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KR20110034871A - Liquid crystal display device - Google Patents

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KR20110034871A
KR20110034871A KR1020090092340A KR20090092340A KR20110034871A KR 20110034871 A KR20110034871 A KR 20110034871A KR 1020090092340 A KR1020090092340 A KR 1020090092340A KR 20090092340 A KR20090092340 A KR 20090092340A KR 20110034871 A KR20110034871 A KR 20110034871A
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auto probe
liquid crystal
crystal display
probe
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KR1020090092340A
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Korean (ko)
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우희성
이종혁
김상수
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

PURPOSE: A liquid crystal display device is provided to improve a display quality by solving a display failure through a test process. CONSTITUTION: A liquid crystal display device comprises: a liquid crystal display panel(110) which divides the display into a display region and a non-display region; a driving IC installed on the non-display region which drives a plurality of gate lines and a plurality of data lines; an auto probe testing circuit which performs the lighting test for the gate lines and data lines by being connected with external probe pin; and at least more than two auto probe pads(114) which receives data signal by being connected with the probe pins.

Description

액정표시장치{Liquid Crystal Display device}Liquid crystal display device

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 오토 프로브(Auto Probe) 장치를 이용한 검사 공정시에 액정표시패널 상에서 발생하는 세로 Dim 현상을 방지할 수 있는 액정표시장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a liquid crystal display device capable of preventing a vertical dim phenomenon occurring on a liquid crystal display panel during an inspection process using an auto probe device.

액정표시장치는 액정의 특정한 분자 배열에 전압을 인가하여 다른 분자 배열로변환시키고 이러한 분자 배열에 의해 발광하는 액정 셀의 복굴절성, 선광성 및 광 산란 특성 등의 광학적 성질의 변화를 시각 변화로 변환하는 것으로, 액정 셀에 의한 빛의 변조를 이용한 표시장치이다. A liquid crystal display device converts a change in optical properties such as birefringence, photoreactivity, and light scattering characteristics of a liquid crystal cell that emits light by applying a voltage to a specific molecular array of the liquid crystal to another molecular array, and converts the optical property into a visual change. It is a display device using modulation of light by a liquid crystal cell.

액정표시장치를 제조하기 위한 제조 공정은 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막 형성/러빙 공정, 기판 합착/액정 주입 공정, 실장 공정, 검사 공정 및 리페어 공정 등으로 나뉘어진다. 이중 검사 공정은 액정표시패널에 각종 신호라인과 화소전극이 형성된 후에 실시되는 전기적 점등검사와 각 화소의 불량 검사를 포함한다. 액정표시패널의 검사 공정에서는 액정표시패널 상의 신호라인의 단선 검사와 점결함 등의 존재 여부 검사를 위하여 오토 프로브(Auto Probe) 장치를 이용하여 점등검사를 하게 된다. A manufacturing process for manufacturing a liquid crystal display device is divided into a substrate cleaning process, a substrate patterning process, an alignment film formation / rubbing process, a substrate bonding / liquid crystal injection process, a mounting process, an inspection process, a repair process, and the like. The double inspection process includes an electrical lighting test performed after various signal lines and pixel electrodes are formed on the liquid crystal display panel, and a defective test of each pixel. In the inspection process of the liquid crystal display panel, a lighting test is performed by using an auto probe device to inspect the disconnection of signal lines on the liquid crystal display panel and the presence of point defects.

상기 오토 프로브 장치를 이용한 검사방법에는 여러가지가 있지만, 소형 액정표시장치의 경우 오트 프로브 트랜지스터(Auto Probe Transistor:APT)를 구비한 오토 프로브 검사회로를 이용하여 점등검사를 실시한다. 특히, 소형 액정표시장치의 경우, 상기 오토 프로브 검사회로를 이용한 검사방법은 액정표시패널의 비표시영역의 일부에 상기 오토 프로브 검사회로를 형성하여 외부에 위치하는 오토 프로브 장치와 상기 오토 프로브 검사회로를 전기적으로 연결시켜 상기 액정표시패널의 신호라인들의 점등검사 및 불량을 검출하게 된다. Although there are many inspection methods using the auto probe device, a small liquid crystal display device performs lighting inspection using an auto probe inspection circuit including an auto probe transistor (APT). Particularly, in the case of a small liquid crystal display device, an inspection method using the auto probe inspection circuit includes an auto probe device and an auto probe inspection circuit positioned outside by forming the auto probe inspection circuit in a part of the non-display area of the liquid crystal display panel. Is electrically connected to detect lighting and defects of signal lines of the liquid crystal display panel.

