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TWI391721B - 可為光源控制偏壓電流之系統 - Google Patents

可為光源控制偏壓電流之系統 Download PDF

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TWI391721B
TWI391721B TW097119510A TW97119510A TWI391721B TW I391721 B TWI391721 B TW I391721B TW 097119510 A TW097119510 A TW 097119510A TW 97119510 A TW97119510 A TW 97119510A TW I391721 B TWI391721 B TW I391721B
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Description

可為光源控制偏壓電流之系統
本發明關於一種為光源控制偏壓電流之技術。
 發明背景
雷射廣泛地被使用於各種應用中。尤其，在以大量資訊被調變的光束可以光速在光纖上遠距離通訊的光學通訊系統中，雷射是不可或缺的元件。
許多系統包括一所謂垂直共振腔表面發射雷射(VCSEL)。如名稱中暗示的，此類型雷射是一半導體微雷射二極體，其發射的同調光束與製造的晶圓表面正交。大量製造VCSEL是密集且相對便宜的，且VCSEL可提供邊緣發射雷射的優勢。諸如VCSEL的雷射廣泛地被用於光學收發器中。典型地，雷射具有一直流(DC)偏壓電流，其維持該雷射以使當光資料要被發送時不需一電力開啟過程，以提供高速通訊。因此，當一雷射被用於一快速切換應用中時，該雷射可稍被偏壓高於一臨限值，以避免一導通延遲。從而，此偏壓電流可被用以將該雷射維持在此臨限值之上及處於其線性操作區中。在此DC位準之上，有一交流(AC)電流被施加，該AC電流具有依一信號位準而定的一位準，該信號位準可以是一個二進制實施中的“高”或“低”。
為了提供該DC偏壓電流給該雷射，一偏壓電路被使用。當已產生的該偏壓電流增加時(如可能由於偏壓電路元件之一不精確匹配而發生)，橫跨在該雷射兩端的一電壓降 也增加。因此，接著可導致該偏壓電路中一主動裝置之該操作區的一變化，這可導致該偏壓電流變得電壓相關的，基於該主動裝置之電壓。此電壓相關性可導致對該偏壓電流的不精確控制，從而引入非線性及不可預測性。
依據本發明之一實施例，係特地提出一種設備，包含：一電流鏡，其具有耦接到一第一端子的一電流源及自一輸出端子流出的一輸出電流；一雷射，其耦接至該輸出端子，該雷射要被該輸出電流偏壓；及一比較器，用以比較該第一端子之一電壓與該輸出端子之一電壓，其中，該比較器之一輸出要閘控該電流鏡。
依據本發明之另一實施例，係特地提出一種方法，其包含下列步驟：比較一電流鏡之一第一端子之一第一電壓與該電流鏡之一第二端子之一直流(DC)電壓；基於該比較控制該電流鏡；及使用自該第二端子流出的一偏壓電流偏壓一光源。
依據本發明之又一實施例，係特地提出一種系統，包含：一光學收發器，其包括：一偏壓電路，其包括一電流鏡，該電流鏡具有耦接到一第一電晶體之一第一端子的一電流源及自一第二電晶體之一第一端子流出的一輸出電流，及用以比較該第一電晶體之該第一端子的一電壓與該第二電晶體之該第一端子的一直流(DC)電壓之一比較器，其中，該比較器之一輸出要閘控該電流鏡；一雷射，其耦接至該第二電晶體之該第一端子，該雷射要被該輸出 電流偏壓；及耦接至該雷射的一時鐘及資料恢復電路(CDR)，其中該CDR要提供一交流(AC)信號給該雷射以向其提供資料；及一多工器，其耦接至該光學收發器以提供一串列資料串流及一時鐘信號給該CDR。
