KR890015132A - 동적 랜덤 억세스 메모리 및 그의 여유도 설정방법 - Google Patents
동적 랜덤 억세스 메모리 및 그의 여유도 설정방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR890015132A KR890015132A KR1019890003487A KR890003487A KR890015132A KR 890015132 A KR890015132 A KR 890015132A KR 1019890003487 A KR1019890003487 A KR 1019890003487A KR 890003487 A KR890003487 A KR 890003487A KR 890015132 A KR890015132 A KR 890015132A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- bit line
- line pair
- data
- pair
- address
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F12/00—Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/78—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using programmable devices
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/18—Address generation devices; Devices for accessing memories, e.g. details of addressing circuits
- G11C29/24—Accessing extra cells, e.g. dummy cells or redundant cells
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/12—Built-in arrangements for testing, e.g. built-in self testing [BIST] or interconnection details
- G11C29/36—Data generation devices, e.g. data inverters
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
내용 없음.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제2도는 본 발명의 양호한 실시예에 따른 DRAM 의 블록도.
제3도는 제2도의 메모리의 제1부의 회로도.
제4도는 제2도의 메모리의 제2부의 논리도.
Claims (3)
- 판독 모드 및 기록모드를 가진 메모리(55)에 있어서, 워드라인의 교차부에서 위치되는데, 상기 비트라인은 제1 및 2참/상보 방향중의 하나를 가진 각각의 다수 비트 라인쌍내에 배열되고, 각 비트 라인쌍은 어드레스를 가져, 제1 및 2논리 상태중의 하나를 표시하는 극성의 전압차를 발생시키는 메모리 셀의 정상 어레이(61), 다수의 어드레스 신호에 응답하여 다수의 비트 라인쌍으로부터 데이타 라인쌍으로 선택된 비트 라인쌍을 선택적으로 결합하는데, 어드레스 신호의 특정 조합은 특정 비트 라인쌍의 어드레스임으로써, 선택된 비트라인쌍 및 선택된 비트 라인쌍이 결합되는 데이타 라인쌍은 양자 모두 같은 논리상태를 표시하는 같은 극성의 전압차를 갖는 디코더 수단(66), 다수의 비트 라인쌍의 결함있는 비트 라인쌍을 대체시키기 위한 제1참/상보 상향의 여유 비트 라인쌍을 가진 여유 열(63), 결함있는 비트 라인쌍의 어드레스에 응답하여 여유비트 라인쌍을 데이타 라인쌍에 결합하는 여유 디코더 수단(57), 결함있는 비트 라인쌍이 여유 비트 라인쌍과 다른 참/상보 방향을 가질 경우에 반전 신호를 제공하는 검출수단(68,69), 메모리가 판독모드이고, 검출수단이 반전신호를 제공하지 않을 시에 데이타 라인쌍상에 제공된 바와같은 논리상태로 출력신호를 제공하며, 메모리(55)가 판독모드이고, 검출수단(68,69)이 반전신호를 제공할 시에 데이타 라인쌍상에 제공된 바와 대향한 논리 상태로 출력신호를 제공하는 출력수단(72,73) 및, 메모리가 판독 모드이고, 검출수단(68,69)이 반전신호를 제공하지 않을 시에 입력신호의 논리상태를 표시하는 데이타 라인쌍으로 전압차를 제공하며, 메모리가 판독모드이고, 검출수단(68,69)이 반전신호를 제공할 시에 입력 신호의 논리상태와 대향한 논리상태를 표시하는 데이타 라인쌍으로 전압차를 제공하는 입력 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 판독 모드 및 기록모드를 가진 메모리.
- 제1 또는 2참/상보 방향중의 하나를 가진 비트 라인쌍의 어레이를 갖는데, 각 비트 라인쌍은 데이타가 특정 어드레스로 선택된 비트라인과 데이타 라인쌍 사이로 이동되는 어드레스를 가진 특정 비트 라인쌍을 선택하는 어드레스를 DRAM(55)에 있어서, 기록 모드의 데이타 라인쌍으로 외부 입력데이타를 기록 하고, 판독 모드의 데이타 라인쌍으로부터 외부 출력데이타를 제공하기 위해 데이타 라인쌍에 결합된 입력/출력 수단(71,72,73,74,76), 제1참/ 상보 방향의 여유비트 라인쌍(13), 비트 라인쌍의 결함있는 한 어레이에 여유비트 라인쌍(13)을 대체하기 위해 여유 비트라인쌍(13)에 결합된 여유도 수단(57), 기록 모드의 데이타 라인쌍으로 기록된 외부입력 데이타를 반전하여, 어드레스가 결함합있는 비트 라인쌍을 위한 것이고, 결함있는 비트 라인쌍이 제2참/상보 방향일 경우에 판독 모드의 데이타 라인쌍으로부터 제공된 외부 출력 데이타를 반전하기 위해 입력/출력 수단(71,72,73,74,76)에 결합된 입력/출력 수단(68,69,72,74)을 구비하는 것을 특징으로 하는 비트 라인쌍의 어레이를 가진 DRAM.