도 1은 종래의 오토 프로브 검사회로를 구비한 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면이다. 1 is a view schematically showing a liquid crystal display device having a conventional auto probe inspection circuit.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래의 액정표시장치는 화상을 표시하는 액정표시패널(10)과, 상기 액정표시패널(10)의 비표시영역 일부에 드라이버 IC(도시하지 않음)가 실장되는 영역의 여유공간에 오토 프로브 검사회로(20)를 포함한다. As shown in FIG. 1, a conventional liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel 10 displaying an image and a region in which a driver IC (not shown) is mounted on a portion of the non-display area of the liquid crystal display panel 10. The auto probe inspection circuit 20 is included in the free space.

상기 액정표시패널(10)은 화소영역을 정의하는 다수의 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)이 배열되며, 그 교차부에 형성된 박막트랜지스터(TFT-1) 및 상기 박막트랜지스터(TFT-1)에 접속된 화소전극(30)을 포함한다. In the liquid crystal display panel 10, a plurality of gate lines GL and data lines DL defining a pixel area are arranged, and the thin film transistor TFT-1 and the thin film transistor TFT-1 formed at an intersection thereof. And a pixel electrode 30 connected thereto.

상기 오토 프로브 검사회로(20)는 다수의 오토 프로브 트랜지스터(TFT-2)와, 상기 액정표시패널(10)에 배열된 신호라인들(GL, DL)에 데이터를 공급하기 위한 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c) 및 상기 오토 프로브 트랜지스터(TFT-2)의 온/오프(On/Off)를 제어하기 위한 인에이블 신호를 제공하는 인에이블 신호 공급 패턴(14)으로 구성된다. 또한, 상기 오토 프로브 검사회로(20)는 드라이버 IC(도시하지 않음)의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역에 위치하는 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26) 및 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)를 포함한다. The auto probe test circuit 20 may include first to third auto probe transistors TFT-2 and first to third signals to supply data to the signal lines GL and DL arranged on the liquid crystal display panel 10. And an enable signal supply pattern 14 that provides an enable signal for controlling on / off of the auto probe transistor TFT-2. In addition, the auto probe inspection circuit 20 may include first to third data auto probe pads 22 to 26 and an enable signal auto probe pad, which are located in regions other than a bonding portion of a driver IC (not shown). (18).

상기 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26)는 외부에 위치하는 오토 프로브 장치의 프로브 핀과 전기적으로 접속되어 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c) 각각에 제1 내지 제3 데이터(R, G, B)를 제공하고, 상기 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)는 상기 인에이블 신호 공급 패턴(12d)에 인에이블 신호를 제공한다. The first to third data auto probe pads 22 to 26 may be electrically connected to probe pins of an auto probe device located outside of the first to third data auto probe pads 22 to 26 to respectively correspond to the first to third data supply patterns 12a to 12c. The third data R, G, and B may be provided, and the enable signal auto probe pad 18 may provide an enable signal to the enable signal supply pattern 12d.

이러한 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26) 및 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)는 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역에 위치하기 때문에 일반적으로 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부 양측에 위치하게 된다. 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c) 및 인에이블 신호 공급 패턴(12d)은 상기 제1 내지 제3 데이터 오토 프로브 패드(22 ~ 26) 및 인에이블 신호 오토 프로브 패드(18)의 접촉부와 거리가 멀어질수록 저항이 커지게 된다. Since the first to third data auto probe pads 22 to 26 and the enable signal auto probe pad 18 are located in an area excluding a bonding part of the driver IC, a bonding part of the driver IC is generally used. It is located on both sides. The first to third data supply patterns 12a to 12c and the enable signal supply pattern 12d may be formed on the first to third data auto probe pads 22 to 26 and the enable signal auto probe pad 18. The farther the contact is, the greater the resistance.