圖式簡單說明
第1圖是依據本發明之一實施例的一光學收發器之一方塊圖。
第2圖是依據本發明之一實施例的一偏壓電路之一示意圖。
第3圖是依據本發明之一實施例的偏壓電流對電壓之一圖形說明。
第4圖是依據本發明之一實施例的一系統之一方塊圖。
 較佳實施例之詳細說明
現在參考第1圖，圖中所示的是依據本發明之一實施例的一光學收發器的一方塊圖。收發器10可作為一資料通訊系統的一實體層及一資料鏈結層之間的一介面。如第1圖中所示，收發器10可被用以自一光纖50接收光資訊及發送光資訊到達一光纖50。接著，已接收的資料可被轉換為電能且作為已接收資料(RX Data)經由一系統介面被提供給一系統的其他部分。類似地，相對應於要被發送的資料(TX Data)的進入電能可自該系統被接收，且被轉換為光能以經由光纖50傳輸。
因此，如第1圖中所示，在一發送方向上，收發器10 包括一時鐘及資料恢復電路(CDR)15，其接收資料及一參考時鐘(CLK)並將該資料提供給一雷射驅動器20，接著，其驅動一雷射/調變器25，在一實施例中，該雷射/調變器25可以是一VCSEL，用以將該電資料轉換為光資料以經由光纖50傳輸。另外注意，一偏壓產生器24可被耦接到雷射/調變器25，以向其提供一偏壓電流，如在此所描述的。在一接收方向上，收發器10包括一光/電(O/E)轉換器30，在一實施例中，其可為一正-本-負(PIN)二極體或一突崩光檢測器(APD)。該已轉換的電能可被提供給將該電流轉換為一電壓的一轉換阻抗式放大器(TIA)35。此已放大的信號可被提供給CDR15，以將類比輸入資料以一相關時鐘(即CLK)轉換為一數位位元流。接著，該資料可作為RX Data被提供給一系統的其他部分。
另外注意，第1圖中的該收發器10還可包括一處理器40，用以處理控制操作以及提供用於管理及/或診斷資訊的一介面。在一實施例中，收發器10可以以一積體電路(IC)被形成在一單一基體上，雖然在這點上本發明之範圍不受限制。儘管已經以第1圖之實施例中的此特定的實施顯示，但在這點上本發明之範圍不受限制。
現在參考第2圖，圖中所示的是依據本發明之一實施例的一偏壓電路之一示意圖。如第2圖中所示，偏壓電路100可被用以使用負回授來提供偏壓電流精確控制。特定地，如第2圖中所示，一電流鏡120包括一第一電晶體M1(其可以是一p-通道金屬氧半導體場效應電晶體(pMOSFET))及一第 二pMOSFET M2。該電流鏡被組配以使被耦接到電晶體M1之一汲極端的一電流源I1的一值被放大，以經由電晶體M2之一汲極端提供一偏壓電流I2給一雷射140(例如一VCSEL)。在一實施例中，電晶體M2之大小約為電晶體M1之大小的10倍，以使偏壓電流I2約為電流源I1之該值的10倍。藉由提供具有此相對小比率(即1:10)而非一大得多的比率(例如1:20或更大)的一電流鏡，電晶體M2可按一定尺寸被製造使其具有相對應於一給定技術節點處所提出的一最小長度的一通道長度，以允許最大通訊速度。在一實施例中，I1可對應於約1毫安培(mA)的一電流，而I2可對應於10mA，雖然在這點上本發明之範圍不受限制。