- 제1 또는 2참/상보 방향중의 하나를 가진 비트 라인쌍의 어레이를 갖는데, 각 비트 라인쌍이 데이타가 특정 어드레스로 선택된 비트 라인과 데이타 라인쌍 사이로 이동되는 어드레스를 가진 특정 비트 라인쌍을 선택하는 어드레스를 갖는 제1 또는 2참/상보 방향중의 하나를 가진 비트 라인쌍의 어레이를 구비하며, 기록 모드의 데이타 라인쌍으로 외부 입력데이타를 기록하여, 판독 모드의 데이타 라인쌍으로부터 외부출력 데이타를 제공하는 입력/출력회로(71,72,73,74,76)를 구비하는 DRAM(55)내의 여유도 설정 방법에 있어서, 비트라인쌍의 결함있는 한 어레이에 여유비트 라인쌍(13)을 대체하는 단계 및, 기록 모드의 데이타 라인쌍으로 기록된 외부 입력데이타를 반전하고, 어드레스가 결함있는 비트 라인쌍을 위한 것이고, 결함있는 비트 라인쌍이 제2참/상보 방향일 경우에 판독 모드의 데이타 라인쌍으로부터 제공된 외부출력 데이타를 반전하는 단계로 이루어지는 것을 특징으로 하는 DRAM의 여유도 설정 방법.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/172,514 US4866676A (en) | 1988-03-24 | 1988-03-24 | Testing arrangement for a DRAM with redundancy |
US172514 | 1993-12-22 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR890015132A true KR890015132A (ko) | 1989-10-28 |
Family
ID=22628028
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019890003487A KR890015132A (ko) | 1988-03-24 | 1989-03-21 | 동적 랜덤 억세스 메모리 및 그의 여유도 설정방법 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4866676A (ko) |
EP (1) | EP0335125B1 (ko) |
JP (1) | JP2782764B2 (ko) |
KR (1) | KR890015132A (ko) |
DE (1) | DE68923571T2 (ko) |
Families Citing this family (26)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5426607A (en) * | 1988-04-27 | 1995-06-20 | Sharp Kabushiki Kaisha | Redundant circuit for memory having redundant block operatively connected to special one of normal blocks |
US5208778A (en) * | 1988-11-16 | 1993-05-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Dynamic-type semiconductor memory device operable in test mode and method of testing functions thereof |
US5136543A (en) * | 1989-05-12 | 1992-08-04 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Data descrambling in semiconductor memory device |
JPH03162800A (ja) * | 1989-08-29 | 1991-07-12 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ装置 |
JP2915945B2 (ja) * | 1990-01-12 | 1999-07-05 | 株式会社アドバンテスト | メモリ試験装置 |
JP2982920B2 (ja) * | 1990-07-10 | 1999-11-29 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
JP2863012B2 (ja) * | 1990-12-18 | 1999-03-03 | 三菱電機株式会社 | 半導体記憶装置 |
KR960007478B1 (ko) * | 1990-12-27 | 1996-06-03 | 가부시키가이샤 도시바 | 반도체장치 및 반도체장치의 제조방법 |
KR940008211B1 (ko) * | 1991-08-21 | 1994-09-08 | 삼성전자 주식회사 | 반도체메모리장치의 리던던트 셀 어레이 배열방법 |
US5343429A (en) * | 1991-12-06 | 1994-08-30 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Semiconductor memory device having redundant circuit and method of testing to see whether or not redundant circuit is used therein |
JP3215566B2 (ja) * | 1994-01-31 | 2001-10-09 | 富士通株式会社 | 半導体記憶装置 |
US5555212A (en) * | 1994-09-19 | 1996-09-10 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Method and apparatus for redundancy word line replacement in a semiconductor memory device |
US5546349A (en) * | 1995-03-13 | 1996-08-13 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Exchangeable hierarchical data line structure |
US6058052A (en) * | 1997-08-21 | 2000-05-02 | Cypress Semiconductor Corp. | Redundancy scheme providing improvements in redundant circuit access time and integrated circuit layout area |
KR100252053B1 (ko) | 1997-12-04 | 2000-05-01 | 윤종용 | 칼럼 방향의 데이터 입출력선을 가지는 반도체메모리장치와불량셀 구제회로 및 방법 |
US5896331A (en) * | 1997-12-23 | 1999-04-20 | Lsi Logic Corporation | Reprogrammable addressing process for embedded DRAM |
US5901095A (en) * | 1997-12-23 | 1999-05-04 | Lsi Logic Corporation | Reprogrammable address selector for an embedded DRAM |
US5907511A (en) * | 1997-12-23 | 1999-05-25 | Lsi Logic Corporation | Electrically selectable redundant components for an embedded DRAM |
US6064588A (en) * | 1998-03-30 | 2000-05-16 | Lsi Logic Corporation | Embedded dram with noise-protected differential capacitor memory cells |