이러한 저항으로 인해, 특히 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c)의 양측과 가운데의 전위차가 발생하게 된다. 이로 인해, 검사 공정 중에 상기 제1 내지 제3 데이터 공급 패턴(12a ~ 12c)과 접속되는 다수의 오토 프로브 트랜지스터(TFT-2)에 영향을 미치게 되어 상기 액정패널(10)의 가운데 영역과 좌/우측 영역의 밝기 차이가 나는 딤(Dim) 현상이 발생한다. 검사 공정 중에 발생한 이러한 문제로 인해 액정표시장치에 대한 검사 효율이 저하되는 문제가 발생하게 된다. Due to this resistance, in particular, a potential difference between both sides and the center of the first to third data supply patterns 12a to 12c is generated. As a result, the plurality of auto probe transistors TFT-2 connected to the first to third data supply patterns 12a to 12c are affected during the inspection process, and thus the center region and the left / right sides of the liquid crystal panel 10 are affected. Dim phenomenon occurs due to the difference in brightness of the right region. Such a problem that occurs during the inspection process causes a problem that the inspection efficiency for the liquid crystal display device is lowered.

본 발명은 하나의 데이터 공급 패턴 및 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴을 구비하여 상기 하나의 데이터 공급 패턴과 접속되는 공통 데이터 오토 프로브 패드를 드라이버 IC 본딩부와 상기 본딩부를 제외한 영역까지도 복수로 배치하여 검사 공정 중에 발생하는 화질 불량현상을 개선하여 화질을 향상시킬 수 있는 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.According to the present invention, a plurality of common data auto probe pads having one data supply pattern and first to third data enable signal supply patterns connected to the one data supply pattern may be divided into regions except a driver IC bonding unit and the bonding unit. It is an object of the present invention to provide a liquid crystal display device which can improve the image quality by improving the quality defect caused during the inspection process.

또한, 본 발명은 검사효율을 향상시킬 있는 액정표시장치를 제공함에 그 목적이 있다.In addition, an object of the present invention is to provide a liquid crystal display device which can improve the inspection efficiency.

본 발명에 따른 액정표시장치는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널과, 상기 액정표시패널의 비표시영역에 실장되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로 및 상기 비표시영역 상에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로를 포함하고, 상기 오토 프로브 검사회로는 상기 프로브 핀과 접속되어 데이터 신호를 제공받는 적어도 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드와, 상기 프로브 핀과 접속되어 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호를 제공받는 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드와, 상기 공통 데이터 오토 프로브 패드와 접속되는 데이터 신호 공급 패턴과, 상기 데이터 신호 공급 패턴과 데이터라인 사이에 접속되어 상기 데이터 신호 공급 패턴으로부터 제공된 공통 데이터 신호를 상기 데이터라인으로 제공하는 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터를 포함한다.The liquid crystal display according to the present invention comprises a liquid crystal display panel which is divided into a display area for displaying an image and a non-display area for displaying an image by arranging a plurality of gate lines and a plurality of data lines defining a pixel area, and the liquid crystal. A driving integrated circuit mounted on a non-display area of a display panel to drive the plurality of gate lines and a plurality of data lines; and a plurality of gate lines and a plurality of data disposed on the non-display area and connected to an external probe pin. And an auto probe inspection circuit configured to perform a lighting test of a line, wherein the auto probe inspection circuit includes at least two common data auto probe pads connected to the probe pins to receive a data signal, and connected to the probe pins to form a first probe. First to third data enable signals auto-provided with the third to third data enable signals A first pad providing a common data signal provided from the data pad and the data signal supply pattern connected to the common pad and the common data auto probe pad and provided from the data signal supply pattern to the data line; To a third auto probe transistor.

본 발명에 따른 액정표시장치는 하나의 데이터 공급 패턴 및 제1 내지 제 3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴과, 상기 하나의 데이터 공급 패턴과 전기적으로 접속되는 오토 프로브 패드를 액정표시패널의 일부분에 실장된 드라이버 IC 본딩부와 상기 본딩부를 제외한 영역에까지 복수개로 배치하여 검사 공정 중에 발생하는 화질 불량현상을 개선하여 화질을 향상시킬 수 있다. According to an exemplary embodiment of the present invention, a liquid crystal display device includes a data supply pattern, first to third data enable signal supply patterns, and an auto probe pad electrically connected to the one data supply pattern. A plurality of driver IC bonding parts and regions except for the bonding parts may be disposed to improve image quality defects during the inspection process, thereby improving image quality.

