TW476816B - Method and apparatus for producing a single crystal - Google Patents
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Description
476816 A7 B7 五、發明説明( 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 的。 一氣室會錯響體矽應體矽闞 ,氧統加種反的 體法 在性升那位影氣化反熔化這 煩果傳在一所料 氣方 是惰提。些也載氧上在氧, 麻如器蓋為有材 性的 式用止界一時運,壁留的係 起。熱覆成料熱 惰體 方,防相成同當外堝矽出關 惹內加矽弱材絕 著晶。的時了 的造溢充之坩化檢種 會之此化脆熱 , 溢單器統升為中致沖體室在氧體一 卻室,碳得絕點 沖矽儀傳提是長 Μ 的氣升堝該氣在。矽升時層變的一 在長種,漸溢生,體性提坩。性存氧化提上一而器這 法生一中漸沖體險氣惰至英出惰間的氧在器出間熱於 基種的體被體晶危性該送石逸被之內除積熱生時加關 斯一法晶體氣單的惰。蓮的體於量體清沉加就著著。 勞的方單熔性達中。度並用熔。數晶來體的快隨繞生 克體該矽的惰到之止程起使自生的單助固堝很層環發 曹晶施產內Μ粒體停的撿上體共氧於協成坩麼蓋是會 用單實生堝種顆晶長生矽統氣內內生的會於那覆若樣 藉升到法坩這的於生共化傳的體體共溢矽熱 ,一 。一 於提係基於。間合的體氧和量晶晶制沖化加的這源也 關體關斯放室空共體晶的料大單單控體氧Μ成。來況 乃熔也勞置升體粒晶中生材且於於 Μ 氣的用組上的狀 :明自時克從提氣顆單長產融並氧合用性份在墨面末的 景發中同曹體該於些致生體熔,致共被惰部積石表粉同 背本室明Μ晶溢在一導與熔當生導和常藉有沉 Κ的有相 明升發 單沖存生且氧自在產會量通 為矽是器欲 , 發提本 支體內發並了將是時內數係 因化上熱不應 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210Χ297公釐) 476816 A7 B7 五、發明説明(2 ) 絕熱能力可能有額外的變化到某一種程度時就無法再提升 單晶體,因為管制著單晶化晶體生長所需求中關聯到的熔 體內及單晶體內的溫度場已經不可能達到。因此那就絕對 必要經常將生產單晶體的儀器停用,才能將儀器內受損害 的部份換新,然而這種維護作業十分費時,以及牽連著很 高的費用。 為了延長停機保養之間的操作時間,專利案EP-568183 B1號就揭示用一種惰性氣流通過提升室,該氣流通過提升 室上部的中央區域所開的進氣口而流入,再以徑向朝外流 至排氣口,這些排氣開口是在提升室的上部進氣口的外面 作徑向的安排。 這種將惰性氣流的流通限制在提升室上部的安排減小 了藉由惰性氣流控制單晶體内氧共生的實效性。同時另一 方面,這種措施又不能防止氧化矽繼續地可能擴散至提升 室中環繞著坩堝周圍和坩堝下面的那些儀器部位。除此之 外,在提升室的下部沒有發生氣體對流現象,其結果為自 絕熱材料氣化而出的碳塵粒又積聚於絕熱材料上,並且容 易引起在絕熱材料與加熱器之間的氣體放電。 發明的詳细說明: 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本發明的目標為使每次必須的停機保養之間的可操作 時間得到延長而同時又不必承受不便之弊。 本目標可以藉由與前述同類型的方法達成,該方法包 括: a) 在提升室內設置一個第一內室和一個第二內室,該兩 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 476816 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(3 ) 個内室的側面、頂部和底部都有界面作為輪廓; b) 第一惰性氣體氣流通過第一內室的頂部界面進入第一 內室之中,該室裝有一個熱屏風環繞著該單晶體,K及一 個盛有熔體的坩堝;及 c) 第二惰性氣體氣流通過第二內室的底部界面進入第二 内室之中,該室裝有一個用K將坩堝加熱的加熱器,此裝 置的條件為第一氣體氣流與第二氣體氣流最早只能在它們 離開內室之後才得混合。 本方法的成功可Μ特別自於兩次必要的保養週期之間 的間距有一相當的延伸得到體現,此外又因為例如加熱器 和周圍的絕熱設施受到較少的損耗及較不常必須更新而大 為節省。一種進一步的費用效益也可從提升系統的生產力 增加及所生產的單晶體持恒的高品質這些事實看到。 本發明也關於實施本方法的一種儀器,該儀器有一個 第一內室和一個第二內室。第一內室容有坩堝和熱屏遮, 第二內室則容有加熱器。