在第2圖中還顯示，電晶體M1及M2之源極端被耦接到一電源電壓，即VCC，且兩個電晶體M1及M2具有共同耦接的閘極端，以接收來自一比較器160之一電壓，在一實施例中，該比較器160可以是一運算放大器。比較器160可基於一對輸入端子，即一正輸入端子與一負輸入端子處所接收的電壓來執行一比較。如第2圖中所示，該正輸入端子被耦接以接收來自一節點D1的電壓，該節點D1被耦接到電晶體M1之該汲極端。該負輸入端子被耦接以接收一低通濾波器(LPF)150之一輸出處的一電壓DD2，該LPF 150接收來自電晶體M2之該汲極端處的一節點D2的電壓。因此，LPF 150作用以濾除輸入到雷射140的該輸入中的該AC部分(即，相對應於信號資訊，其來源在第2圖中未顯示)，且提供存在於節點D2處的該DC電壓。比較器160操作以比較這兩個 電壓。在一實施例中，LPF 150可由電阻-電容(RC)網路來形成，其可被整合于諸如包括剩餘的偏壓電路100以及雷射140的一基體的一半導體基體上。
仍參考第2圖，一電容器C1可被耦接在比較器160之該輸出節點及節點D1之間，以補償該負回授，以使一相位邊限保持高於一穩定性要求。
使用第2圖之偏壓電路100，該偏壓電流可以實質上無關於節點D2處的該電壓。換言之，藉由偏壓電路100所執行的該比較操作，一旦電晶體M1之該汲極電壓(即節點D1處的電壓)追蹤電晶體M2之該源極電壓(即節點D2處的電壓)，偏壓電流I2保持實質上恒定且電壓無關。相反，在不具有如第2圖之實施例中所提供的一比較電路的一電流鏡存在的情況中，當該偏壓電流增加時，橫跨在該雷射兩端的一電壓降增加，接著，一電流鏡之該輸出電晶體(諸如第2圖之電晶體M2)的一電壓餘量(voltage headroom)減少。當該偏壓電流達到某一限度(即該輸出電晶體之該汲極電壓增加到某一限度)時，該輸出電晶體被推入到一線性區域，且該偏壓電流變得電壓有關。
相反，使用第2圖之實施例，M1及M2之間的該電流鏡比率保持恒定，而不管電晶體M2之源極至汲極的電壓降或該雷射的電壓降。因此，實施例提供保持實質上恒定且無關于諸如橫跨在一輸出電晶體或該雷射本身兩端之電壓降的電壓問題的一偏壓電流。從而，使用本發明之實施例，橫跨在一雷射或其他光源兩端的電壓降可以變化，而提供 用以驅動該光源的一偏壓電流可以實質上恒定且無關於該變化的電壓降。因此，由該雷射輸出的一光信號也可以具有一實質上恒定的振幅。儘管第2圖之實施例以pMOSFET及一共陰極雷射來顯示，但在其他實施中，一光源可以是一共陽極組態，且該電流鏡之該等電晶體可以為n通道MOSFET形式。
現在參考第3圖，圖中所示的是偏壓電流對電壓之一圖形說明。如第3圖中所示，使用本發明之實施例(諸如第2圖之偏壓電路100)，一實質上穩定的偏壓電流I2被產生，且被提供給一光源(諸如一雷射)，而不管一電流鏡或其他電流產生器之一輸出端子處存在的電壓變化。因此，請參考第2圖，當節點D2處的電壓變化時，提供給雷射140的偏壓電流可保持實質上恒定，如線B所示。相反，在一習知的偏壓方案中，如第3圖之曲線A所示，當該電流鏡之該輸出端子處的電壓變化時，該偏壓電流可能變化。特定地，對於較大的電壓而言，該偏壓電流減少，如曲線A所示。
現在參考第4圖，圖中所示的是依據本發明之一實施例的一系統之一方塊圖。如第4圖中所示，系統300可包括例如一高速光纖網路(諸如一都市區域網路(MAN)、一區域網路(LAN)及一廣域網路(WAN))中所使用的一線路卡或其他切換裝置。如第4圖中所示，系統300可被用以沿著例如一光纖發送光信號資訊。要被發送的資料可在一電腦系統375中產生。數位資料可被提供給諸如一媒體接取控制(MAC)模組之一特定應用積體電路(ASIC)360。ASIC 360 可相應地編碼該資料並將其與一時鐘信號一起提供給一多工器350，該多工器350可將以一第一頻率接收到的並列資料例如以一高得多的頻率轉換為一串列高速資料流。在一實施例中，多工器350可獲取四或更多個並列資料流，並將該資料轉換為一串列資料信號。接著，該串列資料流可被提供給一CDR 340以將該數位位元流以一相關時鐘率轉換至包括該已嵌入的時鐘信號之一類比輸入信號。出自CDR 340的該類比信號可被提供給一驅動器320。要注意，驅動器320可進一步地包括依據本發明之一實施例的偏壓電路。因此，可包括已調變信號資訊以及一偏壓電流的一驅動信號可被提供給一電至光(E/O)轉換器310，該E/O轉換器310可相對應于一雷射或其他光源。E/O轉換器310可將該進入的電能轉換為光能以沿著一光纖傳輸。