US5999440A (en) * | 1998-03-30 | 1999-12-07 | Lsi Logic Corporation | Embedded DRAM with noise-protecting substrate isolation well |
US6005824A (en) * | 1998-06-30 | 1999-12-21 | Lsi Logic Corporation | Inherently compensated clocking circuit for dynamic random access memory |
US5978304A (en) * | 1998-06-30 | 1999-11-02 | Lsi Logic Corporation | Hierarchical, adaptable-configuration dynamic random access memory |
JP3741258B2 (ja) * | 2000-03-31 | 2006-02-01 | シャープ株式会社 | 半導体記憶装置およびその救済方法 |
US6675272B2 (en) | 2001-04-24 | 2004-01-06 | Rambus Inc. | Method and apparatus for coordinating memory operations among diversely-located memory components |
US8391039B2 (en) | 2001-04-24 | 2013-03-05 | Rambus Inc. | Memory module with termination component |
US7301831B2 (en) | 2004-09-15 | 2007-11-27 | Rambus Inc. | Memory systems with variable delays for write data signals |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3753244A (en) * | 1971-08-18 | 1973-08-14 | Ibm | Yield enhancement redundancy technique |
US4494220A (en) * | 1982-11-24 | 1985-01-15 | At&T Bell Laboratories | Folded bit line memory with one decoder per pair of spare rows |
JPS60205895A (ja) * | 1984-03-30 | 1985-10-17 | Fujitsu Ltd | 半導体記憶装置 |
US4757474A (en) * | 1986-01-28 | 1988-07-12 | Fujitsu Limited | Semiconductor memory device having redundancy circuit portion |
-
1988
- 1988-03-24 US US07/172,514 patent/US4866676A/en not_active Expired - Lifetime
-
1989
- 1989-03-02 EP EP89103654A patent/EP0335125B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1989-03-02 DE DE68923571T patent/DE68923571T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1989-03-14 JP JP1059866A patent/JP2782764B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1989-03-21 KR KR1019890003487A patent/KR890015132A/ko not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE68923571T2 (de) | 1996-04-11 |
JPH0210600A (ja) | 1990-01-16 |
US4866676A (en) | 1989-09-12 |
EP0335125A3 (en) | 1991-06-19 |
EP0335125B1 (en) | 1995-07-26 |
JP2782764B2 (ja) | 1998-08-06 |
EP0335125A2 (en) | 1989-10-04 |
DE68923571D1 (de) | 1995-08-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR890015132A (ko) | 동적 랜덤 억세스 메모리 및 그의 여유도 설정방법 | |
US5060230A (en) | On chip semiconductor memory arbitrary pattern, parallel test apparatus and method | |
US4758987A (en) | Dynamic semiconductor memory with static data storing cell unit | |
KR100284716B1 (ko) | 반도체 기억 장치 | |
JPH08195099A (ja) | 半導体記憶装置及びその試験方法 | |
JPH02177196A (ja) | スタティック型半導体メモリ | |
KR950015040B1 (ko) | 반도체 기억장치 | |
JP2820460B2 (ja) | 書込み回復・列アドレス回路を改善したスタティック半導体メモリ | |
US5379259A (en) | Semiconductor memory device | |
KR920010657A (ko) | 반전 기록 용량을 갖는 반도체 메모리 및 반전 기록을 사용하는 메모리 테스팅 방법 | |
KR940022845A (ko) | 반도체 메모리 및 용장 어드레스 기입방법 | |
KR910006992A (ko) | 메모리 | |
KR100228530B1 (ko) | 반도체 메모리 장치의 웨이퍼 번인 테스트회로 | |
US5566128A (en) | Semiconductor memory device | |
KR940005697B1 (ko) | 용장 메모리 셀을 갖는 반도체 메모리 장치 | |
KR930003251B1 (ko) | 다이나믹형 반도체기억장치와 그 기능 테스트장치 및 테스트방법 | |
KR910014938A (ko) | 향상된 di/dt 제어가 가능한 집적회로 메모리 | |
JP2518401B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7382668B2 (en) | Full-stress testable memory device having an open bit line architecture and method of testing the same | |
US5305266A (en) | High speed parallel test architecture | |
KR100272942B1 (ko) | 반도체기억장치 | |
US6452861B1 (en) | Semiconductor memory device allowing simultaneous inputting of N data signals | |
KR950020173A (ko) | 저전력 동작 모드를 갖춘 메모리를 가진 데이타 처리 시스템 및 그 방법 | |
JPH04205787A (ja) | マルチポートメモリ | |
KR100211483B1 (ko) | 블록 기록 시스템을 이용하는 반도체 메모리 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
WITN | Application deemed withdrawn, e.g. because no request for examination was filed or no examination fee was paid |