또한, 본 발명에 따른 액정표시장치는 검사 공정 중에 발생하는 화질 불량현상을 개선하여 검사의 효율을 향상시킬 수 있다. In addition, the liquid crystal display according to the present invention can improve the inspection efficiency by improving the poor image quality occurring during the inspection process.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명하기로 한다.Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면이다. 2 is a view showing a liquid crystal display device according to the present invention.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치는 화상을 표시하는 액정표시패널(110)과, 상기 액정표시패널(110)을 구동하기 위한 드라이버 IC(도시하지 않음)가 실장되는 비표시영역의 일부에 배치된 오토 프로브 검사회로(120)를 포함한다. As shown in FIG. 2, the LCD according to the present invention has a ratio in which a liquid crystal display panel 110 for displaying an image and a driver IC (not shown) for driving the liquid crystal display panel 110 are mounted. And an auto probe inspection circuit 120 disposed in a part of the display area.

상기 액정표시패널(110)은 일정한 이격 간격을 두고 대향하여 합착된 박막트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 기판과, 상기 두 기판 사이에 형성된 액정층으 로 구성된다. The liquid crystal display panel 110 includes a thin film transistor array substrate and a color filter substrate that are bonded to each other at regular intervals, and a liquid crystal layer formed between the two substrates.

상기 박막트랜지스터 어레이 기판(도시하지 않음) 상에는 화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인(GL) 및 다수의 데이터라인(DL)이 배열된다. 상기 화소영역에는 상기 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL)에 전기적으로 접속된 박막트랜지스터(TFT-1) 및 상기 박막트랜지스터(TFT-1)와 전기적으로 접속된 화소전극(130)이 형성된다. 상기 컬러필터 기판(도시하지 않음) 상에는 R, G, B 컬러필터와 이들 각각을 테두리하여 상기 게이트라인(GL)과 데이터라인(DL) 등을 가리는 블랙 매트릭스 및 이들 모두를 덮는 공통전극이 형성된다. A plurality of gate lines GL and a plurality of data lines DL are defined on the thin film transistor array substrate (not shown). The pixel region includes a thin film transistor TFT-1 electrically connected to the gate line GL and a data line DL, and a pixel electrode 130 electrically connected to the thin film transistor TFT-1. . On the color filter substrate (not shown), a black matrix covering R, G, and B color filters, each of which covers the gate line GL, the data line DL, and the like, and a common electrode covering all of them are formed. .

상기 액정표시패널(110)은 화상이 표시되는 액티브 영역(Active Area:A/A)과 화상이 표시되지 않은 비표시영역으로 구분된다. 상기 비표시영역에는 상기 게이트라인(GL)으로 스캔신호를 공급함과 동시에 상기 데이터라인(DL)으로 영상 정보를 갖는 데이터 신호를 공급하는 드라이버 IC(도시하지 않음)가 실장된다. 또한, 상기 비표시영역의 일부에는 앞서 서술한 바와 같이 오토 프로브 검사회로(120)가 위치한다. The liquid crystal display panel 110 is divided into an active area (A / A) where an image is displayed and a non-display area where an image is not displayed. A driver IC (not shown) for supplying a scan signal to the gate line GL and a data signal having image information to the data line DL is mounted in the non-display area. In addition, the auto probe inspection circuit 120 is positioned in a portion of the non-display area as described above.

상기 오토 프로브 검사회로(120)는 외부의 오토 프로브 장치의 프로브 핀과 전기적으로 접속되는 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)와, 상기 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)와 전기적으로 접속되어 데이터 신호를 제공하는 데이터 신호 공급 패턴(112)과, 상기 데이터라인(DL)과 상기 데이터 신호 공급 패턴(112)과 전기적으로 접속되는 오토 프로브 트랜지스터(APT)를 포함한다.The auto probe inspection circuit 120 includes first and second data auto probe pads 122a and 122b electrically connected to probe pins of an external auto probe device, and the first and second data auto probe pads 122a. And a data signal supply pattern 112 electrically connected to 122b to provide a data signal, and an auto probe transistor APT electrically connected to the data line DL and the data signal supply pattern 112. do.