要注意，第4圖中所示的各種元件可形成作為一光纖線路及系統375之間一介面的一線路卡。這樣一線路卡還可包括用以接收及處理自該光纖所接收到的光信號之元件，諸如一光檢測器、放大器、多工器及諸如此類的元件。儘管已經以第4圖之實施例中的此特定的實施顯示，但在這點上對本發明之範圍的理解不受限制。
儘管本發明已經參考有限個實施例被描述了，但該技藝中具有通常知識者將了解自其而得的許多種修改及變化。意圖是，該附加申請專利範圍涵蓋落入本發明之真實精神及範圍內的所有這樣的修改及變化。
10‧‧‧收發器
15‧‧‧時鐘及資料恢復電路(CDR)
20‧‧‧雷射驅動器
24‧‧‧偏壓產生器
25‧‧‧雷射/調變器
30‧‧‧光/電(O/E)轉換器
35‧‧‧轉換阻抗式放大器(TLA)
40‧‧‧處理器
50‧‧‧光纖
100‧‧‧偏壓電路
120‧‧‧電流鏡
140‧‧‧雷射
150‧‧‧低通濾波器(LPF)
160‧‧‧比較器
300‧‧‧系統
310‧‧‧電至光(E/O)轉換器
320‧‧‧驅動器
340‧‧‧CDR
350‧‧‧多工器
300‧‧‧特定應用積體電路(ASIC)
375‧‧‧電腦系統
第1圖是依據本發明之一實施例的一光學收發器之一方塊圖。
第2圖是依據本發明之一實施例的一偏壓電路之一示意圖。
第3圖是依據本發明之一實施例的偏壓電流對電壓之一圖形說明。
第4圖是依據本發明之一實施例的一系統之一方塊圖。
100‧‧‧偏壓電路
120‧‧‧電流鏡
140‧‧‧雷射
150‧‧‧低通濾波器(LPF)
160‧‧‧比較器

Claims (4)

  1. 一種可為光源控制偏壓電流的系統，其包含：一光學收發器，其包括：一偏壓電路，其包括一電流鏡，該電流鏡具有耦接到一第一電晶體之一第一端子的一電流源及自一第二電晶體之一第一端子流出的一輸出電流，及用以比較該第一電晶體之該第一端子的一電壓與該第二電晶體之該第一端子的一直流(DC)電壓之一比較器，其中，該比較器之一輸出要閘控該電流鏡；一雷射，其耦接至該第二電晶體之該第一端子，該雷射要被該輸出電流偏壓；及耦接至該雷射的一時鐘及資料恢復電路(CDR)，其中該CDR要提供一交流(AC)信號給該雷射以向其提供資料；及一多工器，其耦接至該光學收發器以提供一串列資料串流及一時鐘信號給該CDR。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之系統，其進一步地包含一線路卡，該線路卡包括該光學收發器及該多工器。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之系統，其中，該偏壓電路進一步地包含用以將該DC電壓提供給該比較器之一低通濾波器，其中，該比較器要產生一控制信號，以使得該第一電晶體之該第一端子的該電壓追蹤該DC電壓。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之系統，其中，該等第一及 第二電晶體具有共同耦接閘極端及共同耦接源極端，且其中，該第二電晶體之尺寸係安排為大於該第一電晶體N倍。
TW097119510A 2007-06-07 2008-05-27 可為光源控制偏壓電流之系統 TWI391721B (zh)

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