内室有相同輪廓的側面、頂部及 底部的界面;該儀器有一將惰性氣體自第一內室頂部界面 輸入第一內室的第一器具及一將惰性氣體自第二內室底部 界面輸入第二內室的第二器具。 此方法和儀器藉參閲下面圖式作更加詳细的說明: 圖一顯示該儀器一實施例的剖面示意圖; 圖二顯示該儀器另一實施例的剖面圖。 在兩圖中,只有為說明本發明所必須的特點被標示出 來。類似的部位具有相同的參考符號。 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 476816 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(4 ) 依照圖一的儀器為包括一個具有藉用曹克勞斯基法自 熔體(4)提升一單晶體(3)的一具提升器(2)的提升室(1), 此處乃Μ示意方式表達。熔體被容盛在傳統上K石英玻璃 製成的坩堝(5a)之內,而由一支持坩堝(5b)所支持。這些 坩堝安裝在旋軸(6)上,可Μ旋轉及可上下移動。傳統上 會裝設一個熱屏風(7)圍繞著單晶體並向下延伸至熔體表 面的近處Μ為單晶體隔熱。該熱屏風可作管狀的設計,或 者如見於圖一的成錐狀設計。在此提升系統上部設置一個 支架(8)以支持該熱屏風。一個加熱器(9)安裝在坩堝(5a) 周圍和在坩堝下面。通常用作加熱器的是有至少一個電流 供應引線(1 0 )的一種石墨電阻電熱器。加熱室用絕熱材料 保護,不會因暴露於熱而損壞。一件絕熱體(11)圍繞著加 熱器,它包括例如一個石墨輻射管(11a)和一個石墨氈繞 組(11b)。於提升室(1)的下方也包括更多的絕熱材料如圖 中(12)及(13)所標示。 在所顯示的實施例中,於熱屏風(7)的支架(8)下面的 提升室內部再向內分成一些內室。有一個第一內室(14)其 內包含有熱屏風(7)和坩堝(5a), Μ及一個第二內室(15) 其內包含著加熱器(9)。第一内室(14)Μ —個管(16)為其 旁側的界面。進一步的界面就Μ支架(8)(內室14的頂部界 面)和一個載物盤(17)(內室14的底部界面)組成。内管(16) 和載物盤(17)最好是Κ石墨製成,並且也同時作為第二內 室的界面。第二內室(15)的進一步界面是由上蓋(18)(内 室15的頂部界面),絕熱體(13)(內室15的底部界面)和一 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210X297公釐) 476816 經濟部中央樣準局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(5 ) 個支持管(20)連同絕熱體(11)(内室15的側面界面)共同組 成。 内室(14)和(15)每一個都有其供氣器具來輸入惰性氣 體。將惰性氣體輸進第一內室(14)的器具(22)把惰性氣體 氣流(I)灌入提升室的上層,穿過支架(8)和穿過熱屏風 (7)而進入第一內室(14)。該輸入的惰性氣體氣流穿過在 内管(16)所開的出口(23)離開内室(14),再從轉向管(25) 的輸出開口(24)穿出。最後該輸入的惰性氣體又通過抽氣 口(28)被吸出提升室(1)之外。將惰性氣體輸進第二内室 (15)的器具(29)把惰性氣體氣流(H)穿過提升室(1)的底 層(19)和絕熱體(13)灌入第二内室(15)。該輸入的惰性氣 體氣流穿過在頂蓋(18)所開的出口(26)也從抽氣口(28)被 吸出提升室(1)。 這兩股惰性氣體氣流最早要在離開內室(14)和(15)之 後才能夠混合。於所示的實施例中,氣流於抽氣室(27)內 混合,此室為與抽氣口(28)相連。這種設計表現出該儀器 防止帶氧化矽的惰性氣體氣流I接觸到特別是加熱器(9 ) 及絕熱體(11)等部位,並且另一方面,該惰性氣體氣流H 避免了在絕熱體(11)上的積聚和因而增加了電閃絡的危險。 圓二顯示本發明一項進一步的實施例,本例與圖一所 說明的實施例不同處為增加了一樣特徵。該儀器有一供輸 惰性氣體的第三器具(30),此器具輸送惰性氣體氣流Μ穿 過載物盤(17)進入第一內室(14)。輸入的惰性氣體氣流Μ 穿過內管(16)的排氣開口(23)離開內室(14),並且也穿過 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) 476816 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7五、發明説明(6 ) 轉向管(25)的排氣開口(24),和穿過抽氣口(28)被吸出提 升室(1)之外。該惰性氣體氣流I和1已經於內室(14)內 混合。 在此實施例中,共合於單晶體內的氧不僅受輸入的惰 性氣體氣流I的影響,同時也受輸入的惰性氣體氣流m的 影響。