또한, 상기 오토 프로브 검사회로(120)는 상기 프로브 핀과 전기적으로 접속되는 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118) 및 데이터 인에이블(DE) 신호를 제공하는 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114)을 포함한다. In addition, the auto probe inspection circuit 120 may provide a data enable signal auto probe pad 118 and a data enable signal supply pattern 114 for providing a data enable (DE) signal electrically connected to the probe pins. Include.

상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 상기 프로브 핀과 접속되어 제1 데이터 인에이블 신호(DE1)를 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114) 중 제1 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114a)으로 제공하는 제1 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118a)를 포함한다. 또한, 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 제2 데이터 인에이블 신호(DE2)를 제2 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114b)으로 제공하는 제2 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118b) 및 제3 데이터 인에이블 신호(DE3)를 제3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114c)으로 제공하는 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118c)를 포함한다.The data enable signal auto probe pad 118 is connected to the probe pin to convert the first data enable signal DE1 into the first data enable signal supply pattern 114a of the data enable signal supply pattern 114. And providing a first data enable signal auto probe pad 118a. In addition, the data enable signal auto probe pad 118 may provide a second data enable signal DE2 as a second data enable signal supply pattern 114b. And a third data enable signal auto probe pad 118c which provides the third data enable signal DE3 to the third data enable signal supply pattern 114c.

상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118a ~ 118c)는 드라이버 IC(도시하지 않음)의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역 즉, 상기 비표시영역의 좌/우측에 형성된다. The first to third data enable signal auto probe pads 118a to 118c are formed in an area excluding a bonding portion of a driver IC (not shown), that is, left and right sides of the non-display area.

상기 오토 프로브 트랜지스터(APT)는 상기 제1 데이터 인에이블(DE1) 신호에 의해 턴-온/오프 되며 데이터 신호 공급 패턴(112)으로부터 제공된 데이터 신호를 대응하는 데이터라인(DL)으로 제공하는 제1 오토 프로브 트랜지스터(APT1)와, 상기 제2 데이터 인에이블(DE2) 신호에 의해 턴-온/오프 되며 데이터 신호 공급 패턴(112)으로부터 제공된 데이터 신호를 대응하는 데이터라인(DL)으로 제공하는 제2 오토 프로브 트랜지스터(APT2)와, 상기 제3 데이터 인에이블(DE3) 신호에 의해 턴- 온/오프 되며 데이터 신호 공급 패턴(112)으로부터 제공된 데이터 신호를 대응하는 데이터라인(DL)으로 제공하는 제3 오토 프로브 트랜지스터(APT3)를 포함한다. The auto probe transistor APT is turned on / off by the first data enable DE1 signal and provides a data signal provided from the data signal supply pattern 112 to a corresponding data line DL. A second signal turned on / off by an auto probe transistor APT1 and the second data enable DE2 signal and providing a data signal provided from the data signal supply pattern 112 to a corresponding data line DL; A third signal turned on / off by the auto probe transistor APT2 and the third data enable DE3 signal and providing a data signal provided from the data signal supply pattern 112 to a corresponding data line DL; An auto probe transistor APT3 is included.

상기 데이터 신호 공급 패턴(112)은 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)와 전기적으로 접속된다. 상기 제1 데이터 오토 프로브 패드(122a)는 상기 비표시영역의 중간부(드라이버 IC(도시하지 않음)의 본딩(Bonding)부 내부 공간)에 형성되고, 제2 데이터 오토 프로브 패드(122b)는 상기 비표시영역의 우측(드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역)에 형성된다. The data signal supply pattern 112 is electrically connected to the first and second data auto probe pads 122a and 122b. The first data auto probe pad 122a is formed in an intermediate portion of the non-display area (internal space of a bonding portion of a driver IC (not shown)), and the second data auto probe pad 122b is formed in the non-display area. It is formed on the right side of the non-display area (the area except the bonding portion of the driver IC).

편의를 위해, 본 발명의 도면에서 상기 데이터 신호 공급 패턴(112)에 접속되는 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)는 두 개로 도시하였지만, 상기 데이터 오토 프로브 패드는 적어도 2개 이상의 개수로 상기 데이터 신호 공급 패턴(112)에 접속될 수 있다. 이때, 상기 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 122b)에는 동일한 레벨의 데이터(Data) 신호가 제공된다. For convenience, although two data auto probe pads 122a and 122b connected to the data signal supply pattern 112 are illustrated in the drawings of the present invention, the data auto probe pads are represented by at least two or more data signals. May be connected to the supply pattern 112. At this time, the first and second data auto probe pads 122a and 122b are provided with a data signal of the same level.

