專利範圍第1項所述之電腦系統，其中該第一負載裝置與該電流測量裝置構成一顯示卡。
32. 一種電流測量裝置，測量流經一第一負載單元的電流量，該電流測量裝置，包括：一第一阻抗單元，具有一第一輸入端以及一第一輸出端，該第一輸入端接收一輸入電壓，該第一輸出端與該第一負載單元耦接於一第一節點；一第一偵測單元，在一第一模式下，根據該輸入電壓與該第一節點的電壓，產生一第一偵測信號，在一第二模式下，不接收該第一節點的電壓；以及一處理單元，處理該第一偵測信號，用以產生一處理結果，並得知流經該第一負載單元之電流量。
33. 如申請專利範圍第32項所述之電流測量裝置，更包括一開關，耦接於該第一負載單元與該第一阻抗單元之 間之間，在該第一模式下，傳送該第一節點的電壓予該第一偵測單元，在該第二模式時，停止傳送該第一節點的電壓予該第一偵測單元。
34. 如申請專利範圍第32項所述之電流測量裝置，其中該第一負載單元具有一第一負載以及一第二負載，該第一負載並聯該第二負載，該第一負載係為一繪圖處理器，該第二負載係為一記憶體，該繪圖處理器具有一第一操作頻率，該記憶體具有一第二操作頻率。
35. 如申請專利範圍第34項所述之電流測量裝置，其中該第一負載單元設置在一第一負載裝置之中，該第一負載裝置更包括一控制裝置，用以根據該處理單元的處理結果，調整該第一及第二操作頻率之至少一者。
36. 如申請專利範圍第34項所述之電流測量裝置，更包括一控制裝置，用以根據該處理結果，調整該第一及第二操作頻率之至少一者。
37. 如申請專利範圍第36項所述之電流測量裝置，其中在調整該第一及第二操作頻率之至少一者後，該第一偵測單元再次根據該輸入電壓與該第一節點的電壓，產生一第二偵測信號，該處理單元處理該第一及第二偵測信號，求得流經該第一負載的一第一電流量以及流經該第二負載的一第二電流量。
38. 如申請專利範圍第32項所述之電流測量裝置，更包括：一儲存單元，儲存該處理單元的處理結果；以及一控制單元，根據儲存單元所儲存的資料，執行一特定動作。
39. 如申請專利範圍第38項所述之電流測量裝置，其中該儲存單元更儲存一測試軟體，該控制裝置將該儲存單元所儲存的資料，測試該第一負載單元之性能。
40. 如申請專利範圍第39項所述之電流測量裝置，更包括一電路部整合電路，用以將該處理單元處理後的結果轉換成一時脈信號以及一資料信號。
41. 如申請專利範圍第40項所述之電流測量裝置，其中該控制單元係透過一電路部整合電路滙流排(Inter-Integrated Circuit Bus；I2C Bus)，接收該處理單元的處理結果。
42. 如申請專利範圍第41項所述之電流測量裝置，其中該第一負載單元係為一繪圖處理器(Graphic Processing Unit；GPU)。
43. 如申請專利範圍第42項所述之電流測量裝置，其中該繪圖處理器係為該處理單元，該繪圖處理器根據該第一偵測信號，求得流經本身的電流量。
44. 如申請專利範圍第32項所述之電流測量裝置，其中該第一阻抗單元係為一電阻。
45. 如申請專利範圍第32項所述之電流測量裝置，其中該第一負載單元係為一繪圖處理器或是一記憶體。
46. 如申請專利範圍第32項所述之電流測量裝置，其中該第一偵測單元包括：一差動放大器，根據該輸入電壓以及該第一節點的電壓的差異，產生一壓差信號。
47. 如申請專利範圍第46項所述之電流測量裝置，其中該壓差信號係為該第一偵測信號。
48. 如申請專利範圍第47項所述之電流測量裝置，其中該第一偵測單元更包括：一類比數位轉換器，用以轉換該壓差信號。
49. 如申請專利範圍第48項所述之電流測量裝置，其中轉換後的壓差信號係為該第一偵測信號。
50. 如申請專利範圍第32項所述之電流測量裝置，更包括：一第二阻抗單元，具有一第二輸入端以及一第二輸出端，該第二輸入端接收該輸入電壓，該第二輸出端與一第二負載單元耦接於一第二節點；以及一第二偵測單元，根據該輸入電壓與該第二節點的電壓，產生一第二偵測信號。
51. 如申請專利範圍第50項所述之電流測量裝置，其中該處理單元根據該第二偵測信號，得知流經該第二負載單元之電流量。
52. 如申請專利範圍第51項所述之電流測量裝置，其中該第一負載單元係為一繪圖處理器，該第二負載單元係為一記憶體。
53. 如申請專利範圍第51項所述之電流測量裝置，更包括一切換單元，用以選擇性地傳送該第一及第二偵測信予該處理單元，當該處理單元致能一第一控制信號時，該切換單元將該第一偵測信號傳送至該處理單元，當該處理單元致能一第二控制信號時，該切換單元將該第二偵測信號傳送至該處理單元。
54. 如申請專利範圍第53項所述之電流測量裝置，其中該處理單元具有一第一通用型之輸入輸出(General Purpose I/O)端以及一第二通用型之輸入輸出，該第一通用型之輸入輸出端用以輸出該第一控制信號，該第二通用型之輸入輸出端用以輸出該第二控制信號。