藉以控制氧的共合的一項重要變數就是每單位時間 内惰性氣體氣流I與姐灌入內室(14)中惰性氣體的量。那 必須是在提升單晶體時成一種受控制的方式來變化,俾使 在單晶體中達到一定的氧濃度。單晶體中的氧濃度通常不 應該超過或低於某一要求的狹窄數值範圍。 要使得在單晶體中實際達到所欲的氧濃度,先進行一 步初步試驗,Μ決定必須輸入內室的惰性氣體中由惰性氣 體氣流I和II之間的比率,Μ及釐清在單晶體生長時這個 比率必須如何變化。如果第三惰性氣體氣流廢棄不用,那 麼惰性氣體氣流I所導致單位時間內輸入内氣室(14)的惰 性氣體的量Κ及該量隨著時間所生的變化則是決定因素。 例證:為了加熱器和環繞著它的絕熱材料的損耗而必 要實施的保養作業之間的可操作時間來作比較,依照圖一 所設計的儀器要比一些習用設計的類似儀器,在相當的提 升條件之下,可操作的時間大約長5倍之多。 圖式簡單說明: 圖一顯示本發明之儀器一實施例的剖面示意圖; 圖二顯示本發明之儀器另一實施例的剖面圖。 (讀先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 裝-- 訂 HI m·· MiBfisi eti 豐一 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) Α4規格(210 X 297公釐) 476816 A7 B7 五、發明説明( 號 編 件 元 要 主 2 3 4 a 6 7 8 9 ii 11 經濟部中央標準局員工消費合作社印製
2 7 8 9 0 2 2 2 2 3 I I 1 攪攪獲 氣氣氣 堝堝 架 室室具 具具性性性 室器體 坩坩軸風支器器內內器室 口器器惰惰惰 升升晶體英持轉屏風熱熱一二一氣氣二三一二三 提提單熔石支旋熱屏加絕第第第抽抽第第第第第 9 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) ---------^Γ^-- (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 、?! _會
Claims (1)
- 476816 Β8 C8 D8 ί无 申睛專利範圍 认種生產矽早晶體的方士'ϋ汝y於惰性氣體沖溢 的提升室中,帛曹克勞斯基法自熔體提升單晶體 括下述步驟: 、 〇在提升室中設一第一内室及一第二内室,該第一内室 有-側面界面、一頂部界面及一底部界面,及該第二内室 有一側面界面、一頂部界面及底部界面; b)將一股第一惰性氣體氣流穿過第一内室的頂部界面 輪第一内室之中,此内室包含一具環繞著單晶體的熱屏 風’和一個盛放熔體的坩堝;以及 C)將一股第二惰性氣體氣流穿過第二内室的底部界面 輸入第二内室之中,此内室包含一具用以加熱坩堝的加熱 器,但以第一惰性氣體氣流與第二惰性氣體氣流最早只能 夠在其離開該第一内室及第二内室之後才能混合為條件。 2·如申請專利範圍第1項的方法,其中包括 將一股第三惰性氣體氣流輸送穿過第一内室的底部界面進 入第一内室。 3·如申請專利範圍第2項的方法,其中包括 用第一惰性氣體氣流的輸入和用第三惰性氣體氣流的輸入 抑制氧混入單晶體。 4· 一種使用曹克勞斯基法生產矽單晶體的裝置,包括以 一種惰性氣體沖洗過的提升室,該提升室中有一自熔體提 升單晶體的裝置,並有·· a) —個容納熔體的坩堝; b) —個用以加熱坩堝的加熱器,該加熱器裝設在坩堝週 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) -------------------—訂----- ί 線· (請先閱讀背面之注意事項再填寫♦本頁) 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ^+/061() 、申請專利範圍 c) d) e) f) 5· A8 B8 C8 D8 圍; 一層絕熱體,該絕熱體裝在加熱器週圍; 一個熱屏風,該熱屏風(又稱遮熱板)裝設在熔體之上 並圍繞著單晶體; 一個第一内室,該内室内有上述的坩堝和熱屏風,一 個第二内室,該内室内有上述的加熱器,該第一内室 有一側面界面、頂部界面和底部界面;該第二内室有 一侧面界面、頂部界面及底部界面;及 一個第一裝置注入惰性氣體穿過第一内室的頂部界 面進入第一内室、和一個第二裝置注入惰性氣艘穿 過第二内室的底部界面進入第二内室。 如申請專利範圍第4項的裝置,其中包括一個第三裝 置注入惰性氣體穿過第一内室的底部界面進入第一内室 -------------% (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂---------線. 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 11 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19628851A DE19628851A1 (de) | 1996-07-17 | 1996-07-17 | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines Einkristalls |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