상기 제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드(122a, 112b)는 동일한 레벨의 데이터 신호가 제공되는 공통 데이터 패드이다. 3개의 데이터 신호(R, G, B)를 각각 제공하기 위해 3개의 데이터 오토 프로브 패드가 필요한 종래의 액정표시장치에 비해 본 발명에 따른 액정표시장치는 공통 데이터 신호가 제공되는 하나의 공통 데이터 패드만을 필요로 한다. 따라서, 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부의 내부 공간에도 상기 공통 데이터 패드의 삽입이 가능해진다. The first and second data auto probe pads 122a and 112b are common data pads provided with data signals having the same level. Compared to the conventional LCD which requires three data auto probe pads to provide three data signals R, G, and B, respectively, the LCD according to the present invention has one common data pad provided with a common data signal. Need only. Therefore, the common data pad can be inserted in the internal space of the bonding portion of the driver IC.

따라서, 본 발명에 따른 액정표시장치는 상기 드라이버 IC의 본딩(Bonding)부의 내부 공간뿐 아니라 비표시영역의 여유 공간에 적어도 2개 이상의 데이터 오 토 프로브 패드를 형성하여, 상기 데이터 오토 프로브 패드와 접속된 데이터 신호 공급 패턴의 라인 저항을 최소화할 수 있다. 이로 인해, 상기 데이터 오토 프로브 패드를 통해 상기 데이터 신호 공급 패턴으로 제공된 데이터 신호는 상기 액정표시패널(110)의 검사 공정 중에 상기 액정표시패널(110)의 영역별로 발생하는 전위차를 최소화하여 화질을 개선하여 검사 효율을 향상시킬 수 있다.Accordingly, the liquid crystal display according to the present invention forms at least two or more data auto probe pads in the free space of the non-display area as well as the internal space of the bonding portion of the driver IC to connect with the data auto probe pad. The line resistance of the data signal supply pattern can be minimized. Accordingly, the data signal provided through the data auto probe pad in the data signal supply pattern is improved in image quality by minimizing the potential difference generated for each area of the liquid crystal display panel 110 during the inspection process of the liquid crystal display panel 110. The inspection efficiency can be improved.

이때, 데이터 인에이블(DE) 신호를 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114)으로 공급하는 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터(AP1 ~ AP3)를 별도로 인에이블 시키기 위해 3개로 구비되어야 한다. In this case, the data enable signal auto probe pad 118 for supplying the data enable signal DE to the data enable signal supply pattern 114 separately enables the first to third auto probe transistors AP1 to AP3. It should be provided with three to make it.

상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 비표시영역의 좌/우측(드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역)에 구비된다. 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)와 접속되는 데이터 인에이블 신호 공급 패턴(114)에서 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)와의 접촉부에서 멀어질수록 라인 저항으로 인한 신호 왜곡(Delay)이 발생한다. 상기 라인 저항으로 인한 신호 왜곡(Delay)이 발생하더라도 상기 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터(APT1 ~ APT3)의 턴-온/오프에 영향을 미치는 정도는 미비한다. 따라서, 상기 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드(118)는 비표시영역의 좌/우측(드라이버 IC의 본딩(Bonding)부를 제외한 영역)에만 구비될 수 있다. The data enable signal auto probe pad 118 is provided on the left and right sides of the non-display area (the area excluding the bonding portion of the driver IC). Delays due to line resistance as the data enable signal supply pattern 114 connected to the data enable signal auto probe pad 118 moves away from the contact with the data enable signal auto probe pad 118. This happens. Even if signal distortion due to the line resistance occurs, the degree of influencing the turn-on / off of the first to third auto probe transistors APT1 to APT3 is insufficient. Accordingly, the data enable signal auto probe pad 118 may be provided only on the left and right sides of the non-display area (the area excluding the bonding portion of the driver IC).

도 3a는 데이터 오토 프로브 패드가 1개인 경우의 데이터의 파형을 나타낸 도면이고, 도 3b는 데이터 오토 프로브 패드가 2개인 경우의 데이터의 파형을 나타 낸 도면이다. 3A is a diagram showing waveforms of data when there is one data auto probe pad, and FIG. 3B is a diagram showing data waveforms when there are two data auto probe pads.

