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KR950004517A - 반도체 메모리 장치의 전압 변환회로 - Google Patents

반도체 메모리 장치의 전압 변환회로 Download PDF

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Publication number
KR950004517A
KR950004517A KR1019930014165A KR930014165A KR950004517A KR 950004517 A KR950004517 A KR 950004517A KR 1019930014165 A KR1019930014165 A KR 1019930014165A KR 930014165 A KR930014165 A KR 930014165A KR 950004517 A KR950004517 A KR 950004517A
Authority
KR
South Korea
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conversion circuit
output node
terminal
node
voltage
Prior art date
Application number
KR1019930014165A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960015319B1 (ko
Inventor
이상보
Original Assignee
김광호
삼성전자 주식회사
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Filing date
Publication date
Application filed by 김광호, 삼성전자 주식회사 filed Critical 김광호
Priority to KR1019930014165A priority Critical patent/KR960015319B1/ko
Publication of KR950004517A publication Critical patent/KR950004517A/ko
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
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Abstract

본 발명은 전원전압 레벨의 입력 신호에 응답하여 출력 노드에서 승압전압 레벨의 출력 신호로 변환하여 출력하기 위한 반도체 메모리 장치의 캐스코드 전압 변환회로에 관한 것으로, 입력 신호(IN)에 대응하여 제어 노드(N1)를 방전시키는 제1NMOS트랜지스터(10)와, 상기 입력 신호의 반전 신호에 대응하여 출력 노드(N2)를 방전시키는 제2NMOS트랜지스터(20)와, 상기 제어 노드(N1)에 제어되어 상기 출력 노드(N2)를 승압전압 레벨로 충전시키는 제1PMOS트랜지스터(15)와, 상기 제2NMOS트랜지스터(20)에 입력되는 반전 신호

Description

반도체 메모리 장치의 전압 변환회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제 2 도는 본 발명에 의한 반도체 메모리 장치의 전압 변환회로를 보이는 도면.

Claims (4)

  1. 전원전압 레벨의 입력 신호(IN)에 응답하여 출력 노드(N2)에서 승압전압(VPP) 레벨의 출력 신호로 변환하여 출력하기 위한 반도체 메모리 장치의 전압 변환회로에 있어서, 상기 입력 신호(IN)에 대응하여 제어 노드(N1)을 방전시키는 제 1 방전 수단(10)과, 상기 입력 신호(IN)의 반전 신호에 대응하여 출력 노드(N2)를 방전시키는 제 2 방전 수단(20)과, 상기 제어 노드(N1)에 제어되어 상기 출력 노드(N2)를 상기 승압전압 레벨로 충전시키는 제 1 충전 수단(15)과, 상기 출력 노드(N2)에 제어되어 상기 제어 노드(N1)를승압전압 레벨로 충전시키는 제 2 충전 수단(5)과, 상기 제 2 방전 수단(20)에 입력되는 반전 신호에 대응하여 상기 제 1 충전 수단(15)의 동작을 차단하는 차단 수단(30)을 구비함을 특징으로 하는 전압 변환회로.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 차단 수단(30)은 채널의 양단자가 전원전압(VCC)과 상기 제어 노드(N1)에 각각 접속되고 게이트 단자가 상기 입력신호의 반전신호에 제어되는 엔모오스 트랜지스터임을 특징으로 하는 전압 변환회로.
  3. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 방전 수단(10)은 채널의 양단자가 상기 제어 노드(N1)와 접지전압 단자에 접속하고 제어 단자가 상기 입력 신호(IN)에 접속하는 엔모오스 트랜지스터이며, 제 2 방전 수단(20)은 채널의 양단자가 상기 출력 노드(N2)와 접지전압 단자에 접속하고 제어 단자가 상기 입력 신호의 반전 신호에 접속하는 엔모오스 트랜지스터임을 특징으로 하는 전압 변환회로.
  4. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 충전 수단(15)은 채널의 양단자가 상기 승압전압(VPP)과 상기 출력 노드(N2)에 접속하고 제어 단자가 상기 제어 노드(N1)에 접속하는 피모오스 트랜지스터이며, 상기 제 2 충전 수단(5)은 채널의 양단자가 상기 승압전압(VPP)과 상기 제어 노드(N1)에 접속하고 제어 단자가 상기 출력 노드(N2)에 접속하는 피모오스 트랜지스터임을 특징으로 하는 전압 변환회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019930014165A 1993-07-26 1993-07-26 반도체 메모리 장치의 전압 변환회로 KR960015319B1 (ko)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100302424B1 (ko) * 1996-10-14 2001-09-28 니시무로 타이죠 논리하이브리드메모리용반도체메모리

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100302424B1 (ko) * 1996-10-14 2001-09-28 니시무로 타이죠 논리하이브리드메모리용반도체메모리
US6370080B2 (en) 1996-10-14 2002-04-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor memory for logic-hybrid memory

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