TW476816B true TW476816B (en) | 2002-02-21 |
Family
ID=7800096
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
TW086110110A TW476816B (en) | 1996-07-17 | 1997-07-16 | Method and apparatus for producing a single crystal |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5746824A (zh) |
EP (1) | EP0819783B1 (zh) |
JP (1) | JP3000141B2 (zh) |
KR (1) | KR100284572B1 (zh) |
DE (2) | DE19628851A1 (zh) |
MY (1) | MY133687A (zh) |
TW (1) | TW476816B (zh) |
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TW200928018A (en) * | 2007-12-21 | 2009-07-01 | Green Energy Technology Inc | Crystal-growing furnace with convectional cooling structure |
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JP2013053017A (ja) * | 2011-09-01 | 2013-03-21 | Shin Etsu Handotai Co Ltd | 単結晶育成装置 |
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EP3436624B1 (en) * | 2016-03-29 | 2022-11-30 | Corner Star Limited | Crystal growth apparatus and related methods |
CN107779946A (zh) * | 2016-08-25 | 2018-03-09 | 上海新昇半导体科技有限公司 | 热屏组件及单晶提拉炉热场结构 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS61158890A (ja) * | 1984-12-28 | 1986-07-18 | Fujitsu Ltd | 結晶成長装置 |
DE4204777A1 (de) * | 1991-02-20 | 1992-10-08 | Sumitomo Metal Ind | Vorrichtung und verfahren zum zuechten von einkristallen |
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US5746824A (en) | 1998-05-05 |
KR100284572B1 (ko) | 2001-03-15 |
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EP0819783B1 (de) | 2000-09-20 |
DE19628851A1 (de) | 1998-01-22 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
GD4A | Issue of patent certificate for granted invention patent | ||
MK4A | Expiration of patent term of an invention patent |