도 3a 및 도 3b에 도시된 바와 같이, 데이터 오토 프로브 패드가 1개인 경우에 데이터라인으로 제공되는 데이터 신호의 신호 왜곡(Delay)은 데이터 오토 프로브 패드가 2개인 경우에 데이터라인으로 제공되는 데이터 신호의 신호 왜곡(Delay)에 비해 그 정도가 심하다. As shown in FIGS. 3A and 3B, the signal delay of the data signal provided to the data line when there is only one data auto probe pad is the data signal provided to the data line when there are two data auto probe pads. This is much higher than the signal distortion of the signal.

이러한 실험 데이터를 통해서 알 수 있듯이 동일한 레벨의 공통 데이터가 제공되는 데이터 오토 프로브 패드를 비표시영역 상에 많이 배치할수록 검사 공정 중에 액정표시패널의 영역별로 제공되는 데이터 신호의 전위차를 최소화하여 검사효율을 향상시킬 수 있다. As can be seen from the experimental data, as the number of data auto probe pads provided with the same level of common data is disposed on the non-display area, the inspection efficiency is improved by minimizing the potential difference of the data signal provided for each area of the liquid crystal display panel during the inspection process. Can be improved.

도 1은 종래의 오토 프로브 검사회로를 구비한 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 도면.1 is a schematic view showing a liquid crystal display device having a conventional auto probe inspection circuit.

도 2는 본 발명에 따른 액정표시장치를 나타낸 도면.2 is a view showing a liquid crystal display device according to the present invention.

도 3a는 데이터 오토 프로브 패드가 1개인 경우의 데이터의 파형을 나타낸 도면. Fig. 3A is a diagram showing waveforms of data when there is one data auto probe pad.

도 3b는 데이터 오토 프로브 패드가 2개인 경우의 데이터의 파형을 나타낸 도면.Fig. 3B is a diagram showing waveforms of data when two data auto probe pads are used.

<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명><Brief description of the main parts of the drawing>

110:액정표시패널 112:데이터 신호 공급 패턴110: liquid crystal display panel 112: data signal supply pattern

114:데이터 인에이블 신호 공급 패턴114: Data Enable Signal Supply Pattern

114a ~ 114c:제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급 패턴114a to 114c: first to third data enable signal supply patterns

118:데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드118: data enable signal auto probe pad

118a ~ 118c:제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드118a to 118c: first to third data enable signal auto probe pads

120:오토 프로브 검사회로 130:화소전극120: auto probe inspection circuit 130: pixel electrode

122a, 122a:제1 및 제2 데이터 오토 프로브 패드122a, 122a: first and second data auto probe pads

Claims (6)

화소 영역을 정의하는 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인이 배열되어 화상을 표시하는 표시영역과 화상을 표시하지 않는 비표시영역으로 구분되는 액정표시패널;A liquid crystal display panel in which a plurality of gate lines and a plurality of data lines defining a pixel area are arranged to be divided into a display area displaying an image and a non-display area not displaying an image; 상기 액정표시패널의 비표시영역에 실장되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인을 구동하는 구동 집적회로; 및A driving integrated circuit mounted in the non-display area of the liquid crystal display panel to drive the plurality of gate lines and the plurality of data lines; And 상기 비표시영역 상에 배치되어 외부의 프로브 핀과 접속되어 상기 다수의 게이트라인 및 다수의 데이터라인의 점등검사를 실시하는 오토 프로브 검사회로;를 포함하고,An auto probe inspection circuit disposed on the non-display area and connected to an external probe pin to perform lighting inspection of the plurality of gate lines and the plurality of data lines; 상기 오토 프로브 검사회로는 상기 프로브 핀과 접속되어 데이터 신호를 제공받는 적어도 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드와, 상기 프로브 핀과 접속되어 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호를 제공받는 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드와, 상기 공통 데이터 오토 프로브 패드와 접속되는 데이터 신호 공급 패턴과, 상기 데이터 신호 공급 패턴과 데이터라인 사이에 접속되어 상기 데이터 신호 공급 패턴으로부터 제공된 공통 데이터 신호를 상기 데이터라인으로 제공하는 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터;를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The auto probe test circuit may include at least two common data auto probe pads connected to the probe pins to receive a data signal, and first to third devices connected to the probe pins to receive first to third data enable signals. A data enable signal auto probe pad, a data signal supply pattern connected to the common data auto probe pad, and a common data signal connected between the data signal supply pattern and a data line and provided from the data signal supply pattern to the data line; And first to third auto probe transistors provided as a liquid crystal display device. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 오토 프로브 검사회로는 상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호를 상기 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터의 게이트 단자로 제공하는 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급패턴을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The auto probe test circuit may further include first to third data enable signal supply patterns for providing the first to third data enable signals to gate terminals of the first to third auto probe transistors. Liquid crystal display device. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 공통 데이터 오토 프로브 패드는 상기 구동 집적회로의 본딩부(Bonding) 내부 및 상기 본딩부(Bonding)를 제외한 영역에 모두 배치되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And the common data auto probe pad is disposed in both a bonding portion of the driving integrated circuit and an area excluding the bonding portion. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드는 상기 구동 집적회로의 본딩부(Bonding)를 제외한 영역에만 배치되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And the first to third data enable signal auto probe pads are disposed only in an area excluding a bonding part of the driving integrated circuit. 제2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 공급패턴은 각각 제1 내지 제3 데이터 인에이블 신호 오토 프로브 패드와 전기적으로 접속되어 상기 제1 내지 제3 오토 프로브 트랜지스터를 별도로 인에이블 시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.Wherein the first to third data enable signal supply patterns are electrically connected to first to third data enable signal auto probe pads, respectively, to enable the first to third auto probe transistors separately. Display. 제1 항에 있어서,According to claim 1, 상기 적어도 둘 이상의 공통 데이터 오토 프로브 패드는 상기 프로브 핀과 접속되어 동일한 레벨의 데이터 신호를 제공받는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.And at least two common data auto probe pads are connected to the probe pins to receive data signals of the same level.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013085603A1 (en) * 2011-12-06 2013-06-13 Apple Inc. Common electrode connections in integrated touch screens
KR20140048768A (en) * 2012-10-16 2014-04-24 엘지디스플레이 주식회사 Flat panel display and driving method the same
US9195331B2 (en) 2011-12-06 2015-11-24 Apple Inc. Common electrode connections in integrated touch screens
CN106875879A (en) * 2017-04-24 2017-06-20 上海天马有机发光显示技术有限公司 A kind of display panel, electronic equipment and method of testing
US10283025B2 (en) 2015-01-30 2019-05-07 Samsung Display Co., Ltd. Display panel inspecting apparatus and display device including the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060133836A (en) * 2005-06-21 2006-12-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Liquid crystal display device comprising test line connected to switching device
KR20070002901A (en) * 2005-06-30 2007-01-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Liquid crystal display device
KR20080049216A (en) * 2006-11-30 2008-06-04 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display and testing method thereof
KR20090090677A (en) * 2008-02-21 2009-08-26 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display device

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20060133836A (en) * 2005-06-21 2006-12-27 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Liquid crystal display device comprising test line connected to switching device
KR20070002901A (en) * 2005-06-30 2007-01-05 엘지.필립스 엘시디 주식회사 Liquid crystal display device
KR20080049216A (en) * 2006-11-30 2008-06-04 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display and testing method thereof
KR20090090677A (en) * 2008-02-21 2009-08-26 엘지디스플레이 주식회사 Liquid crystal display device

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013085603A1 (en) * 2011-12-06 2013-06-13 Apple Inc. Common electrode connections in integrated touch screens
US9195331B2 (en) 2011-12-06 2015-11-24 Apple Inc. Common electrode connections in integrated touch screens
KR20140048768A (en) * 2012-10-16 2014-04-24 엘지디스플레이 주식회사 Flat panel display and driving method the same
US10283025B2 (en) 2015-01-30 2019-05-07 Samsung Display Co., Ltd. Display panel inspecting apparatus and display device including the same
CN106875879A (en) * 2017-04-24 2017-06-20 上海天马有机发光显示技术有限公司 A kind of display panel, electronic equipment and method of testing
US10529271B2 (en) 2017-04-24 2020-01-07 Shanghai Tianma AM-OLED Co., Ltd. Display panel, electronic device and test method

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